DE2852791C2 - - Google Patents
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- DE2852791C2 DE2852791C2 DE19782852791 DE2852791A DE2852791C2 DE 2852791 C2 DE2852791 C2 DE 2852791C2 DE 19782852791 DE19782852791 DE 19782852791 DE 2852791 A DE2852791 A DE 2852791A DE 2852791 C2 DE2852791 C2 DE 2852791C2
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Description
Die Erfindung geht aus von einem Verfahren zum Messen von
Übertragungseigenschaften eines Meßobjektes gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Ein derartiges
Verfahren ist in der als Stand der Technik geltenden älteren
deutschen Patentschrift DE 28 49 119 C2 beschrieben.
Es erlaubt, Übertragungseigenschaften eines Meßobjektes,
wie die Dämpfungs- und Gruppenlaufzeitverzerrung,
mit hoher Genauigkeit zu messen.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen
Weg aufzuzeigen, auf welchem das Verfahren der eingangs
genannten Art so abgewandelt werden kann, daß ohne großen zusätzlichen
Aufwand in einfacher Weise die Bestimmung weiterer
Verzerrungen durchführbar ist.
Eine zu bestimmende Verzerrung ist der Klirrfaktor, der folgender
maßen definiert ist:
Nach einer anderen Definition ist es möglich, den Klirrfaktor
auf eine einzelne Oberwelle zu beziehen und zum Beispiel den
Klirrfaktor dritter Ordnung folgendermaßen zu berechnen:
Aus den genannten Größen läßt sich auch die Klirrdämpfung ak
berechnen, welche definiert ist durch
Eine weitere zu bestimmende Verzerrung ist die Quantisierungsverzerrung
bei PCM-Systemen.
Die oben aufgeführte Aufgabe wird bei einem Verfahren nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 mit den im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 angegebenen Merkmalen gelöst.
Es ist zwar bereits ein Gerät zur Klirrfaktorermittlung bekannt
("Nachrichtentechnik", 2. Jg., 1952 H. 12, S. 460-462),
jedoch besteht dieses Gerät im wesentlichen aus einer Widerstandsverstärkerschaltung
mit zwei Trioden. An Belastungswiderstände
dieser Schaltung ist über einen Schalter ein Röhrenvoltmeter
angeschlossen, an dem in einer ersten Schalterstellung
die Kompensation der Grundwelle durch Betätigung eines Phasenreglers
und zweier Potentiometer angezeigt wird. In einer
zweiten Schalterstellung wird mittels eines zusätzlichen
Potentiometers eine abgegriffene Teilspanung der Belastungswiderstände
so lange verkleinert, bis sich dieselbe Anzeige
am Röhrenvoltmeter wie in der ersten Schalterstellung ergibt.
Die Stellung des Abgriffs des zusätzlichen Potentiometers ist
ein Maß für den Klirrfaktor, bei dessen Ermittlung allerdings
die Quadrate der Amplituden der Oberwellen nur im Verhältnis
zur Grundwelle betrachtet werden. Außerdem wird hierbei ein
Rauschen mit erfaßt. Darüber hinaus ist die Ermittlung des
Klirrfaktors relativ zeitaufwendig.
Bei einer anderen bekannten Meßanordnung zur Ermittlung des
Klirrfaktors (AT-PS 2 95 647) ist ein ein weißes Rauschen erzeugender
Rauschgenerator mit einem Summationsverstärker mit
mehreren Eingängen verbunden. Zwischengeschaltet sind zwei
Frequenzumsetzer, in denen eine Mischung mit zwei Hilfsfrequenzen
erfolgt. Am Ausgang des Summationsverstärkers entsteht dann ein
Signal, dessen Momentanwert jeweils gleich der Summe der
Momentanwerte der Ausgangsimpulse der Frequenzumsetzer ist. Mit
diesem Signal wird das Meßobjekt beaufschlagt, das aufgrund
seiner Nichtlinearitäten Differenzfrequenzen erzeugt. Diese
werden hochselektiv gemessen und aus den Meßergebnissen der
Klirrfaktor errechnet. Dies ist verhältnismäßig aufwendig.
Entsprechendes gilt für ein weiteres bekanntes Verfahren zur
Klirrfaktormessung (DE-AS 15 16 992), bei dem die auf ein zugeführtes
Signal hin an einem Meßobjekt auftretenden Harmonischen
einzeln nach Umsetzen mittels einer entsprechenden einstellbaren
Überlagerungsfrequenz auf eine feste Zwischenfrequenz gemessen
werden. Dabei werden die Überlagerungsfrequenzen zum Messen
der Harmonischen durch Mischen zweier Oszillatorfrequenzen erzeugt,
von denen die erste der Zwischenfrequenz und die zweite
der Überlagerungsfrequenz zum Messen der Grundwelle entspricht.
Aus den Meßergebnissen für die einzelnen Harmonischen wird auch
hier der Klirrfaktor errechnet.
Ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens
besteht darin, daß das eingangs angegebene, bekannte Verfahren
nur geringfügig abgewandelt werden muß, um den Klirrfaktor bzw.
die Quantisierungsverzerrung zu bestimmen; dazu gehört
sendeseitig die Erzeugung eines Testimpulses mit im speziellen
einer einzigen Frequenzkomponente und empfangsseitig die Berechnung
des Klirrfaktors aus den einzelnen die Klirranteile
darstellenden Amplitudenwerten bzw. die Berechnung der
Quantisierungsverzerrung aus den die Codierungsverzerrung darstellenden
Amplitudenwerten. Ein weiterer Vorteil besteht
darin, daß das erfindungsgemäße Verfahren sich besonders
schnell durchführen läßt, weil die einzelnen Amplitudenwerte
praktisch im Parallelbetrieb untersucht werden und somit alle
gleichzeitig (ggf. nach ausreichend vielen Meßvorgängen) hinreichend
genau zur Verfügung stehen.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren ergibt sich durch unmittelbar
aufeinanderfolgende Aussendung von q gleichen Testimpulsen
praktisch eine durchlaufende Cosinusschwingung (bzw. bei entsprechender
Anfangsphase auch Sinusschwingung) der Dauer
q · T, wobei T die Dauer eines Testimpulses ist. Auf der
Empfangsseite kann der die Fourier-Analyse durchführende
FFT-Prozessor (FFT=Fast Fourier Transform) jedoch weiterhin
mit der Periode T arbeiten. Die am Ausgang des FTT-Prozessors
erhaltenen einzelnen Amplitudenwerte A*1 bis A*n aus den n
Teilbändern des FFT-Prozessors sind bei entsprechend hohem
Wert von n ausreichend, um daraus den Klirrfaktor z. B. für die
Grundfrequenz f1 (d. h. n=1) nach der Formel
zu berechnen. Dabei ist angenommen, daß der Testimpuls allein
aus der Frequenz f1 (Grundfrequenz) besteht.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung wird eine selektive
Mittelwertbildung der aus q aufeinanderfolgend ausgesandten
Testimpulsen gewonnenen, dem jeweiligen Teilfrequenzband des
FFT-Prozessors zugeordneten q Amplitudenwerte und/oder eine
Verkleinerung der Breite der empfangsseitigen Teilfrequenzbänder
vorgenommen, wodurch bei empfangsseitig aufgenommenen,
gestörten Signalen der Störabstand wesentlich verbesserbar ist.
Die Erfindung und ihre Weiterbildungen werden nachfolgend
anhand von Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 einen Schaltungsaufbau für die Erzeugung des
Testimpulses (Sendeseite)
Fig. 2 einen Schaltungsaufbau für die Auswertung des
Testimpulses am Ausgang des Meßobjektes (Empfangsseite)
Fig. 3 den Aufbau eines zur Messung benutzten Testimpulses nach
der Erfindung
Fig. 4 das Zeigerdiagramm eines Testimpulses nach der Übertragung
und empfangsseitigen Aufbereitung durch die
FFT-Transformation
Fig. 5 Verteilung der Spektrallinien bei einer Klirrmessung
Fig. 6 einen Schaltungsaufbau für die Messung der Codierungsverzerrung
nach der Erfindung.
In Fig. 1 sind Einzelheiten einer Schaltungsanordnung dargestellt,
mit der der aus der Überlagerung einer Reihe harmonischer
Schwingungen hergeleitete Testimpuls hergestellt wird. Das angegebene
Beispiel bezieht sich auf Messungen an einem Daten-
oder Fernsprechkanal (Bandbreite 300 Hz bis 3,4 kHz). Dabei
ist ein Quarzgenerator QG vorgesehen, dem ein erster Frequenzteiler
FD0 nachgeschaltet ist, dessen Teilungsverhältnis m : 1
beträgt. Am Ausgang dieses Frequenzteilers liegt beispielsweise
eine rechteckförmige Spannungsfolge mit der Frequenz
12,8 kHz vor. Diese Folge wird
sieben Frequenzteilern FD1 bis FD7 zugeführt, die hintereinander
geschaltet sind und jeweils ein Teilverhältnis
von 2 : 1 aufweisen.
Mit dem 7stufigen Binärteiler (FD1 . . . FD7) können 2⁷=
128 verschiedene Kombinationen aufeinanderfolgend auf
den 7 Ausgangsleitungen erzeugt werden, welche als
Adreßleitungen einem programmierbaren Speicherwerk
(z. B. PROM) zugeführt werden, das mit PR bezeichnet ist.
Mit jeder der 2⁷=128 Adressen wird ein Speicherwort
im Speicher PR angesprochen und auf den Ausgang durchgeschaltet.
Jedes Speicherwort hat z. B. eine Länge von
12 Bit und beinhaltet den digitalisierten Amplituden-
Momentanwert der unverzerrten Zeitfunktion (n=ganzzahlig)
Durch Aneinanderreihen dieser aufeinanderfolgenden Momentanwerte
wird der Testpuls als Treppenkurve erzeugt,
wobei diese Testpulse zweckmäßig fortlaufend (d. h. ohne
zeitliche Lücke aneinandergereiht) ausgesandt werden.
Eine Periode des Testpulses ist gegeben durch , wobei
f₁ die Frequenz der niedrigsten Harmonischen bedeutet
(im vorliegenden Beispiel ist f₁=100 Hz gewählt).
Mit dem angenommenen Zahlenbeispiel von insgesamt 32
einzelnen Harmonischen von je 100 Hz Frequenzabstand
kann ein Frequenzband von 100 Hz bis 3200 Hz ausgemessen
werden. Für die Auslegung der Arbeitsweise der
Schaltung nach Fig. 1 ist zu beachten, daß nach dem
Abtasttheorem die höchste Frequenz (3200 Hz) mehr als
zweimal abgetastet werden muß, so daß die Abtastfrequenz
über 6400 Hz liegen muß. Im vorliegenden Beispiel ist
davon ausgegangen, daß die Abtastfrequenz mit 12,8 kHz
gewählt ist, so daß die Abtastbedingung für die höchste
Frequenz mit Sicherheit erfüllt ist.
Im einzelnen wird für die Programmierung des Speichers
PR folgendermaßen vorgegangen:
Zunächst wird mit den jeweiligen Amplitudenwerten A1
bis An und den Anfangsphasenwerten ϕ₁ bis ϕn ein
Testpuls der Periodendauer
festgelegt. Die Periodendauer
beträgt für das angegebene Beispiel somit
T=10 msec. Die Amplitudenwerte A1 bis An werden dabei
unterschiedlich groß gewählt, wie näher im Zusammenhang
mit Fig. 3 erläutert wird.
Von dem so zeichnerisch oder rechnerisch ermittelten,
aus den einzelnen Harmonischen mit den Amplituden A1
bis A32 und mit den Anfangsphasen ϕ₁ bis ϕ₃₂ zusammengesetzten
Testpuls werden nun während einer Periodendauer
T, also z. B. während 10 msec eine ausreichende
Zahl z. B. von k=128 aufeinanderfolgenden Abtastwerten
im zeitlichen Abstand von , im vorliegenden Beispiel
also
entnommen. Diese Werte der Zeitfunktion werden in digitaler
Form im Speicher PR aufeinanderfolgend unter der
jeweiligen Adresse d. h. z. B. unter Nr. 1 bis Nr. 128 abgelegt.
Dadurch ist sichergestellt, daß durch Fortschalten
der Adressen aufeinanderfolgend beim Auslesen
k=128 Abtastwerte in der richtigen Reihenfolge nacheinander
ausgelesen werden und daß nach Digital-Analogumwandlung
im Digital-Analogumsetzer DAC diese Abtastwerte
eine Treppenkurve bilden, welche praktisch dem
idealen für die Berechnung der Abtastwerte benutzten
Testimpuls entspricht. Die Glättung, d. h. die Überführung
der einzelnen Spannungsstufen in ein stetiges
Analogsignal erfolgt mit dem nachgeschalteten Tiefpaßfilter
LP.
Nach Ablauf einer vollen Periode, d. h. nach T=10 msec
beginnt ohne Zwischenraum das Programm von neuem, d. h.
es folgen wieder 128 Abtastwerte aufeinander, welche
die gleiche Treppenkurve ergeben (=nächsten Periode
der Zeitfunktion).
Es werden aufeinanderfolgend mindestens so viele Testimpulse
ausgesandt, wie das jeweilige Meßobjekt bis zum
vollständigen Einschwingen benötigt. Im eingeschwungenen
Zustand kann dann empfangsseitig mindestens eine Periode
T abgetastet werden und zwar nach dem gleichen Schema,
nach dem sendeseitig die Erzeugung der einzelnen Abtastproben
durchgeführt wurde. Im vorliegenden Beispiel
würden sich somit auf der Empfangsseite wieder 128 Abtastwerte
ergeben, die dann in analoger oder digitalisierter
Form der Fourieranalyse unterworfen werden können
und dadurch insgesamt die einzelnen Amplitudenwerte
A1* bis A32* sowie die Phasenwerte ϕ1* bis ϕ32* liefern.
Sollten im Tiefpaßfilter LP irgendwelche bekannte Verfälschungen
der Zeitfunktion (z. B. durch Dämpfungswelligkeit
im Durchlaßbereich oder durch eine Phasenverschiebung)
eintreten, können diese durch eine entsprechende
Vorkorrektur der Abtastwerte (Vorentzerrung) ausgeglichen
werden.
Diese Zeit-Spannungsfunktion, welche den Testpuls bildet,
gelangt über einen einstellbaren Verstärker AM1
zu einer Anpaßschaltung TR1, z. B. in Form eines Leitungsübertragers
und von dort aus zu einem eine Filtercharakteristik aufweisenden Meßobjekt TE, bevorzugt
eine Übertragungsstrecke, deren Dämpfung und/oder Gruppenlaufzeit
bzw. Dämpfungsverzerrung und/oder Gruppenlaufzeitverzerrung
gemessen werden soll.
In Fig. 2 ist die Schaltung zur Auswertung der durch
das Meßobjekt veränderten Testpulse dargestellt. Von
dem Meßobjekt TE gelangt der verzerrte Testpuls zunächst
zu einer Anpaßschaltung TR2, an deren Ausgang ein
Dämpfungsglied AT angeschlossen ist, dem ein einstellbarer
Verstärker AM2 nachfolgt. Von hier aus zweigt
eine Regelschleife ab, die über einen Gleichrichter GR
und eine Schwellenschaltung SW geführt ist und die
Dämpfung des Dämpfungsgliedes AT sowie die Verstärkung
des Verstärkers AM2 so beeinflußt, daß eine in
engen Grenzen tolerierte Maximalamplitude des empfangenen
Testpulses vorhanden ist. Nachgeschaltet ist ein
eine Abtast- und Halteschaltung aufweisender Analog-
Digital-Umsetzer ADC, welcher gesteuert mit einer Taktfrequenz
von 12,8 kHz die Momentanwerte des empfangenen
Testpulses digitalisiert. Diese 12,8 kHz entsprechen
mit hinreichender Genauigkeit dem am Ausgang des ersten
Frequenzumsetzers FD0 in Fig. 1 an der mit A bezeichneten
Klemme auftretenden Takt.
Die Taktfrequenz von 12,8 kHz wird einem Frequenzteiler
FD8 zugeführt, der für das gewählte Beispiel ein Teilungsverhältnis
von 128 : 1 hat. Dieser Frequenzteiler FD8
hat im wesentlichen den gleichen Aufbau wie der Teiler
FD1 bis FD7 in Fig. 1. Er kann sogar z. B. bei Schleifenmessung
mit diesem identisch sein und bildet auf seinen
7 Ausgangsleitungen die Adressen, unter denen die vom
Analog-Digital-Umsetzer aufeinanderfolgend gelieferten
und dem jeweiligen Momentanwert des empfangenen Testpulses
entsprechenden Binärwerte in dem Speicher ST0 abgespeichert
werden. Nach einem Durchlauf des Teiler FD8,
d. h. nach dem Abspeichern von z. B. 128 Momentanwerten
des empfangenen Testpulses, wird dieser Vorgang beendet.
Mti den 128 Werten wird somit genau eine Periode des
Testpulses in digitalisierter Form abgespeichert.
Dieser Speicher ST0 arbeitet mit einem Computer CO im
Dialogverkehr zusammen, wobei zunächst die abgespeicherten
128 Abtastwerte nach einem Fast-Fourier-Programm
(FFT-Programm) verrechnet werden. Das Programm hierfür
ist in einem Programmspeicher PST enthalten, der auch
die sendeseitig für die Erzeugung des Testpulses maßgebenden
einzelnen Amplitudenwerte A1, A2 . . . An und die
Phasenwerte ϕ₁, ϕ₂ . . . ϕn enthält.
Ein Beispiel für ein derartiges FFT-Programm zur Berechnung
der schnellen Fourier-Transform ist in dem
Buch "The Fast Fourier Transform" von G. Oran Brigham
auf den Seiten 163 bis 171 beschrieben.
Mit diesem FFT-Rechenvorgang wird der Übergang von dem
Zeitbereich in den Frequenzbereich ausgeführt. Als Ergebnis
wird für jede der z. B. n=32 Harmonischen der
Real- (Rn*) und der Imaginärteil (In*) erhalten. Hiervon
wird anschließend für jede Harmonische der Betrag
der Amplitude An* nach der Gleichung
errechnet sowie die Phase ϕn* nach der Gleichung
Die hierfür erforderlichen Programme sind ebenfalls in
dem Programmspeicher PST enthalten.
Die Amplitudenwerte A*1 bis A*n bei den verschiedenen
Frequenzwerten f1 bis fn werden für jede Harmonische
mit dem FFT-Prozessor berechnet und daraus der Klirrfaktor
oder die Klirrdämpfung ermittelt. Dieser Meßwert
wird dann auf einer geeigneten Anzeigeeinrichtung
(Display) oder Registriereinrichtung festgehalten, die
hier mit DSP bezeichnet ist. Das für diesen Verfahrensschritt
erforderliche Programm ist ebenfalls im Programmspeicher
PST enthalten.
In Fig. 3 ist ein Beispiel für den zeitlichen Aufbau
eines Testimpulses mit nur einer Schwingung der Meßfrequenz
fx dargestellt, wobei angenommen ist, daß für fx
die Grundschwingung f1 (d. h. n=1) auf der Sendeseite
(Fig. 1) allein zur Bildung des Testimpulses herangezogen
wird. Ein derartiger Testimpuls TJ1 hat somit
die Form einer Cosinusschwingung, wobei die Zeitdauer T
dieses Impulses gegenüber der für die übliche Dämpfungs-
oder Gruppenlaufzeitmessung verwendeten Zeitdauer zweckmäßig
nicht verändert ist. Je Testimpuls muß mindestens
eine volle Schwingung der jeweiligen Frequenz vorhanden
sein. Die Periodendauer T und die Testfrequenz fx werden zweckmäßig
so gewählt, daß sich mehrere Testimpulse
ohne Sprung aneinanderreihen lassen. Dies ist dann erfüllt, wenn
oder einem ganzzahligen Vielfachen
hiervon gewählt wird.
Es werden nacheinander eine Reihe von q derartigen Testimpulsen
TJ1 bis TJq unmittelbar aneinandergereiht ausgesandt.
Der Spitzenwert der Meßschwingung mit der
Frequenz fx ist mit Ax bezeichnet, wobei im gewählten
Beispiel Ax=A1 ist. Die Meßfrequenz fx ist so gewählt,
daß die durch das Meßobjekt entstehenden Klirranteile
im interessierenden Frequenzbereich bestimmt werden
können, wobei f1 noch in den Durchlaßbereich des Testobjektes
fallen sollte. Die Meßfrequenz fx liegt somit
zweckmäßig im unteren oder mittleren Teil des Übertra
gungsbandes.
Fig. 4 zeigt in einer Zeigerdiagrammdarstellung die
Beziehungen für die am Ausgang der Schaltung nach
Fig. 2 erhaltenen Werte ϕ*1 bis ϕ*n und A*1 bis A*n.
Im Gegensatz zu der bei der Beschreibung von Fig. 1
und 2 bisher entsprechend dem Hauptpatent angenommenen
Überlagerung von n Einzelschwingungen wird bei der
Erfindung zur Klirrmessung sendeseitig nur eine Frequenz
(oder ggf. zwei oder drei Frequenzen - auf jeden
Fall wesentlich weniger als n Frequenzen) für die Bildung
des Testimpulses benutzt. Nachfolgend ist als
Beispiel angenommen, daß allein mit der Grundfrequenz
f1 und der zugehörigen Amplitude A1 gearbeitet wird.
Die Zahl n ist so gewählt, daß das ganze interessierende
Frequenzband z. B. ein Sprachfrequenzband völlig abgedeckt
bzw. ausgemessen werden kann. Der sendeseitige
Amplitudenwert A1 ist mit der Anfangsphase ϕ1=0
angenommen. In der Fig. 3 sind nur wenige der empfangsseitigen
Amplituden- und Phasenwerte aufgezeichnet und
zwar der Zeiger A*1 (für die Frequenz f1=100 Hz),
der Zeiger A*2 (für die Frequenz 200 Hz) und der Zeiger
A*9 (für die Frequenz 900 Hz). Ein vollständiges
Zeigerdiagramm nach Fig. 3 würde somit das Gesamtergebnis
am Ausgang des Computers CO nach Fig. 2 wieder
geben.
Der Amplitudenwert A*1, welcher auf die Grundschwingung
mit der Amplitude A1 und der Frequenz f1 zurückgeht,
ist im Vergleich zu den auf Klirrverzerrungen
zurückgehenden Amplitudenwerten A*2 bis A*n relativ
groß.
Da durch Verzerrungen entstehende Amplitudenwerte normalerweise
gegenüber dem Amplitudenwert Ax (hier A*x=
A*1) der Meßfrequenz fx sehr klein sind, ist es zweckmäßig,
mehrere derartige Messungen durchzuführen, d. h.
eine ganze Reihe von Testimpulsen TJ bis TJq nach Fig. 3
hintereinander auszusenden, um die jeweiligen Werte
A*2 bis A*n, welche am Ausgang des Rechners CO nach
Fig. 2 zur Verfügung stehen, aus mehreren Messungen
durch Mittelung möglichst genau bestimmen zu können.
Fig. 5 zeigt in einer Frequenzdarstellung die einzelnen
empfangsseitigen Amplitudenwerte A*1 bis A*5 usw., wobei
zusätzlich die Durchlaßbereiche D1 bis D5 des FFT-
Prozessors in schematischer Form eingetragen sind.
Bei einer ausreichend großen Zahl von n läßt sich der
Klirrfaktor k hinreichend genau bestimmen z. B. nach
der Gleichung
Da der Meßbereich bis zur Frequenz fn (d. h. Amplitudenwert
A*n) reicht, und n so gewählt ist, das der interessierende
Frequenzbereich abgedeckt wird, sind alle ins
Gewicht fallenden Amplitudenwerte A*2 bis A*n mit in
die Messung einbezogen und dieses wird ausreichend genau.
Da am Ausgang des Fourier-Prozessors nach Fig. 2
ohnehin die Amplitudenwerte A*1 bis A*n vorhanden sind,
braucht der Rechner CO lediglich zusätzlich so ausgelegt
werden, daß er auch die Beziehung für k aus den
vorhandenen Amplitudenwerten A*1 bis A*n berechnen
kann. Auf der Anzeigeeinrichtung DSP nach Fig. 2 wird
dieses Ergebnis k dargestellt. Es ist auch ohne großen
Aufwand möglich, die einzelnen Amplitudenwerte A*1,
A*2, A*3 bis A*n zusätzlich oder statt dessen getrennt
in ihrer Größe darzustellen, so daß dann die Möglichkeit
besteht, die Klirranteile bei den verschiedenen
Oberwellen direkt abzulesen. So wäre beispielsweise bei
dem Ausführungsbeispiel entsprechend Fig. 5 zu erkennen,
daß die Oberwelle mit der Frequenz f3 einen besonders
großen Amplitudenwert A*3 aufweist, der eventuelle durch
geeignete Maßnahmen zu kompensieren oder zu erniedrigen
wäre.
Das erfindungsgemäße Verfahren läßt sich besonders
schnell durchführen, weil die einzelnen Amplitudenwerte
A*1 bis A*n praktisch im Parallelbetrieb untersucht werden
und somit alle gleichzeitig (ggf. nach ausreichend
vielen Meßvorgängen) hinreichend genau zur Verfügung
stehen.
Neben dem Klirrfaktor wird in vielen Fällen auch der
sogenannte Differenztonfaktor für die Beurteilung eines
Meßobjektes benötigt. Bei diesem Differenztonfaktor werden
zwei unterschiedliche Frequenzen fx und fy mit
gleicher Amplitude auf das Meßobjekt gegeben und am
Ausgang die effektiven Spannungen der Differenzschwingungen
gemessen (Zweitonverfahren). Für den Differenztonfaktor
zweiter Ordnung d2 eines Vierpols gilt:
Dabei ist U(fx-fy) der Effektivwert des Differenztones
mit der Frequenz (fx-fy) und Ua der Effektivwert des
gesamten Spannungsgemisches am Ausgang des Vierpols.
Die Größe
entspricht bei kleinen Verzerrungen
der Summe der Effektivwerte der beiden am Meßobjektausgang
gemessenen Sinusspannungen. In der Beziehung
der Amplitudenwerte A1 bis An gilt somit, wenn zwei
Harmonische f3 und f5 verwendet werden, die Beziehung
Der Testimpuls TJ ist somit in diesem Fall lediglich
aus zwei Schwingungen fx und fy zusammenzusetzen. Die
empfangsseitigen Messungen erfolgen analog zu dem bereits
für die Klirrmessung beschriebenen Verfahren.
Ein weiterer Anwendungsfall, bei dem der sendeseitige
Testimpuls mit nur einer (gegebenenfalls wenigen) der
möglichen n Harmonischen aufgebaut wird, während empfangsseitig
die volle Auswertung der n Teilfrequenzbereiche
beim FFT-Prozessor erfolgt, ist in Fig. 6 dargestellt.
Diese Anordnung dient dazu, die Quantisierungsverzerrungen
bei PCM-Übertragungseinrichtungen oder
sonstigen PCM-Geräten zu messen. Von dem Sender SE,
welcher den Aufbau nach Fig. 1 hat, wird ein Testimpuls
TJ bereitgestellt, der nur aus einer einzelnen Meßfrequenz
fx mit dem Amplitudenwert Ax beispielsweise A9
mit der Frequenz f9=900 Hz aus den insgesamt n möglichen
Frequenzen besteht. Dieser aus einer Cosinusschwingung
bestehende Testimpuls TJ (bzw. eine Folge
von q solchen Testimpulsen analog Fig. 3) wird dem
Coder COD zugeführt, welcher das impulsförmige Analogsignal
der Frequenz f9 durch entsprechende hochratige
Abtastwerte abtastet und daraus in bekannter Weise
codierte Amplitudenwerte bildet. Dabei treten, da jeweils
stufenweise die Amplituden quantisiert werden,
Quantisierungsverzerrungen auf. Die so gewonnenen, mit
Quantisierungsfehlern behafteten PCM-Signale am Ausgang
des Coders COD werden einem Decoder DEC zugeführt, welcher
das an seinem Eingang vorhandene PCM-Signal in ein
Analogsignal zurückverwandelt, welches hier als Testimpuls
TJ* bezeichnet ist. Ohne Quantisierungsverzerrungen
wäre die Kurvenform von TJ* der Kurvenform TJ völlig
gleichwertig. Infolge der Quantisierungsverzerrungen
durch den Coder COD (und ggf. durch den Decoder DEC)
ist jedoch eine mehr oder weniger große Veränderung
des Testimpulses TJ* eingetreten. Diese Veränderung
kann aufgefaßt werden als das Hinzutreten von störenden
Energieanteilen, so daß in dem Empfänger EM, welcher
den Aufbau nach Fig. 2 hat, durch die Bestimmung
der einzelnen Amplitudenwerte A*1 bis A*n für die harmonischen
Einzelfrequenzen f1 bis fn die jeweiligen
Anteile bestimmt werden können, welche außerhalb von
fx, d. h. außerhalb von A*9 und der Frequenz f9 auftreten.
Für die Decodierungsverzerrung cv bei der Meßfrequenz
fx gilt folgende Beziehung
Eine andere Definition für die Quantisierungsverzerrung
lautet
Die Effektivwerte der gesuchten Größen können in einfacher
Weise aus den am Ausgang des FFT-Prozessors nach
Fig. 2 vorhandenen Amplitudenwerten A*1 bis A*n berechnet
werden. So gilt für das vorliegende Beispiel, daß
der Gesamteffektivwert
beträgt.
Der Effektivwert ohne die Meßfrequenz fx kann ebenfalls
berechne werden, weil lediglich der Amplitudenwert
A*x aus den n Amplitudenwerten A*1 bis A*n bei der
Berechnung wegzulassen ist. Ebenso steht selbstver
ständlich der Amplitudenwert Ax für die Auswertung zur
Verfügung. In dem Rechner CO nach Fig. 2 kann diese
Berechnung der für die Bestimmung der Quantisierungsverzerrung
notwendigen Teilgrößen in einfacher Weise
durchgeführt werden. Es besteht somit lediglich die
Aufgabe die Anzeige- oder Registriereinrichtung ACV
so auszulegen, daß dort der Wert für die Quantisierungsverzerrung
cv entsprechend dargestellt werden kann.
Sollte der Störabstand der relativ kleinen Amplitudenwerte
A*, welche auf Klirranteile oder Quantisierungsverzerrungen
zurückgehen, zu gering sein, so kann Abhilfe in
vorteilhafter Weise dadurch geschaffen werden, daß zur
Messung von mit Störungen behafteten Signalen eine zusätzliche
Verbesserung des Störabstandes durch selektive
Mittelwertbildung der aus q aufeinanderfolgend ausgesandten
Testimpulsen gewonnenen, dem jeweiligen Teilfrequenzband
des FFT-Prozessors zugeordneten q Amplitudenwerten
und/oder durch Verkleinerung der Breite
der empfangsseitigen Teilfrequenzbänder vorgenommen
wird.
Der FFT-Prozessor stellt nämlich eine Filterbank dar,
bei der durch Mittelwertbildung und/oder durch Verkleinerung
der Breite der Teilfrequenzbänder die Selektion
und damit der Störabstand erhöht werden kann. Von besonderem
Vorteil ist dabei, daß der Empfänger lediglich
insoweit ergänzt werden muß, daß eine Mittelwertbildung
bzw. eine Verkleinerung der Teilfrequenzbänder durchführbar
ist. Die übrigen Bestandteile des Empfängers,
insbesondere die Fourier-Analyse im FFT-Prozessor können
unverändert beibehalten werden. Das bedeutet, daß
eine nach dem Hauptpatent aufgebaute Meßeinrichtung
lediglich durch Hinzufügen des Verfahrensschrittes der
Mittelwertbildung bzw. der Verkleinerung der Teilfrequenzbänder
ergänzt werden muß, um die gleiche, z. B.
für die Strecken-Dämpfungsmessung benutzte Einrichtung
u. a. auch für die Messung des z. B. Klirrfaktors heranziehen
zu können.
Die Auslegung erfolgt dabei zweckmäßig so, daß empfangsseitig
in jedem der durch den FFT-Prozessor gebildeten
Teilfrequenzbänder ein von einer sendeseitig zur Bildung
des Testimpulses benutzten Harmonischen herrührender
Amplitudenwert auftritt.
Bei einer anderen Ausführungsform ist dagegen die empfangsseitig
beim FFT-Prozessor angesetzte Meßperiodendauer
TG größer gewählt als die sendeseitige Periodendauer
T des Testimpulses TJ. Dabei ist es vorteilhaft,
wenn die empfangsseitige Meßperiodendauer Tg=r · T gewählt
wird, wobei r ganzzahlig ist.
Eine besonders einfache Möglichkeit zur Verbesserung des
Störabstandes besteht darin, daß Teilfrequenzbänder, in
denen keine auf sendeseitige Harmonische im Testimpuls
TJ zurückgehenden Amplitudenwerte auftreten, bei der
Auswertung unterdrückt werden.
Ganz allgemein ist die Auslegung des FFT-Prozessors
für eine optimale Signalauswertung so zu wählen, daß
Amplitudenwerte, die auf Harmonische im Testimpuls TJ
zurückgehen, etwa in der Mitte der Teilfrequenzbänder
des FFT-Prozessors liegen.
Claims (2)
1. Verfahren zum Messen von Übertragungseigenschaften eines
Meßobjektes, dem von einem Meßsender ein Testimpuls, gebildet aus
einzelnen Frequenzkomponenten mit Amplitudenwerten (An) und
Phasenlagen (ϕn) nach der Gleichung
mit n · f als einer bestimmten Frequenz und x als
einer im Hinblick auf die zu untersuchende Bandbreite des jeweiligen
Meßobjektes gewählten Zahl, zugeführt wird, dessen durch das Meßobjekt
veränderte Frequenzkomponenten (Pulsantwort) ausgewertet werden unter Einsatz
eines Rechners, der die in einem Empfangsspeicher
gespeicherte Pulsantwort mit Hilfe der Fourier-Analyse zerlegt,
die einzelnen Frequenzkomponenten hinsichtlich ihrer
Amplituden und ihrer Phasenlagen bestimmt und daraus in Kenntnis der Amplituden und der Phasenlagen der einzelnen Frequenzkomponenten des Testimpulses die Übertragungseigenschaften
des Meßobjektes ermittelt,
dadurch gekennzeichnet,
- - daß sendeseitig ein Testimpuls mit einer Frequenzkomponente (A₁, ϕ1) oder wenigen Frequenzkomponenten gebildet wird und
- - daß empfangsseitig
- -- zur Klirrfaktormessung der der Frequenzkomponente des Testimpulses entsprechende Amplitudenwert (A*1) und die die Klirranteile darstellenden Amplitudenwerte (A*2 bis A*n) bestimmt werden und aus diesen Amplitudenwerten (A*1 bis A*n) der Klirrfaktor des Meßobjektes bestimmt wird oder
- -- zum Messen der Quantisierungsverzerrung der der Frequenzkomponente des Testimpulses entsprechende Amplitudenwert (A*x) und die die Codierungsverzerrung darstellenden Amplitudenwerte (A*2 bis A*n) bestimmt werden und aus diesen Amplitudenwerten (A*1 bis A*n) die Quantisierungsverzerrung bestimmt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
eine selektive Mittelwertbildung der aus q aufeinanderfolgend
ausgesandten Testimpulsen gewonnenen, dem jeweiligen
Teilfrequenzband des FFT-Prozessors zugeordneten q Amplitudenwerte
und/oder eine Verkleinerung der Breite der empfangsseitigen
Teilfrequenzbänder vorgenommen wird.
Priority Applications (1)
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DE19782852791 DE2852791A1 (de) | 1978-12-06 | 1978-12-06 | Verfahren und schaltungsanordnung zur messung der uebertragungseigenschaften eines messobjektes |
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DE19782852791 DE2852791A1 (de) | 1978-12-06 | 1978-12-06 | Verfahren und schaltungsanordnung zur messung der uebertragungseigenschaften eines messobjektes |
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Cited By (1)
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DE19654740A1 (de) * | 1996-12-30 | 1998-07-02 | Holger Mueller | Meßverfahren zur Vierpolanalyse mit hoher Bandbreite |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT8168493A0 (it) * | 1981-11-18 | 1981-11-18 | Cselt Centro Studi Lab Telecom | Strumento di misura della disequa lizzazione globale di ampiezza e fase fra estremi lontani di un canale di trasmissione |
DE19531829C2 (de) * | 1995-08-15 | 1997-08-28 | Stefan Hahn | Verfahren und Vorrichtung zur Impulswahlerkennung bei bestehender Gesprächsverbindung |
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DE1516992B1 (de) * | 1966-03-05 | 1970-09-24 | Wandel & Goltermann | Verfahren und Vorrichtung zur Klirrfaktormessung |
AT295647B (de) * | 1968-07-30 | 1972-01-10 | Franz-Josef Landwehr | Meßanordnung zur Messung der Nichtlinearität eines Nachrichtenübertragungssystems |
US3988667A (en) * | 1975-03-06 | 1976-10-26 | Hewlett-Packard Company | Noise source for transfer function testing |
DE2724991B2 (de) * | 1977-06-02 | 1979-08-09 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Meßverfahren und Schaltungsanordnung zur Ermittlung der Dämpfungsverzerrung und der Gruppenlaufzeitverzerrung eines Meßobjekts |
DE2827422C3 (de) * | 1978-06-22 | 1985-01-31 | Wandel & Goltermann Gmbh & Co, 7412 Eningen | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Messen von Kennwerten eines Vierpols, insbesondere einer Datenübertragungsstrecke |
DE2849119A1 (de) * | 1978-11-13 | 1980-05-14 | Siemens Ag | Verfahren und schaltungsanordnung zur daempfungsmessung, insbesondere zur ermittlung der daempfungs- und/oder gruppenlaufzeitverzerrung eines messobjektes |
-
1978
- 1978-12-06 DE DE19782852791 patent/DE2852791A1/de active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19654740A1 (de) * | 1996-12-30 | 1998-07-02 | Holger Mueller | Meßverfahren zur Vierpolanalyse mit hoher Bandbreite |
DE19654740C2 (de) * | 1996-12-30 | 1999-05-06 | Holger Mueller | Meßverfahren zur Vierpolanalyse mit hoher Bandbreite |
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