DE3302827C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren nach dem Oberbegriff
des Patentanspruchs 1 und dessen Anwendung.
Die Herstellung von Interferenzschichten ist seit langem
bekannt. Die einzelnen Schichtdicken liegen je nach
Anforderung an das Endprodukt zwischen λ/4 und λ/8
der sogenannten Bezugswellenlänge, für die die
Berechnung des Systems durchgeführt wurde. Endprodukte
sind beispielsweise optische Elemente aus der Gruppe
subtraktive und additive Farbtrennungsfilter, Kaltlichtspiegel,
Wärmereflexionsfilter, Farbtemperaturumwandlungsfilter,
Farbtemperaturumwandlungsreflektor, dielektrische
Schmalbandfilter, Strahlenteiler. Als Substratmaterialien
dienen dabei durchsichtige oder durchscheinende Materialien
aus der Gruppe Glas, Saphir und Kunststoff sowie
Metalle. Als Kunststoff kommt bevorzugt Polydiäthylenglycoldiallylcarbonat
in Frage.
Derartige optische Elemente müssen bestimmten
Anforderungen genügen, und zwar im Hinblick auf ihre
optischen Eigenschaften wie Absorptionsfreiheit,
Stabilität der Kantenlage etc., und im Hinblick auf ihre
mechanisch-chemischen Eigenschaften wie
Abriebsfestigkeit, Haftfestigkeit, Kochfestigkeit,
Temperaturbeständigkeit sowie Beständigkeit gegenüber
Säuren etc.
Die Anforderungen im Hinblick auf die vorstehend
genannten Eigenschaften sind im Laufe der Zeit ständig
gestiegen, so daß man von der Benutzung "weicher"
Substanzen wie ZnS, Kryolith etc., die sich thermisch
verdampfen lassen, Abstand genommen hat und den Weg hin
zu "harten", oxidischen Schichten wie TiO₂ und SiO₂ etc.
fand, zu deren Verdampfung man Elektronenstrahlkanonen
benutzte.
Die bisher für Interferenzschichtsysteme verwendeten
Schichtmaterialien waren im allgemeinen Oxide des
Titans als hochbrechende Schicht und Oxide des Siliziums
als niedrigbrechende Schicht. Der Aufdampfvorgang wurde
üblicherweise bei < 1,3 × 10-2 Pa und bei einer
Substrattemperatur zwischen 200 und 350°C begonnen. Die
Zeitdauer für das Erreichen des genannten Drucks sowie
einer Temperatur oberhalb 250°C konnte dabei bis zu
90 Minuten betragen. Typische Verdampfungsraten lagen
dabei für SiO₂ bei etwa 1,5 nm/s und für TiO₂ bei etwa
0,3 nm/s. Die Aufdampfzeit für die Herstellung von
15 Schichten für eine Bezugswellenlänge von λ₀ = 400 nm
konnte infolgedessen durchaus bis zu 50 Minuten
betragen. Hinzu kam wegen der hocherhitzten Substrate
eine beträchtliche Abkühlzeit, die gleichfalls bis zu
150 Minuten betragen konnte. Für wärmeempfindliche
Substrate wie beispielsweise Kunststoffe schied das
bekannte Schichtsystem ohnehin aus. Die Kochfestigkeit
entsprach bei ebenen Substratoberflächen DIN 58196
Teil 2 C 60 und bei stark gewölbten Substraten
DIN 58196 Teil 2 C 15. Bei stark gekrümmten Substraten
wird nach einer Behandlung gemäß DIN 58196 Teil 2 C 15
überhaupt keine Haftfestigkeit mehr nach MIL C 675C
erreicht.
"C60" bzw. "C15" in den Kochfestigkeitsangaben nach
DIN 58196 Teil 2 bedeuten, daß die Beschichtung sich
während einer Kochdauer von 60 Minuten bzw. 15 Minuten
nicht von selbst abgelöst hat. So widerstanden die
TiO₂/SiO₂-Schichten auf ebenen Substraten dem Kochtest
etwa 20 Stunden, auf stark gewölbten Substraten
(Halbkugeflächen) jedoch nur etwa 15 Minuten. Dies
bedeutet jedoch noch nicht, daß die betreffende Schicht
auch dem Haftfestigkeitstest nach MIL C 675 C Widerstand
geleistet hat.
Insbesondere zeigt gerade der zuletzt geschilderte
Haftfestigkeitstest, daß das bekannte Schichtsystem auf
stark gekrümmten Substraten, wie sie insbesondere bei
optischen Linsen, Kaltlichtspiegeln etc. vorkommen,
nach einer Kochdauer von nur 15 Minuten überhaupt keine
Haftfestigkeit mehr besaß.
Durch die DE-OS 26 37 616 ist eine alternierende
Schichtenfolge von SiO₂-Si-SiO₂-Si bekannt. Ein
derartiges Schichtsystem muß jedoch bei sehr hohen
Substrattemperaturen aufgedampft werden, so daß eine
Anwendbarkeit für wärmeempfindliche Substrate wie
Kunststoffe ausscheidet.
Außerdem ergeben sich Probleme hinsichtlich der
Haftfestigkeit, wenn es darum geht, stark gewölbte
Substrate wie optische Linsen und Reflektoren zu
beschichten.
Durch die DE-OS 19 23 645 ist es bekannt, eine
alternierende Schichtenfolge aus ZnS und Kryolith und
MgF₂ aufzudampfen. Auch ein solches Schichtsystem muß
bei relativ hohen Temperaturen oberhalb 200°C
aufgedampft werden, sofern eine ausreichende Härte des
gesamten Schichtsystems erzielt werden soll. Damit
scheidet auch dieses Schichtsystem für das Bedampfen
temperaturempfindlicher Kunststoffe aus. Bei einer
sogenannten "kalten Beschichtung" ist ein derartiges
Schichtsystem für eine dauerhafte Beschichtung viel zu
weich.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein
Verfahren der eingangs beschriebenen Art anzugeben, das
wirtschaftlicher durchzuführen ist, auch beim
Beschichten stark gekrümmter Substratoberflächen zu
kochbeständigen, haftfesten und harten Schichten führt
und das auch zur Beschichtung von Kunststoffen geeignet
ist.
Die Lösung der gestellten Aufgabe erfolgt bei dem
eingangs beschriebenen Verfahren erfindungsgemäß durch
die im Kennzeichen des Patentanspruchs 1 angegebenen
Maßnahmen.
Während die Aufbringung einer Al₂O₃-Schicht als Deck-
oder Schutzschicht - für sich genommen - bekannt ist,
ist die darunterliegende Schichtkombination neu und zwar
einschließlich des Merkmals, daß als erste Schicht auf
das Substrat eine Al₂O₃-Schicht aufgebracht wird. Es hat
sich dabei überraschend gezeigt, daß Al₂O₃ ganz
offensichtlich ein vorzüglicher Haftvermittler ist, der
auch bei extremer Schrägbedampfung seine Wirkung
entfaltet, wie dies beispielsweise am Rande von
halbkugelförmigen Glaskalotten der Fall ist. Die
umgekehrte Reihenfolge, nämlich als erste Schicht ZnS
aufzubringen, hat jedenfalls nicht zu der vorzüglichen
Haftfestigkeit geführt, wie dies beim erfindungsgemäßen
Vorgehen erzielt wird. Die hohe Haft- und Kochfestigkeit
wird ganz offensichtlich durch die erste Al₂O₃-Schicht
bewirkt, die als Haftvermittler fungiert und Dicken
zwischen 10 nm und 300 nm haben kann, ohne daß sich
nennenswerte Schwankungen in den Werten der
Haftfestigkeit und Kochfestigkeit ergeben. Die übrigen
mechanisch-chemischen Eigenschaften hängen im
wesentlichen von der äußeren Al₂O₃-Schicht ab, die eine
Dicke bis zu mehreren Vielfachen der Bezugswellenlänge
haben kann.
Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich für die
Herstellung von optischen Elementen, die bei
Wellenlängen zwischen 390 nm und 600 nm optisch wirksam
sind. Für sich genommen ist es bekannt, daß ZnS für
opische Elemente verwendet werden kann, die zwischen
390 nm (Beginn der Eigenabsorption) und 14 000 nm optisch
wirksam sind. Al₂O₃ kann zwischen 200 nm (Beginn der
Eigenabsorption) und 7000 nm verwendet werden. Da Al₂O₃
jedoch zur Rißbildung neigt, ist der Bereich aus
praktischen Gründen enger. Durch die Verwendung von
"weichen" ZnS-Zwischenschichten wird nun überraschend
die Rißbildungstendenz soweit verringert, daß der
Bereich bis auf ca. 6000 nm ausgedehnt werden kann.
Bei der Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens
kann der Druck zu Beginn des Aufdampfvorganges oberhalb
1,3 × 10-2 Pa liegen, beispielsweise im Bereich zwischen
diesem Wert und 1,05 Pa. Außerdem kann der
Beschichtungsvorgang mit kalten Substraten, d. h. solchen
von Raumtemperatur, begonnen werden, so daß eine
Vorheizzeit nicht erforderlich ist. Infolgedessen
verringert sich die Zeit bis zum Aufdampfbeginn auf
Werte unterhalb 30 Minuten; dies ist ein Drittel des
eingangs zum Stande der Technik genannten Wertes von 90
Minuten, identische Daten der Aufdampfvorrichtung
vorausgesetzt. Durch die außerordentlich hohe mögliche
Verdampfungsrate von ZnS, die typischerweise etwa
2,0 nm/s gegenüber etwa 0,3 nm/s bei TiO₂ beträgt, läßt
sich die Aufdampfzeit für 15 Schichten auf Werte
unterhalb etwa 15 Minuten reduzieren. Dies ist wiederum
weniger als ein Drittel des eingangs zum Stande der
Technik genannten Wertes von 50 Minuten. Infolge der
außerordentlich niedrigen Substrattemperatur ist auch
eine Abkühlzeit entbehrlich.
Damit steigt die Zahl der Chargen bei vergleichbarer
Größe der Aufdampfvorrichtung auf etwa den dreifachen
Wert pro Zeiteinheit, so daß sich sehr viel niedrigere
Herstellungskosten ergeben.
Das erfindungsgemäße Verfahren wird dabei in besonders
vorteilhafter Weise bei Substrattemperaturen zwischen 20°C
und 180°C durchgeführt, wobei das Verfahren
zweckmäßigerweise am unteren Ende des Temperaturbereichs
ausgeübt wird. Dies schafft - im Gegensatz zum Stand der
Technik - die Möglichkeit, auch Kunststoffe zu
bedampfen, beispielsweise Polydiäthylenglycoldiallylcarbonat.
Durch die geringe Abpumpzeit wegen des schlechteren
Vakuums, das Entfallen einer Aufheiz- und Abkühlzeit und
durch die höheren Verdampfungsraten wird, wie bereits
gesagt, eine wesentlich geringere Prozeßzeit gegenüber
der Herstellung der herkömmlichen oxidischen Schichten
erzielt.
Es ist zwar bereits bekannt, Interferenzschichten unter
extremer Schrägbedampfung von Substratflächen
herzustellen. Hierbei wurde als Schichtmaterial neben
ZnS MgF₂ oder Kryolith unter Streugas aufgedampft,
wobei auch ZnS durch getrennte Verdampfung von Zn und S
erzeugt werden konnte. Die damit hergestellten
Interferenzschichtsysteme besitzen aber bei weitem nicht
die mechanisch-chemischen und thermischen Eigenschaften
wie die erfindungsgemäß hergestellten Schichten.
Andererseits muß man bei der Herstellung von
Schichtsystemen aus ausschließlich "harten" oxidischen
Schichtmaterialien feststellen, daß bei starker
Schrägbedampfung die Haft- und Kochfestigkeit allmählich
auf Null abfällt.
Beim erfindungsgemäßen Verfahren wurde die
Kochfestigkeit sowohl auf ebenen Substraten als auch auf
stark gekrümmten Substraten (beispielsweise auf
halbkugelförmigen Substraten) nach DIN 58196 Teil 2 C60
untersucht. In beiden Fällen fand auch nach 60 Stunden
Dauerkochtest keinerlei Schichtablösung, keine
Beeinträchtigung der Abriebsfestigkeit und der
Haftfestigkeit statt, jeweils bestimmt nach MIL C675 C.
Die niedrige Substrattemperatur macht es dabei erstmalig
möglich, alle optischen Elemente mit dünnen Schichten,
die eine Absorption von noch ca. 1% erlauben, auch aus
temperaturempfindlichen Kunststoffen herzustellen, und
zwar mit Eigenschaften, wie man sie bisher nur von
oxidischen Materialien kennt. Ausgenommen hiervon ist
nur die Temperaturstabilität, die durch das Substrat
Kunststoff eingeengt ist, sowie der Kochtest.
Ein erfindungsgemäß hergestelltes Schichtsystem ist in
der nachfolgenden Figur näher erläutert, in der das aus
Glas bestehende Substrat mit "S" bezeichnet ist. Die
Schichten sind in der Reihenfolge ihres Aufbringens
beziffert, wobei die Schicht Nr. "n" die oberste oder
Deckschicht ist, die aus Al₂O₃ besteht. Die Schichten 1,
3, . . ., n-2 und n bestehen dabei aus Al₂O₃, während die
Schichten 2, 4 . . ., n-1 aus ZnS bestehen.
Eine handelsübliche Aufdampfanlage
wurde
mit scheibenförmigen Substraten aus Glas bestückt und
innerhalb von 6 Minuten auf einen Druck von 10 Pa
abgepumpt. Anschließend wurden die Substate in
bekannter Weise durch eine Glimmentladung gereinigt.
Danach wurde die Anlage auf einen Druck von 5 × 10-3 Pa
in weiteren 14 Minuten evakuiert, wobei als Streugas
Sauerstoff bis zu einem Druck von 2 × 10-2 Pa
eingelassen wurde. Daraufhin wurde Al₂O₃ mit einer
Elektronenstrahlkanone für die Dauer von 2 Minuten
entgast, bis der Druck stabil blieb. Im Anschluß daran
wurde das Al₂O₃ als erste Schicht bzw. Haftvermittler mit
einer Aufdampfrate von 1,3 nm/s aufgedampft. Die
Regelung der Rate und die Steuerung der Blenden (für die
Abdeckung der Verdampfer) geschah dabei mittels der
Schwingquarzmethode. Im Anschluß an die Al₂O₃-Schicht
wurde die erste ZnS-Schicht mit einer Aufdampfrate von
1,0 nm aufgedampft, während das Al₂O₃ durch geringe
Energiezufuhr auf erhöhtem Temperaturniveau gehalten
wurde. Nach dem Schließen der Blende für den
ZnS-Verdampfer (thermischer Verdampfer) wurde dieser
ebenfalls durch geringe Energiezufuhr auf einem erhöhten
Temperaturniveau gehalten, und die
Elektronenstrahlkanone wurde erneut auf die
Verdampfungsleistung hochgefahren. Durch abwechselnde
Wiederholung dieser Beschichtungsverfahren wurden
insgesamt 17 Einzelschichten der nachstehenden
Beschaffenheit und Schichtdicke niedergeschlagen.
1. Schicht Al₂O₃ | |
1 × λ/4 für 450 nm (Bezugswellenlänge | |
2. Schicht ZnS | 0,45 × λ/4 für 450 nm |
3. Schicht Al₂O₃ | 0,9 × λ/4 für 450 nm |
4. Schicht ZnS | 0,95 × λ/4 für 450 nm |
5. Schicht Al₂O₃ | 1 × λ/4 für 450 nm |
6. Schicht ZnS | 1 × λ/4 für 450 nm |
7. Schicht Al₂O₃ | 1 × λ/4 für 450 nm |
8. Schicht ZnS | 1 × λ/4 für 450 nm |
9. Schicht Al₂O₃ | 1 × λ/4 für 450 nm |
10. Schicht ZnS | 1 × λ/4 für 450 nm |
11. Schicht Al₂O₃ | 1 × λ/4 für 450 nm |
12. Schicht ZnS | 1 × λ/4 für 450 nm |
13. Schicht Al₂O₃ | 1 × λ/4 für 450 nm |
14. Schicht ZnS | 1 × λ/4 für 450 nm |
15. Schicht Al₂O₃ | 1 × λ/4 für 450 nm |
16. Schicht ZnS | 1 × λ/4 für 450 nm |
17. Schicht Al₂O₃ | 2,1 × λ/4 für 450 nm. |
Die Substrattemperatur stellt sich dabei im Mittel auf
ca. 50°C ein.
Während des gesamten Prozesses wurde der Druck konstant
gehalten. Nach dem Aufdampfen der letzten (17.) Schicht
wurden die Verdampfer ausgeschaltet und nach deren
Abkühlen nach einer Minute wurde die Anlage geflutet.
Es ergaben sich auf allen Substraten Interferenzschichten,
die den weiter oben beschriebenen Tests
hinsichtlich Abriebsfestigkeit, Haftfestigkeit und
Kochfestigkeit entsprachen. Zusätzlich ergab sich eine
Absorption unterhalb 1%, eine Langzeitstabilität der
Kantenlage (Steilabfall der Meßkurve bei der
Transmissionsmessung) von 10 nm vom Öffnen der Anlage
bis zum Stillstand.
Das Beispiel 1 wurde wiederholt, jedoch mit dem einzigen
Unterschied, daß anstelle der Glassubstrate solche aus
Polydiäthylenglycoldiallylcarbonat verwendet wurden. Die
Kunststoffsubstrate heizten sich während der Dauer der
Beschichtung von Raumtemperatur auf ca. 50°C auf. Das
Endprodukt entsprach einwandfrei den gestellten
optischen und mechanischen Anforderungen; lediglich der
Kochtest wurde unterlassen. Insbesondere ergab sich eine
ausgezeichnete Abrieb- und Haftfestigkeit nach
MIL C 675C.
Die Aufdampfanlage nach Beispiel 1 wurde mit Substraten
für Kaltlichtspiegel aus Glas bestückt. Dabei handelte
es sich um Halbkugeln mit einem Durchmesser von 32 bzw.
54 mm und einer zentralen Öffnung, wie sie beispielsweise
für Projektorlampen verwendet werden.
Die Verfahrensparameter für das Evakuieren, die
Reinigung durch Glimmentladung und für den Arbeitsdruck
einschließlich des Einlassens von Sauerstoff als
Streugas stimmen ebenso wie die Aufdampfraten für die
einzelnen Schichten mit denen in Beispiel 1 überein. Bei
dem "erhöhten Temperaturniveau" handelte es sich um ein
solches Temperaturniveau, von dem aus eine spontane
Verdampfung eingeleitet werden konnte, ohne daß die
betreffenden Substanzen jedoch einen für eine merkliche
Verdampfung ausreichenden Dampfdruck entwickeln konnten.
Durch abwechselnde Wiederholung der einzelnen
Beschichtungsvorgänge wurden insgesamt 35 Einzelschichten
der in der nachfolgenden Tabelle angegebenen
Beschaffenheit und Schichtdicken niedergeschlagen.
Die Substrattemperatur stellte sich dabei im Mittel auf
ca. 50°C ein. Während des gesamten Prozesses wurde der
Druck konstant gehalten. Nach dem Aufdampfen der letzten
(35.) Schicht wurden die Verdampfer ausgeschaltet und
nach deren Abkühlen nach einer Minute wurde die Anlage
geflutet.
Es ergaben sich auf allen Substraten Interferenzschichten,
die den weiter oben beschriebenen Tests
hinsichtlich Abriebfestigkeit, Haftfestigkeit und
Kochfestigkeit entsprachen. Dies galt auch und
insbesondere für die Kaltlichtspiegel mit einem
Durchmesser von 32 mm, die aufgrund des geringen
Krümmungsradiums im Hinblick auf die Kochfestigkeit
ganz besonders kritisch sind. Zusätzlich ergaben sich
eine Absorption unterhalb 1%, eine Langzeitstabilität
der Kantenlage von 10 nm vom Öffnen der Anlage bis zum
Stillstand.
1. Schicht Al₂O₃ | |
2,27 × λ/4 für 400 nm | |
2. Schicht ZnS | 1,80 × λ/4 für 400 nm |
3. Schicht Al₂O₃ | 1,67 × g/4 für 400 nm |
4. Schicht ZnS | 1,21 × λ/4 für 400 nm |
5. Schicht Al₂O₃ | 1,85 × λ/4 für 400 nm |
6. Schicht ZnS | 1,63 × λ/4 für 400 nm |
7. Schicht Al₂O₃ | 1,81 × λ/4 für 400 nm |
8. Schicht ZnS | 1,62 × λ/4 für 400 nm |
9. Schicht Al₂O₃ | 1,60 × λ/4 für 400 nm |
10. Schicht ZnS | 1,78 × λ/4 für 400 nm |
11. Schicht Al₂O₃ | 1,65 × λ/4 für 400 nm |
12. Schicht ZnS | 1,59 × λ/4 für 400 nm |
13. Schicht Al₂O₃ | 1,44 × λ/4 für 400 nm |
14. Schicht ZnS | 1,63 × λ/4 für 400 nm |
15. Schicht Al₂O₃ | 1,52 × λ/4 für 400 nm |
16. Schicht ZnS | 1,43 × λ/4 für 400 nm |
17. Schicht Al₂O₃ | 1,40 × λ/4 für 400 nm |
18. Schicht ZnS | 1,34 × λ/4 für 400 nm |
19. Schicht Al₂O₃ | 1,40 × λ/4 für 400 nm |
20. Schicht ZnS | 1,32 × λ/4 für 400 nm |
21. Schicht Al₂O₃ | 1,40 × λ/4 für 400 nm |
22. Schicht ZnS | 1,46 × λ/4 für 400 nm |
23. Schicht Al₂O₃ | 1,28 × g/4 für 400 nm |
24. Schicht ZnS | 1,12 × λ/4 für 400 nm |
25. Schicht Al₂O₃ | 1,13 × λ/4 für 400 nm |
26. Schicht ZnS | 1,14 × λ/4 für 400 nm |
27. Schicht Al₂O₃ | 1,14 × λ/4 für 400 nm |
28. Schicht ZnS | 1,08 × λ/4 für 400 nm |
29. Schicht Al₂O₃ | 1,06 × λ/4 für 400 nm |
30. Schicht ZnS | 0,91 × λ/4 für 400 nm |
31. Schicht Al₂O₃ | 1,08 × λ/4 für 400 nm |
32. Schicht ZnS | 1,26 × λ/4 für 400 nm |
33. Schicht Al₂O₃ | 1,05 × λ/4 für 400 nm |
34. Schicht ZnS | 0,55 × λ/4 für 400 nm |
35. Schicht Al₂O₃ | 1,06 × λ/4 für 400 nm |
Claims (5)
1. Verfahren zum Herstellen von optischen Elementen,
insbesondere von Filtern, mit Interferenzschichten
aus abwechselnd niedrig- und hochbrechenden
dielektrischen Schichten auf organischen und
anorganischen Substraten, dadurch gekennzeichnet,
daß als erste Schicht auf das Substrat Al₂O₃ als niedrigbrechende Schicht aufgebracht wird, worauf in abwechselnder Reihenfolge weitere Schichten aus ZnS und Al₂O₃ aufgebracht werden, und
daß als letzte Schicht eine solche aus Al₂O₃ aufgebracht wird.
daß als erste Schicht auf das Substrat Al₂O₃ als niedrigbrechende Schicht aufgebracht wird, worauf in abwechselnder Reihenfolge weitere Schichten aus ZnS und Al₂O₃ aufgebracht werden, und
daß als letzte Schicht eine solche aus Al₂O₃ aufgebracht wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Schicht bei einer Substrattemperatur
von 20 bis 180°C aufgebracht wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Beschichtung durch ein Aufdampfverfahren
bei Drücken zwischen 1,3 × 10-3 und 1,05 Pa
durchgeführt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß das Al₂O₃ bei einer Aufdampfrate zwischen 1,0
und 1,5 nm/s und das ZnS bei einer Aufdampfrate
zwischen 1,0 und 3,0 nm/s aufgedampft wird.
5. Anwendung des Verfahrens nach den Ansprüchen 1 bis
4 auf die Herstellung von Filtern aus der Gruppe
subtraktive und additive Farbtrennungsfilter,
Kaltlichtspiegel, Wärmereflexionsfilter, Farbtemperaturumwandlungsfilter,
Farbtemperaturumwandlungsreflektor,
dielektrische Schmalbandfilter, Strahlenteiler
in Verbindung mit Substraten aus der Gruppe
Glas, Saphir, Kunststoff.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4117256A1 (de) * | 1989-12-19 | 1992-12-03 | Leybold Ag | Belag, bestehend aus einem optisch wirkenden schichtsystem, fuer substrate, wobei das schichtsystem insbesondere eine hohe antireflexwirkung aufweist |
DE4335224A1 (de) * | 1993-10-15 | 1995-04-20 | Leybold Ag | Vorrichtung für die Herstellung optischer Schichten |
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US4968117A (en) * | 1983-09-02 | 1990-11-06 | Hughes Aircraft Company | Graded index asperhic combiners and display system utilizing same |
IL79391A (en) * | 1985-08-14 | 1994-06-24 | Hughes Aircraft Co | Non-spherical patch with a stepped key and a display system that uses it |
DE3543812A1 (de) * | 1985-12-12 | 1987-06-19 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Verfahren zum herstellen eines teildurchlaessigen optischen koerpers und durch das verfahren hergestellter optischer koerper |
JPH0642582B2 (ja) * | 1988-06-27 | 1994-06-01 | シャープ株式会社 | 誘電体多層被覆膜 |
US5179318A (en) * | 1989-07-05 | 1993-01-12 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Cathode-ray tube with interference filter |
US4960310A (en) * | 1989-08-04 | 1990-10-02 | Optical Corporation Of America | Broad band nonreflective neutral density filter |
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US421797A (en) * | 1890-02-18 | Method of charging furnaces | ||
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US3645771A (en) * | 1968-05-10 | 1972-02-29 | Commw Of Australia | Multilayer blooming process including precoating of the substrate used for monitoring |
DE2457474C3 (de) * | 1974-12-05 | 1978-10-19 | Leybold-Heraeus Gmbh & Co Kg, 5000 Koeln | Verfahren zur Herstellung von reflexmindernden Mehrfachschichten und durch das Verfahren hergestellter optischer Körper |
CH588711A5 (de) * | 1975-02-18 | 1977-06-15 | Balzers Patent Beteilig Ag | |
FR2351423A1 (fr) * | 1976-05-10 | 1977-12-09 | France Etat | Systeme multicouche antireflechissant |
DE2637616A1 (de) * | 1976-08-20 | 1978-02-23 | Siemens Ag | Filter fuer fotodetektoren |
JPS56138701A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-29 | Minolta Camera Co Ltd | Antireflection film |
JPS585701A (ja) * | 1981-07-02 | 1983-01-13 | Asahi Glass Co Ltd | 反射防止膜を設けた光学部品 |
JPS58208703A (ja) * | 1982-05-31 | 1983-12-05 | Shigeo Kubo | 多層膜反射鏡の製造方法 |
-
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- 1984-01-27 FR FR848401301A patent/FR2540254B1/fr not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4117256A1 (de) * | 1989-12-19 | 1992-12-03 | Leybold Ag | Belag, bestehend aus einem optisch wirkenden schichtsystem, fuer substrate, wobei das schichtsystem insbesondere eine hohe antireflexwirkung aufweist |
DE4335224A1 (de) * | 1993-10-15 | 1995-04-20 | Leybold Ag | Vorrichtung für die Herstellung optischer Schichten |
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D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
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