DE3306620A1 - Thermoelementsignalanpasser als integrierter schaltkreis - Google Patents

Thermoelementsignalanpasser als integrierter schaltkreis

Info

Publication number
DE3306620A1
DE3306620A1 DE19833306620 DE3306620A DE3306620A1 DE 3306620 A1 DE3306620 A1 DE 3306620A1 DE 19833306620 DE19833306620 DE 19833306620 DE 3306620 A DE3306620 A DE 3306620A DE 3306620 A1 DE3306620 A1 DE 3306620A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
amplifier
thermocouple
signal
temperature
chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19833306620
Other languages
English (en)
Other versions
DE3306620C2 (de
Inventor
Adrian Paul 01803 Burlington Mass. Brokaw
Barrie 97116 Forest Grove Oreg. Gilbert
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Analog Devices Inc
Original Assignee
Analog Devices Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Analog Devices Inc filed Critical Analog Devices Inc
Publication of DE3306620A1 publication Critical patent/DE3306620A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3306620C2 publication Critical patent/DE3306620C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/02Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
    • G01K7/10Arrangements for compensating for auxiliary variables, e.g. length of lead
    • G01K7/12Arrangements with respect to the cold junction, e.g. preventing influence of temperature of surrounding air
    • G01K7/13Circuits for cold-junction compensation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft einen IC-Chip bzw. integrierten Schaltkreis, an den ein Thermoelement angeschlossen werden kann, um ein Temperaturmeßsignal mit einem Vergleichsstellenabgleich zu erzeugen.
Die Erfindung bezieht sich insbesondere auf die Messung von Temperaturen unter Verwendung von Thermoelementen. Speziell betrifft die Erfindung Verstärkerschaltkreise, die mit Thermoelementen arbeiten und eine Kaltelement-Kompensation vorsehen.
Thermoelemente werden seit vielen Jahren in einer großen Auswahl von Anwendungen zur Temperaturmessung verwendet. Wie allgemein bekannt, erzeugen Thermoelemente eine Aus-
^c gangsspannung proportional zur Temperaturdifferenz zwischen dem Meßelement (das der zu messenden Temperatur ausgesetzt ist) und einem Vergleichselement (oft als 'Kaltelement" bezeichnet). Da Veränderungen in der Vergleichselement-Temperatur den Thermoelementausgang verändern, umfassen übliche Einrichtungen Mittel zum Stabilisieren der Vergleichstemperatür, wie durch Anordnen des Referenzelementes in einem Eisbad (O0C) oder Mittel, die ein Abgleichsignal erzeugen, das sich automatisch mit der Vergleichselementtemperatur derart ändert, daß das Ausgangssignal für eine konstante Meßtemperatur gleichbleibend aufrechterhalten wird. Die vorliegende Erfindung betrifft Mittel zum Schaffen eines derartigen Abgleichs.
Verschiedene Verfahren zum Bewirken des Vergleichselementabgleichs sind benutzt worden. Beispielsweise könnte eine Spannung über einen Widerstand in Reihe mit dem Thermoelementausgang erzeugt werden, indem der Widerstand mit einem Strom versorgt wird, der eine erste Komponente besitzt, die durch eine Konstantspannungs-
quelle erzeugt wird, und eine zweite Komponente, die
durch einen Temperaturmeßumformer, der für die Vergleichselementtemperatur verantwortlich ist, erzeugt wird. Ein Temperaturmeßwandler, der für diesen Zweck erfolgreich eingesetzt wurde, ist das Modell AD 590 der Firma Analog Devices, Inc., der zur Erzeugung eines Ausgangsströmes proportional zur absoluten Temperatur einsetzbar ist.
Aus verschiedenen Gründen waren die bisher benutzten Thermoelementverstärker- und Abgleichanordnungen nicht voll befriedigend.
Demgemäß ist es vorrangige Aufgabe dieser Erfindung, einen verbesserten Thermoelement-Abgleichverstärker zu schaffen, der die Nachteile des Standes der Technik eliminiert oder im wesentlichen auf ein Minimum reduziert.
In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel gemäß der Erfindung, das nachfolgend ausführlich beschrieben ist, ist ein integrierter Schaltkreis auf einem Chip vorgesehen, mit dem die Thermoelement-Zuführungen verbunden sind und der ein verstärktes Ausgangssignal erzeugt, das automatisch bei Veränderungen in der Kaltelement-Temperatur kompensiert wird. Das Gerät ist sehr genau, arbeitet mit einem niedrigen Leistungspegel (unter 800 Microwatt) und läßt sich nicht von Erdverbindungen beeinflussen, die an den Thermoelementen auftreten können.
In dem beschriebenen Ausführungsbeispiel empfängt ein Verstärker mit einem Differenzeingang das Thermoelement-Signal und ein temperaturabhängiges Abgleichsignal, das eine zur absoluten Temperatur des Kaltelementes proportionale Komponente besitzt. Der Verstärkerausgang dient als Temperaturmeßsignal und ist durch eine negative Rückkopplungsschleife mit dem Verstärkereingang ver-
"blinden. Vorzugsweise umfaßt der Verstärker zwei aufeinander abgestimmte Differenzeingangsverstärker, deren Ausgänge additiv mit dem Eingang eines Hauptverstärkers verbunden sind, der die Rückkopplungsschleife treibt, In dieser Anordnung empfängt ein Differenzverstärker das Thermoelementsignal, während der andere das Rückkopplungssigna! zusammen mit dem Vergleichselement-Abgleichsignal empfängt. Vorteilhafterweise weist das Abgleichsignal eine Komponente auf, die proportional zur absoluten Temperatur (PTAT) und mit einem Eingang des Differenzverstärkers verbunden ist, und eine zweite Komponente, die komplementär zur absoluten Temperatur (CTAT) und mit dem anderen Eingang des Verstärkers verbunden ist. Die beiden Abgleichsignale zusammen bewirken eine Nullunterdrückung mit einem Bezugspunkt bei O0C.
V/eitere Merkmale und Vorteile der Erfindung werden nachfolgend zum Teil herausgestellt und durch die sich anschließende Beschreibung zusammen mit den begleitenden Zeichnungen erläutert.
Figur 1 stellt ein Blockschaltbild dar, das die grundsätzlichen Elemente eines Thermoelement-Abgleichverstärkers gemäß der Erfindung zeigt.
Figur 2 zeigt ein ausführliches schematisches Schaltbild eines bevorzugten Ausführungsbeispiels gemäß der Erfindung.
Bezogen auf Figur 1 umfaßt der Thermoelement-Abgleichverstärker (TAC) gemäß der vorliegenden Erfindung einen einzelnen IC-Chip, der durch ein Paar aufeinander abgestimmte Verstärker, die im Blockschaltbild mit 10, 12 dargestellt sind, gebildet wird. Die Eingangsanschlüsse 14, 16 des oberen dieser Verstärker 10 sind mit -IH und +IN-Chipanschlüssen verbunden, mit denen die
Thermoelementzuführungen verbunden werden. Der andere Differenzverstärker 12 erhält ein Kaltelementabgleichssignal und ein Rückkopplungssignal, wie noch weiter ausgeführt werden wird.
Die Ausgänge der Differenzverstärker 10, 12 sind an den entsprechenden Eingängen 20, 22 eines Hauptverstärkers 24 angelegt, der eine Spannung (VQ) erzeugt, die die Summation seiner "beiden Eingänge darstellt. Diese Spannung wird an einen negativen Rückkopplungskreis 26 angelegt, der einen mit dem nichtinvertierenden Eingang 28 des unteren Differenzverstärkers 12 verbundenen Widerstand R 54 enthält. Ein CTAT (komplementär zur absoluten Temperatur)-Signal einer CTAT-Signalquelle 30 wird ebenfalls an diesen Eingang angelegt. Der invertierende Eingang 32 des unteren Verstärkers 12 erhält ein PTAT (proportional zur absoluten Temperatur)-Signal von einer PTAT-Signalquelle 34.
Es ist zu erkennen, daß der obere Differenzverstärker 10 vom Rückkopplungskreis 26 isoliert ist. Deshalb kann das Thermoelement direkt mit den Eingangsanschlüssen +IN und -IN verbunden werden, ohne durch den Rückkopplungskreis gespeist zu werden.
Veränderungen in der thermoelektrischen Spannung, differenziell an dem oberen Verstärker 10 angelegt, werden in ein Einzel-Endsignal, das den Hauptverstärker 24 treibt, umgewandelt. Der Ausgang des Hauptverstärkers verändert sich entsprechend, um den unteren Verstärker 12 durch den Rückkopplungskreis 26 zu treiben. Die Rückkopplung bewirkt, daß die Spannung zwischen den Hauptverstärkereingangsanschlüssen 20, 22 gegen Null geht. Um dieses Ergebnis zu erreichen, zwingt die Rückkopplung den Differenzeingang des unteren Verstärkers 12 da-
zu, sich dem Differenzeingang des oberen Verstärkers anzugleichen, wenn die beiden Eingangsverstärker aufeinander abgestimmt sind.
Das von dieser Schaltkreisanordnung resultierende Ausgangssignal ist das gleiche, als wenn das Thermoelementsignal direkt auf den invertierenden Eingang des unteren Verstärkers 12 gegeben wird. Das, was als ein "Schein-Thermoelement" bezeichnet werden könnte, ist tatsächlich mit dem Eingangeschaltkreis des Verstärkers verbunden. Da es jedoch einen getrennten, nicht geerdeten Verstärkereingang für das Thermoelementensignal gibt, muß der Eingang des Thermoelementes nicht "erdbezogen" sein und kann innerhalb eines zweckmäßigen Gleichtaktbereichs benutzt werden.
Der invertierende Eingang 32 des unteren Verstärkers erhält ein PTAT-Vergleichselementabgleichssignal von der PTAT-Signalquelle 34. Dieses Abgleichsignal ist auf diese Weise auf absolut Hull bezogen. Weil es jedoch bevorzugt wird, die Thermoelementkompensation auf O0C zu beziehen, wird ein ergänzendes Abgleichsignal vorgesehen, um dieses Ergebnis zu erreichen. Ein derartiger zusätzlicher Abgleich könnte in lOrm einer konstanten Spannung realisiert sein, um das PTAT-Abgleichsignal zu verschieben oder zur Nullunterdrückung zu nutzen. Jedoch würden spezielle und teure Mittel benötigt, um die Spannung hinreichend nahe des feststehenden Wertes zu halten, damit entsprechend genaue Temperaturmessungen vorgenommen werden können. Um eine derartige Anordnung zu vermeiden, wird im angegebenen Ausführungsbeispiel eine bessere Technik angewendet. Diese Technik umfaßt das Betreiben des nichtinvertierenden Eingangs 28 des unteren Verstärkers 12 mit einem CTAT-Abgleichsignal, z.B. ein Signal, das einen Temperaturkoeffizienten mit
umgekehrten Vorzeichen zu dem PTAT-Signal am invertierenden Eingang besitzt.
Der Abgleichstromkreis ist derart eingerichtet, daß die CTAT-Spannung an dem nichtinvertierenden Eingang 28 des unteren Verstärkers 12 bei O0C im wesentlichen gleich der PTAT-Spannung an dem invertierenden Eingang 32 ist. Wenn somit die Temperatur des Chips O0C wäre, würde sein Ausgang (V0) nur die Thermoelementspannung abgeben. Bei anderen Chip-Temperaturen werden beide, die PTAT und die CTAT-Spannungen, wechseln, um ein Netto-Kompensationssignal zu erzeugen, das gleich der Spannung ist, die durch ein Thermoelement, das sein Meßelement auf Chip-Temperatur und sein Vergleichselement bei O0C hat, erzeugt wird. Infolgedessen besteht das Ausgangssignal (V0) aus einer Spannung proportional zu der Thermoelementeingangsspannung (im wesentlichen auf die jeweilige Chip-Temperatur bezogen) und einer Spannung proportional zu der Differenz zwischen der Chip-Temperatur und O0C. Das Ergebnis ist das gleiche, als wenn der Ausgang eines Thermoelements bezogen auf O0C einfach verstärkt wird. Deshalb ist der Verstärkerausgang des Schaltkreises eine genaue Darstellung der Thermoelementtemperatur, aber ohne die Erfordernis einer genauen O°C-Vergleichstemperatur.
Der Alarmstromkreis, allgemein als 40 bezeichnet, zeigt an, wenn eine (oder beide) der Thermoelementzuführungen 42 zu den +IN und -IN-Anschlüssen unterbrochen ist. Ein derartiger offener Schaltkreis überlastet den Hauptverstärker 24 und zwingt den Alarmabtasttransistor Q 21 zum Einschalten, wie im folgenden beschrieben wird.
Gemäß der ausführlichen Beschreibung des vorliegenden Ausführungsbeispiels in Fig. 2 wird der Grundkompensationsstrom von einem gekreuzten Vierergruppenschalt-
r* ft ♦
kreis abgezweigt, der allgemein mit 100 bezeichnet ist und aus den Transistoren Q 1, Q 2, Q 3 und Q 4 besteht. (Hintergrundinformation über gekreuzte Vierergruppenschaltkreise sind im U.S. Patent 4.268.759 zu finden.) Der Basisstrom für die Transistoren Q 3 und Q 4 wird durch den Transistor Q 6 geliefert, wenn, ausgelöst durch einen Feldeffekttransistor (FET) Q 49» seine Basis durch den Vierergruppenerregerstrom positiv wird. Die Erregung der Vierergruppe durch den Strom in den Transistoren Q 4 und Q 2 stabilisiert die Emitterspannung des Transistors Q 1. Da der Transistor Q 1 ein Doppelemittertransistor ist, wird seine Spannung bezüglich des Emitters von Transistor Q 2 allgemein durch die Gleichung:
VE1 = ~ In2
angegeben.
Diese Spannung fällt über den Widerständen R 50 und R 51, resultierend aus einem PTAT-Stromfluß in den Transistoren Q 1 und Q 3 ab.
Die Transistoren Q 25, Q 26, Q 27 und Q 28 bilden einen verbesserten Wilson-Stromspiegel 102. Der Transistor Q 5 ist eine Abänderung, bekannt als Congdon-Verbesserung. Der kleine Widerstand R 69 ist zusammen mit der erhöhten Kollektorbasiskapazität des Transistors Q 27 für die Frequenzstabilisierung der Schleife, die durch den Transistor Q 5 geschlossen wird.
Der offenbarte Abgleichverstärker ist in der Lage, mit einer negativen Speisespannung von 0 bis -25 Volt zu arbeiten, so daß die am Transistor Q 49 angelegte Gate-Vorspannung einer breiten Schwankung ausgesetzt ist. Die
Hinzunahme des Widerstandes R 68 reduziert die Schwankungen im tatsächlichen Drain-Strom. Die EET-Widerstandkombination bewirkt einen minimalen Ruhestrom, der ausreicht, um den Stromfluß im gekreuzten Vierergruppenschaltkreis 100 aufrechtzuerhalten. Der PNP-Stromspiegel 102 invertiert diesen Strom und reflektiert ihn rückkoppelnd auf die Seite der Transistoren Q 2, Q 4« Dieser Strom wird zu einem PTAT-Wert ansteigen, der durch die Widerstände R 50 und R 51 und die Spannung . Vxn bestimmt wird. Der maximale Drain-Strom des Transistors Q 49 muß kleiner sein als dieser PTAT-Strom, um den zweckmäßigen Vorspannungslevel zu ermöglichen.
Wenn der Schaltkreis einmal eingeschaltet ist, fließt der PTAT-Strom, der eine Größe besitzt, die durch die Widerstände R 50 und R 51 bestimmt wird, in beide Seiten des gekreuzten Vierergruppenschaltkreises 100, so daß Basisstrorafehler auf ein Minimum reduziert werden. Das Ergebnis ist, daß die Basisspannung des Transistors Q 3 genau bestimmt ist und benutzt wird, um ein CTAT-Signal am Schaltkreispunkt 104 zu produzieren. Diese Spannung wird durch einen Teiler, bestehend aus den Widerständen R 52 und R 53 reduziert, um das benötigte CTAT-Temperaturoffsetsignal zu bilden. Der Rückkopplungswiderstand R 54 ist an diese reduzierte Spannung angeschlossen, die den Transistor Q 32 über den Widerstand R 63 betreibt. Diese Verbindung entspricht dem unteren nichtinvertierenden Eingang 28 der Figur 1. Der Widerstand R 63 gleicht den Spannungsunterschied aus, der durch den Basisstrom in dem Thermoelement-Eingangsschutzwiderstand R 65 erzeugt wird.
Der invertierende Eingang 32 des Verstärkers 12 legt das PTAT-Abgleichsignal vom Spannungsteiler R 50/R 51 über einen Basisstromabgleichwiderstand R 64 an den
Transistor Q 33 an. Diese Spannung zwischen den Widerständen E 50 und R 51 ist eine zweckmäßig geteilte Abbildung der PTAT-Spannung am Emitter des Transistors Q 1. Die beiden PNP-Transistoren Q 32 und Q 33 können als Emitterfolger betrachtet werden, die die Emitter der Transistoren Q 7 und Q 8, die zusammen mit Transistor Q 10 einer Art entsprechend in einem Wilson-Stromspiegel verbunden sind, betreiben. Der "Boden" des Spiegels besitzt jedoch keine allgemeine Verbindung für die Transistoren Q 7 und Q 8. Stattdessen wird die Differenzeingangsspannung zwischen ihnen angelegt. Diese Spannung stört die Spiegelung, so daß das Verhältnis zwischen Eingangs- und Ausgangsstrom eine Punktion des EingangssignaIs, das an die Transistoren Q 32 und Q 33 angelegt ist, ist. Der PTAT-Eingangsstrom für die Transistorenanordnung Q 7, Q 8 und Q 10 wird vom Transistor Q 30 zugeführt.
Der obere Differenzverstärker 10, der in Pigur 1 gezeigt ist, wird durch die Transistoren Q 34, Q 35, Q 13, Q 14 und Q 16 gebildet. Diese Schaltung ist identisch mit dem Verstärkerschaltkreis 12, der als Temperaturabgleich und Rückkopplungseingang benutzt wird, und wird durch einen PTAT-Strom vom Transistor Q 31, der auf den Transistor Q 30 abgestimmt ist, betrieben. Der Ausgangsstrom vom Transistor Q 16 der Eingangsstufe 10 wird mit dem Strom vom Transistor Q 10 der anderen Eingangsstufe 12 verglichen, um den Hauptverstärker 24 zu steuern. Der Hauptverstärkerausgang Vo betreibt die Rückkopplung über den Widerstand R 54, um den Unterschied zwischen den Strömen der Transistoren Q 10 und Q 16 zu minimieren.
Der Unterschied dieser beiden Ströme wird von einem Stromspiegel 112 abgeleitet, der aus den Transistoren Q 36, Q 37, Q 38 und Q 45 besteht. Der Netzstrom an
den Kollektoren der Transistoren Q 16 und Q 37 "betreibt die Basis des Emitterfolgers Q 40, der in Reihe die Basis einer Spannungsverstärkungsstufe Q 41 "betreibt. Der Kollektor des Transistors Q 41 ist entgegengesetzt zu dem Transistor Q 12, der seine Betriebsspannung erzeugt. Die Kollektorspannung des Transistors Q 41 treibt die Basis des Emitterfolgers Q 18 an, die dann den Chip-Ausgang (V- ) über den positiven Strombegrenzungswiderstand R 60 betreibt. Der Kollektor des Transistors Q 41 betreibt ebenfalls die in einer Darlington-Schaltung angeordneten PNP-Transistoren Q 43 und Q 44, so daß der Ausgang den Strom während des Erzeugens negativer Ausgangssignale absenken kann. Eine negative Strombegrenzung ist durch eine Hochstrom- -Verminderung ' in diesen zwei Transistoren vorgesehen, wobei der begrenzte Ansteuerungsstrom vom Transistor Q 12 zur Verfügung gestellt wird.
Der Ansteuerungsstrom für den Transistor Q 12 ist von dem Ausgangsstrom des Temperaturrückkopplungs-Eingangsverstärkers 12 abgeleitet. Insbesondere treibt der Strom des Transistors Q 10 den Hauptdifferenzstromspiegel 112, wie oben beschrieben, an. Innerhalb dieses Stromspiegels bilden die Transistoren Q 36, Q 38 und Q 45 einen anderen Wilson-Spiegel, wobei der Kollektorstrom des Transistors Q 38 den Eingangsstrom von Transistor Q 10 spiegelt. Der Strom vom Transistor Q 38 treibt die im Verhältnis 1 : 6 spiegelnde Anordnung, bestehend aus den Transistoren Q 11 und Q 12 und den Widerständen R 55 und R 56 an.
Der Transistor Q 24, der einen PNP-Transistor mit geteiltem Kollektor darstellt und durch die Vorspannung, erzeugt durch Transistor Q 25» betrieben wird, ist als eine der Zusatzvorspannungsanordnungen vorgesehen.
Diese Basisspannung bewirkt, daß der Emitterstrom des Transistors Q 24 gleich, dem Emitterstrom des Transistors Q 25 wird, der sich dem Bezugs-PTAT-Ruhestrom nähert. Dieser Strom, abzüglich des Basisstroms, wird genau am Kollektor geteilt und setzt die vorher beschriebenen, aufeinander abgestimmten Eingangsstufen 10, 12 durch die Kaskaden-PNP-Transistoren Q 30 und Q 31 unter Vorspannung.
Ein anderer Ruhestrom wird durch Transistor Q 46 von der Basisspannung des Differenzspiegels 112 abgeleitet. Dieser Strom setzt Transistor Q 40 unter Vorspannung. Der Widerstand R 57 reduziert die Basisansteuerung geringfügig, so daß die Summe des Kollektorstroms von Transistor Q 46 mit dem Basisstrom von Transistor Q 41 sich dem Emitterstrom von Transistor Q 38 nähert. Dieser Abgleich, minimiert den Fehler, der sich aus einem Unterschied im Basisstrom der Transistoren Q 38 und Q 40 ergeben würde.
Eine positive Strombegrenzung ist durch. Transistor Q 17 vorgesehen. Wenn der Ladestrom ausreicht, um etwa 600 mV über Widerstand R 60 zu erzeugen, schaltet der Transistor Q 17 durch und nimmt über den Transistor Q 23 die Basisansteuerung von Transistor Q 18 weg. Die Funktion von Transistor Q 23 besteht darin, die Kollektorbasisverbindung von Transistor Q 17 abzuschalten, wenn negative Ladungen vorliegen. Ohne Transistor Q 23 würde die Kollektorbasisstrecke von Transistor Q 17 eine in Vorwärtsrichtung von der Basis des Transistors Q 43 zum Ausgang angesteuerte Diode sein.
Wenn Transistor Q 17 durchschaltet, um die Ansteuerung von Transistor Q 18 zu nehmen, wird das Verstärkerteil den Transistor Q 41 auf Hochstrompegel steuern,
bis er überlastet wird. Um den Einschalt-Chip-Wärmeverlust zu steuern, wird der Kollektorstrom von Transistor Q 4-1 ebenfalls begrenzt. Diese Begrenzung wird durch Transistoreinrichtung* Q 42 und Widerstand R 59 durchgeführt. Bei Normalbetrieb bewirkt der Widerstand R 59 nur eine unbedeutende Reduzierung der Rückkopplungsschleifenverstärkung. Wenn Transistor Q 41 stark übersteuert wird, ermöglicht der Widerstand R 59, daß der Emitter und von nun an die Basis negativ wird. Wenn dies eintritt, wird die Basis von Transistor Q 42 ebenfalls negativ gesteuert. Da sein Emitter mit dem Emitter von Transistor Q 31 verbunden ist, wird die Basisemitterstrecke von Transistor Q 42 durch den Überschußbetrieb von Transistor Q 41 in Vorwärtsrichtung betrieben. Als Ergebnis wird der Emitterstrom von Transistor Q 31 herabgesetzt, was die Ansteuerung der Thermoelementeingangsstufe 10 reduziert. Diese Herabsetzung reduziert die Ansteuerung von Transistor Q 40 und Q 41 durch Transistor Q 16 bis ein Gleichgewicht erreicht ist.
Im Falle positiver Ausgangsüberlastung wird der Kollektorstrom von Transistor Q 42 dazu benutzt, den Alarmschaltkreis zu aktivieren. Dieser Strom, der normalerweise Null ist, wird ansteigen, wenn der Verstärkerausgang überlastet ist oder wenn die Eingänge derart überlastet sind, daß die Ausgänge in positiver Richtung gesteuert werden. Der Basisstron von Transistor Q 34 wird eine derartige Eingangsüberlastung zur Folge haben, wenn der +IN-Thermoelementeingangsanschluß im Leerlauf betrieben wird. Wenn der -IN-Thermoelementeingangsanschluß (oder beide + und -) alternativ im Leerlauf betrieben wird, wird der Kollektorstrom des Transistors Q 16 auf Null fallen und bewirken, daß der Hauptstromspiegel 112 die Basic von Transistor w 40 positiv ansteuert. Da der Eingang zum Spiegel vom Transistor Q 10 durch Therraoelementeingangsüberlastungen unbeeinflußt bleibt, wird
der Kollektor von Transistor Q 37 positiv angesteuert "bis die Basisemitterstrecke von Transistor Q 39 in Vorwärtsrichtung "betrieben wird. An diesem Punkt wird der Ausgangsstrom des Spiegels über den Kollektor von Transistor Q 39, der in einer allgemeinen Basisanordnung ist, fließen.
Bei allen Überlastungskombinationen wird der kombinierte Kollektorstrom der Transistoren Q 39 und Q 42 vom normalen Null-Pegel ansteigen. Dieser Strom wird die Basis von Transistor Q 19» der Transistor Q 21 in einer Darlington-Schaltung antreibt, betreiben. Dauer wird Transistor Q 21 immer dann betrieben, wenn eine Überlastung auftritt. Widerstand R 61 hält die Basis niedrig für Transistor Q 21, um die Verluste und die mit β multiplizierten Verluste vom Transistor Q 19 zu beseitigen. Generell wird angenommen, daß Transistor Q 21 als ein Schalter zum Anzeigen der Überlastung angewendet wird. Da er in einer Vielzahl von Anordnungen verbunden werden kann, wird ein Überlastungsschutz eingeschlossen. Der Emitterstrom von Transistor Q 21, der durch den Widerstand R 62 fließt, entwickelt eine Spannung über die Basisemitterstrecke von Transistor Q 20. Wenn diese Spannung ausreichend groß ist, schaltet Transistor Q 20 durch und zieht die verbleibende Basisansteuerung von Transistor Q 19 ab. Der Schaltkreis wird ein Gleichgewicht mit einem zuverlässigen Strompegel in Transistor Q 21 erreichen.
Der Kollektorstrom von Transistor Q 19 wird nur durch die verfügbare Basisansteuerung und durch die Stromverstärkung β von Transistor Q 19 begrenzt. Die Basisansteuerung wird gesteuert, wenn Transistor Q 21 in einem strombegrenzten Zustand ist. Venn Transistor Q 21 geladen ist, kann der Kollektorstrom von Transistor Q, 19
sehr hoch werden. Ein Extraemitteranschluß am Transistor Q 21 wird als invertierter Kollektor benutzt, um den Transistor Q 19 zu steuern. Wenn der Transistor Q 21 gesättigt betrieben wird, wird die Kollektorbasisstrecke in Vorwärtsrichtung betrieben. Als Ergebnis wird der invertierte Kollektor leitend und beseitigt die Ansteuerung von Transistor Q 19» der den Überschuß benötigt, um die Sättigung von Transistor Q 21 aufrechtzuerhalten.
Wenn entweder der Alarm oder der normale Ausgang überlastet ist, wird die Chip-Verlustwärme wesentlich steigen. Der resultierende Temperaturwechsel wird den Vergleichsstellenabgleich stören und der Ausgang könnte abweichen, wenn die Überlastung korrigiert wird. Der ursprüngliche Betrieb wird wieder hergestellt sein, wenn es dem Chip ermöglicht wird, auf Umgebungstemperatur abzukühlen.
Der Schaltkreis wurde entwickelt, um den Betrieb mit der negativen, auf Null reduzierten Zufuhrungsspannung, so lange fortzuführen, bis keine negativen Ausgangsspannungen mehr benötigt werden. Die +C, -C, +T, -T-Rückkopplung und die Ausgangspunkte werden zur Verfugung gestellt, damit der Schaltkreis fein abgeglichen werden kann. Die Werte des Schaltkreises wurden für die Verwendung von Thermoelementen des Typs J ausgewählt, aber die Teilerverhältnisse können wesentlich geändert werden, um Thermoelemente eines anderen Typs als J anzupassen.
Es ist darauf hinzuweisen, daß die Spannungsstrom-Übertragungsfunktion der Eingangsstufen 10, 12 nicht linear ist, aber diese Nichtlinearität erscheint nicht am verstärkten Ausgangssignal VQ. Da mit den zwei aufeinander abgestimmten Stufen die Rückkopplung den unteren oder Eingang 12 auf das gleiche Differenzsignal steuert wie
* «ft** *K** 4
den oberen oder Thermoelement-Eingang 10, tritt die Nichtlinearität in die gesamte Übertragungsfunktion des Regelkreises ein.
Die oben beschriebene Schaltkreisanordnung ist konstruiert, um eine bequeme Eichung vorzusehen. Die Grössenordnung der PTAT-Spannung, die an den Anschluß 32 angelegt wird, kann dem genauen Wert durch Justieren von den Widerständen R 50 oder R 51 angeglichen werden.
Übereinstimmend kann die Größenordnung der CTAT-Spannung, die an den Anschluß 28 angelegt wird, dem genauen Wert durch Justieren der Widerstände R 52 oder R 53 angeglichen werden, um den Nullwert auf O0C zu drücken.
Die Gesamtverstärkung des Verstärkers kann durch Justieren des Rückkopplungswiderstandes R 54, entweder durch sie selbst, oder in Verbindung mit weiterem Trimmen des NullelnstellungswiderStandes, angeglichen werden.
Ein spezielles Merkmal der oben beschriebenen Verstärkeranordnung ist, daß die Netz-Offsetspannung des Verstärkereingangs in Serie mit der dem Anschluß 32 zugeführten PTAT-Spannung wirkt. Fehler im Fabrikationsprozeß sind vorwiegend als PTAT-Offsetspannungen in den Verstärkern festgelegt. Daher ist es offensichtlich, daß, wie oben beschrieben, die Folgen derartiger Fehlerspannungen und Offset-Nullpunktverschiebungen durch genaues Trimmen des Widerstandsnetzwerkes beseitigt werden, und zwar derart, daß die Größenordnung der PTAT-Quelle eingestellt wird, um die Wirkung der Offset-Spannungen einzuschließen. Die PTAT-Offset-Spannung kann als Teil der PTAT-Abgleichspannungen betrachtet werden, die derartige Offset-Spannungen als einen Fehlfaktor beseitigt, da der Verstärker justiert wurde, um eine Netz-PTAT-Spannung einschließlich Offsetspannung zu erzeugen, um einen genauen Ablauf vorzusehen.
Es iat ebenfalls anzumerken, daß die Steuervorspannung für den Verstärker von der PTAT-Quelle abgezweigt wird, um darauf abzuzielen und sicherzustellen, daß alle Offset-Spannungen, die auf Ruheströmeffekte zurückzuführen sind, proportional zur absoluten Temperatur (PTAT) sind.
Der Verstärker des hier angewandten vorliegenden Ausführungsbeispiels umfaßt vorteilhafterweise ebenfalls Schaltkreismittel, um vorzusehen, daß das Ausgangssignal mit dem Eingangssignal für Thermoelement-Spannungen, die bis zur Spannung der negativen Versorgungsschiene nach unten reicht, übereinstimmt. Letztendlich umfaßt der-Eingangsschaltkreis von dem Verstärker 10 ein Paar PHP-Transistoren Q 34/Q 35, die den Ablauf an derartigen upannungspegeln ausführen können.
Ein Thermoelementsignalanpasser als integrierter Schaltkreis, der auf einem einzelnen Chip einen Verstärker und auf die Chip-Temperatur ansprechende jlittel aura Entwickeln eines auf O0C bezogenen VergleichBelementabgleichsignals aufweist. Der Verstärker uirfaiSt zwei aufeinander abgestimmte Differenzeingangsverstärker (10, 12), deren Ausgänge summiert v/erden und zum Steuern eines hochverstärkenden Hauptverstärkers (24) benutzt werden« Die Thermoelementsignale werden an einen der Eingangsverstärker (10) angelegt, der als eine nichtgeerdete Eingangsstufe dient.
Der Hauptverstärkerausgang ist durch einen Rückkopplungsschaltkreis (26) mit dem Eingang des anderen Differenzverstärkers (12) verbunden.
Ein Vergleichsstellenabgleichsignal ist ebenfalls an den Eingang des anderen Differenzverstärkers angelegt. Das Abgleichsignal ist eine Differenzspannung proportional der Celsius-Temperatur des Chips. Die Abgleichspannung umfaßt zwei Komponenten, die positive und negative Temperaturkoeffizienten besitzen. Der IC-Chip umfaßt ebenfalls Alarmmittel (40) zum Anzeigen von Überlastungen durch unterbrochene .Thermoelementzuführungen oder andere Überlastungen. (Figur-1)

Claims (28)

  1. «t * · η
    oc^, iiSSi, rr 22. Pebruar 1 983
    D-60C0 Fri.:;:;viiit ic. Vftl« 70 PuKk/G
    Te!3f&n ιίί6 ti) 6170/8
    Analog Devices, Inc., Route 1, Industrial Park, Norwood, MA 02062, U.S.A.
    Thermoelementsignalanpasser als integrierter Schaltkreis.
    Patentansprüche
    / 1.) IC-Chip, zum Anschluß eines Thermoelementes, um ein Temperaturmeßsignal mit Referenzelement-Kompensation zu erzeugen, gekennzeichnet durch eine Verstärkeranordnung (10,12,24) mit einer differentiellen Eingangsschaltung, Thermoelement-Eingangsanschlüsse ■ (42), die mit dieser Eingangsschaltung verbunden sind und ein Referenzelement bei Chip-Temperatur bilden, wenn sie mit den Thermoelement-Zuleitungen verbunden sind, eine temperaturabhängige Signalquelleneinrichtung, die in Bezug auf das Thermoelementsignal additiv mit der Eingangsschaltung verbunden ist, um eine Referenzelement-Kompensation zu bewirken, die Änderungen in der Chip-Temperatur entspricht, und einen negativen Rückkopplungskreis (26), der den Ausgang der Verstärkeranordnung (10,12,24) mit der Eingangsschaltung verbindet, um vorzusehen, daß der Ausgang der Verstärkeranordnung Veränderungen in der Thermoelementspannung folgt, die auf Änderungen in der Meßtemperatur beruhen.
    i tr**« V «
    St * ·
    fe * »I
  2. 2. IC-ChIp nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß diese Signalquelleneinrichtung eine Quelle (34) für ein PTAT-Signal umfaßt.
  3. 3. IC-Chip nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine mit der Eingangsschaltung verbundene CTAT-Signalquelle (30), um der Eingangsschaltung eine Spannung aufzuprägen, die eine Nullpunkt-Unterdrückung der Referenzelement-Kompensation bewirkt.
  4. 4. IC-Chip nach Anspruch 3f dadurch gekennzeichnet, daß diese CTAT-Signalquelle (30) so geschaltet ist, daß sie ein Netto-Kompensationssignal erzeugt, das auf O0C bezogen ist.
  5. 5. IC-Chip nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalquelleneinrichtung eine PTAT-Signalquelle (34) und eine CTAT-Signalquelle (30) umfaßt, die so geschaltet sind, daß sie ein Netto-Kompensationssignal erzeugen, das auf O0C bezogen ist.
  6. 6. IC-Chip nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Verstärkeranordnung (10, 12, 24) einen ersten (10) und einen zweiten (12) aufeinander abgestimmten Differenzverstärker enthält, deren Ausgänge in Summation verbunden sind, daß diese Thermoelementeingangsanschlüsse (42) mit dem ersten Differenzverstärker (10) und der Rückkopplungskreis (26) mit dem Eingang (28) des zweiten Differenzverstärkers (12) verbunden sind.
  7. 7. IC-Chip nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die temperaturabhängige Signalquelleneinrichtung (30, 34) mit dem Eingang (28, 32) des zweiten Differenzverstärker (12) verbunden ist.
  8. 8. IC-Ghip nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die temperaturabhängige Signalquelleneinrichtung eine PTAT-Signalquelle (34) und eine CTAT-Signalquelle (30) aufweist.
  9. 9. IC-Chip nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Differenzverstärker (12) einen ersten Eingang (28) und einen zweiten Eingang (32) aufweist, wobei diese PTAT-Signalquelle (34) mit einem der Eingänge (28, 32) und die CTAC-Signalquelle (30) mit dem anderen der Eingänge (32, 28) verbunden ist.
  10. 10. IC-Chip nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß diese temperaturabhängige Signalquelleneinrichtung eine Gruppe von miteinanderverbundenen Transistoren umfaßt, wobei wenigstens einer davon eine hinreichend verschiedene Stromdichte zu einem anderen der Transistoren aufweist, um dadurch eine PTAT-Spannung zum Kompensieren des Referenzelemtes zu erzeugen.
  11. 11. IC-Chip nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die temperaturabhängige Signalquelleneinrichtung einen Transistor zum Pühren eines PTAT-Stromes umfaßt, um zwischen der Basis und dem Emitter eine CTAT-Spannung zum Kompensieren des Referenzthermoelementes zu bilden.
  12. 12. IC-Chip, zum Anschluß eines Thermoelementes, um ein Temperaturmeßsignal mit Referenzelement-Kompensation zu erzeugen, gekennzeichnet durch
    - eine Verstärkeranordnung (10, 12, 24) mit einer Eingangs- und einer Ausgangsschaltung, wobei diese Ausgangsschaltung ein Ausgangsmeßsignal liefert,
    - Thermoelement-Eingangsanschlüsse (42), die mit der Eingangsschaltung verbunden sind,
    - eine temperaturabhängige Signalquelleneinrichtung (30, 34), die an diese Eingangsschaltung angeschlossen ist, um eine Referenzelement-Kompensation entsprechend der Veränderungen in der Chip-Temperatur zu erzeugen,
    - einen Alarmtransistor (Q 21) und
    - Schaltmittel (40), die an dieser Verstärkeranordnung (24) zum Betätigen dieses Alarmtransistors (Q 21) angeschlossen sind, für den Pail, daß eine Thermoelementzuführung unterbrochen wird.
  13. 13. IC-Chip nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß diese Schaltmittel (40) wirksam werden,um diesen Alarmtransistor zu aktivieren, wenn eine Überlastung am Ausgang der Verstärkeranordnung (24) vorliegt.
  14. 14. IC-Chip nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß er Strombegrenzungsmittel umfaßt, die an diesen Alarmtransistor angeschlossen sind, um einen überhöhten Stromfluß zu verhindern,
  15. 15. Ein Thermoelementverstärker mit Referenzelement-Kompensation, gekennzeichnet durch
    - einen ersten Differenzverstärker (10) mit einer Eingangsschaltung, um das Thermoelementsignal zu empfangen,
    - einen zweiten, auf den ersten Verstärker (1O) abgestimmten Differenzverstärker (12),
    - Mittel (24) zum Kombinieren der Ausgänge dieser beiden Verstärker, um ein Ausgangssignal zu erzeugen,
    - einen Rückkopplungskreis (26), der den Ausgang dieser Kombinationsmittel (24) mit dein Eingang (28) dieses zweiten Differenzverstärkers (12) verbindet, und
    - Signalquelleneinrichtungen (30, 34), die an den Eingang dieses zweiten Differenzverstärkers (12) angeschlossen sind, um eine Referenzelement-Kompensation zu bewirken.
  16. 16. Einrichtung nach Anspruch 15> dadurch gekennzeichnet, daß diese Kombinationsmittel einen Hauptverstärker (24) umfassen, der auf die Ausgangssignale dieser beiden Differenzverstärker (10, 12) anspricht und imstande ist, dieses Ausgangssignal zu erzeugen.
  17. 17. Einrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß diese Signalquelleneinrichtung eine PTAT-Quelle (34) umfaßt.
  18. 18. Einrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß diese Signalquelleneinrichtung Mittel zur Nullunterdrückung des Kompensationssignals, das durch diese PTAT-Quelle (34) erzeugt wurde, umfaßt, um einen Vergleichspunkt bei O0C zu liefern.
  19. 19. Einrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß diese Nullunterdrückungsmittel eine CTAT-Signalquelle (30) umfassen.
  20. 20. IC-Chip zum Anschluß eines Thermoelementes, um ein Temperaturmeßsignal mit Referenzelement-^Kompensation zu erzeugen, gekennzeichnet durch - eine Verstärkeranordnung (10, 12,24)mit einer Eingangsschaltung und einer Ausgangsschaltung
    - Thermoelementanschlüsse (42), die mit der Eingangsschaltung verbunden sind, und
    - eine temperaturabhängige Signalquelleneinrichtung, die an die Eingangsschaltung angeschlossen ist,
    eine Ileferenzelement-Kompensation entsprechend den Veränderungen in der Chip-Temperatur zu "bewirken, wobei diese temperaturabhängige Signalquelleneinrichtung eine Vergleichstemperatur von O0C vorsieht.
  21. 21. IC-Chip nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß diese Signalquelleneinrichtung eine PTAT-Quelle (34) und eine zweite Signalquelle (30) zur NuIlunterdrückung des Abgleiche auf O0C umfaßt.
  22. 22. IC-Chip nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß diese zweite Signalquelle eine CTAT-Signalquel-Ie (30) enthält.
  23. 23. IC-Chip zum Anschluß eines Thermoelementes, um ein Temperaturmeßsignal mit Vergleichsstellenabgleich zu erzeugen, gekennzeichnet durch
    - Verstärkeranordnungen (10, 12, 24) mit Ein- und Ausgängen,
    - Thermoelementeingangsanschlüsse (42), verbunden mit diesen Eingängen,
    - Transistoren
    - und Schaltkreismittel, die mit diesen Transistoren verbunden sind, um davon ein auf die Temperatur des Chips reagierendes iiignal zu erzeugen, das als Vergleichsstellenabgleichsignal dient und das entsprechend der Veränderungen in der Chip-Temperatur wechselt, wobei diese Schaltkreismittel Mittel zum Verbinden dieses Vergleichsstellensignals mit dein Verstärkereingang enthalten, um zusammen mit dem Thermoelementsignal zu wirken, um den Ausgang dieses Verstärkers zu bestimmen.
  24. 24. IC-Chips nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß diese Transistoren Mittel zum Erzeugen eines Nullunterdrückungssignals umfassen, das auf die Chip-Temperatur anspricht.
  25. 25. IC-Chip, mit dem ein Thermoelement verbunden werden kann, um ein Temperaturmeßsignal mit Vergleichsstellena bgleich zu erzeugen, dadurch gekennzeichnet, daß er umfaßt:
    - Yerstärkeranordnungen mit Ein- und Ausgängen (10, 12, 24), wobei diese Verstärkeranordnungen eine PTAT-Offsetspannung besitzen,
    - Thermoelementeingangsanschlüsse (42), verbunden mit diesen Eingängen,
    - PTAT-Signalquellenanordnungen, die an die Eingänge angeschlossen sind, um Vergleichsstellenabgleich entsprechend de Veränderungen in der Chip-Temperatur hervorzurufen, wobei
    - der Ausgang dieser PTAT-Signalquellen (34), an die Größenordnung angepaßt werden, um die Nulleinstellung des Verstärkers mit der PTAT-Offsetspannung, die wirksam mit dem Ausgang der PTAT-Signalquellenanordnung kombiniert ist , zu bewirken, um im wesentlichen JPehlerauswirkungen zu minimieren,die den Veränderungen der Offsetspannung bei Temperaturveränderungen des Chips zuzuschreiben sind.
  26. 26. IC-Chip nach Anspruch 25, gekennzeichnet durch Mittel zur Zuführung von PTAT-Kompensationsströmen zu den Verstärkeranordnungen.
  27. 27. IC-Chip, mit dem ein Thermoelement verbunden werden kann, um ein Temperaturmeßsignal mit Vergleichsstellenabgleich zu erzeugen, dadurch gekennzeichnet, daß er umfaßt:
    - Verstärkeranordnungen (10, 12, 24) mit Eingängen und Ausgängen,
    - Thermoelementeingangsanschlüsse (42) verbunden mit diesen Eingängen,
    - auf die Temperatur ansprechende Signalquellen, die an diese Eingangsanschlüsse angeschlossen sind, um Vergleichstellenabgleich entsprechend der Veränderungen in der Chip-Temperatur herbeizuführen,
    - positive und negative Zufuhrschienen für diesen Verstärker, und
    - Schaltkreismittel, die Teil dieser Verstärkeranordnungen darstellen, um den Ausgang dieses Verstärkers auf Thermoelementspannung zu steuern, die sich "bis zu der Spannung dieser negativen Zuführungsschiene nach unten erstreckt.
  28. 28. ΙΟ-Chip nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, daß die Verstärkereingänge ein abgeglichenes Paar von PNP-Transistoren (Q 34, Q 35) umfaßt, deren Basen mit diesen Thermoelementeingangsanschlüssen verbunden sind, und
    - deren Kollektoren mit der negativen Zuführungsschiene verbunden sind.
DE19833306620 1982-02-26 1983-02-25 Thermoelementsignalanpasser als integrierter schaltkreis Granted DE3306620A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/352,711 US4475103A (en) 1982-02-26 1982-02-26 Integrated-circuit thermocouple signal conditioner

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3306620A1 true DE3306620A1 (de) 1983-09-15
DE3306620C2 DE3306620C2 (de) 1993-04-08

Family

ID=23386174

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19833306620 Granted DE3306620A1 (de) 1982-02-26 1983-02-25 Thermoelementsignalanpasser als integrierter schaltkreis

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4475103A (de)
JP (1) JPH0744293B2 (de)
CA (1) CA1191715A (de)
DE (1) DE3306620A1 (de)
FR (1) FR2524142B1 (de)
GB (1) GB2115932B (de)
NL (1) NL8300641A (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3529778A1 (de) * 1985-08-08 1987-02-19 Forschungsgesellschaft Fuer Fe Elektronische temperaturmess- und anzeigeeinrichtung

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4604532A (en) * 1983-01-03 1986-08-05 Analog Devices, Incorporated Temperature compensated logarithmic circuit
US4546344A (en) * 1984-03-05 1985-10-08 American District Telegraph Company Temperature compensated alarm system
GB8708502D0 (en) * 1987-04-09 1987-05-13 Vg Instr Group High stability mass spectrometer
GB2224846A (en) * 1988-11-14 1990-05-16 Philips Electronic Associated Temperature sensing circuit
ES2114853T3 (es) * 1989-06-09 1998-06-16 Nec Corp Aparato para consultar el contenido de una memoria de marcador en un equipo telefonico.
US5327029A (en) * 1993-05-06 1994-07-05 Martin Marietta Energy Systems, Inc. Logarithmic current measurement circuit with improved accuracy and temperature stability and associated method
US5954572A (en) * 1995-06-27 1999-09-21 Btg International Limited Constant current apparatus
US5821741A (en) * 1997-02-07 1998-10-13 Analog Devices, Inc. Temperature set point circuit and method employing adjustment resistor
US5873053A (en) * 1997-04-08 1999-02-16 International Business Machines Corporation On-chip thermometry for control of chip operating temperature
US6002293A (en) * 1998-03-24 1999-12-14 Analog Devices, Inc. High transconductance voltage reference cell
US6335661B1 (en) * 2000-05-11 2002-01-01 Maxim Integrated Products, Inc. Balanced input for temperature sensor
US6294902B1 (en) 2000-08-11 2001-09-25 Analog Devices, Inc. Bandgap reference having power supply ripple rejection
US6679628B2 (en) 2001-08-14 2004-01-20 Schneider Automation Inc. Solid state temperature measuring device and method
FR2845767B1 (fr) * 2002-10-09 2005-12-09 St Microelectronics Sa Capteur numerique de temperature integre
US7543253B2 (en) * 2003-10-07 2009-06-02 Analog Devices, Inc. Method and apparatus for compensating for temperature drift in semiconductor processes and circuitry
US7405552B2 (en) 2006-01-04 2008-07-29 Micron Technology, Inc. Semiconductor temperature sensor with high sensitivity
US7821321B2 (en) 2006-01-12 2010-10-26 Micron Technology, Inc. Semiconductor temperature sensor using bandgap generator circuit
US7331708B2 (en) * 2006-02-23 2008-02-19 National Semiconductor Corporation Frequency ratio digitizing temperature sensor with linearity correction
WO2007149959A2 (en) * 2006-06-22 2007-12-27 Bae Systems Programmable circuit for drift compensation
US8102201B2 (en) 2006-09-25 2012-01-24 Analog Devices, Inc. Reference circuit and method for providing a reference
US7576598B2 (en) * 2006-09-25 2009-08-18 Analog Devices, Inc. Bandgap voltage reference and method for providing same
US7714563B2 (en) * 2007-03-13 2010-05-11 Analog Devices, Inc. Low noise voltage reference circuit
US20080265860A1 (en) * 2007-04-30 2008-10-30 Analog Devices, Inc. Low voltage bandgap reference source
US7605578B2 (en) 2007-07-23 2009-10-20 Analog Devices, Inc. Low noise bandgap voltage reference
US7612606B2 (en) * 2007-12-21 2009-11-03 Analog Devices, Inc. Low voltage current and voltage generator
US7598799B2 (en) * 2007-12-21 2009-10-06 Analog Devices, Inc. Bandgap voltage reference circuit
US7880533B2 (en) * 2008-03-25 2011-02-01 Analog Devices, Inc. Bandgap voltage reference circuit
US7750728B2 (en) * 2008-03-25 2010-07-06 Analog Devices, Inc. Reference voltage circuit
US7902912B2 (en) * 2008-03-25 2011-03-08 Analog Devices, Inc. Bias current generator
JP2010224594A (ja) * 2009-03-19 2010-10-07 Oki Semiconductor Co Ltd 電圧発生回路
CN101943613B (zh) * 2009-07-03 2014-07-23 飞思卡尔半导体公司 亚阈值cmos温度检测器
US8602643B2 (en) * 2010-07-06 2013-12-10 David Phillip Gardiner Method and apparatus for measurement of temperature and rate of change of temperature
US8179195B1 (en) * 2011-01-24 2012-05-15 Maxim Integrated Products, Inc. Current-feedback instrumentation amplifiers
JP5724630B2 (ja) * 2011-05-25 2015-05-27 ミツミ電機株式会社 熱電対用増幅回路及び温度監視システム
KR20140079046A (ko) * 2012-12-18 2014-06-26 에스케이하이닉스 주식회사 차동 증폭 회로
US10234335B2 (en) 2014-04-30 2019-03-19 Thermo-Kinetics Company Limited Thermocouple resistance compensator

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4135402A (en) * 1976-08-25 1979-01-23 Nippondenso Co., Ltd. Thermocouple temperature detecting assembly

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3671953A (en) * 1970-07-02 1972-06-20 Monsanto Co High, low and thermocouple burn-out alarm system
JPS5062078A (de) * 1973-09-29 1975-05-27
US3921453A (en) * 1974-03-08 1975-11-25 Chrysler Corp Thermocouple system having a PN junction for cold junction compensation
US4120201A (en) * 1977-03-18 1978-10-17 Partlow Corporation Thermocouple temperature measurement circuit having cold junction compensation
US4126042A (en) * 1977-06-28 1978-11-21 Digicon Corporation Error compensating network for digital display thermometer

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4135402A (en) * 1976-08-25 1979-01-23 Nippondenso Co., Ltd. Thermocouple temperature detecting assembly

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3529778A1 (de) * 1985-08-08 1987-02-19 Forschungsgesellschaft Fuer Fe Elektronische temperaturmess- und anzeigeeinrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
JPS58158979A (ja) 1983-09-21
US4475103A (en) 1984-10-02
CA1191715A (en) 1985-08-13
GB2115932B (en) 1985-12-18
GB8302228D0 (en) 1983-03-02
JPH0744293B2 (ja) 1995-05-15
GB2115932A (en) 1983-09-14
DE3306620C2 (de) 1993-04-08
NL8300641A (nl) 1983-09-16
FR2524142A1 (fr) 1983-09-30
FR2524142B1 (fr) 1986-01-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3306620A1 (de) Thermoelementsignalanpasser als integrierter schaltkreis
DE2522437C2 (de)
DE3001552C2 (de)
DE2440795C3 (de) Temperaturabhängiger Spannungsgeber
DE102014107504B4 (de) Eingangsstufe für temperaturmesssystem
DE3328082C2 (de) Spannungsreferenzschaltung
DE2437427C3 (de) Temperaturkompensierte Konstantstromschaltung
DE2736915C2 (de) Bezugsspannungsgenerator
DE602004008734T2 (de) Hochspannungsstromdetektor
EP0789866B1 (de) Spannungsreferenz mit prüfung und eigenkalibrierung
EP0525235A1 (de) Hallsensor mit Selbstkompensation
DE2917237C2 (de)
DE102017125831A1 (de) Temperaturkompensierte Referenzspannungsschaltung
DE2646366A1 (de) Stromstabilisierungsschaltung
EP0418329B1 (de) Schaltung zum messen des innenwiderstandes einer lambdasonde
DE3321556C2 (de)
DE4427052B4 (de) Referenzspannungsgenerator
DE102019124959A1 (de) Wärmesensor mit geringem temperaturfehler
EP0727669A2 (de) Anordnung zur Temperaturkompensation
DE10054143A1 (de) Konstantstromversorgungsschaltung
EP0498799A1 (de) Integrierbare temperatursensorschaltung
DE102004004305A1 (de) Bandabstands-Referenzstromquelle
DE102004015611B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Offset-Kompensation
DE19581856B3 (de) Temperaturkompensation für Bauteile von integrierten Schaltungen auf der Halbleiterplättchen-Stufe
DE3347683A1 (de) Temperaturkompensierter logarithmischer schaltkreis

Legal Events

Date Code Title Description
8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: GOERTZ, H., DIPL.-ING. FUCHS, J., DR.-ING. DIPL.-I

8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition