DE2849971A1 - Hybrid-schaltkreis und verfahren zu seiner herstellung - Google Patents
Hybrid-schaltkreis und verfahren zu seiner herstellungInfo
- Publication number
- DE2849971A1 DE2849971A1 DE19782849971 DE2849971A DE2849971A1 DE 2849971 A1 DE2849971 A1 DE 2849971A1 DE 19782849971 DE19782849971 DE 19782849971 DE 2849971 A DE2849971 A DE 2849971A DE 2849971 A1 DE2849971 A1 DE 2849971A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- deposited
- metal
- layer
- vacuum
- hybrid circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/38—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
- H05K3/388—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by the use of a metallic or inorganic thin film adhesion layer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/14—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
- H01L23/15—Ceramic or glass substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/01—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate comprising only passive thin-film or thick-film elements formed on a common insulating substrate
- H01L27/016—Thin-film circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/12—All metal or with adjacent metals
- Y10T428/12493—Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
- Y10T428/12535—Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.] with additional, spatially distinct nonmetal component
- Y10T428/12597—Noncrystalline silica or noncrystalline plural-oxide component [e.g., glass, etc.]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/12—All metal or with adjacent metals
- Y10T428/12493—Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
- Y10T428/12535—Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.] with additional, spatially distinct nonmetal component
- Y10T428/12611—Oxide-containing component
- Y10T428/12618—Plural oxides
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
- Insulated Metal Substrates For Printed Circuits (AREA)
Description
Patentanwälte Dipl.-Ing. H. Weickmann, Dipl.-Phys. Dr. K. Fincjce
Di.pl.-Ing. R A.Weickmann, Dipl.-Chem. B. Huber
Or. -In?.?1. T.j.skg
DXIIIH
8 MÜNCHEN 86, DEN \ J POSTFACH 860 820
MÖHLSTRASSE 22, RUFNUMMER 98 39 21/22
Tektronix, Inc.,
14150 S.W. Karl Braun Drive, Beayerton, Oregon 97077, V.St.A.
14150 S.W. Karl Braun Drive, Beayerton, Oregon 97077, V.St.A.
Hybrid-Schaltkreis und Verfahren zu seiner Herstellung
909821/065 0
Beschreibung
Die vorliegende Erfindung betrifft einen Hybrid-Schaltkreis
mit einem siliziumhaltigen Substrat, mit einer im Vakuum abgeschiedenen Metallschicht und mit 'einer galvanisch abgeschiedenen
Metallschicht sowie ein Verfahren zur Herstellung eines derartigen Hybrid-Schaltkreises.
Es sind verschiedene Verfahren zur Aufbringung einer metallisierten
Schicht auf Substraten mit einem hohen Kieselerde-Gehalt, wie beispielsweise geschmolzene Kieselerde, Glasoder
Quarz bekannt geworden. Bei einem gebräuchlichen Verfahren erfolgt dies durch Abscheidung im Vakuum,, wobei zwar
eine zufriedenstellend mit dem Substrat verbundene metallische Schicht entsteht. Ein derartiges Verfahren ist jedoch
zeitaufwendig und teuer. Zur Abscheidung von leitenden Metallen, wie beispielsweise Gold oder auch Kupfer im Vakuum
ist es bekannt geworden, zunächst eine dünne Ventilmetallschicht, wie beispielsweise Chrom, Tantal, Titan oder Chrom-Nickel
im Vakuum abzuscheiden, welche mit der Oberfläche des siliziumhaltigen Substrats unter Bildung einer zuverlässigen
Bindung reagiert. Die Schicht aus Ventilmetall muß lediglich eine Dicke in der Größenordnung von 200 Ä besitzen.
Danach wird ebenfalls in einer evakuierten Umgebung das Gold oder ein anderes leitendes Material mit der gewünschten
Dicke abgeschieden.
Bei der Herstellung von Hybrid-Schaltkreisen wurde das vorstehend erläuterte Verfahren dazu verwendet, eine metallisierte
Schicht auf siliziumhaltigen Substraten vorzusehen, welche die Grundlage für metallische Leiter oder metallische
Anschlußflecken bildet. Mittels eines Atzprozesses werden unerwünschte Bereiche der metallisierten Schicht entfernt,
wobei lediglich die Leiter und die Anschlußflecken
9 09821 /Π650
übrigbleiben. Der Ätzprozeß ist jedoch insbesondere bei Mikro-Schaltkreisen, bei denen genaue Toleranzen eingehalten
werden, müssen, schwierig zu steuern. Darüber hinaus ist bei Verwendung eines Edelmetalls, wie beispielsweise
Gold für die metallisierte Schicht ein zusätzlicher Prozeß zur Rückgewinnung des entfernten Metalls aus dem Ätzmittel
erforderlich.
Theoretische Erkenntnisse haben es seit langem als- wünschenswert erscheinen lassen, auf einem siliziümhaltigen Substrat
eine dünne Metallschicht im Vakuum abzuscheiden und die. Metallschicht sodann durch galvanische Abscheidung auf die
gewünschte Dicke zu bringen. Ein derartiges Verfahren ist nicht nur wesentlich einfacher und billiger sondern erlaubt
auch die Einhaltung von extrem genauen Toleranzen der Leiter und der Anschlußflecken. Bei der Durchführung
.dieses Verfahrens ergibt sich jedoch während des galvanischen Abscheidungsprozesses ein- Adhäsionsverlust zwischen
dem im Vakuum abgeschiedenen Metall und dem Substrat.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgäbe zugrunde, einen
Hybrid-Schaltkreis sowie ein Verfahren zu seiner Herstellung mit einem siliziümhaltigen Substrat und mit durch galvanische
Abscheidung hergestellten dicken Metalleitern und Metallanschlußflecken anzugeben, wobei ein Adhäsionsverlust
zwischen der Metallschicht und dem Substrat während des galvanischen Abscheidungsprozesses vermieden wird.
Der Hybrid-Schaltkreis sowie das Verfahren zu seiner Herstellung soll dabei insbesondere einfach und unaufwendig
sein. " *
.Insbesondere sollen dabei auch die Toleranzen der physikalischen
Abmessungen genau eingehalten werden können.
90 9 821/0650
_-5_ , 7849971
Speziell soll es sich dabei um hochauflösende Mikrowellen-Hybrid-Schaltkreise
sowie deren Herstellung mit galvanisch abgeschiedenen Goldleitern handeln.
Darüber hinaus soll insbesondere ein-thermischer Dünnfilmdrucker
auf einem siliziumhaltigen Substrat bzw. einem Substrat mit kleiner thermischer Leitfähigkeit unter Verwendung
von Dünnfilm-Widerstandselementen und galvanisch abgeschiedenen Leitern sowie ein Verfahren zu seiner Herstellung
angegeben werden.
Die vorstehend genannte Aufgabe wird bei einem Hybrid-Schaltkreis erfindungsgemäß durch eine zwischen dem.&ubstrat und
der aus dem Vakuum abgeschiedenen Schicht vorgesehene Zwischenschicht aus hochschmelzendem Metalloxid gelöst.
•In Weiterbildung der Erfindung ist bei einem Verfahren zur Herstellung eines Hybrid-Schaltkreises der vorstehend definierten
Art vorgesehen, daß die Zwischenschicht aus hochschmelzenden Metalloxid auf dem Substrat abgeschieden wird, daß
auf der Zwischenschicht aus hochschmelzendem Metalloxid ein Ventilmetall mit einer Dicke von etwa 200 bis 1000 Ä
im Vakuum abgeschieden wird, daß auf dem Ventilmetall im Vakuum ein leitendes Me_tall mit einer Dicke von etwa 1000 bis
10.000 A abgeschieden wird und daß auf dem leitenden Metall im Vakuum eine Schicht aus leitendem Metall galvanisch abgeschieden
wird. "
Ausgestaltungen sowohl hinsichtlich des Hybrid-Schaltkreises
als auch des Verfahrens zu seiner Herstellung sind in Unteransprüchen gekennzeichnet.
"Die Erfindung wird im folgenden anhand von in den Figuren der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispielen näher
erläutert. Es zeigt:
9 0 9 8 2 1/0650
Figur 1 einen Querschnitt einer Ausführungsform eines
Hybrid-Schaltkreises gemäß der Erfindung; und
Figur 2 einen Querschnitt einer weiteren Ausführungsform
eines Hybrid-Schaltkreises gemäß der Erfindung.
Bei der in Fig. 1 im Querschnitt dargestellten Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Hybrid-Scha-ltkreises wird ein
siliziumhaltiges Substrat 10 durch ein Material mit hohem Kieselerdegehalt, wie beispielsweise Quarz, geschmolzene
Kieselerde oder Glas gebildet. Auf dieses Substrat 10 ist eine dünne dielektrische Zwischenschicht 12 aus einem hochschmelzenden Metalloxid abgeschieden. Mit der Zwischenschicht
12 ist eine im Vakuum abgeschiedene Schicht 14 aus Ventilmetall, wie beispielsweise Chrom, Titan oder
Tantal mit einer Dicke von 'etwa 200 bis 1000 Ä verbunden. ,Mit der Schicht aus Ventilmetall ist eine im Vakuum abgeschiedene
Schicht 16 aus hochleitendem Material, wie beispielsweise
Gold oder Kupfer mit einer Dicke von etwa 1000 bis 10.000 Ä verbunden. Die Schichten 14 und 16 aus
Ventilmetall bzw. aus leitendem Metall werden auch in bekannten Hybrid-Schaltkreisen verwendet und können auf verschiedene
Art durch bekannte konventionelle Verfahren im Vakuum abgeschieden werden. Schließlich ist eine Schicht
aus hochleitendem Metall, wie beispielsweise Gold oder Kupfer mit dem im Vakuum abgeschiedenen Metall verbunden. Diese
Schicht 18 wird durch galvanische Abscheidung mit der gewünschten Dicke von beispielsweise 10 Mikron hergestellt.
Die Zwischenschicht 12 verhindert, daß das siliziumhaltige Substrat und das aus 'dem Vakuum abgeschiedene Metall während
des galvanischen Abscheidungsprozesses miteinander reagieren. Eine derartige Reaktion würde zu einem Adhäsionsverlust zwischen
dem aus dem Vakuum abgeschiedenen Metall und dem Substrat führen. Darüber hinaus verhindert die Zwischenschicht einen
909821/0650
Angriff von chemischen Ätzmitteln am siliziumhaltigen
Substrat. Es hat sich gezeigt, daß ein hochschmelzender Metalloxidfilm mit einer Dicke von etwa 2000 Ä eine aus?·
reichend gute Zwischenschicht zur Vermeidung der vorgenannten Reaktionen bildet. Die Zwischenschicht aus hochschmelzendem Metalloxid stellt weiterhin einen isolierenden
Film dar, dessen elektrische Eigenschaften Hybrid-Schaltkreise
nicht nachteilig beeinflussen. Als hochschmelzendes
Metalloxid kann Zirkonoxid verwendet werden, das durch bekannte
Verfahren abgeschieden werden kann. Beispielsweise kann Zirkon durch Verdampfen im Vakuum, durch Zerstäuben
oder durch chemische Abscheidung aus der Gasphase abgeschieden und sodann oxydiert werden. Zur Bildung von Zirkondioxid"
kann jedoch auch Zirkon reaktiv in einer Sauerstoff-Teilatmosphäre
verdampft oder zerstäubt werden oder es kann direkt Zirkonoxid verdampft, zerstäubt oder chemisch aus der Gasphase
abgeschieden werden. Anstelle von Zirkonoxid zur Bildung der Zwischenschicht können.auch die Oxide anderer hochschmelzender Metalle, wie beispielsweise Tantal, Titan oder
Wolfram verwendet werden.
Die Verwendung eines hochschmelzenden Metalloxides für die
Zwischenschicht 12 ermöglicht die Herstellung von Hybrid-Schaltkreisen
auf Substraten mit hohem Kieselerdegehalt unter Ausnutzung von standardisierten Dünnfilm-HersteHungsverfahren.
Beispielsweise kann auf die im Vakuum abgeschiedenen Metalle eine Leiter und Anschlußflecken definierende Rastermaske
aufgelegt werden, wobei die Leiter und die Anschlußflecken .
durch galvanische Abscheidung auf die gewünschte Dicke gebracht werden. Danach wird die Rastermaske entfernt und es
werden zwischen den Leitern vorhandene unerwünschte, im .
Vakuum abgeschiedene dünne Metallschichten durch einen Ätz-.prozeß
entfernt. Der Aufwand für einen derartigen Prozeß kann dadurch minimal gehalten werden, daß' die im Vakuum abgeschiedenen
Metallschichten 14 und 16 so dünn als praktisch möglich
gehalten werden. Beispielsweise kann eine Chromschicht eine
909821/065
Dicke von etwa 200 A und eine im Vakuum abgeschiedene Goldschicht eine Dicke von etwa 1000 Ä besitzen. Weiterhin kann
die Rastermaske auch vor der Abscheidung im Vakuum direkt auf die Zwischenschicht aufgelegt werden, wobei dann der
Ätzschritt vollständig entfallen kann. Die Verwendung einer Rastermaske bei der galvanischen Abscheidung ermöglicht
eine hochgenaue Steuerung der Abmessungstoleranzen der durch galvanische Abscheidung herzustellenden Leiter.
Figur 2 zeigt eine ähnliche Ausführungsform mit einer dielektrischen
Zwischenschicht aus einem hochschmelzenden.. Metalloxid der oben beschriebenen Art. Bei dieser Ausführungsform
ist jedoch die Schicht 14 gemäß Fig. 1 durch einen Film 20 aus Widerstandsmaterial, wie beispielsweise
Chrom-Nickel ersetzt.
Durch die vorstehend erläuterten Herstellungsverfahren können
beispielsweise thermische Druckköpfe oder Mikrowellen-Hybrid-Schaltkreise hergestellt werden.
Zusammenfassend ist festzustellen, daß erfindungsgemäß
zwischen einem siliziumhaltigen Substrat und einer im Vakuum abgeschiedenen Metallschicht eine dünne Zwischenschicht
vorgesehen ist, wobei die gewünschte Dicke der Metallschicht nachfolgend durch galvanische Abscheidung realisiert
wird. Zur Gewährleistung eines einfachen und billigen Herstellungsverfahren für Hybrid-Schaltkreise können
konventionelle Dünnfilm-Verfahrenstechniken zur Anwendung
kommen.
909821/0650
Claims (6)
- 284997PatentansprücheHybrid-Schaltkreis mit einem siliziumhaltigen Substrat, mit einer im Vakuum abgeschiedenen Metallschicht und mit einer galvanisch abgeschiedenen Metallschicht, gekennzeichnet durch eine zwischen dem Substrat (10) und der im Vakuum abgeschiedenen Schicht (16) vorgesehene Zwischenschicht (12) aus hochschmelzendem Metalloxid.
- 2. Hybrid-Schaltkreis nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das hochschmelzende Metalloxid Zirkonoxid ist. ·
- 3. Hybrid-Schaltkreis nach Anspruch 1 und/oder 2,- dadurch gekennzeichnet, daß die Zwischenschicht (12) eine Dicke von etwa 2000 Ä besitzt.
- 4. Verfahren zur Herstellung eines Hybrid-Schaltkreises nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Zwischenschicht (12) aus hochschmelzendem Metalloxid auf dem Substrat (10) abgeschieden wird, daß auf der Zwischenschicht (12) aus hochschmelzendem Metalloxid ein Ventilmetall mit einer Dicke von etwa 2000 bis 1000 Ä abgeschieden wird, daß auf dem Ventilmetall im Vakuum ein leitendes Metall mit- einer Dicke von etwa 1000 bis 10.000 A abgeschieden wird und daß auf dem im Vakuum abgeschiedenen leitenden Metall ein leitendes Metall galvanisch abgeschieden wird.
- 5. Verfahren nach Anspruch 4, daß als hochschmelzendes Metalloxid Zirkonoxid abgeschieden wird.
- 6. Verfahren nach Anspruch 4 und/oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Schicht (12) aus Zirkonoxid in einer Dicke von etwa 2000. Ä abgeschieden wird.909821ORIGINAL INSPECTED
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/852,991 US4153518A (en) | 1977-11-18 | 1977-11-18 | Method of making a metalized substrate having a thin film barrier layer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2849971A1 true DE2849971A1 (de) | 1979-05-23 |
DE2849971B2 DE2849971B2 (de) | 1981-11-26 |
Family
ID=25314735
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2849971A Withdrawn DE2849971B2 (de) | 1977-11-18 | 1978-11-17 | Verfahren zur Herstellung von Hybrid-Schaltkreisen |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4153518A (de) |
JP (1) | JPS5473275A (de) |
CA (1) | CA1103811A (de) |
DE (1) | DE2849971B2 (de) |
FR (1) | FR2409603A1 (de) |
GB (1) | GB2008155B (de) |
NL (1) | NL7809490A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3137105A1 (de) * | 1980-09-22 | 1982-04-01 | General Electric Co., Schenectady, N.Y. | "metallplattiertes laminat und verfahren zu seiner herstellung |
EP0056472A2 (de) * | 1981-01-15 | 1982-07-28 | Robert Bosch Gmbh | Elektronische Dünnschichtschaltung |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4226932A (en) * | 1979-07-05 | 1980-10-07 | Gte Automatic Electric Laboratories Incorporated | Titanium nitride as one layer of a multi-layered coating intended to be etched |
US4455181A (en) * | 1980-09-22 | 1984-06-19 | General Electric Company | Method of transfer lamination of copper thin sheets and films |
DE3039821A1 (de) * | 1980-10-22 | 1982-06-03 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Mehrschichtsystem fuer waermeschutzanwendung |
US4628149A (en) * | 1981-11-30 | 1986-12-09 | Nippon Electric Co., Ltd. | Substrate having a pattern of an alloy of gold and a noble and a base metal with the pattern isolated by oxides of the noble and the base metals |
JPS6142192A (ja) * | 1984-08-03 | 1986-02-28 | オ−ケ−プリント配線株式会社 | セラミツク基板の製造方法 |
US4629662A (en) * | 1984-11-19 | 1986-12-16 | International Business Machines Corporation | Bonding metal to ceramic like materials |
JPS6265991A (ja) * | 1985-09-13 | 1987-03-25 | 株式会社東芝 | 高熱伝導性セラミツクス基板 |
US4721550A (en) * | 1986-05-05 | 1988-01-26 | New West Technology Corporation | Process for producing printed circuit board having improved adhesion |
US4710433A (en) * | 1986-07-09 | 1987-12-01 | Northrop Corporation | Transparent conductive windows, coatings, and method of manufacture |
US4751349A (en) * | 1986-10-16 | 1988-06-14 | International Business Machines Corporation | Zirconium as an adhesion material in a multi-layer metallic structure |
JPS6441194A (en) * | 1987-08-07 | 1989-02-13 | Komatsu Mfg Co Ltd | Manufacture of thin film electroluminescent element |
GB2213839B (en) * | 1987-12-23 | 1992-06-17 | Plessey Co Plc | Semiconducting thin films |
US4810852A (en) * | 1988-04-01 | 1989-03-07 | Dynamics Research Corporation | High-resolution thermal printhead and method of fabrication |
DE69016096T2 (de) * | 1989-05-22 | 1995-06-14 | Mitsubishi Materials Corp | Substrat, verwendbar bei der Herstellung einer Dickschichtschaltung. |
US5215597A (en) * | 1989-08-08 | 1993-06-01 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Method for bonding thin film thermocouples to ceramics |
US5112462A (en) * | 1990-09-13 | 1992-05-12 | Sheldahl Inc. | Method of making metal-film laminate resistant to delamination |
US6060175A (en) * | 1990-09-13 | 2000-05-09 | Sheldahl, Inc. | Metal-film laminate resistant to delamination |
US5137791A (en) * | 1990-09-13 | 1992-08-11 | Sheldahl Inc. | Metal-film laminate resistant to delamination |
CA2084247A1 (en) * | 1992-03-18 | 1993-09-19 | Francis Paul Fehlner | Lcd panel production |
US5446616A (en) * | 1994-03-28 | 1995-08-29 | Litton Systems, Inc. | Electrode structure and method for anodically-bonded capacitive sensors |
US6135586A (en) * | 1995-10-31 | 2000-10-24 | Hewlett-Packard Company | Large area inkjet printhead |
US6069068A (en) * | 1997-05-30 | 2000-05-30 | International Business Machines Corporation | Sub-quarter-micron copper interconnections with improved electromigration resistance and reduced defect sensitivity |
US6130161A (en) | 1997-05-30 | 2000-10-10 | International Business Machines Corporation | Method of forming copper interconnections with enhanced electromigration resistance and reduced defect sensitivity |
US6165309A (en) * | 1998-02-04 | 2000-12-26 | General Electric Co. | Method for improving the adhesion of metal films to polyphenylene ether resins |
US6309969B1 (en) * | 1998-11-03 | 2001-10-30 | The John Hopkins University | Copper metallization structure and method of construction |
US6212057B1 (en) * | 1998-12-22 | 2001-04-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Flexible thin film capacitor having an adhesive film |
US6964936B1 (en) | 2003-03-06 | 2005-11-15 | Sandia Corporation | Method of making maximally dispersed heterogeneous catalysts |
US9054530B2 (en) | 2013-04-25 | 2015-06-09 | General Atomics | Pulsed interrupter and method of operation |
JP6946864B2 (ja) * | 2017-08-30 | 2021-10-13 | 大日本印刷株式会社 | ガラス基材へのめっき方法、配線構造体及びガラスインターポーザ |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1242282B (de) * | 1961-11-30 | 1967-06-15 | Ibm Deutschland | Verfahren zur Herstellung eines aus Metall- und Isolierstoffschichten bestehenden Traegers fuer gedruckte Schaltungen |
DE1258943B (de) * | 1961-03-09 | 1968-01-18 | Western Electric Co | Verfahren zur Herstellung gedruckter Schaltungen |
DE2155056A1 (de) * | 1970-11-05 | 1972-05-10 | Lignes Telegraph Telephon | Verfahren zur Herstellung einer Tantalnitrid-Dünnschichtschaltung |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL128768C (de) * | 1960-12-09 | |||
US3950586A (en) * | 1967-11-17 | 1976-04-13 | National Research Development Corporation | Electrical insulator materials for use in micro-circuit construction |
US3564353A (en) * | 1969-04-16 | 1971-02-16 | Westinghouse Electric Corp | Bulk semiconductor switching device formed from amorphous glass type substance and having symmetrical switching characteristics |
US3832230A (en) * | 1970-07-24 | 1974-08-27 | Motorola Inc | Method for improving glass adherence to gold film |
US3890177A (en) * | 1971-08-27 | 1975-06-17 | Bell Telephone Labor Inc | Technique for the fabrication of air-isolated crossovers |
US3798145A (en) * | 1972-05-30 | 1974-03-19 | Bell Telephone Labor Inc | Technique for reducing interdiffusion rates and inhibiting metallic compound formation between titanium and platinum |
US3808049A (en) * | 1972-06-02 | 1974-04-30 | Microsystems Int Ltd | Multi-layer thin-film circuits |
US3791952A (en) * | 1972-07-24 | 1974-02-12 | Bell Telephone Labor Inc | Method for neutralizing charge in semiconductor bodies and dielectric coatings induced by cathodic etching |
US3922387A (en) * | 1973-08-28 | 1975-11-25 | Du Pont | Metallizations comprising nickel oxide |
JPS5072167A (de) * | 1973-10-30 | 1975-06-14 | ||
US3982218A (en) * | 1974-09-19 | 1976-09-21 | Corning Glass Works | Temperature sensing device and method |
DE2554691C2 (de) * | 1974-12-10 | 1982-11-18 | Western Electric Co., Inc., 10038 New York, N.Y. | Verfahren zum Herstellen elektrischer Leiter auf einem isolierenden Substrat und danach hergestellte Dünnschichtschaltung |
-
1977
- 1977-11-18 US US05/852,991 patent/US4153518A/en not_active Expired - Lifetime
-
1978
- 1978-07-11 GB GB7829518A patent/GB2008155B/en not_active Expired
- 1978-07-19 CA CA307,738A patent/CA1103811A/en not_active Expired
- 1978-09-18 NL NL7809490A patent/NL7809490A/xx not_active Application Discontinuation
- 1978-10-03 JP JP12193878A patent/JPS5473275A/ja active Pending
- 1978-11-16 FR FR7832872A patent/FR2409603A1/fr active Granted
- 1978-11-17 DE DE2849971A patent/DE2849971B2/de not_active Withdrawn
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1258943B (de) * | 1961-03-09 | 1968-01-18 | Western Electric Co | Verfahren zur Herstellung gedruckter Schaltungen |
DE1242282B (de) * | 1961-11-30 | 1967-06-15 | Ibm Deutschland | Verfahren zur Herstellung eines aus Metall- und Isolierstoffschichten bestehenden Traegers fuer gedruckte Schaltungen |
DE2155056A1 (de) * | 1970-11-05 | 1972-05-10 | Lignes Telegraph Telephon | Verfahren zur Herstellung einer Tantalnitrid-Dünnschichtschaltung |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3137105A1 (de) * | 1980-09-22 | 1982-04-01 | General Electric Co., Schenectady, N.Y. | "metallplattiertes laminat und verfahren zu seiner herstellung |
EP0056472A2 (de) * | 1981-01-15 | 1982-07-28 | Robert Bosch Gmbh | Elektronische Dünnschichtschaltung |
DE3136198A1 (de) * | 1981-01-15 | 1982-08-05 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | "elektronische duennschichtschaltung" |
EP0056472A3 (en) * | 1981-01-15 | 1983-04-06 | Robert Bosch Gmbh | Thin-film electronic circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2008155B (en) | 1982-04-15 |
JPS5473275A (en) | 1979-06-12 |
FR2409603B1 (de) | 1983-08-12 |
GB2008155A (en) | 1979-05-31 |
NL7809490A (nl) | 1979-05-22 |
FR2409603A1 (fr) | 1979-06-15 |
CA1103811A (en) | 1981-06-23 |
DE2849971B2 (de) | 1981-11-26 |
US4153518A (en) | 1979-05-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2849971A1 (de) | Hybrid-schaltkreis und verfahren zu seiner herstellung | |
DE2440481C3 (de) | Verfahren zum Herstellen von Dünnschicht-Leiterzügen auf einem elektrisch isolierenden Träger | |
DE2554691C2 (de) | Verfahren zum Herstellen elektrischer Leiter auf einem isolierenden Substrat und danach hergestellte Dünnschichtschaltung | |
DE19636735B4 (de) | Mehrschichtiges Schaltungssubstrat und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE3403643C2 (de) | ||
EP0016925B1 (de) | Verfahren zum Aufbringen von Metall auf Metallmuster auf dielektrischen Substraten | |
DE3107943C2 (de) | ||
DE2901697C3 (de) | Verfahren zur Ausbildung von Leitungsverbindungen auf einem Substrat | |
DE2402709B2 (de) | Festkoerperbauelement mit einem duennen film aus vanadinoxyd | |
DE2509912C3 (de) | Elektronische Dünnfilmschaltung | |
DE3414781A1 (de) | Vielschicht-verbindungsstruktur einer halbleitereinrichtung | |
DE2024494A1 (de) | Verfahren zur Beseitigung von durch Fehlstellen, insbesondere Nadellöcher verursachten Kurzschlüssen in DünnschichtÜberkreuzungen | |
DE2549861C3 (de) | Verfahren zur Anbringung von lokalisierten Kontakten auf einer Dünnschichtschaltung | |
EP0764334B1 (de) | Verfahren zur herstellung von bauelementen auf metallfilmbasis | |
DE3022268A1 (de) | Traeger fuer ein netz zur verbindung von elektronischen bauelementen und verfahren zu seiner herstellung | |
EP0056472B1 (de) | Elektronische Dünnschichtschaltung | |
DE19501693C2 (de) | Verfahren zum Herstellen von elektronischen Bauelementen und mit diesem Verfahren hergestelltes elektronisches Bauelement | |
DE4201612C2 (de) | Verfahren zur galvanischen Metall- und Legierungseinbringung in strukturierte Glas- oder Glaskeramikkörper und Verwendung des Verfahrens zur Herstellung von Metallverbunden | |
EP3961170A1 (de) | Temperatursensor und verfahren zur herstellung eines derartigen temperatursensors | |
DE3704547A1 (de) | Verfahren zur herstellung von loetpads und bondpads auf duennschichthybridschaltungen | |
DE2331586C3 (de) | Aluminium-Tantal-Schichten für Dünnschichtschaltungen sowie diskrete Widerstände und Kondensatoren | |
DE3721929C2 (de) | ||
DE2834221C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von Dünnschichtleiterbahnen | |
DE1790025B1 (de) | Verfahren zur herstellung galvanisch verstaerkter m etallischer mikrostrukturen | |
DD203658A1 (de) | Verfahren zur herstellung von widerstands- und mikrowellenintegrierten duennschichtschaltkreisen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OAP | Request for examination filed | ||
OD | Request for examination | ||
8230 | Patent withdrawn |