DE3144769C2 - - Google Patents
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- DE3144769C2 DE3144769C2 DE19813144769 DE3144769A DE3144769C2 DE 3144769 C2 DE3144769 C2 DE 3144769C2 DE 19813144769 DE19813144769 DE 19813144769 DE 3144769 A DE3144769 A DE 3144769A DE 3144769 C2 DE3144769 C2 DE 3144769C2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/06—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for operation by a null method
- G01D3/063—Comparing the measuring value with a reference value which periodically or incidentally scans the measuring range
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Steuerung einer
Betriebsanlage über eine Meßkomponente mittels eines konti
nuierlich messenden Prozeßanalysators.
In der Technik sind Prozeßanalysatoren zur selbststätigen
quantitativen Bestimmung des Anteils von Komponenten in
Stoffgemischen bekannt. Je nach der Art der Komponente,
deren Anteil analysiert werden soll, sind verschiedene
Typen von Prozeßanalysatoren im Einsatz.
Zur Erkennung der zu analysierenden Komponenten werden
deren unterschiedliche physikalische Eigenschaften genutzt,
wie beispielsweise die charakteristische Absorption
elektromagnetischer Strahlung vieler Gase im IR-, UV- oder
sichtbaren Spektralgebiet oder die herausragende paramagne
tische Suszeptibilität des Sauerstoffs oder die hohe Wärme
leitfähigkeit des Wasserstoffs. Entsprechend unterscheiden
sich die Prozeßanalysatoren durch die angewendeten physika
lischen Meßprinzipien. Die zur Messung herangezogene physi
kalische Eigenschaft sollte für die zu analysierende Kompo
nente möglichst spezifisch sein, da im anderen Falle andere
Komponenten ebenfalls einen Beitrag zum Meßergebnis liefern
werden, der Prozeßanalysator also nicht selektiv nur die
gewünschte Komponente erfaßt. Die beispielsweise genannten
physikalischen Eigenschaften haben den Vorteil, daß sie
kontinuierlich in einem ständig durch den Prozeßanalysator
geleiteten Meßgasstrom gemessen werden können und deshalb
jede Änderung der Konzentration dieser einen Meßkomponente
schnell, d. h. innerhalb weniger Sekunden, erkennen lassen.
Diese Eigenschaft ist von großem Wert beim Einsatz von Pro
zeßanalysatoren in Regelungen und zur Anlagensicherung
(z. B. Not-Abschaltung beim Annähern an gefahrbringende Be
triebszustände).
Prozeßanalysatoren der bisher genannten Art (sie sollen im
folgenden kontinuierlich messend genannt werden) sind zwar
bewährt, haben aber den Nachteil, daß sie - insbesondere
bei Gasgemischen komplizierter Zusammensetzung - nicht mehr
die nötige Selektivität in bezug auf die Meßkomponente be
sitzen.
In der Tabelle werden diese Zusammenhänge an einem Beispiel
aus der Praxis erläutert.
Hohe Selektivität kann jedoch erzielt werden durch Hinzu
ziehung anderer physikalischer Effekte für die Durchführung
der Analyse. Darüber hinaus haben Prozeßanalysatoren dieser
Art den zusätzlichen Vorteil, daß mit vergleichbar hoher
Selektivität auch andere Komponenten des gleichen Gasge
misches analysiert werden können.
Prozeßanalysatoren dieser Art benötigen jedoch für die
Durchführung einer Analyse einen Zeitraum von mehreren Mi
nuten (je nach Aufgabenumfang etwa 2 bis 60 Minuten). Erst
nach Ablauf dieser Zeit entnimmt der Analysator aus dem
Meßgasstrom selbsttätig wieder eine neue Probe zur Durch
führung der nächsten Analyse usw. Diese Geräte sollen im
folgenden periodisch messende Prozeßanalysatoren genannt
werden.
Während der Dauer einer Analyse können also Konzentrations
änderungen im Prozeßgas nicht wahrgenommen werden. Diese
Eigenschaft ist oft sehr nachteilig bei vielen Aufgaben der
Prozeßüberwachung (Regelung, Anlagensicherung).
Es sind Verfahren bekannt, die die Meßgenauigkeit eines
kontinuierlich messenden Prozeßanalysators durch häufige
Kontrollen mit Eichgasen statt von Hand durch automatische
Einrichtungen sicherstellen und die erforderlichen Korrek
turen in wählbaren Zeiträumen selbsttätig vornehmen.
Dadurch wird zwar die Empfindlichkeit des Prozeßanalysators
gesichert, es werden aber nicht die Fehler beseitigt, die
durch ungenügende Selektivität gegenüber anderen Meßgasbe
standteilen entstehen.
In der DE 29 23 627 C2 ist eine Vorrichtung zur automa
tischen Prozeßanalyse beschrieben, die sich selber auf ihre
Funktionsfähigkeit überwacht. Über eine Überwachungseinheit
werden die Sollwerte von Betriebsdaten und die Meßwerte auf
ihre Plausibilität überprüft und bei Abweichungen der Ana
lysenwerte von dem Sollzustand wird ein Störfall gemeldet.
Eine automatische Korrektur des Meßwertes durch die Verän
derung einer den Meßwert beeinflussenden Störkomponente im
Prozeßgas findet hier nicht statt.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zur Steuerung
einer Betriebsanlage über eine Meßkomponente mittels eines
kontinuierlich messenden Prozeßanalysators anzugeben, mit
welchem eine Störkomponentenänderung im Prozeßgas durch
eine automatische Korrektur des Meßwertes ausgeglichen
wird.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß
- a) für die Meßkomponente durch den kontinuierlich messenden Prozeßanalysator ein erstes Meßsignal, das von Störkom ponenten verfälscht ist, erzeugt wird;
- b) für die Meßkomponente mittels eines periodisch messenden Prozeßanalysators, der im Vergleich zum kontinuierlich messenden Prozeßanalysator eine hohe Selektivität auf weist, ein zweites Meßsignal erzeugt wird;
- c) das erste Meßsignal periodisch und automatisch durch das zweite Meßsignal korrigiert wird;
- d) das zweite Meßsignal als Festwert für eine Periode des periodisch messenden Prozeßanalysators in einem Speicher gespeichert bleibt und
- e) die Betriebsanlage über das korrigierte erste Meßsignal gesteuert wird.
Das erfindungsgemäße Verfahren kann weiterhin bevorzugt und
wahlweise dadurch gekennzeichnet sein, daß
- a) das korrigierte erste Meßsignal des kontinuierlich mes senden Prozeßanalysators eine Notabschaltung der Be triebsanlage steuert;
- b) als periodisch messender Prozeßanalysator ein Prozeß chromatograph verwendet wird;
- c) mehrere, unterschiedliche Meßkomponenten analysierende, kontinuierlich messende Prozeßanalysatoren über einen einzigen periodisch messenden Prozeßanalysator einge stellt werden.
In der Figur ist eine Schaltung für die automatische Kor
rektur eines kontinuierlich messenden Prozeßanalysators mit
einem periodisch messenden Prozeßanalysator gezeigt.
Das zu analysierende Stoffgemisch wird durch die Leitung 1
dem periodisch messenden Prozeßanalysator 2 und dem konti
nuierlich messenden Prozeßanalysator 3 zugeführt. Der Ana
lysenwert des periodisch messenden Prozeßanalysators 2 wird
als zweites Meßsignal 8 bis zum Vorliegen des folgenden
Analysenwertes, d. h. für die Dauer eines Analysenzyklus, im
Speicher 4 gespeichert. Das zweite Meßsignal 8 liegt des
halb während des gesamten folgenden Analysenzyklus auch am
Eingang 9 des Vergleichers 6 an. An dem zweiten Eingang 12
des Vergleichers 6 steht das erste Meßsignal 10 des konti
nuierlich messenden Prozeßanalysators 3 an, nachdem es
durch ein Korrektur-Netzwerk 5 hindurchgeleitet wurde.
In dem Vergleicher 6 wird das anstehende zweite Meßsignal 8
mit dem ersten Meßsignal 10 verglichen. Eine Abweichung des
ersten Meßsignals 10 vom zweiten Meßsignal 8 wird als Kor
rekturbefehl 11 in das Korrektur-Netzwerk 5 zurückgegeben.
Das erste Meßsignal 10 wird entsprechend dem zweiten
Meßsignal 8 in dem Korrektur-Netzwerk 5 korrigiert.
Das so korrigierte erste Meßsignal 10 steht als korri
giertes erstes Meßsignal 13 an der Meßwert-Ausgabe 7 an und
steht hier für die Steuerung einer Betriebsanlage zur Ver
fügung.
Über das korrigierte erste Meßsignal 13 können - hier nicht
dargestellt - Alarmmeldungen oder Notabschaltungen gesteu
ert werden.
Durch ein - hier nicht dargestelltes - Zeitschaltwerk im
Vergleicher 6 wird nach einer frei wählbaren Anzahl von
Analysenzyklen des periodisch messenden Prozeßanalysators 2
vorgegeben, in welchen Zeitabständen die Korrektur wieder
holt werden soll.
Der mit der Erfindung erzielte Vorteil besteht darin, daß
mit dem vorgelegten Verfahren der durch die mangelnde
Selektivität des kontinuierlich messenden Prozeßanalysators
verursachte Fehler ausgeschaltet wird und somit ein konti
nuierlich gemessener, korrigierter Analysenwert des Stoff
gemisches zur Verfügung steht. Der so erzielte Vorteil ist
von besonderer Wichtigkeit, wenn mittels Prozeßanalysatoren
Mengenregelungen, wichtige Alarmsignale oder Notabschal
tungen getätigt werden.
Meßprinzip:NDIR (Nicht-dispersives Infrarot- Photometer) Meßkomponente:C₂H₄ Meßbereich für die Meßkomponente:0 bis 3 Vol% Störkomponenten:CH₄, C₂H₆
Meßprinzip:NDIR (Nicht-dispersives Infrarot- Photometer) Meßkomponente:C₂H₄ Meßbereich für die Meßkomponente:0 bis 3 Vol% Störkomponenten:CH₄, C₂H₆
Größe der Meßwertverfälschung (experimentell bestimmt):
0,1 Vol% CH₄ in N₂erzeugen die gleiche Anzeige wie
0,26 Vol% C₂H₄
0,5 Vol% C₂H₆ in N₂erzeugen die gleiche Anzeige wie
1,58 Vol% C₂H₄
Meßgaszusammensetzung:
0,7 Vol% C₂H₄ (Meßkomponente)
0,5 Vol% C₂H₆ (Störkomponente)
0,1 Vol% CH₄ (Störkomponente)
0,7 Vol% C₂H₄ (Meßkomponente)
0,5 Vol% C₂H₆ (Störkomponente)
0,1 Vol% CH₄ (Störkomponente)
Der Meßwert setzt sich aus folgenden Anteilen zusammen:
Verfälschung durch die beiden Störkom ponenten (siehe oben)
Verfälschung durch die beiden Störkom ponenten (siehe oben)
0,7 Vol% C₂H₄ (Meßkomponente)
+1,58 Vol% (C₂H₄)
+0,26 Vol% (C₂H₄)
+1,58 Vol% (C₂H₄)
+0,26 Vol% (C₂H₄)
angezeigter Meßwert:2,54 Vol% C₂H₄
tatsächliche Konzen
tration der Meßkomponente:0,7 Vol% C₂H₄
Claims (4)
1. Verfahren zur Steuerung einer Betriebsanlage über eine
Meßkomponente mittels eines kontinuierlich messenden
Prozeßanalysators, dadurch gekennzeichnet, daß
- a) für die Meßkomponente durch den kontinuierlich mes senden Prozeßanalysator (3) ein erstes Meßsignal (10), das von Störkomponenten verfälscht ist, erzeugt wird;
- b) für die Meßkomponente mittels eines periodisch mes senden Prozeßanalysators (2), der im Vergleich zum kontinuierlich messenden Prozeßanalysator (3) eine hohe Selektivität aufweist, ein zweites Meßsignal (8) erzeugt wird;
- c) das erste Meßsignal (10) periodisch und automatisch durch das zweite Meßsignal (8) korrigiert wird;
- d) das zweite Meßsignal (8) als Festwert für eine Peri ode des periodisch messenden Prozeßanalysators (2) in einem Speicher (4) gespeichert bleibt und
- e) die Betriebsanlage über das korrigierte erste Meßsig nal (13) gesteuert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
das korrigierte erste Meßsignal (13) des kontinuierlich
messenden Prozeßanalysators (3) eine Notabschaltung der
Betriebsanlage steuert.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
als periodisch messender Prozeßanalysator (2) ein
Prozeßchromatograph verwendet wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß mehrere, unterschiedliche Meßkomponen
ten analysierende, kontinuierlich messende Prozeßanaly
satoren über einen einzigen periodisch messenden Prozeß
analysator eingestellt werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19813144769 DE3144769A1 (de) | 1981-11-11 | 1981-11-11 | Verfahren zur automatischen korrektur kontinuierlich messender prozessanalysatoren |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19813144769 DE3144769A1 (de) | 1981-11-11 | 1981-11-11 | Verfahren zur automatischen korrektur kontinuierlich messender prozessanalysatoren |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3144769A1 DE3144769A1 (de) | 1983-05-19 |
DE3144769C2 true DE3144769C2 (de) | 1989-01-19 |
Family
ID=6146117
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19813144769 Granted DE3144769A1 (de) | 1981-11-11 | 1981-11-11 | Verfahren zur automatischen korrektur kontinuierlich messender prozessanalysatoren |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3144769A1 (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0776771B2 (ja) * | 1984-07-30 | 1995-08-16 | 株式会社東芝 | 自動化学分析装置 |
US5040423A (en) * | 1988-01-19 | 1991-08-20 | Gregory Gould | Method and apparatus for auditing means used for measuring an aliquot from a bulk material for measurement of one or more characteristics of said bulk material |
DE4217893A1 (de) * | 1992-05-29 | 1993-12-02 | Msi Elektronik Gmbh | Verfahren zur Kalibrierung von Gassensoren in Meßgeräten für die Gasanalyse, Rauchgasanalyse und/oder die Wirkungsgradermittlung an Feuerungen sowie Meßgerät zur Durchführung dieses Verfahrens |
DE19631554A1 (de) * | 1996-07-26 | 1998-01-29 | Ver Energiewerke Ag | Verfahren zur Erzeugung eines Signals für die Durchführung einer Kalibrierung einer Meßstelle in einem mit einem Stoffstrom arbeitenden Produktionsprozeß |
DE10160412A1 (de) * | 2001-12-10 | 2003-06-26 | Powitec Intelligent Tech Gmbh | Verfahren zur Überwachung eines Verbrennungsprozesses und Vorrichtung hierzu |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2923627C2 (de) * | 1979-06-11 | 1986-02-20 | Bayer Ag, 5090 Leverkusen | Vorrichtung zur automatischen Prozeßanalyse |
-
1981
- 1981-11-11 DE DE19813144769 patent/DE3144769A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3144769A1 (de) | 1983-05-19 |
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