DE3033717A1 - Adapter fuer die leiterplattenpruefung - Google Patents
Adapter fuer die leiterplattenpruefungInfo
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- DE3033717A1 DE3033717A1 DE19803033717 DE3033717A DE3033717A1 DE 3033717 A1 DE3033717 A1 DE 3033717A1 DE 19803033717 DE19803033717 DE 19803033717 DE 3033717 A DE3033717 A DE 3033717A DE 3033717 A1 DE3033717 A1 DE 3033717A1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
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Description
- Adapter für die Leiterplattenprüfung
- Die Erfindung bezieht sich auf einen Adapter für die Leiterplattenprüfung, mit im Rastermaß der Leiterplatten und dem Muster der Prüfanschlußpunkte der Leiterplatte entsprechend auf einem Zwischenadapter angeordneten Kontaktnadeln und einer dem Anschluß der Kontaktnadeln an eine Prüfeinrichtung dienenden Kontaktträgerplatte.
- Ein derartiger Adapter ist aus der Anmeldung mit dem Aktenzeichen P 29 20 226.4-35 bekannt. Dort ist schon eine Reduzierung der Anzahl der im Adapter vorgesehenen Kontaktnadeln auf die Anzahl der jeweils an einem Prüfling vorhandenen Prüfanschlußpunkte verwirklicht. Es ist dort auch ein Verbindungsglied zwischen den Kontaktnadeln und einer Prüfeinrichtung vorgesehen, eine Kontaktträgerplatte mit prüflingskonform angeordneten Kontakten. Diese Kontaktträgerplatte muß für unterschiedliche Prüflinge entsprechend deren innerhalb ihres Leiterplattenrasters verteilten Prüfanschlußpunktemuster neu hergestellt werden.
- Der Erfindung lag die Aufgabe zugrunde, diese dem Prüfling jeweils anzupassende Kontaktträgerplatte durch eine ohne Anderung für unterschiedliche Prüflinge geeignete Platte zu ersetzen, ohne auf ihr jeden Rasterpunkt mit einem Kontakt bestücken zu müssen.
- Diese Aufgabe wird bei einem eingangs beschriebenen Adapter gemäß der Erfindung durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.
- Mit der Erfindung wird also ein Adapter bereitgestellt, der eine Kontaktträgerplatte enthält, deren Kontakte alle Rasterpunkte bedienen und die deshalb auch für unterschiedliche Leiterplatten verwendet werden kann, wenn diese nur ein einheitliches Raster aufweisen. Trotzdem wird mit der neuen Lösung eine Reduzierung der Verbindungsanschlüsse mit der Prüfeinrichtung um den Faktor 4 erzielt. Dadurch ergibt sich eine wesentlich verkürzte Prüfzeit. Eine automatische Prüfung mit der Prüfeinrichtung wird damit auch bei kleinen Prüflingszahlen wirtschaftlich.
- Zweckmäßig sind entweder die Kontakte auf der Kontaktträgerplatte gegenüber den Kontaktnadeln auf dem Zwischenadapter federnd angebracht oder die Kontakte sind fest und die Kontaktnadeln federnd ausgebildet.
- Die Kontakte sind quadratisch ausgeführt, ihre Seitenlänge ist gleich dem doppelten Rastermaß, reduziert um das reziproke doppelte Rastermaß.
- Die Erfindung wird anhand von vier Figuren, die vier Teilansichten eines Ausführungsbeispieles darstellen, erläutert.
- Figur 1 stellt eine teilweise geschnittene Seitenansicht des Ausführungsbeispieles dar.
- Figur 2 zeigt im wesentlichen eine Aufsicht auf die Kontaktträgerplatte.
- Figur 3 stellt einen Teilschnitt durch die Kontaktträgerplatte dar, und Figur 4 ist eine Aufsicht auf einen Teil der Kontaktträgerplatte.
- In Figur 1 liegt eine Leiterplatte 1 als Prüfling auf den freien Enden von Kontaktnadeln 2 auf. Die Kontaktnadeln 2 sind in entsprechenden Bohrungen zweier Lochplatten 3 und 4 gehaltert. Die Lochplatten 3 und 4 werden durch Distanzstücke 5 in einem Abstand gehalten, der in der Größenordnung der halben Länge der Kontaktnadeln 2 liegt. Die mit den Kontaktnadeln 2 bestückten Lochplatten 3 und 4 bilden einen Zwischenadapter, der jeweils nach dem Muster der Prüfanschlußpunkte der zu prüfenden Leiterplatte 1 mit Kontaktnadeln 2 bestückt wird. Der Zwischenadapter ist durch Fixierstifte 7 einer Kontaktträgerplatte 6 zugeordnet. Die Kontaktträgerplatte 6 dient als Verbindungsglied zwischen dem Zwischenadapter und Kabelanschlüssen 8, die zu einer nicht dargestellten Prüfeinrichtung führen. Ein Teilausschnitt 9 in der Kontaktträgerplatte 6 zeigt eine Ausnehmung 10, in der ein Kontakt 11 gelagert ist. Der Kontakt 11 wird durch eine Schraubenfeder 12 gegen das untere Ende einer der Kontaktnadeln 2 gedrückt. Zwischenadapter und Kontaktträgerplatte 6 werden von einem Spannrahmen 13 aufgenommen.
- Figur 2 zeigt eine Aufsicht auf die Kontaktträgerplatte 6. Es ist zu erkennen, daß sie rasterartig mit den Kontakten 11 besetzt ist. Die Kontakte haben einen quadratischen Grundriß. Ihre Seitenlänge entspricht dem doppelten Rastermaß, vermindert um das reziproke doppelte Rastermaß. Eine vergrößerte Teilansicht innerhalb der Figur 2 zeigt die Ausnehmungen 10 für die Kontakte 11.
- In der Figur 3 ist eine geschnittene Teilansicht der Kontaktträgerplatte 6 dargestellt. Hier sind die Ausnehmungen 10 gezeigt, in denen die Kontakte 11, die durch Führungsstifte 14 verlängert sind, federnd auf und ab gleiten können. Die Führungsstifte 14 sind mit zu der nicht dargestellten Prüfeinrichtung führenden Litzen über Verbindungshülsen 15 verbunden. Auf den Kontakten 11 sitzen die unteren Enden von Kontaktnadeln 2 auf.
- In Figur 4 ist eine Aufsicht auf einen Teil der Kontaktträgerplatte 6 dargestellt. Schnittpunkte eines strichpunktiert über die Kontaktträgerplatte 6 gezeichneten Liniennetzes stellen die Rasterpunkte eines Rasters dar, das den Prüfanschlußpunkten der zu prüfenden Leiterplatte entspricht. Es ist zu sehen, daß durch jeden der Kontakte 11 vier Rasterpunkte zusammengefaßt werden.
- 4 Patentansprüche 4 Figuren
Claims (4)
- Patentansprüche ( 1'/ Adapter für die Leiterplattenprüfung, mit im Rastermaß der Leiterplatten und dem Muster der Prüfanschlußpunkte der Leiterplatte entsprechend auf einem Zwischenadapter angeordneten Kontaktnadeln und einer dem Anschluß der Kontaktnadeln an eine Prüfeinrichtung dienenden Kontaktträgerplatte, d a d u r c h g e k e n n z e i c h -n e t , daß die Kontakte (11) auf der Kontaktträgerplatte (6) jeweils vier benachbarte Rasterpunkte überdecken und ihr gegenseitiger Mittenabstand einem geforderten gegenseitigen Mindestabstand der Prüfanschlußpunkte vom doppelten Rastermaß entspricht.
- 2. Adapter nach Anspruch 1, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß die Kontakte (11) auf der Kontaktträgerplatte (6) gegenüber den Kontaktnadeln (2) auf dem Zwischenadapter (3, 4) federnd angebracht sind.
- 3. Adapter nach Anspruch 1, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß die Kontakte (11) auf der Kontaktträgerplatte (6) fest angebracht sind und die Kontaktnadeln (2) federnd ausgebildet sind.
- 4. Adapter nach Anspruch 1 oder einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t daß die Kontakte (11) quadratisch sind und ihre Seitenlänge dem doppelten Rastermaß minus dem reziproken doppelten Rastermaß entspricht.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19803033717 DE3033717A1 (de) | 1980-09-08 | 1980-09-08 | Adapter fuer die leiterplattenpruefung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19803033717 DE3033717A1 (de) | 1980-09-08 | 1980-09-08 | Adapter fuer die leiterplattenpruefung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3033717A1 true DE3033717A1 (de) | 1982-03-18 |
Family
ID=6111367
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19803033717 Ceased DE3033717A1 (de) | 1980-09-08 | 1980-09-08 | Adapter fuer die leiterplattenpruefung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3033717A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3444708A1 (de) * | 1983-12-08 | 1985-06-27 | Erich Ing.(grad.) 3050 Wunstorf Luther | Adapter fuer ein leiterplattenpruefgeraet |
US4535536A (en) * | 1983-11-03 | 1985-08-20 | Augat Inc. | Method of assembling adaptor for automatic testing equipment |
DE3639366A1 (de) * | 1985-11-19 | 1987-05-21 | Teradyne Inc | Geraet zum pruefen von gedruckten schaltungsplatten |
US4823079A (en) * | 1986-03-03 | 1989-04-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Device for equipping an adapter with contact pins used with a circuit board test equipment |
-
1980
- 1980-09-08 DE DE19803033717 patent/DE3033717A1/de not_active Ceased
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US4535536A (en) * | 1983-11-03 | 1985-08-20 | Augat Inc. | Method of assembling adaptor for automatic testing equipment |
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DE3639366A1 (de) * | 1985-11-19 | 1987-05-21 | Teradyne Inc | Geraet zum pruefen von gedruckten schaltungsplatten |
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