DE3149954C2 - - Google Patents
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K9/00—Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
- H05K9/0069—Methods for measuring the shielding efficiency; Apparatus therefor; Isolation container for testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/18—Screening arrangements against electric or magnetic fields, e.g. against earth's field
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0807—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
- G01R29/0814—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
- G01R29/0821—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning rooms and test sites therefor, e.g. anechoic chambers, open field sites or TEM cells
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- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Simulationskammer nach dem Oberbegriff
des Anspruchs 1. Solche Kammern werden benutzt zur Untersuchung
elektrischer/elektronischer Geräte und elektronischer Baugruppen auf
elektromagnetische Verträglichkeit (abgekürzt EMV bzw. englisch EMC).
In solchen Kammern werden auch elektromagnetische Pulse (EMP), insbe
sondere der nukleare elektromagnetische Puls (NEMP) simuliert. Der
NEMP, welcher bei der Explosion von Atombomben entsteht und unge
schützte elektronische Geräte sofort zerstören kann, weist eine
spektrale Verteilung von Gleichspannung bis ca. 500 MHz auf, mit
einem Intensitätsmaximum bei etwa 10 kHz.
Die genannten Simulationskammern, auch TEM-Zellen genannt, stellen im
Prinzip Koaxialleitungen dar, deren Außenleiter zu einer Kammer
aufgeweitet ist, in die ein zu untersuchender Gegenstand eingebracht
werden kann. Die Kammern sind in der Regel vollständig nach
außen abgeschirmt. Eine bekannte TEM-Zelle ist die Crawford-Zelle,
vgl. IEEE Transactions on instrumentation and measurement, Vol.
IM-26, No. 3, September 1977, Seiten 225 bis 230. Die Crawford-Zelle
ist zu den Enden hin pyramidenartig verjüngt.
Je größer das Nutzvolumen einer TEM-Zelle gewählt wird, desto niedri
ger wird deren Grenzfrequenz. Darunter versteht man diejenige Fre
quenz f c , von der ab sich nicht nur TEM-Modes (Transversal-Elektro
magnetische Modes), sondern auch höhere Modes ausbilden. Diese beauf
schlagen den Prüfling mit undefinierten Feldverteilungen.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Simulationskammer der eingangs
genannten Art für sehr hohe Grenzfrequenzen bei homogener Feldvertei
lung zu schaffen.
Die Erfindung ist im Patentanspruch 1 beschrieben. Die Unteransprüche
beinhalten vorteilhafte Weiterbildungen bzw. Ausführungen der Erfin
dung.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Figuren noch näher erläu
tert.
Fig. 1 zeigt eine TEM-Zelle nach dem Stand der Technik mit Kammerwän
den (Außenleiter) A, Mittelleiter M, Abschlußwiderstand Z A , Prüfling
P und einem Generator G zur Erzeugung des elektrischen Feldes. Fig. 2
zeigt einen Querschnitt durch die bekannte Zelle. Der Mittelleiter M
ist dabei flach ausgebildet.
Fig. 3 zeigt im Querschnitt eine erfindungsgemäße TEM-Zelle mit räum
lich ausgebildetem Mittelleiter M. Die kleinen, etwa gleichen geome
trischen Abstände a und d zwischen Mittelleiter M und Außenleiter A,
bzw. Prüfling P gewährleisten eine hohe Grenzfrequenz und homogene
Feldverteilung in der Zelle.
Wie in Fig. 4 dargestellt, wird der Mittelleiter M vorzugsweise um
den Prüfling P herumgebaut, um weitgehend gleiche Abstände zu gewähr
leisten.
Scharfen Ecken des Prüflings kann dabei der Mittelleiter entweder
schräg, b, oder gerade, c, angepaßt sein.
Der Mittelleiter besteht vorzugsweise aus runden, variabel anordbaren
Metallrohren, z. B. aus Kupfer oder Aluminium, die mit Bajonettver
schlüssen oder Gewinden leicht verbindbar sind. Die Metallrohre
führen gleiches Potential und sind elektrisch gut leitend verbunden.
Die Gitterstruktur des Mittelleiters M kann auch mit Kupfer- oder
Alu-Blechen verkleidet sein, die standardisierte Größen haben. Für
den Bereich des Prüflings müssen variable Bleche bereitgehalten
werden.
Fig. 5 zeigt eine andere Ausführungsform der erfindungsgemäßen Simu
lationskammer. Hier ist der Mittelleiter M nicht über die gesamte
Länge der Zelle räumlich ausgebildet. Stattdessen befindet sich an
der dem Prüfling P gegenüberliegenden Kammerwand ein mit dieser
leitend verbundener Standardprüfling SP aus leitendem Material. Diese
Anordnung ist in ihren Dimensionen grob dem Prüfling P nachgebildet,
so daß sich wieder etwa gleiche Abstände a und d ergeben.
Claims (8)
1. Geschirmte metallische Simulationskammer für elektromagneti
sche Strahlung, mit Kammerwänden (A) aus elektrisch leitendem Ma
terial und einem Mittelleiter (M), derart, daß Mittelleiter (M)
und Kammerwände (A) eine aufgeweitete Koaxialleitung darstellen,
dadurch gekennzeichnet, daß der Mittelleiter (M) räumlich ausge
bildet ist, derart, daß zwischen Mittelleiter (M) und Kammerwänden
(A) bzw. Prüfling (P) kleine geometrische Abstände eingehalten
werden.
2. Simulationskammer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
der Mittelleiter (M) um den Prüfling (P) herumgebaut und angepaßt
ist, derart, daß allseitig etwa gleiche geometrische Abstände
(d, a) bestehen.
3. Simulationskammer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
der Mittelleiter (M) aus runden, variabel anordbaren Metallrohren
aufgebaut ist.
4. Simulationskammer nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
die Metallrohre Bajonettverschlüsse oder Gewinde aufweisen.
5. Simulationskammer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, daß der Mittelleiter (M) eine räumliche Gitter
struktur aufweist.
6. Simulationskammer nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
die Gitterstruktur mit leitenden Blechen verkleidet ist.
7. Simulationskammer nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Außendurchmesser der Metallrohre hinreichend
groß ist, um Sprüheffekte bei Hochspannungsbetrieb zu vermeiden.
8. Simulationskammer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, daß die dem Prüfling (P) gegenüberliegende Kam
merwand mit einer elektrisch leitenden Anordnung (SP) versehen ist,
die etwa den Dimensionen des Prüflings nachgebildet ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19813149954 DE3149954A1 (de) | 1981-12-17 | 1981-12-17 | "geschirmte metallische simulationskammer fuer elektromagnetische strahlung" |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19813149954 DE3149954A1 (de) | 1981-12-17 | 1981-12-17 | "geschirmte metallische simulationskammer fuer elektromagnetische strahlung" |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3149954A1 DE3149954A1 (de) | 1983-07-07 |
DE3149954C2 true DE3149954C2 (de) | 1989-12-14 |
Family
ID=6148949
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19813149954 Granted DE3149954A1 (de) | 1981-12-17 | 1981-12-17 | "geschirmte metallische simulationskammer fuer elektromagnetische strahlung" |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3149954A1 (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3410725A1 (de) * | 1984-03-23 | 1985-09-26 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Metallgekapseltes drehstromsystem |
DE3410726A1 (de) * | 1984-03-23 | 1985-09-26 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Einphasiges metallgekapseltes wechselstromsystem |
-
1981
- 1981-12-17 DE DE19813149954 patent/DE3149954A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3149954A1 (de) | 1983-07-07 |
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Legal Events
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: TELEFUNKEN SYSTEMTECHNIK GMBH, 7900 ULM, DE |
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