DE3036432A1 - Verfahren zur wanddickenmessung von rohren - Google Patents
Verfahren zur wanddickenmessung von rohrenInfo
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Description
80/8757
Die vorliegende Erfindung "bezieht sich auf ein Verfahren zur Wanddickenmessung von Rohren gemäß
Oberbegriff des Anspruchs 1. Mittels eines derartigen Verfahrens können die Wanddicken eines
Rohres gleichzeitig an mehreren Meßpunkten berührungsfrei gemessen werden.
Bei der Herstellung von Rohren, beispielsweise von nahtlosen Stahlrohren, ist es im allgemeinen
notwendig, die Wandstärken der Rohre oder deren Innen- und Außendurchmesser genau zu messen, und
zwar sowohl beim Kaltverfahren, bei dem die Rohre normale Temperatur haben, als auch beim Heißver~
fahren, bei dem die Rohre eine hohe Temperatur
von etwa 1000 0C haben. Erfordernisse bei der
Durchführung solcher Messungen bestehen darj.n, daß die Messung ohne Berührung der Rohre erfolgen
muß, so daß selbst bei hohen Temperaturen von
etwa 10000C eine Messung durchgeführt werden kann,
daß eine Messgenauigkeit von etwa + 50*^200 um für
Wanddicken von etwa 5^40 mm erzielt werden kann, und daß
der Meßvorgang rasch durchführbar ist, d.h., der Meßvorgang darf nur kurze Zeit dauern. Die letzte
Forderung ergibt sich aus häufigen Schwankungen der Wanddicken bei Ändern der Lage in Umfangs- und Längsrichtung
.
130018/0818
303643:
Im Hinblick auf die oben genannten Erfordernisse wurde ein Verfahren vorgeschlagen, das im folgenden unter
Bezugnahme auf Fig»1 und 2 erläutert wird. Fig.1 zeigt
eine schematische Quorschnittsansicht eines Rohres. In der Zeichnung deuten die parallelen Linien die Verschiebepositionen
der Strahlungsabtastung an. Fig.2 ist eine graphische Darstellung, in der auf der Abszisse
verschiedene Keßpositionen und auf der Ordinate die Meßgrößen aufgetragen sind.
Man nehme an, die Wanddicken des in Fig.1 dargestellten
Rohres 20 wurden entlang der parallelen Linien A, B und C gemessen, wobei die Linie B den Außenumfang des Rohres
an einem Punkt a tangiert. Unter diesen Umständen schwankt die Meßgröße L der Wandstärke gemäß der Darstellung
in Fig.2. Entlang der Linie A, die das Rohr nicht schneidet, ist die Meßgröße L Null. Entlang
der Linie B, die den Außenumfang des Rohres 20 gerade tangiert, ist die Meßgröße L ebenfalls Null» Entlang
der Linie C, die die innere Oberfläche des Rohres 20 berührt, erreicht die Meßgröße L ihr Maximum. Entlang
der Linie D ist die Meßgröße durch die Summe der Breiten sowohl des linken als auch des rechten 'Wandungsteils gegeben, und die Meßgröße ist wesentlich kleiner
als der entlang der Linie C gewonnene Wert. Erfolgt die Messung unter ( Zeilen-) Verschiebung der Meßposition
in Richtung des Pfeils Y, so folgt die Meßgröße L der in Fig.2 dargestellten Kurve.
Die Wanddicke des Rohres 20 ist dann gemäß Fig.2
gegeben durch einen Abstand h in Richtung des Pfeils Y zwischen einem Punkt B des Anstiegsabschnitts der Kurve
und einem Punkt C, wo der ¥ert der Meßgröße L ein Maximum hat. Als Meßinstrument werden eine Strahlungsquelle
und ein Strahlungsdetektor verwendet (in der
130016/0810
BAD ORIGINAL
Zeichnung ist dies nicht dargestellt). Quelle und Detektor werden auf der Linie A auf beiden Seiten
des Rohres derart beabstandet voneinander positioniert, daß ihr Abstand größer ist als der Durchmesser des
Rohres 20. Dieses Meßinstrument wird in Richtung des Pfeils Y aus einer der* Linie A entsprechenden Stellung
durch die Stellungen entsprechend den Linien B, C, D usv/. bewegt, wobei die Ausgangsgröße des Meßinstruments
den sich ändernden Meßwert L angibt. Der Abstand bei
der Bewegung in Richtung Y zwischen dem Punkt, an dem
die Ausgangsgröße anzusteigen beginnt und dem Punkt, an dem die Ausgangsgröße ihr Maximum erreicht, ergibt
die Wandstärke.
Mit einem solchen Verfahren kann das zu messende Objekt berührungsfrei ausgemessen v/erden. Nachteilig ist
jedoch, daß keine hohe Meßgenauigkeit erzielt wird, da ein beim Definieren der Stel3.ung des Strahlungsbündels
auftretender Fehler sich als Fehler im Meßwert der ■ Wandstärke niederschlägt. Ein weiterer Nachteil besteht
darin, daß ein relativ langwieriger Meßvorgang nötig ist und keine Möglichkeit einer raschen Messung gegeben
ist, v/eil im Fall der Wanddickenmessung von Stahlrohren eine GammastrahlenqueHe verwendet wird, die umfangreich
und schwer is\t und für die Strahlungsbündelabtastung
nicht rasch bewegt werden kann.
Der Erfindung liegt die Aufgabe ssugrun.de, ein Verfahren
zur Wanddickenmessung von Rohren der eingangs erläuterten Art anzugeben, das genauere Meßergebnisse liefert
und weniger Zeit beansprucht als das bekannte Verfahren.
Diese Aufgabe wird durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst.
130Ö16/0S1Ö
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
Im folgenden wird die Erfindung an Hand von Ausführungsbeispielen
näher erläutert. Es zeigen:
Fig.1 eine schematische Querschnittsansicht eines Rohres, wobei durch Linien eine Strahlungsbünde labtastung angedeutet ist, die ainem
herkömmlichen Verfahren zur ¥anddickenmessung
von Rohren entspricht,
Fig.2 eine graphische Darstellung von (in Ordinatenrichtung
aufgetragenen) Meßgrößen für verschiedene (auf der Abszisse aufgetragene) Meßpo
sitionen des Strahlungsbündels gemäß dem in Fig.1 angedeuteten Verfahren,
Fig.3 eine schematische Darstellung zum Veranschauliehen
des erfindungsgemäßeri Konzepts gemäß
einem Ausführungsbeispiel der Erfindung bei einem in Querschnittsansicht dargestellten
Rohr 20,
Fig.3a ein Diagramm zur Erläuterung der Bezugszeichertverwendung
an Hand eines Ausschnitts von Fig.3, bei dem das Strahlungsbündel durch die Rohrwandung läuft,
Fig.4 eine schematische Darstellung eines weiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung, bei dem
η = 9 Meßpunkte verwendet werden,
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Fig.5 eine schematische Darstellung eines weiteren
Ausführungsbeispiels der Erfindung für ebenfalls η = 9,
Fig.6 eine schematische Darstellung eines weiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung für ebenfalls
η = 9,
Fig.7 eine schematische Darstellung eines Ausführungsbeispiels
der Erfindung, bei dem die Meßpunktanordnung ähnlich wie in Fig.4 ist, jedoch die
Anwendung der Methode der kleinsten Quadrate verdeutlicht ist,
Fig.8 eine schematische Darstellung einer weiteren Ausführungsform der Erfindung für η = 8,
Fig.9 eine schematische, perspektivische Ansicht eines
Rohres zur Veranschaulichung eines v/eiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung, bei dem die
Meßpunkte nicht in einer einzigen senkrecht zur Rohrachse verlaufenden Ebene, sondern in mehreren
solchen Ebenen vorgesehen sind.
Fig.3 zeigt an Hand einer Querschnittsansicht eines Rohres 20 das Grundkonzept eines Ausführungsbeispiels
der Erfindung. Bei diesem Ausführungsbeispiel werden an Meßpunkten A, B und C, die den Rohrumfang in drei gleiche
Abschnitte unterteilen, die jeweiligen Wanddicken x.,,
Xp und X^ gemessen.
Bei diesem Ausführungsbeispiel sind drei Meßsysteme entsprechend den Punkten A, B und C vorgesehen. Jedes
Meßsystem umfaßt eine Strahlungsquelle (1A. 1B oder 1C), einen Strahlungsquellenbehälter (2A, 2B oder 2C), um
130016/0810
ein Strahlungsbündel (3A, 3B oder 3C) in eine erforderliche
Richtung zu lenken, und einen Detektor (4A, 4B oder1 4C),um die Intensität des durch Wandungsabschnitte
des Rohres 20 gelaufenen Strahlungsbündels zu messen. Die hier den Bezugszahlen hinzugefügten Buchstaben A,
B und C kennzeichnen das jeweilige System, zu dem die einzelnen Teile gehören. Die Buchstaben v/erden im folgenden
jedoch zur Vereinfachung fortgelassen, wenn sie nicht speziell für das Verständnis benötigt werden.
Mit den Bezugszeichen I,,, Ip und I^ werden die Ausgangsgrößen
der jeweiligen Detektoren 4A, 4B und 4C bezeichnet, wenn die Strahlungsbündel die Detektoren durch die
Rohrwandungsabschnitte erreichen, während I-Jqj Ioq unc^
1-,Q die Ausgangsgrößen der entsprechenden Detektoren
in dem Fall bezeichnen, daß kein Rohr vorhanden ist (d.h., wenn die Strahlungsbündel die Detektoren direkt
erreichen). Die Anordnung des Meßsystems erfolgt in der
in Fig.3 gezeigten Weise, wobei jedes Strahlungsbündel zwei Meßpunkte passiert und jeder Meßpunkt von zwei
Strahlungsbündeln durchlaufen wird, die wiederum zwei andere Meßpunkte durchlaufen.
Auf der Grundlage einer Fundamentalformel für die Strahlungsdurchlässigkeits-Dickenmessung geben die
nachstehenden Gleichungen die Beziehung zwischen den Detektorausgangsgrößen und den gemessenen Wanddicken
wieder:
11 = 1IO exP
12 = i20 exp ί-pk (X2 + X3)} (2)
13 = 130
13 0 016/0810
wobei ία ein Absorptionskoeffizient für die Strahlung in
dem Rohrmaterial ist und k einen Wert einer tatsächlichem Durchlaufmenge S des Strahlungsbündels quer durch die
Rohrwandung durch einen Meßpunkt (vergleiche Fig.3A), geteilt durch eine an diesem Punkt vorliegende Wanddicke x, bezeichnet. Läuft das Strahlungsbündel genau
in Radialrichtung des Rohres, d.h., ist der Winkel θ in Fig.3 Null, so erhält k den Wert 1„ Vorausgesetzt,
daß die Anzahl von Meßpunkten, die S-fcrahlungsbündelstärke
und die Strahlungsrichtung im Hinblick auf die Gestalt des Rohres angemessen gewählt sind, kann der
Wert k praktisch frei von Einflüssen durch ZufallsSchwankungen
einer Rohrwandungsdicke gegeben werden.
Eine Lösung der Simultangleichungen (1) bis (3) kann angegeben werden durch
1 ι . ,1IO 12 130.
7 *n ¥ Γ ϊ^>
2 12 I30 1I
1 130 Il 120.
2 £n (lJ- · Ti * ^
Aus den Werten der Detektorausgangsgrößen I10, I1,
I2» I50 und I3 sowie den Konstanten u und k können daher
die Wanddicken X1, X2 und x^ angegeben werden.
Wenngleich das oben erläuterte Ausführungsbeispiel für drei Meßpunkte erläutert .wurde, kann die beschriebene
Methode erweitert werden für allgemein η Meßpunkte. Bezeichnen X1, X2, ... Xn die Wanddicken an den jeweiligen
Meßpunkten, so gelten die folgenden
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Beziehungen (Simultangleichungen}; die durch logarithmische
Transformation der den obigen Gleichungen (1) bis (3) entsprechenden Gleichungen erhalten werden:
X2 =
X2
= b2
= b3,
xn-l + xn -
xn + χϊ =
1 „ 1Cn-Do
b β 1 £n -^SL
n |Jk In
In Matrixschreibweise haben die 'Simultangleichungen (7) folgendes Aussehen:
'llO O
0110 O
00110---0
000110--0 « X/i = bd (7a) .
00 011
10 001
Ϊ | ||
b3 | ||
bn-l | ||
bn -* | ||
xl | ||
X3 | ||
xn-l | ||
. xn . | ||
Die Zahl η hierbei ist ungerade*
Fig.4 zeigt eine schematische Darstellung eines Ausführungsbeispiels,
bei dem η = 9 ist. Hierbei werden die Simultangleichungen für die Wanddicken x^, x2·..,
130016/001-0
repräsentiert durch
1 | 1 | O | O | O | O | O | O | O | < | xl |
O | 1 | 1 | O | O | O | O | O | O | X2 | |
O | O | 1 | 1 | O | O | O | O | O | X3 | |
O | O | O | L-J | 1 | O | O | O | O | X 4 | |
O | O | O | O | 1 | 1 | O | O | O | X5 | |
O | O | O | O | O | 1 | 1 | O | O | χ6 | |
O | O | O | O | O | O | 1 | 1 | O | X7 | |
O | O | O | O | O | O | O | 1 | 1 | X8 | |
.1 | O | O | O | O | O | O | O | 1 | X9 | |
b4 b7
(8)
Fig.5 zeigt ein weiteres Ausführungsbeinpiel, bei dem
ebenfalls η = 9 ist. Es liegt dieselbe Anzahl von Meßpunkten vor wie in Fig.4. Der Unterschied bezüglich
des in Fig.4 dargestellten Ausführungsbeispiels besteht jedoch darin, daß die relativen Positionen der
Punkte, diirch die die Strahlungsbündel laufen, anders
sind. D.h., die Kombinationen dieser Punkte in Fig.4 sind x>] mit Xp, x^ mit x^r, X/ mit X1-, usw.; in Fig.5
hingegen sind die Kombinationen x^ mit x^, X£ mit Xr.
x^ mit Xg, Χλ mit x^ usw. In dem Ausführungsbeispiel
nach Fig.5 werden die die Wanddicken angebenden Simultangleichungen
dargestellt durch
130018/0810
- Λ
Ί ooiooooo ο ι ο ο ι η ο ο ο
00 1 00 1000 000100 100 000010010 00.00 0 1001
10000010 0 0 10000010 00100000Iy
χ2 Χ3
X4
*5 Χ6
X7
Χ8
b9
(9)
Die obige Darstellung (9) kann wie folgt umgeschrieben
werden:
1 | 1 | 0 | * | *1 | = | "bi |
0 | 1 | 1 | X4 | b4 | ||
1 | 0 | 1 | Χ7. | b? | ||
1 | 1 | 0 | 0 | 'χ 2 | 'b2 |
0 | 1 | 1 | κ5 | b5 | |
1 N |
0 | 1 | Χ8, | b8 | |
1 | 1 | O | • | Χ3 | = | 'b3' |
0 | 1 | 1 | Χ6 | b6 | ||
1 | 0 | 1, | .Χ9 | b9 | ||
(10)
130016/0810
Die Darstellung (10) zeigt, daß das Ausführungsbeispiel gemäß Fig.5 völlig identisch zu dein Fall ist, daß das
Ausführungsbeispiel gemäß Fig.3 dreimal durchgeführt
v/ird«
Fig.6 zeigt ein weiteres Ausführung::.Beispielf bei dem
ebenfalls η = 9 ist. Bei diesem Ausführungsbeispiel sind die Kombinationen von Punkten, durch die das
Strahlungsbündel läuft, x^ mit Xg, x„
x^ mit Xq, usw.
x-, mit
Für das Ausführungsbeispiel gemäß Figo6 werden die die Wandstärken angebenden Simultangleichungen darge
stellt durch.
100001000 010000100 001000010 000100001
100010000 - χς = bs (11)
01000 1000 001000100 0 00100010 0 00010001
χι" | = | bl | |
X3 | b3 | ||
X4 | b4 | ||
V | X5 | b5 | |
Χ7 | b7 | ||
χ8 | bs | ||
X3 | bg | ||
¥ie oben im Zusammenhang mit den Fig.4 bis 6 gefunden
wurde, können verschiedene Wege mit verschiedenen Simultangleichungen zum Messen der Wanddicke an solchen
Punkten gewählt werden. Ermittelt man die Werte der Wandstärken auf unterschiedlichen Wegen, so kann .es
angebracht sein, die an jedem Meßpunkt gemessenen Werte der Wandstärken einer Durchschnittsbildung zu unterziehen.
Dies ergibt einen besseren Erwartungswert der
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Wandstärke an jedem Meßpunkt.
Dor Erwartungswert für beispielsweise die Wanddicke x^
am Meßpunkt ist für den Fall, daß drei Meßwege gewählt werden, um drei Meßwerte x^, X^2 und x^ zu erhalten,
durch folgende Beziehung gegeben:
ν _ JL (·"■ 4. -v j. -sr >
. (Λ9Λ
wobei x^p der Erwartungswert ist. Dies ist die Durcn
schnittsbildungsmethode.
-1O1-
Im allgemeinen sind statistische Fehler bei der Wanddickenmessung mittels Strahlung umso kleiner, desto
dünner die Wandung ist. Somit ist es in einigen Fällen günstiger, den Erwartungswert durch ein gewichtetes
Mittel der gemessenen Werte wie folgt anzugeben:
X1e = p~j +Ίζ + p3""(p1x11 + P2X12 + Ρ3Χ13^
20
wobei p^ t pp und p, Wichtungsfaktoren sind.
Wenn ferner eine reichliche Anzahl von jeweils aus
Strahlungsquelle und-Detektor bestehenden Systemsätzen zur Verfugung steht, kann zum Behandeln der Meßwerte die Methode
der kleinsten Quadrate angewendet werden.
Fig.7 dient zur grundsätzlichen Veranschaulichung eines
Falls, bei dem die Methode der kleinesten Quadrate An-Wendung findet. Es sind neun Meßpunkte vorgesehen. Wenn
die Anzahl von verwendeten Sätzen des Meßsystems identisch mit der Anzahl der jeweils durch ein Paar von Meßpunkten
gehenden durchgezogenen Linien ist, werden die die Wandstärken x,, bis Xq angebenden Simultangleichungen durch die
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oben im Zusammenhang mit Fig.4 angegebene Gleichung (8)
dargestellt. Werden zwei weitere 53ätze von Meßsyst&Lien.
hinzugefügt, werden die die Stärken angebenden Simultangleichungen durch die nachstehende Gleichung (14) dargestellt:
110000000 11000000 001100000 000110000 000 0 11000 000001100
000000110 000000011 100000001 100100000
001000001
= | *>3 | |
b4 | ||
b7 | ||
b8 | ||
b9 | ||
χ3 | ||
χ4 | ||
χ5 | ||
Χ6 | ||
X7 | ||
χ8 | ||
(14)
Aus Gleichung (14) werden neun als Gauss'sehe Normalgleichung
bezeichnete Simultangleichungen erhalten,
deren Lösungen die nach der Methode der kleinsten
Quadrate berechneten Wanddicken angeben. Des Verständnisses halber sollen die Gauss'sehen Normalgleichungen kurz erläutert werden. Sie sind wie folgt darstellbar:
deren Lösungen die nach der Methode der kleinsten
Quadrate berechneten Wanddicken angeben. Des Verständnisses halber sollen die Gauss'sehen Normalgleichungen kurz erläutert werden. Sie sind wie folgt darstellbar:
130016/0810
BAD ORiGIMAL
[act] [aß] [αγ] [αδ] [αε] [ο.ζ] [αη] [αΟ] [αι]
[ßa] [ßß] [βγ] [βδ] [βε] [βζ] [βη] [βθ] [βι]
[γα] [yß] [γγ] [γδ] [γε] [γζ] [γη] [γΟ] [γι]
[δα] [δβ] [δγ] [δδ] [δε] [όζ] [δη] [δΟ] [δι]
[εα] [εβ] [εγ] [εδ] [εε] [ες] [εη] [εΟ] [ει]
Ua] [ζβ] [ζγ] [ζδ] [ζε] [ζζ] [ζη] [ζθ] [ζΐ]
[na] [ηβ] [ηγ] [ηδ] [ηε] [ηζ] [ηη] [ηο] [ηι]
[θα] [G&3 [Ογ] [6δ] [θε] ΓΟζ] [Οη] [00] [Οι]'
[ια] [ι β] [ιγ] [ιδί [ιε] [ιζ] [ιη] [ιΟ] [ι ι]
wobei / cc aj, [_ a?_Jf l_a}Jt T—~ , /a ij und
Darstellungen in Gauss'scher Schreibweise sind, um die durch die Gleichung(15") definierten Vierte zu bezeichnen. Die Gleichung 15" ist weiter unten angegeben
für den Fall, daß für die Gleichung (14) die Gleichung (15') ve rwendet wird.
Darstellungen in Gauss'scher Schreibweise sind, um die durch die Gleichung(15") definierten Vierte zu bezeichnen. Die Gleichung 15" ist weiter unten angegeben
für den Fall, daß für die Gleichung (14) die Gleichung (15') ve rwendet wird.
• | 'χΐ" | = | [ab] | |
Χ2 | [ßb] | |||
*3 | h'b] | |||
X4 | [ob] | |||
« | Χ5 | [cb] | ||
χ6 | Ub] | |||
X7 | [nb] | |||
χ8 | [Ob] | |||
*9, | Jib] | |||
al
a2
α3
α3
«6
α7
α7
β3
ß4
ß5
ß5
β7
ß8
ß8
Ύ2
γ3
γ3
Y4
γ5
γ5
Ύ6
γ7
Ύ8
Y9
γ7
Ύ8
Y9
ε1
ε2
ε2
ε3
ε4
ε4
ε6
112
C5
δ7
08
08
ε9
ns
Π6 η7 ns ng
θ6 θ?
θ9
al0 ßlO γΐΟ δχο εχο ClO ΠΙΟ θιο UO
all Pll
'6H ε11
- | Χ1 | = | b2 | |
χ2 | b4 | |||
Λ. j | Z | |||
• | χ6 | b? | ||
X7 | b8 | |||
χ8 | b9 | |||
-χ9. | b10 | |||
(151)
130016/0810
BAD ORIGINAL
[αα] = α [α β j = σ. [αγ] =
[βι]
[ßb]
[ßb]
+ U2Y2 + *'
[αϊ] = Ct1I1
[ab] = KIb1
[βα] =
[ßß] -
-i-
+ ß2b2
+ °1Ϊ
«llYll
(15")
Die Anwendung der Methode der kleinsten Quadrate ist nicht nur auf das obige Beispiel gemäß den Gleichungen (14)
und (15) beschränkt, sondern ist auch anwendbar bei anderen Fällen, beispielsweise gemäß den Gleichungen (8),
(9) und (11). Stellen A^, A^ und A7 die entsprechenden
Koeffizientenmatrizen auf der linken Seite der Gleichungen (8), (9) und (11) dar und verwendet man die
Bezeichnungen B B^ und B für die einspaltigen
Matrizen der Elemente b auf der rechten Seite der genannten Gleichungen, sowie ,X zum Darstellen der einspaltigen
Matrix der Elemente x, so erhält man folgende Darstellung:
130016/0810
A2
Bi B2 B,
(16)
Aus Gleichung (16) können ähnlich wie bei Gleichung (15)
Gauss'sehe Normalgleichungen eingeführt werden, deren
Lösungen die nach der Methode der kleinsten Quadrate berechneten Dicken angeben. Es ist ferner möglich, dasselbe
Meßsystem für einen zweimaligen oder häufigeren Meßvorgang zu verwenden und aus den Resultaten die Meßwerte
nach der Methode der kleinsten Quadrate zu berechnen.
Wenn die Methode der kleinsten Quadrate bei dem Ausführungsbeispiel
gemäß Fig.7 angewendet wird, kann eine Ähnlichkeit der Genauigkeit unter den durch die
in Fig.7 durch ausgezogene Linien gezeigten neun Meßsysteme
abgegebenen Meßwerte gegeben sein, während zwei Meßsysteme, die durch gestrichelte Linien dargestellt
sind, Meßwerte liefern können, die eine abweichende Genauigkeit haben, da sie einen anderen
Strahlene inf allsv/inke 1 auf die Rohrwandung oder eine andere Strahlungsbündel-Weglänge innerhalb der Rohrwandung
aufweisen. Vorzugsweise werden daher die-Meßwerte gewichtet, um die Genauigkeiten auszugleichen,
bevor die Berechnung nach der Methode der kleinsten Quadrate vorgenommen wird.
Ein Wichtungskoeffizient ρ sollte dann einen Wert haben, der umgekehrt proportional ist zum Quadrat
der Standardabweichung, entsprechend dem allgemeinen Verfahren bei der Methode der kleinsten Quadrate. Dann
benutzt man den durch folgende Gleichung gegebenen Koeffizienten p:
13001 6/0810
P =
(17)
■wobei σ die Standardabweichung der Meßwerte des in
Fig.7 durch ausgezogene Linien aargestellten Heßsystems
und σ cue Standardabweichung des durch gestrichelte
Linien angedeuteten Meßsystems sind. Die Standardabweichungen hängen von gewissen Faktoren ab, so z.B.
von der erfaßten Strahlungsbündelintensität (d.h. der Darstellung der Strahlungsbündel-Weglänge quer
durch die Rohrwandung) und von dem Aufbau der Detektorschaltung. Vor der Messung nach der Methode der kleinsten
Quadrate wird daher in der Praxis ein Test durchgeführt, um die Standardabweichungen zu erhalten, aus
denen der Wert des Koeffizienten ρ unter Heranziehung der Gleichung (17) berechnet wird. Wendet man den
Wichtungskoeffizienten ρ auf Gleichung (14) an, so erhält man die nachstehende Gleichung (18) unter
Einführung der Methode der kleinsten Quadrate mit den in ihrer Genauigkeit ausgeglichenen Meßwerten.
11000000 0' 011000000 001100000 000110000 000.0 11000
000001100 000 0 0 0110 000000011 100000001 POOPOOOOO
00P00000P
Z | |
b7 | |
b8 | |
b9 | |
Pb11 | |
X2 | |
X4 | |
X6 | |
X7 | |
X8 | |
U | |
(18)
130016/08TÖ
Die oben erläuterte gedichtete Methode der kleinsten
Quadrate kann nicht nur bei dem Beispiel gemäß Gleichung (18) angewendet werden, sondern auch in
solchen Fällen, wo für die Messung Redundanz des Meßsystems zur Verfügung steht. Die Gleichung (18) zeigt
lediglich ein Beispiel.
Wie oben dargelegt wurde, kann bei der Erfindung die Zahl η von Meßpunkten am Rohrumfang jeden Wert haben
(vorausgesetzt, der Wert ist größer oder gleich 3) und die Anzahl von verwendeten Meßsystemsätzen sollte η
oder mehr betragen. Es ist nicht immer notwendig, daß die Meßpunkte den Rohrumfang in gleiche Abschnitte unterteilen.
Es ist jede Anordnung der Punkte erlaubt, vorausgesetzt, daß jeder Meßpunkt von wenigstens zwei
Strahlungsbündeln unterschiedlicher Einfallrichtung durchlaufen wird. Dann erzeugen die η Sätze des Meßsystems
η Meßwerte , aus denen ein Satz von Simultangleichungen erhalten wird, deren Lösungen die Vi anddicken
an den Meßpunkten angeben. Werden weiterhin mehr als η Meßsystemsätze verwendet, um mehr als
η Meßwerte zu erzeugen, so besteht die Möglichkeit. die Methode der kleinsten Quadrate zum Ermitteln
der Wandstärken anzuwenden.
Die Erfindung umfaßt weitere Ausführungsbeispiele, bei denen η eine gerade Zahl größer oder gleich 4
ist. Fig.8 zeigt ein solches Ausführungsbeispiel, bei dem η = 8 ist. Wählt man eine angemessene ungerade
Zahl m (nicht kleiner als 3) von Meßpunkten aus der Zahl η (in Fig.8 beträgt m- = 5),so kann ein Satz von
Simultangleichungen erhalten werden, die die Wandstärken an diesen m Punkten aus den dort gemessenen
130016/0810
Werten angeben. Dann kann die Wanddicke an jedem verbleibenden Meßpunkt angegeben v/erden, indes'· ein
Strahlungsbündel verwendet wird, das den verbleibenden Meßpunkt und einen von jenen m Meßpunkten durchläuft,
deren Wandstärke bereits gemessen wurde. Selbstverständlich kann auch hier die Methode der kleinsten
Quadrate angewendet werden. Im folgenden wird hierzu speziell eine Erläuterung gegeben.
^0 in Fig.8 bezeichnen ^c^ , χ?) .,, x„ die Wanddicken
an den jeweiligen Meßpunkten. Es sei angenommen, daß fünf der Punkte ausgewählt werden und die Wandstärken
x^, χ,, x^, Xg und Xy zuerst gemessen werden. Es v/erden
die nachstehenden Simultangleichungen ähnlich wie bei
^5 den oben erläuterten Ausführungsbeispielen erhalten:
X1 + Χλ = -r- In ~9-
X4 + X7 = 1 Zn .J20
yk l2
X7 + X3 = i £n Ξ|5.
X7 + X3 = i £n Ξ|5.
X3
I40
° Pk ~" I4
1
1
Hier ist in der dritten Gleichung der Faktor 77 anstelle
1 /
von 7-, , der in den anderen Gleichungen verwendet wi-rd,
angegeben, weil für ein Paar von Meßpositionen auf einem Durchmesser des Rohrumfangs k = 1 gilt, wie oben bereits
erwähnt wurde.
Aus den obigen Simultangleichungen können die folgenden Lösungen ermittelt werden:
130018/0810 BAD ORIGINAL
-I (bi - b2 +
X7 =· -y (!23 - !34
X3 = I (b/j - b5 + bi .- b2 + 1*3')
+ b2 - b3 +.b4)
2. 10 wobei |
15 | (b5 - | JU "j | + I |
bl | 1 yk |
9 v\ | £io | |
1 | In | 120 | ||
iO b5 | yk | In | J2 | |
In | 130 13 |
|||
1 yk |
Zn | 140 14 |
||
1 | 150 | |||
yk | IS |
Dann sind die verbleibenden unbekannten Wandstärken Xj-Xo
und Xp. Es werden nun Stralilungsbündel verwendet,
die Xc. mit x^, xQ mit x^ und X2 mi^ X6 durchlaufen.
Man erhält folgende Gleichung :
X1 + X5 - ^ ln
Der Wert von x-j ist bekannt. Folglich kann der Wert
für χ angegeben werden. In ähnlicher Weise erhält man
1 . 180 X6 + X2 = μ £η ΪΓ
1 3 0 0 1 6 / 0 8 ί 0
wobei χ. , bzw. Xg bekannt sind. Hieraus lassen sich Xg
und Xp ermitteln.
Bei der vorliegenden Erfindung ist es nicht erforderlich, daß sämtliche Heßpunkte in einer bezüglich der Rohrachsesenkrechten
Ebene liegen. Die Punkte können auf verschiedene Ebenen verteilt sein, wie es in Fig.9 angedeutet
ist. In Fig.9 liegen die Meßpunkte A und B auf einer
bezüglich der Rohrachse senkrechten Ebene, der andere Punkt C jedoch liegt in einer anderen Ebene.
Wie oben dargelegt wurde, schafft die Erfindung ein verbessertes Verfahren zur berührungsfreien Wanddickenmessung
von Rohren unter Verwendung von Strahlungsdurchlässigkeit.
Das erfindungsgemäße Verfahren zeichnet sich durch hohe Genauigkeit aus, erfordert keine bewegten
Teile und gestattet die rasche Durchführung einer Messung.
gel Auswahl angemessener Strahlungsarten und Energieintensitäten
kann die Erfindung bei verschiedenen rohrförmigen Erzeugnissen aus Glass Kunststoff, Gummi,
Papier, Faserstoffen und Metallen angewendet werden. Selbstverständlich findet die Erfindung auch außer
bei Rohren Anwendung bei verschiedenen hohlen Erzeugnissen, die eine regelmässige Querschnittsform aufweisen.
Erfindungsgemäß ist es möglich als Strahlung infrarotes, sichtbares oder ultraviolettes Licht,
Röntgenstrahlen oder verschiedene Teilchenstrahlen zu verwenden. ¥ird zum Verarbeiten der Meßdaten ein
Rechner verwendet, so können mit der Erfindung sehr schnelle Messungen oder Echtzeitmessungen durchgeführt
werden.
130016/0810
Leerseite
Claims (3)
- Patentansprüche1J Verfahren zur ¥anddickenmessung von Rohren, rohrförmigen Gebilden oder Abschnitten davon unter Verwendung von Strahlungsbündelns bei dem um den Rohrumfang mindestens drei Meßpunkte vorgesehen und die Strahlungsbündel in mehrere Richtungen gelenkt werden, dadurch gekennze ichnet, daß durch jedes aus einer Menge von mindestens drei Meßpunkten gebildete Zweierpaar von Meßpunkten ein Strahlungsbündel geschickt wird, daß durch jeden der mindestens drei Meßpunkte mindestens zwei Strahlungsbündel unterschiedlicher Richtung geschickt werden, und daß die Intensitäten der durch die Meßpunkte der Rohrwandung gelaufenen Strahlung erfaßt werden, so daß die Verarbeitung der erfaßten Werte die Wanddicke an den130016/0810München: R. Kramer Dip!.-Ing. · W. Weser Dipl.-P.hys. Dr. rer. nat. · E. Hoffmann Dipl.-Ing. Wiesbaden: P.G. Blumbadi Dipl.-Ing. ■ P. Bergen Prof. Dr. jur.Dipl.-Ing., Pat.-Ass., Pat.-Anw.bis 1979 · G. Zwirner Dip!.-lng. Dipl.-W.-Iiig.Meßpunkten angibt.
- 2. V-sr fahr en nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Verarbeitung der erfaßten Wei'te die Methode der kleinsten Quadrate angewendet wird.
- 3. Verfahren nach Anspruch Λ oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßpunkte auf verschiedenen, ,senkrecht zur Rohrachse verlaufenden Ebenen vorgesehen werden.13001§/0ί10
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