DE309530C

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Publication number: DE309530C
Application number: DENDAT309530D
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Description

PATE N ΤΑΜ

KAISERLICHES

Die Erfindung betrifft einen Detektor für elektromagnetische gellen, dessen Bauart eine genau kontrollierbare Einstellung der den wellenempfindlichen Kontakt bildenden Organe bei sehr geringen Abmessungen gestattet und die Eigenschaft besitzt, daß die einmal bestimmte Kontaktstelle und Wellenempfindlicb_- keit dauernd bestehen bleibt. Der Detektor gehört zu den unregulierbaren Kristalldetektoren und besteht aus einer Patrone, in deren Innerem der wellenempfindliche Kontakt sich befindet. Die Patrone besitzt jedoch sehr ge-

,.: ringe.Abmessungen (etwa 15 mm Länge bei etwa 5 mm Durchmesser), so daß mehrere (etwa; acht) Petronen zu einem verstellbaren Satz vereinigt werden können, 'der auf dem Sockel eines Stekers Platz hat und eine Aus-

.-,,,, wechslung der Patronen im Detektorkreis ohne Zeitverlust auszuführen erlaubt.

Die Bauart des Detektors, durch welche diese Ausbildung ermöglicht ist, besteht darin, daß innerhalb der patronenförmigen Schutz-

_s , hülse ein Kristall und ein mit seiner Spitze dagegen anliegender federnder Draht auf

einem Jialbzylindrischen Fortsatz des Gewindezapfens der Patrone, mit dem diese in den Patronenhalter eingeschraubt wird, derart , angeordnet sind, daß der Draht parallel zur Patrohenachse liegt und j sich mit seinem um-

3°' gebogenen Ende auf den in dem erwähnten Fortsatz eingebetteten Kristall stützt. Diese Anordnung schafft eine bequeme Zugänglichkeit des Kristalls für die Äusmittlung der empfindlichsten Kontaktstelle, indem diese Äusmittlung ,unter dem Objektiv eines Mikroskops geschehen kann, das seitlich auf die von der Schutzhülse befreite Patrone gerichtet wird. Nach dieser Einstellung wird zwecks unverrückbarer Befestigung der Kontaktteile aneinander ebenfalls unter dem Mikroskop ein kleiner Tropfen aus erhärtendem Isolierma- _; teriäl, wie Schellack, Bleiglätte u. dgl., auf den Kristall und die Drahtspitze gebracht. Zufolge seiner Kleinheit ist der so hergestellte Kontakt keinen zerstörbaren Massenwirkungen ausgesetzt und bleibt dauernd gut, wozu die geringe Masse und die Federung des Kontaktdrahtes wesentlich beiträgt. Die Erfindung betrifft weiter die Einrichtungen, um die Fläche des kleinen Kristalls (etwa 1 bis 2 qmm) punktweise unter dem Mikroskop _:: durch planmäßiges Hin- und Herführen der Drahtspitze auf ihre Empfindlichkeit zu untersuchen, wofür ein geeignet angeordnetes Führungshebelsystem benutzt wird.

Auf der Zeichnung ist in Fig. 1 und 2 die auf dem Tische des Mikroskops angebrachte Einstellvorrichtung in Seiten- und Öberansicht, in Fig. 3 die mikroskopisch vergrößerte Kontaktstelle und in Fig. 4 und 5 in vergrößertem Maßstabe die Patrone dargestellt, deren natürliche Größe die Fig·. 6 veranschaulicht. Fig. 7 und 8 zeigen den aus einem Patronenmagazin bestehenden Detektorsatz, der als ein einheitlicher Apparat benutzt wird. ^

Die Detektorpatrone (Fig"· 4, 5, ,6) besteht aus einem Gewindezapfen α für die Hülse b, der sich einerseits in den Gewindezapfen g,, andererseits in den Ansatz α* fortsetzt. Im letzteren ist der Kristall k gelagert, während der Draht v, der durch den aus Isoliermasse bestehenden Tropfen i mit dem Kristall k ver-

bunden ist, durch eine Isolierbuchse ζ des Zapfens g bis zu einem Kontaktstift ί geführt ist. Mit dem Gewinde g wird die Patrone in die um 3 drehbare Scheibe 7 (Fig. 7, 8) des Patronenhalters eingeschraubt. Die Stifte ^ der Patrone berühren nacheinander die Kontaktfeder 8, wenn die Scheibe gedreht wird, was mittels des durch einen Ausschnitt 10 der Schutzhülse 9 hervortretenden geriffelten Scheibenrandes (der aus Isoliermaterial besteht) geschieht. Auf diese Weise kann jeder Detektor zwischen die beiden Steckstifte 11, 12 geschaltet werden. Das ganze Magazin von acht Patronen hat, wie ersichtlich, auf dem Sockel 13 eines Steckers Platz. Fig. 7 und 8 zeigen die ,natürliche Größe des Steckers, Fig. 6 die der einzelnen Patrone.

In* Fig. ι und 2 ist das auf dem Tisch T des Mikroskops M angebrachte Prüfhebelsystem dargestellt. In dem Bock / ist der von der Hülse befreite Detektor d mit seinem Gewinde g eingeschraubt, wobei der Stift s sich gegen die Blattfeder c legt. Der Detektor d ist auf diese Weise zwischen die Leitung L₂ und den Kontakt 1 des Umschalters u bzw. Leitung L₁ ^: geschaltet und¹ so z.B. in den Kreis eines Telephons gelegt. An seiner Stelle kann zum Zwecke des Vergleichs der Lautstärke, die ein Maß für die Empfindlichkeit des Detektors bildet, ein Vergleichsdetek- iöt d' dürdr den Umschalter u geschaltet werden, indem der Umschalter auf den Kontakt 2 gestellt":■ wird.; ,
^: Um die empfindlichste Stelle des Kristalls k zu ermitteln¹, "wird der noch nicht mit dem Kristall verkittete Draht w durch den mit dem Pfosten χ auf der Grundplatte s parallel zu. ihr drehbaren Prüfhebel p über die Fläche des - Kristalls'geführt, die unter dem Mikroskop etwa ^: in 7ofacher Größe erscheint (Fig. 3).

Das Mikroskop erlaubt, genau die Grenzen

des Kristalls und seine Oberflächenformation zu^:erkennen, was zur planmäßigen Führung des Hebels ρ erforderlich ist. Der Hebel p ist,

um ihn vom: Draht z; abzuheben, um die Schraube e drehbar, die zugleich zu seiner Längeneinstellung mittels eines Schlitzes dient. Die Drehung des Pfostens χ erfolgt mittels¹ de^ Mik'römelerschraübe ms, die, im Bock fr der Grundplatte s gelagert,' sich gegen den durch eine Feder"f gespannten Hebelarm ν des Pfostens χ stüt-'t.

Um die Prüfung auszuführen, wird der He-

! ■■'■'■ bei p mittels des Handgriffes ze auf den

Draht ν gesenkt, wobei ein Ausschnitt des. umgebogenen Hebelendes den Draht ν von oben umfaßt. Darauf wird durch Drehung der Schraube ms der Draht über ein lineares Flächenelement der Kristalloberfläche geführt und währenddessen punktweise die letztere auf Empfindlichkeit unter Gebrauch des Schalters u geprüft. ~ Danach wird, falls erforderlich, der Draht ν mittels einer Zange ein wenig durchgebogen und dieselbe Operation auf dem nächsten Flächenelement mittels Rückdrehung der Schraube 'ms. wiederholt, bis ein Punkt erreicht .ist, der die verlangte Empfindlichkeit besitzt. Alsdann wird der Hebel p abgehoben und ein Tropfen i aus erhärtender Isoliermasse (z. B. Schellack, Cellon, Bleiglätte u. dgl.) auf das Ende des Drahtes ν gebracht, wodurch dieses mit dem Kristall fest verbunden wird. Zufolge der Federung des Drahtes ν und der kleinen Masse des Kristalls k und der Drahtspitze behält die Kittstelle ihre Festigkeit und Empfindlichkeit auch bei starken Erschütterungen.

Claims

Patent-Ansprüche:

ι. Detektor für elektromagnetische Wellen, dadurch gekennzeichnet, daß innerhalb einer patronenförmigen Schutzhülse (/7) auf einem halbzylindrischen Fortsatz (a') des außerhalb der Schutzhülse befindlichen Gewindezapfens (g) der wellenempfindliche, aus einem Kristall (k) und einer Metallspitze bestehende Kontakt derart angeordnet ist, daß die umgebogene Spitze eines mit der Achse der Pa-Irone parallellaufenden federnden Drahtes (v) gegen den im genannten Fortsatz· (a) gelagerten Kristall (k) anliegt und mit diesem durch einen Kitttropfen (?) behufs unverrückbarer Lagerung verbunden ist.
2. Vorrichtung zur Einstellung der Kontaktstelle des Detektors nach Anspruch τ, dadurch gekennzeichnet, daß unter dem Objektiv eines Mikroskops (M) Hebel (p, r) u. dgl. Verschiebungsorgane angeordnet sind, mittels welcher der federnde Draht (v) unter optischer Kontrolle über die Fläche des Kristalls (k) bewegt wird.
3. Detektormagazin, bestehend aus einem Stecker (n, 12), dessen Plattform (13) eine um eine horizontale Achse (3) drehbare, mit eingeschraubten Einzelpatronen (d) in kreisförmiger Anordnung besetzte Scheibe (7) trägt, die mit einem gekerbten Rand (10) durch eine ' Öffnung der Schutzkappe (9) nach außen behufs Drehung hervortritt.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen»