DE2804972C2 - Optisches Analysengerät - Google Patents

Optisches Analysengerät

Info

Publication number
DE2804972C2
DE2804972C2 DE2804972A DE2804972A DE2804972C2 DE 2804972 C2 DE2804972 C2 DE 2804972C2 DE 2804972 A DE2804972 A DE 2804972A DE 2804972 A DE2804972 A DE 2804972A DE 2804972 C2 DE2804972 C2 DE 2804972C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
plate
measuring
shaped element
cuvette
light beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE2804972A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2804972A1 (de
Inventor
Takao Imaki
Kozo Kyoto Ishida
Kennosuke Otu Kojima
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Horiba Ltd filed Critical Horiba Ltd
Publication of DE2804972A1 publication Critical patent/DE2804972A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2804972C2 publication Critical patent/DE2804972C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0232Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using shutters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein optisches Analysengerät nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Ein solches Gerät zur Analyse von Stoff gemisch en, die in eine von einem Meßlichtbündel durchstrahlte Küvette eingebracht sind, durch Messung der unterschiedlichen S'.-ahlenabsorption ist aus der DE-OS 25 24 430 bekannt Die Pnnzipderstellung einer solchen Analysenvorrichtung zeigt die F i g. 1 der beigefügten Zeichnung, wenngleich die in der Zeichnung parallel zur Lichtstrecke verlaufende Antriebswglle 1 eines Chopper- oder Unterbrecherelements 2 auch eine in der Plattenebene, also senkrecht zum Meßlichtbündel, ausgerichtete rotierbare Welle sein kann. Das Chopperelement 2 unterbricht das von der nicht näher bezeichneten Lichtquelle ausgehende Meßiichtbündel innerhalb eines mit der freien Atmosphäre in Verbindung stehenden Spalts 5, der zwischen einem Fenstc 3 auf der Seite der Lichtquelle und einem Fenster 4 auf der Seite der Meßküvette vorhanden ist. Dieser Spalt 5 zwischen den Fenstern 3 und 4 erfordert nicht nur einen bestimmten Raumbedarf im Gerät, er bringt vor allem den Nachteil, daß ein toter Raum vorhanden ist, der zudem vollständig gegen die Umwelt abgedichtet sein muß, um Einflüsse von Störgasen von außen im Bereich des Chopperelements 2 zu verhindern, die zu fehlerhaften Ergebnissen führen können, insbesondere, wenn sich ein Fremdgas in der atmosphärischen Luft befindet, die leicht in den Spalt 5 eintritt (siehe Pfeil a in F i g. I). Der Versuch, das Eindringen solcher Störfaktoren in den toten Raum bzw. Spalt 5 zu verhindern, führt zu technisch aufwendigen und unbefriedigenden Lösungen, da ein wirklich gasdichter Durchtritt der Antriebswelle 1 bzw. des Chopperelements 2 technisch kaum zu beherrschen ist.
Der Erfindung liegt damit die Aufgabe zugrunde, ein optisches Analysengerät der eingangs genannten Art so zu verbessern, daß unter Vermeidung des toten Raums oder Spalts 5 im Weg des Meßlichtbündels sämtliche durch Fremdgase in der atmosphärischen Luft bedingten Störungen vermieden werden und eine kompakte Bauweise möglich ist.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe bei der Vorrichtung, der eingangs genannten Art dadurch gelöst daß das plattenförmige Element innerhalb der Küvette angeordnet ist
Bei einer vorteilhaften Ausgestaltungsform der Erfindung kann die Welle des plattenförmigen Elements über eine Magnetkupplung angetrieben werden.
Durch die erfindungsgemäße Anordnung des plattenförmigen Elements innerhalb der Meßküvette wird die gestellte Aufgabe unkompliziert und vollständig gelöst ίο und eine bisher unerreichte Genauigkeit bei optischen Analysen möglich. Die Anordnung des plattenförmigen Elements innerhalb der Meßküvette eignet sich besonders für Infrarot- und Ultraviolettspektrometer.
Mit der Anordnung des plattenförmigen Elements in :5 der Meßküvette werden Fenster und tote Räume vermieden; die gesamte Einrichtung läßt sich kompakt in einer gemeinsamen Kammer unterbringen.
Die erfindungsgemäße Lösung der Anordnung des plattenförmigen Elements in der Meßküvette bietet als zusätzlichen Vorteil die Möglichkeit ohne besonderen Platzbedarf das plattenförmige Element um eine zur Achse der Meßküveiie senkrechte Achse zu drehen, so daß eine annähernd sinusförmige Unterbrechung des Meßlichtbündels erfolgt und die Weiterverarbeitung von Ausgangssignalen eines das unterbrochene Licht empfangenden Detektors erleichtert wird, wobei gleichzeitig eine Verbesserung des Nutz-Störverhältnisses des Detektors e/Teicht wird.
Die Erfindung wird nachstehend unter Bezug auf die Zeichnung in beispielsweisen Ausführungsformen näher erläutert Es zeig·
F i g. 1 eine bereits erläuterte Prinzipdarstellung eines zum Stand der Technik gehörenden optischen Analysegeräts;
Fig.2 eine der Fig. 1 ähnliche Schnittdarstellung eines nachstehend beschriebenen ersten Ausführungsbeispiels der Erfindung;
Fig.3a und 3b Einzelheiten der Ausführungsform von Fig.2;
Fig.4a und 4b ein pl&uenföimiges Element mit gewellter Plattenfläche und
Fig.5 Einzelheiten eines weiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung.
Fig. 2 zeigt als erstes Ausführungsbeispiel der Erfindung ein Infrarotspektrometer 6 zur Gasanalyse vom sogenannten Ein-Zellentyp mit einer Lichtquelle 7, deren Meßlichtbündel eine Meßküvette 8 durchsetzt und auf einen Detektor 9 mit Detektorelement 9' gelangt. Senkrecht zu der zwischen der Lichtquelle 7 und dem Detektor 9 verlaufenden Meßlichtstrecke und in einer Position zwischen den Elementen 7 und 9 ist eine Welle 10 drehbar gelagert, über welche ein plattenförmiges Element 12 durch einen Motor 11 beispielsweise in Pfeilrichtung b antreibbar ist. Bei der in Fig. 2 bzw. Fig.3a dargestellten Augenblicksposition des plattenförmigen Elements 12 gelangt eine maximale Lichtmenge auf das Detektorelement 9'. In der Augenblicksposition gemäß F i g. 3b dagegen ist das Meßlichtbündel ständig unterbrochen.
Die Meßküvette 8 weist einen Einlaß 13 und einen Auslaß 14 für ein zu prüfendes Gas, eine durch eine Dichtung 16 verschlossene Montageöffnung 15 zum Einsetzen des plattenförmigen Elements 12 in die Meßküvette 8 und zwei stirnseitige Fenster 17 und 18
6r> auf, durch welche der Infrarot-Meßlichtstrahl in die Meßküvette 8 ein- bzw. aus dieser austritt.
Wird bei in die Meßküvette 8 eingeleitetem zu prüfendem Gas der Motor 11 eingeschaltet, so
unterbricht das jetzt rotierende plattenförmige Element 12 innerhalb der MeQküvette 8 den Meßlichtstrahl intermittierend entsprechend einer Sinusfunktion, wobei der maximale Lichtdurchlaß bei der in den Fig.2 und 3a dargestellten Unterbrechungspostion erfolgt, während nach einer 90°-Drehung der Welle 10 die Position von F i g. 3b erreicht ist, in der kein oder kaum noch Licht von der Lichtquelle 7 zum Detektorelement 9' gelangt. Bei einem sich über 360° erstreckenden RotationszykJ'js des plattenförmigen Elements 12 erfolgt also ein zweimaliger voller Lichtdurchlaß und eine zweimalige Lichtunterbrechung. Als Detektorelement 9' in Fig.2 ist ein Kondensatormikrofon vorgesehen.
Die Anordnung des plattenförmigen Elements 12 in der Meßküvette 8 läßt sich außer bei den bereits erwähnten Infrarot- und UUraviolettspektrometem auch bei anderen optischen Meßinstrumenten verwenden, bei denen eine Unterbrechung des Meßlichtstrahls vorgesehen ist, beispielsweise bei optischen Meßeinrichtungen, die mit Laserlicht arbeiten. Außerdem ist das opiische Anaiysengerät nicht nur für die Analyse von Gasen sondern auch beispielsweise von flüssigen Proben verwendbar.
Die Anordnung des plattenförmigen Elements 12 in der Meßküvette 8 eignet sich nicht nur für optische Analysengeräte mit einer Zelle bzw. Meßküvette S sondern auch für Doppel-Zellengeräte.
Die Fig.4a und 4b zeigen plattenförmige Elemente 12 mit gekrümmten Teilflächen.
Als Material für das plattenförmige Element 12 kann beispielsweise Aluminium oder ein anderes Metall verwendet werden, welches für das gesamte Lichtquellenspektrum undurchlässig ist. Soll der Meßlichtstrahl dagegen nur selektiv unterbrochen werden, so kommen geeignete Filtermaterialien in Frage.
Bei der Ausführungsform nach Fig.5 ist das plattenförmige Element 12 innerhalb einer stufenförmigen Erweiterung 22 in der Wand der Meßküvette 8 gelagert, um das Durchscheinen von Restlicht bei der Unterbrechung des Meßlichtstrahl zu vermeiden.
Für das plattenförmige Element 12 sind verschiedene Antriebsmechanismen möglich, beispielsweise in Form einer Magnetkupplung, bei welcher der Motor 11 eine entweder als Permantmagnet oder aus Weicheisen gefertigte kotorplatte verdreht, Jurch die eine im Abstand davun befindliche und inn^ri-alb der Meßküvette 8 angeordnete Kupplungsplatte rotierend angetrieben wird, die ebenfalls aus Weicheisen oder Permanentmagnetmaterial bestehen kann.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (2)

  1. Patentansprüche:
    !.Optisches Analysengerät mit
    a) einer Lichtquelle zur Erzeugung eines Meßlichtbündels,
    b) einer von dem Meßlichtbündel durchsetzten und ein zu untersuchendes Fluid enthaltenden Küvette,
    c) einem Detektor zur Erfassung des durch die Küvette getretenen Lichts,
    d) einem Chopper in Form eines plattenförmigen Elements, das an einer in der Plattenebene liegenden und senkrecht zum Meßlichtbündel ausgerichteten rotierbaren Welle befestigt ist,
    dadurch gekennzeichnet, daß
    e) das plattenförmige Element (12) innerhalb der Küvette (8)
    angeordnet ist.
  2. 2. Optisches Analysengerät nach Anspruch I1 dadurch gtdcennzeichnet, daß die Welle (10) des plattenförmigen Elements (12) über eine Magnetkupplung antreibbar ist
DE2804972A 1977-02-12 1978-02-06 Optisches Analysengerät Expired DE2804972C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1447177A JPS5399985A (en) 1977-02-12 1977-02-12 Optical system apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2804972A1 DE2804972A1 (de) 1978-08-17
DE2804972C2 true DE2804972C2 (de) 1982-05-06

Family

ID=11861962

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2804972A Expired DE2804972C2 (de) 1977-02-12 1978-02-06 Optisches Analysengerät

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4193695A (de)
JP (1) JPS5399985A (de)
DE (1) DE2804972C2 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006019770A1 (de) * 2006-04-28 2007-10-31 Exner Process Equipment Ohg Optischer Sensor

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4398801A (en) * 1981-05-14 1983-08-16 Mcwilliams Roy A Detonator-activated ball shutter
FR2531535B1 (fr) * 1982-08-03 1985-08-30 Onera (Off Nat Aerospatiale) Procede et dispositif de dosage de faible teneur de composants gazeux
JPS6041850U (ja) * 1983-08-30 1985-03-25 株式会社 堀場製作所 ガス分析計
US4866681A (en) * 1988-03-09 1989-09-12 Mine Safety Appliances Company Photo-acoustic detector
DE4413670C2 (de) * 1993-04-21 1998-02-12 Palocz Andresen Michael Dr Ing Infrarot-Gasanalysator
US5498873A (en) * 1994-11-15 1996-03-12 Tif Instruments, Inc. Refrigerant impurity analyzer
JPH0996560A (ja) * 1995-09-29 1997-04-08 Shimadzu Corp 電磁波チョッパ
DE10104556A1 (de) * 2001-02-01 2002-02-07 Siemens Ag Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator
US9004454B1 (en) * 2012-04-18 2015-04-14 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Container lift and leveling system
JP6325288B2 (ja) * 2014-03-05 2018-05-16 旭化成エレクトロニクス株式会社 ガス検出装置
GB2628672A (en) * 2023-03-31 2024-10-02 Servomex Group Ltd Method, apparatus and system for compact optical gas absorption measurements

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2058939A (en) * 1932-09-20 1936-10-27 Gen Electric Indicating instrument
US2709751A (en) * 1951-01-17 1955-05-31 Foxboro Co Infrared concentrometer
NL280130A (de) * 1961-06-26
US3414729A (en) * 1964-09-22 1968-12-03 Instr And Communications Inc Phase null spectrophotometer
CH514838A (de) * 1970-04-17 1971-10-31 Jaeger Erich Gerät zur Gasanalyse
DE2065118A1 (de) * 1970-10-27 1972-07-20 Siemens Ag Lichtzerhacker für ein nach dem Zweistrahlprinzip arbeitendes Ultrarot-Gasanalysegerät. Ausscheidung aus: 2052609
US3729264A (en) * 1971-08-09 1973-04-24 Horiba Ltd Analyzer using the rotor of a motor as a light chopper
US3966333A (en) * 1975-02-03 1976-06-29 Baxter Laboratories, Inc. Magnetic stirrer noise cancellation system
DE2524430A1 (de) * 1975-06-03 1976-12-16 Heinz Dr Rer Nat Hummel Betriebsphotometer mit zwei empfaengerschichten

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006019770A1 (de) * 2006-04-28 2007-10-31 Exner Process Equipment Ohg Optischer Sensor

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5399985A (en) 1978-08-31
DE2804972A1 (de) 1978-08-17
US4193695A (en) 1980-03-18
JPS6137574B2 (de) 1986-08-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2804972C2 (de) Optisches Analysengerät
DE19520488C1 (de) Meßvorrichtung zur Infrarotabsorption
DE2642170C2 (de) Spektrophotometer
DE2324049A1 (de) Photometrisches pruefgeraet
DE4443016A1 (de) Gasanalytisches Meßgerät
WO2006002740A1 (de) Nichtdispersiver infrarot-gasanalysator
DE20301081U1 (de) Optischer Gassensor
DE1489658A1 (de) Vorrichtung zur Beschiessung eines Gegenstandes mit einem Elektronenstrahlenbuendel und Verfahren fuer diese Beschiessung zum Zwecke der Emission von Roentgenstrahlen durch diesen Gegenstand
DE2363202C3 (de) Optischer Schnellanalysator
DE3604815C2 (de)
DE2632001C3 (de) Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse
DE2952464C2 (de) Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator
EP0087077A2 (de) Messeinrichtung für die optische Gasanalyse
DE19849597A1 (de) Nephelometrische Detektionseinheit mit optischer In-Prozeß-Kontrolle
DE2430011C3 (de) Zweistrahl-Photometer mit Interferenzfilter
DE4413670C2 (de) Infrarot-Gasanalysator
DE2730731A1 (de) Vorrichtung zur bestimmung der teilchengroessenverteilung eines koernigen gutes
DE1598138C3 (de) Vorrichtung zum Messen der Konzentration von in einem strömenden Gas suspendierten Teilchen, insbesondere des Rußgehaltes der Abgase von Brennkraftmaschinea
DE2031058B2 (de) Analysenzentrifuge
DE3318574A1 (de) Verfahren zur durchfuehrung chemischer analysen
DE3223096A1 (de) Fotoelektrisches verfahren und messgeraet zur bestimmung der konzentration einer gaskomponente
DE1076968B (de) Vorrichtung zum Feststellen von OElnebeln u. dgl. in Gasen
DE2900624B2 (de) Zweistrahl-Gas analysator
EP0168611A2 (de) Fotometer
DD159367B3 (de) Modulationseinrichtung in einem nichtdispersiven analysengeraet

Legal Events

Date Code Title Description
OAP Request for examination filed
OD Request for examination
8125 Change of the main classification
8126 Change of the secondary classification
D2 Grant after examination
8363 Opposition against the patent
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee