DE2952851A1 - Verfahren und vorrichtung zum vergleich logischer funktionen - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zum vergleich logischer funktionen

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DE2952851A1
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DE19792952851
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William E Shoemaker
David W Wilson
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
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    • G01R31/3177Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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    • G06F11/25Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
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Description

PATENTANWÄLTE" Albert-Rosshaupter-Straese 65 0 8000 München 70 Telefon (089) 7605520 Telex 05-212284 paled Telegramme Kernpalonl München
GOULD INC. 23. April 1980
10 Gould Center, GD-21
Boiling Meadows, Illinois 60008,
U. S. A.
Verfahren und Vorrichtung zum Vergleich logischer Funktionen
Beschreibung:
In allgemeiner Hinsicht betrifft diese Erfindung das Prüfen von Logiksignalen einer elektronischen Schaltung. Bei der Kontrolle der Leistung einer zu prüfenden Schaltung oder eines zu prüfenden Systems (S.U.T. für englisch "system under test") ist es häufig wünschenswert, die Logikeignale innerhalb des Systems mit den entsprechenden Logiksignalen in einem gleichen bzw. ähnlichen, jedoch bekannt guten System (K.G.S. für englisch "known good system") oder einer bekannt guten Schaltung zu vergleichen. In der Praxis
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wird ein Logiksignal erhalten, indem eine Sonde in Kontakt mit einem leitfähigen Abschnitt des System gebracht wird. Solch ein Kontaktpunkt einer Schaltung wird als "Knotenpunkt1 bezeichnet. Es wird zumeist angestrebt» die Logiksignale an einer Anzahl von Knotenpunkten zu erhalten und in irgendeiner Weise zu prüfen, etwa mittels der Anzeige auf einer Kathodenstrahlröhre.
Ein häufig bestehendes Hindernis für den Vergleich von Logiksignalen am gleichen Knotenpunkt von zwei Systemen besteht darin, daß die Systeme von Taktoszillatoren getrieben sind, welche sich in ihrer Frequenz unterscheiden, üblicherweise weist ein System einen fiC-gesteuerten Taktbzw. Zeitgeberfrequenzoszillator auf, so daß die Frequenzen der Zeitgeberoszillatoren von verschiedenen Systemen einen erheblichen Unterschied aufweisen. Somit ist es, obwohl die Logiksignale eines gegebenen Systems eine korrekte zeitliche Steuerung zueinander aufweisen, da diese Logiksignale auf einen gemeinsamen Zeitgeberoszillator bezogen sind, schwierig, Logiksignale zwischen Systemen zu vergleichen, da die Logiksignale an irgendeinem besonderen Knotenpunkt sich auch hinsichtlich des Frequenzunterschiedes ihrer Jeweiligen Zeitgeberoszillatoren unterscheiden werden.
Daher besteht eine wesentliche Aufgabe der vorliegenden Erfindung darin, eine Technik zum Vergleichen von Logiksignalen eines Systems mit Logiksignalen eines Systems des
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gleichen Typs anzugeben, wobei für die verschiedenen Zeitgeberfrequenzen der beiden Systeme eine selbsttätige Kompensation vorgesehen ist.
Ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine Technik zum Vergleich von Logiksignalen von zwei Systemen des gleichen Typs anzugeben, welche für die, die beiden Systeme vergleichende Bedienungsperson außerordentlich zweckmäßig und schnell ist.
Noch ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine verbesserte Technik zur Erlangung und Anzeige von Logiksignalen von verschiedenei Knotenpunkten eines einzigen Systems anzugeben, wobei eine weniger komplexe Ausrüstung und eine entsprechende Erhöhung der Bequemlichkeit für die Bedienungsperson gegeben sind.
Diese Aufgabe und Ziele, sowie zusätzliche Ziele werden mit der vorliegenden Erfindung erfüllt, wobei, kurz gesprochen, nach einem Gesichtspunkt der Erfindung eine Anzahl Bezugssignale aus einem bekannt guten System, mit dem andere Systeme verglichen werden sollen, aufgezeichnet werden, etwa bei der Abschlußprüfung von neu zusammengebauten Systemen. Ein aufgezeichnetes Bezugssignal ist eine periodische Wellenform, die ein besonderes Frequenzverhältnis zu dem Ausgangssignal des gemeinsamen TaktoBzillators des bekannt guten Systems aufweist. Die verbleibenden Bezugssignale werden an den verschiedenen Knotenpunkten des Systems abgenommen.
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Ein zu prüfendes System wird zuerst überprüft, indem die Frequenz einer von seinem Taktoszillator-Ausgang gelieferten periodischen Wellenform mit der vorher aufgezeichneten des bekannt guten Systems verglichen wird. Irgendein Frequenzunterschied beruht auf dem Unterschied, in der Frequenz der Zeitgeberoszillatoren der jeweiligen Systeme. Es ist eine Kompensation dieses Frequenzunterschiedes vorgesehen, indem alle Bezugssignale so eingestellt werden, daß sie eine unterschiedliche Frequenz aufweisen. Daraufhin werden aus dem zu prüfenden System Logiksignale erhalten, indem eine Sonde mit den verschiedenen Knotenpunkten des zu prüfenden Systems in Berührung gebrecht wird. Das von jedem Knotenpunkt des zu prüfenden Systems erhaltene Signal wird auf einer Kathodenstrahlröhre angezeigt, unmittelbar oberhalb oder unterhalb des frequenzmäßjg eingestellten Signals, das vom gleichen Knotenpunkt des bekannt guten Systems erhalten worden ist. Daraufhin ist ein optischer Vergleich der Signale möglich, jedoch können auch "Erfüllt"- bzw. "Vcrsagf'-Lichtzeichen .vorgesehen werden, damit die Bedienungsperson erkennen kann, ob das Signal an einem besonderen Knotenpunkt des zu prüfenden Systems dem Bezugssignal für diesen Knotenpunkt innerhalb einer vorgegebenen Grenze entspricht. Ferner sollen auf der Kathodenstrahlröhrenanzeige auch Bereiche der Nicht-Übereinstimmung zwischen den beiden Signalen hervorgehoben werden.
Nach einem anderen Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung werden eine Anzahl Signale aus einer Anzahl Knotenpunkte
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eines gegebenen Systems erhalten, gespeichert und angezeigt, was in allen Fällen mit der Anwendung einer einzigen Sonde erfolgt. Dieses "Ein-Sonden-Logik-Analysier-Verfahren" weist den Vorteil auf, daß eine Zahl von umständlich zu handhabenden Sonden entfällt, welche bei Anwendung einer bestehenden Ausrüstung gleichzeitig an den verschiedenen Knotenpunkten eines Systems angebracht werden müssen. Da Jedes Signal erhalten und angezeigt wird, werden die vorher erhaltenen und angezeigten Signale auf dem Schirm der Kathodenstrahlröhre verschoben, um Platz für das allerdüngst erhaltene Signal zu'schaffen. Wenn der Schirm voll ist, werden die ältesten Signale verworfen, wobei die allerjüngste Signalgruppe zur Überwachung beibehalten wird.
Weitere Aufgaben, Ziele, Besonderheiten und Vorteile der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung, welche anhand der Zeichnungen dargestellt sind;dort zeigt:
Fig. 1 elektronische Systeme, welche die Verfahren und die Vorrichtung der vorliegenden Erfindung anwenden;
Fig. 2 ein Schaltungsdiagramm eines erfindungsgemäßen PrüfInstrumentes;
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fig. 3 und 3A den Aufbau einer Sonde für die Anwendung bei der Schaltung nach Pig. 2;
Pig. 4 die Zeitgebersignale an verschiedenen Punkten innerhalb der Schaltung nach . 2;
Pig· 5» 6 und 7 Wellenformen zur Erläuterung der Arbeitsweise und Verwendung der Schaltung nach Pig. 2.
Bezugnehmend auf Pig. 1 wird die Natur der elektronischen Schaltungen und der Systeme beschrieben, welche nach den verschiedenen Techniken der vorliegenden Erfindung geprüft werden können. Ein wesentlicher Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung ist der Vergleich der Logiksignale eines zu prüfenden Systems (S.U.T.) mit den Logiksignalen eines bekannt guten Systems (K.G.S.). Jedes dieser Systeme ist eine elektronische Schaltung von ähnlicherb2w.glekherAit,und es ist beabsichtigt, die Logiksignale an verschiedenen Knotenpunkten innerhalb der jeweiligen Schaltung zu vergleichen. Zum Beispiel können die Knotenpunkte N. und M. des bekannt guten bzw. des zu prüfenden Systems ein Leiter innerhalb der Schaltungen sein, welcher ein Taktsignal befördert, das von einem internen Oszillator abgeleitet worden ist. Andere, mit dem Taktsignal synchrone Logiksignale liegen an den Knotenpunkten N^, N, und so weiter des bekannt guten Systems
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bzw. an den Knotenpunkten M^, M, usw. des zu prüfenden Systems vor. Das zu prüfende System wird zumeist ein Produktionserzeugnis sein, das sorgfältig geprüft werden muß, bevor es versandt werden kann. Eine Prüfstufe besteht darin, die Signale an verschiedenen Knotenpunkten mit diesen Signalen an den gleichen Knotenpunkten eines bekannt guten Systems zu vergleichen. Dies erfolgt nach einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung mittels einem Instrument, wie es mit den Fig. 2 und 3 dargestellt ist.
Anfänglich bezugnehmend auf Fig. 2 wird ein zu analysierendes Signal von einem Systemknotenpunkt über eine Sonde einem Eingangsanschluß 11 zugeführt. Diese Schaltung ist zum Empfang und zur Verarbeitung binärer Signale ausgelegt. Das Signal am Anschluß 11 wird über einen Verstärker 13 mit der Verstärkung areden nicht-invertierenden Eingängen von Komparatorverstärkern 15» 17 und 19 zugeführt. Bei dieser Ausführungsform haben die Komparatoren 15 und 17 die Aufgabe, die Spannungspegel der Signale festzustellen. Bezugnehmend auf Fig. 4(A) ist ein Taktsignal mit rechtwinkliger Wellenform dargestellt, welches sowohl in Richtung nach oben wie in Richtung nach unten die Bezugsspannungspegel REF. und REFp passieren kann. Diese Bezugsspannungspegel werden den invertierenden Eingängen der Komparatoren 15 und 17 über die Leitungen 21 bzw. 23 zugeführt. Deshalb weist der Komparator 15 ein Ausgangssignal auf, das den Pegel ändert, wenn das Eingangssignal die Bezugsspannung REF,. kreuzt. Auf ähnliche Weise weist der Komparator 17 ein Ausgangssignal auf, das den
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Pegel ändert, wenn der Signalpegel an seinem nicht-invertierenden Eingang durch die Bezugsspannung REFp gelangt. Die Anwendung der beiden Komparatoren gewährleistet die Vorteile einer Hysteresis.
Ein invertiertes Ausgangssignal des !Comparators 15 und ein nicht-invertiertes Ausgangssignal des !Comparators 17 werden einer Glitch-Detektorschaltung 25 zugeführt, welche auf ein Taktimpulssignal in der Leitung 31 hin einen Datenimpuls in die Leitung 33 abgibt. Ein repräsentatives Tektimpulssignal 31 ist in Fig. 4 (B) dargestellt. Bei jedem Taktimpuls ist das Ausgangssignal in der Leitung 33 ein Digitalwert "1" oder "0", was davon abhängt, ob das Eingangssignal der i'ig. 4(A) oberhalb des Beaugsspannungspegels REF^ oder unterhalb des Bezugsspannungspegels REi^ liegt. Somit wirken die Komparatoren 15 und 17 und die Glitch-Detektorschaltung 25 als ein Analog/Digital-Wandler für binäre Signale.
Die digitalisierten Signalbits in der Leitung 33 werden in einem Hochgeschwindigkeitsspeicher 39 in der Folge gespeichert, wie sie auftreten. Der Speicher 39 kann beispielsweise ein 1024-Bit-Speicher sein. Das bedeutet, dass, wenn der Speicher 39 getaktet wird, die letzten, in der Leitung 33 erscheinenden 1024 Bits zu irgendeiner gegebenen Zeit in dem Speicher 39 gespeichert werden. Periodisch werden einige oder alle dieser Bits in einen Speicher 41 mit wahlfreiem Zugriff überführt. Die Information im Speicher 41 wird daraufhin der An-
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Zeigeelektronik 43 zugeführt, um eine Kathodenstrahlröhre 45 so zu treiben, daß diese das Logikmuster des dem Eingangsanschluß 11 zugeführten Signals rekonstruiert. Das Strahlenbündel der Kathodenstrahlröhre 45 wird entsprechend den, über die Leitungen 47 bzw. 49 zugeführten vertikalen und horizontalen Abtastsignalen so abgelenkt, daß das rekonstruierte Logikmuster eine Darstellung der vom Eingangsanschluß 11 empfangenen Werte darstellt.
Der Glitch-Detektor 25 nach Fig. 1 enthält Logikelemente in der Form von UND-Gattern 53 und 55» einen Setz-Rücksetzi'lip-rFlop 57 und einen D-Flip-Flop 59 (- Verzögerungs-Flip-Flop). Diese besondere Schaltung weist den weiteren Vorteil auf, daß ein Bitsignal in der Leitung 33 bei einem besonderen Taktimpuls abgegeben wird, selbst, wenn das entsprechende Analogsignal in diesem Moment am Anschuß 11 nicht existiert, sondern wenn lediglich ein kurzes Glitch-Signal vor diesem Moment, Jedoch nach dem allerjüngsten vorausgegangenen Taktsignal, auftrat; d.h. Impulse, welche im Signal in dem Eingangsanschluß 11 zwischen den Abtastzeiten der Taktimpulse auftreten. Sofern die Flip-Flops und 59 nicht gesetzt sind, und das invertierte Auegangssignal des Komparators 15 abfällt, wird der Flip-Flop 57 gesetzt. Sofern andererseits beide Flip-Flops 57 und 59 gesetzt sind, und das nicht-invertierte Ausgangssignal des Komparators 17 abfällt, wird der Flip-Flop 57 rückgesetzt.
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Vie das typischerweise bei einer modernen Schaltungsauslegung der Fall ist, wird eine Mikroprozessorplatte 67 anstelle einer Schaltplatte mit verdrahteten elektronischen Bauteilen verwendet, um Flexibilität und eine verringerte Anzahl von Komponenten zu erreichen, was wiederum zu einer Verringerung der Kosten führt. Die Mikroprozessorplatte 67 enthält einen Mikroprozessor und diesem zugeordnete Speicherelemente, welche die Steuerprogramme enthalten. Der Mikroprozessor steht über eine Mikroprozessorvielfachleitung mit anderen Schaltungselementen in Verbindung. Eine der vom Mikroprozessor ausgeführten Funktionen besteht darin, eine Folge von Datenbits aus dem Hochgeschwindigkeitspeicher 39 in den Speicher 41 mit wahlfreiem Zugriff zu überführen. Auf ähnliche Weise gibt der Mikroprozessor Anzeigebits in den Speicher 41, welche von den Anzeigeelekronikschaltungen 43 ausgelesen werden, wenn es angestrebt wird, auf der Kathodenstrahlröhre 45 eine Rekonstruktion des dem Anschluß 11 eingegebenen Binärsignals anzuzeigen. Der Speicher 41 hat die weitere Eigenschaft, viele solche Signale zu speichern. Ferner ist an die Mikroprozessorvielfachleitung 69 eine Magnetbandeinheit 68 angeschlossen,um zusätzliche Speicherkapazität zu schaffen. In dieser Ausführungsform handelt es sich bei der Magnetbandeinheit 68 um eine Kassetteneinheit.
VieiLe andere Schaltungen sind direkt mit der Mikroprozessorvielfachleitung 69 verbunden. Die Schalter 71 am Bedienungspult sind so angeschlossen, daß der programmierte Mikroprozessor periodisch den Zustand dieser Schalter überprüft,
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um festzustellen, ob eine Bedienungsperson die Durchführung irgendeiner besonderen Funktion der Vorrichtung abruft. Ein Systemtaktoszillator 73 wird über die Vielfachleitung 69 betätigt und versorgt ebenfalls die Mikroprozessorplatte 67 über die Leitung 75 mit einem Taktsignal. Die Decodierschaltungen 77 liefern bestimmte Steuersignale an andere Schaltungselemente. Auf ähnliche Weise wandeln Codierschaltungen 79 zumindest ein Signal in einen geeigneten Digitalcode für den Informationsaustausch mit dem Mikroprozessor 67 über die Vielfachleitung 69 um. Über die Vielfachleitung 69 werden ferner Leuchtanzeigen 72 am Bedienungspult gesteuert; zu diesen Leuchtanzeigen gehört eine grüne Lichtanzeige 74 für "erfüllt" sowie eine rote Lichtanzeige 76 für "versagt"< die Funktion dieser Lichtanzeigen ist später beschrieben.
Ferner ist mit der Vielfachleitung 69 ein Digital/Analog-Wandler 81 verbunden, der an der Ausgangsleitung 83 Analogspannungspegel liefert, die als Folge auf bestimmte Digitalcodes auftreten, welche vom Mikroprozessor 67 über die Vielfachleitung 69 diesem geliefert worden sind. Diese Spannungspepel werden drei verschiedenen Abtast- und Halteschaltungen 85» 87 und 89 zugeführt. Die Ausgänge von zwei Abtast- und Halteschaltungen 85 und 87 liefern die Bezugsspannungen REF-1 und REFg in den Leitungen 21 bzw. 23» wie das oben beschrieben ist. Diese Spannungen werden zur Bildung der Bezugsspannungspegel für die Analog-in-Digital-wandelnden Komparatoren 15 und 17 verwendet.
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Sie Kombination des Digital/Analog-Vandlers 81 mit den Abtast- und Halteschaltungen 85, 87 und 89 erlaubt die Eineteilung von drei gleichzeitigen Bezugsspannungspegeln durch den Mikroprozessor, nämlich von zwei Bezugsspannungspegeln über die Leitungen 21 und 23 und einem weiteren über die Leitung 97· All dies erfolgt bei Anwendung eines einzigen Digital/Analog-Wandlers; ein solcher Digital/Analog-Wandler stellt ein teueres Bauteil dar, und diese Anordnung weist daher den Vorteil einer Verringerung der Vorrichtungskosten auf.
Sofern der Mikroprozessor 67 eine besondere Spannung auf einer der Leitungen 21, 23 oder 97 einstellen will, gibt er einen Digitalcode für die Spannung auf die Vielfachleitung 69, und der Digital/Analog-Wandler 81 erzeugt die Spannung in der Leitung 83. Der Mikroprozessor übermittelt daraufhin ein Signal über die Vielfachleitung 89» das von der Schaltung 77 decodiert werden kann,um die entsprechende Abtast- und Halteschaltung 85,87 oder 89 freizugeben, so daß diese Spannung in der Leitung 83 daraufhin an deren Ausgang auftritt.
Die mit Bezugnahme auf Fig. 2 erläuterte Schaltung weist die Eigenschaft auf, mit einem externen Triggersignal synchronisiert zu werden, das einem Anschluß 101 zugeführt wird, oder mit einem intern erzeugten Triggersignal, das vom Komparator 19 auf das Eingangssignal hin erzeugt wird. Das externe Trig-
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gersignal wird über einen Verstärker 103 mit der Verstärkung eins einem nicht-invertierenden Eingang eines !Comparators 105 zugeführt. Die invertierenden Eingänge von sowohl dem Intern-Triggerkomparator 19 wie dem Extern-Triggerkomparator 105 sind an die Leitung 97 angeschlossen, welche den Ausgang der dritten Abtast- und Halteschaltung 89 darstellt. Die in der Leitung 97 unter der Mikroprozessorsteuerung, wie oben beschrieben, festgelegte Spannung bestimmt die Schwellenspannung für die Feststellung, ob ein Triggersignal auftritt.
Die Signale an den invertierenden und nicht-invertierenden Ausgängen des Intern-Triggerkomparators 19 und des Extern-Triggerkomparators 105 werden einer Triggerquellen- und -flankenauswahl-Schaltung 107 zugeführt, welche ihrerseits von Signalen gesteuert wird, welche von der Decodierschaltung 77 über eine Leitung 109 zugeführt werden. Die Schaltung wählt entweder das externe Triggersignal oder das interne Triggersignal aus, indem eine Verbindung zu dem entsprechenden Komparator 105 bzw. 19 hergestellt wird. Ferner wählt diese Schaltung aus, ob ein Freigabesignal in der Leitung von einer Anstiegs- oder Abfallflanke des externen Triggerimpulses oder von der positiven oder negativen Steigung des Signals am Anschluß 11 iniziiert worden ist, was davon abhängt, welche Triggerquelle ausgewählt worden ist. Das Signal in der Leitung 111 gibt einen Triggerverzögerungszähler 113 frei, um auf ein Taktsignal in der Leitung 31 hin den Zählstand zu erhöhen. Ein Überlauf des Zählers 113 wird über
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eine Leitung 115 als ein "EOS"-Signal sowohl dem Hochgeschwindigkeitsspeicher 39 wie der Codierschaltung 79 zugeleitet, um über die Vielfachleitung 69 mit dem Mikroprozessor 67 in Verbindung zu treten.
Zur Erläuterung der Arbeitsweise der Triggerschaltung ist in Fig. 4(C) ein externer Triggerimpuls dargestellt. Dies ist das Signal, das dem Anschluß 101 nach Fig. 2 zugeführt wird. Solch ein Triggersignal steht in vielen Arten von zu prüfenden Schaltungen gemeinsam mit dem Signal der Fig. 4(A) zur Verfügung. Logikschaltungen verfügen zumeist über einen synchronisierenden Triggerimpuls, etwa einem Impuls, wie er in Fig. 4(C) dargestellt ist, welcher synchron mit den Auftreten des Eingangssignals am Anschluß 11 ist. Fig. 4(D) zeigt das "EOS"-Signal in der Leitung 115« und es wird durch die Verzögerung des Zählers 113 ein zeitlicher Abstand X vom Triggerimpuls festgelegt. Diese Verzögerung wird durch einen Befehl des Mikroprozessors in Gang gesetzt, welcher über dessen Vielfachleitung 69 herangeführt wird, die mit dem Zähler 113 in Verbindung steht. Der Mikroprozessor führt eine Voreinstellung des Zählers auf eine bestimmte Zahl durch, so daß, wenn der Zähler mit dem Impuls in der LeitungH1 beim Auftreten eines Triggerimpulses am Anschluß 101 freigegeben wird, der Zähler um eine vorgegebene Anzahl von Taktimpulsen 31 vor dem t)berlauf-"EOS"-Signal läuft, das in der Leitung auftritt.
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Der Hochgeschwindigkeitsspeicher 39 ist von solcher Bauart, daß er beim Takten die letzten 1024 Bits der Information speichert, die ihm über die Leitung 33 zugeführt werden. Der Speicher 39 reagiert auf das "EOS"-Signal in der Leitung 115, um die im Speicher 39 befindlichen Daten eine zeitlang einzufrieren. Nachdem er einmal angehalten ist, wird der Speicher 39 aus der Leitung 33 keine weitere Information aufnehmen, bis diese eingefrorenen Informationsbits aus dem Speicher 39 in den Speicher 41 mit wahlfreiem Zugriff überführt worden sind. Bei einer besonderen Ausführungsform werden auf diese Weise 1000 Bits entnommen, und verwendet.
Im wesentlichen bezugnehmend auf Fig. 3 wird eine bevorzugte Handsonde 1 erläutert, die für die Anwendung mit der Schaltung nach Fig. 2 vorgesehen ist. Ein Leiter 2 an einem Ende der Sonde wird auf einem Schaltungsknotenpunkt angeordnet, dessen Signal abgenommen werden soll, und dieses Signal wird über den Leiter 3 dem Anschluß 11 der Schaltung nach Fig. 2 zugeführt. An der Oberfläche des Sondenkörpers sind zwei Druckknopfschalter 4 und 5 vorgesehen. Der Sondenkörper weist zumeist kreisförmigen Querschnitt auf. An gegenüberliegenden Seiten des Sondenkörpers sind die roten Lichtζeichen 6 und θ für "versagt" vorgesehen. In ähnlicher Weise sind die grünen Lichtzeichen 7 und 9 für "erfüllt" benachbart zu den Lichtzeichen 6 bzw. 8 vorgesehen. Betrachtet man die Querschnittsdarstellung nach Fig. 3(A), so ist ersichtlich, daß die relative Anordnung der Druckknopfschalter 4 und 5 sowie der verschiedenen Lichtzeichen eine gute Sichtbarkeit der Licht-
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zeichen gewährleistet, wenn die Bedienungsperson mit der Hand die Sonde umfaßt, um die Schalter 4· und 5 mit dem Daumen oder dem Zeigefinger zu betätigen. Die Anordnung von zwei Sätzen Erfüllt/Versagt-Lichtzeichen an gegenüberliegenden Seiten der Sonde gewährleistet, daß zumindest ein Lichtzeichensatz beim Arbeiten mit der rechten oder linken Hand klar zu erkennen ist. Die Erfüllt/Versagt-Lichtzeichen erscheinen auch auf der Instrumentenkonsole in Form der oben angegebenen Lichtzeichen 7^ und 76 der Fig. 2, jedoch erlaubt ihre Anwesenheit an der Sonde 1, gemeinsam mit den Druckknopfschaltern 4 und 5 für die Bedienungsperson eine sehr schnelle und bequeme Überprüfung der verschiedenen Knotenpunkte, jeweils eines Knotenpunktee zu einem Zeitpunkt, eines zu prüfenden Systems. Die Erfüllt/ Versagt-Lichtzeichen der Sonde 1 nach Fig. 3 sind über die Leiter 3 mit den Anschlüssen 12 der Schaltung nach Fig. verbunden. Auf ähnliche Weise sind die Schalter 4 und 5 über die Leiter 3 mit den Anschlüssen 14 der elektronischen Schaltung verbunden.
Die Arbeitsweise des oben beschriebenen Instrumentes wird nunmehr bezüglich des Vergleichs verschiedener Knotenpunkte eines zu prüfenden Systems mit den Bezugssignalen eines bekannt guten Systeme dargelegt. Eine Bedienungsperson benutzt zuerst die Sonde nach Fig. 3t um auf einem in der Magnetbandeinheit 68 nach Fig. 2 enthaltenden Magnetband einen Takt-
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signalverlauf und verschiedene Logiksignale an den gewünschten Knotenpunkten eines bekannt guten Systems aufzuzeichnen. Zur gleichen Zeit werden bestimmte Parameter einschl. der Erfüllt/Versagt-Kriterien, wie sie von der Bedienungsperson spezifiziert werden, auf dem Magnetband aufgezeichnet. Ein solches Magnetband kann daraufhin von irgendeiner Anzahl Bedienungspersonen auf einem ähnlichen Prüf- oder fieparaturinstrument oder einem Instrument am Einsatzort immer wieder ausgelesen werden, um Prüfungen anderer Systeme durch Vergleich ihrer Takt- und Logiksignale mit den aufgezeichneten Signalen eines bekannt guten Systems durchzuführen. Die Knotenpunkte des zu prüfenden Systems werden daraufhin auf der Basis dieses Vergleichs als "erfüllt" oder "nicht-erfüllt" bzw. "versagt" eingestuft.
Die Betätigung des Instruments zur Erlangung irgendeines Signals erfolgt in der Weise, daß die Bedienungsperson den Leiter 2 der Sonde 1 auf einem Schaltungsknotenpunkt anordnet und daraufhin den "ARM"-Schalter 4 an der Sonde 1 betätigt. Die Betätigung des Schalters 4 verursacht über den Mikroprozessor 67 ein Signal in der Leitung 110, das über die Leitung 111 die Freigabe des Zählers 113 bewirkt. Wenn das "EOS"-Signal auf hohen Wert geht, dann werden die vorherigen 1000 Bits oder dgl. der vom Signal am zu prüfenden Knotenpunkt digitalisierten Informationen zeitweilig im Speicher 59 ein-
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gefroren und zur Bildung einer Anzeige auf der Kathodenstrahlröhre 45 benutzt und ferner können diese Bits auf der Magnetbandeinheit 68 aufgezeichnet werden.
Bei der Prüfung eines zu prüfenden Systems verbindet die Bedienungsperson zuerst die Extern-Triggersonde mit dem zweckmäßigen Knotenpunkt, und ordnet daraufhin den Leiter der Sonde 1 auf einem Knotenpunkt an, an welchem ein Taktsignal anliegt, das hinsichtlich seiner Frequenz in Beziehung mit einem örtlichen treibenden Taktoszillator steht. Wenn der ARM-Knopf 4 gedrückt ist, dann erscheint das in Fig. 5 dargestellte Signal 201 unmittelbar oberhalb eines Bezugssignalverlauf β 203. Der Verlauf 2OJ wird vom Magnetband in den Speicher 41 eingelesen. Hier ist zu beachten, daß die Verläufe der Fig. 5 unterschiedliche Frequenz aufweisen; deshalb besteht der erste Schritt darin, alle die vom Magnetband abgerufenen Bezugssignalverläufe um ein Verhältnis der Frequenzen der Taktsignale 201 und 203 einzustellen. Die Frequenzunterschiede beruhen auf unterschiedlichen Taktoezillatorfrequenzen. Der Frequenzunterschied muß auf irgendeine Weise beseitigt werden, bevor die Bedienungsperson zur Prüfung anderer Knotenpunkte der Schaltung fortschreiten kann, um die Logiksignalverläufe mit den aufgezeichneten Bezugssignalverläufen zu vergleichen.
Zur Durchführung dieser Kompensation drückt die Bedienungsperson einen geeigneten Knopf am Bedienungspult, wodurch der
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Mikroprozessor 6? dazu gebracht wird, entsprechend einem vorgegebenen Algorithmus den Frequenzproportionalitätsfaktor zu berechnen; kurz gesprochen führt das dazu, daß das System eine Anzahl Sondentaktimpulse pro Periode für Jede der Wellenformen 201 und 203 errechnet, und daraufhin ein Verhältnis daraus bildet, um den Frequenzproportäonalitätsfaktor zu erhalten. Dies erfolgt mittels den rohen 1000 oder dgl. Datenbits, welche aus dem Hochgeschwindigkeitsspeicher 39 kommen.
Auf der Kathodenstrahlröhre werden nicht alle 1000 Bits für Jeden Verlauf angezeigt. Der Mikroprozessor 67 bildet aus den 1000 erhaltenen Bits 200 Anzeigebits, und diese 200 Anzeigebits bilden den Verlauf auf der Kathodenstrahlröhre. Wegen der Verringerung der 1000 Bits der für die Bezugssignale auf dem Magnetband gespeicherten Informationen in die 200 Anzeigebits muß die Einstellung des Frequenzunterschiedes zwischen diesem und dem zu prüfenden System sorgfältig durchgeführt werden. Nachdem die Bedienungsperson den Knopf zur Festlegung des Frequenzverhältnisses der beiden Systeme gedrückt hat, vergrößert sich die Bezugstaktsignalanzeige 203 der Fig. 5 auf eine Anzeige, die identisch mit dem Takt.sicjnalverlauf 201 aussieht. Sämtliche Bezugssignalverläufe des bekannt guten Systems, die nachfolgend vom Magnetband ausgelesen werden, werden in dieser frequenzmäßig eingestellten Betriebsart angezeigt. Die Bedienungsperson kann nunmehr die Prüfung der verschiedenen Knotenpunkte des zu prüfenden Systems durchführen.
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Die Bedienungsperson drückt daraufhin den Vorwärtsknopf der Sonde 1, was dazu führt, daß der Signalverlauf 201 um eine Zeile nach oben verschoben wird und ein neuer Bezugssignalverlauf 205 am unteren Rand der Anzeige der Kathodenstrahlröhre erscheint. Der Verlauf 205 stellt das dar, was die Bedienungsperson sehen soll, wenn ein Signal vom gleichen Knotenpunkt des zu prüfenden Systems angefordert wird. Die Bedienungsperson ordnet daraufhin den Sondenkontakt 2 auf diesem Knotenpunkt an und drückt den AfiM-Schalter 4, was dazu führt, daß der Verlauf 207 unmittelbar oberhalb des Bezugssignalverlaufs 205 erscheint. Diese befinden sich daraufhin in für einen einfachen Vergleich zweckmäßigen Positionen.
Um den Vergleich eines Logiksignals mit einem Bezugslogik» signal noch leichter zu machen, wird zwischen diesen ein i'ehlerverlauf angeordnet, wie etwa der Fehlerverlauf 209 der Fig. 5 und der Fehlerverlauf 211 der Fig. 6. Dieser Verlauf in der Form einer unterbrochenen Linie erscheint an jedem beliebigen Abtastpunkt der Logiksignalverläufe, wo deren Digitalzustand nicht übereinstimmt, wie das mit den Figuren dargestellt ist. Man läßt diesen Verlauf vorzugsweise aufblinken, so daß die Aufmerksamkeit auf Bereiche der Nicht-Übereinstimmung zwischen den beiden Logiksignalverläufen gerichtet wird. Alternativ könnten die Verläufe selbst in ihrer Intensität oder Farbe verändert werden, um die Bereiche der Nicht-Übereinstimmung hervorzuheben.
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Die Computerbetätigung zur Erzeugung der Fehlerverläufe 209 und 211 dient als zusätzliche Funktion zur Berechnung von zwei Zahlen für Jeden Vergleich, welche daraufhin in zusätzlichen Programmschritten benutzt werden, um die Erfüllt/Versagt-Lichtanzeigen 6 bis 9» 74 und 76 zu setzen. Die beiden so errechneten Zahlen sind die Zahlen der aufeinanderfolgenden Abtastperioden, wo die beiden Verläufe nicht übereinstimmen, sowie die Gesamtzahl der Abtastperioden, wo diese beiden Verläufe nicht übereinstimmen. Das Programm wird die "Versagf-Lichtanzeigen 6, 8 und zum Aufleuchten bringen, wann immer die Gesamtzahl der Abtastperioden der Nicht-Übereinstimmung einen bestimmten Prozentanteil der Abtastungen, etwa 30% in diesem besonderen Beispiel, übersteigt. Die "Versagt"-Lichtanzeige wird ebenfalls zum Aufleuchten gebracht, wenn die Gesamtanzahl der aufeinanderfolgenden Abtastperioden der Nicht-Übereinstimmung eine Anzahl von Perioden übersteigt, die auf dem Magnetband von der Bedienungsperson als maximal zulässige Nicht-Übereinstimmung bei der Signalaufzeichnung des bekannt guten Systems eingegeben worden ist. Andererseite können bei einem Vergleich eines Logiksignals mit einem Bezugssignal die "Erfüllf'-Lichtanzeigen 7» 9 und 74 zum Aufleuchten gebracht werden.
Wenn die Bedienungsperson mit der Prüfung jedes Knotenpunktes des zu prüfenden Systems fortschreitet, dann blickt
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sie lediglich auf die Sonde 1, da dort sowohl die Erfüllt/ Versagt-Lichtanzeigen und die Steuerschalter angebracht sind. Solange die Logiksignale "passieren" im Sinne von "erfüllt", muß die Bedienungsperson überhaupt nicht auf die Kathodenstrahlröhre 45 schauen. Sobald jedoch die Bedienungsperson ein "versagt" des Signals an einem besonderen Knotenpunkt feststellt, kann das Instrument anschließend benutzt werden, um weitere Informationen anzufordern, etwa über die Natur des Fehlers oder zur sonstigen Fehlersuche im System. Die vom zu prüfenden System angeforderten Logiksignale bleiben in gestapelter Anordnung weiterhin auf der Kathodenstrahlröhre 45 angezeigt, wie das teilweise in Fig. 6 dargestellt ist. Deshalb verbleiben die letzten, unterschiedlichen Logiksignale, innerhalb der Kapazität der Kathodenstrahlröhre 45, angezeigt, um der Bedienungsperson für künftige Bezugszwecke zu dienen, sofern dies angestrebt wird, üblicherweise erscheint jedoch lediglich ein einziger Bezugs signalverlauf auf der Kathodenstrahlröhre 45 am unteren Rand der Anzeige.
Bei einer etwas unterschiedlichen, mit Bezugnahme auf die Fig. 2 bis 4 beschriebenen Arbeitsweise des Instrumentes wird ein £in-Kanal-Logikanalysator benutzt. Bezugnehmend auf Fig. 7 wird zuerst ein Logiksignal S^ auf der Kathodenstrahlröhre 45 am unteren Hand angezeigt. Dieses Signal S^. wird angezeigt, wenn die leitfähige Spitze 2 der Sonde 1 auf einem besonderen Schaltungsknotenpunkt angeordnet ist, und der ARM-Knopf 4 der Sonde von der Bedienungsperson ge-
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drückt wird, wie das oben beschrieben ist.
Die Bedienungsperson drückt daraufhin den Vorwärtsknopf 5 an der Sonde 1, und der erste Verlauf S^. wandert um eine Zeile nach oben. Ein zweiter Verlauf Sp wird daraufhin angefordert, indem die Sondenspitze 2 auf einem zweiten Knotenpunkt angeordnet wird, und der ARM-Knopf 4 einen Moment niedergedrückt wird. Die Anzeige der beiden Signale ist in Teil (B) der Fig. 7 dargestellt. Die Bedienungsperson führt ähnliche Operationen durch, um die Signale an zusätzlichen Knotenpunkten anzufordern, bis der gesamte Schirm der Kathodenstrahlröhre voll ist. Sofern zusätzliche Signale angezeigt werden sollen, werden die ältesten Signale aus dem Schirm ausgespeichert und beseitigt, wobei die größtmögliche Zahl der allerjüngsten Logiksignale entsprechend der Kapazität der Kathodenstrahlröhre angezeigt bleibt. Die Signale können alle auf ein gemeinsames Triggersignal hin angefordert werden, das dem Anschluß 101 zugeführt wird.
Obwohl verschiedene Gesichtspunkte der vorliegenden Erfindung anhand von bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung erläutert worden sind, ist für Fachleute ersichtlich, daß die Erfindung Ausführungsformen innerhalb des Gesamtumfangs der dazugehörigen Patentansprüche betrifft.
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Claims (1)

  1. TISCHER · KERN & BREHM
    Albert-Roashaupter-Straeee 65 D 8000 München 70 Telefon (069) 7605520 Telex 05-212284 paled Telegramme Kernpatent München
    GOULD INC. 23. April 1980
    10 Gould Center, GD-21
    Rolling Meadows, Illinois 60008, U. S. A. .
    Verfahren und Vorrichtung zum Vergleich logischer Funktionen
    Patentansprüche:
    Λ J Verfahren zum Prüfen eines logischen Systems mit einem gemeinsamen Taktoezillator und mit einer Anzahl von Prüfknotenpunkten, wobei Logiksignale an jedem Knotenpunkt synchron mit dem gemeinsamen Taktoszillator sind, welches Verfahren die Verfahrensschritte aufweist» aus einem bekannt guten System werden nacheinander als Bezugssignale
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    ORIGINAL INSPECTED
    a) eine periodische Wellenform, die ein bestimm tes Frequenzverhältnis zum Ausgangssignal des gemeinsamen Taktoszillators des Systems aufweist, und
    b) die Logiksignale an einer Anzahl von Knotenpunkten
    aufgezeichnet;
    die Frequenz einer periodischen Wellenform des zu prüfenden Systems wird mit der Frequenz der periodischen Wellenform des bekannten guten Systems verglichen, wobei die Frequenz der periodischen Wellenform des zu prüfenden Systems das bestimmte Frequenzverhältnis zu einem Taktoszillator-Ausgangesignal des zu prüfenden Systems aufweist;
    aus den aufgezeichneten Signalen wird ein Satz Bezugseignale abgeleitet, die hinsichtlich ihrer Frequenz in einer Proportion gegenüber dem Frequenzverhältnis der periodischen Wellenform des bekannten guten Systems und des zu prüfenden Systems modifiziert sind, wobei eine Kompensation für die Auswirkung der verschiedenen Taktoszillatorfrequenzen vorgesehen ist; und die Signale an einer Anzahl von Knotenpunkten des zu prüfenden Systems werden mit entsprechend modifizierten Bezugssignalen verglichen,
    wodurch das Verhalten des zu prüfenden Systems bestimmt wird·
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    2· Verfahren nach Anspruch 1,
    wobei zum Verfahrensschritt
    die Signale an der Anzahl Knotenpunkte des zu prüfenden Systems mit entsprechend modifizierten Bezugssignalen
    zu vergleichen, der Verfahrensschritt gehört,
    ein Bezugssignal und ein Signal aus dem zu prüfenden System für einen bestimmten Knotenpunkt, eines benachbart zu den anderen, werden angezeigt, und
    der weitere Verfahrensschritt dazugehört,
    irgendein Zeitintervall hervorzuheben, zu dem eines der angezeigten Signale hinsichtlich seines Digitalwertes
    nicht mit dem anderen angezeigten Signal übereinstimmt, wodurch die Aufmerksamkeit auf solche Zeitintervalle gerichtet wird, bei denen die angezeigten Signale sich nicht in Lo gikübereinstimmung befinden.
    3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
    wobei zum Verfahrensschritt
    die Signale an der Anzahl Knotenpunkte des zu prüfenden Systems mit entsprechend modifizierten Bezugssignalen
    zu vergleichen, die Verfahrensschritte gehören:
    es wird festgestellt, in welchem Ausmaß das modifzierte Bezugssignal und das Signal aus dem zu prüfenden System für einen bestimmten Knotenpunkt übereinstimmen; und
    es wird eine erste Anzeige gegeben, wenn die Intervalle der Nicht-Übereinstimmung zwischen den beiden Signalen
    vorgegebene Grenzen übersteigen, und
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    es wird eine zweite Anzeige gegeben, wenn die Intervalle der Nicht-Übereinstimmung zwischen den beiden Signalen innerhalb vorgegebener Grenzen liegen, wodurch Erfüllen oder Versagen des zu prüfenden Systems an einem besonderen Knotenpunkt klar ausgedrückt werden.
    4. Verfahren nach Anspruch 3,
    wobei zum Verfahrensschritt der Bezugssignalaufzeichnung der Verfahrensschritt gehört,
    zumindest einen Teil der vorgegebenen Grenzen für jedes Logiksignal des bekannt guten Systems zu erzeugen und aufzuzeichnen.
    5. Verfahren nach Anspruch 3»
    wobei die vorgegebenen Grenzen gekennzeichnet sind durch die maximal zulässige Gesamthäufigkeit an Nicht-Überein stimmungs-Intervallen als Prozentsatz des Intervalls des
    Signals aus dem zu prüfenden System, und
    durch ein maximal zulässiges Einzelintervall fortlaufender
    Nicht-Übereinstimmung.
    6. Verfahren nach Anspruch 5»
    wobei zum Verfahreneschritt der Bezugssignalaufzeichnung der Verfahrensss hritt gehört,
    das maximal zulässige Einzelintervall der fortlaufenden Nicht-Übereinstimmung für jedes Logiksignal des bekannt guten Systems zu erzeugen und aufzuzeichnen.
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    7. Verfahren zur gleichzeitigen Aufzeichnung und Anzeige einer Anzahl von Logiksignalverläufen an einer Anzahl von Knotenpunkten einer elektronischen Schaltung, welches Verfahren die Schritte aufweist:
    eine Sonde wird an einem ersten Schaltungsknotenpunkt angeordnet, um ein erstes Logiksignal zu erhalten; dieses erste Logiksignal wird angezeigt; danach wird die gleiche Sonde an einem zweiten Schaltungsknotenpunkt angeordnet, um ein zweites Logiksignal zu erhalten;
    dieses zweite Logiksignal wird gleichzeitig mit dem ersten Logiksignal und benachbart zu diesem angezeigt; und auf ähnliche Weise wird diese Sonde an den anderen Schaltungsknotenpunkten, jeweils an einem Knotenpunkt zu einem Zeitpunkt, angeordnet, um zusätzliche Logikeignale zu erhalten und gleichzeitig anzuzeigen.
    8. Verfahren zur gleichzeitigen Aufzeichnung und Anzeige einer Anzahl von LogikSignalverläufen an einer Anzahl von Knotenpunkten einer elektronischen Schaltung, welches Verfahren die Schritte aufweist:
    eine Sonde wird an einem ersten Schaltungsknotenpunkt angeordnet, um ein erstes Logiksignal zu erhalten; dieses erste Logiksignal wird gespeichert; das erste Logiksignal wird in einem Bereich einer elektronischen Anzeigevorrichtung angezeigt;
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    die Anzeige des ersten Logiksignals wird aus diesem einen Bereich verschoben;
    die gleiche Sonde wird an einem zweiten Schaltungsknotenpunkt angeordnet« um ein zweites Logiksignal zu erhalten; dieses zweite Logiksignal wird gespeichert;, dieses zweite Logiksignal wird in dem einen Bereich der elektronischen Anzeigevorrichtung angezeigt; die Anzeige des zweiten Logiksignale wird aus dem einen Bereich verschoben;
    die Sonde wird auf einem dritten Schaltungsknotenpunkt angeordnet, um ein drittes Logiksignal zu erhalten; dieses dritte Logiksignal wird gespeichert; und dieses dritte Logiksignal wird in dem einen Bereich der elektronischen Anzeigevorrichtung angezeigt.
    9- Verfahren nach Anspruch 7 oder 8, wobei der zusätzliche Verfahrensschritt vorgesehen ist, wenn der Anzeigebereich voll ist, die angezeigten Logiksignale in solcher Weise zu verschieben, daß die alierjüngst angezeigtem Logiksignale erhalten bleiben und Platz für ein anderes Logiksignal geschaffen wird.
    10. Vorrichtung zum Prüfen eines logischen Systems mit einem gemeinsamen Taktoszillator und mit einer Anzahl von Prüfknotenpunkten, wobei Logiksignale an jedem Prüfknotenpunkt synchron mit dem Taktoszillator sind,
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    welche Vorrichtung aufweist:
    eine Sonde, die zu einem Zeitpunkt mit jeweils einem Schaltungsknotenpunkt des logischen Systeme in elektrischen Kontakt gebracht werden kann;
    eine mit der Sonde elektrisch verbundene Einrichtung zur Speicherung einer Anzahl bestimmter Signale, jeweils eines zu dem Zeitpunkt, wo diese Signale erhalten werden, indem die Sonde mit einer Anzahl von Prüfknotenpunkten-vertunaen wird,so daß eine Anzahl von Signalen an den Knotenpunkten eines zu prüfenden logischen Systems erhalten und gespeichert werden kann;
    eine Speichereinrichtung zur Speicherung einer Anzahl verschiedener Bezugssignale, so daß eine Anzahl der Signale an den Knotenpunkten eines bekannt guten, logischen Systems für Bezugszwecke gespeichert werden kann; eine Einrichtung zur Normalisierung der Frequenzen der Bezugssignale und der über die Sonde erhaltenen Signale, so daß die, wegen der unterschiedlichen Taktoszillatorfrequenzen in dem bekannt guten, logischen System und dem zu prüfenden logischen System auftretenden Frequenzunterschiede beseitigt werden;
    eine Empfangseinrichtung für die normalisierten Bezugssignale und die über die Sonde erhaltenen Signale, um entsprechende Signalpaare zu vergleichen, wobei jedes Paar jeweils aus einem Bezugssignal und einem über die Sonde erhaltenen Signal besteht; und eine auf die Vergleichseinrichtung ansprechende Einrichtung
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    zur Bildung einer Anzeige, wenn ein entsprechendes Signalpaar unterschiedlich ist, so daß die Qualität eines zu prüfenden Systems im Vergleich zu dem bekannt guten System bestimmt werden kann.
    .11. Vorrichtung nach Anspruch 10,
    wobei zu der Anzeigeeinrichtung gehören: eine Identifizierungseinrichtung zur Identifizierung von Unterschiedsintervallen zwischen Jedem dieser Signalpaare; und
    eine auf diese Unterschiedsidentifizierungseinrichtung ansprechende Einrichtung zur Bildung einer ersten Anzeige, wenn die Nicht-Ubereinstimmungs-Intervalle zwischen einem Signalpaar einen vorgegebenen Grenzwert übersteigen, und zur Bildung einer zweiten Anzeige, wenn die Nicht-Ubereinstimmungs-Intervalle innerhalb vorgegebener Grenzwerte liegen, so daß Erfüllungs- oder Versagungssignale an jedem Knotenpunkt des zu prüfenden Systems gebildet werden.
    12. Vorrichtung nach Anspruch 11,
    wobei zu der Anzeigeeinrichtung gehören: eine zweidimensionale, elektronische Anzeigevorrichtung; eine Empfangseinrichtung für die entsprechenden Signalpaare, um diese auf dieser Anzeigevorrichtung eines benachbart zum anderen anzuzeigen; und
    eine Aufleuchteinrichtung für solche Zeitintervalle der Anzeige, wo die beiden Signalpaare einander nicht entsprechen.
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    13· Vorrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 12, wobei zu der Sondensignalspeicherungseinrichtung gehören: eine Einrichtung zum Empfang der Sondensignale und Umwandlung dieser Signale in eine Digitaldatenfolge; ein Hochgeschwindigkeits-Digitalspeicher zum Empfang dieser Dnten, welcher Speicher normalerweise lediglich eine Anzahl der Bits der allerjüngsten Datenfolge enthält; und eine auf ein Triggersignal ansprechende Einrichtung zum Einfrieren dieses digitalen Hochgeschwindigkeitsspeichers, so daß die Zahl der Bits der jüngsten Datenfolge gleich der Zahl der gespeicherten Bits wird.
    14. Vorrichtung nach Anspruch 13»
    wobei die Sondensignalspeichereinrichtung zusätzlich einen Speicher mit wahlfreiem Zugriff aufweist, in welche die Datenbits überführt werden, welche im Hochgeschwindigkeitsspeicher auf das Triggersignal hin gespeichert worden sind.
    15. Prüfvorrichtung zur Anzeige einer Anzahl von Logiksignalverläufen, mit:
    einer elektronischen Anzeigevorrichtung; einer Sonde mit einer Elektrode, die zu einem Zeitpunkt mit jeweils einem Prüfknotenpunkt einer elektronischen Schaltung in Kontakt gebracht werden kann;
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    einem Steuerknopf an der Sonde, welcher so angeschlossen ist, daß er einen elektrischen Schalter betätigt; einer Einrichtung zum Empfang der elektronischen Signale der Sondenelektrode und zur Speicherung einer Anzahl von Signalen, die jeweils zu einem Zeitpunkt über die Sondenelektrode erhalten worden sind; und einer auf die Speichereinrichtung ansprechenden Einrichtung zur Anzeige des allerjüngst erhaltenen Signals in einem ersten Bereich dieser elektronischen Anzeigevorrichtung, welche Anzeigeeinrichtung ferner eine Einrichtung aufweist, die auf den vom Sondenknopf betätigten Schalter anspricht, um sämtliche angezeigten Signale auf dieser Anzeigevorrichtung um eine Strecke aus dem einen Bereich zu verschieben, wodurch dieser eine Bereich der Anzeigevorrichtung für die Anzeige eines anderen noch jünger erhaltenen Signale freigemacht wird.
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US05/880,876 US4204114A (en) 1978-02-24 1978-02-24 Method and apparatus for comparing logic functions by acquiring signals one at a time from circuit nodes

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