DE2430011A1 - Zweistrahl-photometer mit interferenzfilter - Google Patents
Zweistrahl-photometer mit interferenzfilterInfo
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Description
Zentralbereich Patente. Marken und Lizenzen
509 Leverkusen. Bayerwerk
Ki/VS Zweistrahl-Photometer mit Interferenzfilter
— — 2 1. Juni 1974
Die Erfindung betrifft ein Zweistrahl-Photometer mit einer Anordnung zur Aussonderung eines Wellenlängen be reiches für
den Meßstrahlengang und eines anderen Wellenlängenbereiches für den Vergleichsstrahlengang. Dabei stimmen der Meß- und
der Vergleichsstrahlengang zwar räumlich überein, folgen jedoch zeitlich periodisch aufeinander. Photometer dieser Bauart
sind insbesondere zur Extinktionsmessung von schwach absorbierenden Proben geeignet, die bei einer Wellenlänge
selektiv absorbieren.
Die Konzentrationsmessung mit Hilfe der Bestimmung der optischen Absorption bzw. Transparenz ist in der Meßtechnik
bekannt. Gemäß Fig. 1 ist z. B. die mit einem konventionellen Zweistrahl-Photometer gemessene Transmission einer Probe
als Funktion der Wellenlänge aufgetragen. Die Probe soll hier in reinem Zustand vorliegen, d. h., es sind keine Störsubstanzen
vorhanden, die zu einer zusätzlichen Absorption führen. In diesem Fall ist der bei^O gemessene Transmissionswert TO bereits ein Maß für die gesuchte Konzentration.
Schwieriger wird die Bestimmung der Konzentration, wenn zusätzlich eine absorbierende Störsubstanz vorhanden iet. Mit
dem Photometer wurde z. B. das in Fig. 2 dargestellte Spektrum registriert. Die störende Absorption einer Fremdsubstanz
macht sich durch ein Absinken der Tranparenz zu großen Wellenlängen hin bemerkbar. Die Auswertung einer derartigen
Registrierkurve geht ζ. B. in folgender Weise vor sich: Auf der ^X -Achse werden in den Punkten PO = (/^°» °)» sowie
den Punkten P1 = (9V.1, 0),Ρ2=(λ2, 0) die Senkrechten
errichtet, die die Transmissionsk.= vt "n QO schneiden
mögen. Die Verbindungsgerac* PO, QO schneide weiter die
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Gerade Q1, Q2 in Q 12. Dann ist das Verhältnis der
Strecken PO, QO zu PO, Q*?. ein Maß für die gesuchte Konzentration. Dieses Verfahren hat sich als Labormeßmethode
bewährt. Die Übertragung in die betriebliche Meßtechnik stößt jedoch auf Schwierigkeiten, wenn das Photometer
z. B. zur direkten Überwachung von Prozeßströmen in der chemischen Produktion eingesetzt werden soll. Als Gründe
hierfür werden die geringen Abtastgeschwindigkeiten bei der Aufnahme des Spektrumsund der große Zeitaufwand bei der Auswertung
der Transmissionskurve genannt. Zudem sind die handelsüblichen Zweistrahl-Photometer meist große diffizile Geräte,
die sich nicht als Betriebsmeßgeräte eignen. Als dispersive Elemente werden optische Gitter oder Prismen benutzt,
mit denen der gesamte Wellenlängenbereich durchgefahren wird.
Die Aufgabe der Erfindung besteht nun darin, ein einfach aufgebautes
und robustes Zweistrahl-Photometer zu entwickeln, das in chemischen Betrieben zur Überwachung von Prozeßströmen
eingesetzt werden kann, Dabei soll die Empfindlichkeit so hoch sein, daß auch eine Konzentrationsbestimmung bei sehr
schwach absorbierenden Substanzen möglich ist. Die Konzentrationsbestimmung soll auch dann noch möglich sein, wenn
störende Fremdsubstanzen vorhanden sind, die im Absprptionsgebiet der gesuchten Substanz ebenfalls stark absorbieren.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit einem Zweistrahl-Photometer
gelöst, bei dem die Anordnung zur Aussonderung der Wellenlängenbereiche aus einem Interferenzverlauffilter
besteht, das senkrecht zur optischen Achse und um diese drehbar angeordnet ist, und der Strahlengang am Ort des Interferenzfilters
durch zwei eng begrenzte Teilstrahlenbündel gebildet wird, die symmetrisch zu beiden Seiten der optischen
Achse liegen. "Eng begrenzt" bedeutet dabei, daß der Durchmesser der Teilstrahlenbündel so klein gewählt werden muß,
daß die Wellenlängenauflösung des Interferenzverlauffilters
nicht durch den Bündeldurchmesser begrenzt wird. Die maximal zulässigen Bündeldurchmesser lassen sich sehr leicht "experimentell
ermitteln. In der Praxis wurde mit Bündeldurchmessern
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von 2 bis 3 Millimetern gearbeitet.
Vorteilhaft wird, das Photometer mit zwei Lichtquellen ausgerüstet,
deren Abstand voneinander senkrecht zur optischen Achse variierbar ist. Entsprechend ändert sich dann der Abstand
der Teilstrahlenbündel am Ort des Interferenzverlauffilters. Dadurch kann der gesamte vom Interferenzverlauffilter
überstrichene Wellenlängenbereich verkleinert oder vergrößert werden.
Gemäß einer bevorzugten Ausführung ist das Interferenzfilter senkrecht zur optischen Achse in Richtung seiner Wellenlängenänderung
verschiebbar angeordnet. Auf diese Weise kann das Zentrum des überstrichenen Wellenlängenbereiches den geforderten
Analysenbedingungen angepaßt werden.
Entsprechend einer weiteren Entwicklung der Erfindung ist das Photometer mit einer Einrichtung ausgestattet, die eine
periodische Verschiebung des Interferenzfilters gestattet. Das Interferenzverlauffilter oszilliert bei dieser Ausführung
in Richtung seiner Wellenlängenänderung. Dadurch wird die Anordnung besonders unempfindlich gegenüber Justierfehlern.
Außerdem kann man hierbei sofort erkennen, ob die Anordnung gut oder-schlecht justiert ist.
Das Meßprinzip des rotierenden Interferenzverlauffilters gestattet einen sehr einfachen und kompakten Aufbau des
Photometers ο Ein besonderer Vorteil ist dabei die leichte Anpassung des Wellenlängenbereiches an die jeweiligen Analysenbedingungen.
Das Gerät läßt sich also leicht von Fall zu Fall optimieren. Die Absorption von Fremdsubstanzen in der
Nähe der Absorptionsstelle der gesuchten Substanz wirkt sich nicht störend aus, wenn als Meßgröße das Verhältnis von Amplitude
DS zum Mittelwert S des vom photoelektrischen Empfänger erfaßten Signales benutzt wird (siehe Fig. 6).
Es läßt sich zeigenρ daß diese Auswertung näherungsweise
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der graphischen Auswertung gemäß Fig. 2 (siehe S. 1 )
entspricht. Voraussetzung ist dabei allerdings, daß die Absorption der Störsubstanzen im Absorptionsgebiet λ0 der gesuchten
Substanz nicht selektiv ist, d. h., die Störsubstanzen dürfen in diesem Gebiet keine ausgesprochene Absorptionsbande
haben.
Im folgenden soll die Erfindung anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert
werden. Es zeigen
Fig. 1 die Transmissionskurve eines absorbierenden Stoffes ohne Störsubstanzen;
Fig. 2 die Transmissionskurve einer Substanz in Anwesenheit einer im gleichen Gebiet absorbierenden
Störsubstanz;
Fig. 3 den optischen Strahlengang des Photometers; Fig. 4 die Wirkungsweise des Interferenzverlauffilters;
Fig. 5 a - c
den von dem Interferenzverlauffiter in verschiedenen Zeitpunkten einer Meßperiode durchgelassenen
Spektralbereich;
Fig. 6 das am Ausgang des Photometers registrierte
Signal als Funktion der Zeit bzw. des Drehwinkels cCdes Interferenzverlauffilters und
Fig. 7 die Auswertung des Keßsignales bei der Ausführung mit oszillierendem Interferenzverlauf filter.
Die Fig. 1 und 2 wurden bereits in der Beschreibungseinleitung bei der Erläuterung des Meßprinzips abgehandelte
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Die Fig. 3 zeigt den Strahlengang und die wesentlichen Bauelemente des Zweistrahl-Photometers. Die beiden Lichtquellen
Ϊ und 2, z. B. Glühlampen, werden mit Hilfe der Linse 3 auf das Interferenzverlauffilter 4 abgebildet und
erzeugen dort die Bilder 1» bzw. 2' . Dies läßt sich auch
so ausdrücken, daß die Linse 3, 2 den Lichtquellen 1 und entsprechende Teilstrahlenbündel erzeugt, deren Durchmesser
am Ort des Interferenzverlauffilters 4 dem Durchmesser der Bilder 1' und 2' entspricht. Die aus dem Interferenzfilter
austretenden Lichtstrahlen werden .dann mit Hilfe der Linse
5 auf den photoelektrischen Empfänger 6 fokussiert. Zwischen dem photoelektrischen Empfänger oder Wandler 6 und der Linse
5 befindet sich die mit der zu untersuchenden Probe gefüllte Küvette 7. Eine Absorption in der Küvette 7 macht sich dann
durch eine Schwächung des vom photoelektrischen Wandler 6 abgegebenen elektrischen Signales bemerkbar. Dieses Signal
wird verstärkt (Verstärker 7, 8) und anschließend zeitlich registriert (Registriergerät 9). Das Kernstück der gesamten
Anordnung ist das Interferenzverlauffilter 4. Es ist drehbar um die optische Achse angeordnet und rotiert bei Betrieb
des Photometers mit einer Frequenz von ca. 50 Hz. Der Antrieb erfolgt zum Beispiel mit einem Synchronmotor
(nicht gezeichnet). Zusätzlich kann das Interferenzverlauffilter 4 senkrecht zur optischen Achse in Richtung seiner
Wellenlängenänderung verschoben werden. Zu diesem Zweck ist das Interferenzverlauffilter 4 einschließlich seines Antriebes
auf einem Schlitten montiert, der mit einem Feintrieb verbunden ist.
Bei einer modifizierten Ausführung, die im folgenden noch besprochen wird, wird der Feintrieb durch einen motorisch
angetriebenen Exzenter ersetzt, so daß der Drehbewegung des Interferenzverlauffilters eine oszillatorische Bewegung
senkrecht zur optischen Achse überlagert werden kann.
Im folgenden wird die Wirkungsweise des Interferenzverlauffilters
4 anhand der Fig. 4 und 5 erläutert. Fig. 4 entspricht einem Schnitt durch die optische Anordnung gem.
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Fig. 3 in Höhe des Interferenzverlauffilters 4. Die optische
Achse durchstößt das Filter 4 im Punkt 10, der als Ursprung des Koordinatensystemes mit den Achsen X, Y gewählt
wird. Das Filter bildet ein Rechteck mit den Kanten 2 X . 2 Y . Die Lage des Filters gem. Fig. 4 ist so gewählt,
daß aer Wellenlängenbereich der maximalen Durchlässigkeit von links nach rechts monoton ansteigt bzw.
abfällt. Jede Gerade X = const, parallel zur Y-Achse entspricht einer bestimmten Durchlaßwellenlänge des Filters.
Die kleinste Durchlaßwellenlänge liegt z. B. bei X = -X0
und die größte bei X = +XQ. Beleuchtet man also das Filter
spaltförmig mit weißem Licht parallel zur Y-Achse und schiebt das Filter von links nach rechts durch den Lichtstrahl,
so ändert sich die Farbe des Lichtes hinter dem Interferenzverlauf filter kontinuierlich von λ (-X ) zu\(+Xo).
Interferenzverlauffilter dieser Art sind in neuerer Zeit handelsübliche Bauelemente und werden z. B. von der Firma
Schott (Mainz) unter der Bezeichnung VERIL IB 200 vertrieben.
Ein solches Filter hat z. B, in Richtung der veränderlichen Wellenlänge (X-Richtung in Fig. 4) eine Ausdehnung
von etwa 15 cm, senkrecht dazu (Y-Richtung in Fig. 4)eine Ausdehnung von etwa 2,5 cm. Aus diesem Filter wird nun ein
Bereich abgetrennt, der in Richtung der veränderlichen Wellenlänge 3 cm lang ist. Es entsteht somit ein rechteckiges
Filter der Abmessungen 3 cm χ 2,5 cm. Der darin enthaltene Wellenlängenbereich umfaßt beispielsweise Wellenlängen von
1.800 bis 2.000 nm, die Halbwertsbreite der Durchlässigkeit ist etwa 100 nm.. Die Drehachse liege im Schnittpunkt der
Diagonale des Rechtecks.
In Fig. 4 sind auch die mittels der Optik 3 von den Glühwendeln 1 und 2 entworfenen Bilder 1 ·, 2 * angedeutet.
Die Größe der Bilder unddamit auch der Durchmesser der Teilstrahlenbündel am Ort des Interferenzverlauffilters 4
entspricht z. B. einem Lichtfleck von 2 mm χ 2 mm. Die
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Zentren der Bilder 1' und 2 'liegen z. B. jeweils 10 mm von
der Achse entfernt. Dreht man dieses Filter kontinuierlich um die optische Achse (senkrecht zur Papierebene in Fig. 4),
so ergibt sich in wechselnder Folge ein durchgelassener Wellenlängenbereich von 1.900 nm und eine Kombination der
Wellenlängenbereiche von etwa 1.966 und 1.834 nm. Die Bandbreite
der durchgelassenen Strahlung ist im wesentlichen gleich der für das Filter angegebenen Halbwertsbreite von
100 nm. Sie wird also in diesem Fall durch die Ausdehnung der Bilder 1>
und 2! praktisch nicht beeinflußt. Erst bei wesentlich größeren Abmessungen der Lichtflecke,entsprechend
einem größeren Durchmesser der Teilstrahlenbündel,würde auch die Halbwertsbreite zunehmen.
Wollte man bei Beibehaltung der mittleren Wellenlänge des Durchlaßbereiches (1.900 nm) die Seitenbänder etwa auf 1.850
nm und 1.950 nm legen, so müßte man die Zentren der Bilder 1's 2l auf dem Interferenzverlauffilter im Abstand von 7,5 mm
vom Drehzentrum anordnen. Soll die mittlere Wellenlänge geändert werden, so wird das Interferenzverlauffilter in X-Richtung
zu kleineren oder größeren Durchlaßwellenlängen hin verschoben.
Gemäß Fig. 3 werden die Bilder 1' und 2' bzw. die ihnen entsprechenden
Teilstrahlenbündel mit Hilfe von zwei unabhängigen Lichtquellen 1 und 2 erzeugt. Die Lichtströme der Teilstrahlenbündel
werden in cfer Regel einander angeglichen. Dies kann man z. B, durch geeignete Veränderung der Spannungsversorgung
von mindestens einer der unabhängigen Glühlampen 1 und 2 oder auch durch optische Schwächung von mindestens
einem der beiden Teilstrahlenbündel bev/irken. Die Glühlampen
1 und 2 sind so auf einer optischen Bank montiert, daß ihr Abstand von der optischen Achse unter Einhaltung der Symmetrie
einstellbar ist» Entsprechend ändert sich dann die Lage
der Bilder 1' und 2' auf dem Interferenzverlauffilter 4 und
damit die Lage der Seitenbändero Anstelle von zwei unabhängigen
Lichtquellen kann man natürlich auch von einer einzigen
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Lichtquelle ausgehen und eine Doppellochblende verwenden. In diesem Fall muß der Abstand der beiden Lochblenden von
der optischen Achse symmetrisch verstellbar sein.
Im folgenden wird die hinter dem Interferenzverlauffilter 4
auftretende spektrale Lichtleistung P bei einer Beleuchtung mit weißem Licht gem. Abb. 3 näher untersucht. In den Abbildungen
5 a - 5 c ist die Durchlässigkeit des Interferenzverlauffilters 4 für 3 verschiedene Winkelstellungen (oCf O,
>X.= 30°,oC= 90°) als Funktion der Wellenlänge aufgetragen.
Bei der StellungdC= 0 liegen die Bilder 1 ' und 2 ', wie in
Fig. 4 gezeichnet, übereinander. Es wird nur eine Wellenlänge XO (genauer ein Wellenlängenbereich umXo) durchgelassen, da
das Interferenzverlauffilter 4 nur längs der Geraden X=O beleuchtet wird (s. Fig. 4). Dagegen liegen bei der Stellung
Λ= go0 die Bilder 1 ' und 2 ' bei X = 4d und X = -d . Das
Filter läßt nun zwei WellenlängenAi und /V-2 durch, entsprechend
den beiden Feldern X = +d o und X = -do auf dem Interferenzverlauffilter.
Bei der Drehung des Filters vonoC= 0 bis °^= 90° ändert sich der Verlauf der spektralen Verteilung kontinuierlich
von annähernd monochromatischem Licht (Abb. 5a) zu annähernd bichromatischem Licht (Abb. 5 c). Dazwischen
liegen Übergangsbereiche, wie sie z. B. xnitcC= 30° in Abb. 5 b
dargestellt sind. Bei der kontinuierlichen Drehung wird in jede Umdrehungsperiode zweimal der Wellenlängenbereich gem.
Abb. 5 a und zweimal der Bereich gem. Abb. 5 c durchlaufen.
Diese Wellenlängenmodulation bildet die Grundlage für das hier beschriebene Zweistrahl-Photometer mit zeitlich aufeinander
folgendem Meßstrahl und Vergleichsstrahl. Die Wellenlänge des Meßstrahles liegt im AbsorptionsgebietXO der zu untersuchenden
Substanz. Der Vergleichsstrahl enthält die beiden Wellenlängen Λ iundA 2, die außerhalb des Absorptionsgebietes \0
liegen.
Das durch das Interferenzverlauffilter 4 wellenlängenmodulierte Licht durchsetzt die mit der gasförmigen bzw. flüssigen
Probe gefüllte Küvette 7 und erzeugt im photoelektrischen Wandler 6 ein elektrisches Signal, das mit einem breit-
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bandigen Gleichspannungsverstärker 8 verstärkt und mittels
des Schreibers 9 zeitlich registriert wird. Die Fig. 6 zeigt eine solche Registrierung. Die zeitliche Registrierung ist
äquivalent mit der Darstellung als Funktion des Drehwinkels -^C Das gemessene elektrische Signal setzt sich zusammen aus
einer Wechselspannung mit der Amplitude DiJ. und einem
Gleichstromanteil S. Das Verhältnis der Amplitude DS des Signales zu seinem Mittelwert S ist nun ein Maß für die Konzentration
der gesuchten Substanz. Dies läßt sich anhand von Fig. 2 verstehen. Der Wellenlängenbereich des Interferenzverlauffilters
sei bezüglich^ 1 und <* 2 so an die Absorption der zu untersuchenden Probe angepaßt, daß Λ1,?Ο und λ2 mit
den Punkten P1, PO und P2 übereinstimmen. Licht mit den Wellenlängen λΐ und /\.2 (Drehwinkels= 90° s. Abb. 5 c) erzeugt
dann im Empfänger ein Signal, das proportional ist zum Mittelwert der beiden Transparenzen Q1, Pi + Q2 , P 2 _
Q12 , PO? An den Stellen λΐ und Xz hat die mit der Störsubstanz
vermischte Probe die höchste Transparenz; das erzeugte elektrische Signal durchläuft die Maximalwerte· in
Fig. 6.
Die Minimalwerte in Fig. 6 gehören je\ : .Is zu den Wellenlängen
\0, an denen die Transparenz von Probe + Störsubstanz
am niedrigsten ist (s. Fig. 2). Die Transparenz hat in diesem Fall den Wert PO, QO. Bei der Erläuterung von Fig. 2 auf
S.1 wurde bereits darauf hingewiesen, daß das Verhältnis von
PO, QO zu PO, Q 12 , näherungsweise proportional zur gesuchten Konzentration ist. Das Meßprinzip des neuen Zweistrahl-Photometers
erlaubt demnach eine direkte Konzentrationsbestimmung aus dem registrierten Signal. Die Verhältnisbildung
wird z. B. elektronisch mit Hilfe einer Dividierschaltung vorgenommen. Ferner kann anstelle eines Linear-Verstärkers
8 ein Regelverstärker verwendet werden, dessen Verstärkung sich so einregelt, daß der Mittelwert S stets
konstant bleibt. Dann kann die Amplitude DS direkt als V^Q-größe
verwendet werden. Die Auswertung ist in diesem Fall besonders einfach. Der geschilderte Zusammenhang zwischen
Konzentration der Meßprobe und Ausgangssignal am Photometer
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gilt nur näherungsweise. Über einen größeren Konzentrationsbereich muß das Photometer in jedem Fall empirisch eingeeicht
werden.
Bei einer verbesserten Ausführung des Photometers wird der Rotationsbewegung des Interferenzverlauffilters 4 eine
Oszillation senkrecht zur optischen Achse in Richtung der Wellenlängenänderung (X-Richtung in Fig. 4)-überlagert.
Die Oszillationsfrequenz ist dabei klein gegenüber der Rotationsfrequenz,
z. B. 0,1 Hz bei einer Rotationsfrequenz von 50 Hz. Die Amplitude der Oszillation liegt in der Größenordnung
von +_ 1,5 mm entsprechend einer Wellenlängenmodulation von + 10 ran. Zu diesem Zweck ist das Interferenzverlauffilter
4 einscniießlich seines Antriebes auf einem senkrecht zur optischen Achse verschiebbaren Schlitten montiert, der
mit einem Reversiermotor oder einem Exzenterantrieb verbunden ist. Die Registrierung dieses Vorganges ist in Fig.
dargestellt. Hier ist gegen die Zeit t das oben definierte Verhältnis DS zu S (s. Fig. 6) aufgetragen. Dieser Wert
schwankt periodisch mit der Oszillationsfrequenz n. Als Meßwerte benutzt man bei dieser Anordnung die Maxima von
DS zu S. Diese modifizierte Anordnung hat den Vorteil, daß sie besonders unempfindlich gegenüber Justierfehlern ist.
Außerdem kann die Justierung leicht überprüft werden.
Bei der Beschreibung von Fig. 3 wurde erwähnt, daß die Leistung der den Bildern 1 ', 2! entsprechenden Teilstrahlenbündel
in der Regel gleich groß gewählt wird. In manchen Fällen kann es aber zweckmäßig sein, mit unterschiedlichen
Leistungen zuarbeiten, insbesondere die eine Leistung zu 0 zu machen. Dieser Fall kann beispielsweise eintreten,
wenn nur die auf einer Seite der Meßwellenlänge liegenden Wellenlängenbereiche benutzt werden sollen oder können.
Bei dieser Variante wird das Meßprinzip des Photometers nicht verlassen. Man muß nur das anhand der Fig. 1 und 2 beschriebene
Auswerteverfahren etwas modifizieren.
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Die nachfolgende Zusammenstellung zeigt die zahlreichen Vorteile des neuen Zweistrahl-Photometers:
1. Das neue Meßprinzip erlaubt einen einfachen und kompakten Aufbau des Gerätes, so daß das Photometer zur
kontinuierlichen automatischen Analyse von gasförmigen oder flüssigen Prozeßströmen benutzt werden kann.
2. Die Wellenlänge ÄO,bei der gearbeitet werden soll,
kann leicht innerhalb gewisser Grenzen variiert werden. Dazu ist es nur erforderlich, das Interferenzverlauffilter
4 in Richtung der X-Achse (s. Fig. 4) geringfügig zu verschieben. Diese Veränderung der Meßwellenlänge
ist besonders wichtig, weil sich oft erst im Laufe des Betriebes herausstellt, bei welchen Wellenlängen
optimal gemessen werden kann.
3. Die Differenz der beiden Vergleichswellenlängen \ 1 und
kann ebenfalls innerhalb eines gewissen Bereiches frei gewählt werden. Dazu ist nur erforderlich, die Bilder 1'
und 2' in Richtung der Y-Achse entsprechend zu justieren, bzw. den Abstand der Lichtquellen 1 und 2 voneinander
entsprechend einzustellen.
4. Es ist bei diesen Photometern leicht möglich, verschiedene Exemplare eines Gerätetyps so einzujustieren, daß an dem
gleichen Meßgut gleiche Meßwerte erhalten werden. Dies ist selbst dann noch möglich, wenn die in den verschiedenen
Exemplaren verwendeten Interferenzverlauffilter rechtmerklich in ihrem spektralen Verhalten voneinander abweichen.
5. Ein Temperaturgang wirkt sich auf Meßwellenlänge und Vergleichswellenlängen
nahezu gleich aus. Temperatureffekte haben daher in erster Näherung keinen Einfluß auf den Meßwert.
Le A 15695 - 11 -
5Ü9882/0556
Beim Übergang von der Meßwellenlange zu den Vergleichswellenlängen tritt keine plötzliche Veränderung des
Signales auf. Bei den bisher verwendeten Zweistrahl-Photometern mit Filtern ergeben sich beim Wechsel von
Meß- zum Vergleichsstrahlengang Stoßstellen, die zu Störungen Anlaß geben können.
Le A 15 695 - 12 -
509882/0556
Claims (4)
1.IZweistrafoL-Photometer zur Extinktionsmessung,insbesondere
von schwach absorbierenden Proben, mit einer Anordnung zur Aussonderung eines Wellenlängenbereiches für den Meßstrahlengang
und eines anderen Wellenlängenbereiches für den Vergleichsstrahlengang, wobei der Meß- und der Vergleichsstrahlengang
räumlich gleich verlaufen und zeitlich periodisch aufeinander folgen, dadurch gekennzeichnet,
daß die Anordnung zur Aussonderung der Wellenlängenbereiche aus einem Interferenzverlauffilter (4) besteht, das senkrecht
zur optischen Achse und um diese Achse drehbar angeordnet ist,und daß der Strahlengang am Ort des Interferenzverlauffilters
(4)durch zwei eng begrenzte Teilstrahlenbündel(1f,
2' )gebildet wird, die symmetrisch zu beiden Seiten der optischen Achse liegen.
2. Zweistrahl-Photometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das Photometer zwei Lichtquellen(1,2) besitzt, deren Abstand voneinander senkrecht zur optischen Achse
unter Einhaltung der Symmetrie variierbar ist.
3. Zweistrahl-Photometer nach Anspruch 1-2, dadurch gekennzeichnet,
daß das Interferenzverlauf filter (4) senkrecht zur optischen Achse in Richtung seiner Wellenlängenänderung
verschiebbar angeordnet ist.
4. Zweistrahl-Photometer nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß das Interferenzverlauffilter(4periodisch verschiebbar
ist.
Le A 15 695 -13-
509882/0556
Priority Applications (7)
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FR (1) | FR2275760A1 (de) |
GB (1) | GB1508068A (de) |
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DE3617123C2 (de) * | 1985-07-04 | 1997-03-20 | Cammann Karl | Verfahren zur Selektivitätsverbesserung spektrometrischer Messungen sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
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- 1975-06-20 US US05/588,750 patent/US4017191A/en not_active Expired - Lifetime
- 1975-06-23 NL NL7507457A patent/NL7507457A/xx unknown
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GB1508068A (en) | 1978-04-19 |
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NL7507457A (nl) | 1975-12-24 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
EHV | Ceased/renunciation |