DE3212048C2 - - Google Patents

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DE3212048C2
DE3212048C2 DE3212048A DE3212048A DE3212048C2 DE 3212048 C2 DE3212048 C2 DE 3212048C2 DE 3212048 A DE3212048 A DE 3212048A DE 3212048 A DE3212048 A DE 3212048A DE 3212048 C2 DE3212048 C2 DE 3212048C2
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DE
Germany
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logic analyzer
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DE3212048A
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German (de)
English (en)
Other versions
DE3212048A1 (de
Inventor
Gerd Hans Lake Oswego Oreg. Us Hoeren
Steven Robert Beaverton Oreg. Us Palmquist
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Tektronix Inc
Original Assignee
Tektronix Inc
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3177—Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
    • G01R31/60—Identification of wires in a multicore cable
    • G—PHYSICS
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    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
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DE19823212048 1981-03-31 1982-03-31 Verfahren zum erstellen einer korrekten ordnung in der anzeige der abtastkanaele eines logik-analysators und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens Granted DE3212048A1 (de)

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DE3212048A1 DE3212048A1 (de) 1982-12-16
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