DE3117337A1 - Verfahren und vorrichtung zum messen eines rasterpunkt-flaechenanteiles oder einer rasterbilddichte - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zum messen eines rasterpunkt-flaechenanteiles oder einer rasterbilddichte

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DE3117337A1
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Description

Verfahren und Vorrichtung zum Messen eines Rasterpunkt-Flächenanteiles oder einer Rasterbilddichte
Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Vorrichtung zum Messen eines Rasterpunkt-Flächenanteiles oder einer Rasterbilddichte mit einem Densitometer oder einer Einrichtung zum Messen von Rasterpunkt-Flächenanteilen.
La eine Gradation eines zu messenden Rasterbildes in den Einzelheiten der Fläche variiert, ist der Öffnungsdurchmesser, der bei herkömmlichen Einrichtungen zoia Messen von Rasterpunkt-Flächenanteilen eine Meßfläche bestimmt, vorzugsweise kleine Ist der Öffnungsdurchmesser Jedoch zu klein, so schwankt der gemessene Wert, wenn das Rasterbild gemessen wird, abhängig von einer Variation einer relativen Position zwischen der Öffnung und dem Rasterpunkt.
Eine derartige Schwankung tritt dann kaum auf, wenn die Abtastlinienanzahl pro Abstand groß ist. Sie tritt jedoch oft dann auf, wenn die Abtastlinienanzahl klein ist, beispielsweise bei einem Maß "mit etwa zehn Linien pro Zentimeter für einen bedruckten Gegenstand. Ein derartiges Maß wird a' ? eine relativ kleine Fläche wie beispielsweise 5 x 6 mm gedruckt; demgemäß' läßt sich das Problem nicht einfach durch Vergrößern des Durchmessers der öffnung oder der Meßfläche lösen,
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum j Messen eines Rasterpunkt-Flächenanteiles (halftone dot area rate) i oder einer Rasterbilddichte (halftone picture density) in einem '■ Densitometer oder einer Einrichtung zum Messen eines Rasterpunkt-Flächenanteiles zu schaffen, das die vorgenannten Nachteile nicht hat, das genau, stabil und zuverlässig ist, und das anwendbar ist beim Messen von verglichen mit dem Rasterabstand (screen pitch) nicht großer Flächeo
Weiterhin liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtu' zum Messen eines Rasterpunkt-Flächenanteiles oder einer Rasterbild' dichte mit einem Densitometer oder einer Einrichtung zum Messen der Rasterpunkt-Flächenanteile zu schaffen, das die vorerwähnten Nachteile nicht hat, das genau, stabil und zuverlässig ist, und das ferner die Messung von im Vergleich zu einem Rasterabstand (screen pitch) nicht so großer Fläche vorzunehmen.
Gemäß der Erfindung geht man von einem Verfahren aus, wobei ein von einer Lichtquelle erzeugter Lichtstrahl auf ein zu messendes Objekt fallengelassen wird, der Lichtstrahl durch das Objekt hindurchtritt oder von diesem reflektiert wird und sodann von ein-=ru photoelektrischen Element aufgefangen wird. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, daß dann, wenn das Objekt, das einen Rasterpunkt-Flächenanteil von etwa 50 % hat, gemessen wird, exne Meßfläche des Objektes derart bestimmt wird, daß das Verhältnis zwischen den dunklen und den hellen Teilen der in der Meßfläche des Objektes enthaltenen Rasterpunkte im wesentlichen aasseloe
wie der Rasterpunkt-Flächenanteil ist.
Gemäß der Erfindung wird ferner eine Vorrichtung zum Messen eines Rasterpunkt-Flächenanteiles oder der Rasterbilddichte in einem Densitometer oder einer Einrichtung zum Messen des Raster-
', punkt-Flächenanteiles geschaffen, wobei ein Lichtstrahl, der von einer Lichtquelle erzeugt wurde, auf ein zu messendes Objekt fallengelassen wird, und wobei der Lichtstrahl durch das Objekt hindurch tritt oder von diesem reflektiert wird und von einem photoelektrischen Element aufgenommen wirdj die Erfindungsgemäße Vorrichtung weist ein Mittel auf, das eine Meßfläche des Objektes
-i auf einen in Bezug auf einen Rasterabstand (screen pitch) des ■\ Objektes richtigen Wert bestimmt«
■jj Die Erfindung ist anhand der Zeichnung näher erläutert. Darin ist im einzelnen folgendes dargestellt:
Figo 1 zeigt in schematischer Ansicht ein optisches System für ? . ein Transmisslons-Densitometer oder eine Einrichtung zum
Messen eines Rasterpunkt-Fläehenanteil.es gemäß der Erfindung .
φ ' Fig. 2 ist eine schematische Ansieht eines optischen Systems für ; ' ein Reflexions-Densitometer oder eine Einrichtung zum
! _ Messen eines Rasterpunkt-Flächenanteiles gemäß der Erfindung.
i Fig. j5 zeigt Diehtewertkurven eines Rasterpunktes mit einem Raster-
: abstand von 1 mm und einem Rasterpunkt-Flächenanteil von
] -50 %t in der Vertikalachse aufgetragen in Bezug auf einen
Öffnungsdurchmesser in horizontaler Richtung: Dabei geben die ausgezogenen bzw. gestrichelten Linien die Positionsbe-
; Ziehungen zwischen der Blende und den Rasterpunkten wieder,
wie in den Fig. 4a bzw. 4b dargestellt.
Fig. 4 zeigt die Lagenrelationen zwischen der Blendenöffnung und
den Halb tonpunkten: (a) Das Blendenzentrum (die 31endenachs.ej fällt mit dem Zentrum eines dunklen Teiles der Rasterpunkt-5 zusammen; (b) Das Zentrum der Blende (die Blendenachse) fällt mit dem Zentrum eines hellen Teiles der Rasterpunkte zusamme!
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BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
In Fig. 1 erkennt man ein optisches System eines Transmissions-Densitometers oder einer Einrichtung zum Messen eines Rasterpunkt-Flächenanteiles gemäß der Erfindung» Eine Lichtquelle 1 wie eine Glühlampe, eine erste Kondenserlinse 2, eine Blendenplatte 3 mit einer öffnung, aus lichtabschirmendem Material bestehend, ein zu messendes Objekt 4, eine Diffusionsplatte 6, die von einer Führung 5 umgeben ist, welche ihrerseits den Einfall von Licht von außen verhindert, eine zweite Kondenserlinse 7, ein Filter 8 zum Korrigieren der Spektralcharakteristika und ein photoelektrisehes Element 9 wie ein Photomultipliziergerät sind entlang einer Lichtachse fluchtend ausgerichtet. Die Blendenkanten der Blendenplatte ; konvergieren zueinander, in Richtung von der Lichtquelle I hinweg, und sind derart gestaltet, daß eine Lichtenergievertälung über eine Meßfläohe ungeachtet der Stärke der Blendenplatte 3 einheitlich ist»
Bei diesem AusfUhrungsbeJ3piel wird der von Lichtquelle 1 erzeugte Lichtstrahl durch die erste Kondenserlinse 2 gebündelt und tritt sodann durch die öffnung der Blendenplatte 3 hindurch. Die Meßfläche wird durch die öffnung bestimmt. Der Lichtstrahl, der durch,. diese öffnung hindurch fällt, tritt sodann durch das Objekt 4 hindurch. Die Lichtenergie des Lichtstrahles wird abgeschwächt, abhängig von der Durchlässigkeit des Objektes 4. Sodann gelangt der abgeschwächte Lichtstrahl zu einem lichtaufnehmenden Teil. Im « aufnehmenden Teil wird von außen kommendes Licht durch die Führung 5 (eine Art Schirm) am Einfallen gehindert, so daß nur der durch die öffnung gefallene Lichtstrahl auffällt» In Lichtstrahl 6 und einem Raum einer Lichtschirmhülse (hier nicht dargestellt) wird der Lichtstrahl diffundiert. Der Diffusorlichtstrahl wird von der zweiten Kondenserlinse 7 gebündelt und seine Spektralcharakteristvon Filter 8 korrigiert. Sodann fällt der korrigierte Lichtstrahl auf das photoelektrische Element 9·
Wie oben beschrieben, gelangt der photoelektrische Strom, ier proportional zur Durchlässigkeit des Objektes 4 ist, zum photoelektrischen Element 9· Ist der photoelektrische Strom konstant,
. ß
so iöt die photoelekfcrische Spannung, die in dem photoelektrischen Element 9 erhalten wird, proportional zur Transmissionsdichte des Objektes H-* Auf diese Weise wird der erhaltene photoelektrische Strom oder die Spannung in einen Hasterpunkt-Flächenanteil oder eine Rasterbilddichte umgewandelt.
In Fig, 2 ist ein Reflexions-Densitometer oder eine Rasterpunkt-Flächenanteil-Meßeinrichtung dargestellt. Ein zu messendes Objekt ; 12, eine Blendenplatte 11 mit einer Öffnung von derselben Gestalt und denselben Aufgaben wie gemäß Fig. 1, die Kondenserlinse 2 und die Lichtquelle 1, eine Lichtschirmhülse 10 zum Abschirmen des von - der Lichtquelle 1 erzeugten Lichtes zwischen Lichtquelle 1 und •l Kondenserlinse 2, ein kegelstumpffcrmig gestalteter, hülsenförmiger i| Spiegel 13, das Korrekturfilter 8 und das photoelektrische Element 9 sind entlang der Lichtachse derart angeordnet, daß Spiegel 13
den von Lichtquelle 1 zu Objekt 12 fallenden Lichtstrahl zu \ reflektieren vermag« Der Lichtstrahl wird sodann von Objekt 12 ; ' reflektiert und gelangt zu dem photoelektrischen Element 9 über Filter 8 in gleicher Weise wie bei der obenstehenden Beschreibung.
" Wird der Lichtstrahl bei dieser Ausführungsform von Objekt 12 ' reflektiert, so wird die Lichtenergie des Lichtstrahles abgeschwächt, \ abhängig von der Reflexionseigenschaft des Objektes.
: "" Wie oben beschrieben, wird der proportional zur Reflektanz des ; ■ Objektes 12 proportionale photoelektrische Strom im photoelektrischen Element 9 aufgenommen. Ist der photoelektrische Strom fest (konstant), so ist die in dem photoelektrischen Element 9 aufgenommene photoelektrische Spannung proportional zur Reflexionsdichte des Objektes 12. Sodann wird der erhaltene photoelektrische Strom oder die Spannung in gleicher Weise wie oben beschrieben in den Rasterpunkt-Flächenanteil oder die Rasterbilddichte umgewandelt .
In Fig. j> sind Dichtwertkurven von Rasterpunkten mit einem Rasterabstand von 1 mm und einem Rasterpunkt-Flächenanteil von 50 % dargestellt, und zwar erhalten durch Variieren der Durchmesser der
BAD ORIGSNAL
öffnungen 3 bzw. 11, wobei die ausgezogene Kurve dann anfällt, wenn das Zentrum der öffnung mit dem Zentrum eines dunklen Teiles des Rasterpunktes zusammenfällt, und die gestrichelte Linie dann anfällt, wenn das Zentrum der öffnung mit dem Zentrum eines hellen Teiles des Rasterpunktes zusammenfällt, wie in den Fig. ^a bzw» ^b gezeigt. Fällt das Zentrum der öffnung 3 bzw. 11 nicht mit dem Zentrum des hellen oder des dunklen Teiles des Rasterpunktes zusammen, so ist der Dichtewert des Rasterpunktes ein Zwischenwert zwischen den beiden in Fig» 3 dargestellten Werten.
Aus Fig. 3 erkennt man leicht, daß der Meßfehler der Rasterpunktdichte periodisch zu null wird. Hat der Rasterpunkt eine quadratisch Gestalt, so läßt sich ein Punkt A des Öffnungsdurchmessers, dessen Meßfehler gleich null ist, als eine Funktion eines Rasterabstandes i durch die folgende Gleichung (l) ausdrücken, wobei η eine positive ganze Zahl bedeutet.
A= P x ( η +0,25) (l)
Dies bedeutet folgendes: Werden die Rasterpunkte mit dem Rasterpunkt-Flächenanteil von 50 % reproduziert, so liegt eine Gruppe vor., Öffnungsdurchmesserwerten vor, deren Verhältnis zwischen den | dunklen und den hellen Teilen der Rasterpunktmuster einheitlich is tj
j Werden die Blenden 3 bzw. 11 mit einem dieser Durchmesserwerte , verwendet, so ist sichergestellt, daß selbst dann, wenn das Zentrum der-Blende nicht mit dem dunklen bzw. hellen Teil des Rasterpunkte? zusammenfällt, die Dispersion (Streuung) der gemessenen Werte sehr klein ist.
Bei einem Densitometer oder einer Einrichtung zum Messen des Rasterpunkt-Flächenanteiles mit einem optischen System von Abta£tbauart für eine Fernsehkamera oder dergleichen lassen sich Mittel zum Verbessern oder Entfernen von Meßfehlern auf optische Systire anwenden. Weiterhin werden photoelektrische Signale, die in eir^ft System gemäß der obigen Vorrichtung erhalten werden, digitalisL*-?'* und dann ein arithmetisches Verarbeiten der Digltalsipnale -Ja^urc:
ausgeführt, daß ein Mikrocomputer oder dergleichen verwendet wird, wenn der Rasterabstand (screen pitch) verändert wird; für die der Meßfläche entsprechende Rasterbildfläche, die zu verarbeiten ist, wird der am meisten geeignete Wert gewählt, abhängig von dem Rasterabstand, um den Meßfehler zu verringern, wenn die Dichte oder der Rasterpunkt-Flächenanteil gemessen wird. Ein derartiges Verfahren, das eine Vorrichtung des Äbtast-Typus verwendet, kann jedoch hohe Kosten bedingen. Gemäß der Erfindung wird ein optisches System geschaffen, bei dem ein übliches Densitometer oder eine Vorrichtung zum Messen des Rasterpunkt-Flächenanteiles verwendet werden kann.
\ " Wird ein Maß.(eine Lehre) für einen bedruckten Gegenstand mit einem
j| Rasterabstand von 1 mm (10 Linien pro Zentimeter) gemessen, so.be-
if steht das Problem der Streuung .dieser Fehler der Meßwerte in sehr
ernster Welse. Gemäß der Erfindung wird zum Zwecke des Verringerns oder Beseitigens der Streuung der Meßfehler eine richtige Blenden-
• öffnung oder ein richtiger Blendendurchmesser der Blendenplatte bestimmt.
ι Ist der Rasterabstand ein Millimeter, so wird ein richtiger Blendendurchmesser wie 1,25, 2,25, 3*25 oder 4,25 mm gemäß der obigen \ Gleichung (l) bestimmt.
w Ist der Rasterabstand 0,391 mm (25,6 Linien pro Zentimeter), so ; wird in der gleichen Weise wie oben beschrieben ein richtiger ■: Blendendurchmesser wie 1,27, 1,66, 2,05, 2,44, 2,83, 3,23, 3,6*2,- - 4,01, 4,4o oder 4,79 nun bestimmt.
Ist der Rasterabstand 0,299 mm (33,5 Linien pro Zentimeter), so wird in der gleichen Weise wie oben beschrieben ein richtiger Blender-durchmesser wie 1,27, 1,57, 1,87, 2,17, 2^7, 2,77, 3,06, 3,36, 3,66, 3,96, 4,26, 4,56 oder 4,86 mm bestimmt.
Ist der Rasterabstand geringer als 0,245 mm (39,4 Linien pro Zentimeter), so kann der richtige Wert des Blendendurchmessers 3 oder 5 mm betragen. In diesem Falle ist eine relativ große Anzahl von Rasterpunkten in der Meßfläche enthalten; demgemäß läßt
sich die Streuung der Meßwerte, die in Abhängigkeit von den relativen Positionen der Blende in Bezug auf das Rasterpunktmuster abhängt, auf eine praktisch vernachlässigbare Größe verringert werden.
Jn der folgenden Tabelle sind einige Ausführungsbeispiele der Blendendurchmesser in Bezug auf die Rasterabstände aufgetragen:
Tabelle
Rasterabstand: mm 1 0,391 0,299 weniger als 0,2 (Linien/cm) (1O) (25,6) (33,5) faehr als 39,4)
Blenden- Beispiel A 2,25 2,44 2,17 5 durchmesser: Beispiel B 3,25 3*23 3,36 5 mm - Beispiel C 4,25 4,4o 4,26 5
Was Beispiel C anbetrifft, so werden im voraus Blendenplatten mit öffnungen der Durchmesser 4,25, 4,40, 4,26 und 5 mm für Rasterab-^ stände 1, 0,391» 0,299 und weniger als 0,254 mm der Lehren oder Maßstäbe vorbereitet; die Blendenplatten 3 oder 11 werden je nach Rasterabstand des zu messenden Maßes ausgetauscht. Die Dichte (Einfärbung) des Rasterpunkt-Flächenanteiles des Maßes (gauge) wird sodann gemessen.
Eine öffnung mit einem Durchmesser des arithmetischen Mittelwertes· von 4,33 der beiden Blendendurchmesser 4,25 und 4,40 mm für die Rasterabstände 1 bzw. 0,39 mm läßt sich im allgemeinen für diese beiden verwenden. Ferner läßt sich im allgemeinen auch eine ander-:· öffnung mit einem Durchmesser des gewichteten Durchschnittswertes, von 4,29 mm'dieser beiden Durchmesser verwenden. Weiterhin läßt '-sich im allgemeinen eine öffnung mit einem Durchmesser des gewichteten Durchschnittswertes von 4,31 mm der drei Durchmesser 4,25, 4,40 und 4,26 für die Rasterabstände 1, 0,391 und 0,299 -ara verwenden. Unter Betonung des größeren Rasterabstandes kann der s Durchmesser für diese drei ^,25 mm betragen; der 31endendurohl-,25 wird dann verwendet, wenn der Rasterabstand wenigste
COPY^ 9
ι,· 4i
0,254 mm beträgt, und der Blendendurchmesser 5 mm wird dann verwendet, wenn der Rasterabstand weniger als 0,254 mm beträgt.
Liegt der Rasterabstand nahe bei einem Millimeter, so kann der Blendendurchmesser stets durch 4,25 für den größten Rasterabstand ein Millimeter wiedergegeben werden. Da die Dichtewertkurven von Fig. 3 gedämpfte Schwingungskurven sind, wird η dann, wenn der Rasterabstand ein Millimeter und η auf vier oder dergleichen ge- ι wählt wird, wenigstens zehn« Ist η wenigstens zehn für die anderen "i Rasterabstände, so wird die Streuung der Meßwerte demgemäß weit- ] gehend verringert« Selbst wenn der Blendendurchmesser außerhalb i| · des richtigen Wertes liegt, so nimmt demgemäß die Streuung der ;!"·" Meßwerte auf ein vernachlässigbares Maß ab.
|l Die Blende läßt sich alternativ hierzu auf die Öffnung der Blendeni platte 3 oder 11 anwenden, so daß der richtige Blendendurchmesser \ vom Rasterabstand abhängig oder von einer Rasterlinienanzahl eines j zu messenden Objektes abhängig ausgewählt werden kann. Die Rasterabstände oder Rasterlinienanzahlen lassen sich auf den entsprechenden Durchmessern der Blende vermerken.
Gemäß der Erfindung lassen sich natürlich Gegenstände mit einem i größeren Rasterabstand als einem Millimeter (lO Linien pro Zenti- 'i meter) sowie 2,54 mm (4 Linien pro Zentimeter) einwandfrei messen.
1 - ■
30.c4ol98l DrW/MJ
COP^]
Leerseite
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Claims (1)

  1. Anwaltsakte: P + G 671
    Dainippon Screen Seizo K. Kyoto, Japan
    PATENTANSPRÜCHE
    1. Verfahren zum Messen eines Rasterpunkt-Flächenanteiles oder einer Rasterbilddichte (Rasterbildeinfärbung) in einem Densitometer oder einer Einrichtung zum Messen eines Rasterpunkt -Flächenanteiles, wobei ein Lichtstrahl, der von einer Lichtquelle erzeugt wird, auf ein zu messendes Objekt fällt, der Lichtstrahl durch das Objekt hindurchgeht oder an diesem reflektiert wird und von einem photoelektrischen Element aufgenommen wird, dadurch gekennzeichnet, daß dann, wenn das einen Rasterpunkt-Flächenanteil von 50 % aufweisende Objekt gemessen wird, eine Meßfläche des Objektes derart bestimmt wird, daß das Verhältnis zwischen den dunklen und den hellen Bereichen der Rasterpunkte, die in der Meßfläche des Gegenstandes enthalten sind, im wesentlichen dieselben wie der Rasterpunkt-Flächenanteil ist.
    2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßfläche des Gegenstandes durch Verwenden einer Blendenplatte mit einer öffnung unter Berücksichtigung eines Blendenabstandec
    w des Gegenstandes bestimmt wird.
    35. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Blendendurchmesser gemäß der nachstehenden Gleichung bestimmt wird, worin A den Blendendurchmesser, P den Rasterabstand (screen pitch) und η eine positive, ganze Zahl bedeuten:
    A = P χ ( η + 0,25 )
    17337
    4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß eine Mehrzahl von Gegenständen geraessen wird und daß der Blendendurchmesser gemäß dem Rasterabstand eines repräsentativen der Gegenstände ermittelt wird.
    5ο Verfahren nach Anspruch 3* dadurch gekennzeichnet, daß eine
    Mehrzahl von Gegenständen gemessen wird, und daß der Blenden- ; durchmesser dadurch bestimmt wird, daß ein arithmetisches
    ! Mittel der Blendendurchmesser A gebildet wird, die aus der
    [ Gleichung erhalten werden, und zwar von Repräsentativen der
    Gegenstände.
    6. Verfahren nach Anspruch j5> dadurch gekennzeichnet, daß eine Mehrzahl von Gegenständen gemessen wird, und daß der Blendendurchmesser bestimmt wird durch ein gewichtetes Mittel der Blendendurchmesser A, die aus der Gleichung erhalten werden, und zwar von Repräsentativen der Gegenstände.
    χ-
    7. Vorrichtung zum Messen des Rasterpunkt-Flächenanteiles oder der Rasterbilddichte (Rasterbildeinfärbung) in einem Densitometer oder einer Einrichtung zum Messen des Rasterpunkt-Flächenan-
    Γ teiles, wobei ein von einer Lichtquelle erzeugter Lichtstrahl
    ' auf ein zu messendes Objekt fällt und der Lichtstrahl durch das
    :| Objekt hindurchtritt oder von diesem reflektiert wird und von ·
    'f einem photoelektrischen Element aufgenommen wird, dadurch
    ■J " gekennzeichnet, daß ein Mittel vorgesehen ist, das einen
    richtigen Wert der Meßfläche des Objektes unter Berücksichtigung
    '} des Rasterabstandes des Objektes bildet.
    8. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßfläche des Objektes dadurch bestimmt wird, daß eine Blendenplatte mit einer Öffnung verwendet wird.
    DrW/MJ
    9· Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Blendendurchraesser gemäß der nachstehenden Gleichung ermittelt wird, wobei A den Blendendurchmesser, P den Rasterabstand und η eine positive ganze Zahl bedeuten:
    A = P χ ( η + 0,25 )
    10. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß eine : Mehrzahl von Objekten geraessen wird, und daß der Blendendurch- | messer etnsprechend dem Rasterabstand eines Repräsentativen der Objekte ermittelt.
    11. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß eine Mehrzahl von Objekten gemessen wird, und daß der Blendendurchraesser dadurch bestimmt wird, daß ein arithmetisches Mittel der Blendendurchmesser A gebildet wird, die aus der Gleichung erhalten werden, und zwar von Repräsentativen der Objekte.
    12. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß eine Mehrzahl von Objekten gemessen wird, und daß der Blendendurchmesser aus einem gewichteten Mittel der Blendendurchmesser A ermittelt wird, die aus der Gleichung erhalten werden, und zwar von Repräsentativen der Objekteo
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58223707A (ja) * 1982-05-29 1983-12-26 ハイデルベルガ−・ドルツクマシ−ネン・アクチエンゲゼルシヤフト 印刷機用の原図または版の網点面積率を求める方法および装置ならびに版に較正視野を設ける装置
DK552983A (da) * 1983-12-01 1985-06-02 Eskofot As Fremgangsmaade til ved reflektion at maale forholdet mellem svaertet areal og usvaertet areal
DE3855086T2 (de) * 1987-05-06 1996-07-25 Fuji Photo Film Co Ltd Gerät zur Dichtemessung und seine Verwendung
US4937637A (en) * 1989-02-10 1990-06-26 Kollmorgen Corporation Dual reading head transmission/reflection densitometer
NL8901722A (nl) * 1989-07-06 1991-02-01 Oce Nederland Bv Inrichting voor het meten van door een informatiedrager verstrooid licht.
US6024020A (en) * 1996-08-21 2000-02-15 Agfa Corporation Fluorescence dot area meter for measuring the halftone dot area on a printing plate
JP2000037936A (ja) * 1998-07-21 2000-02-08 Canon Inc プリント位置合わせ方法およびプリント装置
US8014024B2 (en) * 2005-03-02 2011-09-06 Xerox Corporation Gray balance for a printing system of multiple marking engines
US8203768B2 (en) * 2005-06-30 2012-06-19 Xerox Corporaiton Method and system for processing scanned patches for use in imaging device calibration
US8259369B2 (en) 2005-06-30 2012-09-04 Xerox Corporation Color characterization or calibration targets with noise-dependent patch size or number
US7719716B2 (en) * 2005-11-04 2010-05-18 Xerox Corporation Scanner characterization for printer calibration
US8711435B2 (en) * 2005-11-04 2014-04-29 Xerox Corporation Method for correcting integrating cavity effect for calibration and/or characterization targets
US7826090B2 (en) * 2005-12-21 2010-11-02 Xerox Corporation Method and apparatus for multiple printer calibration using compromise aim
US8102564B2 (en) * 2005-12-22 2012-01-24 Xerox Corporation Method and system for color correction using both spatial correction and printer calibration techniques
JP2010262012A (ja) * 2009-04-30 2010-11-18 Panasonic Corp 刷版パターンの面積率の測定方法
CN108088402B (zh) * 2017-12-18 2020-01-31 东莞捷邦实业有限公司 基于ccd视觉检测的音箱用带网纱泡棉组件的检测方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3053181A (en) * 1958-10-30 1962-09-11 Lithographic Technical Foundat Method for controlling print quality for lithographic presses
US3393602A (en) * 1963-11-22 1968-07-23 David S. Stouffer Light density scanning device
US3375751A (en) * 1964-03-16 1968-04-02 Barnes Eng Co Negative and print densitometer
FR2224749A1 (en) * 1973-04-06 1974-10-31 Exaphot Sarl Measurement of screened image dot density - direct and indirect illumination, dot viewed from other side
US4264210A (en) * 1977-09-13 1981-04-28 Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha Dot percentage measuring device
US4371265A (en) * 1977-09-13 1983-02-01 Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha Dot percentage measuring device

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Druck Print 1980 Nr. 3, S. 162-166 *
Druck Print 1980 Nr. 4, S. 226-230 *

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