DE2804678B2 - Verfahren zur Messung eines physikalischen Parameters mittels eines nichtlinearen Meßwertgebers und Vorrichtung zur Abstandsbestimmung - Google Patents

Verfahren zur Messung eines physikalischen Parameters mittels eines nichtlinearen Meßwertgebers und Vorrichtung zur Abstandsbestimmung

Info

Publication number
DE2804678B2
DE2804678B2 DE2804678A DE2804678A DE2804678B2 DE 2804678 B2 DE2804678 B2 DE 2804678B2 DE 2804678 A DE2804678 A DE 2804678A DE 2804678 A DE2804678 A DE 2804678A DE 2804678 B2 DE2804678 B2 DE 2804678B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
values
transducer
output
output signal
parameter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE2804678A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2804678A1 (de
Inventor
Peter Lyss Nopper (Schweiz)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ZUMBACH ELECTRONIC AG ORPUND (SCHWEIZ)
Original Assignee
ZUMBACH ELECTRONIC AG ORPUND (SCHWEIZ)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ZUMBACH ELECTRONIC AG ORPUND (SCHWEIZ) filed Critical ZUMBACH ELECTRONIC AG ORPUND (SCHWEIZ)
Publication of DE2804678A1 publication Critical patent/DE2804678A1/de
Publication of DE2804678B2 publication Critical patent/DE2804678B2/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D3/00Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
    • G01D3/02Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation
    • G01D3/022Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation having an ideal characteristic, map or correction data stored in a digital memory
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/10Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/10Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
    • G01B7/105Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance for measuring thickness of coating
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D18/00Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
    • G01D18/008Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00 with calibration coefficients stored in memory

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Technology Law (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren nach dem Oberbegriff des Anspruchs I bzw. eine Vorrich-■> tung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 2.
Es ist üblich, für einen nichtlinearen Meßwertgeber eine Eichkurve oder Eichtabelle zu erstellen, indem die Geberausgangssignale für in vorgebbar gleichen Schritten, die gegebenenfalls für verschiedene Teile der Eichkurve unterschiedlich vorgegeben sind, fortschreitende Werte des physikalischen Parameters die Geberausgangssignale ermittelt und notiert werden. Bei einer anschließenden Messung eines unbekannten Werts des Parameters kann dieser Wert anhand des >> erhaltenen Gebersignals und des durch die Eichkurve gegebenen Zusammenhangs ermittelt werden.
Demgegenüber liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung zu schaffen, mit denen aus dem nichtlinearen mit der zu jo messenden Größe verknüpften Ausgangssignal eines Meßwertgebers der Wert der gemessenen Größe vollautomatisch und ohne weitere Umrechnung erhalten werden kann.
Diese Aufgabe wird durch die im Kennzeichen des j) Anspruchs 1 bzw. des Anspruchs 2 angegebenen Merkmale gelöst.
Demnach wird also die Eichkurve oder Eichtabelle durch einen Vielkanalspeicher ersetzt und die 3espeicherung dieses Speichers so vorgenommen, daß nicht 4(i die physikalischen Parameter, sondern die ihnen zugehörigen Geberausgangssignale den jeweiligen Speicheradressen zugeordnet werden, was zur Folge hat, daß bei Auftreten eines einer bestimmten Adresse entsprechenden Geberausgangssignals während der s-, eigentlichen Messung der zugehörige Parameterwert direkt und ohne weiteren Aufwand aus der betreffenden Adresse entnommen werden kann.
Die Erfindung wird nun anhand eines Ausführungsbeispiels einer Vorrichtung zur Bestimmung der ,ο Isolationsdicke auf Kabelleitern näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 ein Blockschema der Vorrichtung,
Fig. 2 eine Teilvorrichtung zur Eingabe der Isolationsdickenwerte in einen Speicher zwecks Eichung, v> und
Fig. 3 und 4 Diagramme zur Erläterung der Erfin dung.
Die in Fig. 1 dargestellte Vorrichtung zur Dickenbestimmung weist einen MeRkopf 1 mit einem Meß-M) wertgeber auf, der eine Meßspule 2 auf einem Kern 3 umfaßt. Vor dem Meßkopf 1 mit dem Meßwertgeber befindet sich ein zu prüfendes Kabel mit einer Isolation 4 und einem Kabelleiter 5. Die Meßspule 2 bildet zusammen mit einem Kondensator 6 den frequenzbeb-, stimmenden Schwingkreis eines Meßoszillators, der sich im Meßkopf 1 befindet und nicht näher dargestellt ist. Die Meßfrequenz Fm des Meßoszillators gelangt zu einem Mischer 7, dem eine Festfrequenz Ff
von einem stabilen Oszillator, z. B, Quarzoszillator 8 zugeführt wird. Die Differenzfrequenz Fm-Ff wird einem Frequenzdiskriminator 9 und einem Frequenzteiler 10 mit dem Teilverhältnis η zugeführt. Je nach Stellungeines Schalters 11 wird die Differenzfrequenz Fm-Ff oder die durch η geteilte Differenzfrequenz an einen Frequenz-Spannungs-Wandler 12 geleitet. Das analoge Ausgangssignal des Wandlers 12 gelangt an zwei Verstärker 13 und 14 mit verschiedenen Verstärkungsfaki jren, deren Ausgänge mittels des Schalters 15 wahlweise mit einem Analog-Digital-Wandler 16 verbunden werden können. Die Schalter 11 und 15 werden von einem Relais 42 betätigt, das über einen Schalter 43 wahlweise vom Frequenzdiskriminator 9 oder einer Eichlogik 28 steuerbar ist. Das Ausgangssignal eines der Verstärker 13 und 14 kann über einen Verstärker 17 und einen. Schalter 18 als Regelsignal einem Speicher zugeführt werden, der schematisch als Kondensator 19 dargestellt ist und der auf eine nicht dargestellte variable Kapazität des Meßoszillators wirkt. Die den Verstärker 17, den Schalter 18 und den Kondensator 19 auhveiser.de Schleife dient dem Nullabgleich der Vorrichtung
Der Ausgang A des Analog-Digital-Wandlers 16 ist mit Eingängen eines Komparator 20 und den Adreß-Eingängen eines Vielkanalspeichers 21 verbindbar. Die anderen Eingänge des Komparators 20 sind mit einer Abzählschaltung 22 verbunden, deren Ausgänge ebenfalls mit den Adreß-Eingängen des Speichers 21 verbindbar sind. Der Komparator 20 ist mit seinem Impulsausgang über einem Schalter 29 mit dem Fortschalteingang der Abzählschaltung 22 und mit dem Schreibbefehl-Eingang des Vielkanalspeichers 21 verbunden. Die Ausgänge des Speichers 21 sind mit einer Recheneinheit 23 verbunden, deren Ausgänge eine Anzeige 24 für die Minimaidicken, eine Anzeige 25 für die Maximaldicken, eine Anzeige 26 für die mittlere Dicke der Isolation sowie eine Analoganzeige 27 für die Form der Isolation, also zur Anzeige von Dickenunterschieden, steuern.
WährerJ des Einspeicherns der Beziehung der Werte des physikalischen Parameters, also der Dikkenwerte.zuden daraus resultierenden Frequenzwerten, ist die Eichlogik 28 wirksam und ist der Schalter 29 geschlossen. Der Meßkopf 1 steht auf einem ersten, in Richtung seiner Achse verschiebbaren Schlitten 30 (Fig. T), der bei Verschiebung aus seiner dargestellten Ruhelage nach rechts in Fig. 2 einen Schalter 31 schließt. Der Schlitten 30 ist auf einem /weiten Schlitten 32 gelagert, der seinerseits in Richtung der Längsachse a^s Meßkopfs 1 verschiebbar auf Führungen 33 gelagert ist. Der Schlitten 32 kann mittels eine/ Spindel 34, die in Fig. 1 schematisch ange-(Jeutei ist, durch einen Schrittmotor 35 verschoben werden, wobei jedem Schaltschritt eine bestimmte Längsverschiebung zugeordnet ist. Die Spindel 34 ist durch einen in Fig. 2 dargestellten Balg 36 geschützt. An einem Halter 37 des in Fig. 2 dargestellten Vorrichtungsteils befindet sich in einem Prisma 38 bei der Eichung ein Normkörper, also im Falle der Messung der Schichtdicke der Isolation eines Kabels ein blanker Norm-Kabelleiter 39, dessen Abmessungen und Eigenschaften genau denjenigen des Leiters des zu prüfenden Kabels entsprechen. Auf den Schlitten 30 wirkt eine am Schlitten 32 angreifende, nicht dargestellte Feder, welche den Schlitten 30 nach links in Fig. 2 bis an einen Anschlag zu verschieben trachtet. Zwischen den beider. Schlitten 30 und 32 ist ferner eine Kupplung 40 vorgesehen, welche die beiden Schlitten in beliebiger gegenseitiger Lage starr zu kuppeln gestattet. Diese beim Eichvorgang wirksamen Teile sind in Fig. 1 mit gestrichelten Linien eingefaßt. Mit dem Schrittmotor 35 ist ein Schrittzähler 41 gekoppelt, dessen Stellungen als zu speichernde Werte des physikalischen Parameters dem Speicher 21 eingegeben werden.
Der Eichvorgang oder Speichervorgang soll nun anhand der Fig. 3 und 4 erläutert werden, welche die Meßfrequenz Fm bzw. die Differenzfrequenz Fm-Ff in Funktion vom Abstand des Meßwertgebers vom Kabelleiter 5 bzw. Normleiter 39 zeigen. Ei ist angenommen, im nutzbaren Meßbereich betrage die Meßfrequenz Fm zwischen 824 und 810 kHz für den Abstandsbereich von 2,00 bis 6,30 mm zwischen dem Meßkopf mit dem Meßwertgeber 1 und dem Leiter 5 bzw. 39. Wird dieser Bereich in acht gleichmäßig abgestufte Frequenzen eingeteilt, so ergeben sich acht zugeordnete Abstände des Meßkopfs 1 vom Leiter, und diese Frequenzen ergeben dl·· Adressen und die Abstande die Daten, die im Speicher 21 eingespeichert werden. Es ergib: sich folgende Tabelle von Adressen und Daten:
Af>esse Stand des Daten
Abzählers 22 (phys. Parameter)
824 7 2,0
822 6 2,1
820 5 2,3
818 4 2,5
816 3 2,8
814 2 3,2
812 1 4,2
810 0 6,3
Diese nur zur Illustration gewählte Einteilung ist natürlich zu grob. Tatsächlich kann der Meßbereich viel feiner eingeteilt werden, z. B. in 1024 Schritte. Beim Messen wird nun wieder der Speicher mit den er-nittelten Frequenzwerten adressiert und die zugehörigen Daten werden gelesen und gelangen an die Rechnungseinheit 23, welche die Anzeigen 24 liis 27 steuert.
Vor Beginn der Speicherung wird ein Abgleich vorgenommen. Zu diesem Zwecke wird der Meßkopf 1 in so großem Abstand von einem Meß- oder Nonnobjekt gehalten (Stellung extrem rechts), daß keine Beeinflussung erfolgt. Für diesen Zustand wird die Frequenz Fm des Meßoszillators auf einen vorbestimmten Nullwert gebracht. Man kann daher auch von einem Nullabgleich sprechen.
Hierauf werden die beiden Schlitten 30 und 32 in Fig. 2 gemeinsam nach links verschoben, bis der Meßkopf 1 auf den Normlciter 39 iiuftrifft und .stehen bleibt. Da der Schlitten 32 weiter narh links verschoben wird, gleitet der Schlitten 30 auf demselben nach rechts, bis der Schalter 31 geschlossen wird. Nun fährt man mit dem Schlitten 32 wieder nach rechts zurück, bis der Schalter 31, der eine gewisse Hysterese aufweist, gerade wieder geöffnet wird. In dieser Stellung wird nun die Kupplung 40 aktiviert und die beiden Schlitten 30 und 32 werden starr gekuppelt. Im gleichen Moment wird der Schrittzähler 41 auf »0« gesetzt. Mit diesen vorbereitenden Vorgängen ist das Spiel zwischen der Spindel 34 und dem Schlitten 32 für die weiteren Messungen aufgehoben.
Gesteuert durch den Schrittmotor werden nun die gekuppelten Schlitten 32 und 30 und damit der Meßkopf 1 vom Normleiter 39 schrittweise entfernt. Die Stellung des Schrittmotors bzw. der erreichte Abstand des Meßkopfs 1 vom Normleiter 39 wird laufend über den Zähler 41 als digitale Information dem Speicher 21 zugeleitet. Der Schalter 43 ist nach unten umgelegt und die Eichlogik erregt über denselben das Relais 42, so daß die Schalter 11 und 15 nach unten umgelegt sind. Die Meßfrequenz Fm gelangt an den Mischer 7 und die Differenzfrequenz Fm-Ff über den Frequenzteiler 10 und den nach unten umpelegtcn Schalter 11 an den Wandler 12. Das analoge Ausgangssignal des Wandlers 12 gelangt über den Verstärker 14 mit geringerer Verstärkung und den nach unten gelegten Schalter i5 an den Wandler 16. Auch der Schalter 29 ist geschlossen. Der Ausgang des Analog-Digital-Wandlers 16 gelangt an den Komparator 20 und die Abzahischaitung 22 ist auf einen Wert eingesteiit, der etwas unter dem Ausgangswert des Wandlers 16 zu Beginn der Eichung liegt. Sobald nun aber infolge der allmählichen E-lntfernung des Meßkopfs 1 vom Norinleiter 39 am Ausgang des A/D-Wandlers 16 ein Wert erscheint, der gerade unter dem eingestellten Anfangswert der Abzählschaltung 22 liegt, gibt der Komparator 20 über den Schalter 29 einen Impuls als Zählimpuls an die Abzählschaltung 22 und als Schreibimpuls an den Speicher 21 ab. Der Abstand des Meßkopfes vom Leiter liegt in Form der Zahl von Schritten des Schrittmotors im Zähler 41 vor. Der Zählwert des Zählers 41, also die Daten, wird an der Adresse, die der resultierenden Frequenz entspricht, gespeichert. Die Abzählschaltung wird um einen Schritt nach unten gestellt, und sobald die Information am Ausgang des A/D-Wandlers 16 wieder unter die Information am Ausgang der Abzählschaltung sinkt, gelangt ein neuer Impuls an den Speicher 21 und den Abzähler 22.
In dieser Weise werden alle Adressen und Daten im ganzen interessierenden Meßbereich erfaßt. Wie Fig. 4 zeigt, wird hierbei infolge der Frequenzteilung und der geringen Verstärkung im Verstärker 14 auf einer Kurve I gearbeitet, die strichpunktiert dargestellt ist und die flacher verläuft als die die Differenzfreqiienz Fm-Ff darstellende Kurve 0. Der Bereich, in welchem eine Speicherung überhaupt stattfindet, ist nun aber durch Grenzwerte bestimmt, die in Fig. 4 durch die Abszisse und die Linie G gegeben sind. Für den in diesem Bereich liegenden Teil der Kurve I wird in einen ersten, ebenfalls mit I bezeichneten Bereich des Speichers 21 eingespeichert. Der Bereich I des Speichers wird dabei bestimmt durch die von der Eichlogik über den Schalter 43 an den Speicher gelangende Information.
Nach der in dieser Weise erfolgten Speicherung des Bereiches I, der dem Abschnitt der Kurve I zwischen der Abszisse und der Linie G in Fig. 4 entspricht, wird die Speicherung im ganzen Bereich nochmals mit anderen Bedingungen durchgeführt. Die Eichlogik schaltet hierbei das Relais 42 um, so daß die Schalter 11 und 15 in die dargestellte Ruhelage zurückgehen. Die Differenzfrequenz Fm-Ff gelangt nun direkt an den Eingang des Frequenz-Spannungs-Wandlers 12, und das Ausgangssignal dieses Wandlers wird im Verstärker 13 verstärkt, der einen höheren Verstärkungsfaktor aufweist als der Verstärker 14. Das von der Eichlogik 28 über den Schalter 43 an den Speicher gelangende Signal aktiviert einen zweiten Speicherbe-
reich II. dem gemäß Fig. 4 eine gegenüber der Kurve der Differenzfrequenz steiler verlaufende Eichkurve II entspricht, die in Fig. 4 gestrichelt dargestellt ist. Wie oben beschrieben, erfolgt nun wieder beim Wegfahren des Meßkupfs 1 vom Normleiter 39 eine Speicherung im Speicher 21, und zwar nur in einem wirksamen, zwischen der Abszisse und der Linie G in Fig. 4 liegenden Bereich. Die Speicherbereiche überlappen sich an ihrer Grenze etwas, d. h. die in diesem Bereich liegenden Meßwerte und Positionen des Meßkopfs sind in beiden Speicherteilen I und Il gespeichert und können dort wahlweise abgerufen werden.
Zum Messen wird der Meßkopf 1 gemäß Fig. I dem zu prüfenden Kabel 4, 5 angenähert. Bei Anlage am Kabel gleicht der Abstand des Meßkopfs 1 vom Leiter 5 des Kabels der Dicke der Kabelisolation 4. Die auftretende Frequenz Fm des Meßoszillators resuiiieri aus diesem Anstand. Nach Bedarf wiiu viii der Messung der oben erwähnte Nullabgleich bei unbeeinflußtem Meßwertgeber vorgenommen. Für die Messung wird dann der Schalter 43 in die dargestellte Stellung gelegt und der Schalter 29 geöffnet. Das Relais 42 und die Bereiche des Speichers werden somit jetzt vom Frequenzdiskriminator 9 gesteuert und der Komparator 20 ist unwirksam. Während der Messung stellt der Frequenzdiskriminator 9 fest, ob die Differenzf.dquenz Fm-Ff dem Bereich I oder II entspricht. Werden kleine Isolationsdicken gemessen und befindet man sich somit im Bereich I, so gibt der Frequenzdiskriminator 9 eine entsprechende Information ab, welche das Relais 42 erregt und die Schalter 11 und 15 umlegt, so daß mit beschränkter Empfindlichkeit gemessen wird. Der Bereich I des Speichers wird wirksam. Die der Messung entsprechenden Ausgangsinformationen des A/D-Wandlers 16 gelangen an die Adreß-Eingänge des Speichers und die zugeordneten Daten werden vom Speicherausgang an die Recheneinheit 23 übertragen, die die Anzeigen 24 bis 27 steuert. Gelangt man bei der Messung in den Bereich II für größere Isolationsdicken, so desaktiviert der Frequenzdiskriminator 9 durch Ausgabe einer entsprechenden Information das Relais 42, so daß die Schalter 11 und 15 die dargestellten Stellungen einnehmen, und der Speicher wird auf Bereich II umgeschaltet. Dank der Überlappung der Bereiche I und II muß der Frequenzdiskriminator niehl bei einer genau bestimmten Frequenz umschalten; er kann eine gewisse Hysterese aufweisen, so daß z. B. die Umschaltung beim Übergang vom Bereich I zum Bereich II am unteren Ende des Bereiches I stattfindet, während die Umschaltung von Bereich II auf Bereich I am oberen Ende des Bereiches II erfolgt.
Die Eichung durch Speicherung der Daten ist nui einmal erforderlich. Bei späteren Messungen ist höchstens noch ein neuer Nullabgleich erforderlich. Die Aufteilung des ganzen Meßbereiches in Teilbereiche mit unterschiedlicher Meßempfindlichkeit erlaubt es im ganzen Meßbereich mit etwa gleichen Schritten zi speichern und damit über den ganzen Meßbereich eir praktisch gleiches Auflösungsvermögen bei optimale! Ausnützung des Speichers zu erzielen. Es kann eine Aufteilung in mehr als zwei Meßbereiche erfolgen also mit mehr als zwei Vorgaben der innerhalb jede; Meßbereichs gleichen Betragsschritte der Frequeni beim Eichen.
In Abwandlung vom beschriebenen Beispiel können mit dem beschriebenen Verfahren z. B. auch
Wandstärken von Rohren gemessen werden, in welchem Falle im Rohr dn leitender Körper anzuordnen ist, der auf den Meßwertgeber 1· einwirkt, oder Isolationsschichtdicken auf Blech ermittelt werden.
Mit Hilfe der Auswertung in der Recheneinheit 23 können bei der Herstellung isolierter Kabel oder von Kunststoffrohren jederzeit die durchschnittliche
Schichtdicke und damit der Materialverbrauch direkt ermittelt und eventuelle Korrekturen sofort vorgenommen werden, indem man den Meßkopf zur Ermittlung der Schichtdicke schrittweise an mehrere Stellen, z. B. acht Stellen am Umfang des Kabels oder Rohres, anlegt und die Meßergebnisse speichert und mit Hilfe der Anzeigen 24 bis 27 gemäß Fig. 1 anzeigt.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (5)

Patentansprüche:
1. Verfahren zur Messung eines physikalischen Parameters mittels eines nichtlinearen Meßwertgebers, bei dem
a) bekannte Werte des Parameters eingestellt werden,
b) diese Werte zusammen mit den jeweils zugehörigen Werten des Ausgangssignals des Meßwertgebers registriert werden,
c) unbekannte Werte des Parameters anhand des registrierten Zusammenhangs zwischen bekannten Parameterwerten und den zugeordneten Werten des Ausgangssignals ermittelt werden,
dadurch gekennzeichnet, daß
d) die bekannten Werte des Parameters so gewählt werden, daß sich die zugehörigen Werte des Ausgangssignals um gleiche, vergebhare Beträge unterscheiden,
e) die bekannten Werte des Parameters in den einzelnen, jeweils durch die zugehörigen Werte des Ausgangssignals adressierten Kanäle eines elektronischen Vielkanalspeichers gespeichert werden,
f) ein zunächst unbekannter Wert des Parameters durch Abfragen desjenigen Kanals ermittelt wird, dessen Adresse dem Wert des Ausgangssignals des Meßwertgebers in diesem Fall entspricht.
2. Vorrichtung zur Bestimmung des Abs.tands eines Meßkopfs von eine^ Objekt mit
a) einem im Meßkopf enthaltenen nichtlinearen Meßwertgeber,
gekennzeichnet durch
b) eine Einrichtung (34, 35, 41) zur Überführung des Meßkopfes (1) in eine Anzahl von jeweils unterschiedlichen bekannten Abständen zum Objekt entsprechenden Positionen und zur Erzeugung von diesen Positionen jeweils zugeordneten Abstandssiignalen,
c) einen elektronischen Vielkanalspeicher (21) zur Einspeicherung der einzelnen Abstandssignale in jeweils von den zugehörigen Ausgangssignalen des Meßwertgebers bestimmten Kanälen, und
d) eine Schaltung zur Auslesung eines Kanals bei Auftreten des diesem Kanal zugeordneten Ausgangssignals des Meßwertgebers.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein Komparator (20) vorgesehen ist, der eingangsseitig an den Ausgang des Meßwertgebers und den Ausgang einer Abzählschaltung (22) angeschlossen und ausgangsseitig mit dem Fortschalteingang der Abzählschaltung (22) sowie dem Schreibeingang des Vielkanalspeichers (21) verbindbar ist, und daß der Adresse ncingang dos Vielkanalspeichers (21) wahlweise an den Ausgang der Abzählschaltung (22) oder den Ausgang des Meßwertgebers anschließbar ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder ί, dadurch gekennzeichnet, daß der Meßwertgeber mit einer Verstärkerschaltung (13, 14, 15) zur umschnltbaren Verstärkung seines Ausgangssignals verschen ist, und daß ein Schaltkreis (9, 211, 42) zur Umschaltung von einem Bereich (i) des Vielkanalspeichers (21) auf einen anderen Bereich (H) synchron mit der Verstärkungsumschaltung vorgesehen ist.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Überführung des Meßkopfes (1) einen Schrittmotor (35) und einen Schrittzähler (41) umfaßt.
DE2804678A 1977-02-08 1978-02-03 Verfahren zur Messung eines physikalischen Parameters mittels eines nichtlinearen Meßwertgebers und Vorrichtung zur Abstandsbestimmung Ceased DE2804678B2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH148077A CH615503A5 (de) 1977-02-08 1977-02-08

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2804678A1 DE2804678A1 (de) 1978-08-10
DE2804678B2 true DE2804678B2 (de) 1979-11-22

Family

ID=4211453

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2804678A Ceased DE2804678B2 (de) 1977-02-08 1978-02-03 Verfahren zur Messung eines physikalischen Parameters mittels eines nichtlinearen Meßwertgebers und Vorrichtung zur Abstandsbestimmung

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4181961A (de)
AU (1) AU3286478A (de)
BE (1) BE863532A (de)
CA (1) CA1097815A (de)
CH (1) CH615503A5 (de)
DE (1) DE2804678B2 (de)
FR (1) FR2379800A1 (de)
GB (1) GB1595682A (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3138046A1 (de) * 1980-09-26 1982-04-29 Terumo Corp., Tokyo Messgeraet, verfahren zu seiner herstellung und verfahren zum einschreiben von daten in ein solches messgeraet
DE3128095A1 (de) * 1981-07-16 1983-02-03 Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt "verfahren zur digitalen korrektur des zusammenhanges zwischen einem digitalen eingangssignal und einem digitalen ausgangssignal sowie schaltungsanordnung zur durchfuehrung dieses verfahrens"
DE3516303A1 (de) * 1985-05-07 1986-11-13 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Verfahren zur transformation der signalcharakteristik eines sensorsignals

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2439975A1 (fr) * 1978-10-23 1980-05-23 Otdel Fiz Nerazrushajuschego Dispositif pour la mesure d'epaisseurs de revetements
US4292588A (en) * 1978-12-18 1981-09-29 Schlumberger Technology Corporation Electromagnetic inspection tool for ferromagnetic casings
DE2948337C2 (de) * 1979-10-11 1983-07-21 Maag-Zahnräder & -Maschinen AG, 8023 Zürich Schaltungsanordnung zum Festlegen der Grenzen einer Meßstrecke eines Zahnflankenprüfgerätes
DE3024716C2 (de) * 1980-06-30 1986-10-23 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Digitales Längen- oder Winkelmeßsystem
DE3036830A1 (de) * 1980-09-30 1982-04-15 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Laengen- oder winkelmesseinrichtung
FR2509851A1 (fr) * 1981-07-17 1983-01-21 Tesa Sa Capteur electronique de mesure
DE3404720A1 (de) * 1984-02-10 1985-08-14 Karl Deutsch Prüf- und Meßgerätebau GmbH + Co KG, 5600 Wuppertal Verfahren und vorrichtung zur schichtdickenmessung
FI70485C (fi) * 1984-10-26 1986-09-19 Vaisala Oy Maetningsfoerfarande foer impedanser saerskilt smao kapacitanser vid vilket man anvaender en eller flera referenser
JPS61137011A (ja) * 1984-12-06 1986-06-24 Dainippon Screen Mfg Co Ltd エンコ−ダ出力の精度向上方法
IT1183974B (it) * 1985-11-26 1987-10-22 Iveco Fiat Metodo e apparecchiatura per rilevare dei parametri connessi con la tempra di pezzi metallici
FR2611894A1 (fr) * 1987-02-26 1988-09-09 Thomson Semiconducteurs Dispositif electronique de mesure d'angle
US5258931A (en) * 1988-07-08 1993-11-02 Parker-Hannifin Corporation Precision electronic absolute and relative position sensing device and method of using same
DE3826698A1 (de) * 1988-08-05 1990-02-08 Wacker Chemitronic Verfahren und vorrichtung zur kontrolle des schnittverlaufes beim abtrennen von scheiben von nichtmagnetisierbaren werkstuecken
US4970670A (en) * 1988-11-30 1990-11-13 Westinghouse Electric Corp. Temperature compensated eddy current sensor temperature measurement in turbine blade shroud monitor
US5485082A (en) * 1990-04-11 1996-01-16 Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg Method of calibrating a thickness measuring device and device for measuring or monitoring the thickness of layers, tapes, foils, and the like
US5142284A (en) * 1990-04-25 1992-08-25 Tektronix, Inc. Sample and hold with intermediate reset voltage outside of the magnitude range of the input
US5185635A (en) * 1990-04-25 1993-02-09 Tektronix, Inc. Method of calibrating and controlling the optical power output of an OTDR
GB9208190D0 (en) * 1992-04-11 1992-05-27 Elcometer Instr Ltd Measuring instrument
US8286081B2 (en) * 2009-04-30 2012-10-09 Apple Inc. Editing and saving key-indexed geometries in media editing applications
CN103471641B (zh) * 2013-09-03 2015-12-23 中国科学技术大学 一种电涡流传感器的温度漂移自动校正方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1305091A (de) * 1969-04-23 1973-01-31
US3662163A (en) * 1970-08-04 1972-05-09 Gen Electric Digital signal linearizer
US3790910A (en) * 1972-04-21 1974-02-05 Garrett Corp Conditioning circuit and method for variable frequency sensor
US3808525A (en) * 1972-06-22 1974-04-30 A Ott Thickness measuring device for indicating the mean value of a pre-set number of measurements of the thickness of a layer
DE2317023B2 (de) * 1973-04-05 1980-08-07 Bodenseewerk Geraetetechnik Gmbh, 7770 Ueberlingen Schaltungsanordnung zur Linearisierung des Zusammenhangs zwischen dem Ausgangssignal eines Meßgebers und einer MeBgröße
DD105060A1 (de) * 1973-06-05 1974-04-05
US3878457A (en) * 1973-11-16 1975-04-15 Wayne E Rodgers Thin film thickness measuring apparatus using an unbalanced inductive bridge
AT353888B (de) * 1975-11-03 1979-12-10 Siemens Ag Digitale schaltungsanordnung zur linearisierung nichtlinearer geberkennlinien
DE2703932A1 (de) * 1976-02-02 1977-09-01 Perkin Elmer Corp Verfahren und vorrichtung zur fehlerkorrektur

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3138046A1 (de) * 1980-09-26 1982-04-29 Terumo Corp., Tokyo Messgeraet, verfahren zu seiner herstellung und verfahren zum einschreiben von daten in ein solches messgeraet
DE3128095A1 (de) * 1981-07-16 1983-02-03 Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt "verfahren zur digitalen korrektur des zusammenhanges zwischen einem digitalen eingangssignal und einem digitalen ausgangssignal sowie schaltungsanordnung zur durchfuehrung dieses verfahrens"
DE3516303A1 (de) * 1985-05-07 1986-11-13 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Verfahren zur transformation der signalcharakteristik eines sensorsignals

Also Published As

Publication number Publication date
CH615503A5 (de) 1980-01-31
DE2804678A1 (de) 1978-08-10
US4181961A (en) 1980-01-01
BE863532A (fr) 1978-05-29
FR2379800A1 (fr) 1978-09-01
GB1595682A (en) 1981-08-12
AU3286478A (en) 1979-08-09
CA1097815A (en) 1981-03-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2804678B2 (de) Verfahren zur Messung eines physikalischen Parameters mittels eines nichtlinearen Meßwertgebers und Vorrichtung zur Abstandsbestimmung
DE2253189C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur maschinellen Kontrolle der Farbdichte von auf eine laufende Bahn aufgebrachten Druckfarben
DE3115544A1 (de) Blattzahldetektor
DE2245961A1 (de) Schaltungsanordnung mit filter
WO1985000257A1 (en) Method and circuitry for reading the signal to be detected according to the signal value and independently from the frequency range
DE2339839A1 (de) Verfahren zur messung der impulsfolgefrequenz und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens
DE19939669A1 (de) Vorrichtung zum Feststellen der Vollständigkeit eines Gebindes
DE2917539C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung von Ungänzen
DE2455440C3 (de) Verifizierungsanordnung für ein bestimmtes Impulsmuster
DE2137126A1 (de) Verfahren zur Abtastung eines vor gegebenen Prozentsatzes von Signalen aus einer Signalfolge mit unterschiedlicher Amplitude
DE1296254B (de) Anordnung zum Eichen der Pegelanzeige eines selektiven Pegelmessers
DE2621087C3 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zum Umwandeln einer analogen Größe in eine digitale Größe
DE2851000B2 (de) Vorrichtung zur gleichzeitigen Aufzeichnung mehrerer Eingangssignale in Abhängigkeit von einem gemeinsamen Parameter
DE2420195C3 (de) Vorrichtung zur Kompensation von Walzenexzentrizitäten und Walzenunrundheit
DE2747333B2 (de) Meßverfahren und Meßeinrichtung zur Erfassung der elektroakustischen Eigenschaften von Magnetbändern
DE2641795C3 (de) Vorrichtung zum Messen und Regeln von Drücken bzw. Differenzdrücken
DE1466222C3 (de) Verfahren zur Erhöhung der Einstellgenauigkeit eines Überlagerungsempfängers mit digitaler Anzeige
DE2400285C2 (de) Auswerteeinrichtung für frequenz- oder periodendaueranaloge Meßsignale
DE4120861C2 (de) Stellweg-Meßeinrichtung
DE2047870C3 (de) Mit Zeitmodulation arbeitendes Datenaufbereitungssystem
DE2110616C3 (de) Meßgerat mit automatischer Meß bereich Umschaltung
DE2633497A1 (de) Vielfach-aufzeichnungsvorrichtung
DE19704257B4 (de) Verfahren zur Bestimmung der momentanen Position einer bewegten Folie, vorzugsweise an einer Verpackungsmaschine
DE3524594A1 (de) Verfahren und anordnung zur messung der relativen lage von farbmarkenimpulsen, bezugsimpulsen und austastsignalen fuer die registerregelung
DE2744890A1 (de) Verfahren zum abgleich einer messwertuebertragung und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens

Legal Events

Date Code Title Description
OAP Request for examination filed
OD Request for examination
BI Miscellaneous see part 2
8235 Patent refused