WO2007019906A1 - Mikroskop und verfahren zur totalinternen-reflexions-mikroskopie - Google Patents

Mikroskop und verfahren zur totalinternen-reflexions-mikroskopie Download PDF

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WO2007019906A1
WO2007019906A1 PCT/EP2006/005620 EP2006005620W WO2007019906A1 WO 2007019906 A1 WO2007019906 A1 WO 2007019906A1 EP 2006005620 W EP2006005620 W EP 2006005620W WO 2007019906 A1 WO2007019906 A1 WO 2007019906A1
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illumination
light
sample
reflection
beam path
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PCT/EP2006/005620
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Inventor
Andreas Hecker
Original Assignee
Leica Microsystems Cms Gmbh
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    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/06—Means for illuminating specimens

Definitions

  • the present invention relates to a microscope for total internal reflection microscopy, with at least one light source for the evanescent illumination, optionally an adjustment for the illumination light and with a lens, both illumination light and detection light are guided through the lens via the illumination beam path and wherein at the interface with a sample or sample cover preferably totally reflected illumination light (reflection light) in the illumination beam path returns.
  • the present invention relates to a method for total internal reflection microscopy, wherein the evanescent illumination is provided via at least one light source, wherein the illumination light is possibly guided via an adjustment unit through a lens to a sample, wherein both the illumination light and the detection light be passed through the lens via the illumination beam path and wherein at the interface to a sample or sample cover preferably totally reflected illumination light (reflection light) is fed back into the illumination beam path, in particular for use in a microscope according to the invention.
  • the refraction behavior of light is used in the transition from an optically denser to an optically thinner medium.
  • a stationary evanescent wave forms in the medium with a lower refractive index.
  • the intensity of this well decreases exponentially with the distance to the interface. Because of this, fluorophores farther from the interface are not excited. The background fluorescence is significantly reduced.
  • the image contrast is improved and the resolution is simultaneously increased significantly.
  • US 2002/0097489 A1 discloses a microscope with evanescent illumination of a sample.
  • the microscope includes a white light source whose light is coupled via a slit through the microscope objective into the specimen carrying slide for evanescent illumination.
  • the illumination light propagates in the slide by total internal reflection, whereby the illumination of the sample takes place only in the region of the projecting from the slide evanescent field.
  • Microscopes of this type are known by the term TIRFM (Total Internal Reflection Fluorescent Microscope).
  • TIRFM Total Internal Reflection Fluorescent Microscope
  • the objective consists of a first lens having a positive refractive power, a second lens having a negative refractive power, wherein the focal length ratio between the two lenses is in the range of -0.4 and -0.1 and the total refractive power is greater than zero. Furthermore, the lens includes two positive lenses whose focal diameter to focal length is greater than 0.3 and less than 0.6. Further, the objective includes a negative lens and a condenser lens, the negative lens facing the front group, and the focal length ratio of the negative lens and the condenser lens being between -0.5 and -2.
  • a microscope for TIRM Total Internal Reflection Microscopy
  • the microscope has a microscope housing and a lens on.
  • the illumination light emanating from a lighting device can be coupled in via an adapter which can be inserted into the microscope housing.
  • the illumination system includes a laser light source whose light is coupled into an optical fiber. Furthermore, a coupling-out optical system is provided, which focuses the light emerging from the fiber into a rear focal point of the microscope objective.
  • the optical fiber is displaceable in a plane perpendicular to the optical axis of the microscope objective.
  • a device for coupling light in a microscope is known. There, laser light is directed onto the specimen in the field diaphragm plane by means of an optical fiber coupling designed as a slide.
  • the invention is particularly suitable for the Tl RF method.
  • a sample is illuminated with a light beam to observe the detection light emitted by the sample, as reflection or fluorescent light.
  • the focus of an illumination light beam is moved by means of a controllable beam deflection device, generally by tilting two mirrors, in a sample plane, wherein the deflection axes are usually perpendicular to one another, so that one mirror deflects in the x direction and the other in the y direction.
  • the tilting of the mirror is accomplished, for example, with the help of galvanometer actuators.
  • the power of the detection light coming from the object is measured as a function of the position of the scanning beam.
  • the control elements are equipped with sensors for determining the current mirror position.
  • an object with the focus of a light beam is scanned in three dimensions.
  • a confocal scanning microscope generally comprises a light source, a focusing optics, with which the light of the source is focused on a pinhole - the so-called excitation diaphragm - a beam splitter, a beam deflecting device for beam control, a microscope optics, a detection aperture and the detectors - A -
  • the illumination light is coupled in via a beam splitter.
  • the fluorescence or reflection light coming from the object passes back to the beam splitter via the beam deflector, passes through it, and is subsequently focused onto the detection aperture behind which the detectors are located.
  • This detection arrangement is called Descan arrangement. Detection light that does not come directly from the focus region takes a different light path and does not pass through the detection aperture, so that one obtains point information that results in a three-dimensional image by sequentially scanning the object with the focus of the illumination light beam.
  • a three-dimensional image is achieved by layerwise image data acquisition.
  • the coupling of the evanescent illumination takes place regularly in the context of two-dimensional solutions, although the adjustment unit realized there is always designed in one dimension.
  • the coupling takes place for example via a so-called neutral divider, i. via a mirror that reflects to some extent and otherwise transmits.
  • the coupling via a dichroic divider is known. It is a special mirror that reflects all other wavelengths down to a certain wavelength.
  • the lasers for evanescent illumination (TIRF illumination) and the laser for conventional epi-fluorescence illumination are polarized orthogonally and brought together.
  • TIRF illumination TIRF illumination
  • the laser for conventional epi-fluorescence illumination are polarized orthogonally and brought together.
  • the illumination light is coupled in either on the objective side or on the condenser side.
  • the resulting from the evanescent lighting back reflections are in turn coupled out and - usually - reflected in a light trap to avoid stray light or parasitic reflections.
  • the returning reflection light is so far rather annoying and must therefore be "disposed of".
  • the illumination light for the purpose of laser protection.
  • part of the light power is coupled out during the coupling of the illumination light and mirrored onto a detector.
  • a part of the light output is reflected in the context of decoupling and in turn focused on a detector. If the intensity ratio differs from a certain value, the light source of the coupled-in illumination light, usually the illumination light of a coupled-in laser, is switched off with a protective device specially provided for this purpose.
  • the known from the prior art microscopes and methods for total internal reflection microscopy are disadvantageous in that it is not possible to determine the achievable penetration depth of the resulting evanescent field in the sample quantitatively. This is due to the usually unknown refractive index of the sample to be examined. If the refractive index of the sample is known, the penetration depth from the known refractive index and the angle of incidence of the evanescent illumination light beam to the sample can be calculated in a known manner. Moreover, when examining different samples, one is confronted with different refractive indices, so that it is impossible to calculate the angle of total reflection. An automatic adjustment of the evanescent lighting therefore seems impossible.
  • the present invention is based on the object of specifying a microscope for total internal reflection microscopy and a corresponding method, according to which an automatic adjustment of the evanescent illumination is possible.
  • the microscope according to the invention achieves the above object by the features of claim 1.
  • the generic microscope is characterized in that means for at least partially decoupling the returning reflection light from the illumination beam path and means for detecting the decoupled reflection light in the illumination beam path. and that quantifiable and / or qualifiable parameters of the evanescent illumination and / or of the evanescent field arising in the sample can be derived from the beam path of the coupled-out reflection light.
  • the method of the invention solves the above problem by the features of claim 16. Thereafter, the generic method is characterized in that in the illumination beam path, the returning reflection light is at least partially decoupled from the illumination beam path and detected and that from the beam path of the decoupled reflection light quantifiable and / or qualifiable Derived from evanescent illumination parameters and / or evanescent field evolved in the sample.
  • the invention it has been recognized that it is absolutely necessary for the automatic adjustment of the evanescent illumination, the refractive index of the sample, the sample tube and / or the sample cover, i. of the object to be examined. It should be noted that an automated setting of the evanescent illumination is based on a quantifiable penetration depth of the evanescent field in the sample. In particular, when changing preparations or nutrient solution changes reproducible settings should be possible, for which the knowledge of the refractive index is required.
  • the microscope comprises an integrated device, with which it is possible to determine the refractive index of the sample in a conventional TIRF structure and derive information on the required properties, after which automation of the operation or adjustment is possible.
  • the quantitative determination of the penetration depth of the evanescent field for automatic operation must be ascertainable and thus adjustable. If the refractive index of the sample is known, the penetration depth can be calculated from the refractive index and the angle of incidence of the illumination light beam.
  • the intrinsically disturbing reflection light is coupled out of the illumination beam path, either altogether or at least partially.
  • the coupled-out reflection light is supplied to means for detecting, after which quantifiable and / or qualifiable parameters of the evanescent illumination and / or of the evanescent field arising in the sample can be derived from the beam path of the coupled-out reflection light.
  • the parameters in question include information about the position of the illumination light beam in the entrance pupil of the objective.
  • the parameters provide information about the angle of incidence of the illumination light beam on the interface with the sample.
  • the parameters are used to calculate the refractive index of the sample, from which further information can be derived.
  • the decoupled reflection light is advantageously focused on the means for detection.
  • the means for decoupling the reflection light are adapted in a particularly advantageous manner the expression of the reflection light, which can be adapted in the concrete of a two-dimensional expression of the reflection light.
  • means for spatially separating the reflection light from the illumination light comprise components which are present, namely, for example, an x-y scanner. This x-y scanner then serves beyond its actual scanning function to deflect the reflected light reflected at the optical axis into the reflection beam path, so that the reflection light is separated from the incident illumination light. There, the decoupled reflection light is supplied to the means for detection.
  • the means for coupling out the reflection light may comprise a mirror.
  • the previously mentioned means for detecting the decoupled reflection light are advantageously equipped with a detector with local triggering, so that it is possible to obtain information about the position of the illumination light beam in the entrance pupil of the objective.
  • the detector can be designed as a CCD (Charge Coupled Device). It is also conceivable that the detector is designed as a spatially resolving photodiode (PSD, Position Sensitive Device).
  • the means for detecting the decoupled reflection light comprise a combination of a conventional detector and a sensor arranged in the illumination beam path on the adjustment unit for positioning the light source, so that quantitative information and location-specific information can likewise be determined.
  • the detector can be designed as a photodiode.
  • the arrangement of the means for decoupling and detection of the reflection light are formed asymmetrically.
  • a rotationally symmetrical configuration about the optical axis especially as the coupled illumination light or the coupled illumination light beam rotates accordingly.
  • evanescent illumination light it should be noted that this can also be coupled into the illumination beam path by means of the condenser coupling or the prism coupling. Any possibilities of coupling the evanescent illumination light are conceivable.
  • the method according to the invention it is essential that this can be used advantageously in a microscope according to the invention.
  • the returning reflection light - in accordance with the above statements - is at least partially decoupled from the illumination beam path and is detected in the resulting further beam path.
  • Quantifiable and / or qualifiable parameters of the evanescent illumination and / or of the evanescent field arising in the sample are derived from the beam path of the coupled-out reflection light.
  • the adjustment unit can be calibrated before the parameters are determined. To calibrate the adjustment unit, a sample with a known refractive index is used and illuminated accordingly.
  • the illumination beam is moved from a high numerical aperture in the direction of a low numerical aperture, whereby the intensities and positions of the reflection light can be detected thereby.
  • the measured intensity on the detector is 100%.
  • the angle of the total reflection can be calculated from the known refractive index of the sample. With a calibrated adjustment unit, the adjustment angle is calculated from the position of the total reflection.
  • the penetration depth of the evanescent field can be determined quantitatively.
  • samples of known refractive index preferably with respect to a desired penetration depth of the evanescent field, it is possible to consciously adjust the evanescent illumination, preferably also for automatic operation.
  • the sample is illuminated and the position of the total reflection determined in accordance with the above statements.
  • the position of the angle of the total reflection and the angle of the refractive index of the sample can be calculated.
  • the illumination can be adjusted, in particular also automatically, in particular with regard to a desired penetration depth of the evanescent field.
  • FIG. 1 shows, in a schematic view, the basic structure of a microscope according to the invention for explaining the method according to the invention, wherein only the features relevant in relation to the invention are shown there.
  • the single figure shows the schematic structure of a microscope according to the invention with the essential building blocks for total internal reflection microscopy.
  • the microscope comprises a light source 1 for the evanescent illumination. This is preferably a laser light source.
  • an adjustment unit 2 is provided, wherein the adjustment unit 2 for deflecting the illumination light beam may comprise, for example, a stepping motor.
  • the illumination light passes through the adjustment unit 2 via the illumination beam path 3 to a lens 4.
  • the illumination light beam is passed through the lens 4 such that it occurs at an angle of total reflection on the object 5. Under the conditions of total reflection, a standing evanescent wave forms in the sample, the intensity of which decreases exponentially with the distance to the interface.
  • both illumination light 6 and detection light 7 are guided through the objective lens 4 via the illumination beam path 3, with totally reflected illumination light, ie reflection light 8, at the interface to the object 5 or to the sample or to the sample cover the illumination beam path 3 returns.
  • means for decoupling the returning reflection light 9 from the illumination beam path 3 are provided in the illumination beam path 3.
  • the coupled-out reflection light 9 is fed to a detector 10, so that it is possible to derive from the reflection light 9 quantifiable and / or qualifiable parameters of the evanescent illumination and / or of the evanescent field arising in the sample.
  • the detector operates with spatial resolution or that a further detector device of the adjustment unit 2 is assigned.
  • evanescent illumination i. TIRF lighting
  • an additional light source in the radiation path namely the only light source 1 shown here for evanescent lighting.
  • an evanescent illumination for generating an evanescent field in the sample 5 is then generated.
  • the illumination light 6 emerges again at the point diametrically opposite the entrance and passes through the beam path in the opposite direction.
  • the returning light beam which is referred to as reflection light 8, is partially or completely reflected out or coupled out and focused on the detector 10.
  • the entire beam path is designed in such a way that one obtains information about the position of the illumination light beam in the entrance pupil of the object 5 and can thereby derive the angle of incidence on the interface.
  • the arrangement required for this purpose may include a detector with spatial resolution in the hidden beam path, as has already been explained in detail.
  • a combination of a detector, for example a photodiode, and a further sensor on the adjustment unit 2 for positioning the illumination light beam can be realized.
  • the structure shown in the single figure can be designed rotationally symmetrical about the optical axis, although non-rotationally symmetric arrangements are conceivable and feasible. Furthermore, it is essential that the method for measuring the refractive index be applicable to any possibilities for coupling the evanescent illumination.
  • the Kondensoreinkopplung or prism coupling have already been mentioned before.
  • the adjustment unit 2 is calibrated.
  • a sample 5 with a known refractive index is placed under the microscope or illuminated.
  • the illumination light 6 is moved from a high numerical aperture in the direction of a low numerical aperture.
  • the respective intensities and positions are determined on the basis of the structure discussed above, in particular using appropriate detectors. Shortly before reaching the angle of total reflection, the intensity on the detector is still at 100%. Shortly after the angle of total reflection is exceeded, the intensity is 0%. From the transition, the position of the total reflection can be determined. If the refractive index is known, the angle of the total reflection can be calculated. Accordingly, the adjustment unit 2 can be calibrated, and it can be closed from the position on the angle of incidence.
  • the sample 5 is illuminated, wherein by means of the measuring method described above, the position in the total reflection can be determined.
  • the angle of refraction can be calculated directly from the position and from the angle.
  • the evanescent illumination can be automatically adjusted in the following samples of the same type and the penetration depth of the evanescent field can be determined quantitatively.

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Abstract

Ein Mikroskop zur Totalinternen-Reflexions-Mikroskopie, mit mindestens einer Lichtquelle (1 ) für die evaneszente Beleuchtung, gegebenenfalls einer Verstelleinheit (2) für das Beleuchtungslicht (6) und mit einem Objektiv (4), wobei sowohl Beleuchtungslicht (6) als auch Detektionslicht (7) über den Beleuchtungsstrahlengang (3) durch das Objektiv (4) geführt werden und wobei an der Grenzfläche zu einer Probe (5) oder Probenabdeckung vorzugsweise totalreflektiertes Beleuchtungslicht (Reflexionslicht) (8) in den Beleuchtungsstrahlengang (3) zurückkehrt, ist dadurch gekennzeichnet, dass im Beleuchtungsstrahlengang (3) Mittel zum zumindest teil¬ weisen Auskoppeln des zurückkehrenden Reflexionslichts (8) aus dem Beleuchtungsstrahlengang (3) und Mittel zum Detektieren des ausgekoppelten Reflexionslichts (8) vorgesehen sind und dass aus dem Strahlengang (9) des ausgekoppelten Reflexionslichts (8) quantifizierbare und/oder qualifizierbare Parameter der evaneszenten Beleuchtung und/oder des in der Probe (5) entstehenden evaneszenten Feldes ableitbar sind. Ein entsprechendes Verfahren dient zur Ableitung quantifizierbarer und/oder qualifizierbarer Parameter der evaneszenten Beleuchtung und/oder des in der Probe (5) entstehenden evaneszenten Feldes.

Description

MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR TOTALINTERNEN- REFEXIONS-MIKROSKOPIE
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mikroskop zur Totalinternen-Reflexions-Mikroskopie, mit mindestens einer Lichtquelle für die evaneszente Beleuchtung, ggf. einer Verstelleinheit für das Beleuchtungslicht und mit einem Objektiv, wobei sowohl Beleuchtungslicht als auch Detektionslicht über den Beleuchtungsstrahlengang durch das Objektiv geführt werden und wobei an der Grenzfläche zu einer Probe oder Probenabdeckung vorzugsweise total reflektiertes Beleuchtungslicht (Reflexionslicht) in den Beleuchtungsstrahlengang zurückkehrt.
Des Weiteren betrifft die vorliegende Erfindung ein Verfahren zur Totalinternen-Reflexions-Mikroskopie, wobei die evaneszente Beleuchtung über mindestens eine Lichtquelle bereitgestellt wird, wobei das Beleuchtungslicht ggf. über eine Verstelleinheit durch ein Objektiv zu einer Probe geführt wird, wobei sowohl das Beleuchtungslicht als auch Detektionslicht über den Beleuchtungsstrahlengang durch das Objektiv geführt werden und wobei an der Grenzfläche zu einer Probe oder Probenabdeckung vorzugsweise totalreflektiertes Beleuchtungslicht (Reflexionslicht) in den Beleuchtungsstrahlengang zurückgeführt wird, insbesondere zur Anwendung in einem erfindungsgemäßen Mikroskop.
Bei der Totalinternen-Reflexions-Mikroskopie wird das Brechungsverhalten von Licht beim Übergang von einem optisch dichteren in ein optisch dünneres Medium genutzt. So ergibt sich beispielsweise für den Übergang von Deckglas (n1=1 ,518) zu Wasser (n2=1 ,33) ein kritischer Winkel von 61 °, der Winkel der Total-Reflexion. Unter den Bedingungen der Total-Reflexion (Winkel >61 °) bildet sich im Medium mit geringerem Brechungsindex eine stehende evaneszente Welle. Die Intensität dieser Well fällt exponentiell mit dem Abstand zur Grenzfläche ab. Aufgrund dessen werden von der Grenzfläche weiter entfernte Fluorophore nicht angeregt. Die Hintergrundfluoreszenz wird erheblich reduziert. Der Bildkontrast wird dabei verbessert und die Auflösung wird gleichzeitig deutlich gesteigert. Voraussetzung für die Nutzung des voranstehend geschilderten Phänomens ist ein ausreichend großer Unterschied der Brechungsindizes von Deckglas und Medium. Aus der US 2002/0097489 A1 ist ein Mikroskop mit evaneszenter Beleuchtung einer Probe bekannt. Das Mikroskop beinhaltet eine Weißlichtquelle, deren Licht über eine Schlitzblende durch das Mikroskopobjektiv hindurch in den eine Probe tragenden Objektträger zur evaneszenten Beleuchtung eingekoppelt wird. Das Beleuchtungslicht pflanzt sich in dem Objektträger durch totalinterne Reflektion fort, wobei die Beleuchtung der Probe nur im Bereich des aus dem Objektträger herausragenden evaneszenten Feldes erfolgt. Mikroskope dieser Art sind unter dem Begriff TIRFM (Total Internal Reflection Fluorescent Microscope) bekannt. Die z-Auflösung von TIRF-Mikroskopen ist aufgrund des nur ca. 100 nm in die Probe ragenden evaneszenten Feldes außerordentlich gut.
Aus der DE 101 08 796 A1 ist ein hochaperturiges Objektiv, insbesondere für TIRF- Anwendungen, bekannt. Das Objektiv besteht aus einer ersten Linse mit einer positiven Brechkraft, einer zweiten Linse mit negativer Brechkraft, wobei das Brennweitenverhältnis zwischen den beiden Linsen im Bereich von - 0,4 und - 0,1 liegt und die Gesamtbrechkraft größer Null ist. Ferner beinhaltet das Objektiv zwei positive Linsen, deren Verhältnisdurchmesser zur Brennweite größer 0,3 und kleiner 0,6 ist. Ferner beinhaltet das Objektiv eine Negativlinse und einer Sammellinse, wobei die Negativlinse der Frontgruppe zugewandt ist und das Brennweitenverhältnis der Negativlinse und der Sammellinse zwischen - 0,5 und - 2 liegt.
Aus der DE 102 17 098 A1 ist eine Auflichtbeleuchtungsanordnung für die TIRF- Mikroskopie bekannt. Die Auflichtbeleuchtungsanordnung beinhaltet eine Beleuchtungsquelle, die im Betrieb ein polarisiertes Beleuchtungsstrahlenbündel abgibt, das unter einem Winkel zur optischen Achse propagiert und eine Umlenkeinrichtung, die das Beleuchtungsstrahlenbündel umlenkt und parallel zur optischen Achse in das Objektiv einkoppelt. Es ist bei dieser Auflichtbeleuchtungsanordnung vorgesehen, dass das von der Beleuchtungsquelle abgegebene Beleuchtungsstrahlenbündel s- und p-Polarisationsrichtungen mit einer Phasendifferenz aufweist und die Umlenkeinrichtung das Beleuchtungsstrahlenbündel x-mal reflektiert, wobei x = (n x 180 ° - d)/60 °.
Aus der DE 101 43 481 A1 ist ein Mikroskop zur TIRM (Total Internal Reflection Microscopy) bekannt. Das Mikroskop weist ein Mikroskopgehäuse und ein Objektiv auf. Das von einer Beleuchtungseinrichtung ausgehende Beleuchtungslicht kann über einen in das Mikroskopgehäuse einschiebbaren Adapter eingekoppelt werden.
Aus der US 2004/0001253 A1 ist ein Mikroskop mit einem optischen Beleuchtungssystem, das ein einfaches Umschalten zwischen evaneszenter Beleuchtung und Reflektionsbeleuchtung ermöglicht. Das Beleuchtungssystem beinhaltet eine Laserlichtquelle, deren Licht in eine optische Faser eingekoppelt wird. Ferner ist eine Auskoppeloptik vorgesehen, die das aus der Faser austretende Licht in einen hinteren Brennpunkt des Mikroskopobjektivs fokussiert. Die optische Faser ist in einer Ebene senkrecht zur optischen Achse des Mikroskopobjektivs verschiebbar.
Aus der DE 102 29 935 A1 ist eine Einrichtung zur Einkopplung von Licht in einem Mikroskop bekannt. Dort wird in der Leuchtfeldblendenebene durch eine als Schieber ausgeführte Lichtleitfaser-Einkopplung Laserlicht auf das Präparat gerichtet. Die Erfindung ist insbesondere für das Tl RF- Verfahren geeignet.
In der Rastermikroskopie wird eine Probe mit einem Lichtstrahl beleuchtet, um das von der Probe emittierte Detektionslicht, als Reflexions- oder Fluoreszenzlicht zu beobachten. Der Fokus eines Beleuchtungslichtstrahlenbündels wird mit Hilfe einer steuerbaren Strahlablenkeinrichtung, im Allgemeinen durch Verkippen zweier Spiegel, in einer Probenebene bewegt, wobei die Ablenkachsen meist senkrecht aufeinander stehen, so dass ein Spiegel in x-, der andere in y-Richtung ablenkt. Die Verkippung der Spiegel wird beispielsweise mit Hilfe von Galvanometer-Stellelementen bewerkstelligt. Die Leistung des vom Objekt kommenden Detektionslichtes wird in Abhängigkeit von der Position des Abtaststrahles gemessen. Üblicherweise werden die Stellelemente mit Sensoren zur Ermittlung der aktuellen Spiegelstellung ausgerüstet. Speziell in der konfokalen Rastermikroskopie wird ein Objekt mit dem Fokus eines Lichtstrahls in drei Dimensionen abgetastet.
Ein konfokales Rastermikroskop umfasst im Allgemeinen eine Lichtquelle, eine Fokussieroptik, mit der das Licht der Quelle auf eine Lochblende - die sog. Anregungsblende - fokussiert wird, einen Strahlteiler, eine Strahlablenkeinrichtung zur Strahlsteuerung, eine Mikroskopoptik, eine Detektionsblende und die Detektoren - A -
zum Nachweis des Detektions- bzw. Fluoreszenzlichtes. Das Beleuchtungslicht wird über einen Strahlteiler eingekoppelt. Das vom Objekt kommende Fluoreszenz- oder Reflexionslicht gelangt über die Strahlablenkeinrichtung zurück zum Strahlteiler, passiert diesen, um anschließend auf die Detektionsblende fokussiert zu werden, hinter der sich die Detektoren befinden. Diese Detektionsanordnung wird Descan- Anordnung genannt. Detektionslicht, das nicht direkt aus der Fokusregion stammt, nimmt einen anderen Lichtweg und passiert die Detektionsblende nicht, so dass man eine Punktinformation erhält, die durch sequentielles Abtasten des Objekts mit dem Fokus des Beleuchtungslichtstrahlenbündels zu einem dreidimensionalen Bild führt. Meist wird ein dreidimensionales Bild durch schichtweise Bilddatennahme erzielt.
Bei denen aus dem Stand der Technik bekannten Mikroskopen erfolgt die Ein- kopplung der evaneszenten Beleuchtung regelmäßig im Rahmen zweidimensionaler Lösungen, wenngleich die dort realisierte Verstelleinheit stets eindimensional ausgeführt ist. So erfolgt die Einkopplung beispielsweise über einen sogenannten neutralen Teiler, d.h. über einen Spiegel, der in einem gewissen Umfange reflektiert und ansonsten transmittiert. Des Weiteren ist die Einkopplung über einen dich- roitischen Teiler bekannt. Dabei handelt es sich um einen besonderen Spiegel, der bis auf eine bestimmte Wellenlänge alle anderen Wellenlängen reflektiert. Ebenso ist es auch bereits bekannt, die Einkopplung über einen Polarisationsteiler zu bewerkstelligen. Dabei werden die Laser für die evaneszente Beleuchtung (TIRF-Be- leuchtung) und der Laser für die herkömmliche Epi-Fluoreszenz-Beleuchtung orthogonal zueinander polarisiert und zusammengeführt. Als eindimensionale Möglichkeit zur Einkopplung der erforderlichen Strahlungsquelle ist es auch bereits bekannt, kleine zusätzliche Spiegel im Beleuchtungsstrahlengang für die Epi-Fluoreszenz- Beleuchtung zu verwenden.
Grundsätzlich wird im Stand der Technik zur Realisierung einer evaneszenten Beleuchtung (TIRF-Beleuchtung) das Beleuchtungslicht entweder objektivseitig oder kondensorseitig eingekoppelt. Die durch die evaneszente Beleuchtung entstehenden Rückreflexe werden wiederum ausgekoppelt und - üblicherweise - in eine Lichtfalle eingespiegelt, um Streulicht oder parasitäre Reflexe zu vermeiden. Das zurückkehrende Reflexionslicht ist bislang eher lästig und muß daher „entsorgt" werden.
Aus der DE 103 09 269 A1 ist es bereits für sich gesehen bekannt, das Beleuchtungslicht zum Zwecke des Laserschutzes zu nutzen. Dazu wird bei der Einkopplung des Beleuchtungslichts ein Teil der Lichtleistung ausgekoppelt und auf einen Detektor gespiegelt. Ebenso wird ein Teil der Lichtleistung im Rahmen der Auskopplung ausspiegelt und wiederum auf einen Detektor fokussiert. Unterscheidet das Intensitätsverhältnis einen bestimmten Wert, dann wird die Lichtquelle des eingekoppelten Beleuchtungslichts, meist das Beleuchtungslicht eines eingekoppelten Lasers, mit einer eigens dafür vorgesehenen Schutzvorrichtung abgeschaltet.
Die aus dem Stand der Technik bekannten Mikroskope und Verfahren zur Totalinternen-Reflexions-Mikroskopie sind insoweit nachteilig, als es nicht möglich ist, die zu erzielende Eindringtiefe des in der Probe entstehenden evaneszenten Feldes quantitativ zu bestimmen. Dies ist auf den üblicherweise unbekannten Brechungsindex der zu untersuchenden Probe zurückzuführen. Ist der Brechungsindex der Probe bekannt, lässt sich die Eindringtiefe aus dem bekannten Brechungsindex und dem Einfallswinkel des evaneszenten Beleuchtungslichtstrahls zur Probe in bekannter Weise berechnen. Bei der Untersuchung unterschiedlicher Proben ist man darüber hinaus mit unterschiedlichen Brechungsindizes konfrontiert, so dass es unmöglich ist, den Winkel der Total-Reflexion zu berechnen. Eine automatische Einstellung der evaneszenten Beleuchtung erscheint daher ausgeschlossen.
Der vorliegenden Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, ein Mikroskop zur Totalinternen-Reflexions-Mikroskopie und ein entsprechendes Verfahren anzugeben, wonach eine automatische Einstellung der evaneszenten Beleuchtung möglich ist.
Das erfindungsgemäße Mikroskop löst die voranstehende Aufgabe durch die Merkmale des Patentanspruchs 1. Danach ist das gattungsbildende Mikroskop dadurch gekennzeichnet, dass im Beleuchtungsstrahlengang Mittel zum zumindest teilweisen Auskoppeln des zurückkehrenden Reflexionslichts aus dem Beleuchtungsstrahlengang und Mittel zum Detektieren des ausgekoppelten Reflexionslichts vor- gesehen sind und dass aus dem Strahlengang des ausgekoppelten Reflexionslichts quantifizierbare und/oder qualifizierbare Parameter der evaneszenten Beleuchtung und/oder des in der Probe entstehenden evaneszenten Feldes ableitbar sind.
Das erfindungsgemäße Verfahren löst die voranstehende Aufgabe durch die Merkmale des Patentanspruchs 16. Danach ist das gattungsbildende Verfahren dadurch gekennzeichnet, dass im Beleuchtungsstrahlengang das zurückkehrende Reflexionslicht zumindest teilweise aus dem Beleuchtungsstrahlengang ausgekoppelt und detektiert wird und dass aus dem Strahlengang des ausgekoppelten Reflexionslichts quantifizierbare und/oder qualifizierbare Parameter der evaneszenten Beleuchtung und/oder des in der Probe entstehenden evaneszenten Feldes abgeleitet werden.
Erfindungsgemäß ist erkannt worden, dass es zur automatischen Einstellung der evaneszenten Beleuchtung zwingend erforderlich ist, den Brechungsindex der Probe, des Probenglases und/oder der Probenabdeckung, d.h. des zu untersuchenden Objektes, zu kennen. Dabei sei angemerkt, dass eine automatisierte Einstellung der evaneszenten Beleuchtung auf eine quantifizierbare Eindringtiefe des evaneszenten Feldes in der Probe abstellt. Insbesondere beim Präparatewechsel oder beim Nährlösungswechsel sollen reproduzierbare Einstellungen möglich sein, wozu die Kenntnis des Brechungsindexes erforderlich ist.
In erfindungsgemäßer Weise umfasst das Mikroskop eine integrierte Vorrichtung, mit der es möglich ist, in einem üblichen TIRF-Aufbau den Brechungsindex der Probe festzustellen und daraus Informationen zu den erforderlichen Eigenschaften abzuleiten, wonach eine Automatisierung des Betriebs bzw. der Einstellung möglich ist.
Des Weiteren ist in erfindungsgemäßer Weise erkannt worden, dass die quantitative Bestimmung der Eindringtiefe des evaneszenten Feldes zum automatischen Betrieb ermittelbar und somit einstellbar sein muss. Ist der Brechungsindex der Probe bekannt, kann die Eindringtiefe aus dem Brechungsindex und dem Einfallswinkel des Beleuchtungslichtstrahls berechnet werden. Im Konkreten wird bei dem erfindungsgemäßen Mikroskop das an sich störende Reflexionslicht aus dem Beleuchtungsstrahlengang ausgekoppelt, und zwar entweder insgesamt oder zumindest teilweise. Das ausgekoppelte Reflexionslicht wird Mitteln zum Detektieren zugeführt, wonach aus dem Strahlengang des ausgekoppelten Reflexionslichts quantifizierbare und/oder qualifizierbare Parameter der evaneszenten Beleuchtung und/oder des in der Probe entstehenden evaneszenten Feldes ableitbar sind.
Die hier in Rede stehenden Parameter umfassen Informationen über die Position des Beleuchtungslichtstrahls in der Eintrittspupille des Objektivs. Darüber hinaus geben die Parameter Aufschluss über den Einfallswinkel des Beleuchtungslichtstrahls auf die Grenzfläche zur Probe. Wie bereits zuvor erwähnt, dienen die Parameter zur Berechnung des Brechungsindexes der Probe, woraus sich weitere Informationen ableiten lassen.
Des Weiteren sei angemerkt, dass das ausgekoppelte Reflexionslicht in vorteilhafter Weise auf die Mittel zur Detektion fokussiert wird.
Die Mittel zum Auskoppeln des Reflexionslichtes sind in ganz besonders vorteilhafter Weise der Ausprägung des Reflexionslichts angepasst, wobei diese im Konkreten einer zweidimensionalen Ausprägung des Reflexionslichts angepasst sein können. In konstruktiver Hinsicht ist es möglich, dass Mittel zum räumlichen Trennen des Reflexionslichts vom Beleuchtungslicht vorhandene Bauteile umfassen, nämlich beispielsweise einen x-y-Scanner. Dieser x-y-Scanner dient dann über seine eigentliche Scannfunktion hinaus dazu, das an der optischen Achse gespiegelte Reflexionslicht in den Reflexionsstrahlengang abzulenken, so dass das Reflexionslicht vom einfallenden Beleuchtungslicht getrennt ist. Dort wird das ausgekoppelte Reflexionslicht den Mitteln zur Detektion zugeführt.
Bei einfacher Bauweise können die Mittel zum Auskoppeln des Reflexionslichts einen Spiegel umfassen.
Die bereits zuvor erwähnten Mittel zum Detektieren des ausgekoppelten Reflexionslichts sind in vorteilhafter Weise mit einem Detektor mit Ortsauslösung ausgestattet, so dass es möglich ist, Informationen über die Position des Beleuchtungslichtstrahls in der Eintrittspupille des Objektivs zu erhalten. Der Detektor kann als CCD (Charge Coupled Device) ausgeführt sein. Ebenso ist es denkbar, dass der Detektor als ortsauflösende Fotodiode (PSD, Position Sensitive Device) ausgeführt ist. Alternativ ist es denkbar, dass die Mittel zum Detektieren des ausgekoppelten Reflexionslichts eine Kombination aus einem herkömmlichen Detektor und einem im Beleuchtungsstrahlengang angeordneten Sensor an der Verstelleinheit zur Positionierung der Lichtquelle umfassen, so dass sich ebenfalls quantitative Informationen und ortsspezifische Informationen ermitteln lassen. Der Detektor kann dabei als Fotodiode ausgeführt sein.
Grundsätzlich ist es möglich, dass die Anordnung der Mittel für die Auskopplung und Detektion des Reflexionslichts asymmetrisch ausgebildet sind. Von Vorteil ist eine rotationssymmetrische Ausgestaltung um die optische Achse, zumal das eingekoppelte Beleuchtungslicht bzw. der eingekoppelte Beleuchtungslichtstrahl entsprechend dreht.
In Bezug auf das evaneszente Beleuchtungslicht sei angemerkt, dass dieses auch im Wege der Kondensoreinkopplung oder der Prismeneinkopplung in den Beleuchtungsstrahlengang einkoppelbar ist. Jedwede Möglichkeiten der Einkopplung des evaneszenten Beleuchtungslichts sind denkbar.
In Bezug auf das erfindungsgemäße Verfahren ist wesentlich, dass sich dieses in vorteilhafter Weise in einem erfindungsgemäßen Mikroskop anwenden lässt. Dazu wird im Beleuchtungsstrahlengang das zurückkehrende Reflexionslicht - entsprechend den voranstehenden Ausführungen - zumindest teilweise aus dem Beleuchtungsstrahlengang ausgekoppelt und wird in dem so entstehenden weiteren Strahlengang detektiert. Aus dem Strahlengang des ausgekoppelten Reflexionslichts werden quantifizierbare und/oder qualifizierbare Parameter der evaneszenten Beleuchtung und/oder des in der Probe entstehenden evaneszenten Feldes abgeleitet. Zur Vermeidung von Wiederholungen wird dazu auf die voranstehenden Ausführungen verwiesen. Des Weiteren ist wesentlich, dass vor der Ermittlung der Parameter die Verstelleinheit kalibriert werden kann. Zum Kalibrieren der Verstelleinheit wird eine Probe mit bekanntem Brechungsindex verwendet und entsprechend beleuchtet.
Über die Verstelleinheit wird der Beleuchtungsstrahl von einer hohen numerischen Apertur in Richtung einer niedrigen numerischen Apertur bewegt, wobei dadurch die Intensitäten und Positionen des Reflexionslichts detektierbar sind. Kurz vor Erreichen des Winkels der totalen Reflexion beträgt die gemessene Intensität auf dem Detektor 100 %. Kurz nach Überschreiten des Winkels der totalen Reflexion ist die Intensität auf 0 % gefallen. Dies vorausgesetzt lässt sich die Position der totalen Reflexion bestimmen, nämlich durch den zuvor genanten Übergang.
Wie bereits zuvor ausgeführt, lässt sich aus dem bekannten Brechungsindex der Probe der Winkel der totalen Reflexion berechnen. Bei kalibrierter Verstelleinheit wird aus der Position der totalen Reflexion der Einstellwinkel berechnet.
Bei Proben mit bekanntem Brechungsindex lässt sich die Eindringtiefe des evaneszenten Feldes quantitativ bestimmen. Folglich ist es bei Proben mit bekanntem Brechungsindex vorzugsweise im Hinblick auf eine gewünschte Eindringtiefe des evaneszenten Feldes möglich, die evaneszente Beleuchtung bewusst einzustellen, und zwar vorzugsweise auch zum automatischen Betrieb.
Bei Proben mit unbekanntem Brechungsindex lässt sich dieser im Rahmen der voranstehenden Ausführungen ermitteln bzw. messen. Dazu wird die Probe beleuchtet und die Position der totalen Reflexion entsprechend den voranstehenden Ausführungen ermittelt. Bei kalibrierter Verstelleinheit lässt sich aus der Position der Winkel der totalen Reflexion und aus dem Winkel der Brechungsindex der Probe berechnen. Nach der Ermittlung des Brechungsindexes lässt sich insbesondere im Hinblick auf eine gewünschte Eindringtiefe des evaneszenten Feldes die Beleuchtung einstellen, und zwar insbesondere auch automatisch.
Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten, die Lehre der vorliegenden Erfindung in vorteilhafter Weise auszugestalten und weiterzubilden. Dazu ist einerseits auf die den Patentansprüchen 1 und 16 nachgeordneten Patentansprüchen und anderer- seits auf die nachfolgende Erläuterung eines bevorzugten Ausführungsbeispiels der Erfindung anhand der Zeichnung zu verweisen. In Verbindung mit der Erläuterung des bevorzugten Ausführungsbeispiels der Erfindung anhand der Zeichnung werden auch im Allgemeinen bevorzugte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Lehre erläutert. In der Zeichnung zeigt die
einzige Fig. in einer schematischen Ansicht den grundsätzlichen Aufbau eines erfindungsgemäßen Mikroskops zur Erläuterung des erfindungsgemäßen Verfahrens, wobei dort lediglich die in Bezug auf die Erfindung relevanten Merkmale gezeigt sind.
So zeigt die einzige Figur den schematischen Aufbau eines erfindungsgemäßen Mikroskops mit den wesentlichen Bausteinen zur Totalinternen-Reflexions-Mikroskopie. Das Mikroskop umfasst eine Lichtquelle 1 für die evaneszente Beleuchtung. Dabei handelt es sich vorzugsweise um eine Laserlichtquelle.
Des Weiteren ist eine Verstelleinheit 2 vorgesehen, wobei die Verstelleinheit 2 zum Ablenken des Beleuchtungslichtstrahls beispielsweise einen Schrittmotor umfassen kann. Das Beleuchtungslicht gelangt über die Verstelleinheit 2 über den Beleuchtungsstrahlengang 3 zu einem Objektiv 4. Der Beleuchtungslichtstrahl wird derart durch das Objektiv 4 geleitet, dass er unter einem Winkel der Total-Reflexion auf das Objekt 5 auftritt. Unter den Bedingungen der Total-Reflexion bildet sich in der Probe eine stehende evaneszente Welle, deren Intensität exponentiell mit dem Abstand zur Grenzfläche abfällt.
Des Weiteren lässt die einzige Figur erkennen, dass sowohl Beleuchtungslicht 6 als auch Detektionslicht 7 über den Beleuchtungsstrahlengang 3 durch das Objektiv 4 geführt werden, wobei an der Grenzfläche zum Objekt 5 bzw. zur Probe oder zur Probenabdeckung total reflektiertes Beleuchtungslicht, d.h. Reflexionslicht 8, in den Beleuchtungsstrahlengang 3 zurückkehrt. Erfindungsgemäß sind im Beleuchtungsstrahlengang 3 Mittel zum Auskoppeln des zurückkehrenden Reflexionslichts 9 aus dem Beleuchtungsstrahlengang 3 vorgesehen. Das ausgekoppelte Reflexionslicht 9 wird einem Detektor 10 zugeführt, so dass sich aus dem Reflexionslicht 9 quantifizierbare und/oder qualifizierbare Parameter der evaneszenten Beleuchtung und/oder des in der Probe entstehenden evaneszenten Feldes ableiten lassen. Dazu ist es erforderlich, dass der Detektor mit Ortsauflösung arbeitet oder das eine weitere Detektoreinrichtung der Verstelleinheit 2 zugeordnet ist.
Unter Bezugnahme auf die einzige Figur ist wesentlich, dass es zur Erzeugung einer evaneszenten Beleuchtung, d.h. einer TIRF-Beleuchtung, erforderlich ist, zu der sonst üblichen Beleuchtungslichtquelle eine zusätzliche Lichtquelle in den Strahlungsgang einzukoppeln, nämlich die hier einzig dargestellte Lichtquelle 1 zur evaneszenten Beleuchtung. Mittels des Objektivs 4 wird dann eine evaneszente Beleuchtung zur Erzeugung eines evaneszenten Feldes in der Probe 5 generiert. Unter der Bedingung der Total-Reflexion an der Grenzfläche zur Probe 5 tritt an der zum Eintritt diametral gegenüberliegenden Stelle das Beleuchtungslicht 6 wieder aus und durchläuft den Strahlengang in entgegengesetzte Richtung. Der als Reflexionslicht 8 bezeichnete rücklaufende Lichtstrahl wird teilweise oder insgesamt ausgespiegelt bzw. ausgekoppelt und auf den Detektor 10 fokussiert. Der gesamte Strahlengang ist dabei derart gestaltet, dass man eine Information über die Position des Beleuchtungslichtstrahls in der Eintrittspupille des Objekts 5 erhält und darüber den Einfallswinkel auf die Grenzfläche ableiten kann. Die dazu erforderliche Anordnung kann einen Detektor mit Ortsauflösung im ausgeblendeten Strahlengang umfassen, wie dies bereits zuvor ausführlich dargelegt worden ist. Ebenso kann eine Kombination aus einem Detektor, beispielsweise einer Fotodiode, und einem weiteren Sensor an der Verstelleinheit 2 zur Positionierung des Beleuchtungslichtstrahls realisiert sein.
Der in der einzigen Figur gezeigte Aufbau kann rotationssymmetrisch um die optische Achse gestaltet sein, wenngleich auch nicht rotationssymmetrische Anordnungen denkbar und realisierbar sind. Des Weiteren ist wesentlich, dass die Methode zur Messung des Brechungsindexes auf jedwede Möglichkeiten zur Einkopplung der evaneszenten Beleuchtung anwendbar sind. Die Kondensoreinkopplung oder Prismeneinkopplung wurden bereits zuvor genannt.
In Bezug auf die Ermittlungen der relevanten Parameter sei unter Bezugnahme auf die einzige Figur ausgeführt, dass in einem ersten Schritt die Verstelleinheit 2 kalibriert wird. Hierzu wird eine Probe 5 mit bekanntem Brechungsindex unter das Mikroskop gelegt bzw. beleuchtet. Danach wird mit Hilfe der vorzugsweise automatischen Verstelleinheit 2 das Beleuchtungslicht 6 ausgehend von einer hohen numerischen Apertur in Richtung einer niedrigen numerischen Apertur bewegt. Die jeweiligen Intensitäten und Positionen werden unter Zugrundelegung des zuvor erörterten Aufbaus, insbesondere unter Nutzung entsprechender Detektoren, ermittelt. Kurz vor Erreichen des Winkels der totalen Reflexion liegt die Intensität auf den Detektor noch bei 100 %. Kurz nach Überschreiten des Winkels der totalen Reflexion liegt die Intensität bei 0 %. Aus dem Übergang lässt sich die Position der totalen Reflexion bestimmen. Bei bekanntem Brechungsindex kann der Winkel der totalen Reflexion berechnet werden. Entsprechend lässt sich die Verstelleinheit 2 kalibrieren, und es lässt sich aus der Position auf den Einfallswinkel schließen.
Bei Proben mit bekanntem Brechungsindex ist es daher möglich, die evaneszente Beleuchtung automatisch einzustellen, woraus sich die jeweilige Eindringtiefe des evaneszenten Feldes ergibt.
Bei Proben mit unbekanntem Brechungsindex ist es erforderlich, diesen zuerst zu ermitteln bzw. zu messen. Hierzu wird die Probe 5 beleuchtet, wobei mittels der zuvor beschriebenen Messmethode die Position bei der totalen Reflexion ermittelbar ist. Unter Zugrundelegung einer kalibrierten Verstelleinheit 2 lässt sich direkt aus der Position der Winkel und aus dem Winkel der Brechungsindex berechnen. Unter Zugrundelegung des nun bekannten Brechungsindexes lässt sich bei den folgenden Proben der gleichen Art die evaneszente Beleuchtung automatisch einstellen und lässt sich die Eindringtiefe des evaneszenten Feldes quantitativ bestimmen. In Bezug auf Merkmale, die sich der einzigen Figur nicht entnehmen lassen, sei zur Vermeidung von Wiederholungen auf die allgemeine Beschreibung und auf die Patentansprüche verwiesen.
Schließlich sei darauf hingewiesen, dass das voranstehende erörterte Ausführungsbeispiel lediglich zur Beschreibung der beanspruchten Lehre dienen, diese jedoch nicht auf das Ausführungsbeispiel einschränkt.

Claims

P a t e n t a n s p r ü c h e
1. Mikroskop zur Totalinternen-Reflexions-Mikroskopie, mit mindestens einer Lichtquelle (1 ) für die evaneszente Beleuchtung, gegebenenfalls einer Verstelleinheit
(2) für das Beleuchtungslicht (6) und mit einem Objektiv (4), wobei sowohl Beleuchtungslicht (6) als auch Detektionslicht (7) über den Beleuchtungsstrahlengang
(3) durch das Objektiv (4) geführt werden und wobei an der Grenzfläche zu einer Probe (5) oder Probenabdeckung vorzugsweise totalreflektiertes Beleuchtungslicht (Reflexionslicht) (8) in den Beleuchtungsstrahlengang (3) zurückkehrt, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, dass im Beleuchtungsstrahlengang (3) Mittel zum zumindest teilweisen Auskoppeln des zurückkehrenden Reflexionslichts (8) aus dem Beleuchtungsstrahlengang und Mittel zum Detektieren des ausgekoppelten Reflexionslichts (8) vorgesehen sind und dass aus dem Strahlengang (9) des ausgekoppelten Reflexionslichts (8) quantifizierbare und/oder qualifizierbare Parameter der evaneszenten Beleuchtung und/oder des in der Probe (5) entstehenden evaneszenten Feldes ableitbar sind.
2. Mikroskop nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Parameter eine Information über die Position des Beleuchtungsstrahls in der Eintrittspupille des Objektivs (5) umfassen.
3. Mikroskop nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Parameter Aufschluss geben über den Einfallswinkel des Beleuchtungsstrahls auf die Grenzfläche geben.
4. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Parameter zur Berechnung des Brechungsindexes der Probe (5) dienen.
5. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass das ausgekoppelte Reflexionslicht (8) auf die Mittel zur Detektion fokussiert wird.
6. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel zum Auskoppeln des Reflexionslichts (8) der Ausprägung des Reflexionslichts (8) angepasst sind.
7. Mikroskop nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel zum Auskoppeln des Reflexionslichts (8) einer zweidimensionalen Ausprägung des Reflexionslichts (8) angepasst sind.
8. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel zum Auskoppeln des Reflexionslichts (8) einen Spiegel umfassen.
9. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel zum Detektieren des ausgekoppelten Reflexionslichts (8) einen Detektor (10) mit Ortsauflösung umfassen.
10. Mikroskop nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor (10) als CCD (Charge Coupled Device) ausgeführt ist.
11. Mikroskop nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor (10) als ortsauflösende Fotodiode (PSD, Position Sensitive Device) ausgeführt ist.
12. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel zum Detektieren des ausgekoppelten Reflexionslichts (8) eine Kombination aus einem Detektor und einem im Beleuchtungsstrahlengang (3) angeordneten Sensor an der Verstelleinheit (2) zur Positionierung der Lichtquelle (1) umfassen.
13. Mikroskop nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor als Fotodiode ausgeführt ist.
14. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Anordnung der Mittel für die Auskopplung und Detektion des Reflexionslichts (8) rotationssymmetrisch um die optische Achse ausgebildet sind.
15. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass das evaneszente Beleuchtungslicht (6) im Wege der Kondensoreinkopplung oder der Prismeneinkopplung in den Beleuchtungsstrahlengang (3) einkoppelbar ist.
16. Verfahren zur Totalinternen-Reflexions-Mikroskopie, wobei die evaneszente Beleuchtung über mindestens eine Lichtquelle (1 ) bereitgestellt wird, wobei das Be- leuchtungslicht(6) gegebenenfalls über eine Verstelleinheit (2) durch ein Objektiv (4) zu einer Probe geführt wird, wobei sowohl das Beleuchtungslicht (6) als auch De- tektionslicht (7) über den Beleuchtungsstrahlengang (3) durch das Objektiv (4) geführt werden und wobei an der Grenzfläche zu einer Probe (5) oder Probenabdeckung vorzugsweise totalreflektiertes Beleuchtungslicht (Reflexionslicht) (8) in den Beleuchtungsstrahlengang (3) zurückgeführt wird, insbesondere zur Anwendung in einem Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 15, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, dass im Beleuchtungsstrahlengang (3) das zurückkehrende Reflexionslicht (8) zumindest teilweise aus dem Beleuchtungsstrahlengang (3) ausgekoppelt und detektiert wird und dass aus dem Strahlengang (9) des ausgekoppelten Reflexionslichts (8) quantifizierbare und/oder qualifizierbare Parameter der evaneszenten Beleuchtung und/oder des in der Probe (5) entstehenden evaneszenten Feldes abgeleitet werden.
17. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass vor der Ermittlung der Parameter die Verstelleinheit (2) kalibriert wird.
18. Verfahren nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, dass zum Kalibrieren der Verstelleinheit (2) eine Probe (5) mit bekanntem Brechungsindex beleuchtet wird.
19. Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 18, dadurch gekennzeichnet, dass über die Verstelleinheit (2) der Beleuchtungsstrahl von einer hohen numerischen Apertur in Richtung einer niedrigen numerischen Apertur bewegt und dabei die Intensitäten und Positionen des Reflexionslichts (8) detektiert werden.
20. Verfahren nach Anspruch 19, wobei kurz vor Erreichen des Winkels der totalen Reflexion die gemessene Intensität auf dem Detektor (10) 100% beträgt und kurz nach Überschreiten des Winkels der totalen Reflexion die Intensität auf 0% gefallen ist, dadurch gekennzeichnet, dass dadurch die Position der totalen Reflexion bestimmt wird.
21. Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 20, dadurch gekennzeichnet, dass aus dem bekannten Brechungsindex der Probe (5) der Winkel der totalen Reflexion berechnet wird.
22. Verfahren nach Anspruch 21 , dadurch gekennzeichnet, dass bei kalibrierter Verstelleinheit (2) aus der Position der totalen Reflexion der Einfallswinkel berechnet wird.
23. Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 22, dadurch gekennzeichnet, dass bei Proben (5) mit bekanntem Brechungsindex die Eindringtiefe des evaneszenten Feldes quantitativ bestimmt wird.
24. Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 23, dadurch gekennzeichnet, dass bei Proben (5) mit bekanntem Brechungsindex vorzugsweise im Hinblick auf eine gewünschte Eindringtiefe des evaneszenten Feldes, die evaneszente Beleuchtung vorzugsweise automatisch eingestellt wird.
25. Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 20, dadurch gekennzeichnet, dass bei Proben (5) mit unbekanntem Brechungsindex dieser ermittelt bzw. gemessen wird.
26. Verfahren nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, dass die Probe (5) beleuchtet und die Position der totalen Reflexion ermittelt wird.
27. Verfahren nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, dass bei kalibrierter Verstelleinheit (2) aus der Position der Winkel der totalen Reflexion und aus dem Winkel der Brechungsindex der Probe (5) berechnet werden.
28. Verfahren nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, dass nach der Ermittlung des Brechungsindex vorzugsweise im Hinblick auf eine gewünschte Eindringtiefe des evaneszenten Feldes die evaneszente Beleuchtung vorzugsweise automatisch eingestellt wird.
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