CZ301842B6

CZ301842B6 - Merení tlouštky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu a optický kalibr

Info

Publication number: CZ301842B6
Application number: CZ20060406A
Authority: CZ
Inventors: Dohnal@Miroslav
Original assignee: Fakulta chemicko-technologická
Priority date: 2006-06-21
Filing date: 2006-06-21
Publication date: 2010-07-07
Also published as: CZ2006406A3

Abstract

Merení tlouštky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu spocívá v tom, že se merí svetelná propustnost (T) transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu a jednak kontinuálne se menící svetelná propustnost (T.sub.e.n.) transparentní mikrovrstvy stejného materiálu, mající známou a kontinuálne se menící tlouštku, umístenou v optickém kalibru, pricemž porovnáním svetelné propustnosti (T) transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu se shodnou svetelnou propustností (T.sub.e.n.) známé tlouštky transparentní mikrovrstvy stejného materiálu v optickém kalibru se stanoví tlouštka transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu. Optický kalibr (7) je optický lineární klín (13) nebo optický sférický klín (12) tvorený prvním skleneným clenem, na kterém je nanesena barvová mikrovrstva (8) vytvorená priložením príslušne tvarovaného druhého skleneného clenu na první sklenený clen, pricemž barvová mikrovrstva (8) má exaktní definicí kontinuálne se menící tlouštky.

Description

Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu a optický kalibr

Oblast techniky

Vynález se týká optických měřicích metod měření tloušťky transparentních mikrovrstev materiálu, zejména tiskových barev na transparentním substrátu a optického kalibru.

Dosavadní stav techniky

Tloušťka barvové mikrovrstvy je jedním z parametrů rozhodujících o kvalitě tisku. Z technologie ofsetového tisku je známo, že pro dokonalé vybarvení výtisku musí být dosaženo předepsaných i5 optických hustot barevných ploch - separací CMYK (cyan, magenta, yellow, black). Zvětšováním tloušťky barvové mikrovrstvy její optická hustota postupně narůstá a je největší při plné saturaci barvy. Další zvyšování tloušťky barvy kvalitu výtisku nezlepšuje ba naopak, zvyšuje výrobní náklady a prodlužuje dobu zasychání barvy.

2ϋ V současné době se vyhodnocuje tloušťka barvové mikrovrstvy denzitometry, kdy intenzita odraženého světla od plné barevné plochy se měří přes zařazený filtr doplňkové barvy, např. žlutá barva přes modrý filtr. Je-li mikrovrstva barvy velmi tenká, světlo pres ni prochází, odráží se od bílého substrátu (papíru) a vrací se zpět stejnou cestou přes filtr doplňkové barvy a dopadá na ťotocitlivý senzor denzitometru. Při dostatečné tloušťce mikrovrstvy se bílé světlo od substrátu neodráží a jeho intenzita je téměř nulová. Pro optickou hustotu barvové mikrovrstvy platí vztah D - log(lo / I), kde Iq I jsou intenzity světla odraženého od referenčního bílého substrátu a od barvové mikrovrstvy, v obou případech měřené přes daný barevný filtr. Z principu metody vyplývá, že je velmi nepřesné, ne-li nemožné, měření tloušťky barvové mikrovrstvy na substrátu přibližně stejné barvy, např. tisk žluté barvy na oranžový papír. Výsledkem měření je jen zjištění, jo zdaje mikrovrstva barvy dostatečně silná.

Světelná propustnost T mikrovrstvy je zpravidla popsána Lambertovým - Beerovým zákonem, T = I / ío = 10 ^NoL, kde I, Io jsou intenzity světla propuštěného a dopadajícího, N je koncentrace absorbujících částic, σ je absorpční průřez a L je absorpční délka. Pro optickou hustotu mikro35 vrstvy pak můžeme psát D = log( 1/T) - NoL. Tento zákon však platí jen tehdy, dochází-li k absorpci fotonů na úrovni molekul, atomů. Tiskové barvy však mohou obsahovat pigmentové částice, které jsou mnohem větší, vzájemně se zastiňují a uvedený zákon neplatí.

Další metoda měření tloušťky barvové mikrovrstvy je založena na zjištění váhy odebrané barvy z válečku potiskovacího stroje. Na tomto stroji se vytiskne barevný pruh o Šířce cca 15 mm a délce 100 mm. Zjistí se váha válečku s barvou před a po tisku. Diference váhy odpovídá váze barvy přenesené na potištěný substrát. Při známé objemové hustotě barvy a ploše potištěného substrátu lze vypočítat střední tloušťku barvové mikrovrstvy. Měřicí metoda je integrální.

Podstata vynálezu

Uvedené nedostatky odstraňuje měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu podle vynálezu, který spočívá v tom, že se měří světelná propustnost (T) transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu a jednak kontinuálně se měnící světelná propustnost (T_e) transparentní mikrovrstvy stejného materiálu, mající známou a kontinuálně se měnící tloušťku, umístěnou v optickém kalibru, přičemž porovnáním světelné propustnosti T transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu se shodnou světelnou propustností (T_e) známé tloušťky transparentní mikrovrstvy stejného materiálu v optic- 1 CZ 301842 B6 kém kalibru se stanoví tloušťka transparentní mi kro vrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu.

Transparentní mikrovrstva materiálu nanesená na transparentním substrátu je tiskem přenesená barva.

Světelné propustnosti (T, T_e) se měří jako intenzity světelných toků propuštěných transparentní mikrovrstvou materiálu naneseného na transparentním substrátu a optickým kalibrem, v němž je umístěna transparentní mikrovrstva s kontinuálně se měnící tloušťkou.

Intenzity světelných toků se určují z expozice fotocitlivého materiálu světlem, prostupujícím transparentní mikrovrstvou materiálu naneseného na transparentním substrátu a optickým kalibrem v němž je umístěna transparentní mikrovrstva s kontinuálně se měnící tloušťkou, jehož optická hustota se po vyvolání měří.

Pro srovnávací měření transparentních mikrovrstev materiálu nanesených na transparentním substrátu se používá tloušťkoměr sestávající z osvětlovací soustavy, zařízení schopného měřit světelný tok, kde osvětlovací soustavu tvoří světelný zdroj, který je umístěn v ohnisku kondenzoru, a z křížového stolku s možností křížového mikroposuvu ve směru kolmém na optickou osu tloušť20 koměru, mezi osvětlovací soustavou a zařízením. Zkoumaná transparentní mikrovrstva materiálu naneseného na transparentním substrátu nebo optický kalibr s barvovou mikrovrstvou jsou umístěny na stolku.

Optický kalibr je optický lineární klín tvořený prvním členem, na kterém je nanesena klínová barvová mikrovrstva vytvořena přiložením příslušně tvarovaného druhého členu na první člen, přičemž klínová barvová mikrovrstva má exaktně stanovenou kontinuálně se měnící tloušťku nebo optický sférický klín tvořený prvním členem, na kterém je nanesena sférická barvová mikrovrstva vytvořena přiložením příslušně tvarovaného druhého členu na první člen, přičemž sférická barvová mikrovrstva má exaktně stanovenou kontinuálně se měnící tloušťku.

Vnější plocha druhého členu optického sférického klínuje opatřena netransparentní vrstvou tak, že vymezuje tri stejně široké transparentní štěrbiny s konstantní roztečí.

Zařízením schopným měřit světelný tok je zde fotometr nebo filmový materiál. Fotometr sestává z objektivu, mikrometricky stavitelné štěrbiny a fotosenzoru.

Tloušťkoměr transparentních mikrovrstev v na transparentním substrátu podle vynálezu měří světelnou propustnost T materiálu, například barvové mikrovrstvy, kteráje tiskem přenesena na transparentní substrát a světelnou propustnost T_e(v) optického kalibru s tímtéž materiálem (bar40 vou). Optickým kalibrem tloušťky mikrovrstvy je sférický nebo lineární optický klín. Obě světelné propustnosti T a T_e(v) lze měřit mikrofotometrem nebo denzitometricky na vyvolaném a ustáleném negativním (diapozitivním) filmu, který byl exponován průchodem světla je přes zkoumanou mikrovrstvu barvy na substrátu, tak přes optický kalibr s barvou. Vzájemným porovnáním světelných propustností T mikrovrstvy barvy a T_e(v) optického kalibru je dostatečně přesně stanovena tloušťka mikrovrstvy v na potištěném substrátu.

Tloušťkoměr transparentních mikrovrstev v na transparentním substrátu podle tohoto vynálezu nedostatky výše uvedených metod odstraňuje a lze jím měřit tloušťky mikrovrstev v diskrétních místech jednobarevného výtisku, např. v tiskových bodech jednotlivých tiskových technologií 50 ofset, flexotisk, hlubotisk, inkoustový tisk a podobně.

Přehled obrázků na výkrese

Obr. 1 znázorňuje tloušťkoměr s fotometrem.

-2CZ 301842 B6

Obr. 2 znázorňuje optický sférický klín

Obr. 3 znázorňuje optický lineární klín.

Obr. 4 znázorňuje optický klín a zkoumaný vzorek na fotocitlivém materiálu

Obr, 5 znázorňuje průběh intenzit světla procházejícího štěrbinami optického klínu při jeho excentrickém nastavení vůči fotometru a nalezení souřadnice x o.

Příklad provedení vynálezu

Tfoušťkoměr pro měření tloušťky mikrovrstvy ]8 barvy potištěného transparentního substrátu, zobrazený na obr. 1, sestává ze světelného zdroje 4, kondenzoru 5, křížového stolku 6, optického kalibru 7 tloušťky mikrovrstvy. Na obr. 1 je znázorněn optický kalibr 7 s optickým sférickým klínem 12 a s planparalelní transparentní destičkou j_5, na obr. 2 je znázorněn optický kalibr 2 s optickým sférickým klínem J_2 a na obr. 3 je optický kalibr s optickým lineárním klínem 13 s kontinuální a matematicky popsanou tloušťkou v(x) barvové mikrovrstvy 8. Ve všech uvedených případech závisí velikost tloušťky vrstvy v(x) na radiální vzdálenosti x od bodu dotyku ploch klínů. Bílé světlo je kondenzorem 5 koncentrováno do optického kalibru 7, prochází barvovou mikrovrstvou 8 přes objektiv 9, stavitelnou štěrbinu 10 a odpadá na fotosenzor mikrofotometru Η.·

Optický kalibr 7 uchycený na křížovém stolku 6 mikrofotometru se kontinuálně posouvá a zesílený fotoproud úměrný světlené propustnosti T barvové mikrovrstvy 8 ovládá pohyb hrotu nezakresleného zapisovače s plynulým posuvem papíru. Stejný postup se opakuje s uchyceným substrátem Π nesoucím mikrovrstvu 18 barvy, znázorněné na obr. 4.

Provedení se sférickým klínem

a) optický kalibr 2 není opatřen propustnými štěrbinami 1, 2, 3.

Sférický klín Γ2 dle obr, 2 je pevně fixován ke křížovému stolku 6 tak, že jeho optická osa je v koincidenci s osou objektivu 9 mikrofotometru H- Posuv klínu 12 v horizontálním nebo vertikálním směru je exaktně svázán s posuvem papíru v nezakresleném zapisovači. Zesílený fotoproud ovládá výchylku pisátka, a tím je zapsána závislost intenzity světelného toku na tloušťce měřené mikrovrstvy 8. Porovnáním světelných propustností T, respektive intenzit I světelných toků procházejících mikrovrstvou 18 barvy a sférickým klínem 12 stanovíme tloušťku mikrovrstvy 18. Před porovnáním intenzity I propuštěného světelného toku mikrovrstvou 18 barvy je nutné odečíst vliv propustnosti T vlastního substrátu Γ7 a optického kalibru 2 bez barvy.

b) optický kalibr 7, znázorněný na obr. 4, je opatřen propustnými štěrbinami 1, 2 a 3

Sférický klín 12 je na své vnější ploše opatřen netransparentní vrstvou H se třemi propustnými štěrbinami L 2 a 3, které slouží k přesnému výpočtu maximální intenzity Io světelného toku v bodě kontaktu optických ploch sférického klínu 12. Bod kontaktu leží ve vzdálenosti xq od osy optického kalibru 7 a v tomto bodě sférického klínu 12 je tloušťka barvové mikrovrstvy 8 nulová. Tím je velmi usnadněno měření, protože není nutné zajistit koincidenci optických os sférického klínu 12 a štěrbiny 2 jako v předchozím případě a). Je tím zcela vyloučena nepřesnost v nastavení osy sférického klínu J_2 při měření. Štěrbiny j., 2, a 3 jsou vyrobeny např. vakuovým napařením kovu na vnější straně optického sférického klínu J2. Mají stejnou šířku a konstantní rozteč. Maximální intenzity Ij, L a T světelných toků naměřené ve štěrbinách i, 2 a 3 poslouží k výpočtu maximální intenzity světelného toku I_Q v ose sférického klínu 12. Tím se značně zjednodušuje poloha fixace sférického klínu 12 ke křížovému stolku 6 mikrofotometru J_l, aniž by došlo ke ztrátě přesnosti měření. Optický sférický klín 12 zaplněný zkoumanou barvou je ke křížovému stolku 6 mikrofotometru J_L pevně fixován a postupně jsou proměřeny intenzity Ii , L a l· procházejících světelných toků v podélném směru štěrbin i, 2 a 3. Poměry, které nastanou při excentrickém nastavení sférického klínu 12 jsou znázorněny na obr. 5.

-3CZ 301842 B6

Matematické odvození absolutně největší intenzity Ig světelného toku pro nulovou tloušťku vrstvy y spočívá v interpolaci intenzit b, b a b světelných toků kvadratickým polynomem (aproximační parabolou) a nalezení souřadnice Xo pro polohu maxima, viz obr. 5. Nepřesnost měření vzdálenosti Xo ve směru vertikálním byla už vyloučena stanovením lokálních maximálních intenzit li, L a L světelných toků ležících v rovině rovnoběžné s horizontální osou x. Fotometrickým měřením zjistíme závislost intenzity 1 propuštěného světelného toku na tloušťce v barvové mikrovrstvy 8 v optickém kalibru 7.

io Vzdálenost Xo - polohu středu, a tedy kontaktního bodu ploch sférického klínu 12, (v němž je tloušťka barvové mikrovrstvy 8 nulová), nalezneme z polohy maxima aproximační paraboly, která prochází vrcholy zjištěných intenzit I, světla ve štěrbinách i, 2, 3, umístěných ve vzdálenostech x, vůči referenčnímu bodu na stolku 6.

Koeficienty aproximační paraboly a, b, c, nalezneme řešením soustavy tří rovnic:

axj² + bxj + c = I_Í5 i = 1,2, 3 kde I, jsou maximální intenzity světelného toku v souřadnicích x, štěrbin,

Pro vzdálenost xg, kde se nachází maximální hodnota intenzity I_Q světelného toku, a tedy tloušťka vrstvy v = 0, dostaneme xg = -b/2a. Maximální hodnota intenzity Io propuštěného světelného toku potom bude:

l₀ = axo² + bxo + c = -b²/4a + c

Z průběhu intenzity, např. b světelného toku podél štěrbiny 2 ve vzdálenosti X2 od místa kontaktu optických ploch klínu 12 stanovíme závislost intenzity I(v) světelného toku na tloušťce v mikrovrstvy 8.

Při návrhu sférického klínu vyjdeme z obr. 2. Pro tloušťku sférického klínu j2 platí:

V = y, - y₂ = (R₂ ² - X²)¹'² - (R|² - x²)¹'² + (R, - R₂)

Za platnosti x/R₂ « 1 a x/R₍« 1 můžeme přibližně psát:

v = 0,5 x' (1/R, - 1/R₂)

Kvalitu vyrobeného sférického optického kalibru 7 lze stanovit pomocí interferenčních kroužků.

Bude-li maximální šířka na obvodě specifické štěrbiny Vm rovna k vlnových délek λ, pak pro průměr sférického klínu 12 platí: d = [8kÁ/(l/R₁- l/R₂)]^lz\ to znamená, že sférický optický kalibr 7 se vzduchovou mezerou bude mít na světle k interferenčních kroužků.

Volíme: k = 20 kroužků, střední vlnová délka λ = 500 nm, (to znamená, že v^, = 10 pm), průměr sférického klínu 12 je d = 20 mm. Potom vypočtené poloměry kontaktních ploch jsou

Ri 196 mm, = 204 mm.

Tloušťka barvové vrstvy 8 je kolem 1 až 2 pm a navržený optický kalibr 7 je vyhovující.

Jednou částí sférického klínu 12 může být rovinná planparalelní transparentní destička j_5, zná55 zorněná na obr. 1. To znamená, že poloměr její křivosti R2 ->oo,

-4CZ 301842 B6

c) Provedení s optickým lineárním klínem.

Při měření tenkých vrstev je nutné odečíst vliv světelné propustnosti T samotného optického kalibru 7 - optického lineárního klínu 13.

Optický kalibr je tvořen lineárním klínem ]3 podle obr. 3. Lineární klín 13 je vytvořen mezi dvěma transparentními skleněnými vyleštěnými destičkami, přičemž jedna je planparalelní, druhá je vyleštěna pod úhlem $. Tento úhel je určen maximální tloušťkou v^ zkoumané barvové mikio rovrstvy 8 a délkou skosení L optického klínu. Pro úhel klínu platí vztah: tg(q>) = kk/L = Vn/L.

Například pro v^ = 5 μηι. λ = 500 nm, L - x_m - 20 mm, k = 10 interferenčních proužků bude

Q = 0,86' (obloukové minuty).

Optický lineární klín 13 zaplníme zkoumanou barvou a fixujeme ke křížovému stolku 6 tak, aby vrcholová hrana lineárního klínu 13 byla rovnoběžná s vertikální osou. Křížový stolek 6 se posouvá v horizontálním směru a etalon 13 je prosvětlován bílým světlem přes lineárně rostoucí tloušťku barvové mikrovrstvy 8. Mikrofotometrem J_1 bude registrována a zapisovačem zapsána závislost intenzity světelného toku I(v) na tloušťce v. Tloušťka v mikrovrstvy 8 lineárního optického klínuje určena vztahem v = x tg(tp), kde v je tloušťka mikrovrstvy 8, x je vzdálenost měřená od optického kontaktu obou ploch optic25 kého lineárního klínu, Q je úhel optického lineárního klínu 13. Geometrické rozměry klínů se volí se zřetelem k maximální tloušťce v_rT_, vrstvy barvy.

d) Provedení s expozicí fotocitlivého filmu.

Na fotocitlivý materiál 16 je současně umístěn sférický klín J_2 nebo lineární klín J_3 vyplněný zkoumanou barvou a toutéž barvou potištěný substrát 17· Světelný tok prochází optickým kalibrem 7 s barvovou mikrovrstvou 8 a současně potištěným substrátem 17 s mikrovrstvou j_8 barvy, přičemž exponuje fotocitlivý materiál 16, viz obr. 4. Po jeho vyvolání a ustálení obdržíme negativ nebo diapozitiv fotocitlivého materiálu 16 s proměnnou optickou hustotou (denzitou). Foto35 citlivý materiál 16 proměříme mikrofotometrem H. nebo po jeho skenování vyhodnotíme optickou hustotu na počítači. Optickým hustotám fotocitlivého materiálu 16 exponovaného pod štěrbinami 1, 2 a 3 je přesně přiřazena tloušťka barvové mikrovrstvy 8.

Potištěný substrát 17 je transparentní, nebo alespoň průsvitný. V případě potištěného papíru zlep40 šíme jeho průsvitnost ponořením do vody nebo oleje (silikonový, parafinový, apod.) a teprve poté provedeme expozici fotocitlivého materiálu 16. Jedinou podmínkou je, aby olej chemicky nereagoval nebo nerozpouštěl mikrovrstvu J_8 barvy.

Optická hustota substrátu 17 působí jako šum pozadí a musíme ji od výsledné optické hustoty odečíst. Porovnáním optických hustot zpracovaného fotocitlivého materiálu 16 pod štěrbinami 1, 2, a 3 a pod barvovou mikrovrstvou 8 (po výše uvedené korekci na optickou hustotu substrátu) stanovíme tloušťku mikrovrstvy J_8 barvy. Stejným optickým hustotám odpovídají stejné tloušťky mikrovrstvy 8 i mikrovrstvy 18 barvy.

Tloušťku y« suché mikrovrstvy j_8 barvy na substrátu 17 zjistíme jiným experimentem. Silná mokrá mikrovrstva J_8 barvy o tloušťce v₂ (1 mm) se po vysušení smrští na tloušťku y_M. Pro jejich podíl platí k - vjv_o. Touto konstantou vynásobíme tloušťku v mikrovrstvy 18 barvy naměřenou tloušťkoměrem podle vynálezu, a tím určíme tloušťku v« suché mikrovrstvy na substrátu 17.

-5CZ 301842 B6

Průmyslová využitelnost

TlouŠťkoměr transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu nalezne uplatnění zejména 5 v polygrafickém průmyslu, kdy je zkoumána interakce barva-papír, při analýze vrstev polymerních, ochranných, barvových, lakových a všude tam, kde se vyžaduje znalost tloušťky transparentní mikrovrstvy na průsvitném substrátu.

Claims

PATENTOVÉ NÁROKY

15 1. Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu, vyznačující se tím, že se měří světelná propustnost (T) transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu a jednak kontinuálně se měnící světelná propustnost (T_e) transparentní mikrovrstvy stejného materiálu, mající známou a kontinuálně se měnící tloušťku, umístěnou v optickém kalibru, přičemž porovnáním světelné propustnosti (T) transparentní mik20 rovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu se shodnou světelnou propustností (T_e) známé tloušťky transparentní mikrovrstvy stejného materiálu v optickém kalibru se stanoví tloušťka transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu.
2. Měření podle nároku 1, vyznačující se tím, že transparentní mikrovrstva mate25 riálu nanesená na transparentním substrátu je tiskem přenesená barva.
3. Měření podle nároku 1, vyznačující se tím, že se světelné propustnosti (T, T_e) měří jako intenzity světelných toků propuštěných transparentní mikrovrstvou materiálu naneseného na transparentním substrátu a optickým kalibrem, v němž je umístěna transparentní mikro30 vrstva s kontinuálně se měnící tloušťkou.
4. Měření podle nároků 1 a 2, vyznačující se tím, že se intenzity světelných toků určují z expozice fotocitlivého materiálu světlem, prostupujícím transparentní mikrovrstvou materiálu naneseného na transparentním substrátu a optickým kalibrem v němž je umístěna

35 transparentní mikrovrstva s kontinuálně se měnící tloušťkou, jehož optická hustota se po vyvolání měří.
5. Optický kalibr pro srovnávací měření transparentních mikrovrstev materiálu nanesených na transparentním substrátu pomocí tloušťkoměru sestávajícího se z osvětlovací soustavy, zařízení

4ϋ (11) schopného měřit světelný tok, kde osvětlovací soustavu tvoří světelný zdroj (4), který je umístěn v ohnisku kondenzoru (5), a křížového stolku (
6) s možností křížového mikroposuvu ve směru kolmém na optickou osu (21) tloušťkoměru, mezi osvětlovací soustavou a zařízením (11), přičemž zkoumaná transparentní mikrovrstva (18) materiálu naneseného na transparentním substrátu (17) nebo optický kalibr (7) s barvovou mikrovrstvou (8) jsou umístěny na stolku (6),

45 vyznačující se tím, že optický kalibr (7) je optický lineární klín (13) tvořený prvním členem, na kterém je nanesena klínová barvová mikrovrstva (8) vytvořena přiložením příslušně tvarovaného druhého členu na první člen, přičemž klínová barvová mikrovrstva (8) má exaktně stanovenou kontinuálně se měnící tloušťku.

50 6. Optický kalibr pro srovnávací měření transparentních mikrovrstev materiálu na transparentním substrátu pomocí tloušťkoměru sestávajícího se z osvětlovací soustavy, zařízení (11) schopného měřit světelný tok, kde osvětlovací soustavu tvoří světelný zdroj (4), který je umístěn v ohnisku kondenzoru (5), a křížového stolku (6) s možností křížového mikroposuvu ve směru kolmém na optickou osu (21) tloušťkoměru, mezi osvětlovací soustavou a zařízením (11), při55 čemž zkoumaná transparentní mikrovrstva (18) materiálu naneseného na transparentním sub-6CZ 301842 B6 stratu nebo optický kalibr (7) s barvovou míkrovrstvou (8) jsou umístěny na stolku (6), vyznačující se tím, že optický kalibr (7) je optický sférický klín (12) tvořený prvním členem, na kterém je nanesena sférická barvová mikrovrstva (8) vytvořena přiložením příslušně tvarovaného druhého členu na první člen, přičemž sférická barvová mikrovrstva (8) má exaktně

5 stanovenou kontinuálně se měnící tloušťku.
7. Optický kalibr podle nároku 6, vyznačující se tím, že vnější plocha druhého členu optického sférického klínu (12) je opatřena netransparentní vrstvou (14) tak, že vymezuje tři stejně Široké transparentní štěrbiny (1, 2 a 3) s konstantní roztečí.