WO2000063678A1 - Anordnung zur untersuchung von proben - Google Patents

Anordnung zur untersuchung von proben

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WO2000063678A1
WO2000063678A1 PCT/EP2000/002551 EP0002551W WO0063678A1 WO 2000063678 A1 WO2000063678 A1 WO 2000063678A1 EP 0002551 W EP0002551 W EP 0002551W WO 0063678 A1 WO0063678 A1 WO 0063678A1
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light
autofocus
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Johannes Winterot
Dietmar Schmidt
Dieter Schau
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Carl Zeiss Jena Gmbh
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    • G02B21/241Devices for focusing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6452Individual samples arranged in a regular 2D-array, e.g. multiwell plates
    • GPHYSICS
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    • G01N21/6458Fluorescence microscopy
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    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/028Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having reaction cells in the form of microtitration plates

Definitions

  • the invention relates to an inverse automated 1-channel microscope with an autofocus system and one or more sample chambers or a sample carrier.
  • the image of the sample is evaluated by an image analysis software.
  • the samples are, for example, cells (in solution)
  • MTP microtiter plates
  • sample carriers such as BioChips
  • sample carriers such as BioChips
  • the MTPs or sample carriers are preferably fed automatically, but also manually, and the autofocus system focuses, for example, on the solution / MTB-floor interface. After focusing and selection of the excitation filter, the dyes in the sample are excited, for example, during fluorescence detection using an XBO or HBO lamp.
  • the fluorescent light from the sample passes through the selected emission filter and the sample is imaged on the chip of the CCD camera. After the image acquisition, Excitation and
  • the measuring beam path Fig.2 is a view of the autofocus beam path in direction A in Fig.l.
  • FIG. 3 shows a view of the autofocus beam path in direction B in FIG. 2a
  • Fig.4 An adjustment device of the light source in the illumination beam path
  • Fig. 5 The beam path during autofocus
  • Fig. 6 A schematic overall arrangement
  • a light guide cable is connected to a standard changing point WS for the lighting or a lamp (white light source: xenon or mercury) can be provided.
  • the coupled light arrives at a coupling lens KL for collimation and via a shutter S as well as a multi-lens illumination optics BOl-3 and an aperture diaphragm AB between BOl and B02 and light field diaphragm LF between B02 and B03 to a reflector revover RR with preferably interchangeable beam splitters for separation from the excitation beam path in the direction of the objective O and evaluation beam path in the direction of the receiver CCD.
  • an excitation filter AF is arranged in front of the coupling optics BO1.
  • Emission filters EF are provided in the evaluation beam path in order to block the reflected or elastically scattered excitation light.
  • Advantageous wavelength ranges for AF, EF are: Excitation of the dyes 350-700nm
  • the filters AF, EF are interchangeable or for others
  • the evaluation light reaches the CCD camera via a tube lens TL and a mirror SP CCD.
  • the unit E shown in broken lines which contains the objective, the coupling-in color splitter FT and the autofocus beam path, is displaced perpendicular to the object plane.
  • One of the laser light sources LA2, LA3 (the other is switched off) is coupled in parallel via a prism P and focused via an optical system FO.
  • Two laser light sources can be advantageous if the lens O is interchangeable and, because of the different exit pupil of the lenses, a different axial offset of the light source image should be set via different positions of the lasers relative to the prism P.
  • the laser light passes through deflecting mirror ULS1.2, a partially transparent mirror ST2, a diverging lens ZS, a deflecting mirror USSP, a converging lens SL shown in FIG. 2 and a color splitter FT arranged downstream of the revolver RR in the direction of the microtiter plate MTP in front of the objective contact surface OA in the direction of the LENSES 0.
  • the color splitter advantageously has a high transmission over a wide spectral range (350-780nm), ie from the short-wave excitation light of an HBO lamp to the long-wave emission spectrum of red dyes, but a high reflection for wavelengths above 800nm, ie for the light of the autofocus laser.
  • the coupling of the autofocus beam path directly in front of the microscope objective is particularly advantageous because only a few vertical optical interfaces lead to only slight light losses and thus to an increase in accuracy, and the color splitter FF over a wide spectral range, outside the IR wavelength used for the autofocus, the fluorescent light unhindered lets pass, and thus only reflects the reflections of the IR focusing laser back into the autofocus beam path.
  • the autofocus is independent of the adjustment state, for example of the coupling elements for the lighting.
  • the light reflected at the MTP is detected via receiver beam splitters EFST and receiver EF.
  • Illumination beam path after the coupling-in lens KL with the mirror SP3 inserted the light of the light source is deflected in an adjustment position onto a matt glass pane MGS, whereby the position of the light source image relative to the optical axis can be adjusted by the operator.
  • This arrangement can also be used to check the position when coupling in via an optical fiber.
  • a small part of the light intensity (approximately 4%) reaches and monitors the light output on an MTD monitor diode.
  • a heat protection filter WSF is arranged upstream of the beam splitter.
  • Fig. 5 Autofocus system
  • An autofocus system is advantageous for precise focusing, for example on the bottom of the MTP, since it is parallel in itself, but is generally strongly curved (in the order of 200-300 ⁇ m), so that a fixed focus does not work.
  • the speed of the autofocus has the highest priority: after loading a new plate and setting it up / focusing for the first time, the time for focusing (required e.g. after the plate has been moved to evaluate another potty) should be significantly less than 1 sec.
  • FIG. 5 shows that reflections R2, R1 of the irradiated laser of the autofocus both from the underside of the plate and from the top of the plate arise and can be registered on the receiver EF.
  • the reflections are laterally offset, depending on the thickness of the plate either one receives both signals on the CCD line or in the case of a large thickness the reflections are so far apart that only one reflex is detected on the CCD line.
  • the lower reflex When the lens is moved towards the object from a position far away from the object, the lower reflex appears first. When both reflexes are detected, the intensity of the stronger one can be distinguished from the upper side from the weaker one on the lower side.
  • the stronger reflex i.e. the higher peak is neglected and only the maximum of the weak p peak is used for focus control. If two reflections are present, the geometry of the arrangement can be used to determine which comes from the underside of the plate.
  • the properties of the optical reader system (lens parameters) on the one hand and the object (thickness of the bottom of the microtiter plate) on the other hand determine whether one or two reflections from the object are simultaneously imaged on the detector of the autofocus system (CCD line) when the object is in the focus position.
  • the manipulated value for the focus drive is calculated from the storage of the relevant reflex at the defined focus point on the CCD line. 4. If only one of the two reflexes is shown on the line, the position of the existing reflex to the limit of the capture range is relevant for the first drive towards the focus point until the second reflex on the CCD
  • the manipulated value for the focus drive is calculated from the storage of the reflex at the defined focus point on the CCD line.
  • a reflex search must first be carried out from a defined Z position in the direction of the microtiter plate respectively.
  • the autofocus can also be particularly advantageously electronically corrected by a few ⁇ m in such a way that not the bottom (or the sample carrier) is focused into the sample solution (the sample). This is done either by an automatic electronic correction value of the auto focus in front of the lens control or via the object adjustment itself, which is automatically adjusted by a small amount after successful focusing.
  • FIG. 6 shows an overall arrangement, with a microtiter plate MTP on an X / Y table and a pipettor for sample introduction onto the MTP and the optical arrangement shown here in FIG. 1-5, schematized here.

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Abstract

Anordnung zur Untersuchung von einer oder mehreren in Probengefässen oder auf Probenträgern angeordneten Proben im Durchlicht oder Auflicht, mittels der Abbildung und/oder Erfassung mindestens eines Teils des Probenvolumens durch das Probengefäss oder den Probenträger hindurch über eine CCD-Kamera, der eine Auswerteeinheit nachgeordnet ist, wobei vorteilhaft eine Auflichtbeleuchtung ebenfalls durch das Probengefäss oder den Probenträger hindurch erfolgt und die Beleuchtung der Anregung der Probenemission, vorzugsweise der Fluoreszenzanregung dient.

Description

Titel:
Anordnung zur Untersuchung von Proben
Die Erfindung betrifft ein inverses automatisiertes 1- Kanal-Mikroskop mit einem Autofokussystem und einer oder mehreren Probenkammern oder einem Probenträger.
Die Abbildung der Probe wird von einer Bildanalyse- Software ausgewertet .
Die Proben sind beispielsweise Zellen (in Lösung) am
Boden von Mikrotiterplatten (MTP) , aber auch Proben auf Probenträgern wie BioChips , auf planparallelen Platten aus Glas, Quarzglas oder Kunststoff. Die MTPs oder Probenträger werden vorzugsweise automatisiert, aber auch manuell zugeführt, und das Autofokussystem fokussiert beispielsweise auf die Grenzschicht Lösung/MTB-Boden. Nach erfolgter Fokussierung und Auswahl des Anregungsfilters werden beispielsweise bei der Fluoreszenzerfassung mittels einer XBO- oder HBO-Lampe die Farbstoffe in der Probe angeregt.
Das Fluoreszenzlicht der Probe passiert den jeweils gewählten Emissionsfilter, und die Probe wird auf den Chip der CCD-Kamera abgebildet. Nach der Bildaufnahme werden evt . Anregungs- und
Emissionsfilter gewechselt und ein neues Bild aufgenommen. Anschließend wird das Bild ausgewertet und ein xy- Scanningtisch fährt zum nächsten Bildfeld / nächsten MTP- Topf , der Autofokus wird wieder aktiviert, und der Ablauf beginnt von neuem. Die Erfindung wird anhand der schematischen Zeichnungen näher erläutert :
Es zeigen:
Fig.l Den Meßstrahlengang Fig.2 eine Ansicht des Autofokusstrahlengangs in Richtung A in Fig.l
Fig.3 eine Ansicht des Autofokusstrahlengangs in Richtung B in Fig.2a
Fig.4: Eine Justiereinrichtung der Lichtquelle im Beleuchtungsstrahlengang
Fig.5: Den Strahlverlauf beim Autofokus
Fig.6: Eine schematische Gesamtanordnung
Fig.l: An einer Standardwechselstelle WS für die Beleuchtung ist beispielsweise ein nicht dargestelltes Lichtleitkabel angeschlossen oder es kann eine Lampe (Weißlichtquelle: Xenon oder Quecksilber) vorgesehen sein.
Das eingekoppelte Licht gelangt auf eine Einkoppellinse KL zur Kollimierung und über einen Shutter S sowie eine mehrlinsige Beleuchtungsoptik BOl-3 sowie eine Aperturblende AB zwischen BOl und B02 und Leuchtfeldblende LF zwischen B02 und B03 auf einen Reflektorrevover RR mit vorzugsweise auswechselbaren Strahlteilern zur Trennung von dem Anregungsstrahlengang in Richtung des Objektives O und Auswertestrahlengang in Richtung des Empfängers CCD. Vor der Einkoppeloptik BOl ist bei der Fluoreszenzerfassung ein Anregungsfilter AF angeordnet. Im Auswertestrahlengang sind Emissionsfilter EF vorgesehen, um das reflektierte bzw. elastisch gestreute Anregungslicht zu blockieren. Vorteilhafte Wellenlängenbereiche für AF, EF sind: Anregung der Farbstoffe 350-700nm
Emission der Farbstoffe 420-800nm
Die Filter AF, EF sind auswechselbar oder für andere
Anwendungen auch ausschwenkbar .
Über eine Tubuslinse TL und einen Spiegel SP CCD gelangt das Auswertelicht zur CCD- Kamera.
Der vorteilhafte Autofokusstrahlengang, eingekoppelt über einen Farbteiler FT zwischen RR und O, wird anhand Fig.2 und 3 und 6 erläutert .
Zur Fokuskorrektur wird die gestrichelt dargestellte Einheit E, die das Objektiv, den Einkoppelfarbteiler FT und den Autofokusstrahlengang enthält, senkrecht zur Objektebene verschoben.
Eine der Laserlichtquellen LA2 , LA3 ( die andere ist ausgeschaltet) wird über ein Prisma P parallel eingekoppelt und über eine Optik FO fokussiert. Zwei Laserlichtquellen können dann vorteilhaft sein, wenn das Objektiv O auswechselbar ist und wegen der unterschiedlichen Austrittpupille der Objektive ein unterschiedlicher axialer Versatz des Lichtquellenbildes über unterschiedliche Positionen der Laser zum Prisma P eingestellt werden soll.
Das Laserlicht gelangt über Umlenkspiegel ULS1,2, einen teildurchlässigen Spiegel ST2 , eine Zerstreuungslinse ZS, einen Umlenkspiegel USSP, eine in Fig. 2 dargestellte Sammellinse SL und einen dem Revolver RR in Richtung der Mikrotiterplatte MTP nachgeordneten Farbteiler FT vor der Objektivanlagefläche OA in Richtung des OBJEKTIVES 0.
Der Farbteiler weist vorteilhaft eine hohe Transmission über einen breiten Spektralbereich (350-780nm) auf, d.h. vom kurzwelligen Anregungslicht einer HBO- Lampe bis zum langwelligen Emissionsspektrum von roten Farbstoffen, aber eine hohe Reflexion für Wellenlängen über 800nm, d.h. für das Licht des Autofokuslasers.
Besonders vorteilhaft ist die Einkopplung des Autofokusstrahlengangs direkt vor dem Mikroskopobjektiv , weil nur wenige senkrechte optische Grenzflächen zu nur geringen Lichtverlusten und damit zur Genauigkeitserhöhung führen, und der Farbteiler FF über einen breiten Spektralbereich, außerhalb der für den Autofokus verwendeten IR- Wellenlänge, das Fluoreszenzlicht ungehindert passieren läßt, und dadurch nur die Reflexe der IR - Fokussierlaser in den Autofokusstrahlengang zurückreflektiert .
Durch die Stelle der Einkopplung in Beleuchtungsrichtung nach der Beleuchtung, ist eine Unabhängigkeit des Autofokus vom Justierzustand beispielsweise der Einkoppelemente für die Beleuchtung gegeben.
Aufgrund der geringen Intensität des Fluoreszenzlichtes, das in der Probe angeregt werden kann , sind herkömmliche , auf der Auswertung des Bildkontrastes beruhende Autofokusverfahren ungeeignet, da für jedes einzelne Bild mehrere Sekunden integriert werden müßte, um überhaupt ein auswertbares Regelsignal zu erhalten. Mit dem vorliegenden Verfahren lassen sich Fokussierungszeiten von unter einer Sekunde realisieren, was sich vorteilhaft auf die Gesamt- Meßzeit auswirkt.
Über Empfängerstrahlteiler EFST und Empfänger EF wird das an der MTP reflektierte Licht detektiert.
In Fig.4 ist die Justage bei Einkopplung einer Lichtquelle dargestellt. Der Strahlengang ist hierbei ab dem Reflektorrevolver in Richtung des Spiegels SP CCD um 90 Grad um die optische Achse der Einkoppliung verdreht .
Durch Verschiebung von Spiegel ST3 und Strahlteiler ST4 wird in den in Fig. 1 dargestellten
Beleuchtungsstrahlengang nach der Einkoppellinse KL bei eingeschobenem Spiegel SP3 das Licht der Lichtquelle in einer Justageposition auf eine Mattglasscheibe MGS umgelenkt, wodurch die Lage des Lichtquellenbildes zur optischen Achse von der Bedienperson justiert werden kann. Auch bei der Einkopplung über eine Lichtleitfaser kann diese Anordnung zur Kontrolle der Lage dienen. In der Normalstellung bei eingeschobenem Strahlteiler ST4 gelangt ein geringer Teil der Lichtintensität ( etwa 4%) zur Erfassung und Regelung der Lichtleistung auf eine Monitordiode MTD. Dem Strahlteiler ist ein Wärmeschutzfilter WSF vorgeordnet.
Fig .5 : Autofokussystem Ein Autofokussystem ist zur genauen Fokussierung beispielsweise auf den Boden der MTP vorteilhaft, da diese zwar an sich parallel ist, aber im allgemeinen stark gewölbt (Größenordnung 200-300μm) , so daß ein Fest-Fokus nicht funktioniert. Höchste Priorität hat die Geschwindigkeit des Autofokus : nach Laden einer neuen Platte und erstmaliger Einrichtung/Fokussierung soll die Zeit für die Fokussierung (erforderlich z.B. nachdem die Platte verfahren wurde, um ein anderes Töpfchen auszuwerten) deutlich unter 1 sec liegen.
In Fig. 5 ist dargestellt, daß sowohl von der Plattenunterseite als auch von der Plattenoberseite Reflexe R2 , Rl des eingestrahlten Lasers des Autofokus entstehen und auf dem Empfänger EF registriert werden können.
Die Reflexe liegen lateral versetzt, je nach Dicke der Platte bekommt man entweder beide Signale auf die CCD - Zeile oder bei großer Dicke liegen die Reflexe so weit auseinander , daß auf der CCD - Zeile nur ein Reflex erfaßt wird.
Wenn das Objektiv aus einer vom Objekt weit entfernten Position auf das Objekt zugefahren wird, erscheint zunächst der untere Reflex. Bei Erfassung beider Reflexe ist anhand der Intensität der stärkere von der Oberseite vom schwächeren auf der Unterseite unterscheidbar.
Bei vorgegebener Dicke ist auch bestimmbar, ob aufgrund der Anordnung nur ein Reflex oder beide Reflexe auf dem Empfänger EF liegen werden.
Mit einem Regelalgorithmus wird bei Auftreten beider Reflexe der stärkere Reflex , d.h. der höhere Peak vernachlässigt und nur das Maximum des schwachen pPeaks zur Fokuskontrolle herangezogen. Aus der Geometrie der Anordnung ist bei zwei vorhandenen Reflexen ohnehin bestimmbar, welcher von der Plattenunterseite stammt.
Die Eigenschaften des optischen Readersystems (Objektivparameter) einerseits und des Objektes (Dicke des Bodens der Mikrotiterplatte) andererseits legen also fest, ob ein oder zwei Reflexe vom Objekt gleichzeitig auf den Detektor des Autofokussystems (CCD - Zeile) abgebildet werden, wenn sich das Objekt in der Fokuslage befindet.
Fall A: Zwei Reflexe gleichzeitig auf CCD - Zeile (von Plattenober- und Unterseite) zu erwarten aus Plattendicke
Ablauf der Regelung: 1. Analyse der auf der CCD - Zeile abgebildeten Kurve anhand von Maxima, Minima, und Kehrwerten. Sub - Pixel
- Auflösung führt dabei zur Erhöhung der Genauigkeit .
2. Aus den Ergebnissen feststellen, ob ein oder zwei Reflexe vorhanden sind.
3. Sind zwei Reflexe vorhanden, wird aus der Ablage des relevanten Reflexes zum definierten Fokuspunkt auf der CCD - Zeile der Stellwert für den Fokustrieb berechnet . 4. Ist nur einer der beiden Reflexe auf der Zeile abgebildet, ist die Lage des vorhandenen Reflexes zur Fangbereichsgrenze für die erste Fahrt in Richtung Fokuspunkt relevant, bis der zweite Reflex auf der CCD
- Zeile erscheint.
Fall B: Nur ein Reflex auf der CCD - Zeile
Ablauf der Regelung:
1. Analyse der auf der CCD - Zeile abgebildeten Kurve anhand von Maxima, Minima, und Kehrwerten. Sub - Pixel
- Auflösung führt dabei zur Erhöhung der Genauigkeit .
2. Bei eingerasteter Regelschleife wird aus der Ablage des Reflexes zum definierten Fokuspunkt auf der CCD - Zeile der Stellwert für den Fokustrieb berechnet.
3. Ist zum Startzeitpunkt der Regelschleife kein Reflex auf der CCD - Zeile vorhanden oder ist nicht sichergestellt, daß sich der Reflex der Mikrotiterplatten - Innenseite im Fangbereich der Regelschleife befindet, muß zuerst ein Reflex - Suchlauf von einer definierten Z - Position in Richtung der Mikrotiterplatte erfolgen.
Besonders vorteilhaft kann der Autufokus auch noch um einige μm elektronisch so korrigiert werden, daß nicht auf den Boden (oder den Probenträger) sondern in die Probenlösung (die Probe) hinein fokussiert wird. Das erfolgt entweder durch einen automatischen elektronischen Korrekturwert des Autofokus vor der Objektivansteuerung oder über die Objektiwerstellung selbst , die nach erfolger Fokussierung automatisch um einen geringen Betrag verstellt wird.
In Fig. 6 ist eine Gesamtanordnung dargestellt, mit einer Mikrotiterplatte MTP auf einem X/Y- Tisch und einem Pipettor zur Probeneinführung auf die MTP und der in Fig.1-5 dargestellten, hier schematisierten optischen Anordnung .

Claims

Patentansprüche
1.
Anordnung zur Untersuchung von einer oder mehreren in Probengefäßen oder auf Probenträgern angeordneten Proben im Durchlicht oder Auflicht , mittels der Abbildung und/ oder Erfassung mindestens eines Teils des Probenvolumens durch das Probengefäß oder den Probenträger hindurch über eine CCD- Kamera, der eine Auswerteeinheit nachgeordnet ist.
2.
Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei eine Auflichtbeleuchtung ebenfalls durch das Probengefäß oder den Probenträger hindurch erfolgt
3.
Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei die Beleuchtung der Anregung der Probenemission, vorzugsweise der Fluoreszenzanregung dient.
4.
Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, mit der Abbildung und / oder Erfassung auf einer von einer der
Einfüllvorrichtung abgewandten Seite durch ein Probengefäß über eine CCD- Kamera, der eine Auswerteeinheit nachgeordnet ist.
5.
Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei sich mehrere Probengefäße auf einer Mikrotiterplatte befinden.
6. Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei zur genauen Fokussierung der Abbildung ein Autofokussystem vorgesehen ist , das einem Abbildungsobjektiv in Richtung der Abbildung unmittelbar nachgeordnet ist .
7.
Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei über mindestens einen Strahlteiler eine Trennung von Anregungs- und Abbildungsstrahlengang erfolgt.
8. Anordnung nach Anspruch 7 , wobei das Autofokussystem zwischen einem Abbildungsobjektiv und diesem Strahlteiler eingeblendet wird.
9.
Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei die Einblendung des Autofokus über einen Farbteiler erfolgt .
10.
Anordnung nach Anspruch 9, wobei der Farbteiler eine hohe Transmission über einen breiten Spektralbereich (350- 780nm) aufweist , d.h. vom kurzwelligen Anregungslicht einer HBO- Lampe bis zum langwelligen Emissionsspektrum von roten Farbstoffen, aber eine hohe Reflexion für
Wellenlängen über 800nm, insbesondere für das Licht eines Autofokuslasers .
11. Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei das AutofokusSystem in Richtung der Beleuchtung nach der Lichtquelle/ der Einkopellelstelle für die Beleuchtung eingeblendet wird.
12 .
Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, mit einer Fokussierung auf Zellen am oder in der Nähe des
Bodens der Probengefäße .
13.
Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, mit einem x/-y Tisch zur Einbringung unterschiedlicher
Probengefäße in den Anregungsstrahlengang.
14.
Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei für jede Probe eine separate Fokussierung erfolgt.
15. Anordnung zur Justage bei Einkopplung einer Lichtquelle zur Probenbeleuchtung nach einem der vorangehenden
Ansprüche , wobei von einem einschiebbaren Spiegel das Licht der
Lichtquelle in einer Justageposition auf eine Mattglasscheibe MGS umgelenkt wird , wodurch die Lage des
Lichtquellenbildes zur optischen Achse von der
Bedienperson justiert werden kann .
16. Anordnung nach Anspruch 15, wobei in einer Normalstellung mit eingeschobenem Strahlteiler ST4 ein geringer Teil der Lichtintensität ( etwa 4%) zur Erfassung und Regelung der Lichtleistung auf eine Monitordiode MTD gelangt.
17.
Verfahren zur automatischen Fokussierung , insbesondere nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei über mindestens einen Fokussierstrahl das Probengefäß von unten beleuchtet wird und die vom Probengefäß reflektierten Strahlungsanteile mittels eines CCD- Empfängers ausgewertet werden.
18.
Verfahren nach Anspruch 17, wobei von unterschiedlichen Grenzschichten des
Probengefäßes stammende Strahlungsanteile identifiziert werden und eine Fokussierung auf eine Grenzschicht erfolgt .
19.
Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei eine Fokussierung auf den Gefäßboden erfolgt .
20. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei das Probengefäß eine Mikrotiterplatte ist.
21.
Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei bei der Fokussierung ein Korrekturwert für den Autofokus und/ oder eine VerStelleinrichtung zur Fokussierung auf die Probe / ins Innere des Probengefäßes berechnet und / oder eingestellt wird.
Bezugszeichen
Standard- Wechselstelle WS
Einkoppellinse KL
Beleuchtungsoptik BO Aperturblende AP
Shutter S
Leuchtfeldblende LF
Anregungsfilter AF
Emissionsfilter EF Reflektorrevolver RR
Farbteiler FFT
Objektiv O
Spiegel zur CCD SPCCD
CCD- Kamera Laser LA2 , LA3 für Autofokus
Prisma P
Fokussieroptik FO
Umlenkspiegel ULS 1,2
Strahlteiler ST2 Zerstreuungslinse ZS
Empfängerstrahlteiler EFST
Empfänger EF
Umlenkspiegel USSP
Strahlteiler ST3 , 4 Monitordiode MTD
Mattglasscheibe MGS
Wärmeschutzfilter WSF
Pipettor PI
Mikrotiterplatte MTP
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