DE3117336A1

DE3117336A1 - Verfahren und vorrichtung zum messen von rasterpunktflaechen

Info

Publication number: DE3117336A1
Application number: DE19813117336
Authority: DE
Inventors: Takashi Kyoto Sakamoto
Original assignee: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date: 1980-05-01
Filing date: 1981-05-02
Publication date: 1982-02-18
Also published as: US4465375A; JPS56154604A; GB2075186B; FR2481800A1; GB2075186A; JPS6127683B2

Description

Anwaltsakte: P + G 670 Dainlppon Screen Seizo K.K.

Kyoto, Japan

Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Rasterpunktflächen

Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Vorrichtung zum Messen des Anteiles von Rasterpunktflächen (halftone dot area rate) oder der Halbtonbilddichte (halftone picture density).

Bei herkömmlichen Vorrichtungen zum Messen von Rasterpunktflächen ist der Öffnungsdurchmesser, der eine Meßfläche definiert, vorzugsweise klein, da eine Gradation eines zu messenden Rasterpunktbildes im Bereich der Fläche im einzelnen variiert. Ist der Öffnungsdurchmesser beim Messen des Rasterpunktbildes jedoch zu klein, so schwankt der gemessene Wert, abhängig von einer Variation einer relativen Position zwischen der öffnung und dem Rasterpunkt.

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Eine derartige Veränderlichkeit tritt dann kaum auf, wenn eine Abtastlinienanzahl pro bestimmtem Abstand groß ist. Die Veränderlichkeit tritt jedoch oft dann auf, wenn die Abtastlinienanzahl klein ist, beispielsweise bei einem Maß, das zehn Linien pro Zentimeter bei einem gedruckten Bild hat. Ein derartiges Maß oder ein derartiger Maßstab wird auf einer relativ kleinen Fläche wie beispielsweise 5 mm χ 6 mm gedruckt; demgemäß läßt sich das Problem nicht einfach durch Vergrößern des Durchmessers der öffnung oder der Meßfläche beseitigen.

ZUSAMMENPASSUNG DER ERFINDUNG

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Messen einer Halbtonpunkt-Flächenrate oder einer Halbton-Bilddichte mit einem Densitometer oder eine Einrichtung zum Messen der Halbtonpunkt-Fläehenrate zu schaffen, welches Verfahren die zuvor erwähnten Nachteile nicht aufweist, das stabil und zuverlässig ist, und das in der Lage ist, das Messen bei einer weniger großen Fläche (verglichen mit einem screen pitch) durchzuführen.

Weiterhin liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, euch eine Vorrichtung zum Messen einer Halbtonpunktfläche oder einer Kalbtonbilddichte mit einem Densitometer oder mit einer Einrichtung zum Messen der Halbtonpunkt-Flächenrate zu schaffen, welche Vorrichtung frei von den oben genannten Nachteilen ist, welche stabil und zuverlässig ist, und welche wiederum in der Lage ist, bei weniger kleinen Flächen das Messen durchzuführen.

Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß ein von einer Lichtquelle erzeugter Lichtstrahl auf das zu messende Objekt einfallen gelassen wird, daß der Lichtstrahl durch das Objekt hindurch fällt oder reflektiert wird und von einem photoelektrischen Element aufgenommen wird; das erfinduhgsgemäße Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, daß das Bewerten bzw. bezüglich seiner Größe festlegen (weighting) des durch das Objekt hindurchgetretenen oder von diesem reflektierten Lichtstrahles derart gestaltet wird, daß das Gewicht im zentralen Teil groß ist und radial nach dem Umfang hin klein wird, abhängig von dem Hindurch-

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treten durch das Objekt oder von dem Reflektieren an dem Objekt.

Weiterhin wird gemäß der Erfindung das Verfahren ganz entsprechend gestaltet; es wird ein von einer Lichtquelle erzeugter Lichtstrahl auf ein zu messendes Objekt einfallen gelassen und der durch das Objekt hindurchgetretene oder aai Objekt reflektierte Lichtstrahl von einem Photoelement aufgenommen. Die Vorrichtung ist dadurch gekennzeichnet, daß Mittel vorgesehen sind, die ein Bewerten oder Wichten des durch das Objekt hindurchgetretene oder am Objekt reflektierten Lichtstrahles derart vorgenommen wird, daß das Gewicht im zentralen Teil relativ groß sein kann und zum Umfang hin abnimmt, abhängig von dem Maß des Durchtritts oder des Reflektierens durch das Objekt bzw. am Objekt.

Die Erfindung ist anhand der Zeichnung näher erläutert. Darin ist im einzelnen folgendes dargestellt:

Figo 1 zeigt in schematischer Darstellung ein optisches System für einen Übertragungsdichtemesser (transmission densitometer) oder eine Einrichtung zum Messen von Rasterpunktflächenraten. Hierbei zeigt (a) eine herkömmliche Bauart und (b) eine Ausführungsform gemäß der Erfindung.

Fig. 2 zeigt in schematischer Ansicht ein optisches System eines Reflektions-Densitometers oder einer Meßeinrichtung für eine Halbton-Flächenrate. Dabei zeigt (a) einen herkömmlichen Typ; und (b), (c) wesentliche Teile von Typen gemäß der Erfindung.

Fig_β 3 veranschaulicht Dichtewertkurven von Rasterpunkten (halftone dots) mit einem Rasterpitch (screen pitch) von einem Millimeter und einer Rasterpunkt-Flächenrate von 50$, aufgetragen in der vertikalen Achse in Bezug auf einen Öffnungsdurchmesser (Blendendurchmssser) in der horizontalen Richtung. Ausgezogene und gestrichelte Linien bedeuten Positionsverhältnisse zwischen öffnung und Halbton-Punkten, wie jeweils in den Fig. 4 (a) und (b) veranschaulicht.

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Pig. 4 zeigt die Lagenverhältnisse zwischen Blende und Halbton-* dots: (a) Das Zentrum der Blende fällt mit dem Zentrum eines dunklen Teils der Halbtondots zusammen, und (b) das Zentrum der Blende fällt mit dem Zentrum eines hellen Teiles der Halbtondots zusammen.

Fig. 5 zeigt verschiedene charakteristische Gewichtskurven zum Korrigieren von Fehlern der gemessenen Dichtewerte.

Fig. 6 zeigt eine AusfUhrungsform einer Blende mit den in Fig. 5 (a) dargestellten Gewichtscharakteristika.

Fig. 7 zeigt Anordnungen von Blenden in lichtprojektierenden und aufnehmenden Seiten des optischen Systems, wobei das Gewicht vom Zentrum zum Rande hin abnimmt.

BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN

In den Zeichnungen erkennt man in den Fig. la und Ib optische Systeme eines herkömmlichen Transmissions-Densitometers oder eine Einrichtung zum Messen der Halbtonpunkt-Flächenrate, bzw. ein erfindungsgemäßes Transmissions-Densitometer oder eine erfindungsgemäße Einrichtung zum Messen der Halbtonpunkt-Flächenrate.

In Fig. la sieht man eine Lichtquelle 1, beispielswa.se eine Glühbirne, eine erste Kondenserlinse 2, eine Blendenplatte jj mit einer öffnung, aus lichtabschirmendem Material bestehend, ein Objekt 4, das gemessen werden soll, eine Diffusionsplatte 6, die von einer Führung 5 umgeben ist, die ihrerseits verhindert, daß Licht von außen einfällt, eine zweite Kondenserlinse 7* ein Filter zum Korrigieren von Spektralcharakteristika sowie ein photoelektrisches Element 9 wie beispielsweise ein Photoverstärker, der auf einer Lichtachse ausgerichtet ist. Die Blendenkanten der Blendenplatte sind - von der Lichtquelle 1 sich entfernend - konvergierend ausgebildet und derart gestaltet, daß die Lichtenergieverteilung über eine Meßfläche einheitlich ist, ungeachtet der Stärke der Blendenplatte j5»

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Bei diesem AusfUhrungsbeispiel wird der von Lichtquelle 1 erzeugte Lichtstrahl von der ersten Kondenserlinse 2 gebündelt und dann durch die öffnung der Blendenplatte 3 hindurohgeschickt. Die Meßfläche ist durch die öffnung gegeben. Der durch die öffnung hindurchgetretene Lichtstrahl tritt sodann durch Objekt 4 hindurch. Die Lichtenergie des Lichtstrahles nimmt beim Hindurchtreten durch das Objekt 4 ab, je nach der Durchlässigkeit dieses Objektes. Sodann gelangt der abgeschwächte Lichtstrahl zu einem liehtaufnehraenden Teil. Im lichtaufnehmenden Teil sorgt die Führung 5 dafür, daß kein Licht von außen hereinfällt, so daß lediglich der durch die Blende hindurohgetretene Lichtstrahl einfällt. Der Lichtstrahl wird in Diffusionsplatte 6 und einem Raum aus einer hier nicht dargestellten Lichtschildröhre gestreut. Sodann wird der Diffusorlichtstrahl von der zweiten Kondenserlinse 7 gebündelt und es werden seine Spektralcharakteristika von Filter 8 korrigiert. Sodann fällt der korrigierte Lichtstrahl auf das photoelektrische Element 9·

Wie oben erwähnt, wird der photoelektrische Strom, der zur Durch« lässigkeit des Objektes 4 proportional ist, von Fhotoelement 9 aufgenommen. Ist der photoelektrische Strom konstant, so ist die in Photoelement 9 aufgenommene photoelektrische Spannung proportional zur Transmissionsdichte des Objektes 4. Der erhaltene Photoelektrische Strom oder die Spannung wird sodann in eine Halbton-Flächenrate oder eine Halbton-Bilddichte umgewandelt.

In Fig. 2a sind optische Systeme eines herkömmlichen Reflektions-Densitometers oder einer Meßeinrichtung zum Messen der Halbtonpunkt-Flächenrate wiedergegeben, während die Figuren 2b und 2c Reflexions-Densitometer oder Rasterpunkt-Flächenraten-Meßeinrichtungen gemäß der Erfindung d-arstellen.

In Fig. 2a sieht man ein zu messendes Objekt VJ, eine Blendenplatte l6 mit einer öffnung, die dieselbe Gestalt und dieselbe Funktion wie jene gemäß Fig. la hat, die Kondenserlinse 2 und die Lichtquelle 1, eine lichtschirmhülse 15 zum Abschirmen des in Lichtquelle 1 erzeugten Lichtes zwischen Lichtquelle 1 und

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Kondenserlinse 2, eine kegelstumpfförmige Spiegelhülse l8, das Korrekturfilter 8 und das photoelektrische Element 9; diese Elemente sind entlang der Lichtachse derart ausgerichtet, daß Spiegel l8 den Lichtstrahl, der von Lichtquelle 1 auf Objekt YJ einfällt, reflektieren kann, und daß dieser Lichtstrahl sodann von Objekt 17 zum Photoelement 9 über Filter 8 in gleicher Weise wie gemäß der obigen Beschreibung reflektiert wird.

Bei diesem Ausführungsbeispiel wird die Lichtenergie des Lichtstrahles abhängig von der Reflektanz des Objektes dann abgeschwächt, wenn der Lichtstrahl vom Objekt 17 reflektiert wird.

Wie oben beschrieben, erhält man entsprechend der Reflektanz des Objektes 17 (d.h. dessen Reflexionseigenschaft) einen photoelektrischen Strom im photoelektrischen Element 9· Ist der photoelektrische Strom konstant, so ist die im photoelektrischen Element 9 erhaltene Spannung proportional zur Reflexionsdichte von Objekt 17. Auf diese Weise wird der erhaltene photoelektrische Strom oder die Spannung in die Rasterpunktflächenrate oder die Rasterbilddichte umgewandelt, wie oben beschrieben.

Die in- Pig. 3 dargestellten Dichtewertkurven von Halbtonpunkten haben ein Rastermaß (screen pitch) von einem Millimeter und eine Halbton-Punkt-Flächenrate von 50 %. Sie wurden durch Abwandeln des Durchmessers der Blende 3 bzw. 16 erhalten, wobei die Kurve in ausgezogener Linie dann erhalten wird, wenn das Zentrum der Blende mit dem Zentrum eines dunklen Teiles des Halbtonpunktes zusammenfällt, und die Kurve mit gestriahelter Linie daixa erhalten wird, wenn das Zentrum der Blende mit dem Zentrum eines hellen Teiles des Halbtonpunktes zusammenfällt, wie in den Figuren 4a bzw. 4b dargestellt.

Aus Figur J5 läßt sich leicht erkennen, daß der Meßfehler der Halbton-Punktdichte (halftone dot density) periodisch zu Null wird_o Ein Punkt A des Blendendurchmessers, für welchen der Meßfehler null ist, läßt sich als Funktion des screen pitch P in der folgenden Gleichung (l) ausdrücken, worin η eine positive ganze Zahl ist:

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A=Px (n+0.25) (l)

Dies bedeutet folgendes: Werden Halbtonpunkte mit Halbtonpunkt«. Flächenraten von 50 % erzeugt, so liegt eine Gruppe von Blendendurchmesserwerten vor, von welchen das Verhältnis von dunklen und hellen Flächenteilen des Halbtonpunktmusters einheitlich ist.

Werden ferner die Blenden J> oder ΐβ mit einem dieser Durchmesserwerte verwendet, so ist sichergestellt, daß selbst dann, wenn das Zentrum der Blenden nicht mit dem dunklen oder hellen Teil des Halbtons zusammenfällt, die Dispersion der gemessenen Werte sehr klein ist.

Da der Meßfehler der Halbtonpunktdichtewerte periodisch zwischen der positiven und der negativen Seite pendelt, wie in Fig. 3 ersichtlich, wird gemäß der Erfindung zum Steigern der Genauigkeit der Messung ein Wichten des durch das Objekt hindurchgetretenen oder von dem Objekt reflektierten Lichtstrahles derart durchgeführt, daß das Gewicht im wesentlichen im zentralen Teil groß, und im Randbereich radial verringert ist, abhängig von der Dichte, oder der Durchlässigkeit oder der Reflektiereigenschaft des Objektes.

In den Fig. 5a - 5g ist eine Reihe von AusfUhrungsformen von gewichtscharakteristischen Kurven dargestellt, wobei der Durchmesser des Lichtstrahles in horizontaler Achse genommen ist, und wobei der Durchmesser des zentralen Kreisteiles mit dem größten Gewicht und der Durchmesser des Lichtstrahles im folgenden als "ein Innendurchmesser" von "einem Innenkreis" und "ein Außendurchmesser" bezeichnet werden«

Bei der gewichtscharakteristischen Kurve von Fig. 5a ist das Gewicht im Innendurchmesser des Innenkreises am größten, und nimmt zum Außendurchmesser mit null linear ab.

Bei der gewichtscharakteristischen Kurve von Fig. 5b ist das Gewicht im Innendurchmesser des Inn^nkreises am größten, und nimmt

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nicht linear (linear in Bezug auf seinen Dichtewert) zum Außendurchmesser ab, der null hat.

Bei der gewiohtscharakteristischen Kurve von Fig. 5c ist das Gewicht im Zentrum am größten, und wird linear zum Außendurchmesser, der null hat, verringert.

Bei der in Fig. 5d dargestellten Gewichtscharakteristischen Kurve ist das Gewicht im Zentrum am größten, und nimmt exponentiell (entsprechend der Gauss'sehen Normalverteilung) zum Außendurchmesser, der null hat, ab.

Bei der gewichtscharakteristischen Kurve von Fig. 5e ist das Gewicht im Zentrum am größten und nimmt entlang einer Sinuskurve zum Außendurohmesser mit null ab.

Bei der gewichtscharakteristischen Kurve von Fig. 5f ist das Gewicht im Innendurchmesser des Innenkreises am größten, und nimmt stufenweise zum Außendurchmesser mit einem kleinen Wert hin ab.

Bei der gewichtsoharakteristischen Kurve von Fig. 5g ist das Gewicht im Innendurchmesser des Inneren Kreises am größten, nimmt sodann stufenweise um einen kleinen Betrag am Außenumfang des inneren Kreises ab, und verringert sich zum Außendurchmesser hin linear auf einen kleinen Wert.

Die gewichtsoharakteristischen Kurven sind natürlich nicht auf diese Beispiele beschränkt; viele andere Ausführungsformen mit Kombinationen der Gesamtheit aller Merkmale sowie einzelne Merkmale der Beispiele, die oben beschrieben sind, sowie teilweise Modifikationen hiervon, lassen sich gemäß der Erfindung durchführen. - -

Bei einem Densitometer oder einer Meßvorrichtung für die Rasterpunkt-Flächenrate mit einem optischen System der Abtastbauart läßt sich das oben beschriebene Wichten oder Bewerten dadurch ausführen, daß das optische System verändert wird, oder daß ein er-

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haltenes photoelektriaches Signal angezeigt wird, und daß dann das Ausführen des Wichtens des digitalen Signalee entsprechend einer gewichtscharakteristischen Kurve durchgeführt wird, wie jener, die in Fig. 5 veranschaulicht ist, und zwar mittels eines Mikrocomputers oder dergleichen, ohne daß das optische System verändert wird, wobei man die Dichte oder die Flächenrate des Rasterpunktes erhält. Diese Verfahren sind jedoch kostspielig.

Gemäß der Erfindung wird das Wichten grundsätzlich dadurch ausgeführt, daß ein optisches System für ein übliches Densitometer oder eine Meßvorrichtung für eine Rasterpunktfläehenrate verwendet wird. Einige Ausführungsformen des optischen Systemes für das Transmissions- oder Reflexions-Densitometer oder für die Rasterpunkt-Flächenraten-Meßeinrichtung gemäß der Erfindung sind in den Fig. Ib, 7a, Tb, 2b und 2c dargestellt.

In Fig. Ib ist das optische System für das Transmissions-Densitometer gemäß der Erfindung dargestellt, dessen Aufbau ähnlich jenem gemäß Fig. la ist, abgesehen von einer Blendenplatte mit einer öffnung, die eine Lichtschirmplatte 10 mit einer ebenfalls sich verjüngenden Kante 10a aufweist, ferner einer lichtdurchlässigen oder lichtdurchscheinenden Platte 11, die mit der Lichtschirmplatte 10 beschichtet ist, und die aus Plastik oder Glas besteht, In welchem ein lichtdurchlässiges oder lichtdurchscheinendes Material dispergiert ist. Dabei hat Platte 11 eine sich verjüngende öffnung 11a, deren größerer Durchmesser der gleiche wie jener der Platte 10 ist. Die sich verjüngenden Kantenflächen 10a und 11a bilden die öffnung. Die gewichtscharakteristische Kurve dieser öffnung Ist in Fig. 5g dargestellt.

In Fig. β ist eine weitere Ausführungsform einer Blendenplatte 12 gezeigt. Diese hat eine öffnung, wobei eine Mehrzahl dünner, dreieckiger, ausgeschnittener Teile 12a radial an ihrem -zentralen Kreisumfang angeformt sind; die charakteristische Kurve hierfür ist in FIg. 5a dargestellt. Diese Blendenöffnung wird anstelle der öffnung gemäß Fig. Ib verwendet. In der Praxis wird eine Vielzahl von ausgeschnittenen Abschnitten, die dünner als jene gemäß Fig. β sind, gebildet.

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Ein Film nit einer gewichtscharakteristischen Kurve läßt sich dadurch herstellen, daß man hierauf eine Schicht durch Verdampfen aufbringt, durch Ehotografieren oder durch Drucken, so daß die Dicke der Schicht, die Dichte des photografierten Films oder die Dichte des aufgedruckten Films entsprechend sanft übergehend vom Zentrum zum Umfang hin verdickt oder verdünnt werden können.

In Fig. 7a ist ein weiteres optisches System für das Transmissions-Densitometer gemäß der Erfindung dargestellt, und zwar von ähnlichem Aufbau wie jenes gemäß Fig. Ib. Lediglich die öffnung der Blendenplatte 25 ist von der Fläche des Objektes 4 derart entfernt angeordnet, daß die Lichtenergie von dem durch den Lichtstrahl beleuchteten Objekt im kreisförmigen Teil der öffnung am größten ist und zum Umfang hin langsam abnehmen kann.

In Fig. 7b ist ein weiteres optisches System für das Transmission-Densitometer gemäß der Erfindung dargestellt. Dies ist von ähnlichem Aufbau wie jenes gemäß Ib. Es ist jedoch mit einer anderen Öffnungsplatte 26 ausgerüstet, die im wesentlichen denselben Aufbau und dieselben Funktionen wie jene gemäß der Blendenplatte 25 von Fig. hat, die vor der Diffusionsplatte und im Abstand zu dieser angeordnet und einteilig mit der Führung 5 ist. Die öffnung der Blendenplatte 26 arbeitet somit auf dieselbe Weise wie jene der Blendenplatte 25.

In den Fig. 2b und 2c sind wesentliche Teile von anderen optischen Systemen für Reflexions-Densitometer oder Meßeinrichtungen £5r Rasterpunkt-Flächenraten gemäß der Erfindung dargestellt, mit ähnlichem Aufbau wie jenem gemäß Fig. 2a. Bei dem erstgenannten Ausführungsbeispiel hat eine Filmplatte 19 die Gewichtscharakteristi wie in Fig. 5 gezeigt; sie ist in der Nähe der Lichtquelle 1 angeordnet. Bei dem zweitgenannten Ausführungsbeispiel ist eine andere Filmplatte 20 in der Nähe der öffnung der Blendenplatte l6 angeordnet. Werden diese beiden Ausführungsformen gleichzeitig angewandt, so sind die Gewichtscharakteristika mehrfach in Bezug auf die beiden Charakterlstika.

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Im folgenden sollen einige AusfUhrungsbeispiele für die Bestimmung der Größen der inneren und äußeren Durchmesser beschrieben werden.

Was zunächst den Außendurchmesser anbetrifft, so ist es möglich, diesen zu verringern. Im Hinblick ■ uf die Allgemeinheit der- Anwendung sowie auf die bedruckte Fläche von 5 χ 6 mm des Maßes des bedruckten Gegenstandes, so ist ein Bereich von 3 - 5 nun ein meßbares Maß. Sodann wird der Innendurchmesser unter Betrachtung des Unterschiedes zwischen Innen- und Außendurchmesser bestimmt.

Beispiel A:

Ein gemäß Gleichung (l) erhaltener Durchmesser wird annähernd auf das Mittelmaß des zu bestimmenden Innen- und Außendurchraessers eingestellt und sodann werden relativ kleine, positive und negative Abweichungswerte sauber ausgewählt, wobei Innen- und Außendurchmesser bestimmt werden. Nimmt man beispielsweise an, daß das maximale screen pitch ein Millimeter ist (10 Abtastlinien pro Zentimeter), so erhält man, wenn η = 4 ist, 4,25 mm gemäß Gleichung (l). Sodann werden die positiven und die negativen Abweichungswerte mit 0,25 mm ausgewählt, wobei man den Innendurchmesser mit 4mm und den Außendurchmesser mit 4,5 mm erhält. PtIr den positiven und den negativen Abweichungswert müssen nicht dieselben Werte ausgewählt werden.

Beispiel B:

Zunächst wird der Außendurchmesser bestimmt, wobei die mechanischen Beschränkungen gemäß obiger Beschreibung zu berücksichtigen sind. Sodann wird der Innendurchmesser derart ermittelt, daß die Differenz zwischen Innen- und Außendurchmesser 2n ist, worin η = 1, 2, 3 ... ist, so daß der positive und der negative Fehler gegeneinander aufgehoben werden. Nimmt man beispielsweise an, daß der maximale screen pitch ein Millimeter ist (zehn Abtastlinien pro Zentimeter), so wird der Außendurchmesser mit 4,5 mm bestimmt, sodann wird der Innendurchmesser mit 2,5 nun bestimmt, so daß die Differenz zwischen Innendurchmesser und Außendurchraesser zx^ei Mal so groß wie der screen vX&fflk ej-^V η 7 ft 9

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Beispiel C:

Zunächst wird der Außendurchmesser bestimmt, unter Berücksichtigung der oben erwähnten mechanischen Beschränkungen. Sodann wird der Innendurchmesser derart bestimmt, daß die Differenz zwischen Innen- und Außendurchmesser mehr als das Fünf- bis Sechsfache des screen pitch ist, so daß der Einfluß der Fehler auf ein Minimum verringert wird, und zwar selbst dann, wenn der positive und der negative Fehler nioht völlig eliminiert werden. Werden beispielsweise Außen- und Innendurchmesser mit 4,5 bzw. 2,5 mm bestimmt, ähnlich der gemäß·Beispiel B durchgeführten Art, so ist unter der Annahme, daß der screen pitch 0,391 Millimeter (25,6 Abtastlinien pro Zentimeter) ist, die Differenz von 2 mm zwischen den beiden Durchmessern mehr als das Fünffache des screen pitch. Nimmt man ferner an, daß der screen.pitch 0,254 mm ist (39,4 Abtastlinien pro Zentimeter), so ist die Differenz von 2 nim zwischen den beiden Durchmessern weniger als das Achtfache des screen pitch.

Die Meßergebnisse der Dichte des Rasterpunktes mit der Rasterpunktflächenrate von 50 % gemäß der Erfindung sind in der folgenden Tabelle enthalten, wobei gleichzeitig die Werte gemäß herkömmlichen Verfahrens aufgeführt sind.

In der Tabelle ist der Außendurchmesser beim herkömmlichen Verfahren 4,5 mm; beim vorliegenden Verfahren wird die gewichtscharakteristische Kurve gemäß Fig. 5a angewandt und betragen der Innendurchmesser 4,0 und der Außendurchmesser 4,5 mm.

Tabelle

screen pitch I mm 0,391 nun

(10 Linien/cm) (25,6 Linien/cm)

max.' min. max. ' min.

Herkömml. Verfahren

Außendurchmesser 0,318 0,285 0,304 0,298

Vorliegend. Verfahren

Innendurchmesser

4,0 mm 0,302 0,300 0,303 0,299

Außendurchmesser

4,5 mm 130067/0789

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(Die Dichte eines Rasterpunktes mit einer Rasterpunkt-Flächen rate von 50 # beträgt 0,301).

Es versteht sich aus dieser Tabelle, daß die Meßfehler gemäß der Erfindung kleiner als jene gemäß dem herkömmlichen Verfahren sind.

Unter der hier verwendeten Ausdrucksweise "screen pitch" wird "Rasterpunktabstand" oder einfach "Rasterabstand" verstanden; statt "Rasterbilddichte" kann auch der Ausdruck "Rasterbildeinfärbung" verwendet werden.

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Claims

Anwaltsakte: P + G 670 Dainippon Screen Seizo K.K.

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PATENTANSPRÜCHE

1. Verfahren zum Messen einer Rasterpunkt-Flächenrate (halftone dot area rate) oder einer Rasterbilddichte (halftone picture density) in einem Densitometer oder in einer Einrichtung zum Messen von Rasterpunkt-Flächenraten, wobei ein von einer Lichtquelle erzeugter Lichtstrahl auf ein zu messendes Objekt einfällt und der durch das Objekt hindurchgetretene oder an diesem reflektierte Lichtstrahl von einem photoelektrischen Element aufgenommen wird, dadurch gekennzeichnet, daß das Wichten (Erfassen, Bemessen) des Lichtstrahles, der durch das Objekt hindurchgetreten bzw. an diesem reflektiert ist, derart durchgeführt wird, daß das Gewicht in seinem zentralen Bereich im wesentlichen groß ist und radial zu seinem Umfang hin abnimmt, abhängig von der Durchlässigkeit durch bzw. von der Reflexion am Objekt.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Gewichten unter Anwendung einer Blendenplatte mit einer Blendenöffnung durchgeführt wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Gewichten unter Anwendung einer Filmplatte mit einer Gewichtscharakteristik durchgeführt wird.

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4. Vorrichtung zum Messen einer Rasterpunkt-Fläehenrate (halftone dot area rate) oder einer Rasterbilddichte (halftone picture density) in einem Densitometer oder einer Einrichtung zum Messen von Rasterpunktflachenraten, wobei ein Lichtstrahl, der von einer Lichtquelle erzeugt ist, auf ein zu messendes Objekt einfällt und der Lichtstrahl, der durch das Objekt hindurchgetreten oder von dem Objekt reflektiert wurde, in einen photoelektrischen Element aufgefangen wird, gekennzeichnet durch Mittel, die ein Gewichten (Bewerten, Pestlegen) des durch das Objekt hindurchgetretenen oder vom Objekt reflektierten Lichtstrahles durchführen, so daß das Gewicht in seinem zentralen ■ Bereich im wesentlichen groß ist und gegen seinen Umfang hin radial abnimmt, abhängig von der Durchlässigkeit durch das Objekt oder der Reflexion vom Objekt.

5« Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Gewichten unter Anwendung einer Blendenplatte mit einer Blendenöffnung durchgeführt wird.

6. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Gewichten unter Anwendung einer Filmplatte mit Gewiehtscharakteristika durchgeführt wird»

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