DE2430011C3

DE2430011C3 - Zweistrahl-Photometer mit Interferenzfilter

Info

Publication number: DE2430011C3
Application number: DE2430011A
Authority: DE
Inventors: Konrad Dr. 5000 Koeln Bunge
Original assignee: Bayer AG
Current assignee: Bayer AG
Priority date: 1974-06-22
Filing date: 1974-06-22
Publication date: 1978-05-03
Also published as: DE2430011A1; FR2275760B1; DE2430011B2; FR2275760A1; US4017191A; BE830463A; NL7507457A; DK280875A; GB1508068A

Description

Die Erfindung betrifft ein Zweistrahl-Photometer gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruches. Bei Photometern dieser Bauart stimmen der Meß- und der Vergleichsstrahlengang zwar räumlich überein, folgen jedoch zeitlich periodisch aufeinander. Solche Photometer sind insbesondere zur Extinktionsmessung von schwach absorbierenden Proben geeignet, die bei einer Wellenlänge selektiv absorbieren.

Die Konzentrationsbestimmung einer Substanz mit Hilfe der Bestimmung der optischen Absorption bzw. der Transparenz ist in der Meßtechnik bekannt. Der einfachste Fall einer Konzentrationsbestimmung ist in A b b. 1 gekennzeichnet. Es ist die Transmission der Probe über der Wellenlänge dargestellt. Die Einbeulung der Kurve bei λ 0 kennzeichnet eine Absorptionsstelle der gesuchten Substanz. Die in solchen Fällen zur Bestimmung benutzten Anordnungen arbeiten gewöhnlich mit zwei Filtern, die wechselweise in einen Strahlengang gebracht werden. Das eine Filter erzeugt die Meßwellenlänge λ 0, das andere eine Vergleichswellenlänge, die der Meßwellenlänge benachbart ist. Bei der Auswertung wird die Lichtleistung im Meßstrahlengang hinter der Probe mit der entsprechenden Leistung im Vergleichsstrahlengang in Beziehung gesetzt. Dabei wird in der Regel entweder das Verhältnis beider Leistungen gebildet oder ihre Differenz. Eine Anordnung der erwähnten Art ist in der DE-OS 23 51 291 beschrieben.

Wesentlich schwieriger ist die Konzentrationsbestimmung, wenn die Transmissionskurve des Meßgutes der Darstellung in A b b. 2 entspricht. Hier zeigt bereits die Matrix, die die zu bestimmende Substanz enthält, eine Absorption, die nicht vernachlässigt werden kann. Die zu bestimmende Substanz liefert eine zusätzliche Absorption zwischen den Wellenlangen Pi, PO, P2,die in der Transmissionskurve durch die Einbeulung Qi, ζ) 12, Q2 angedeutet ist. In diesem Falle ist es meist nicht mehr ausreichend mit einer Vergleichswellenlänge, etwa der Wellenlänge bei Pl zu arbeiten. Hier kann man den Mittelwert der Transmissionen bei Pi und P2 zum Vergleich heranziehen. Er beträgt im vorliegenden Beispiel

(Q\ + Q2):2 = QQ.

Anordnungen, die nach diesem Verfahren arbeiten, sind beispielsweise in der DT-OS 21 32 458 beschrieben. Der Nachteil der hier beschriebenen Anordnung besteht darin, daß sie mehrere räumlich getrennte Strahlengänge aufweist und damit erheblich komplizierter ist.

Eine andere Lösung der Meßaufgabe besteht darin, daß der Wellenlängenbereich, in dem die Absorption der zu bestimmenden Substanz liegt, kontinuierlich abgetastet wird. Eine Anordnung dieser Art ist in »Applied Optics«, Februar 1969, Vol. 8, Nr. 2, S. 227 und 228, beschrieben. Hier wird ein Interferenzfilter, das in oszillierende Bewegung versetzt wird, zur Abtastung des betreffenden Wellenlängenbereiches verwendet. Die Anordnung hat den Nachteil, daß an den Umkehrpunkten der Bewegung starke Beschleunigungen auftreten, die zu erhöhter Störanfälligkeit führen. Eine andere Lösung wird ermöglicht, durch die Anwendung eines zirkulär variablen Interferenzfilters, wie es beispielsweise in »Optical Spectra«, Mai/Juni 1968, S. 78-83, beschrieben ist. Ein solches Filter ist eine mit Interferenzschichten bedampfte Kreisscheibe, bei der die durchgelassenen Wellenlängen nur von dem Zentriwinkel zwischen der betrachteten Stelle des Filters und einer Nullrichtung abhängt. Eine Anordnung, die mit einem solchen Filter arbeitet, ist in der DT-AS 21 21 202 beschrieben. Ihr Nachteil besteht darin, daß Filter dieser Art schwierig herzustellen und daher kostspielig sind. Überdies ist die Meßwellenlänge und der Abtasibereich bei der in der DE-AS 21 21 202 beschriebenen Anordnung durch das einmal hergestellte Filter endgültig festgelegt. Fällt das Filter beispielsweise wegen Nichteinhaltung der engen Fertigungstoleranzen nicht wie gewünscht aus, so ist es für die Meßaufgabe nicht mehr optimal.

In der DE-AS 21 21 202 wird auch eine Variante beschrieben, bei der ein lineares Interferenzverlauffilter benutzt wird. Hierunter versteht man ein Filter, bei dem die durchgelassene Wellenlänge nur von einer Linearkoordinate abhängt. In der beschriebenen Variante wird jedoch eine oszillierende Bewegung ausgeführt, was die bereits oben beschriebenen Nachteile hat.

Die Aufgabe der Erfindung besteht nun darin, ein einfach aufgebautes und robustes Zweistrahl-Photometer zu entwickeln, das in chemischen Betrieben zur Überwachung von Prozeßströmen eingesetzt werden kann. Dabei soll die Empfindlichkeit so hoch sein, daß auch eine Konzentrationsbestimmung bei sehr schwach absorbierenden Substanzen möglich ist. Die Konzentrationsbestimmung soll auch dann noch möglich sein, wenn störende Fremdsubstanzen vorhanden sind, die im Absorptionsgebiet der gesuchten Substanz ebenfalls stark absorbieren.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit einem Zweistrahl-Photometer gelöst, bei dem die Einrichtung zur Erzeugung des Meß- und des Referenzstrahles aus einem senkrecht von der optischen Achse durchsetzten und um diese Achse drehbar aneeordneten Interferenz-

verlauffilter besteht und die Strahlungsquellenanord-.iung Einrichtungen zur Beleuchtung des Interferenzverlauffilters mit zwei Teilstrahlenbündeln eng begrenzten Querschnittes an zwei bezüglich der optischen Achse symmetrisch liegenden Stellen aufweist »Eng s begrenzt« bedeutet dabei, daß der Durchmesser der Teilstrahlenbündel so klein gewählt werden muß, daß die Wellenlängenauflösung des Interferenzverlauffilters nicht durch den Bündeldurchmesser begrenzt wird. Die maximal zulässigen Bündeldurchmesser lassen sich sehr _Uj leicht experimentell ermitteln. In der Praxis wurde mit Bündeldurchmessern von 2 bis 3 mm gearbeitet.

Vorteilhaft weist die Strahlungsquellenanordnung zwei Lichtquellen auf, die symmetrisch zur optischen Achse in einstellbarem Abstand von dieser Achse is angeordnet sind. Entsprechend ändert sich dann der Abstand der Teilstrahlenbündel am Ort des Interferenzverlauffilters. Dadurch kann der gesamte, vom Interferenzverlauffilter überstrichene Wellenlängenbereich verkleinert oder vergrößert werden.

Gemäß einer bevorzugten Ausführung ist das Interferenzfilter senkrecht zur optischen Achse in Richtung seiner Wellenlängenänderung verschiebbar. Auf diese Weise kann das Zentrum des überstrichenen Wellenlängenbereiches den geforderten Analysenbedingungen angepaßt v% rden.

Das Meßprinzip des rotierenden Interferenzv\ rlauffilters gestattet einen sehr einfachen und kompakten Aufbau des Photometers. Ein besonderer Vorteil ist dabei die leichte Anpassung des Wellenlängenbereichf.s an die jeweiligen Analysenbedingungen. Das Gerät läßt sich also leicht von Fall zu Fall optimieren. Die Absorption von Fremdsubstanzen in der Nähe der Absorptionsstelle der gesuchten Substanz wirkt sich nicht störend aus, wenn als Meßgröße das Verhältnis von Amplitude DS zum Mittelwert S des vom photoelektrischen Empfänger erfaßten Signals benutzt wird (siehe F i g. 6).

Es läßt sich zeigen, daß diese Auswertung näherungsweise der graphischen Auswertung gemäß F i g. 2 (siehe S. 1) entspricht. Voraussetzung ist dabei allerdings, daß die Absorption der Störsubstanzen im Absorptionsgebiet λ 0 der gesuchten Substanz nicht selektiv ist, d. h., die Störsubstanzen dürfen in diesem Gebiet keine ausgesprochene Absorptionsbande haben.

Im folgenden soll die Erfindung anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert werden. Es zeigt

F i g. 1 die Transmissionskurve eines absorbierenden Stoffes ohne Störsubstanzen,

F i g. 2 die Transmissionskurve einer Substanz in Anwesenheit einer im gleichen Gebiet absorbierenden Störsubstanz,

F i g. 3 den optischen Strahlengang des Photometers,

Fig.4 die Wirkungsweise des Interferenzverlauffilters,

Fig. 5a-c den von dem Interferenzverlauf filter in verschiedenen Zeitpunkten einer Meßperiode durchgelassenen Spektralbereich,

F i g. 6 das am Ausgang des Photometers registrierte Signal als Funktion der Zeit bzw. des Drehwinkels α des Interferenzverlauffilters.

Die Fig. 1 und 2 wurden bereits in der Beschreibungseinleitung bei der Erläuterung des Meßprinzips abgehandelt. ds

Die Fig. 3 zeigt den Strahlengang und die wesentlichen Bauelemente des Zweistrahl-Photometers. Die beiden Lichtquellen 1 und 2, z, B, Glühlampen, werden liegen 2.!

mit Hilfe der Linse 3 auf das Interferenzverlauffilter 4 abgebildet und erzeugen dort die Bilder Y bzw. 2'. Dies läßt sich auch so ausdrücken, daß die Linse 3 zwei den Lichtquellen 1 und 2 entsprechende Teilstrahlenbünde! erzeug', deren Durchmesser am Ort des Interferenzverlauffilters 4 dem Durchmesser der Bilder Γ und 2' entspricht Die aus dem Interferenzfilter austretenden Lichtstrahlen werden dann mit Hilfe der Linse 5 auf den photoelektrischen Empfänger 6 fokussiert Zwischen dem photoelektrischen Empfänger oder Wandler 6 und der Linse 5 befindet sich die mit der zu untersuchenden Probe gefüllte Küvette 7. Eine Absorption in der Küvette 7 macht sich dann durch eine Schwächung des vom photoelektrischen Wandler 6 abgegebenen elektrisehen Signals bemerkbar. Dieses Signal wird verstärkt (Verstärker 7, 8) und anschließend zeitlich registriert (Registriergerät 9). Das Kernstück der gesamten Anordnung ist das Imerferenzveriauffilter 4. Es ist drehbar um die optische Achse angeordnet und rotiert bei Betrieb des Photometers mii einer Frequenz von ca. 50 Hz. Der Antrieb erfolgt zum Beispiel mit einem Synchronmotor (nicht gezeichnet). Zusätzlich kann das Interferenzverlauffilter 4 senkrecht zur optischen Achse in Richtung seiner Wellenlängenänderung verschoben werden. Zu diesem Zweck ist das Interferenzverlauffilter 4 auf einem Schlitten montiert, der mit einem Feintrieb verbunden ist.

Im folgenden wird die Wirkungsweise des Interferenzverlauffilters 4 anhand der Fig.4 und 5 erläutert. Fig. 4 entspricht einem Schnitt durch die optische Anordnung gemäß Fig. 3 in Höhe des Interferenzverlauffilters 4. Die optische Achse durchstößt das Filter 4 im Punkt 10, der als Ursprung des Koordinatensystems mit den Achsen X, K gewählt wird. Das Filter bildet ein Rechteck mit den Kanten 2 X₀ ■ 2 Yo- Die Lage des Filters gemäß Fig. 4 ist so gewählt, daß der Wellenlängenbereich der maximalen Durchlässigkeit von links nach rechts monoton ansteigt bzw. abfällt. Jede Gerade X= const, parallel zur K-Achse entspricht einer bestimmten Durchlaßwellenlänge des Filters. Die kleinste Durchlaßwellenlänge liegt z. B. bei X= — X₀ und die größte bei X= + Xo- Beleuchtet man also das Filter spaltförmig mit weißem Licht parallel zur V-Achse und schiebt das Filter von links nach rechts durch den Lichtstrahl, so ändert sich die Farbe des Lichtes hinter dem Interferenzverlauffilter kontinuierlich von λ( - X₀) zu λ( + X₀).

Interferenzverlauffilter dieser Art sind in neuerer Zeit handelsübliche Bauelemente. Ein solches Filter hat z. B. in Richtung der veränderlichen Wellenlänge ('A'-Richtung in Fig.4) eine Ausdehnung von etwa 15cm, senkrecht dazu ^-Richtung in F i g. 4) eine Ausdehnung von etwa 2,5 cm. Aus diesem Filter wird nun ein Bereich abgetrennt, der in Richtung der veränderlichen Wellenlänge 3 cm lang ist. Es entsteht somit ein rechteckiges Filter der Abmessungen 3 cm χ 2,5 cm. Der darin enthaltene Wellenlängenbereich umfaßt beispielsweise Wellenlängen von 1800 bis 2000 nm, die Halbwertsbreite der Durchlässigkeit ist etwa 100 nm. Die Drehachse liege im Schnittpunkt der Diagonalen des Rechtecks.

In F i g. 4 sind auch die mittels der Optik 3 von den Glühwendeln 1 und 2 entworfenen Bilder Γ, 2' angedeutet.

Die Größe der Bilder und damit auch der Durchmesser der Teilstrahlenbündel am Ort des Interferenzverlauffilters 4 entspricht z. B. einem Lichtfleck von 2 mm χ 2 mm. Die Zentren der Bilder 1' und 2'

IO mm \mn Hof-

n Hof- ΑλΚοα nn*(t*wT** r\^al.i

■ a X* Wl ι IVIIÜW VIIIIVI IU· L-^ (VIII

man dieses Filter kontinuierlich um die optische Achse (senkrecht zur Papierebene in Fig.4), so ergibt sich in wechselnder Folge ein durchgelassener Wellenlängenbereich von 1900nm und eine Kombination der Wellenlängenbereiche von etwa 1966 und 1834 nm. Die > Bandbreite der durchgelassenen Strahlung ist im wesentlichen gleich der für das Filter angegebenen Halbwertsbreite von 100 nm. Sie wird also in diesem Fall durch die Ausdehnung der Bilder 1' und 2' praktisch nicht beeinflußt. Erst bei wesentlich größeren Abmes- ι ο sungen der Lichtflecke, entsprechend einem größeren Durchmesser der Teilstrahlenbündel, würde auch die Halbwertsbreite zunehmen.

Wollte man bei Beibehaltung der mittleren Wellenlänge des Durchlaßbereiches (1900 nm) die Seilenbänder etwa auf 1850 nm und 1950 nm legen, so müßte man die Zentren der Bilder V, 2' auf dem Interferenzverlauffilter im Abstand von 7,5 mm vom Drehzentrum anordnen. Soll die mittlere Wellenlänge geändert werden, so wird das Interferenzverlauffilter in X-Richtung zu kleineren oder größeren Durchlaßwellenlängen hin verschoben.

Gemäß Fig.3 werden die Bilder Γ und 2' bzw. die ihnen entsprechenden Teilstrahlenbündel mit Hilfe von zwei unabhängigen Lichtquellen 1 und 2 erzeugt. Die Lichtströme der Teilstrahlenbündel werden in der Regel einander angeglichen. Dies kann man z. B. durch geeignete Veränderung der Spannungsversorgung von mindestens einer der unabhängigen Glühlampen 1 und 2 oder auch durch optische Schwächung von mindestens einem der beiden Teilstrahlenbündel bewirken. Die Glühlampen 1 und 2 sind so auf einer optischen Bank montiert, daß ihr Abstand von der optischen Achse unter Einhaltung der Symmetrie einstellbar ist. Entsprechend ändert sich dann die Lage der Bilder Γ und 2' auf dem Interferenzverlauffilter 4 und damit die Lage der Seitenbänder. Anstelle von zwei unabhängigen Lichtquellen kann man natürlich auch von einer einzigen Lichtquelle ausgehen und eine Doppellochblende verwenden. In diesem Fall muß der Abstand der beiden Lochblenden von der optischen Achse symmetrisch verstellbar sein.

Im folgenden wird die hinter dem Interferenzverlauffilter 4 auftretende spektrale Lichtleistung P bei einer Beleuchtung mit weißem Licht gemäß F i g. 3 näher untersucht. In den Fig.5a—5c ist die Durchlässigkeit des Interferenzverlauffilters 4 für 3 verschiedene Winkelstellungen (<x = 0, α = 30°, a. = 90°) als Funktion der Wellenlänge aufgetragen. Bei der Stellung λ = 0 liegen die Bilder Γ und 2', wie in Fig.4 gezeichnet übereinander. Es wird nur eine Wellenlänge λ 0 (genauer ein Wellenlängenbereich um λ 0) durchgelassen, da das Interferenzverlauffilter 4 nur längs der Geraden X=O beleuchtet wird (siehe F i g. 4). Dagegen liegen bei der Stellung «=90° die Bilder 1' und 2' bei X= +do und X=-do- Das Filter läßt nun zwei Wellenlängen λ 1 und Λ 2 durch, entsprechend den beiden Feldern X= +da und X= —da auf dem Interferenzverlauffilter. Bei der Drehung des Filters von ä=0 bis «=90° ändert sich der Verlauf der spektralen Verteilung kontinuierlich von annähernd monochromatischem Licht (F i g. 5a) zu annähernd bichromatischem Licht (F i g. 5c). Dazwischen liegen Obergangsbereiche, wie sie z. B. mit «=30° in F i g. 5b dargestellt sind. Bei der kontinuierlichen Drehung wird in jede Umdrehungsperiode zweimal der Wellenlängenbereich gemäß Fig.5a und zweimal der Bereich gemäß Fig.5c durchlaufen. Diese Wellenlängenmodulation bildet die Grundlage für das hier beschriebene Zweistrahl-Photometer mit zeitlich aufeinanderfolgen dem Meßstrahl und Vergleichsstrahl. Die Wellenlänge des Meßstrahles liegt im Absorptionsgebiet λ 0 der zi untersuchenden Substanz. Der Vergleichsstrahl enthäl die beiden Wellenlängen λ 1 und λ 2, die außerhalb de: Absorptionsgebietes λ 0 liegen.

Das durch das Interferenzverlauffilter 4 wellenlän genmodulierte Licht durchsetzt die mit der gasförmiger bzw. flüssigen Probe gefüllte Küvette 7 und erzeugt irr photoelektrischen Wandler 6 ein elektrisches Signal, da; mit einem breitbandigen Gleichspannungsverstärker ί verstärkt und mittels des Schreibers 9 zeitlich registrier wird. Die Fig.6 zeigt eine solche Registrierung. Di« zeitliche Registrierung ist äquivalent mit der Darslel lung als Funktion des Drehwinkels «. Das gemessen« elektrische Signal setzt sich zusammen aus einei

DS
Wechselspannung mit der Amplitude , und einen-

Gleichstromanteil S. Das Verhältnis der Amplitude Di des Signals zu seinem Mittelwert 5 ist nun ein Maß füi die Konzentration der gesuchten Substanz. Dies läßi sich anhand von F i g. 2 verstehen. Der Wellenlängenbereich des Interferenzverlauffilters sei bezüglich λ 1 um Λ 2 so an die Absorption der zu untersuchenden Prob« angepaßt, daß λ 1, λ 0 und λ 2 mit den Punkten Pi, PC und P2 übereinstimmen. Licht mit den Wellenlängen λ 1 und λ 2 (Drehwinkel a = 90°, siehe Abb. 5c) erzeugi dann im Empfänger ein Signal, das proportional ist zurr Mittelwert der beiden Transparenzen

Q\.P\ + Q2,~P2

= ö 12. PO .

An den Stellen λ 1 und λ 2 hat die mit der Störsubstan; vermischte Probe die höchste Transparenz; da: erzeugte elektrische Signal durchläuft die Maximaiwer te in F i g. 6.

Die Minimalwerte in Fig.6 gehören jeweils zu der Wellenlängen AO, an denen die Transparenz vor Probe + Störsubstanz am niedrigsten ist (siehe Fi g. 2) Die Transparenz hat in diesem Fall den Wert PO, QO Bei der Erläuterung von F i g. 2 auf S. 1 wurde bereit: darauf hingewiesen, daß das Verhältnis von PO, QQ zi PO, Qii näherungsweise proportional zur gesuchter Konzentration ist. Das Meßprinzip des neuen Zwei strahl-Photometers erlaubt demnach eine direkt« Konzentrationsbestimmung aus dem registrierten Si gnal. Die Verhältnisbildung wird z. B. elektronisch mi Hilfe einer Dividierschaltung vorgenommen. Fernei kann anstelle eines Linear-Verstärkers 8 ein Regelver stärker verwendet werden, dessen Verstärkung sich se einregelt, daß der Mittelwert 5 stets konstant bleibt Dann kann die Amplitude DS direkt als Meßgrößi verwendet werden. Die Auswertung ist in diesem FaI besonders einfach. Der geschilderte Zusammenhang zwischen Konzentration der Meßprobe und Ausgangs signal am Photometer gilt nur näherungsweise. Übe: einen größeren Konzentrationsbereich muß das Photo meter in jedem Fall empirisch eingeeicht werden.

Bei der Beschreibung von F i g. 3 wurde erwähnt, dal die Leistung der den Bildern 1', 2' entsprechende] Teilstrahlenbündel in der Regel gleich groß gewähl wird. In manchen Fällen kann es aber zweckmäßig seir mit unterschiedlichen Leistungen zu arbeiten, insbeson dere die eine Leistung zu 0 zu machen. Dieser Fall kam beispielsweise eintreten, wenn nur die auf einer Seit der Meßwellenlänge liegenden WeDeniängenbereichi

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benutzt werden sollen oder können. Bei dieser Variante wird das Meßprinzip des Photometers nicht verlassen. Man muß nur das anhand der F i g. 1 und 2 beschnebene Auswerteverfahren etwas modifizieren.

Die nachfolgende Zusammenstellung zeigt die zahlreichen Vorteile des neuen Zweistrahl-Photometers:

1. Das neue Meßprinzip erlaubt einen einfachen und kompakten Aufbau des Gerätes, so daß das Photometer zur kontinuierlichen automatischen Analyse von gasförmigen oder flüssigen Prozeßströmen benutzt werden kann.

2. Die Wellenlänge λ 0, bei der gearbeitet werden soll, kann leicht innerhalb gewisser Grenzen variiert werden. Dazu ist es nur erforderlich, das Interferenzveriauffüter 4 in Richtung der X-Achse (siehe F i g. 4) geringfügig zu verschieben. Diese Veränderung der Meßwellenlänge ist besonders wichtig, weil sich oft erst im Laufe des Betriebes herausstellt, bei welchen Wellenlängen optimal gemessen werden kann.

3. Die Differenz der beiden Vergleichswellenlängen Λ 1 und Λ 2 kann ebenfalls innerhalb eines gewissen Bereiches frei gewählt werden. Dazu ist nur erforderlich, die Bilder Γ und 2' in Richtung der /-Achse entsprechend zu justieren, bzw. den Abstand der Lichtquellen 1 und 2 voneinander entsprechend einzustellen.

4. Es ist bei diesen Photometern leicht möglich, verschiedene Exemplare eines Gerätetyps so einzujustieren, daß an dem gleichen Meßgut gleiche Meßwerte erhalten werden. Dies ist selbst dann noch möglich, wenn die in den verschiedenen Exemplaren verwendeten Interferenzverlauffilter rechtmerklich in ihrem spektralen Verhalten voneinander abweichen.

5. Ein Temperaturgang wirkt sich auf Meßwellenlänge und Vergleichswellenlängen nahezu gleich aus. Temperatureffekte haben daher in erster Näherung keinen Einfluß auf den Meßwert.

6. Beim Übergang von der Meßwellenlänge zu den Vergleichswellenlängen tritt keine plötzliche Veränderung des Signals auf. Bei den bisher verwendeten Zweistrahl-Photometern mit Filtern ergeben sich beim Wechsel von Meß- zum Vergleichsstrahlengang Stoßstellen, die zu Störungen Anlaß geben können.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims

24 30 Oil Patentansprüche:

1. Photometer mit einer Strahlungsquellenanordnung, einer Einrichtung zur periodisch wechselweisen Erzeugung eines Meßstrahls einer probenspezifischen Wellenlänge und eines Referenzstrahls einer unspezifischen Wellenlänge, einem von Meß- und Referenzstrahl beaufschlagten Strahlungsdetektor und einer an diesen angeschlossenen Auswerteschal- ι ο tung, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Erzeugung des Meß- und des Referenzstrahls aus einem senkrecht von der optischen Achse (tO) durchsetzten und um diese Achse drehbar angeordneten Interferenzverlauffilter (4) besteht und daß die Strahlungsquellenanordnung Einrichtungen (1, 2, 3) zur Beleuchtung des Interferenzverlauffilters (4) mit zwei Teilstrahlenbündeln (V, 2') eng begrenzten Querschnitts an zwei bezüglich der optischen Achse (10) symmetrisch liegenden Stellen aufweist.

2. Photometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlungsquellenanordnung zwei Lichtquellen (1, 2) aufweist, die symmetrisch zur optischen Achse (10) in einstellbarem Abstand von dieser Achse angeordnet sind.

3. Photometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Interferenzverlauffilter (4) senkrecht zur optischen Achse (10) in Richtung seiner Wellenlängenachse verschiebbar ist.