JP2002542480A - 試料検査装置 - Google Patents

試料検査装置

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JP2002542480A
JP2002542480A JP2000612731A JP2000612731A JP2002542480A JP 2002542480 A JP2002542480 A JP 2002542480A JP 2000612731 A JP2000612731 A JP 2000612731A JP 2000612731 A JP2000612731 A JP 2000612731A JP 2002542480 A JP2002542480 A JP 2002542480A
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ヴィンテルロット ヨハネス
シュミッツ ディートマー
シャウ ディーター
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カール ツァイス イエナ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
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Abstract

(57)【要約】 【課題】試料容器内の、または試料担体上に配置された一つまたは複数の試料を透過光または投射光のもとで検査できる試料検査装置 【解決手段】試料全体のうちの少なくとも一部について、試料容器または試料担体を通る光により、評価ユニット後方に配置されたＣＣＤカメラ上に結像させ、および／または捕獲し、好ましいことに、投射光照射の場合でも試料容器または試料担体に対して同時に透過照射も行うことができて、照射が試料における放射励起、特に蛍光励起に用いられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、オートフォーカスシステムのほかに一つまたは複数の試料収容空間
あるいは一つの試料担体を持つインバース式自動化一光学筒型顕微鏡に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】
試料画像の評価は画像分析ソフトウェアによって行われる。 試料としては、例えばマイクロ滴定プレート（ＭＴＰ）上に設置されたセル（
溶液状）とか、あるいはまたバイオチップのような試料担体に設置されたものと
か、ガラス製、石英製または合成樹脂製の平行平面プレートに設置されたものな
どがある。
【０００３】 ＭＴＰや試料担体は自動化されているのが好ましいが、しかし手動式のものも
提供されている。オートフォーカスシステムでは、例えば溶液／ＭＴＰ面の界面
層に集光させる。 フォーカシングおよび励起フィルター選択の後、例えば蛍光捕獲の場合では試
料中の色素をキセノンアーク灯またはハロゲンアーク灯で励起させる。
【０００４】 試料の蛍光は、その都度選択される発光フィルターを通過し、それによって試
料はＣＣＤ（電荷結合素子）カメラのチップ上に結像する。 画像撮影後は必要に応じて励起フィルター、発光フィルターを取り替え、新た
な画像を撮影する。続いて画像を評価し、その後ｘｙ走査テーブルを次の画像フ
ィールド／次のＭＴＰ試料空間にセットすれば、オートフォーカスが再起動して
新たに操作が始まる。
【０００５】
【発明の実施の態様】
以下では本発明を図式に基づきより詳しく説明する。 図１： 照射用の標準切替ポイントＷＳには、例えば、図には示されてない送光ケーブ
ルを接続するか、あるいはランプ（白色光光源：キセノンランプまたは水銀灯）
を設置することができる。
【０００６】 集められた光は視準用集光レンズＫＬに達し、そこからシャッターＳ、複合レ
ンズ照射光学系ＢＯ１〜３、ＢＯ１とＢＯ２間の開口絞りＡＰおよびＢＯ２とＢ
Ｏ３間の照射フィールド絞りＬＦを通って、対物レンズＯ方向への励起光路と受
光器ＣＣＤ方向への評価光路との分離のための、主として取り替え式になってい
る光線分離器の付属する反射器リボルバーに到達する。
【０００７】 蛍光捕獲の場合では、複合光学系ＢＯ１の前に励起フィルターＡＦが配置され
る。評価光路には反射した、または弾性制御された励起光をブロックするために
発光フィルターＥＦが設置される。
【０００８】 ＡＦ、ＥＦにとって有利な波長域は次の通りである： ＡＦ 色素励起 ３５０〜７００ｎｍ ＥＦ 色素発光 ４２０〜８００ｎｍ フィルターＡＦ、ＥＦは取替え可能であるし、また別な適用目的に旋回させる
こともできる。 評価光は鏡胴レンズＴＬおよびミラーＳＰＣＣＤを通ってＣＣＤカメラに到達
する。
【０００９】 反射器リボルバーＲＲと対物レンズＯ間に設置された色分離器ＦＦを通じて連
結している有用なオートフォーカス光路について、図２、３および６を基に説明
する。 焦点の修正には、対物レンズ、連結色分離器ＦＴおよびオートフォーカス光路
を含む破線で示されたユニットＥを対象物平面に対して垂直に移動させる。 レーザ光源ＬＡ２、ＬＡ３の一つを（他の一つはオフにしておく）プリズムＰ
を介して平行に連結し、光学系ＦＯを通してフォーカシングする。
【００１０】 対物レンズＯが取替えできて、その射出ひとみが異なるために、プリズムＰに
対して異なったレーザポジションから異なった仕方で光源像の軸移動調整を行わ
ねばならない場合には、二つのレーザ光源が有利に働くことがある。 レーザ光は転向ミラーＵＬＳ１、ＵＬＳ２、部分透過ミラーＳＴ２、散光レン
ズＺＳ、転向ミラーＵＳＳＰを通って、図２に描かれている集光レンズＳＬに達
し、さらにはマイクロ滴定プレート方向への進行光路内ＲＲの背後に、対物レン
ズＯ方向への進行光路内、対物レンズ装置表面ＯＡの手前に配置されている色分
離器ＦＴに到達する。
【００１１】 この色分離器は、好ましくも、ハロゲンアーク灯の短波長励起光から赤色素の
長波長放射スペクトルに到るまでの幅広いスペクトル域（３５０〜７８０ｎｍ）
に亘って高い透過率を示し、一方８００ｎｍ以上の波長、即ちオートフォーカス
レーザ光については高率で反射する。
【００１２】 オートフォーカス光路は直接顕微鏡対物レンズの前で連結させるのが特に好ま
しい。そうすれば、極小さな垂直光学界面となり、光の損失も極僅かで済むため
精度の上昇につながるし、また色分離器ＦＴが、オートフォーカスに用いられる
ＩＲ波長を除く広いスペクトル域に亘って蛍光を妨げなく通過させるため、その
結果ＩＲフォーカシングレーザの反射光だけがオートフォーカス光路を逆戻りす
るということになるからである。
【００１３】 オートフォーカスは、照射装置との連結の際、照射点より後ろに配置すること
により、例えば照射連結素子などの調整状態に依存しない独立したものとなる。
画像コントラストの評価に基づく従来のオートフォーカシング法は、試料中で励
起される蛍光の強度が弱くて適していない。そもそも評価可能な制御信号を得る
ためには、この方法では各画像につき数秒間の光集積が必要となるからである。 本発明に基づく方法では一秒以内のフォーカシングが実現でき、それが測定時
間全体にとって有利に働くことになる。 マイクロ滴定プレートＭＴＰで反射した光は、受光光線分離器ＥＦＳＴおよび
受光器ＥＦを通して検出される。
【００１４】 図４には光源の連結調整装置が描かれている。 この場合光路は、反射鏡リボルバーのところでミラーＳＰＣＣＤの方向へ連結
光学軸から９０°転回している。 図１に描かれた照射光路内連結レンズＫＬの後方にミラーＳＰ３を挿入すれば
、ミラーＳＴ３および光線分離器ＳＴ４の転位により、調整ポジションにある光
源からの光は曇りガラス板ＭＧＳ方向へ転向される。それにより、光学軸に対す
る光源像の位置調整は操作者によって行うことができる。光伝送ファイバーによ
る連結の場合でもこの配置が位置の制御に利用できる。 光線分離器ＳＴ４の挿入された標準配置においては光出力の捕獲、制御のため
に僅かな光強度成分（約４％）がモニターダイオードＭＴＤに送られる。光線分
離器の手前には防熱フィルターＷＳＦが設置されている。
【００１５】 図５：オートフォーカスシステム オートフォーカスシステムは、例えばＭＴＰ面への精確なフォーカシングを行
う上で有用である。ＭＴＰの面は確かに元々は平行であるが、しかし一般には強
く湾曲化しているので（その程度は２００〜３００μｍ）、固定型フォーカスで
は機能を果たさないということがあるからである。
【００１６】 オートフォーカスで最優先されるのは速度である： 新たなプレートに試料を設置して第一回目の調整／フォーカシングを行った後
、次のフォーカシングに要する時間は（例えば、別な位置での試料評価のために
プレート位置調整された時点から計測して）明らかに１秒以下でなければならな
い。
【００１７】 図５にはオートフォーカスへ投射されるレーザ光が描かれていて、レーザ光は
プレート下面およびプレート上面で反射して反射光Ｒ２、Ｒ１を発生させ、それ
らが受光器ＥＦに到り記録される。 反射光は横にずれるので、プレートの厚さによって両信号がＣＣＤライン上に
到達する場合と、そうでない場合がある。後者はプレートの厚さが大きい時で、
ＣＣＤライン上には一方の反射光しか捕獲されないほど両反射光が互いに大きく
離れている場合である。
【００１８】 対物レンズを対象物から離れたポジションから対象物に近づけると、まず最初
に下方の反射光が現れる。 プレートが所定の厚さであれば、受光器ＥＦに捕らえられる反射光が一方だけ
なのか、あるいは両方なのかということについても配置に基づいて確定すること
ができる。
【００１９】 両反射光が現れた場合では制御アルゴリズムにより、強いほうの反射光、即ち
高いほうのピークは無視して、弱いほうのピークの最高値だけをフォーカス制御
の対象とする。反射光が二つ見られる場合、その幾何学的配置からどちらがプレ
ート下面から発しているものなのかを容易に決定することができる。
【００２０】 従って、対象物がフォーカス位置にある場合、対象物からオートフォーカスシ
ステムの検出器（ＣＣＤライン）に結像する反射光は一つなのか、それとも二つ
同時なのかは、一つには光学読み出しシステムの特性（対物レンズのパラメータ
ー）によって、また一つには対象物の特性（マイクロ滴定プレートの底部厚み）
によって決定される。
【００２１】
【実施例Ａ】
プレートの厚さから、（プレート上面および下面で生じた）二つの反射光が同
時にＣＣＤラインに到達すると想定される場合 調整手順： １．ＣＣＤラインに結像した曲線を最高値、最小値および逆数を基に分析する
。その場合副画素の分解が精度の向上に繋がる。 ２．上記の結果から、反射光の存在は一つなのか二つなのかを確認する。 ３．反射光が二つある場合、対象となる反射光について、その到達点からＣＣ
Ｄライン上の定義付け焦点までのフォーカシングに要する調整値を計算する。 ４．両反射光の一つだけがライン上に結像している場合、第二の反射光がＣＣ
Ｄライン上に現れるまでは、現にライン上にある反射光の捕獲域限界までの位置
関係が、焦点方向への初回調整移動にとっては重要になる。
【００２２】
【実施例Ｂ】
ＣＣＤライン上に一つの反射光しか存在しない場合 調整手順： １．ＣＣＤラインに結像した曲線を最高値、最小値および逆数を基に分析する
。その場合副画素の分解が精度の向上に繋がる。 ２．反射光が規則性ループを形成している場合、反射光の到達点からＣＣＤラ
イン上の定義付け焦点までのフォーカシングに要する調整値を計算する。 ３．規則性ループの出発時点ではＣＣＤライン上に反射が現れない場合、ある
いはマイクロ滴定プレート内側の反射が規則性ループの捕獲領域内にあることが
確実でない場合、まずは定義付けされたＺポジションからマイクロ滴定プレート
方向への反射光の探索操作を行わねばならない。
【００２３】 オートフォーカスが特に有利なのは、フォーカシングがＭＴＰ底部（あるいは
試料担体）に対してではなく、試料溶液（試料）内へなされるように、電子調整
によってさらに数μｍの単位で修正することも可能な点である。 これは、対物レンズを制御する代りにオートフォーカスで電子的に求めた自動
修正値に基づいて、あるいはフォーカシング後の対物レンズに対する位置の自動
微量調整それ自体により行われる。
【００２４】 図６は装置の全体図であり、当装置にはＸ／Ｙテーブル上に設置されたマイク
ロ滴定プレートＭＴＰ、試料導入用ピペット器具および図１〜５にも描かれてい
る、本図では図式化された光学機器が装備されている。
【図面の簡単な説明】
【図１】測定光路
【図２】図１のＡ方向から見たオートフォーカス光路
【図３】図２のＢ方向から見たオートフォーカス光路
【図４】照射光路における光源調整装置
【図５】オートフォーカスにおける光線経路
【図６】装置全体の概略図
【符号の説明】
ＷＳ 標準切替ポイント ＫＬ 視準用集光レンズ ＢＯ 複合レンズ照射光学系 ＡＰ 開口絞り Ｓ シャッター ＬＦ 照射フィールド絞り ＡＦ 励起フィルター ＥＦ 発光フィルター ＲＲ 反射器リボルバー マイクロ滴定プレート（ＭＴＰ） ＦＴ 色分離器 Ｏ 対物レンズ ＳＰＣＣＤ ＣＣＤ反射鏡 ＣＣＤ 受光器 ＬＡ レーザ光源 Ｐ プリズム ＦＯ 光学系 ＵＬＳ 転向ミラー ＳＴ２ 部分透過ミラー ＺＳ 散光レンズ ＥＦＳＴ 受光光線分離器 ＥＦ 発光フィルター ＵＳＳＰ 転向ミラー ＭＴＤ モニターダイオード ＭＧＳ 曇りガラス板 ＷＳＦ 防熱フィルター ＭＴＰ マイクロ滴定プレート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０３Ｂ 13/36 Ｇ０３Ｂ 3/00 Ａ (72)発明者 ディーター シャウ ドイツ国 Ｄ−07778 ネルケヴィッツ ドルフストラッセ 51 Ｆターム(参考） 2G043 BA16 CA03 DA06 EA01 EA13 EA14 FA02 GA06 GA07 GB19 HA01 HA02 HA08 HA09 HA11 JA02 KA01 KA02 KA09 LA01 LA03 NA05 2H011 AA06 BB01 2H051 AA11 BB31 CA01 2H052 AA09 AC34 AD09 AF06 AF14

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】試料全体のうちの少なくとも一部について、試料容器または試料
    担体を通る光により、評価ユニット後方に配置されたＣＣＤカメラ上に結像させ
    、および／または捕獲し、それによって試料容器内の、または試料担体上に配置
    された一つまたは複数の試料を透過光または投射光のもとで検査する装置
  2. 【請求項２】投射光照射の場合でも試料容器または試料担体に対して同時に透
    過照射も行う、上記特許請求項に基づく装置
  3. 【請求項３】照射が試料における放射励起、特に蛍光励起に用いられる、上記
    特許請求項の一つに基づく装置
  4. 【請求項４】試料容器を通過して、評価ユニットの後方に配置された、充填装
    置とは反対側にあるＣＣＤカメラ上への結像および／または捕獲を行う、上記特
    許請求項の一つに基づく装置
  5. 【請求項５】マイクロ滴定プレート上に複数の試料容器が存在する、上記特許
    請求項の一つに基づく装置
  6. 【請求項６】精確な画像集束のために、結像方向に向かって結像対物レンズの
    直後にオートフォーカスシステムが備えられている、上記特許請求項の一つに基
    づく装置
  7. 【請求項７】少なくとも一つの光線分離器により励起光線と結像光線の分離を
    行う、上記特許請求項の一つに基づく装置
  8. 【請求項８】結像対物レンズと光線分離器との間にオートフォーカスシステム
    が挿入されている、特許請求項７に基づく装置
  9. 【請求項９】オートフォーカスの調整が色分離器を通じて行われる、上記特許
    請求項の一つに基づく装置
  10. 【請求項１０】色分離器が、ハロゲンアーク灯の短波長励起光から赤色素の長
    波長放射スペクトルに到るまでの幅広いスペクトル域（３５０〜７８０ｎｍ）に
    亘って高い透過率を示し、一方８００ｎｍ以上の波長、即ちオートフォーカスレ
    ーザ光については高率で反射する、特許請求項９に基づく装置
  11. 【請求項１１】オートフォーカスシステムが照射方向において光源／照射用連
    結部の後方に配置されている、上記特許請求項の一つに基づく装置
  12. 【請求項１２】試料容器の底部またはその近くに配置されたセルへのフォーカ
    シング機能を有する、上記特許請求項の一つに基づく装置
  13. 【請求項１３】励起光路中に様々な試料容器を設置するためのｘ／ｙテーブル
    を有する、上記特許請求項の一つに基づく装置
  14. 【請求項１４】各試料毎に別々にフォーカシングが行われる、上記特許請求項
    の一つに基づく装置
  15. 【請求項１５】ミラーの挿入により、調整ポジションにある光源からの光が曇
    りガラス板ＭＧＳ方向へ転向され、それにより、光学軸に対する光源像の位置調
    整が操作者によって行うことのできる、上記特許請求項の一つに基づく試料照射
    用光源の連結調整のための装置
  16. 【請求項１６】光線分離器ＳＴ４の挿入された標準配置において光出力の捕獲
    、制御のために僅かな光強度成分（約４％）がモニターダイオードＭＴＤに送ら
    れる、特許請求項１５に基づく装置
  17. 【請求項１７】試料容器が少なくとも一つのフォーカシング光線により下方か
    ら照射され、試料容器で反射した光線成分がＣＣＤ受光器によって評価される、
    特に上記特許請求項の一つに基づくオートフォーカシング法
  18. 【請求項１８】試料容器のさまざまな境界層から出てくる光線線分を特定し、
    境界層へのフォーカシングを行う、特許請求項１７に基づく方法
  19. 【請求項１９】容器底部に照準してフォーカシングする、上記特許請求項の一
    つに基づく方法
  20. 【請求項２０】試料容器がマイクロ滴定プレートである、上記特許請求項の一
    つに基づく方法
  21. 【請求項２１】フォーカシングの際、オートフォーカスのための修正値を計算
    するか、および／または試料／試料容器内へのフォーカシングのための位置調整
    装置を調整する、上記特許請求項の一つに基づく方法
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005124321A1 (ja) * 2004-06-21 2005-12-29 Olympus Corporation 測定装置
WO2007139201A1 (ja) 2006-05-31 2007-12-06 Olympus Corporation 生体試料撮像方法および生体試料撮像装置
US8174686B2 (en) 2005-09-29 2012-05-08 Olympus Corporation Focal position determining method, focal position determining apparatus, feeble light detecting apparatus and feeble light detecting method
JP2012159854A (ja) * 2012-04-04 2012-08-23 Olympus Corp 倒立顕微鏡システム
JP2022505263A (ja) * 2018-10-19 2022-01-14 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 光学媒体の屈折率を特定するための方法および顕微鏡

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6358387B1 (en) * 2000-03-27 2002-03-19 Caliper Technologies Corporation Ultra high throughput microfluidic analytical systems and methods
DE10050823A1 (de) * 2000-10-06 2002-04-18 Zeiss Carl Jena Gmbh Mikroskop, insbesondere inverses Mikroskop
DE10127611C2 (de) * 2001-06-07 2003-08-07 Jena Optronik Gmbh Anordnung zum Anregen und Auslesen der Fluoreszenzstrahlung eines Probenträgers mit einer Vielzahl von Einzelproben
DE10157511A1 (de) * 2001-11-23 2003-06-12 Evotec Ag Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur der Größe und/oder Form eines Messvolumens in einer chemischen und/oder biologischen Probe
DE10160987B4 (de) * 2001-12-05 2005-08-04 Siemens Ag Baueinheit zur simultanen, optischen Beleuchtung einer Vielzahl von Proben
DE10212554A1 (de) * 2002-03-16 2003-10-30 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung und Verfahren für ein bildgebendes Spektrometer
DE10221564A1 (de) * 2002-05-15 2003-11-27 Evotec Ag Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung chemischer und/oder biologischer Proben
DE10236433A1 (de) * 2002-08-06 2004-02-19 Förderverein Institut für Medizintechnik Dresden e.V. Vorrichtung zur optischen Detektion diskret auf einem planaren Substrat oder in Kavitäten eines Substrates angeordneten flüssigen Proben in Tropfenform
US7310147B2 (en) * 2005-01-27 2007-12-18 Genetix Limited Robotic apparatus for picking of cells and other applications with integrated spectroscopic capability
DE102005059338A1 (de) * 2005-12-08 2007-06-14 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Untersuchung von Proben
US7646482B2 (en) * 2007-05-31 2010-01-12 Genetix Limited Methods and apparatus for optical analysis of samples in biological sample containers
US7535556B2 (en) * 2007-05-31 2009-05-19 Genetix Limited Methods and apparatus for optical analysis of samples in biological sample containers
JP5072688B2 (ja) * 2008-04-02 2012-11-14 キヤノン株式会社 走査型撮像装置
WO2013023017A1 (en) * 2011-08-10 2013-02-14 Molecular Devices, Llc Method for presenting and evaluation of images of microtiter plate properties
JP2017187436A (ja) * 2016-04-08 2017-10-12 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス 底面位置検出装置、画像取得装置、底面位置検出方法および画像取得方法
CN110268108B (zh) 2016-12-12 2022-09-06 埃克切拉生物科学公司 用于使用微毛细管阵列进行筛选的方法和系统
US11085039B2 (en) 2016-12-12 2021-08-10 xCella Biosciences, Inc. Methods and systems for screening using microcapillary arrays
JP7208902B2 (ja) 2016-12-30 2023-01-19 エクセラ・バイオサイエンシーズ・インコーポレイテッド マルチステージサンプル回収システム
CN109765213B (zh) * 2019-03-27 2024-03-29 苏州威邦震电光电技术有限公司 相干反斯托克斯拉曼散射显微镜成像装置
DE102022102711A1 (de) 2022-02-04 2023-08-10 Lpkf Laser & Electronics Aktiengesellschaft Vorrichtung und ein zur Durchführung bestimmtes Verfahren zur Untersuchung und/oder Behandlung einer insbesondere biologischen oder medizinischen Probe

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3836716A1 (de) * 1988-10-28 1990-05-03 Zeiss Carl Fa Verfahren zur auswertung von zellbildern
GB8927754D0 (en) * 1989-12-08 1990-02-14 Image Research Ltd Improvements in and relating to light transfer systems and improved cell investigation techniques arising therefrom
CA2138272A1 (en) * 1992-07-13 1994-01-20 Steven P. Floeder A technique to count objects in a scanned image
US5674698A (en) 1992-09-14 1997-10-07 Sri International Up-converting reporters for biological and other assays using laser excitation techniques
US5578832A (en) * 1994-09-02 1996-11-26 Affymetrix, Inc. Method and apparatus for imaging a sample on a device
US5863504A (en) 1995-03-16 1999-01-26 Bio-Rad Laboratories, Inc. Fluorescence imaging instrument utilizing fish
US5545531A (en) * 1995-06-07 1996-08-13 Affymax Technologies N.V. Methods for making a device for concurrently processing multiple biological chip assays
CA2179364C (en) * 1995-06-27 1999-09-28 Klaus W. Berndt Method and apparatus for detecting microorganisms
CA2185511C (en) * 1995-09-15 2008-08-05 Vladimir Dadeshidze Cytological specimen analysis system with individualized patient data
WO1997035181A1 (en) * 1996-03-19 1997-09-25 University Of Utah Research Foundation System for determining analyte concentration
DE19616151A1 (de) * 1996-04-23 1997-10-30 Boehringer Mannheim Gmbh Videosystem zur Auswertung analytischer Testelemente
WO1997043611A1 (en) * 1996-05-16 1997-11-20 Affymetrix, Inc. Systems and methods for detection of labeled materials
DE19709348C2 (de) * 1996-05-29 1999-07-01 Schubert Walter Dr Md Automatisches Multi-Epitop-Ligand-Kartierungsverfahren
US5874266A (en) * 1997-03-27 1999-02-23 Palsson; Bernhard O. Targeted system for removing tumor cells from cell populations
AU736321B2 (en) * 1997-05-23 2001-07-26 Lynx Therapeutics, Inc. System and apparatus for sequential processing of analytes
DE19736641A1 (de) * 1997-08-22 1999-03-11 Michael G Dr Weller Verfahren und Vorrichtung zur parallelen Messung von mehreren Analyten in komplexen Mischungen
US6388788B1 (en) * 1998-03-16 2002-05-14 Praelux, Inc. Method and apparatus for screening chemical compounds

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005124321A1 (ja) * 2004-06-21 2005-12-29 Olympus Corporation 測定装置
US7369220B2 (en) 2004-06-21 2008-05-06 Olympus Corporation Measuring apparatus
JP4914715B2 (ja) * 2004-06-21 2012-04-11 オリンパス株式会社 倒立顕微鏡システム
US8174686B2 (en) 2005-09-29 2012-05-08 Olympus Corporation Focal position determining method, focal position determining apparatus, feeble light detecting apparatus and feeble light detecting method
WO2007139201A1 (ja) 2006-05-31 2007-12-06 Olympus Corporation 生体試料撮像方法および生体試料撮像装置
US8179597B2 (en) 2006-05-31 2012-05-15 Olympus Corporation Biological specimen imaging method and biological specimen imaging apparatus
JP2012159854A (ja) * 2012-04-04 2012-08-23 Olympus Corp 倒立顕微鏡システム
JP2022505263A (ja) * 2018-10-19 2022-01-14 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 光学媒体の屈折率を特定するための方法および顕微鏡
JP7311591B2 (ja) 2018-10-19 2023-07-19 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 光学媒体の屈折率を特定するための方法および顕微鏡

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