DE2950442C2 - Vorrichtung zur Herstellung von Maxillarmodellen durch kephalometrische Analyse - Google Patents
Vorrichtung zur Herstellung von Maxillarmodellen durch kephalometrische AnalyseInfo
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Description
60
Die Erfindung eignet sich für die Prosthodontie, Orthodontie sowie die Gesichts-Kiefer-ChirUrgie, insbesondere
auf dem Gebiet Von Zahn-Kiefer-Gesichts*
Anomalien, wo die Verwendung einer solchen Vorrichtung für die Untersuchung und Analyse dieser
Anomalien obligatorisch ist.
Es ist bereits ein Gnathostat nach Simon bekannt, d, neine
Vorrichtung zur Herstellung statischer Maxillarmodelle,
wobei als klinische Bezugsgrößen die folgenden Ebenen verwendet werden: die E-E-P (ear-eye
plane = Ohr-Auge-Ebene), die R-M-P (raphemedian plane = Raphe-Medianebene) und die O-P (orbital
plane = Orbitalebenc). Diese statischen Muster werden bei der Diagnose einer dentobukkalen Abweichung
sowie Anomalien der erwähnten Ebenen verwendet.
Es ist ebenfalls bereits ein Verfahren zur Ermittlung von dentalen Alveol-Mustern entsprechend den Ebenen
und Punkten der kephalometrischen Analyse bekannt, und zwar unter Verwendung von Meßvorrichtungen,
einem Kompaß, Scheren, Messern, um Muster entsprechend dieser Analyse abzumessen und zu schneiden
(Sassouni Vn Orthodontics in dental practice, Mosby Co.,
Saint Louis, 1971, S. 253 -259).
Bei dem bekannten Verfahren zur Aufzeichnung von dentalen alveolen Mustern bezüglich der Punkte und
Ebenen der kephalometrischen Analyse wird die Basis des Modells entsprechend der Mandibular-Ebene
geschnitten: die Basis des oberen Modells wird entsprechend der Palatinal-Ebene entworfen; der
vordere Teil des oberen Modells ist durch den vorderen Nasenfortsatz begrenzt, und der vordere leii des
unteren Modells ist durch die Kinnspitze begrenzt; die hinteren Begrenzungen beider Modelle werden entsprechend
einer Senkrechten zur Frankfort-Ebene vorgesehen. Alle diese Schnitte erfolgen durch Messungen und
Untersuchungen de·: kephalometrische.i Analyse.
Bei diesem bekannten Verfahren treten eine Reihe von Nachteilen auf. Die durch die kephalometrische
Analyse hergestellten Maxillarmodelle ohne Unterstützung durch eine Vorrichtung nicht vollständig exakt, da
die Übertragung der Meßwerte und Winkel der Ebenen häufig durch Einschneiden von Gegenzeichnungen
dieser Ebenen und Winkel in Pappe erfolgt, die dentalen Alveol-Abdrücke durch Vergleich erfolgen und unter
Verwendung der Teleradiographis die Muster geformt und verworfen werden, um die im vorhergehenden
Absatz beschriebenen Bezugsgrößen der Ebenen zu erhalten. Darüber hinaus sind die erhaltenen Muster nur
durch das Dentalgelenk verbunden, was die Messungen für mögliche Korrekturen schwer und ungenau macht.
Der im Patentanspruch 1 angegebenen Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Nachteile des Standes
der Technik zu vermeiden und insbesondere eine Vorrichtung anzugeben, mit der es möglich ist,
Maxillarmodelle vorzusehen, und zwar unter Verwendung der kephalometrischen Analyse in einer kürzeren
Zeit als bisher.
Erfindungsgemüß wird eine unterteilte Okklusal-Ebene
anatomischer Größe und Form verwendet. Es ist möglich, die Punkte, Ebenen und Winkel dieser Analyse
zur Vorrichtung zu übertragen, wobei man Modelle erhält, die dynamisch in Verbindung stehen und gelenkig
hinsichtlich der Gesichts- bzw. Schädelposition in den drei Raumdimensionen ausgebildet sind. Durch die
Skalen der Vorrichtung können die Position sowie die erhaltenen Beziehungen gemessen werden, und die
Korrekturen können auch in irgendeine der Ebenen projiziert werden. Darüber hinaus ist die Vorrichtung
auch bei der Herstellung von Prothesen wegen der auswechselbaren Platten brauchbar.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in
den Unteransprüchen angegeben.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung verwendet sowohl Kondylär^Elemente als auch Platten (nämlich
palatinale, ckklusale und mändjbiülare Platten, die den
drei Raumebenen anzupassen sind, um so die ähatömU
sehe Konstruktion und Verbindung maxillarer Modelle
zu gestatten, und zwar unter Verwendung einer gelenkigen Meßvorrichtung lüneal) mit einem Niveau
zur Übertragung der Punkte, Ebenen und Winkel der kephalometrischen Analyse sowie der unterteilten
Okklusal-Ebene zur Vorrichtung.
Durch die erfindungsgemäße Vorrichtung wird der Aufbau oder die Konstruktion von maxillaren Modellen
sowie deren anatomische Beziehung vereinfacht, und man erhält eine größere Genauigkeit bei der Korrektur
von Zahn-, Kief;r- und Gesichtsanomalien, wobei sich
ferner eine Zeitersparnis bei der Herstellung der Modelle ergibt.
Die Skalen der Vorrichtung gestatten die Messung der Position und die Bewegung der beweglichen
Elemente.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird anhand der F i g. 1 bis 4 erläutert Es zeigt
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht der Vorrichtung,
F i g. 2 die Verfolgung einer lateralen Teleradiographie mit ihrer kephalometrischen Analyse,
F i g. 3 die Verfolgung einer hinteren/vorderen Teieradiographie mit ihrer kephalometrischen Analyse,
Fig.4 eine perspektivische Ansicht der unterteilten
Okklusal-Ebene.
Die Vorrichtung (Fig. 1) weist eine einzige Basis 9 auf. In ihrem hinteren Teil und auf beiden Seiten der
Mittellinie befinden sich zwei Stützen 7, die mittels einer Skala in der Basis 9 einstellbar sind, und zwar
entsprechend den Abständen der rechten Kondylär-Sagittal-Ebene
33 und der linken Kondylär-Sagitta!-Ebene 35 der F i g. 3. Im oberen Teil der beiden Stützen 7 sind
teleskopartige Kondylärelemente 5 vorgesehen, die entsprechend der Kondylärposition einstellbar sind. Die
Kondylärelemente 5 besitzen Kondylärführungen mit Feststellschrauben.
Die Bsis 9 und der obere Abschnitt 3 besitzen auf ihrer Mittellinie von vorn und nach hinten einen Schlitz, wo
Exzenterelemente 4, 12 gleiten und befestigbar sind. Diese Exzenterelemente 4, 12 tragen die Plattformen
19, 13, die durch ein in der Mitte angeordnetes Kugelgelenk il die Mandibular-Platte 14 und Palatinal-Platte
18 tragen.
Die das Kugelgelenk 11 mit den entsprechenden Platten 14, 18 verbindende Stange 10 gestattet die
Einstellung der erforderlichen Höhe. Durch die Gelenkanordnung und Einstellung der Höhe ist es
möglich, die Platten 14, 18 entsprechend den Palatinal- und Mandibular-Ebenen 22, 27 der Fig. 2 einzustellen.
Die Okklusal-Platte 17 wird dazu verwendet, um das untere Dentalmodell (den Abdruck) in kephalometrischer
Beziehung mit der Winkellage anzuordnen, die durch die unterteilte Okklusal-Ebene (F i g. 4) bestimmt
ist. Die Anordnung und Einstellung erfolgt mit den Führungsstangen 8, 16, geführt durch das Niveau der
Meßvorrichtung (Lineal) 26, welche die Beziehung der Mandibular-Ebene 27 und der Okklusal-Ebene 25 de··
Fig. 2 sowie die Winkellage der Okklusal-Ebene (F i g. 4) überträgt. Der obere Abschnitt 3 besitzt eine
Verlängerung 2 mit dem Einlaß der Schneidzange 1, die in der anpaßbaren Schneidführung 15 liegt, welche im
vorderen Teil der Basis 9 angeordnet ist.
Zum Erhalt der Maxillarmodelle Werden folgende Schritte ausgeführt:
1. Unterteilte Okklusal-Ebene (F i g. 4)
Wenn sich der K.opf des Patienten in horizontaler
Position befindet, wird die auswechselbare Okklusal·
Platte 39 auf der zentnsehen Okklusions- und sagittalen
Medianlinie angeordnet. Die Grade werden am unterteilten Halbkreis 41 entsprechend der Position des
Lots 42 (Anzahl der Grade der Abweichung der Okklusal-Ebene des Patienten) gemessen.
2, Kephalometrische Analyse
In der seitlichen oder lateralen Teieradiographie (Fig.2) wird folgendes markiert: Goniom 29, Menton
πι 28, der höchste Eckzahn 23, die Schneidgrenze 24 und
der vordere 21 und hintere 20 Nasenfortsatz, und ferner werden die Mandibular-Ebene 27, Okklusal-Ebene 25
und Palatinal-Ebene 22 angegeben.
In der Vorwärts-Rückwärts-Teleradiographie der Fig.3 werden der rechte und linke Gonion 34, 36
markiert, ferner rechter und linker Kondylus 31,38 und
die Sagittal-Ebene sowie die Senkrechten 32, 33, 35, 37 von den Punkten 31, 34, 36, 38 auf die erwähnte
Sagittal-Ebene projiziert.
Ji) Alle Punkte und Ebenen der kephalometrischen
Analyse wenden mit dem Maßstab der Meßvorrichtung
(Lineal) 26 der F i g. 2 gemessen.
3. Konstruktion des negativen Ffofils
Über dem lateralen Kurvenverlauf der F i g. 2 werden zwei Muster aus dünnem Metall geschnitten. Das untere
Muster rt durch die Mandibular- und die Okklusal-Ebene 27, 25 begrenzt Dieses Profil wird von seinem
Schnitt bis annähernd 2 cm vor dem Mandibular-Profil
Jf) markiert und geschnitten, und man erhält einen vorderen und einen hinteren Teil mit dem negativen
Mandibular-Profil (ein Teil für die Form). Das obere Muster ist durch die Okklusal- und die Palatinal-Ebene
25 bzw. 22 vom hinteren Nasenfortsatz 20 begrenzt, und
J5 zwar auf annähernd 2 cm vor dem Maxillarprofil. Dieses
Profil wird markiert und geschnitten und man erhält zwei Teile, ein vorderes und ein hinteres mit dem
negativen Maxillarprofil (ein weiteres Teil für die Form).
4t) 4. Herstellung der Modelle
Das untere Modell wird in Hufeisenforrn gegossen, wobei die Höhe so gewählt wird, daß sie die Halterung
nich. stört. Auf dem Labinalniveau (Lippenniveau) des Schneidprofils wird das Zahnfleisch weggeschnitten, um
die Einstellung der negativen Mandibular-Profil-Muster vorzusehen.
Das obere Modell sollte ebenfalls mit einer die
Halterung nicht störenden Höhe gegossen werden. Auf dem Stirnflächenniveau des Schnittprofils wird die
Zahnfleischzone weggeschnitten, um die Einstellung des
Musters des negativen Maxillar-Profils vorzusehen.
Die klinische Medianlinie in beiden Modellen, dem oberen und unteren, wird markiert.
5. Übertragung der Ebenen und Punkt der
kephalometrischen Analyse und der unterteilten
Okklusal-Ebene zur Vorrichtung
Verwendung des kephalometrischen Lineals n<it Niveau
in jedem seiner Abschnitte
Mit dem kephnlometrischen Lineal (Fig. 2) werden
die Mandibular- und Okklusal-Ebenen 27 bzw. 25 bestimmt und festgelegt sowie auf die Vorrichtung
übertragen. Die Mandibular-Platte 14 wird eingestellt, bis das Niveau des Okkltisalabschnltts des Lineals sich in
Horizontalposition befindet, worauf dann die Festlegung der Platte 14 erfolgt
Die Okklusal-Platte 17 wird über dem Okklusalabschnitt
des Lineals ruhend angeordnet, wobei die
Führungsstangen 8, 16 in Position gebracht werden, entsprechend der Winkeländerung, gegeben durch die
unterteilte Okklusal-Ebene. Mit dem kephalomeirischen
Lineal werden die Winkel der mandibularen und palatinalen Ebenen 27 bzw. 22 der Fi g. 2 bestimmt und
auf die Vorrichtung übertragen, und zwar unter Einstellung der Palatinal-PIatte 18 der Fig.2, die in
ihrer Position festgelegt wird.
Die beiden Kondylärelemenle 5 der Vorrichtung (Fig. 1) werden in ihrer Position angeordnet und
übertragen die Längen der Senkrechten 32, 33, 35, 37 der F i g. 3 mittels des kephalometrischen Lineals.
6. Konstruktion und Einstellung der Maxillarmodelle
in der Vorrichtung
in der Vorrichtung
Das untere Modell wird auf der Okklusal-Platte 17 fixiert, und zwar richtig eingestellt in der von vorn nach
hinten verlaufenden sowie seitlichen Richtung. Die Okklusal-Platte wird iri ihre Position in der Vorrichtung
gebracht, wobei das Modell der Mandibular-Platte 14 festgelegt wird; Sodann wird die Okklusal-Platte
entfernt.
Das obere Modell wird sodann mit dem unteren Modell, welches bereits befestigt ist, verbunden, Und
zwar mittels eines zentrischen Gelenks, und es folgt ferner die Befestigung des oberen Modells an der
Palatinal-PIatte 18.
Zur Befestigung der Modelle an den entsprechenden Platten wird Wachs, eine Modellierzusammensetzung
oder Gips verwendet.
's Zur Herstellung der Form oder Kontur des
Mandibular-Profils wird das Musler des negativen Mandibular^Profils verwendet, und dies wird über der
labialen Stirnfläche des Schneidprofils angeordnet, wobei die Mandibulaf-Platte 14 in der Platte die
ίο Position des Merilon-Pünktes 28 der F i g. 2 markiert.
In der gleichen Weise wird die Kontur des Maxillar-Profils Vorgenommen, und zwar unter Verwendung
des negativen Maxillar-Profils, wobei in der Palatinal-PIatte 18 die Position des vorderen Nasenforl-
H satzpuriktes21 der Fig,2 markiert wird.
In der Mandibular-Plalte 14 wird die Position des Gonion 29 in der von vorn nach hinten Verlaufenden
Richtung markiert, und zwar entsprechend der Länge der Mandibular-Ebene, wie beim Menton 28 der F i g. 2.
2ό In seitlicher Richtung sollte die Position des Gonions 34,
36 durch die Länge der Senkrechten 33,35 der Fig.5 markiert werden.
In der Palatinal-PIatte 18 wird die Position des hinleren Nasenforlsavzes 20 gegenüber dem vorderen
Nasenfortsatz 21 mit der Länge der Palalinal-Ebehe 22 der Fig. 2 markiert.
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen
Claims (6)
1. Vorrichtung zur Herstellung von Maxillarmodellen durch kephalometrische Analyse unter
Verwendung einer Basis mit einer unteren und einer oberen Platte, dadurch gekennzeichnet,
dall die Basis (9) über zwei Stützen (7) und zwei Kondylärelemente (5) einen oberen Abschnitt (3)
trägt, an dem eine Plattform (19) und daran eine Palatinal-Platte (18) befestigt sind, daß die Basis (9)
eine Plattform (13) trägt, auf der eine Mandibular-Platte (14) vorgesehen ist, daß zwischen der
Palatinal-Platte (18) und der Mandibular-PIatte (14) eine Okklusal-Platte (17) auf zwei Führungsstangen
(8, 16) aufliegend angeordnet ist und daß eine gelenkig ausgebildete Meßeinrichtung mit einem
Niveau (26) zur Übertragung der kephalometrischen Winkel, Ebenen und Punkte verwendet wird.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Stützen (7) teleskopartig
ausgebilder sind und unabhängig voneinander in Transversairichtung bezüglich der Basis (9) bewegbar
sind, daß im oberen Teil jeder Stütze (7) ein Kondylärelement (5) angeordnet ist, das sich vertikal
bewegt und um seine Achse verdreht, daß in diesen Kondylärelementen (5) eine Kondylärachse (6) ruht
und gleitet und daß die Bewegungen und Übertragungen der Kondylärelemente (5) mittels Skalen
festgelegt sind.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Mandibular-PIatte (14) an
ihrer Plattform (13) durch eine Teleskopstange (10) und ein Kugelgelenk (11) derart einstellbar ist, daß
die Position der kephalom.trischen Mandibular-Ebene einstellbar ist unü diß die Palatinal-Platte (18)
auf gleiche Art (Teleskopstan^e, Kugelgelenk) am
oberen Abschnitt (3) befestigt ist.
4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch als Gleitplattformen
ausgebildete Platten (13, 19), die sich in einer Vorwärts-Rückwärts- und seitlichen Richtung bezüglich
der Basis auf einem Winkel von annähernd
5° bewegen, wodurch die Bewegung des Maxillarmodells
in den Platten in den drei Ebenen des Raums möglich ist.
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Okklusal-Platte
(17) mit einem vorderen Schlitz für eine vordere Führungsstange (16) und einem hinteren
Schlitz für eine hintere Führungsstange (8).
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine mit Einteilung
versehene Hilfs-Okklusal-Ebene (Fig.4), die
aus einer Basis (40) besteht, die an ihrer vorderen Mittellinie einen Skalenhalbkreis (41) mit einem
Pendel oder Lot (42) aufweist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19792950442 DE2950442C2 (de) | 1979-12-14 | 1979-12-14 | Vorrichtung zur Herstellung von Maxillarmodellen durch kephalometrische Analyse |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19792950442 DE2950442C2 (de) | 1979-12-14 | 1979-12-14 | Vorrichtung zur Herstellung von Maxillarmodellen durch kephalometrische Analyse |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2950442A1 DE2950442A1 (de) | 1981-06-19 |
DE2950442C2 true DE2950442C2 (de) | 1982-09-09 |
Family
ID=6088545
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19792950442 Expired DE2950442C2 (de) | 1979-12-14 | 1979-12-14 | Vorrichtung zur Herstellung von Maxillarmodellen durch kephalometrische Analyse |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2950442C2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3215558A1 (de) * | 1982-04-26 | 1983-10-27 | Herbert 2000 Hamburg Richter | Dental-artikulator zur 3 dimensionalen centrierung pathologisch verlagerter kiefergelenke |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4609351A (en) * | 1983-07-01 | 1986-09-02 | Dentsply Research & Development Corp. | Apparatus to produce artificial dentures |
DE4111953A1 (de) * | 1990-08-07 | 1992-02-13 | Feher Tibor | Vorrichtung und verfahren zur instrumentellen modellanalyse |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH525670A (de) * | 1971-07-06 | 1972-07-31 | Balogh Jozsef | Vorrichtung zum Registrieren der Schlussbissstellung der Kiefer eines Patienten und des Kiefergelenkweges beim Zusammenbeissen |
-
1979
- 1979-12-14 DE DE19792950442 patent/DE2950442C2/de not_active Expired
Cited By (1)
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---|---|---|---|---|
DE3215558A1 (de) * | 1982-04-26 | 1983-10-27 | Herbert 2000 Hamburg Richter | Dental-artikulator zur 3 dimensionalen centrierung pathologisch verlagerter kiefergelenke |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2950442A1 (de) | 1981-06-19 |
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