DE2803149C2 - Verfahren zum Ausmessen von Härteprüfeindrücken in Materialoberflächen sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents
Verfahren zum Ausmessen von Härteprüfeindrücken in Materialoberflächen sowie Einrichtung zur Durchführung des VerfahrensInfo
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Description
20
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Ausmessen von Härteprüfeindrücken in Materialoberflächen.
Es ist grundsätzlich bekannt, einen Härteprüfeindruck nach einem optoelektronischen Verfahren auszumessen.
Entlastete Prüfeindrücke können z. B. nach einem aus der DE-OS 23 31 124 bekannten Verfahren ausgemessen werden,
bei dem Licht in einer vorgegebenen Richtung auf eine, einen Härteprüfeindruck enthaltende Oberfläche
auflallt, wobei die vom Härteprüfeindruck reflektierten Anteile des Lichtes jeweils in andere Richtungen umgelenkt
werden, als die von der ungestörten Oberfläche reflektierten Anteile. Dies wird ausgenutzt, um ein Bild
der ungestörten Oberfläche zu erzeugen mit dem Härteprüfeindruck als Dunkelzone. Dieses Bild wird dann ausgemessen,
beispielsweise durch Abtastung der einzelnen Bildelemente.
Es ist weiterhin bekannt, bei derartigen Verfahren zur Kontrastverstärkung ein schräg auf die entlastete Materialoberfläche
auftreffendes Bündel aus farbigem Licht zu verwenden (DE-PS 602 066), oder das auffallende Lichtbündel
durch einen durchsichtigen Eindringkörper hindurch senkrecht auf die belastete Materialoberfläche
zu richten (DE-OS 1648494). Es ist auch bekannt (GB-PS 5 07 737), einen Eindringkörper an der Frontlinse
des Objektivs eines Meßmikroskops anzuordnen.
Ein Nachteil dieser bekannten Verfahren besteht darin, daß ein vergrößertes Bild des Härteprüfeindrucks erzeugt
werden muß. Dies hat zur Folge, daß ein Vergrößerungsfaktor in die Messungen eingeht, der bekannt sein muß,
konstant gehalten und periodisch nachgeprüft werden muß. Weiterhin werden die Abtastwege relativ groß, was
zu Linearitätsproblemen fuhrt. Als weitere Fehlerquellen kommen optische Verzerrungen hinzu, d. h., dte Fläche
des erzeugten Bildes ist nicht notwendigerweise von gleicher Gestalt wie die Fläche des Härteprüfeindruckes.
Es ist auch bekannt, (DE-PS 8 90 575) zur Feststellung, ob der Durchmesser eines Härteprüfeindruckes innerhalb
vorgegebener Toleranzen liegt, eine Vorrichtung zu verwenden, bei der zwei getrennte Lichtbündel schräg auf die
Materialoberfläche gerichtet werden und die jeweils reflektierten Lichtbündel durch Fotozellen aufgefangen
werden. Bei entsprechender Ausrichtung der auffallenden Lichtbündel kann aus der Tatsache, ob beide Lichtbündel
reflektiert werden oder nicht, daraufgeschlossen werden, ob der Durchmesser des Prüfeindruckes innerhalb der
vorgegebenen Toleranz liegt oder nicht.
Eine genaue Ausmessung des Härteprüfeindruckes ist mit dieser bekannten Vorrichtung aber nicht durchführbar.
Es ist schließlich in der US-PS 3822 946 ein Verfahren
beschrieben, bei dem ein konzentriertes Lichtbündel auf die zu prüfende Oberfläche gerichtet wird, dessen Durchmesser
am Auftreffpunkt auf die zu prüfende Oberfläche klein gegen den Durchmesser des Prüfeindruckes ist und
das in einer senkrecht zur zu prüfenden Oberfläche stehenden Ebene so bewegt wird, daß die Bahn des sich
über die Oberfläche bewegenden Lichtfleckes den Prüfeindruck
vollständig überquert und die Intensität des in einen vorgegebenen Winkelbereich reflektierten Lichtes
bestimmt wird, wobei die bei Überschreiten einer Randlinieid.es
Prüfeindruckes auftretende Intensitätsänderung zur Markierung des Anfangs- und Endpunktes eines Abschnitces
der Bewegung dient, der dem Abstand zweier Randpunkte des Prüfeindruckes entspricht und die Länge
dieses Abschnittes bestimmt wird. Bei diesem bekannten Verfahren wird zur Messung das Licht ausgenutzt, das
von der den Prüfeindruck umgebenden Oberfläche des zu prüfenden Werkstückes reflektiert wird. Die Rauhigkeit
der den Prüfeindruck umgebenden Oberfläche erzeugt im reflektierten Licht einen schwankenden Intensitätsverlauf,
der eine genaue Längenmessung außerordentlich schwierig und aufwendig macht. Hinzu kommt, daß aufgrund
des schrägen Einfalls des beleuchtenden Lichtbündels der vom Mittelbereich des Prüfeindruckes erzeugte
Lichtreflex gegen den Eindrucksmittelpunkt seitlich verschoben ist, wodurch die elektronische Auswertung des
Eindrucksdurchmessers zusätzlich erschwert wird.
Zusätzlich ergibt sich bei dem bekannten Verfahren, verursacht durch den um den Prüfeindruck herum bei dessen
Erzeugung entstehenden Randwulst, ein Intensitätsabfall in der Nähe der beiden Randlinien des Prüfeindrukkes,
was zusätzliche Probleme bei der Auswertung zur Folge hat. Schließlich treten bei dem bekannten Verfahren
als ungünstige Folge des Schrägeinfalles des abtastenden Lichtbündels Vielfach-Reflexionen im Prüfeindruck auf,
die Störlicht zur Folge haben, so daß bei bestimmten kritischen Durchmessern, die aus einer einfachen mathematischen
Beziehung abgeleitet werden können, eine Messung überhaupt nicht mehr möglich ist.
Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe bestand darin, ein Verfahren zum Ausmessen von Härteprüfeindrücken
in Materialoberflächen der letztgenannten und im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 angegebenen Art so
zu verbessern, daß es bei geringem apparativem Aufwand zu sehr genauen Meßergebnissen führt, unabhängig von
der Form und von kritischen Durchmessern des Prüfeindruckes, von auftretenden Randwülsten, von der Krümmung
und Rauhigkeit der Materialoberfläche sowie von der zentrischen Lage des Prüfeindruckes zum Abtastsystem
und das ohne bildformende Optik auskommt, frei von veränderlichen optischen Parametern ist und auch so
aufgebaut werden kann, daß Messungen während der Belastung des Härteprüfeindruckes möglich sind.
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt erfindungsgemäß mit den Merkmalen aus dem kennzeichnenden Teil des
Patentanspruchs 1.
Vorteilhafte Ausfuhrungsformen des erfindungsgemäßen Verfahrens sind Gegenstand der Unteransprüche.
Der Durchmesser des auf die zu prüfende Oberfläche gerichteten Lichtbündels bzw. des Lichtfleckes richtet sich
nach der Größe des auszumessenden Prüfeindruckes. Um eine hinreichende Meßgenauigkeit zu erzielen, muß ein
geeignetes Verhältnis von Lichtfleckdurchmesser zu Eindruckdurchmesser oder besser ein entsprechendes Ver-
hältnis der Lichtfleckfläche zur Eindrucksfläche gewählt
werden. Im allgemeinen dürfte hier ein Flächenverhältnis von 1:100 ausreichend sein. Wenn die Fläche des Härteprüfeindrucks
relativ klein (0,01 bis 0,1 mm2) ist, empfiehlt
es sich, eine Lichtquelle, die ein leicht konvergentes Bündel monochromatischen, kohärenten Lichtes liefert, beispielsweise
einen Laser mit Strahlaufweiter und Sammellinse zu verwenden, mit dessen Hilfe sich ohne großen
technischen Aufwand über eine größere Strecke Lichtbündel mit einem halben Öffnungswinkel von 1° und
Lichtfleckdurchmesser unter 50 μτη erzeugen lassen. Bei
einer solchen Lichtquelle ist der Abstand der zu prüfenden Oberfläche von der Lichtquelle nicht mehr kritisch.
Es sind dann keine optischen Zusatzeinrichtungen zur Scharfeinstellung erforderlich.
Bei größeren Flächen des Härtepriifeindrucks (1 bis
10 mm") kann selbstverständlich auch mit gewöhnlichem, inkohärentem Licht ein hinreichend kleiner Lichtfleck
erzeugt werden.
Zur Bestimmung der Intensität des reflektierten Lichtes kann ein beliebiges lichtempfindliches Element, z. B. eine
Fotozelle, ein Fotowiderstand, eine Sperrschichtzelle usw., dienen, wobei das lichtempfindliche Element so
angeordnet ist, daß es das vom Prüfeindruck selbst reflektierte Licht aufnimmt. Dabei soll möglichst wenig Streulicht
aus anderen Richtungen auf das lichtempfindliche Element auftreffen.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird davon ausgegangen, daß den bekannten Definitionen für Härteprüfverfahren
im allgemeinen eine Flächenmessung zugrunde liegt. Werden, wie bei der Vickers-Härteprüfung, anstelle
der Eindruckfläche die Diagonalen gemessen, so können sich Unterschiede zwischen der gemessenen und der tatsächlichen
Härte ergeben, die beispielsweise bei astroidischer Eindruckform bis zu 25 %ausmachen. Es wird daher
der gesamte Prüfeindruck abgetastet und die Fläche direkt ausgemessen.
Besonders vorteilhaft ist es (Patentanspruch 2), wenn die Flächenmessung auf eine Zeitmessung zurückgeführt
wird, die in besonders zweckmäßiger Weise mittels Zählung elektrischer Impulse durchgeführt und voll automatisiert
werden kann. Dies wird weiter unten anhand der Ausführungsbeispiele näher erläutert.
Die Flächenmessung nach dem erfindungsgemäßen Verfahren kann sowohl an entlasteten Eindrücken als auch
unter Einwirkung der Prüfkraft durch den Eindringkörper hindurch vorgenommen werden.
Gegenstand der Erfindung ist weiterhin eine Einrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens,
die in ihrem grundsätzlichen Aufbau durch die Merkmale des Patentanspruchs 4 gegeben ist.
Vorteilhafte Ausiuiirungsformen dieser Einrichtung
sind Gegenstand der Patentansprüche 5 bis 14.
Wie sich anhand der Beschreibung der Ausführungsbeispiele zeigen wird, erfordert die Ausübung des erfindungsgemäßen
Verfahrens mit Hilfe einer der erfindungsgemäßen Einrichtungen keine Kalibirierung. Die Messung
ist unabhängig von optischen Vergrößerungen, Verstärkungsfaktoren oder Komponenten, deren Linearität sich
ändern kann.
Weitere Vorteile des erfindungsgemäßen Verfahrens und der erfindungsgemäßen Einrichtung bestehen darin,
daß infolge des senkrechten Einfalls des abtastenden Lichtbündels und der Auswertung des vom Prüfeindruck
selbst reflektierten Lichtes ein glatter Intensitätsverlauf erzeugt wird, da einerseits die Oberfläche des Prüfeindrukkes
aufgrund der plastischen Deformationen glatt ist und andererseits das Licht, das von der umgebenden Oberfläche
reflektiert wird, von den verwendeten Fotodetektoren gar nicht empfangen wird. Weiterhin ist das erfindungsgemäße
Verfahren gegen Änderung in der Höhe des Randwulstes und gegenüber Richtungsfehlern in der horizontalen
Ausrichtung des Lichtbündels unempfindlich. Es ermöglicht somit unter Vermeidung der Nachteile der
bekannten Verfahren eine außerordentlich genaue Ausmessung des Härteprüfeindruckes.
Im folgenden werden anhand der Zeichnungen Ausführungsbeispiele
für das erfindungsgemäße Verfahren und Einrichtungen zur Durchführung dieser Verfahren näher
erläutert.
In den Zeichnungen zeigen:
Fig. 1 einen Vertikalschnitt durch das auf die Material-
Fig. 1 einen Vertikalschnitt durch das auf die Material-
!5 oberfläche aufsetzbare Bauteil einer ersten Ausrührungsform
einer Einrichtung zum Ausmessen der Fläche eines Härteprüfeindrucks;
Fig. 2 den zeitlichen Verlauf der gemessenen Lichtintensität;
Fig. 3 einen Vertikalschnitt analog Fig. 1 bei einer zweiten Ausführungsform einer Einrichtung zum Ausmessen
der Fläche eines Härteprüfeindrucks;
Fig. 4 einen Vertikalschnitt analog Fig. 1 bei einer dritten Ausführungsform;
Fig. 5 in Teildarstellung einen Vertikalschnitt durch ein ringförmiges Bauteil zur Winkelbegrenzung des reflektierten
Lichtbündels;
Fig. 6 einen Vertikalschnitt analog Fig. 1 bei einer vierten Ausführungsform;
Fig. 7 eine schematische Darstellung des mechanischoptischen Teils einer Ausführungsform der Gesamteinrichtung
zur Ausmessung der Fläche eines Härteprüfeindrucks;
Fig. 8 eine Teilseitenansicht der Einrichtung nach Fig. 7;
Fig. 9 ein Blockschaltbild einer Ausführungsform der
Gesamteinrichtung einschließlich des elektrischen Teils.
Im folgenden wird zunächst anhand der Fig. 1 und 2
das Prinzip der Bestimmung der Fläche bzw. des Durchmessers eines Härteprüfeindrucks näher erläutert.
Hierzu ist in Fig. 1 bei einer einfachen Ausführungsform das auf die Materialoberfläche M um den Härteprüfeindruck
E herum aufgesetzte, zylindrische, rohrförmige Bauteil 1 dargestellt, durch dessen Inneres ein, von einer
nicht dargestellten Lichtquelle, beispielsweise einem Laser, ausgehendes, schmales, leicht konvergierendes
Lichtbündel geführt ist, das in Fig. 1 durch einen einzigen Strahl A 1, A 2, A 3 in drei verschiedenen Positionen
des Bündels symbolisiert ist. Das Lichtbündel durchläuft vor seinem Eintritt in das Bauteil 1 eine nicht dargestellte
Vorrichtung, durch welche es in Richtung des Pfeiles X und in der Richtung Y, d. h. senkrecht zu X und senkrecht
zur Zeichenebene ablenkbar ist. Es trifft dann senkrecht auf die Materialoberfläche M auf, und seine Verschiebung
erfolgt parallel zur Materialoberfläche, so daß Winkelfehler ausgeschlossen sind. Die Materialoberfläche soll innerhalb
des Härteprüfeindrucks E mindestens nahezu spiegelnd sein, so daß das einfallende Bündel regulär reflektiert
wird, eine Bedingung, die bei den meisten Metallen gut erfüllt ist. Innerhalb des Härteprüfeindrucks £auftreffende
Strahlen A 1 bzw. A2 werden von der Oberfläche des Kegel- oder Pyramideneindrucks schräg zur Einfallsrichtung
reflektiert und erreichen eine an der Innenwand des Bauteils 1 in der Nähe des Austrittsendes angeordnete,
lichtempfindliche Schicht 2, beispielsweise einer Fotozelle, eines Fotowiderstandes oder einer Sperrschichtzelle.
Der lichtempfindlichen Schicht 2 kann eine Streuschicht 3 vorgelagert sein, um eine Verteilung des
auftrefTenden Lichtes auf eine möglichst große Fläche zu
erzielen. Die lichtempfindliche Schicht 2 ist über eine Leitung 9 elektrisch mit der nicht dargestellten Auswertevorrichtung
verbunden.
Außerhalb des Härteprüfeindrucks E auftreffende Strahlen A 3 werden bei hinreichend glatter Oberfläche
hauptsächlich in sich selbst reflektiert und verlassen das Bauteil 1 ohne auf die lichtempfindliche Schicht 2 aufzutreffen.
Die Ablenkung des Lichtbündels erfolgt nun so, daß der am Auftreffpunkt auf die Materialoberfläche M entstehende
Lichtfleck ein Feld vom Durchmesser D mit konstanter Geschwindigkeit in Richtung Λ' durchläuft. Durch
die lichtempfindliche Schicht 2 wird dabei eine Spannung £(/) erzeugt, deren zeitlicher Verlauf in Fig. 2 linke
Hälfte α dargestellt ist.
Die Punkte F1 und P1 entsprechen Randpunkten des
Prüfeindruckes E. Die Querabmessungen des Prüfeindrucks können nunmehr bei bekannter Strahlablenkungsgeschwindigkeit
vv aus der gemessenen Zeitdifferenz Δ t (Fig. 2) ermittelt werden. Wird nun das Lichtbündel nach
jedem Durchgang in X-Richtung zeilenweise in der dazu senkrechten K-Richtung abgelenkt, so ergibt sich eine
periodische Wiederholung der Spannungsimpulse mit variierender Impulsbreite Δ t. Dieser Spannungsverlauf ist
in der linken und rechten Hälfte a-b von Fig. 2 dargestellt. Wenn das ganze, den Prüfeindruck enthaltende Feld
in dieser Weise durch das Lichtbündel abgetastet ist, ergibt sich als Maß für die Fläche des Prüfeindrucks folgender
Ausdruck:
A= byvx- Z(At)
Hierbei bedeutet bs die Zeilenbreite der Abtastung.
Einzelheiten über die Ablenkung des Lichtbündels und die Auswertung des Spannungsverlaufes werden weiter
unten näher erläutert.
Grundsätzlich ist das oben beschriebene Verfahren nicht nur zum Ausmessen von kegel- oder pyramidenförmigen
Prüfeindrücken geeignet, sondern auch für Kugeleindrücke (Brinell-Härteprüfverfahren) verwendbar. Eine
Abänderung der Einrichtung für diesen Zweck ist in Fig. 3 dargestellt. Wiederum ist nur das auf die Materialoberfläche
M um den Prüfeindruck EB herum aufgesetzte, in diesem Fall leicht konische, rohrformige Bauteil 11 dargestellt,
in das von oben das von der Lichtquelle kommende, in X- und K-Richtung ablenkbare Lichtbündel eintritt.
Mit A 4 und A 5 sind zwei als Strahlen gezeichnete Positionen
des einfallenden Lichtbündels bezeichnet. Wegen der Kugelform des Prüfeindrucks EB werden die vom Prüfeindruck
reflektierten Strahlen in einen relativ großen Winkelbereich ausgesendet. Der Winkelbereich ist gegeben
durch die Bedingung, daß bei der Härteprüfung nach Brinell der Eindrucksdurchmesser d nicht kleiner als
0,25 Dt und nicht größer als 0,6 Dk sein soll, wenn Dk der
Kugeldurchmesser ist.
Entsprechend groß muß die lichtempfindliche Schicht 12 mit Streuschicht 13 ausgebildet sein. Von der Mittelzone
des Prüfeindrucks erreicht die lichtempfindliche Schicht 12 kein direkt reflektiertes Licht Es entsteht an
dieser Stelle im Spannungsverlauf ein »Loch«, das bei elektrischer Auswertung jedoch elektronisch ausgeblendet
werden kann. Der Meßvorgang verläuft im übrigen analog dem bei kegel- und pyramidenförmigen Prüfeindrücken.
In den Fig. 1 und 3 sind verhältnismäßig einfach aufgebaute
Einrichtungen dargestellt, die für viele Zwecke durchaus ausreichend sein dürften.
Bei genaueren Messungen muß jedoch berücksichtigt werden, daß die Materialoberfläche im allgemeinen nicht
ideal reflektierend ist, sondern eine gewisse Rauhigkeit, ζ. B. Schleifriefen, aufweist. Es wird daher ein Teil des
senkrecht auf die Materialoberfläche auftreffenden Lichtes in alle Richtungen gestreut. Daher ist es wichtig, das
Verhältnis »Spannung aufgrund von reflektiertem Licht zu Streulichtspannung« möglichst groß zu machen.
Außer dem Streulicht können noch andere, unerwünschte Lichtstrahlen auftreten. So besitzen die Prüfeindrücke
häufig keine scharfen Randlinien, sondern eine Randzone mit einer wulstartigen Erhöhung. Zur Erläuterung
dieses Sachverhaltes dient Fig. 4. Der in der Materialoberfläche M erzeugte Prüfeindruck E besitzt einen,
maßstäblich etwas übertrieben dargestellten Wulst W. Ein auf diesen Wulst W auftreffender Lichtstrahl A 6 wird
unter anderen Winkeln reflektiert, als ein von der Fläche des Prüfeindrucks selbst kommender Lichtstrahl Al, AS.
Es kann daher zweckmäßig sein optisch wirksame Vorrichtungen vorzusehen, die der lichtempfindlichen
Schicht einen Richteffekt geben, so daß die Schicht nur von Licht innerhalb eines vorgegebenen Winkelbereiches
erreicht wird, während unerwünschte Lichtstrahlen abgelenkt und ausgeblendet werden.
Bei der in Fig. 4 dargestellten Einrichtung ist eine derartige Vorrichtung vorhanden. Es ist wiederum das auf
die Materialoberfläche M um den Prüfeindruck E herum aufgesetzte rohrformige Bauteil 21 dargestellt, in welches
das von der Lichtquelle kommende, ablenkbare Lichtbündel von oben eintritt. Die Strahlen A 6 bis A 9 stehen für
verschiedene Positionen dieses Lichtbündels.
Im unteren Teil des Bauteils 21 ist unterhalb eines Einsatzteils 24 ein Glaskörper 25 angeordnet, der eine zylindrische
Bohrung aufweist und dessen äußere Mantelfläche konisch verläuft, mit einem Kegelwinkel γ solcher Größe,
daß der Einfallswinkel α für vom Piüfeindruck E reflektierte
Strahlen AT, Ai nicht weit vom kritischen Winkel
<*„,= aresin ~-
(ηΜ= Berechnungsindex Glaskörper)
ist. Diese Strahlen treffen auf die lichtempfindliche Schicht 22 bzw. die Streuschicht 23 auf. Die lichtempfindliche
Schicht 22 ist wiederum über eine Leitung 29 elektrisch mit der Auswerteeinheit verbunden.
Strahlen A 6, die von der Randzone W des Prüfeindrucks
£ herkommen, fallen unter einem steileren Winkel auf die äußere Mantelfläche des Glaskörpers 25'auf, werden
dort total reflektiert und fallen auf eine lichtschlukkende Schicht 26 an der Oberseite des Glaskörpers 25.
Durch den Glaskörper 25 wird auch ein wesentlicher Teil des Streulichtes, das von Strahlen A 9 herrührt, die senkrecht
auf die Materialoberfläche M auftreffen, daran
gehindert, die lichtempfindliche Schicht 22 zu erreichen.
Die lichtempfindliche Schicht 22 ist an einem Ring 27
angeordnet, der zwischen dem Bauteil 21 und dem Einsatzteil
24 gehalten ist.
Bei der Ausführungsform nach Fig. 4 kann grundsätzlich
der Raum zwischen dem Glaskörper 25 und demBauteil 21 auch in nicht dargestellter Weise zur StrardenveTteilung
nach dem Prinzip der multiplen Reflektionen ausgenutzt werden und in diesem Falle kann auch' auf die
Streuschicht 23 verzichtet werden.
Auf eine Streuschicht kann ferner auch dann verzichtet werden, wenn die lichtempfindliche Schicht aus einer Fotokathode (Vakuumzelle) besteht.
Auf eine Streuschicht kann ferner auch dann verzichtet werden, wenn die lichtempfindliche Schicht aus einer Fotokathode (Vakuumzelle) besteht.
Eine sehr wirksame Möglichkeit Streulicht zu eliminieren,
wird erhalten, wenn in den Strahlengang eine Vorrich-
20
25
30
tung eingeschaltet wird, welche lediglich Strahlen, die unter einem sehr engen nach beiden Seiten begrenzten
Winkelbereich auftreffen, auf die lichtempfindliche Schicht gelangen läßt.
Eine derartige Vorrichtung ist in Fig. 5 dargestellt. Der besseren Übersicht wegen sind in Fig.5 lediglich die
Materialoberfläche M mit dem Prüfeindruck E, die lichtempfindliche
Schicht 32 mit Streuschicht 33, die winkelbegrenzende Vorrichtung und die Strahlengänge eingezeichnet,
während das rohrförmige Bauteil selbst und die Halterungen nicht dargestellt sind, aber ähnlich, wie in
den vorbeschriebenen Ausfuhrungsformen aufgebaut sein können.
Die winkelbegrenzende Vorrichtung besteht aus einem ringförmigen Glaskörper 35, der im Querschnitt analog
dem Porro-Prisma ausgebildet ist. Bei dem Porro-Prisma tritt bekanntlich nur ein Lichtstrahl, der innerhalb eines
engen Winkelbereiches senkrecht auf die Basis des Prismas auftrifft, nach zweimaliger Reflektion an den Seitenflächen
des Prismas wieder aus der Basisfläche aus. Strahlen außerhalb dieses engen Winkelbereiches werden
durch die Seitenflächen des Prismas ausgeblendet.
Der Winkelbereich ist gegeben durch den Ausdruck:
±ß=± (45° - aresin -)(n = Berechnungsindex) (III)
Aus III ergibt sich Tür Glas mit η = 1,485 beispielsweise
ein Winkel β = ± 2,7° und für Glas mit η = 1,603 ein Winkel./?
= ±6,4°.
Dieses Prinzip wird bei dem in Fig.5 dargestellten »Porro-Ring« ausgenutzt. Der rotationssymmetrische
Glaskörper 35 besitzt dreieckigen Querschnitt mit einem Winkel von 90° an der außen liegenden Spitze und Winkeln
von 45° an oben und unten liegenden Spitzen des Dreiecks. Die ringförmige, lichtempfindliche Schicht 32
mit Streuschicht 33 ist an der inneren Basisfläche F3 in der
oberen Hälfte angeordnet. Der vom Prüfeindruck E reflektierte Strahl A 10 erreicht über die Fläche F3 die
Schicht 32, während die unter größeren oder kleineren Winkeln auf die Basisfläche F3 treffenden, von außerhalb
des Prüfeindrucks auftreffenden Strahlen All erzeugten
Streusirahlen B\ B"den Glaskörper 35 durch die Seitenfläche
F1 und F2 verlassen.
Der Winkel Vi ■ ψ unter dem die innere Basisfläche F3
gegen die Materialoberfläche M geneigt ist, richtet sich nach dem Kegelwinkel ψ des Prüfeindrucks (bzw. dem Flächenwinkel
bei einem pyramidenförmigen Prüfeindruck). Unter Umständen ist hier noch der Rückfederungseffekt
zu beachten, der beim Entlasten des Eindrucks auftritt, wodurch ψ (entlastet)
> ψ (belastet) wird.
Wie bereits erwähnt, ist es bei dem erfindungsgemäßen Verfahren auch möglich, die F.ächenrncssung am Härteprüfeindruck
bei belastetem Prüfeindruck vorzunehmen. Dies ist aus folgenden Gründen besser und exakter als die
Messung am entlasteten Eindruck:
1. Die unter Last gemessene Eindruckfläche ist diejenige Größe, die gemäß der ursprünglichen Definition
der Härte gemessen werden sollte. Bei der Mehrzahl der Metalle beträgt der Unterschied zwischen
ent- und belasteten Eindruckflächen höchstens einige Prozente. Bei Kunststoffen können jedoch
beträchtliche Unterschiede auftreten.
2. Die Messung beansprucht weniger Zeit, da beim Messen am entlasteten Eindruck erst der Eindringkörper
nach vorhergehender Entlastung entfernt und das Flächenmeßgerät aufgesetzt werden muß, während
beim Messen am belasteten Eindruck die Flächenmessung nach einer bestimmten Einwirkungs
ίο
50
55
60
65 zeit der Prüfkraft sofort beginnen kann. Für die in der
Industrie heute weit verbreitete Härteschnellprüfung ist daher die Messung am belasteten Eindruck vorzuziehen.
Die die Kontaktfläche begrenzende Randlinie des Prüfeindrucks zeichnet sich im belasteten Zustand
durch den Eindringkörper hindurch betrachtet klarer ab als bei direkter Beobachtung nach Wegnahme des
Eindringkörpers.
Es sind damit auch Eindrucksflächenmessungen an Kunststoffen möglich.
Das Streulicht ist weniger störend. Da keine elastische Rückverformung des Prüfeindrucks auftritt solange dieser belastet ist, kann der Winkeldurchlaßbereich für das auf das lichtempfindliche Element fallende Licht enger gezogen und besser definiert werden.
Das Streulicht ist weniger störend. Da keine elastische Rückverformung des Prüfeindrucks auftritt solange dieser belastet ist, kann der Winkeldurchlaßbereich für das auf das lichtempfindliche Element fallende Licht enger gezogen und besser definiert werden.
In Fig.6 ist eine Ausführungsform einer Einrichtung zur Flächenmessung am belasteten Prüfeindruck dargestellt.
Es ist, wie bei den vorbeschriebenen Ausrührungsformen, lediglich das untere Ende des rohrförmigen Bauteils
41 dargestellt, durch welches das abtastende Lichtbündel zugeführt wird.
In das untere Ende des rohrförmigen Bauteils 41 ist eine durchsichtige, planparallele Platte 44 aus einem widerstandsfähigen
Material (Korund, Quarz, Spezialgas) eingesetzt, an deren Unterseite der auf seiner Rückseite plangeschliflene,
ebenfalls durchsichtige Eindringkörper 48 angeordnet ist. Der Eindringkörper 48 besteht aus einem
durchsichtigen, harten Stoff (Diamant, Saphir, amorpher Korund). Sein Durchmesser DF entspricht dem größten
Durchmesser D„des Meßfeldes. Er ist an allen Seiten von
einem weiteren durchsichtigen Körper 45 umgeben, an dessen Außenmantel die lichtempfindliche Schicht 42 mit
der Streuschicht 43 angeordnet ist.
Die Prüfkraft P wird vom Bauteil 41 über die Platte 44 auf den Eindringkörper 48 übertragen. Der durchsichtige
Korper 45 hat keine Kräfte zu übertragen. Er kann daher auch aus Kunststoff bestehen oder aus Glas, in das der
Eindringkörper 48 eingeschmolzen ist. Bei quadratischem Querschnitt des Eindringkörpers 48 kann der durchsichtige
Körper 45 auch aus vier Segmenten zusammengesetzt sein.
Aus dem Eindringkörper 48, dem ihn umgebenden Körper 45, der lichtempfindlichen Schicht 42 mit Streuschicht
43 und der Platte 44 kann eine einbaufertige, leicht auswechselbare Bauteilgruppe gebildet sein, dadurch, daß
man diese Teile in einer ringförmigen Fassung unterbringt. Letztere kann mit einem Gewinde versehen werden
zum Anschrauben an ein Härteprüfgerät.
An der Grenzfläche zwischen dem Eindringkörper 48 und dem ihn umaebenden Köpfer 45 darf für die vom
Prüfeindruck E reflektierten Strahlen A 12 die unter dem Sollwinkel a2= ψ— 90° einfallen, keine Totalreflektion auftreten.
Die Bedingung hierfür ist:
ff,< α (kritisch) = aresin (n4S//74g)
(n45= Brechungsindex des Körpers 45, niS= Brechungsindex
des Eindringkörpers 48).
Der Strahl A 12 erreicht die lichtempfindliche Schicht 42 nach Reflektion an einer zwischen der planparallelen
Platte 44 und dem Körper 45 angeordneten spiegelnden Fläche 46. Die Bedingung dafür, daß bei Proben aus
Metall, die außerhalb des Prüfeindrucks E auftreffenden Strahlen A13 nicht spiegelnd reflektiert werden, lautet
ff, = '/2 (180° - ψ )<
α (kritisch)
Bei der Vickers-Pyramide aus Diamant (n = 2,415, α (kritisch) = 24,46°) ist der Flächenwinkel ^= 136°. Folglich
gilt α, = 22° < 24,46°. Die Durchlässigkeitsbedingung ist also erfüllt. Der größte Teil der im von der Materialoberfläche
M reflektierten Strahl A13 enthaltene Lichtenergie
gelangt in die schwarz ausgekleidete Zentralbohrung des Bauteils 41.
Der Körper 45 ist an seiner Unterseite mit einer lichtabsorbierenden
und lichtundurchlässigen Schicht 47 versehen. Weiterhin kann am Bauteil 41 außen ein in Fig. 6
nicht dargestelltes, verschiebbares Rohr oder eine Gummimanschette angeordnet sein, durch die von außen kommendes
Licht von der Einrichtung femgehalten wird.
Besondere Verhältnisse liegen bei Messungen an durchsichtigen Proben vor. Hier muß gelten:
α, = V2 ■ (180° - ψ)
> α (kritisch)
Es tritt dann Totalreflektion an den an Luft angrenzenden Flächen des Eindringkörpers 48 ein und Durchlässigkeit
an der Grenzfläche zwischen Eindringkörper 48 und Materialoberfläche M. Der Spannungsverlauf erfolgt dann
umgekehrt wie in Fi g. 2 dargestellt und es werden statt der Zeiten A t mit erhöhter Lichtintensität die Zeiten A f'mit
erniedrigter Lichtintensität bestimmt und die Eindruckfläche wird bestimmt aus dem Ausdruck A = by· vx-
<(aO.
In bestimmten Fällen kann es zweckmäßig sein, mit einer Variante der in Fig.6 dargestellten Ausführungsform der Einrichtung zu arbeiten. Bei dieser nicht dargestellten
Ausführungsform besteht der Eindringkörper 48 aus Diamant mit ψ= 136. Aus Formel IV folgt dann n45>
1,744. Ein geeignetes Material für den Körper 45 wäre dann z. B. Zirkoniumsilicat ZrO2SiOj (n = 1,923). Wegen
der hohen Brechungsindizes fällt dann A12 unter einem
sehr spitzen Einfallswinkel auf die spiegelnde Fläche 46, so daß die lichtempfindliche Schicht 42 zweckmäßigerweise
an der Unterseite des Körpers 45. angeordnet wird. Der von der Materialoberfläche M reflektierte Strahl A13
wird in diesem Falle nicht in die Bohrung des Bauteils 41 zurückgeleitet, sondern erfährt im Eindringkörper 48eine
Mehrfachreflektion und tritt schließlich in den Außenraum unterhalb des Körpers 45 aus.
Anhand der Fig. 7 bis ?soll im folgenden ein technisch besonders günstiges Meßverfahren zur Ausmessung der
Fläche des Härteprüfeindrucks, insbesondere die Ablenkung des Lichtbündels, näher erläutert werden.
Bei der im folgenden beschriebenen Vorrichtung zur Ablenkung des abtastenden Lichtbündels in zwei, zueinander
senkrechten Richtungen wird das abzutastende Feld auf die Größenordnung der Eindruckfläche beschränkt.
So wird beispielsweise für eine Einrichtung zur Ausmessung von Prüfeindrücken mit einer durchschnittlichen
Größe von 1 mm2 ein Abtastfeld von ca. 4 mm2 vorgesehen. Durch die geringen Ablenkwege werden die
Linearitätsprobleme auf ein Minimum reduziert.
Weiterhin wird durch eine mechanisch-optische Vorrichtung das Lichtbündel parallel zu sich selbst in Transversalrichtung
verschoben, wodurch mögliche Winkelfehler wie beim Gebrauch rotierender Spiegel vermieden
werden.
Das Meßsystem ist so beschaffen, daß eine Eichung, nicht erforderlich ist, und es enthält keine Komponenten,
Parameter oder elektrische Größen, die im Laufe der Zeit Änderungen unterliegen und Anzeigefehler verursachen
können. Es hängt auch nicht von stabilisierten Frequenzen, konstanten Drehzahlen, konstanten Zeitschriften,
konstanten elektrischen Spannungen etc ab.
Die Fig. 7 und die partielle Seitenansicht Fig. 8 zeigen in stark schematisierter Darstellung zunächst die wese'ntliehen
Teile der optisch-mechanischen Vorrichtung zur Ablenkung des Lichtbündels.
Die Vorrichtung weist eine Lichtquelle 52 auf, beispielsweise einen Laser, der ein eng begrenztes, leicht konvergentes
Lichtbündel A erzeugt. Die Welle eines Elektromotors 53 ist einerseits direkt mit einer ersten Glasplatte
54 und andererseits über Untersetzungsgetriebe 55,56,57
mit einer zweiten Glasplatte 58 verbunden. Beide Glasplatten 54,58 können somit vom Elektromotor 53 in Drehung
versetzt werden und sind so angeordnet, daß ihre Drehachsen senkrecht aufeinanderstellen. Wegen der
Untersetzungsgetriebe 55, 56, 57 ist die Drehzahl der zweiten Glasplatte 58 sehr viel kleiner als die Drehzahl der
ersten Glasplatte 54. Die oben beschriebenen Einzelteile sind an einem schwingungsfesten Rahmen 59 angeordnet,
an dessen Unterseite sich eine Blende 51 befindet, durch deren Austrittsöffnung F das Äbtastfeld gegeben ist.
Der Lichtstrahl A gelangt von der Lichtquelle 52 durch die Glasplatten 54 und 58 und die Blende 51 auf die
Materialoberfläche M bzw. den Härteprüfeindruck E.
Zwischen der Blende 51 und der Materialoberfläche M ist in, der Übersichtlichkeit wegen, nicht dargestellter
Weise das rohrförmige Bauteil 1,11, 21 oder 41 angeordnet, in dem das lichtempfindliche Element und die optisehen
Vorrichtungen zur Ablenkung der reflektierten Strahlen enthalten sind, wobei die lichtempfindlichen Elemente
elektrisch mit den in Fig. 7 und 8 ebenfalls nicht dargestellten elektrischen Auswerteeinheiten verbunden
sind.
Für die Ablenkung eines Lichtbündels durch eine plan-
Für die Ablenkung eines Lichtbündels durch eine plan-
parallele Glasplatte gilt die Formel
-cos φ
1 - ( — sin ψ
»„
»„
sin φ
Hierbei ist n= Brechungsindex gegen Luft; φ= Drehwinkel
= Einfallswinkel des Lichtbündels; tp= Plattendicke.
Für die Äblenkungsgeschwindigkeit beim. Nulldurchgang (α = ο) erhält man aus dieser Formel·:
= ι-
//,= Drehzahl, npl = Brechungsindex, tpl= Dicke der Glasplatte
1.
Je dicker die Glasplatte und je größer der Brechungsindex
n,, desto, besser ist die Linearitätsbedingung für eine
so gegebene Ablenkung af erfüllt.
Die beiden Glasplatten 54; und 5& liefern innerhalb der
durch das Meßfeld gesetzten Grenzen die linearen Ablenkungen
a,(t) und fl,.(i), womit sich infolge n, ^n7= const,
auch konstante Äblenkgeschwindigkeiteh νΛ>
η,, ergeben.
Werden die Platten 54; und 58 in Rotation versetzt, so
überstreicht der vom Lichtstrahl .4aii£der.i)laterialoberfläche
M erzeugte Lichtfleck; wie weiter unten: besehrieben,
das vorgegebene AbtastfekL; das den Prüfeindruck E
enthält, und es ergibt sich-an dem UcljtempfipdlicriettEIe-
mentinderbereitsbeschriebenenWeise.d.eii in F^ !dargestellte Spannuagsverlauf E(t).
Zur Auswertung dieses Spannung^yeriauies kann beispielsweise
die in-Fig. 9 d^gestellterAnpr;dijpclg; dienen.
Mit dieser Anordnung werden; nich^-diQ,;ZisitsriaHnen
A t (Fig. 2) direkt gemessen, sondern ; &e,;Sji|^tiÄg;£{r)
WK(LzUr. Steuerung eines Stromtörs 6^ verw^iaifä^t.!Hierzu
wird, die Spannung E{1) von dem. li(?l^i^p;iBödljeHer} Element, beispielsweise einer Fotozelle, 62'infti elektrischen
Hilfskreisen, über einen Verstärker 63 der Triggervorrichtung
64 zugeführt, an der eine Spannungsschwelie E1 einstellbar
ist Wird E(t) E. so öfihet das Stromtor 61 und läßt
die mit der Frequenz/ankommenden Impulse passieren. Wenn die Durchlaßzeit des Stromtores 61 ^ist so wird die
Anzahl der durchlaufenden Impulse JV = /- /„und JV ist proportional der gemessenen Räche des Prüfeindrucks.
Die Zählfrequenz wird bei der Anordnung nach Fig. 9 dadurch erzeugt, daß ein vom Elektromotor 53 (s. Fig. 8
und 7) angetriebener Generator 65 zunächst eine Frequenz/= K1 ■ n, erzeugt, die dem Stromtor 61 über einen
Frequenzvervielfacher 66 und eine Impulserzeugungsstufe 67 zugeführt wird. Es gilt dann/= K2 ■ /= /c, · K2 - n,
= m ■ n,.
Die Impulse werden vom Stromtor 61 der Zählvorrichtung 68 zugeführt und für die Räche gilt A= k- JV, wenn JV
die Anzahl der gezählten Impulse ist. Der Wert A wird in einer Anzeigevorrichtung 69 angezeigt.
Hierbei kann es für die Auswertung günstig sein, wenn der Zahlenfaktor k gleich einer Zehnerpotenz gewählt
wird.
Es kann weiterhin eine Rechenstufe 70 hinzugefügt sein, welche die Härte H ermittelt und anzeigt, oder ausdruckt.
Die Formel für die Räche A ergibt sich aus der Formel VlI für ν und v,. Es eilt weiterhin 6,=——, hierbei ist p.
die Rächenzahl des zur Ablenkung verwendeten Glaskörpers. Bei der in Fig. 7 und 8 dargestellten Platte ist p, = 2.
Wenn beispielsweise ein hexogonales Prisma verwendet wird, was auch möglich ist, ist/j,= 6. />, gibt gleichzeitig die
Anzahl der Felddurchgänge pro Umdrehung der Glasplatte an.
Mit den Größen td= — und/= m · n, ergibt sich schließlieh
da νΛ = const und by = const und vorausgesetzt, daß
n,> n,für die Eindrucksfläche:
4712^i-LV1-L
'WV ",
Die Plattendicken tpl und r„, können sehr genau gemessen
werden. Die Brechungsindizes der optischen Gläser n?l und /J1,, sind sehr genau bekannt Das Drehzahlverhältnis
njn, ist eine feste Größe, ebenso die Rächenzahl p,
und das Frequenzübersetzungsverhältnis m.
Es gibt sich somit, wie bereits oben erwähnt, A = k- JV,
wobei A: eine exakt berechenbare unveränderliche Apparatekonstante
ist
In Fig. 9 ist zusätzlich als Anzeigevorrichtung noch ein Oszillograph 71 dargestellt, auf dem die Form der Räche des Prüfeindrucks angezeigt werden kann, aus der Rückschlüsse auf die Materialeigenschaften gezogen werden können.
In Fig. 9 ist zusätzlich als Anzeigevorrichtung noch ein Oszillograph 71 dargestellt, auf dem die Form der Räche des Prüfeindrucks angezeigt werden kann, aus der Rückschlüsse auf die Materialeigenschaften gezogen werden können.
Es wird noch darauf hingewiesen, daß eine veränderliehe
Größe in der anhand von Fig.9 beschriebenen Anordnung die Triggerschwelle E, ist. Wenn E, die durch
Streulicht erzeugte Restspannung ist, kann durch elektrische Maßnahmen bekannter Art durch sogenannte
elektronische Interpolation erreicht werden, daß die Triggerspannung £>m Stromtor automatisch = '/2 (E,+ EnJ
wird. Dadurch läßt sich weitgehend die Untersicherheit beseitigen, die dadurch entsteht, daß die Rankenwinkel
der Spannungskurve E(t) kleiner als 90° sind, was sowohl durch den endlichen Lichtfleckdurchmesser als auch
durch den endlichen Krümmungsradius der Eindrucksberandung verursacht wird.
Hierzu 8 Blatt Zeichnungen
Claims (14)
1. Verfahren zum Ausmessen von Härteprüfeindrücken in Materialoberflächen, bei dem ein konzentriertes
Lichtbündel auf die zu prüfende Oberfläche gerichtet wird, dessen Durchmesseram Auftrefrbunkt
auf die zu prüfende Oberfläche klein gegen den Durchmesser des Prüfeindruckes ist und das in einer senkrecht
zur zu prüfenden Oberfläche stehenden Ebene so bewegt wird, daß die Bahn des sich über die Oberfläche
bewegenden Lichtfleckes den Prüfeindruck vollständig überquert und die Intensität des in einen
vorgegebenen Winkelbereich reflektierten Lichtes bestimmt wird, wobei die bei Überschreiten einer
Randünie des Prüfeindruckes auftretende Intensitätsänderung
zur Markierung des Anfangs- und Endpunktes eines Abschnittes der Bewegung dient, der dem
Abstand zweier Randpunkte des Prüfeindruckes entspricht und die Länge dieses Abschnittes bestimmt
wird, gekennzeichnet durch die Kombination folgender Merkmale:
a) das Lichtbündel wird senkrecht auf die zu prüfende Oberfläche gerichtet und in mindestens
einer Richtung parallel zu dieser Oberfläche derart mehrfach um eine vorgegebene Strecke
verschoben und jeweils senkrecht zur Verschiebungsrichtung versetzt, daß die Bahn des Lichtflecks
den Prüfeindruck mehrfach vollständig überquert und parallel zueinander verlaufende,
die Räche des Prüfeindruckes vollständig überdeckende, dicht aneinander anschließende Teilbahnen
entstehen;
b) die Intensität des vom Prüfeindruck in einen von der Einfallsrichtung abweichenden Winkelbereichs
reflektierten Lichtes wird während der Verschiebung bestimmt;
c) Es wild zur Flächenbestimmung des Prüfeindrukkes die Summe der Längen der Abschnitte der
Teilbahnen bestimmt, deren Länge jeweils dem «o Abstand zweier Randpunkte des Prüfeindruckes
entspricht, wobei diese Summe ein Maß für die Fläche des Prüfeindruckes bildet.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Lichtbündel mit konstanter
Geschwindigkeit so verschoben wird, daß die Teilbahnen des Lichtfleckes geradlinig verlaufen und jeweils
der Zeitabschnitt gemessen wird, der dem, dem Abstand zweier Randpunkte entsprechenden Abschnitt
der betreffenden Teilbahn entspricht und die Summe dieser Zeitabschnitte bestimmt wird.
3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2. dadurch gekennzeichnet, daß die Ausmessung des
Prüfeindruckes während der Einwirkung der Prüfkraft erfolgt, in dem bei Verwendung eines durchsichtigen
Eindringkörpers durch ihn hindurch das Lichtbündel auf die zu prüfende Oberfläche gerichtet wird.
4. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 3 mit einer Lichtquelle
zur Erzeugung eines Lichtbündels, Vorrichtungen zur Konzentration und Ausrichlungdes Lichtbündels
auf eine zu prüfende Materialoberfläche, einer Vorrichtung zur Bewegung des Lichtbündels in einer
senkrecht zur zu prüfenden Oberfläche stehenden Ebene, einer Vorrichtung zur Lichtintensitätsmes- f>
sung, die mit einer Anzeigevorrichtung verbunden ist und mit einem auf die zu prüfende Oberfläche aufsetzbaren,
im wesentlichen rohrförmigen Bauteil, dessen Innendurchmesser größer ist als der größte Durchmesser
des zu prüfenden Eindruckes, gekennzeichnet durch die Verknüpfung folgender Merkmale:
a) die Vorrichtungen zur Konzentration und Ausrichtung des Lichtbündels führen das Lichtbundel
(A l—A 13) senkrecht zur zu prüfenden Oberfläche (M) in axialer Richtung durch das rohrförmige
Bauteil (1, 11, 21, 21, 41);
b) durch die Vorrichtung (54,58) zur Bewegung des
Lichtbündels (A l-A 13) ist dieses mindestens in einer Richtung senkrecht zur Fortpflanzungsrichtung
verschiebbar;
c) die Vorrichtung zur Lichtintensitätsmessung besitzt ein ringförmiges Fotoelement (2,12,22,32,
42), das im Inneren des rohrförmigen Bauteils (1, 11, 21, 41) die Achse des Bauteils umgebend,
außerhalb des vom zugeführten Lichtbündel erreichbaren Bereiches so angeordnet ist, daß es
das gesamte von der Oberfläche des Prüfeihdrukkes (E) reflektierte Licht empfängt.
5. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzeigevorrichtung (69, 70) zusätzlich
mit der Vorrichtung (54) zur Bewegung des Lichtbündels verbunden ist und eine mit einer Zeitmeßvorrichtung
(65, 66, 67) versehene Auswertevorrichtung (61, 68) enthält, so daß die Anzeige als Funktion der
Summe der gemessenen Zeitabschnitte ein Maß der Größe des Prüfeindruckes darstellt.
6. Einrichtung nach einem der Ansprüche 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß vor dem Fotoelement
(2,12,22, 42, 32) eine Streuschicht (3,13,23, 33,43)
angeordnet ist.
7. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß im Inneren des rohrförmigen Bauteils
(21, 41) optisch wirksame Vorrichtungen (25, 26, 35, 45, 47) zur Ablenkung oder Ausblendung unerwünschter
Lichtstrahlen aus der Richtung auf das Fotoelement hin angeordnet sind.
8. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß als optisch wirksame Vorrichtung ein
ringförmig ausgebildeter Glaskörper (35) dient, der in seinem Querschnitt analog einem Porro-Prisma ausgebildet
ist.
9. Einrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß an der Lichtaustrittsseite
des rohrförmigen Bauteils (41) ein Eindringkörper (48) aus durchsichtigem Material angeordnet ist,
durch welchen das abtastende Lichtbündel (A 12, A 13) hindurch tritt.
10. Einrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß der Eindringkörper an einem durchsichtigen, im wesentlichen zylindrischen Übertragungskörper (44) angeordnet ist, durch den das Lichlbündel
zuführbar ist und der über einen auf seine Oberseite wirkenden Stempel mit der Prüfkraft beaufschlagbar
ist.
11. Einrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß das lichtempfindliche Element (42)
an der äußeren Mantelfläche eines den Eindringkörper (48) umgebenden durchsichtigen Körpers (45)
angeordnet ist.
12. Einrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet,
daß an der Grenzfläche zwischen Übertragungskörper (44) und dem durchsichtigen Körper
(45) reflektierende Flächen (46) angeordnet sind.
13. Einrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 8,
dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung zur Bewegung des Lichtbündels zwei im Strahlengang des
Lichtbündels (A) angeordnete drehbare Glasplatten (54, 58) oder — Prismen mit mindestens zwei planparallelen Flächen aufweist, deren Drehachsen senkrecht
zur Fortpflanzungsrichtung und senkrecht zueinander stehen und die von mindestens einem Elektromotor
(53) aus antreibbar sind, wobei die Bewegung des Lichtfleckes auf der Materialoberfläche (M)
durch eine Blende (51) begrenzbar isi und die Ablenkgeschwindigkeit
in einer Richtung groß gegen die Ablenkgeschwindigkeit in der zu ihr senkrechten Rieh- ι ο
tung ist
14. Einrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet,
daß die drehbaren Glasplatten (54, 58) von einem gemeinsamen Elektromotor (53) aus
antreibbar sind und zwar eine direkt und die andere '.5 unter Zwischenschaltung mindestens eines Untersetzungsgetriebes
(55, 56, 57).
Priority Applications (2)
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|---|---|---|---|
| DE19782803149 DE2803149C2 (de) | 1978-01-25 | 1978-01-25 | Verfahren zum Ausmessen von Härteprüfeindrücken in Materialoberflächen sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| JP622479A JPS54110865A (en) | 1978-01-25 | 1979-01-24 | Method and apparatus for measuring size of depression for hardness test formed on solid surface |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19782803149 DE2803149C2 (de) | 1978-01-25 | 1978-01-25 | Verfahren zum Ausmessen von Härteprüfeindrücken in Materialoberflächen sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
Publications (2)
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| DE2803149A1 DE2803149A1 (de) | 1979-07-26 |
| DE2803149C2 true DE2803149C2 (de) | 1983-10-27 |
Family
ID=6030340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19782803149 Expired DE2803149C2 (de) | 1978-01-25 | 1978-01-25 | Verfahren zum Ausmessen von Härteprüfeindrücken in Materialoberflächen sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
Country Status (2)
| Country | Link |
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| DE (1) | DE2803149C2 (de) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5720642A (en) * | 1980-07-14 | 1982-02-03 | Hamamatsu Tv Kk | Hardness tester |
| JPS57177157U (de) * | 1981-05-07 | 1982-11-09 | ||
| DE3401527A1 (de) * | 1984-01-18 | 1985-08-01 | Amsler-Otto-Wolpert-Werke GmbH, 6700 Ludwigshafen | Verfahren zur automatischen bestimmung der haerte durch vermessen eines pruefeindrucks |
| IT1179997B (it) * | 1984-02-24 | 1987-09-23 | Consiglio Nazionale Ricerche | Procedimento ed apparecchiatura per il rilievo dell impronta lasciata in un provino nella misura della durezza alla penetrazione |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE602066C (de) * | 1933-05-14 | 1934-08-31 | Friedrich Goetze Akt Ges | Einrichtung zum Ausmessen von Oberflaechenverformungen, insbesondere der bei der Haertepruefung nach dem Eindringverfahren entstehenden Eindruecke |
| GB507737A (en) * | 1937-11-30 | 1939-06-20 | Zeiss Carl | Improvements in hardness testing instruments |
| DE890575C (de) * | 1942-09-27 | 1953-09-21 | Eduard Dipl-Ing Schaefer | Verfahren und Vorrichtung zur fortlaufenden Pruefung von Werkstuecken mittels einer Kugeldruckpruefeinrichtung |
| DE1648494A1 (de) * | 1967-09-13 | 1971-06-24 | Goettfert Feinwerk Technik Gmb | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der Haerte von insbesondere aus viskoelastischem Material bestehenden Probekoerpern |
| US3822946A (en) * | 1972-12-07 | 1974-07-09 | Schiller Industries Inc | Dimensional measuring apparatus using optical scan especially for hardness testing |
-
1978
- 1978-01-25 DE DE19782803149 patent/DE2803149C2/de not_active Expired
-
1979
- 1979-01-24 JP JP622479A patent/JPS54110865A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2803149A1 (de) | 1979-07-26 |
| JPS54110865A (en) | 1979-08-30 |
| JPS6212851B2 (de) | 1987-03-20 |
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