DE3001592C2 - Dotierter Wismutgermanat-Einkristall - Google Patents
Dotierter Wismutgermanat-EinkristallInfo
- Publication number
- DE3001592C2 DE3001592C2 DE3001592A DE3001592A DE3001592C2 DE 3001592 C2 DE3001592 C2 DE 3001592C2 DE 3001592 A DE3001592 A DE 3001592A DE 3001592 A DE3001592 A DE 3001592A DE 3001592 C2 DE3001592 C2 DE 3001592C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- bgo
- single crystal
- crystals
- crystal
- content
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims description 63
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 title claims description 4
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 title description 3
- FVAUCKIRQBBSSJ-UHFFFAOYSA-M sodium iodide Chemical compound [Na+].[I-] FVAUCKIRQBBSSJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 15
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 9
- 238000004857 zone melting Methods 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 5
- 235000009518 sodium iodide Nutrition 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 4
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229910015902 Bi 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 2
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 2
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 2
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 244000309464 bull Species 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005204 segregation Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/202—Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
- G01T1/2023—Selection of materials
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K11/00—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
- C09K11/08—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
- C09K11/74—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing arsenic, antimony or bismuth
- C09K11/745—Germanates
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K11/00—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
- C09K11/08—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
- C09K11/77—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing rare earth metals
- C09K11/7707—Germanates
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/16—Oxides
- C30B29/22—Complex oxides
- C30B29/28—Complex oxides with formula A3Me5O12 wherein A is a rare earth metal and Me is Fe, Ga, Sc, Cr, Co or Al, e.g. garnets
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Luminescent Compositions (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft einen dotierten Wismutgermanat-Einkristall,
wie er aus »Mat Res. Bull.« 7 (1972) 181 bis 183, bekannt ist Einkristalle aus Wismutgermanat
(Bi4Ge3Oi2, nachfolgend auch mit BGO abgekürzt)
werden als Szintillatorkristalle für Röntgen- oder Gammastrahlen verwendet da
1. die Ordnungszahlen der sie bildenden Bestandteile groß sind, die Dichte des Kristalls hoch ist und der
Absorptionskoeffizient für Strahlungen hoch ist,
2. Die Abklingzeit oder Abfallzeit sehr kurz ist (wobei
die Zeit für die Schwächung oder Dämpfung auf 0,1 % 30 ms beträgt) und
3. die Kristalle nicht hygroskopisch sind.
Wegen dieser vorteilhaften Eigenschaften wurden diese Einkristalle als Szintillatorkristalle für die
Röntgenstrahlen-Computertomographie und medizinische Instrumente, wie Positronenkameras, verwendet,
wenngleich die Empfindlichkeit des Materials relativ gering ist. Natriumjodid oder mit Thallium dotiertes
Natriumjodid, das ebenfalls für den oben angesprochenen Zweck eingesetzt wurda, besitzt eine Empfindlichkeit,
die etwa zehnmal so groß ist wie die der BGO-Kristalle, zeigt jedoch eine sehr lange Abklingzeit
(indem die Zeit für die Dämpfung auf 0,1% 350 ms beträgt). Demzufolge besitzen die Natriumjodidkristalle
oder die mit Thallium dotierten Natriumjodidkristalle den Nachteil, daß sie ein unscharfes Bild ergeben.
Demzufolge ist es erwünscht, die Empfindlichkeit der BGO-Kristalle zu verbessern, ohne den Vorteil ihrer
kurzen Abklingzeit einzubüßen. Der Szintillationsumwandlungswirkungsgrad (Lichtausbeute) der herkömmlichen
BGO-Kristalle beträgt lediglich 10% der Lichtausbeute von Natriumjodidkristallen oder dergleichen,
so daß die Entwicklung von BGO-Kristallen mit einem hohen Szintillationsumwandlungswirkungsgrad
erwünscht ist, um die auf den menschlichen Körper einwirkende Strahlungsdosis zu vermindern.
Das Szintillationszentrum der BGO-Kristalle ist das als Bestandteil des Materials vorhanden Wismution.
Gemäß der herkömmlichen Technik wird das eingesetzte Ausgangsmaterial durch Zonenschmelzen gereinigt,
um verunreinigende Elemente zu entfernen, die einen schädlichen Einfluß ausüben, wodurch der Szintillationsumwandlungswirkungsgrad
verbessert wird. Um die gewünschte hohe Reinheit zu erreichen, ist jedoch ein
erheblicher Zeitaufwand für das Zonenschmelzen erforderlich, wobei sich erhebliche Verluste des
Ausgangsmaterials einstellen. Beispielsweise beträgt die Endausbeute lediglich etwa 35%.
Zum weiteren Stand der Technik wird auf die folgenden Literaturstellen verwiesen:
1. M. J. Weber und R. R. Moncham: Journal of Applied
Physics, VoL 44 (1973) 5495-5499,
2. O. H. Nestor und C. Y. Huang: IEEE-Transactions on Nuclear Science, Vol. NS-22 (Februar 1975),
68-71 und
3. Z.H.Cho und M. R. Farukhi: Journal of Nuclear
Medicine, Vol. 18 (1977), 840-844.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen dotierten Wismutgermanat-Einkristall zu schaffen, der
bei Verwendung als Szintillatorkristall eine kurze Abkling- oder Abfallzeit sowie eine hohe Empfindlichkeit
aufweist
Die erfindungsgemäße Lösung dieser Aufgabe besteht gemäß dem Kennzeichenteil des Patentanspruchs
1 darin, daß der Wismutgermanat-Einkristall bis zu 0,5Gew.-% Bi4Si3Oi2 und/oder bis zu 50 ppm Gd
enthält
Wenn der Gehalt an Bi4Si3Oi2 oder Gd die oben
angegebenen Mengen übersteigt wird die Strahlungsempfindlichkeit vermindert und wird gleich groß oder
geringer als die Empfindlichkeit der herkömmlichen BGO-Kristalle. Selbst wenn die Menge des in dem
BGO-Einkristall enthaltenen Bi4Si3Oi2 oder Gd sehr
gering ist, ergibt sich ein entsprechender Effekt, wodurch die Empfindlichkeit gesteigert wird. Daher ist
es nicht erforderlich, die untere Gehaltsgrenze bezüglich dieser Bestandteile näher zu spezifizieren.
Besonders gute Ergebnisse erzielt man dann, wenn der Gehalt an Bi4Si3Oi2 in dem BGO-Kristall 0,02 bis
0,2 Gew.-°/o beträgt, wobei man optimale Ergebnisse dann erzielt, wenn der Bi4Si3Oi2-Gehalt 0,05 bis
0,1 Gew.-% ausmacht. Besonders gute Ergebnisse kann man auch dann erzielen, wenn die in dem BGO-Kristall
enthaltene Gd-Menge 1 bis 10 ppm beträgt (wobei hier und im folgenden »ppm« für Gewichtsteile pro 1 Mio
Gewichtsteile steht). Selbst wenn Bi4Si3Oi2 und Gd
gleichzeitig eingearbeitet werden, wird der erfindungsgemäße Effekt nicht vermindert.
Wenngleich die Szintillationsumwandlungswirdkungsgrad durch Erhöhen der Reinheit der herkömmlichen
Kristalle verbessert wird, wird der Szintillationsumwandlungswirkungsgrad
durch das Einarbeiten der erfindungsgemäß herausgegriffenen Verunreinigungen in dem BGO-Kristall gesteigert.
So beruht die vorliegende Erfindung auf der Erkenntnis, daß mam den Szintillationsumwandlungswirkungsgrad
oder die Lichtausbeute durch eine Zugabe von Bi4Si3Oi 2 und/oder Gd verbessern kann.
Wenngleich Bi4Si3Oi2 die gleiche Kristallstruktur wie
BGO besitzt, ist der Szintillationsumwandlungswirkdungsgrad dieses Materials bei Raumtemperatur gering,
so daß dieses Material als solches für Szintillatorkristalle nicht geeignet ist. Wenn man es jedoch unter Bildung
einer festen Lösung in BGO einarbeitet, ist de Lichtausbeute der festen Lösung unter Einwirkung der
Strahlung größer als die eines Kristalls aus reinem BGO. Die Erfindung sei im folgenden näher unti:r
Bezugnahme auf die Zeichnung erläutert In den Zeichnungen zeigt
F i g. 1 anhand einer Kurve die Beziehung zwischen
ω dem Bi4Si30,2-Gehalt in dem BGO-Einkristall und der
Lichtausbeute, ausgedrückt als Kanalnummer des Maximums, und
Fig.2 anhand einer Kurve die Beziehung zwischen
Fig.2 anhand einer Kurve die Beziehung zwischen
dem Gd-Gehalt in dem BGO-Einkristall und der
Lichtausbeute, ausgedrückt als Kanalnummer des Maximums.
Die folgenden Beispiele dienen der weiteren Erläuterung der Erfindung.
Dieses Beispiel verdeutlicht einen BGO-Kristall, der
Bi4Si3Oi2 enthält
Man verwendet als Ausgangsmateria! eine Mischung aus BGO (Bi4Ge3Oi2), Bi2O3 und SiO2 in von der
angestrebten Zusammensetzung abhängigen Mengen als Ausgangsmaterial und züchtet einen BGO-Einkristall,
der Bi4Si3Oi2 enthält, nach der bekannten
Czochralski-Methode unter Verwendung eines BGO-Einkristalls
als Impfkristall. Das als Ausgangsmaterial eingesetzte BGO ist zuvor einmal dem Zonenschmelzen
oder Zonenreinigen unterzogen worden. Der Bestandteil Bi4Si3Oi2 bildet mit BGO eine fest-; Lösung. Man
bereitet verschiedene Kristalle durch Verändern des BuSi3Oi2-Gehalts in einem Bereich, der sich bis zu
5 Gew.-% erstreckt. Zu Vergleichszwecken wird unter den gleichen Bedingungen ein von Bi4Si3Oi2 freier
BGO-Einkristalle gezüchtet.
Jeder der erhaltenen BGO-Einkristalle wird zu einer
Länge von 20 mm, einer Breite von 10 mm und einer Dicke von 2 mm zerschnitten unter Bildung eines
Szintillator. Der Szintillator wird mit der Gammastrahlung
des radioaktiven Isotops 57 Co bestrahlt. Ausgehend von dem mit Hilfe eines Sekundärelektronen-Vervielfachers
ermittelten 57 Co-Spektrum berechnet man die Kanalnummer des Maximums als den die Lichtausbeute
wiedergebenden Wert.
Die hierbei erhaltenen Ergebnisse sind in der F i g. 1
dargestellt In der F i g. 1 sind auf der Ordinate die Kanalnummer des Maximums (cA^und auf der Abszisse
der Bi4Si3O)2-Gehalt (in Gew.-%) aufgetragen. Wie aus
der F i g. 1 zu erkennen ist, hängt die Lichtausbeute, d. h. die Kanalnummer des Maximums, von der Bi4Si3Oi2-Konzentration
in dem BGO-Einkrista!l ab, wobei der Maximalwert dann erreicht wird, wenn die Bi4Si3012-Konzenlration
0,05 bis 0,1 Gew.-% beträgt. Um einen Einkristall mit einer besseren Empfindlichkeit als ein
BGO-Einkristall, der kein Bi4Si3Oi2 enthält, zu bilden, ist
es erforderlich, daß die Bi4Si3Oj2-Menge bis zu
0,5Gew.-% beträgt, wobei man bessere Ergebnisse dann erhält, wenn der Bi4Si3Oi2-Gehalt 0,02 bis
0,2 Gew.-% beträgt Durch Einarbeiten von Bi4Si3Oi2 in
einen BGO-Einkristall wird die Lichtausbeute um im Höchstfall bis zu etwa 20% gesteigert.
Man verwendet als Ausgangsmaterial BGO, das zweimal dem Zonenschmelzen unterzogen worden ist,
und züchtet nach der Czochralski-Methode einen von Bi4Si3Oj2-freien BGO-Einkristall. Die Kanalnummer des
Maximums des erhaltenen Einkristalls beträgt 300. Demzufolge ist zu erkennen, daß das Einarbeiten einer
geeigneten Menge Bi4Si3Oi2 dem Effekt entspricht, den
man durch einen weiteren Zonenschmelzvorgang erreicht Mit anderen Worten kann man die Häufigkeit
des Zonenschmelzvorgangs des Ausgangsmaterials auf einen Vorgang reduzieren. Hierdurch können die
Herstellungsdauer verkürzt und die Verluste des Ausgangsmaterials durch das Zonenschmelzen verringert
werden, wodurch die Endausbeute an BGO erheblich verbessert werden kann. Da etwa 30% des
Ausgangsmaterials bei der einmaligen Durchführung der Zonenreinigung verloren gehen, verhindert die
Zugabe einer geeigneten Menge Bi4Si3Oi2 diesen
Verlust des Ausgangsmaterials.
Ein BGO-Einkristall, der bis zu 1 Gew.-% Bi4Si3Oi2
enthält, besitzt eine Energieauflösung von etwa 30%, was mit der vergleichbar ist, die man mit von Bi4Si3Oi2
freiem BGO erzielt
Dieses Beispiel verdeutlicht einen BGO-Kristall, der Gd enthält
Man züchtet nach der in Beispiel 1 beschriebenen Verfahrensweise einen BGO-Einkristall, mit dem
Unterschied, daß man als Additivausgangsmaterial Gd2O3 verwendet Man bereitete verschiedene Kristalle
durch Verändern des Gd-Gehalts innerhalb eines Bereichs von bis zu 100 ppm. Zu Vergleichzwecken wird
unter den gleichen Bedingungen ein von Gd freier BGO-Einkristall gezüchtet
Die Lichtausbeuten der erhaltenen Kristalle wurden nach der in Beispiel 1 beschriebenen Verfahrensweise
ermittelt
Die hierbei erhaltenen Ergebnisse sind in der F i g. 2 dargestellt. In der Fig.2 sind auf der Ordinate die
Kanalnummer des Maximums (ch) und auf der Abszisse
der Gd-Gehalt (in ppm) aufgetragen. Wie aus der F i g. 2 ohne weiteres hervorgeht, hängt die Lichtausbeute, d. h.
die Kanalnummer des Maximums, von der Gd-Konzentration in dem BGO-Einkristall ab. Wenn die Gd-Konzentration
bis zu 50 ppm beträgt, ist die Empfindlichkeit des Materials größer als die eines von Gd freien
BGO-Einkristalls, während bei einer Gd-Konzentration von 1 bis lO ppm, sich eine weitere Steigerung der
Kanalnummer des Maximums ergibt. Durch Einarbeiten von Gd läßt sich die Lichtausbeute um im Höchstfall
etwa 20% steigern.
J5 Wie aus den obigen Ergebnissen hervorgeht, wird
durch das Einarbeiten von Gd in BGO die Lichtausbeute von BGO gesteigert. Da jedoch der Segregationskoeffizient
von Gd zu BGO weniger als 0,1 beträgt, wird, wenn es erwünscht ist, Gd in einer Konzentration von
mehr als 100 ppm in den Kristall einzuarbeiten, die Gd-Konzentration in der Schmelze erhöht, wodurch
sich leichter Hohlräume in dem Kristall bilden. Da diese Hohlräume das gebildete Licht dämpfen, wird die
Lichtausbeute entsprechend vermindert. Zur Steigerung der Lichtausbeute ohne die Bildung von Hohlräumen ist
es daher bevorzugt, die Gd-Menge auf bis zu 50 ppm einzustellen.
Die Energieauflösung des BGO-Einkristalls, der 50 ppm Gd enthält, beträgt 25%, wobei sich zeigt, daß
M dieser Kristall eine gute Energieauflösung aufweist
Wie im Fall des Beispiels 1 ist das Einarbeiten einer geeigneten Menge Gd in BGO der Erhöhung des
Zonenschmelzens um einen weiteren Zonenschmelzvorgang äquivalent. Demzufolge kann durch das
Einarbeiten einer geeigneten Gd-Menge die Anzahl der Zonenschmelzvorgänge des als Ausgangsmaterial eingesetzten
BGO um einen Vorgang vermindert werden, ohne daß dadurch eine Verminderung der Empfindlichkeit
des BGO-Einkristalls verursacht wird. Demzufolge können die Herstellungszeit verkürzt und die Verluste
des Ausgangsmaterials durch das Zonenschmelzen vermindert werden.
Wie aus den Ergebnissen der obigen Beispiele h-rvorgeht, kann durch Einarbeiten von bis zu
b5 0,5 Gew.-% Bi4Si3Oi2 oder bis zu 50 ppm Gd in
BGO-Einkristalle die Lichtausbeute der BGO-Einkristalle als Szintillatoren um im Höchstfall etwa 20%
gesteigert werden, wobei dann, wenn die Lichtausbeute
dieses Einkristalls auf demselben Niveau gehalten wird, wie die eines additivfreien BGO-Einkristalls, man die
Zahl der Zonenreinigungsvorgänge des Ausgangsmaterials BGO um einen Vorgang vermindern kann, was zur
Folge hat, daß die Herstellungsdauer verkürzt und die Ausgangsmaterialverluste verringert werden können.
Man bereitet einen BGO-Einkristall, der 0,1 Gew.-c/o
Bi4Si3Oi2 und 50ppn Gd enthält, nach der in den
Beispielen 1 oder 2 beschriebenen Verfahrensweise, mit dem Unterschied, daß man Bi2O3, SiO2 und Gd2O3 als
Ausgangsmaterial für die Additive verwendet. Es zeigt sich, daß die Kanalnummer des Maximums dieses
Einkristalls etwa 300 beträgt. Demzufolge ist erkennbar, daß selbst dann, wenn man Bi4Si3Oi2 und Gd gemeinsam
in einen BGO-Kristall einarbeitet, der erfindungsgemäß erzielte Effekt nicht vermindert wird, sondern mit dem
Effekt vergleichbar ist, den man durch das Einarbeiten eines dieser Additive erzielt.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Dotierter BuGe^^-Einkristall, gekennzeichnet
durch einen Gehalt von bis zu 0,5 Gew.-°/o Bi4Si3Oi2 und/oder bis zu 50 ppm Gd.
2. BUGe3Oi2-Einkristal! nach Anspruch 1, gekennzeichnet
durch einen Gehalt von 0,02 bis 0,2 Gew.-% Bi4Si3O12.
3. Bi4Ge3Ou-Einkristall nach Anspruch 1, gekennzeichnet
durch einen Gehalt von 0,05 bis 0,1 Gew.-% Bi4Si3O12-
4. Bi4Ge3Oi2-Einkristall nach Anspruch 1, gekennzeichnet
durch einen Gehalt von 1 bis lü ppm Gd.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP54002968A JPS5940175B2 (ja) | 1979-01-17 | 1979-01-17 | シンチレ−タ用結晶 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3001592A1 DE3001592A1 (de) | 1980-08-21 |
DE3001592C2 true DE3001592C2 (de) | 1982-06-03 |
Family
ID=11544164
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3001592A Expired DE3001592C2 (de) | 1979-01-17 | 1980-01-17 | Dotierter Wismutgermanat-Einkristall |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4279772A (de) |
JP (1) | JPS5940175B2 (de) |
DE (1) | DE3001592C2 (de) |
GB (1) | GB2040979B (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3235076A1 (de) * | 1982-09-22 | 1984-03-22 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Aufnahme- und auslesevorrichtung fuer roentgenstrahlen |
GB8431838D0 (en) * | 1984-12-17 | 1985-01-30 | Secr Defence | Luminescent ceramic plates |
JPH065290B2 (ja) * | 1986-09-18 | 1994-01-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | ポジトロンct装置 |
CN102011187B (zh) * | 2010-12-28 | 2012-11-21 | 上海应用技术学院 | 硅锗酸铋混晶及其制备方法 |
CN110295394A (zh) * | 2018-03-23 | 2019-10-01 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 一种硅酸铋闪烁晶体的旋转下降法生长工艺 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4187139A (en) * | 1973-02-14 | 1980-02-05 | U.S. Philips Corporation | Growth of single crystal bismuth silicon oxide |
FR2390401A1 (fr) * | 1977-05-13 | 1978-12-08 | Thomson Csf | Materiau polycristallin de formule bi12 ge o20, procedes de fabrication dudit materiau, et dispositifs de detection de radiations utilisant ce materiau |
FR2415086A1 (fr) * | 1978-01-24 | 1979-08-17 | Thomson Csf | Materiau polycristallin de formule bi12sio20, procede de fabrication dudit materiau, et dispositif de detection de radiations utilisant ce materiau |
-
1979
- 1979-01-17 JP JP54002968A patent/JPS5940175B2/ja not_active Expired
-
1980
- 1980-01-15 US US06/112,276 patent/US4279772A/en not_active Expired - Lifetime
- 1980-01-15 GB GB8001344A patent/GB2040979B/en not_active Expired
- 1980-01-17 DE DE3001592A patent/DE3001592C2/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2040979B (en) | 1983-01-12 |
US4279772A (en) | 1981-07-21 |
GB2040979A (en) | 1980-09-03 |
JPS5595885A (en) | 1980-07-21 |
JPS5940175B2 (ja) | 1984-09-28 |
DE3001592A1 (de) | 1980-08-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69836085T2 (de) | Szintillationsmaterial und szintillationswellenleiter | |
DE3011978C2 (de) | Szintillator eines Tomographie-Gerätes aus einem Wolframat-Einkristall und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE2734799C2 (de) | Eingangsschirm für eine Röntgen- bzw. Gammastrahlen-Bildwandlerröhre und Verfahren zur Herstellung dieses Eingangsschirms | |
DE2339088A1 (de) | Roentgenbild-umwandler | |
DE69508473T2 (de) | Verfahren zur Herstellung von Silizium-Einkristall und Tiegel aus geschmolzenem Silika dafür | |
DE3629180C2 (de) | ||
DE815067C (de) | Kathodenstrahlroehre mit einem auf einem Glastraeger angebrachten Leuchtschirm | |
DE3001592C2 (de) | Dotierter Wismutgermanat-Einkristall | |
DE3303166C2 (de) | ||
DE102011115149A1 (de) | Unterdrückung von kristallwachstumsinstabilitäten während der herstellung von seltenerdoxyorthosilikat-kristallen | |
DE10304397A1 (de) | GSO-Einkristall und Szintillator für die PET | |
DE10049406B4 (de) | Röntgendetektorvorrichtung, optischer Kopplerverbundwerkstoff für Röntgendetektorvorrichtung und Verfahren zum Aufbau eines Röntgendetektoraufbaus | |
DE102004046395A1 (de) | Fluorid-Einkristall zum Erfassen von Strahlung, Szintillator und Strahlungsdetektor unter Verwendung eines solchen Einkristalls sowie Verfahren zum Erfassen von Strahlung | |
DE3148988C2 (de) | Verfahren zur Wärmebehandlung eines Wolframat-Einkristalls | |
DE1302393B (de) | ||
DE1153540B (de) | Verfahren zur Herstellung eines Stabes aus Halbleitermaterial | |
DE4004017A1 (de) | Strahlungsabschirmungsglas | |
DE1105066B (de) | Halbleiteranordnung mit einem wenigstens teilweise hochohmigen Kadmiumtelluridkoerper und Verfahren zu deren Herstellung | |
EP0279490B1 (de) | Einkristall auf Basis von Seltenerdmetall-Aluminium-Granat | |
DE102009028842A1 (de) | Szintillationsmaterial in einkristalliner, polykristalliner oder keramischer Form | |
DE1276012B (de) | Verfahren zum Zuechten von mit paramagnetischen Ionen dotierten Einkristallen aus Wolframaten der Erdalkalimetalle Calcium, Strontium oder Barium | |
DE2055789A1 (de) | Mit Jodid aktivierter Thallium Chlorid Szintillator | |
DE2216064C3 (de) | Sensibilisiertes, silberaktiviertes, P tief 2 0 tief 5 -haltiges Radiophotolumineszenz-Glas hoher Empfindlichkeit und relativ geringer Predose sowie Verfahren zu seiner Herstellung und eine Verwendung | |
DE69612245T2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Einkristalles aus seltenen Erden Silikate | |
Funke et al. | Niveaustruktur in 167Er |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OAP | Request for examination filed | ||
D2 | Grant after examination | ||
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Free format text: STREHL, P., DIPL.-ING. DIPL.-WIRTSCH.-ING. SCHUEBEL-HOPF, U., DIPL.-CHEM. DR.RER.NAT., PAT.-ANW., 8000 MUENCHEN |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |