DE2946544C2 - Objekthaltersystem für aufrechte Mikroskope - Google Patents

Objekthaltersystem für aufrechte Mikroskope

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102024108374A1 (de) * 2024-03-24 2025-09-25 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Probentischsystem für ein mikroskop und mikroskop

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3138654A1 (de) * 1981-09-29 1983-04-14 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Objekthalter fuer mikroskope
DE8220792U1 (de) * 1982-07-21 1982-10-14 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Tisch fuer durchlichtmikroskope
JPS63112241A (ja) * 1986-10-31 1988-05-17 Hashimoto Forming Co Ltd ドアフレ−ムモ−ルデイングの取付構造
US4722598A (en) * 1986-12-04 1988-02-02 Max M. Ford Diagnostic microscope slide having multiple sample wells and cover
US4964711A (en) * 1989-02-09 1990-10-23 Degnan Donald E Viewing device
US6058816A (en) * 1997-02-28 2000-05-09 General Dynamics Advanced Technology Systems Actively controllable support device for a cantilever beam
DE19746661C1 (de) * 1997-10-23 1999-05-12 Leica Microsystems Vorrichtung zum Mikroskopieren einer biologischen Probe
US7072103B1 (en) 2002-09-27 2006-07-04 Cypress Semiconductor Corporation Microscope with objective lens position control apparatus
US7092153B1 (en) 2002-09-27 2006-08-15 Cypress Semiconductor Corporation Temperature-controlled gas microscope
US6859312B1 (en) * 2002-09-27 2005-02-22 Cypress Semiconductor Corporation Bellows zoom microscope
JP4550829B2 (ja) * 2004-09-30 2010-09-22 平田機工株式会社 観察装置のステージユニット及び観察装置
DE102010061742B4 (de) * 2010-11-22 2013-07-04 Gabo Qualimeter Testanlagen Gmbh Prüfeinrichtung mit einem Probenhalter sowie Probenhalter zur Aufnahme einer Probe
JP5957830B2 (ja) * 2011-09-02 2016-07-27 株式会社ニコン 顕微鏡
JP6032922B2 (ja) * 2012-03-30 2016-11-30 オリンパス株式会社 倒立型顕微鏡
US11372227B2 (en) * 2019-02-20 2022-06-28 Raytheon Company Microsection sample stabilizer

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE669751C (enExample) *
DE2746C (de) * E. GUNDLACH und J. J. BAUSCH in Rochester und H. LOMB in Brooklyn Neuerungen an Objektivgläsern von Mikroskopen
DE642659C (de) * 1937-03-11 Leitz Ernst Gmbh Objekttraeger fuer Mikroskope
US1002910A (en) * 1911-01-21 1911-09-12 Foote Mineral Co Display-mount.
US1836915A (en) * 1928-04-14 1931-12-15 George Harry William Nonbreakable hemacytometer
US2120404A (en) * 1937-05-17 1938-06-14 Paper Chemistry Inst Sample holder
US2508413A (en) * 1947-01-16 1950-05-23 Albert M Massinger Microscope substage slide marker
FR1030286A (fr) * 1950-12-29 1953-06-11 Centre Nat Rech Scient Dispositif permettant d'orienter à volonté un objet examie au microscope par rapport à l'axe de visée de l'instrument
FR1166726A (fr) * 1957-02-12 1958-11-14 Perfectionnement aux appareils de projection ou d'observation
US3442594A (en) * 1966-01-14 1969-05-06 Varian Associates Multiple beam interferometer
US3549232A (en) * 1968-05-13 1970-12-22 Hugle Ind Inc Microscopic alignment mechanism
US3572888A (en) * 1968-09-10 1971-03-30 Olympus Optical Co Rotary and transversely adjustable microscope stage
US3563186A (en) * 1968-10-30 1971-02-16 Singer Co Bidirectional positioning stage
US3620596A (en) * 1970-09-18 1971-11-16 Aerojet General Co Microscope slides
US3738730A (en) * 1971-07-06 1973-06-12 Aerojet General Co Microscope attachment
US3848962A (en) * 1973-10-18 1974-11-19 Coulter Electronics Slide mounting apparatus for microscopy
US4011004A (en) * 1975-02-06 1977-03-08 Geometric Data Corporation Pivotable stage for microscope system
JPS5352139A (en) * 1976-10-22 1978-05-12 Hitachi Ltd Specimen supporting device
US4189953A (en) * 1977-04-15 1980-02-26 Semprex Corporation Drive system for mensuration stages or the like

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102024108374A1 (de) * 2024-03-24 2025-09-25 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Probentischsystem für ein mikroskop und mikroskop

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JPS6342244B2 (enExample) 1988-08-22
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EP0029238B1 (de) 1983-04-13
JPS5689710A (en) 1981-07-21
DE2946544A1 (de) 1981-05-21
EP0029238A1 (de) 1981-05-27
ATE3087T1 (de) 1983-04-15

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