DE3240916C2

DE3240916C2 - Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten

Info

Publication number: DE3240916C2
Application number: DE3240916A
Authority: DE
Inventors: Rüdiger 3014 Laatzen Dehmel; Hans Hermann 3060 Stadthagen Higgen; Erich 3003 Ronnenberg Luther; Martin 3050 Wunstorf Maelzer
Original assignee: Maelzer Martin Dipl Kfm 3050 Wunstorf
Current assignee: ATG Luther and Maelzer GmbH
Priority date: 1982-11-05
Filing date: 1982-11-05
Publication date: 1985-10-31
Also published as: JPS60114777A; DE3240916A1; JPS59501996A; US4724377A; DE3348118C2; DE3249770C2; EP0108405A1; DE3376361D1; JPH0566551B2; WO1984001831A1; ATE33719T1; EP0108405B1; DE3340184A1

Abstract

Bei einer Universal-Prüfvorrichtung für elektrische Leiterplatten soll je eine ein Teilrasterfeld abdeckende Teilzahl von Prüfstiften (26) jeweils an einem von mehreren separierbaren Modulen (27) vorgesehen werden, der den dieser Prüfstift-Teilzahl entsprechenden Teil der Schaltermatrix enthält. Jeder Modul (27) soll mit anderen Modulen (27) und/oder dem Steuerschaltungsteil (32) der Vorrichtung elektrisch verbindbar sein. Die Vorrichtung weist ferner eine mit Führungslöchern (36) für die Prüfstifte (26) versehene Rasterlochplatte (24) auf, auf die die Modulen (27) aufsetzbar sind, derart, daß die Prüfstifte (26) die Führungslöcher (36) durchgreifen. Ferner sollen die Modulen (27) so geformt sein, daß sie zur Abdeckung eines der zu prüfenden Leiterplatte (22) entsprechenden Teilbereiches des gesamten durch die Rasterlochplatte (24) definierten Rasterfeldes baukastenförmig zusammensetzbar sind.

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten, mit einem Aufnanmetei!

für die jeweils zu prüfende Leiterplatte, mit einer Vielzahl von im Raster der zu prüfenden Leiterplatte angeordneten und auf diese aufsetzbaren Prüfstiften, von denen eine je ein Teilrasterfeld abdeckende Teilzahl jeweils von einem von mehreren separierbaren Moduin ausgeht, und mit einer mit jedem der Prüfstifte verbundenen Prüfschaltung, mittels welcher die Prüfstifte zeitlich nacheinander in einen Prüfstromweg einschaltbar sind.

Bekannt ist eine Vorrichtung zum IVüfen von mit Bauelementen bestückten Leiterplatten (EP 00 50 913 A 1), die eine erste Lochplatte mit im Raster angeordneten Löchern aufweist. In diese Löcher sind Kontakteiemente eingesetzt. Die Kontaktelemente bestehen aus Hülsen, in welchem Stifte federnd verschiebbar angeordnet sind. Die Stifte schauen an beiden Seiten aus den Hülsen bzw. der ersten Lochplatte heraus. Mit Abstand zu der ersten Lochplatte ist eine zweite entfernbare Lochplatte angeordnet. In die Löcher dieser zweiten Lochplatte sind ebenfalls Kontaktelemente eingesetzt.

die an der einen Seite mit Anschlußdrähten verbunden sind. Die Anschlußdrähte führen zu der Schaltermatrix eines Diagnosesystems. Zwischen der ersten und der zweiten Lochplatte können entfernbare Moduln und/ oder Übertragungsstifte angeordnet werden. Dort, wo

Moduln oder Übertragungsstifte vorgesehen sind, werden die federnd verschiebbaren Stifte der Kontaktek¹-mente in der ersten Lochplatte nach außen gedrückt, wodurch sie in Kontakt mit den Kontaktstellen der zu prüfenden Leiterplatte gebracht werden. Die Moduln

bzw. Übertragungsstifte bewirken nicht nur ein Verschieben der Stifte in der ersten Lochplatte, sondern sie verbinden auch die Stifte der ersten und der zweiten Lochplatte elektrisch.
Bekannt ist weiterhin (US 38 48 188) eine Vorrichtung zum Prüfen von Halbleiterchips, die auf einer Basisplalte in einem von Reihen und Spalten gebildeten Raster angeordnet sind. Die Chips sind an ihrem Rand mit Anschlußkontakten versehen. Zum Prüfen der Chips weist

die Vorrichtung nadelartige Prüfstifte auf, und zwar in solch einer Anordnung, daß eine Reihe von Chips gleichzeitig geprüft werden kann. Die jeweils einem Chip zuzuordnenden Stifte bilden einen Stiftblock. Die den einzelnen Chips zuzuordnenden Stiftblöcke werden nacheinander im Multiplex-Betrieb durch ein Schalternetzwerk mit einer Testschaltung verbunden. Wenn eine Reihe von Chips durchgeprüft ist, erfolgt eine relative Verschiebung zwischen der Stiftanordnung und der Basisplatte, so daß die Stifte danach auf die Chips einer weiteren Reihe von Chips aufgesetzt werden können. Die Chips dieser Reihe werden dann nacheinander in der beschriebenen Weise geprüft Danach werden die Stifte auf die nächste Reihe aufgesetzt, usw.

Ferner bekannt ist eine Vorrichtung zurr Prüfen von elektrischen Leiterplatten (US 41 64 704), welche eine Grundplatte aufweist Die Grundplatte ist mit Löchern versehe.',. In die Löcher sind Prüfstifte eingesetzt. Die Prüfstifte schauen unten aus den Löchern heraus. Ferner erstrecken sich die Prüfstifte von der Grundplatte aus nach oben und sind dort mit federnd beweglichen Prüfspitzen versehen. Die Prüfspitzen sitzen in einer flexiblen Plastikfolie. Sie erstrecken sich durch eine Öffnung in einem Aufnahmeteil für die zu prüfende Leiterplatte. Wenn die Leiterplatte auf das Aufnahmeteil aufgelegt ist, wird sie mit einer luftundurchlässigen Folie überdeckt. Der Raum zwischen der Grundplatte und dem Aufnahmeteil ist mit einer Vakuumquelle verbunden. Wenn diese die Luft aus dem erwähnten Raum absaugt, werden die Prüfspitzen gegen die vorgesehenen Kontaktstellen der Leiterplatte gedrückt Ein Teil der aus den Löchern der Grundplatte hervorstehenden Prüfstifte kann in Blöcke aus festem Plastikmaterial eingesetzt sein, die dazu mit entsprechenden Löchern versehen sind. Auf diese Weise können Gruppen von Prüfstiften zu Moduln zusammengefaßt werden. Die unten aus der Grundplatte herausschauenden Enden der Prüfstifte werden über <\nschlußstecker und entsprechende elektrische Leitungen mit einem Testnetzwerk verbunden.

Schließlich ist noch eine Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten bekannt (DE-OS 31 10 056), die eine Vielzahl von in einer Kontaktebene liegenden Prüfkontakten für die Leiterplatte aufweist. Jeder dieser Prüfkontakte ist über einen elektrischen Leitungsdraht mit einer Prüfschaltung verbunden. Jeweils mehrere von in Reihe angeordneten Prüfkontakten sind an der in der Kontaktebene liegenden Kante eines Kontaktolättchens befestigt. Das Kontaktplättchen weist außerdem für jeden Kontakt ein An» :hlußelement für die zugeordnete elektrische Leitung auf. Mehrere Kontaktplättchen werden zueinander parallel und deckungsgleich zu einem Block zusammengefaßt, der seinerseits in einem Traggestell angeordnet ist. Das Traggestell ist geeignet, den Kontaktdruck aufzunehmen, der auf die Kontaktplättchen, bzw. ihre einzelnen Kontakte übertragen wird.

Den vorstehend beschriebenen bekannten Prüfvorrichtungen ist gemeinsam, daß jeder Prüfstift bzw. jeder Prüfkontakt mit der Prüfschaltung durch eine mehr oder weniger lange Leitung verbunden ist. Die Prüfschaltung ist in der Regel eine Schaltermatrix, die die Aufgabe hat, zeitlich nacheinander jeden der Prüfstifte in einem Prüfstromweg einzuschalten. Die Herstellung der LeitungsverbJRdungen erfolgte bisher von Hand und kann wegen der beengten Verhältnisse nur von einer einzigen Person vuigenommen werden. Das Zusammenfassen von Prüfstiften zu Moduln bzw. Kontakt-

plättchen bringt zwar bei der Montage bzw. beim Auswechseln einzelner Prüfstifte oder Kontakte eine gewisse Erleichterung; es bleibt jedoch immer noch der Nachteil bestehen, daß zwischen der Prüfschaltung und den Kontakten bzw. den Prüfsliflen eine große Anzahl von Leitungen vorgesehen werden muß. Der Verdrahtungsaufwand bei einer Universal-Prüfvorrichtung mil 30 000 Prüfstiften ist etwa 2 Monate. Diese lange Montagezeit hat auch einen entsprechend hohen Preis solcher Prüfvorrichningen zur Folge.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, den Schaltungssowie Montageaufwand der hier betrachteten Prüfvorrichtungen zu vermindern.

Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die den Prüfstiften jedes Moduls zuzuordnenden elektronischen Bauteile der Prüfschaltung in dem Modul angeordnet sind.

Durch die erfindungsgemäße Lösung ist es möglich, die Verbindungen zwischen den Prüfstiften des Moduls und den nunmehr in dem Modul erhaltenen den entsprechenden Teil der Schaltermatrix bildenden elektronischen Bauteilen der Prüfschaltung optimal kurz zu halten. Im Extremfall ist eine direkte Integrierung denkbar. Der Aufwand für die elektrischen Verbindungen zwischen den einzelnen Moduln und den nicht in die Moduln verlegbaren Teil der Prüfschaltung ist im Vergleich zu dem früheren Verdrahtungsaufwand, der meistens ein nahezu unübersichtliches Drahtgewirr ergab, außerordentlich gering. Für die Hersiel.'ung der Moduln können moderne Scbaltmittel verwendet werden, die es erlauben, die Herstellungszeit und damit auch den Preis für die Vorrichtung zu verringern. Ebenfalls verringert werden dadurch das Gewicht und die Abmessungen der Prüfvorrichtung.

Die erfindungsgemäße Lösung bringt auch für den Anwender Vorteile mit sich. Wenn der Anwender mehrere Prüfvorrichtungen der vorstehend beschriebenen Art hat, so genügt es, wenn er sich dazu eine beg-enzte Anzahl von Moduln anschafft. Dies deshalb, weil es unwahrscheinlich ist daß alle Vorrichtungen so viele Moduli benötigen, daß das maximal durch eine Vorrichtung erfaßbare Rasterfeld abgedeckt ist. Der Normalfall ist vielmehr der, daß bei einer Prüfvorrichtung nicht mehr benötigte Moduln bei einer anderen Prüfvorrichtung eingesetzt werden können. Mit anderen Worten, der Anwender kann die Anschaffungskosten für eine Prüfvorrichtung in von ihm bestimmten Grenzen halten, wenn er zunächst nur eine relativ geringe aber ausreichende Anzahl von Moduln bestellt. Es steht ihm frei, seine Prüfvorrichtung bzw. seine Prüfvorrichtungen später durch die Anschaffungen weiterer Moduln nachzurüsten.

Vorteilhaft ist ferner die Service-Freundlichkeit der nach der erfindungsgemäßen Lösung konzipierten Prüfvorrichtung. Wenn =.n einem der Moduln ein Deiekt festgestellt wird, sei es, daß er mechanischer oder elektronischer Natur ist, so kann er in einfacher Weise gegen einen einwandfrei funktionierenden Modul ausgetauscht werden. De. defekte Modul kann dann per Post an die Herstellerfirma zur Reparatur geschickt werden, da er leicht ist und relativ geringe Abmessungen hat.

Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung, der selbständige erfinderische Bedeutung beigemessen wird, besteht darin, daß zwischen dem Aufnahmeteil für «55 die zu prüfende Leiterplatte und den Moduln eine mit Löchern versehene Rasterlochplatte vorgesehen ist, auf die die Moduln aufsetzbar sind, wobei die Prüfstifte die Löcher der Rasterplatte durchgreifen. Die Moduln soll-

ten so geformt sein, daß sie zur Abdeckung eines der zu prüfenden Leiterplatte entsprechenden Teilbereiches des maximalen Rasterfeldes baukastenförmig zusammensetzbar sind. Das bedeutet, daß bei seitlichem Aneinanderliegen von zwei Moduln an der Stoßstelle keine Prüflücke entsteht. Die Rasterlochplatte mit den so geformten Moduln gewährleistet, daß stets das vorgeschriebene Prüfraster eingehalten wird und das Zusammensetzen der Moduln in einfachster Weise möglich ist.

Eine andere zweckmäßige Weiterbildung kann darin bestehen, daß die Moduln insoweit druckfest sind, daß sie sich unter dem Prüfdruck ihrer Prüfstifte bei Abstützung an ihrer den Prüfstiften abgewandten Seite nicht verformen. Dadurch ist es möglich, die Moduln an ihrer den Prüfstiften abgewandten Seite mit einem Stützteil abzustützen, welches über eine zugfeste Verbindung mechanisch mit dem Aufnahmeteil für die zu prüfende Leiterplatte verbunden ist.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnungen beschrieben. Es zeigt

F i g. 1 eine schematisierte Seitenansicht einer Universal-Prüfvorrichtung;

F i g. 2 einen Schnitt H-II durch F i g. 1;

F i g. 3 eine Draufsicht auf die Rasterlochplatte mit fünf Moduln (in anderer Anordnung als in Fig.2) mit einer daruntergelegenen Leiterplatte und den seitlichen Führungen;

F i g. 4 einen Schnitt durch einen Modul parallel zu seiner Schmalseite sowie einen Schnitt durch einen Teil eines weiteren Moduls parallel zu seiner Längsseite sowie die Rasterlochplatte, die zu prüfende Leiterplatte und den Auflageteil.

Die in Fig. 1 dargestellte Universal-Prüfvorrichtung ist auf einem Gestell 1 angeordnet, das einen schrägen Tisch 2 trägt. Auf der Oberseite des Tisches befinden sich ein Magazin 4 für die zu prüfenden Leiterplatten 22. Die Leiterplatten 22 werden mitteis eines Schiebers taktweise aus einem Magazin 4 herausgeschoben. Zur Betätigung des Schiebers dient ein Pneumatic-Zylinder 6.

An das Magazin 4 schließt sich ein Prüfteil 7 an. Der Prüfteil 7 weist ein Anzeigefenster 10 für die festgestellten Fehler auf. Ferner ist der Prüfteil 7 mit einem Tastenfeld 11 zum Eingeben der einzelnen Betriebsfunktionen versehen. Mittels eines Handgriffes 12 ist der Prüfteil um eine parallel zur schrägen Tischebene 3 in F i g. 1 nicht sichtbare Schwenkachse nach oben schwenkbar.

Die geprüften Leiterplatten rutschen infolge der Schwerkraft auf der schrägen Tischebene 3 in einen Sortierteil 8. Der Steuerung des Sortierteiles 8 wird das Prüfergebnis des Prüfteiles 7 mitgeteilt, so daß der Sortierteil 8 die Leiterplatten in solche, die unerwünschte Leiterbahnverbindungen haben, in solche, die unerwünschte Leiterbahnunterbrechungen haben und in solche, die gut sind, sortiert Das Stapel der guten Leiterplatten 22 ist in dem Sortierteil 8 erkennbar.

Gemäß F i g. 2 besteht der Prüfteil 7 aus einem Unterteil 15 und einem Oberteil 16, die durch ein Scharniergelenk 18 miteinander verbunden sind. Der Oberteil 16 kann, wie bereits in Zusammenhang mit F i g. 1 erwähnt, durch Anheben am Handgriff 12 hochgeschwenkt werden. Mittels eines Riegels 29 sind der Unterteil 15 und der Oberteil 16 miteinander verriegelbar.

Auf dem Oberteil 16 ist mit einer weiteren Scharnierverbindung52 ein Slützteil 17 befestigt Das Stützteil 17 ist um die Scharnierverbindung 52 gegenüber dem Oberteil 16 hochschwenkbar. Mittels eines Riegels 14 kann auch der Stützteil 17 mit dem Oberteil 16 verriegelt werden.

Innerhalb des Unterteiles 15 befindet sich eine Auflageplatte 21 für die zu prüfende Leiterplatte 22. Die Auflageplatte 21 ist mittels drei Hubzylindern 20 anhebbar bzw. absenkbar. Die drei Hubzylinder 20 werden über eine Leitung 35 von einer Fluidquelle mit Druckflüssigkeit oder Druckgas gespeist. In der abgesenkten Stellung fluchtet die Oberfläche der Auflageplatte 21 mit der Tischplattenoberseite 3 in Fig. 1. Die Transportrichtung verläuft senkrecht zur Zeichnungscbcnc. Die auf der Auflageplatte 21 aufliegende Trägerpiaitc 23 wird beim Transport seitlich durch Führungen 25 begrenzt.

is Oberhalb der zu prüfenden Leiterplatte 22 befindet sich im Oberteil 16 eine Rasterlochplatte 24 mit im Raster der zu prüfenden Leiterplatte angeordneten Führungslöchern 36 (siehe Fig.4). Auf der Oberseite der Rasterlochplatte 24 sind Moduln 27 aufgesetzt, die an ihren unteren Stirnseiten mit Prüfstiften 26 versehen sind, welche die Führungslöcher 36 in der Rasterlochplatte 24 durchgreifen. Ober der zu prüfenden Leiterplatte 22 befindet sich eine Folie 23 mit Löchern 39 (siehe Fig.4), die nur denjenigen Prüfstiften 26 den Durchtritt auf die Leiterplatte 22 gestatten, welche auf Prüfpunkte der Leiterplatte treffen sollen. Die Folie 23. die aus Isoliermaterial besteht, ist in Transportrichtung vor der zu prüfenden Leiterplatte an der Unterseite der Rasterlochplatte 24 befestigt (nicht dargestellt) und verbleibt ständig in der Vorrichtung. Wenn ein neuer Lciterplattentyp geprüft werden soll, muß die Folie gewechselt werden. Die Folie hat die Aufgabe, zu verhindern, daß Prüfstifte, die nicht für ausgewählte Prüfpunkte der Leiterplatte bestimmt sind, zwischen zwei naheliegenden Leiterbahnen auftreffen und möglicherweise einen Kurzschluß herstellen. Ferner soll die Folie gewährleisten, daß die zu prüfende Leiterplatte durch Auftreffen nur der unbedingt notwendigen Zahl von Prüfstiften mechanisch geschont wird.

Auf die seitlichen Führungen 25 treffen ebenfalls Prüfstifte auf, da das durch die Prüfstifte sämtlicher Moduln definierte Teilrasterfeld wegen der festliegenden Abmessungen der Moduln in der Regel größer als die Leiterplatte ist. Die seitlichen Führungen 25 müssen daher aus Isoliermaterial bestehen. Sie können beispielsweise an der Auflageplatte 21 verschiebbar befestigt sein.

Da die Prüfstifte federnd gelagerte Prüfspitzen 43 (siehe F i g. 4) haben und die Leiterplatte 22 mittels der Hubzylinder 20 gegen die Prüfstifte 26 gedrückt wi i besteht die Tendenz, die Moduln 27 nach oben zu drükken. Um dies zu verhindern, ist das Stützteil 17 vorgesehen, das an seiner Unterseite Vorsprünge 29 aufweist, an denen sich die rückwärtigen Stirnseiten der Moduln 27 abstützen können. Da das Stützteil 17 mechanisch über die Scharnierverbindung 52 und die Verriegelung Ϊ4, das Oberteil 16 sowie die Scharnierverbindung 18 und die Verriegelung 29 mit dem Unterteil 15 verbunden ist, können sich die Moduln 27 demnach nicht unter dem Druck der Hubzylinder 20 und unter der Federkraft der Prüfstifte 26 nach oben bewegen.

Die Zwischenräume zwischen den Vorsprüngen 29 erlauben es, elektrische Verbindungen 31 zwischen den Moduln 27 herzustellen. Mindestens einer der Moduln ist ferner über eine elektrische Verbindungsieitung 30 mit einem fest in dem Prüfteil vorgesehenen Steuerschaltungsteil 32 verbunden, das seinerseits über eine Leitung 34 mit dem Netz verbunden ist Der Steuer-

schaltungsteil steuert die in jedem der Moduln 27 enthaltene Teil-Schaltermatrix. Die Teil-Schaltermatrix hat die Aufgabe, zeitlich nacheinander jeden der Prüfstifte in einen Prüfstromweg einzuschalten. Zu der in jedem Modul enthaltenen Teil-Schaltermatrix kann auch eine A/D-Wandlerschaltung gehören, die die analogen Prüfstromsignale in Digitalsignale umwandelt, welche dann von ά<·?Λ Steuerschaltungstei! 32 ausgewertet werden. Es ist aber auch möglich, daß die A/D-Umwandlung erst im Steuerschaltungsteil 32 erfolgt. Der Steuerschaltungsteil 32 sorgt also dafür, daß nacheinander die Prüfstifte jedes der Moduln 27 (wobei die Moduln 27 selbst zeitlich nacheinander an die Reihe kommen) mit dem Prüfstrom beaufschlagt werden. Die Schaltermatrix besteht praktisch aus einer Vielzahl von Halbleiter-Schaltern, die von dem Steuerschaltungsteil 32 nacheinander aufgerufen werden. In dem Steuerschaltungsteil 32 wird dann das analoge oder digitalisierte Prüfstrom-Signal mii einem Soüwert verglichen. Eine Abweichung wird als Fehler registriert, der beispielsweise in einem Kurzschluß zwischen zwei Leiterbahnen oder in der Unterbrechung einer Leiterbahn bestehen kann. Der Steuerschaltungsteil 32 steuert dementsprechend über eine Leitung 33 den Sortierteil 8.

F i g. 3 zeigt die Rasterlochplatte 24 von oben. Man erkennt, daß sie mit einer Vielzahl von Führungslöchern 36 versehen sind, die im Rastermaß der zu prüfenden Leiterplatten angeordnet sind. Die Rasterlochplatte 24 deckt ein Rasterfeld ab. das so groß ist, daß jede mit der Prüfvorrichtung zu prüfende Leiterplatte mit ihren Abmessungen in dieses Rasterfeld fällt. In F i g. 3 ist die zu prüfende Leiterplatte 22 sehr viel kleiner als das Gesamlrasterfeld der Rasterlochplatte 24. Zur Prüfung der Leiterplatte 22 genügen fünf Moduln 27, die baukastenförmig so angeordnet sind, daß sie bei geringstmöglicher Anzahl die zu prüfende Rasterfläche der Leiter-

Man erkennt in F i g. 3 ferner die seitlichen Führungen 25 für die zu prüfende Leiterplatte 22. Der Abstand der seitlichen Führungen 25 ist so gewählt, daß die Leiterplatte 22 eine reproduzierbare Position unter den Moduln 27 einnimmt und das Raster der Prüfstifte 26 der Moduln 27 in Übereinstimmung ist mit dem Raster der Leiterplatte 22. Um dies zu gewährleisten, ist außerdem noch ein Anschlag 37 vorgesehen, der in Transportrichtung der zu prüfenden Leiterplatte 22 (siehe strichpunktierter Pfeil) vor der Leiterplatte angeordnet ist. Nachdem die Prüfung erfolgt ist, wird der Anschlag 37 abgesenkt und die geprüfte Leiterplatte 22 kann in Richtung auf die Sortiervorrichtung 8 passieren. Die Doppelpfeile an den seitlichen Führungen 25 sollen andeuten, daß Führungen in Anpassung an verschiedene Leiterplattentypen verstellbar sind. In Ergänzung zu Fig.2 soll an dieser Stelle noch darauf hingewiesen werden, daß die Höhe der Führungen 25 über der Auflageplatte 21 gerade gleich der Gesamthöhe der zu prüfenden Leiterplatte 22 und der darauf liegenden Folie 23 sein soll.

F i g. 4 zeigt links einen Teilschnitt durch einen Modul 27 mit Blick auf die Schmalseite und rechts einen weiteren Modul 27 mit Blick auf die Breitseite, wobei von letzteren nur ein Teil zu sehen ist Die Prüfstifte 26 des linken Moduls 27 durchgreifen die Führungsbohrungen 36 der Rasterlochplatte 24 und drücken mit ihrem Prüfspitzen 43 entweder durch Löcher 39 in der Folie 23 auf Prüfpunkte der Leiterplatte 22 oder auf die Folie 23. Die Prüfpunkte der Leiterplatte sind in der Regel dort, wo Lötaugen sind, in deren Zentrum sich eine Bohrung 38 in der Leiterplatte 22 befindet.

Die Führungslöcher 36 in der Rasterlochplatte 24 haben einen etwas größeren Durchmesser als die Prüfstifte 26, so daß letztere ohne großen Kraftaufwand hindurchgesteckt und wieder herausgezogen werden können.

Jeder Modul 27 besteht aus einem quaderförmigen langgestreckten Gehäuse mit breiten Seitenwänden 44 und schmalen Seitenwänden 45. Die Seitenwände sind von Metallplatten gebildet. In den schmalen Seitenwänden 45 sind Nuten 50 vorgesehen, welche im vorliegenden Fall vier gedruckte Leiterplatten 46 eingeschoben sind. Auf die Leiterplatten sind aus /C-Chips bestehende Bauteile 47 aufgesetzt und mit den Leiterbahnen verlötet. Die /C-Chips haben die Funktion eines steuerbaren elektrischen Schalters. In ihrer Gesamtheit bilden die Leiterplatten 46 mit den /C-Chips und ggf. weiteren Bauelementen die den Prüfstiften 26 zugeordnete Teil-Schaltermatrix. Die eine Plattenoberseite jeder Leiterplatte 46 mit den darauf befindlichen Leiterbahnen 50 setzt sich in Richtung auf die Prüfstifte 26 fort. Der Endabschnitt jedes flexiblen Leiterbahnträgers 49 ist mit Löchern für die Enden der Prüfstifte versehen, die mit den Leiterbahnen 50 verlötet sind. Jeder Modul 27 hat beispielsweise 16-32 Prüfstifte, von denen bei dem linken Modul 27 nur die eine Schmalseite mit 16 Prüfstiften sichtbar ist. Senkrecht zur Zeichnungsebene erstreckt sich vor bzw. hinter jedem Prüfstift 26, fünfunddreißig weitere Prüfstifte. Jeder der Prüfstifte 26 ist mit einer der Leiterbahnen 50 verlötet.

Die Prüfstifte 26 bestehen aus einer Trägerhülse 40, in die eine Kolbenhülse 41 eingeschoben ist. In der Kolbenhülse 41 ist wiederum ein Kolbenstößel 42 mit Prüfspitze 43 verschiebbar gelagert. In der Kolbenhülse 41 ist (nicht sichtbar) eine Feder angeordnet, die den Kolbenstößel 42 mit Prüfspitze 43 in die Endposition zu drücken sue-nt.

Die Trägerhülsen 40 sitzen in im Rastermaß der zu prüfenden Leiterplatte 22 angeordneten Bohrungen einer Trägerplatte 51. Die Trägerplatte 51 ist ihrerseits in ein Endstück 48 aus Gießharz eingebettet, welches mit seinem oberen Abschnitt in das aus den Wänden 44,45 gebildete Gehäuse eingeschoben ist und dessen unterer Abschnitt die gleichen Außenabmessungen wie das Gehäuse hat. Sinn dieses Endstückes ist es, zu gewährleisten, daß die beiden äußeren Prüfstifte 26 so nahe am Rand des Endstückes zu liegen kommen, daß bei im Baukastensystem zusammengefügten Moduln 27 im Grenzbereich kein Führungsloch 36 der Rasterlochplatte 24 frei bleibt. Mit anderen Worten, durch das Gießharzendstück 48 ist ein lückenloses Abdecken eines bestimmten Teil-Rasterfeldes durch mehrere nebeneinander angeordnete Moduln möglich. Ebenfalls dazu bei tragen die flexiblen Leiterbahnträger 49, die am unteren

Ende breiter sind, als im Übergangsbereich zu Oberfläche der Leiterplatten 46.

Hierzu 4 Blatt Zeichnungen

Claims

Patentansprüche:

1. Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten, mit einem Aufnahmeteil für die jeweils zu prüfende Leiterplatte, mit einer Vielzahl von im Raster der zu prüfenden Leiterplatte angeordneten und auf diese aufsetzbaren Prüfstiften, von denen eine je ein Teiirasterfeld abdeckende Teilzahl jeweils von einem von mehreren separierbaren Moduln ausgeht, und mit einer mit jedem der Prüfstifte verbundenen Prüfschaltung, mittels welcher die Prüfstifte zeitlich nacheinander in einen Prüfstromweg einschaltbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß die den Prüfstiften (26) jedes Moduls (27) zuzuordnenden elektronischen Bauteile (47) der Prüfschaltung in dem Modul (27) angeordnet sind.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Aufnahmeteil (21) für die zu prüfende Leiterplatte (22) und den Moduln (27) eine mit büchern (36) versehene Rasterlochplatte (24) angeordnet ist, auf die die Moduln (27) aufsetzbar sind, wobei die Prüfstifte (26) die Löcher (36) der Rasterlochplatte (24) durchgreifen.

3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Moduln (27) so geformt sind, daß sie zur Abdeckung eines der zu prüfenden Leiterplatte (22) entsprechenden Teilbereichs des maximalen Rasterfeldes baukastenförmig zusammensetzbar sind.

4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Moduln (27) so druckfest sind, daß aie sich unter dem Prüfdruck ihrer Prüfstifte \2ß) bei Abstützung an ihrer den Prüfstiften (26) abgewai dten Seite nicht verformen.

5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Moduln (27) an ihrer den Prüfstiften (26) abgewandten Seite von einem Stützteil (17) abgestützt sind, welches über eine zugfeste Verbindung mechanisch mit dem Aufnahmeteil (21) für die zu prüfende Leiterplatte (22) verbunden ist.

6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Modul (27) in einem Gehäuse (44,45) untergebracht ist, das — im parallel zur prüfenden Leiterplatte (22) verlaufenden Schnitt gesehen — rechteckig ist.

7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse (44, 45) eine in Richtung senkrecht zur prüfenden Leiterplatte (22) langgestreckte Form hat.

8. Vorrichtung nach einem der vorherstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfstifte (26) jedes Moduls (27) in einem Endstück (48) aus einem erhärteten gießfähigen Material, vorzugsweise Gießharz sitzen, der auf das der zu prüfenden Leiterplatte (22) zugewandte offene Ende des Modulgehäuses (44,45) aufgesetzt ist und den gleichen Querschnitt wie das Modulgehäuse hat.

9. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der in jedem Modul (27) befindliche Teil der Prüfschaltung von mehreren senkrecht zur prüfenden Leiterplatte (22) verlaufenden gedruckten und mit den entsprechenden Bauteilen (47) bestückten elektrischen Schaltermatrix-Leiterplatten (46) gebildet ist und daß die Prüfstifte (26) mit den Schaltermatrix-Lfciterplatten (46) durch flexible Leiterbahnenträger (49)

verbunden sind.

10. Vorrichtung nach -iinem der Ansprüche 2—9, dadurch gekennzeichnet, daß der Aufnahmeteil (21) für die zu prüfende Leiterplatte (22) eine Auflageplatte (21) aufweist, weiche mittels eines Verstellvorrichtungsteüs gegen die Rasterlochplatte (24) verschiebbar und wieder von dieser wegbewegbar ist.

11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Verstellvorrichtungsteii von hydraulisch oder pneumatisch arbeitenden Hubzylindern (20) gebildet ist.

12. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß seitliche Führungen (25) für die zu prüfenden und über das Aufnahmeteil (21) zu transportierenden Leiterplatten (22) vorgesehen sind, und daß der Abstand der Führungen (25) quer zur Leiterplatten-Transport-' richtung in Anpassung an die Abmessungen der Leiterplatten (22) veränderbar ist.

13. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Anspräche, dadurch gekennzeichnet, daß die Früfstifte (26) eine federnd gelagerte Prüfspitze (43) haben.