WO2018224068A1 - Mess-sonde für strahlabtastung - Google Patents

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WO2018224068A1
WO2018224068A1 PCT/DE2018/000175 DE2018000175W WO2018224068A1 WO 2018224068 A1 WO2018224068 A1 WO 2018224068A1 DE 2018000175 W DE2018000175 W DE 2018000175W WO 2018224068 A1 WO2018224068 A1 WO 2018224068A1
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light beam
light
scanning
scanning body
probe
Prior art date
Application number
PCT/DE2018/000175
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Reinhard Kramer
Otto MÄRTEN
Stefan Wolf
Andreas KOGLBAUER
Roman Niedrig
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Primes GmbH Meßtechnik für die Produktion mit Laserstrahlung
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Publication date
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    • G01J2001/4261Scan through beam in order to obtain a cross-sectional profile of the beam

Definitions

  • the invention relates to a device for scanning light beams or
  • the invention is suitable for the determination of geometric parameters such as the intensity distribution, the beam profile or the beam diameter in the cross section of a light beam or laser beam.
  • the invention enables the direct scanning of laser beams with the highest brilliance and
  • the device can be used for scanning a plurality of beam cross sections in different planes and can thus also be used to determine a beam parameter product, a beam propagation factor or a focus position of a laser beam.
  • the invention enables measurements with high signal-to-noise ratio and high accuracy due to reduced sensitivity to interfering light reflections within the measuring probe.
  • integral quantities such as energy or power are used.
  • geometric parameters are needed to describe the propagation and focusability of a light beam. Such geometric parameters are
  • a beam diameter, a beam profile, the focus position or the beam parameter product For example, a beam diameter, a beam profile, the focus position or the beam parameter product.
  • the beam parameter product describes the product of the radius of the beam waist, ie the smallest radius of the beam, which may be present in a focus plane of the beam, and the aperture angle of the beam, and is therefore a measure of the focusability of a light beam or laser beam.
  • Other metrics or terms for the same are the beam quality, the beam quality index, the beam propagation factor, the mode factor or the diffraction factor.
  • Beam parameters must be periodically measured for quality control in many production processes using light beams.
  • the intensity distribution of the beam or the relative power density must be determined spatially resolved in several cross-sectional planes of a beam.
  • a principal possibility for the measurement consists in directing the beam onto a spatially resolving sensor, for example onto a CCD camera, and in this way the
  • Beam attenuation requires a great deal of effort to ensure that the beam characteristics are not altered by the attenuator, for example due to induced thermo-optic effects.
  • a direct measurement of a beam in the focus area is therefore desirable in order to precisely measure and test the properties which influence the process, for example in laser material processing.
  • a common method of direct measurement of a beam is to sample the intensity distribution in a raster motion, e.g. line by line, by means of a device that takes a sample from a small segment of the beam and this sample radiation leads to a detector.
  • a device of this kind is disclosed for example in DE 199 09 595 A1. There, the beam is scanned with a pinhole or with a small pinhole with the peculiarity that behind the pinhole a scattering body is arranged, whereby the obtained measurement signal is less dependent on the direction of incidence of the radiation to be measured.
  • Another device of this kind shows the WO
  • the beam deflection device of the scanner optics can be used to guide the beam in a raster motion over the scanning head.
  • Such devices and methods disclose, for example, DE 10 2005 038 587 A1 and DE 10 2011 006 553 A1.
  • the beam is scanned with a light-influencing body.
  • the light-influencing body is an optical fiber arranged transversely to the beam, which deflects radiation components from the laser beam onto a light sensor.
  • the fiber always forcibly detects the entire beam cross-section in one direction, so that the measurement signal is a signal integrated in one dimension and thus no one in this direction spatially resolved signals can be generated.
  • the light-influencing body is reflective in other disclosed embodiments, eg silver-containing, or designed to be absorbent.
  • the device known from WO 98/50196 A1 on the one hand is not suitable for laser radiation highest performance and brilliance, and on the other hand, the device described is not suitable for achieving high spatial resolution, since the disclosure provides no information about a precisely defined interaction geometry on or in the light-affecting bodies.
  • Another problem with the scanning of a beam with transparent probes is that interfering stray light may occur in the scanning body, for example due to multiple reflections of the beam to be scanned, which is the case
  • US Pat. No. 6,476,908 B1 discloses different types of light probes for measuring intensity distributions in a light beam.
  • Some embodiments of light probes shown therein consist of a substrate such as a plate or a block in which a light-diffusing element is arranged, for example an air bubble.
  • an antireflection coating is proposed on the front of the substrate.
  • An antireflection coating lowers the damage threshold.
  • the materials disclosed as material for the substrate such as transparent plastics or glasses, are not suitable for high-power laser beams. Conventional optical glasses can be melted by focused laser beams. Fresnel reflections can also take place at the back of the substrate.
  • FIG. 7D of US Pat. No. 6,476,908 B1 additional scattered light can be generated, which superimposes itself on the measurement signal and reduces the measurement accuracy.
  • DE 10 2015 016 240 B3 likewise discloses devices for scanning light beams with rod-shaped or disk-shaped transparent measuring probes.
  • the measuring probes disclosed therein it is likewise possible for reflections in the detector signal to occur due to reflection at the light beam exit surface.
  • the light beam exit surface may be inclined relative to the light beam. It is not explained in this case which way an inclined light beam exit surface can be formed and to which problems the then obliquely reflected beam component can lead, for example to increased detector background signals by propagation of the reflected beam components towards the detector.
  • an alternative approach to reduce the problem of self-superposition of the light beam with reflected beam portions is proposed in the cited patent to arrange the probe area as close as possible to the light beam exit surface. Then, however, the light beam to be measured would have to propagate a longer path through the scanning body before the beam is scanned by the probe area. This may in turn due to refraction and thermo-optic effects to a
  • the invention is therefore based on the object to provide a measuring probe for scanning light beams, which is suitable for the determination of geometric parameters of laser beams of high power or power density, and which is insensitive to stray light and erroneous signals and thus the determination of geometric Parameters in high spatial resolution and with high signal-to-noise ratio allows.
  • an apparatus for scanning a light beam comprising a scanning body with a light beam entrance surface, with a light beam exit surface, with a sample light exit surface, and with a
  • the apparatus further includes a detector and means for providing relative movement between the scanning body and the light beam.
  • the scanning body is extended rod-shaped in the direction of a longitudinal axis and consists of a light-conducting, for the light beam transparent material.
  • the scanning body has a recess for forming a surface section on the scanning body.
  • the surface portion includes the light beam entrance surface or the light beam exit surface.
  • a normal direction of the light beam entrance surface is inclined at an angle in the range of 5 ° to 20 ° to a normal direction of the light beam exit surface.
  • the scanning body includes the probe area. In this case, the probe area is arranged in a cross-sectional plane of the scanning body, which is located in the region of the recess.
  • a cross-sectional dimension of the scanning body in the cross-sectional plane in which the probe area is arranged is at least 50% of a cross-sectional dimension of the scanning body in a cross-sectional plane outside the recess.
  • the probe region has a light-deflecting structuring.
  • the detector is arranged to detect at least part of a beam portion deflected from the light beam by the probe area.
  • the cross-sectional plane located in the region of the recess, in which the probe region is arranged, is arranged perpendicular to the longitudinal axis of the scanning body and adjoins the surface section which is formed by the recess.
  • the cross-sectional plane outside the recess is also arranged perpendicular to the longitudinal axis of the Abtast stressess.
  • the dimensions of the area section formed by the recess may also be at least ten times greater than the dimensions of the probe area.
  • the scanning body has a length in the direction of the longitudinal axis which is at least four times the cross-sectional dimension of the scanning body.
  • a distance of the probe area to a rear end of the sample body with the sample light exit area may be at least three times a cross-sectional dimension of the sample body.
  • An embodiment is also provided in which a distance of the probe area in the direction of the longitudinal axis to a front end of the scanning body is at least half the cross-sectional dimension of the scanning body.
  • An embodiment is provided in which a distance of the probe area to the light beam entry area is at most one tenth of the cross-sectional dimension of the scanning body.
  • the light-deflecting structuring of the probe region is formed by a plurality of structural details.
  • the light-deflecting structuring of the probe region can be produced by means of a focused short-pulse laser.
  • a dimension of the probe area may be smaller than half of one
  • Sample light exit surface of the Abtast analysess and the detector is arranged a device for light collection.
  • the means for light collection may include at least one of the following elements: a lens, a
  • the scanning body is at a distance from the
  • Probe area in addition to a first line-shaped probe area with a light-deflecting structuring.
  • the scanning body at a distance from the probe area additionally has a second line-shaped probe area with a light-deflecting structuring.
  • the probe area can be arranged between the first line-shaped probe area and the second line-shaped probe area.
  • the device for providing relative movements may be a scanner device, by means of which the light beam is movable over the scanning body.
  • the scanning body is movable by means of the device for providing relative movements in a first direction of movement transverse to the longitudinal axis and in a second
  • Direction of movement which is independent of the first direction of movement and spans a scanning surface with the first direction of movement.
  • the first direction of movement for scanning the light beam can be generated by rotation of the scanning body about an axis of rotation.
  • the second direction of movement for scanning the light beam can be generated by parallel displacement of the axis of rotation.
  • Movement direction for scanning the light beam can be generated by a
  • the scanning body can be movable in a third direction of movement perpendicular to the first and the second direction of movement.
  • the apparatus further comprises a device for recording a time-varying signal from the detector, and an evaluation device for determining at least one parameter from the following group of parameters of the light beam: beam diameter, beam profile, intensity distribution in the cross section of the light beam, beam diameter in multiple positions along the axis of the light beam, divergence angle, beam parameter product, propagation factor, axial focus position,
  • the device can be used to determine the spatial dimensions of a
  • Laser beam can be used.
  • Figure 1 A schematic representation of the device according to the invention for scanning a light beam.
  • Figure 2 A schematic representation of a possible embodiment of the
  • Figure 3 A schematic representation of one of the prior art
  • Figure 4 A schematic representation of another from the prior
  • Stray light can occur due to reflected light radiation, which is guided in the scanner by total reflection and can be received by the detector.
  • Figure 5 A schematic representation of a basic embodiment of the scanning body of the device according to the invention with a
  • the figure shows the geometric relationships between the light beam entrance surface, the light beam exit surface and the probe region in three different views.
  • FIG. 6 shows a schematic representation of an embodiment of the scanning body of the device according to the invention, in which the beam propagation influenced by the recess of the scanning body is shown.
  • the geometry of the scanning body ensures that reflected light is deflected away from the probe area, and that the reflected light can leave the scanning body again without hitting the detector.
  • Figure 7 A plot of a computed scan of a light beam having an approximately Gaussian profile scanned by a known scanner as shown in Figure 3, as compared to a scan with a scored sample body according to the present invention, such as in Figure 5 or 6 shown.
  • FIG. 8 shows several plots of calculated scanning processes of a light beam through different scanning bodies with different lengths.
  • Figure 9a A schematic representation of the light beam propagation in
  • Figure 9b A schematic representation of the light beam propagation in
  • Scanning body according to the invention for a case in which the light beam is still in the measuring field, but does not hit the probe area.
  • Figure 9c A schematic representation of the light beam propagation in
  • Scanning body according to the invention for a case in which the light beam is outside the measuring field, and a reflected portion can hit the probe area.
  • FIG. 10 shows a representation of a first possible embodiment of the scanning body in three different views.
  • FIG. 11 an illustration of a second possible embodiment of the scanning body.
  • FIG. 12 An illustration of a third possible embodiment of the scanning body.
  • FIG. 13 an illustration of a fourth possible embodiment of the scanning body.
  • Figure 14 An illustration of a fifth possible embodiment of the Abtast stressess.
  • FIG. 15 An illustration of a sixth possible embodiment of the invention
  • FIG. 16 an illustration of a seventh possible embodiment of the scanning body.
  • FIG. 17 an illustration of an eighth possible embodiment of the scanning body.
  • FIG. 18 A representation of an exemplary embodiment of the invention with a
  • FIG. 19 shows an illustration of a further exemplary embodiment of the invention with a lens which images the probe area onto an aperture arranged in front of the detector.
  • Figure 20 A representation of another embodiment of the invention with a concave mirror as a device for light collection.
  • Figure 21 A representation of another embodiment of the invention with an additional beveled surface on the Abtast redesign for deflecting the sample light on the detector.
  • FIG. 22 A representation of a further exemplary embodiment of the invention with a sample light deflection region in the scanning body and with a lens for imaging the sample light on the detector.
  • FIG. 23 A schematic representation of a partial region of the scanning body in two different views with an enlarged representation of the probe region.
  • FIG. 24 A plot of calculated scanning processes of a light beam along three scanning tracks.
  • FIG. 25 a schematic illustration in two views of a subregion of the FIG.
  • Probe body with the probe area and with two additional line-shaped probe areas, which are laterally offset from the probe area and are provided for generating reference signals.
  • FIG. 26 A plot of calculated scanning processes of a light beam along three scanning tracks by means of a scanning body which, in addition to the probe area, also has two further line-shaped probe areas.
  • FIG. 1 shows a schematic representation of the invention.
  • a laser beam or light beam 10 with an axis 11 strikes the light beam entrance surface 22 of the scanning body 20, which consists of a transparent optical material and has a rod-shaped basic shape in the direction of a longitudinal axis 19.
  • the rod-shaped scanning body 20 has in the direction of the longitudinal axis 19 has a length L and transverse thereto Cross-sectional dimension D.
  • the scanning body 20 has a recess 21 in the front region, in which the light beam entry surface 22 is located.
  • the recess 21 forms on the Abtast emotions 20 a surface portion 27. Within the surface section 27, the light beam exit surface 23 is located in the embodiment shown.
  • the normal direction 29 of the light beam exit surface 23 is inclined relative to the normal direction 28 of the light beam entry surface 22 by an angle a.
  • the light beam 10 propagates through the scanning body 20 and exits via the light beam exit surface 23 again from the scanning body 20.
  • the scanning body 20 includes a probe region 30 with a light-deflecting structuring. At the light-deflecting structuring of the probe area 30, a part of the light beam 0 is deflected in other directions when the light beam 10 strikes the probe area 30. In this way, a sample is taken from the light beam 10. A portion of the deflected light 17 may be deflected in directions leaving the scanning body 20 without encountering the detector 40. Another part of the deflected light 15 is deflected in directions in which the deflected light 15 within the
  • Scanning body 20 is guided to the sample light exit surface 25 at which the deflected light 15 leaves the scanning body 20. At least part of the
  • deflected light 15 is detected by the detector 40.
  • the sample light exit surface 25 and the detector 40 may be jointly enclosed by a cover 48.
  • the scanning body 20 and the light beam 10 are movable in several spatial directions 51, 52, 53 relative to each other.
  • the sample body 20 here has, for example, a cylindrical basic shape.
  • the scanning body 20 is rotatably mounted on a rotation axis 61, which is preferably aligned parallel to the axis 11 of the light beam 10 and is arranged.
  • the scanning body 20 and the rotation axis 61 are coupled to a movement device such that the distance 62 between the axis 11 of the light beam 10 and the rotation axis 61 is adjustable.
  • a deflecting mirror 43 is arranged, which over the Sample light exit surface 25 propagating deflected light 15 in the direction of the detector 40 deflects.
  • the deflecting mirror 43 is preferably rigidly coupled to the scanning body 20, so also rotates about the axis of rotation 61.
  • detector 40 need not be rigidly coupled to the scanning body 20 and the deflection mirror 43, but is preferably with the moving means coupled, which generates the relative movement 52, so that the position of the detector 40 remains on the axis of rotation 61.
  • a signal recording device 70 registers the signal generated by the detector 40 in proportion to the received sample light 15. The device 70 for
  • Signal recording may further include means for signal evaluation.
  • FIG. 3 shows a scanner 20 known from the prior art with a probe 30.
  • a light beam 10 to be scanned enters the scanner via an entrance surface 22 and strikes the probe 30. Thereby, scattered light 15 is generated, which can be received by a detector .
  • a portion of the light beam 10 to be scanned is reflected at the exit surface 23 of the scanner.
  • the reflected light beam 13 travels back through the scanner 20 to the light beam entrance surface 22, where it may again be partially reflected and for the most part leaves the scanner.
  • a light beam component 18 further propagates in the reverse direction to the light beam 10.
  • the reflected light beam 13 can strike the probe 30 on the return path through the scanner and thus contribute to the scattered light 15.
  • FIG 4 shows another prior art scanner 20 having a probe 30.
  • This scanner has a wedge shape and the probe is located in the front area where the scanner tapers.
  • the scanned light beam 10 is shown here simplified as a single line.
  • the light beam is reflected at an angle when leaving the scanner, so that the reflected light beam 13 can propagate past the probe 30.
  • the angle of the radiation is changed, so that after a very small number of reflections, the total reflection angle is exceeded and the beam portion of the scanner 20 can not leave. This beam component can be received by the detector and thus lead to an undesirable background signal.
  • FIG. 5 shows in detail the front region of the scanning body 20 with the recess 21 and the probe region 30 according to an embodiment of the device according to the invention in three different views.
  • the scanning body 20 has, for example, a cylindrical basic shape which extends along the longitudinal axis 19.
  • the cross section of the cylindrical basic shape, i. the cross-section in a cross-sectional plane 26 of the scanning body 20 outside the region of the recess 21 is in this case circular and has a cross-sectional dimension or a diameter D.
  • the recess 21 may be, for example, a slanted gate in the front region of the scanning body that the cross section of the Abtast stressess 20 tapers towards the front end of the cylindrical rod.
  • the front end of the scanning body 20 is the end of the scanning body, which faces the rear end with the sample light exit surface 25.
  • the cross-sectional plane 26 ' in which the probe region 30 is arranged, the cross-section is a truncated circle and the cross-sectional dimension D' is correspondingly reduced.
  • the recess 21 may be on the top of the
  • the probe region 30 is at the light beam entrance surface 22 or within the sample body 20 near the light beam entrance surface 22 with a distance d arranged to the light beam entrance surface 22.
  • the cross-sectional plane 26 'with the probe region 30 has a
  • the light beam entrance surface 22 and the light beam exit surface 23 extend at an angle to each other.
  • the normal direction 28 of the light beam entrance surface 22 and the normal direction 29 of the light beam exit surface 23 are arranged at an angle a to each other.
  • the angle a may be in a range of 5 ° to 20 °.
  • the light beam entrance surface 22 and / or the light beam exit surface need not be flat, but may also have a curvature.
  • the light beam entry surface 22 is a portion of the cylindrical outer surface of the Abtast stresses 20. The normal direction to the surface is then to be understood as the local one
  • the measuring field axis 24 is an imaginary line perpendicular to the longitudinal axis 19, which extends through the probe area 30 and intersects the longitudinal axis 19 and connects the light beam entry surface 22 with the light beam exit surface 23.
  • the measuring field 12 extends around the measuring field axis 24.
  • the light beam entry surface 22 and the light beam exit surface 23 each extend at least over the measuring field 12.
  • FIG. 6 shows the propagation of different light beam components in one
  • a light beam 10 to be scanned enters the scanning body 20 via the light beam entry surface 22 and strikes the probe area 30.
  • a sample is taken from the light beam 10 by deflecting part of the light beam from the probe area 30.
  • the deflected beam portion 15 can propagate in the scanning body 20 to the sample light exit surface 25 and then be received by the detector.
  • the original light beam 10 propagates in the scanning body to the light beam exit surface 23 and leaves the scanning body 20.
  • a portion of the light beam 10 is reflected at the exit surface 23 of the Abtast stressess 20 and runs back within the Abtast emotionss. Due to the angle between the entrance surface 22 and the exit surface 23 of the reflected light beam 13 is tilted and therefore hits the
  • the reflected light beam 13 can propagate in a zigzag course in the scanning body 20 and is attenuated at each reflection on the outer surface of the Abtast Sciences, since the largest light beam portion 18 is transmitted at each impingement and broken out of the Abtast Sciences 20. After a few reflections, the reflected beam 13 is so far attenuated that it is practically no longer measurable. With a sufficiently large length of the scanning body 20, therefore, no stray light is generated on the detector by the tilted reflected light beam 13.
  • FIG. 7 shows the signal which is received by the detector during a movement of the scanner through the light beam.
  • the signal thus represents a single scanning track through the light beam.
  • the dashed curve shows the signal which with one of the Prior art known scanner is produced without recess.
  • the logarithmic scaling indicates that the signal is composed of two signal components: a central high signal pulse, which is superimposed by a broader, by about two orders of magnitude weaker signal component. in the
  • the solid curve represents the signal of the same light beam, which is scanned with a recess according to the invention with recess.
  • the signal consists only of the central high signal pulse without background component.
  • the light beam is thus scanned by the scanning body according to the invention with recess without faulty signal components, so much more accurate.
  • FIG. 8 shows the signals during the scanning of a light beam with different scanning bodies. All scanning are according to the invention with a
  • FIGS. 9a, 9b and 9c show the propagation of different light beam components in the scanning body 20, similar to FIG. 6.
  • the light beam 10 to be scanned is shown here in simplified form as a single beam without lateral expansion.
  • FIGS. 9a, 9b and 9c differ in the illustrated relative position of FIG.
  • the light beam 10 strikes the probe area 30 exactly.
  • a sample is taken from the light beam 10 and the sample light 15 is generated.
  • the reflected light beam 13 at the light beam exit surface 23 is tilted with respect to the axis 11 of the original light beam 10 and therefore can not hit the probe area 30.
  • the light beam 10 falls outside the probe area 30 onto the scanning body, but within the measuring area 12.
  • the light beam 13 reflected at the light beam exit area 23 is opposite to the axis 11 of FIG original light beam 10 is tilted sufficiently far and therefore does not hit the probe area 30.
  • the light beam 10 falls on the scanning body outside the probe area 30 so far that the reflected light beam 13 strikes the probe area 30 and thus erroneous scattered light 15 is generated, which can be received by the detector. But since the light beam 10 is already outside the measuring field 12, the erroneous scattered light signal does not affect the reconstruction of the
  • FIGS 10 to 17 show, by way of example, various possible embodiments of the scanning body 20.
  • the scanning body 20 in each of the figures is shown in three different views: a frontal view in an x-z plane showing the cross-sectional shape of the scanning body (left)
  • the scanning body 20 in Figure 10 has a cylindrical basic shape.
  • the recess 21 is arranged on the underside of the scanning body 20 below the probe area 30, so that the surface portion 27 formed by the recess 21 includes the light beam exit surface 23.
  • the normal direction 29 of the light beam exit surface 23 is inclined in an y-z plane with respect to the normal direction 28 of the light beam entry surface 22 by an angle a.
  • the scanning body 20 shown in Figure 11 also has a cylindrical
  • the recess 21 is here arranged on the upper side of the scanning body 20, so that the surface portion 27 formed by the recess 21 includes the light beam entry surface 22.
  • the normal direction 28 of the light beam entrance surface 22 is inclined in an y-z plane with respect to the normal direction 29 of the light beam exit surface 23 by an angle a.
  • FIG. 12 shows another possible embodiment of the scanning body 20 with a cylindrical basic shape.
  • a recess 21 is arranged on the upper side of the scanning body 20, and a second recess 21 'is arranged on the underside of the scanning body 20, so that two inclined surface sections 27 and 27' are formed on the scanning body 20.
  • the one surface portion 27 includes the Light beam entrance surface 22, and the other surface portion 27 "includes the light beam exit surface 23.
  • the scanning body 20 has a recess 21 at the bottom, similar to the embodiment in Figure 10.
  • the normal direction 29 of the light beam exit surface 23 is not in a yz plane, but in an xz-plane with respect to the normal direction 28 of the light beam entry surface 22 inclined by an angle a
  • Recess 21 can therefore extend over the entire length of the scanning body 20, as in the example shown.
  • FIG. 14 is comparable to the embodiment of FIG. 10, wherein the scanning body 20 here does not have a cylindrical basic shape but has a cuboid basic shape.
  • the cross section of the sample body 20 is thus rectangular or square.
  • the rod-shaped scanning body 20 may also have other cross-sectional shapes.
  • FIG. 15 shows by way of example a scanning body 20 with a hexagonal
  • Basic form i. a rod with hexagonal cross-section.
  • FIG. 16 shows a scanning body 20 with a cylindrical basic shape and with a recess 21 on the underside, wherein the surface portion 27 is inclined such that the cross section of the scanning body 20 does not taper towards the end of the rod, but towards the center of the rod Scanning body out.
  • FIG. 17 shows yet another scanning body 20 with a cylindrical basic shape and with a recess 21 on the underside.
  • the surface portion 27 formed by the recess 21 is uniformly curved in this example.
  • FIG. 18 shows a further possible aspect of the invention.
  • a light collection device 44 is arranged in this example.
  • the device for light collection 44 may be a lens which images the sample light exit surface 25 onto the detector 40 in the embodiment shown.
  • the aspect of the invention shown can be used to optimize the sample light detection when the detector 40 is not to be placed directly opposite the sample light exit surface 25 or when the detector 40 is not to be moved along with the sample body in the scanning of light beams 10.
  • Sample light exit surface 25 on the detector 40 both sample light portions 15 can be detected, from the probe area 30 directly in the direction of the
  • Sample light exit surface are deflected, and sample light portions 16 are detected, which are guided within the sample body 20 by total reflection.
  • Light collection 44 arranged. Furthermore, an aperture 46 is additionally arranged in front of the detector 40.
  • the light collection device 44 images the probe region 30 onto the diaphragm 46.
  • the image of the probe area 30 on the diaphragm 46 in front of the detector 40 causes a selection of the received light component.
  • unwanted scattered light can be hidden.
  • jet portions 16 which, although guided by total reflection within the sample body 20 to the sample light exit surface 25 and constitute part of the sample light in principle desirable, but due to the selection by the
  • the device for light collection 44 can also be formed simultaneously as a deflection mirror 43, as shown schematically in FIG.
  • the sample light 15 is collected by means of the deflection mirror 43 designed as a concave mirror and deflected in the direction of the detector 40 and imaged.
  • An arrangement with a deflection of the sample light is favorable if the relative movement 51 is generated by rotation of the scanning body 20 about a rotation axis 61.
  • Deflection mirror 43 and detector 40 may be arranged on the axis of rotation 61. It is not necessary that the detector 40 is coupled to the rotational movement.
  • Figure 21 shows an embodiment, which is formed of the deflection mirror 43 as part of the Abtast stresses 20.
  • a sample light deflection region 36 is on Probe 20 formed in the form of an oblique surface on which the sample light 15 is deflected by total reflection to the sample light exit surface 25 and the detector 40.
  • a sample light deflection region 36 is formed within the sample body 20.
  • the sample light deflection region 36 may, for example, be an area with a light-deflecting or light-scattering structuring.
  • a light collection device 44 such as a lens, may be disposed between the sample light exit surface 25 and the detector 40.
  • FIG. 23 shows that the probe region 30 can be formed by a
  • the probe area 30 can be given a desired density distribution and / or shape or contour in a targeted manner.
  • the probe area 30 formed by the structural details is spherical with a diameter of dimension 33.
  • a plot of the signal from the detector 40 is relative to the x-position of the probe area 30 and the scan body 20, respectively to the axis 11 of the light beam 10 is shown.
  • the signal which is obtained, for example, in the scan in the direction of movement 51 is plotted for three
  • FIG. 25 shows, as a further exemplary embodiment, a scanning body 20 which, in addition to the probe area 30, also has two further linear probe areas 35, 35 ', which are laterally offset from the probe area 30.
  • the length of the line-shaped probe regions 35, 35 ' corresponds approximately to the dimension of the measuring field 12.
  • the line-shaped probe regions 35, 35' are arranged outside the measuring field 12 in this example, but can also be located within the
  • Measuring field 12 may be arranged. When scanning a light beam 10 along the direction of movement 51, up to three signal pulses are generated in succession. The first and the last signal pulse, that is, the signals generated by the line-shaped probe areas 35, 35 ', can be used as a reference signal for
  • FIG. 26 shows a plot of simulated scanning processes of a light beam as in FIG. 24.
  • the signals shown in FIG. 26 are produced by scanning a light beam by means of a scanning body with two additional line-shaped probe regions, as shown in FIG , The signal pulses generated by the line-shaped probe areas are approximately the same for each sample, even if the y-position is shifted, because the
  • the signal curves can be exactly related to one another by means of the signals generated by the line-shaped probe regions 35, 35 ', that is, by the first and the last signal pulse, for example by "superimposing" the curves In this way, even a slow, uniform movement of the light beam 10 can be compensated.
  • an apparatus for scanning light beams is provided, which is suitable for the determination of geometric parameters of laser beams of high power or power density, which is insensitive to scattered light and allows the measurements with high signal-to-noise ratio.
  • Light beam 10 has been proposed, which comprises a scanning body 20, a probe area 30, a detector 40, and a device for providing relative movements.
  • the scanning body 20 consists of a for the light beam 10 optically transparent material.
  • the scanning body 20 has a light beam entry surface 22, a light beam exit surface 23 and a sample light exit surface 25.
  • the scanning body 20 has a rod-like basic shape, that is, it extends in the direction of a longitudinal axis 19 over a length L. Perpendicular to the longitudinal axis 19, the scanning body 20 has a cross-sectional plane 26 with a cross-sectional dimension D. The cross-sectional shape of the scanning perpendicular to the longitudinal axis 19
  • the scanning body 20 has a recess 21 which forms a surface portion 27 on the Abtast emotions 20.
  • the surface portion 27 includes the light beam entrance surface 22 or the light beam exit surface 23.
  • the light beam entrance surface 22, the light beam exit surface 23 and the probe region 30 are located in a region closer to a first end of the sample body 20, the front end, as at a second end, the rear end.
  • the light beam entrance surface 22 and the light beam exit surface 23 are arranged opposite each other on outer surfaces of the Abtast emotionss 20.
  • the scanning body 20 includes the probe region 30 with a light-deflecting structuring.
  • the probe region 30 is arranged closer to the light beam entry surface 22 than to the light beam exit surface 23.
  • the distance d of the probe region 30 to the entrance surface 22 is less than or equal to one-tenth of the cross-sectional dimension D.
  • the distance s of the probe region 30 to the first (front) end of the scan body 20 may be at least half of the cross-sectional dimension D amount.
  • An imaginary line which intersects the longitudinal axis 19 perpendicularly passes through the probe area 30 and forms the measuring field axis 24.
  • the measuring field axis 24 penetrates the light beam entry surface 22 and the light beam exit surface 23.
  • the measuring field 12 extends around the area of the measuring field 12, a trouble-free scanning of the light beam 10 is possible.
  • the light beam entry surface 22 and the light beam exit surface 23 extend at least over the measurement field 12.
  • the measurement field 12 can be defined in such a way that only those detector signals which correspond to a position of the light beam 10 within the measurement field 12 are taken into account in the evaluation ,
  • the normal direction 28 of the light beam entry surface 22 is inclined at an angle a in the range of 5 ° to 20 ° to the normal direction 29 of the light beam exit surface 23. The special effect and significance of this angular range will be explained later.
  • the light beam entry surface 22 and the light beam exit surface 23 are thus arranged at an angle to each other.
  • FIGS. 10 to 17 show a number of exemplary embodiments of a scanning body 20 according to the invention.
  • the light beam entry surface 22 and / or the light beam exit surface 23 may also be curved. In such cases, the normal directions of the respective surfaces are to be understood as the local normal directions in the point of the entrance or exit surface in which the measuring field axis 24 pierces the respective surface.
  • the cross-sectional plane 26 ' in which the probe region 30 is arranged, lies in the region of the recess 21. It should be understood that the cross-sectional plane 26' adjoins the surface portion 27 formed by the recess 21. In other words, the recess 21 limits the cross-sectional plane 26 ', so that the cross-sectional plane 26' touches the surface section 27 formed by the recess 21.
  • the scanning body 20 has a cross-sectional dimension D' which, due to the recess 21, may be smaller than the cross-sectional dimension D in a region of the scanning body 20 outside the recess.
  • Cross-sectional dimension D in a cross-sectional plane 26 of the Abtast stressess 20 outside the recess 21 is reduced.
  • the light beam 10 can enter the scanning body 20, propagate through the scanning body 20 and exit at the light beam exit surface 23 again.
  • the light beam entrance surface 22 and the Light beam exit surface 23 are substantially smooth and polished to
  • the light beam can strike the probe area 30. In that case, part of the light beam is deflected or scattered by the light-deflecting structuring of the probe region 30, thereby removing a sample from the light beam 10. Part of the deflected light 15 can propagate in the scanning body 20 to the sample light exit surface 25 and leave the scanning body there.
  • the sample light exit surface 25 is arranged in an area closer to the second (rear) end of the sample body 20 than at the first (front) end.
  • the sample light exit surface 25 may be, for example, the rear end surface of the rod-shaped scanning body.
  • the sample light exit surface 25 may also be arranged on the circumference of the Abtast analysess 20 near the rear end; In this case, the sample light exit surface 25 is a partial region of the circumferential surface of the scanning body 20.
  • the probe region 30 can be arranged within the scanning body 20 or directly on the light beam entry surface 22.
  • the probe region 30 can be formed as a volume or as a surface , When scanning the light beam 10, there is an effective area of the probe area 30 that is defined by the two-dimensional
  • Projection of the probe area 30 in the direction of the axis 11 of the light beam 10 is defined.
  • the effective area is thus the two - dimensional projection of the
  • This two-dimensional projection of the probe area may have approximately equal dimensions 33 in the directions of movement 51 and 52.
  • the two-dimensional projection of the probe region 30 may be, for example, a square, a circle, or a polygon. Accordingly, the probe area 30 itself may be, for example, a cuboid, a rectangular disk, a sphere, an ellipsoid, a circular disk, or an elliptical disk.
  • the optically transparent material of the scanning body 20 has a low absorption and a high thermo-mechanical stability.
  • Suitable materials are, for example, quartz glass, in particular synthetically produced quartz glass, sapphire, and other crystal glasses and optical glasses with high
  • quartz glass When using quartz glass, a particularly low absorption is achieved; Many quartz glasses have an absorption of less than 100 ppm / cm and sometimes less than 10 ppm / cm.
  • the material in the probe area 30 of the scanning body 20 may be the same material as the optically transparent material of the scanning body 20. Outside the probe area 30, the light beam 10 propagates undisturbed through the transparent material. Within the probe region 30, the light beam 10 is deflected by the light deflecting structuring to a fraction in other directions.
  • the light-deflecting effect of the structuring can be based on refraction, reflection or scattering. For this purpose, within the probe region 30, for example, the density or the refractive index of the material may have local changes.
  • the light deflecting structuring may also be formed by a rough interface or surface.
  • the light-deflecting structuring can furthermore be formed by cavities, cracks or other imperfections in the material.
  • the material in the probe region 30 may also be wholly or partly a different material than the material of the scanning body 20.
  • the material in the probe region 30 may also have a doping.
  • the light-deflecting structuring of the probe region 30 can also be formed by fluorescence converters in the material of the probe region 30, such that the deflected light 15 has a different wavelength than the light beam 10.
  • the light-deflecting structuring in the probe region 30 does not have to be uniform , isotropic or spatially constant.
  • Patterning in the probe region 30 may also be formed by a single or a plurality of feature details 31.
  • a structural detail 31 may be, for example, a microscopic crack or cavity in the material, or a microscopic change in the material in terms of density, refractive index or doping.
  • the probe area 30 may, for example, consist of only a single structural detail 31. However, the probe area 30 can also from a
  • the spatial density distribution function of the structural details may be adjusted by the targeted distribution of the structural details 31 within the probe region 30 to different requirements. For example, the spatial density distribution function of the structural details may be radially symmetric to the center of the probe region 30.
  • the probe region 30 is the so-called internal glass engraving.
  • an ultrashort pulsed laser beam is focused within the optically transparent material on a very small, for example, diffraction-limited spot. Due to the extreme pulse power densities occurring in the process, a defect can be generated in the focused area. It can by
  • Utilizing non-linear effects of the area of change of the material can be narrowly limited. It is thus possible to produce defects with dimensions in the range of about 1 pm to several 10 pm. The generated defects can be
  • Another possibility for producing the probe region 30, in particular when the probe region 30 is arranged on the light beam entry surface 22, consists in selective etching.
  • selective laser etching particularly small and accurate structures can be generated.
  • the localization of the material is greatly increased in a first step by a local laser pulse treatment, and in a second step, the treated material sites are removed by chemical etching.
  • the light beam 10 and the scanning body 20 are movable relative to each other.
  • the position of the light beam 10, for example by means of a scanner device, are controlled, or the scanning body 20 is by means of a
  • Moving device relative to the light beam 10 movable.
  • At least two different independent directions of movement 51, 52 are provided, which span a scanning surface.
  • the scanning surface spanned by the directions of movement can be aligned perpendicular to the axis 11 of the light beam 10.
  • the probe area 30 of the scanning body 20 is guided through a cross section of the light beam 10 and in this way the intensity distribution of the light beam 10 is scanned.
  • a scanning track can be generated by the cross section of the light beam 10.
  • the scanning body 20 can be offset by a small distance.
  • a further, parallel offset scanning track can be generated by the cross section of the light beam 10.
  • the cross section of the light beam in a series of parallel scanning tracks can be completely scanned and the two-dimensional beam profile of the light beam 10 reconstructed.
  • a third movement direction 53 can be provided, which is aligned perpendicular to the directions of movement 51, 52 and can be aligned parallel to the axis 1 1 of the light beam 10.
  • the measuring field 12 is larger than the cross section of the light beam to be scanned.
  • the measuring field can be at least twice as large as the
  • Diameter of the light beam This ensures that at the moment in which the probe area 30, the cross section of the light beam 10 at a
  • the light beam 10 is completely within the measuring field 12 and in its entire radial extent the scanning body 20 between light beam entrance surface 22 and light beam exit surface 23 passes through, and there are no areas of the light beam outside the measuring field 12, where unwanted deflected light Shares could be generated and erroneous signal contributions could arise.
  • the device according to the invention is therefore suitable for scanning spatially narrow radiation fields, such as laser beams.
  • the probe region 30 detects the light beam 10 at least partially, a fraction of the light beam 10 is deflected due to the light-deflecting structuring of the probe region 30.
  • the deflected beam portions 15, 16, 17 can be spread in different directions. A portion of the light 17 may be deflected in directions leaving the scanning body 20 without encountering the detector 40. Another part of the deflected light 15 propagates through the
  • the detector 40 is a photosensitive detector, such as a photodiode, which converts the incident light into an electrical signal.
  • the signal from the detector 40 is recorded during the scanning movements; From the recorded signals, the intensity distribution in the cross section of the light beam 10 or its beam profile can then be reconstructed.
  • the sample light exit surface 25 and the detector 40 may be jointly enclosed by a cover 48.
  • the time profile of the deflected light 15 impinging on the detector 40 and of the signal pulse generated therefrom by the detector 40 does not correspond exactly to the beam profile on the scanned trace of the cross section of the light beam 10, but the detector signal pulse is broadened .
  • the detector signal is mathematically a convolution of the scanning function of the probe area 30 with the beam profile, provided that the change of the beam profile along the beam axis is sufficiently low.
  • the probe area 30 should therefore be sufficiently small.
  • the magnification of the signal pulse width is only about 12% when the width of an approximately Gaussian scan function defined by the dimensions of the probe region is one-half the diameter of an approximately Gaussian beam cross-section.
  • the dimension 33 of the probe area 30 in the direction of the first movement direction 51 is smaller than half the dimension of the smallest beam cross section of the light beam 10 to be scanned. If the width of the scanning function is very small compared to FIG Width of the beam profile, for example, 1/10 or smaller, then that is
  • the recess 21 and the probe area 30 are not identical, although it may be provided in individual possible embodiments of the invention that the probe area 30 at the recess 21, or in the immediate vicinity of the Recess 21, or may be arranged on the surface portion 27 formed by the recess 21.
  • the dimensions of the surface portion 27, which is formed by the recess 21, are larger than the dimensions 33 of the probe area 30.
  • a small probe area is advantageous in order to achieve a high spatial resolution in the scanning of the light beam 10.
  • a larger surface area 27 compared to the probe area is advantageous for scanning the light beam with as little interference as possible.
  • the surface portion 27 formed by the recess 21 includes the
  • Light beam entrance surface 22 or the light beam exit surface 23 Each extend at least over the measuring field 12.
  • the measuring field 12 for example, at least twice as large as the diameter of the scanned light beam 10. It understands it goes without saying that the diameter of the light beam 10 in any cross-section of the light beam 10 is greater than or equal to the smallest beam cross-section of the light beam 10 to be scanned.
  • the dimensions 33 of the probe area 30 are smaller than half the dimension of the smallest beam cross section of the light beam 10.
  • the dimensions of the area section 27 formed by the recess 21 are for example at least 4 times greater than the dimensions 33 of the probe area 30 It is advantageous to ensure that the edges of the surface portion 27 are far enough away from the probe region 30 to allow the sample to separate any interferences that may be caused by the edges of the surface portion, such as additional unwanted stray light, from the sample light 15 can be.
  • the dimensions of the surface portion 27 formed by the recess 21 may be at least 10 times greater than the dimensions 33 of the probe portion 30 to allow even better separation of the sample light 15 from any stray light.
  • the dimensions 33 of the probe region 30 may be in a range between 1 ⁇ and 100 ⁇ .
  • a dimension 33 of at least 1 ⁇ m is advantageous in order to generate a sufficiently high signal during the sampling.
  • a dimension 33 of at most 100 is advantageous in order to achieve a high spatial resolution in the scanning of the light beam 10.
  • the dimensions of the surface portion 27 formed by the recess 21 may be in a range between 0.5 mm and 100 mm.
  • a dimension of at least 0.5 mm is advantageous in order to have a sufficiently large measuring field 12 available.
  • a dimension of at most 100 mm is advantageous in order to keep the inertial forces in the movement of the Abtast stresses 20 low.
  • the dimensions of the surface portion 27 may in particular also be in a range of 1 mm to 20 mm.
  • the term dimension here is to be understood in particular a diameter or a side length.
  • FIG. 7 shows a plot of a single scanning trace, which was calculated by modeling the scanner and simulating the beam propagation by means of raytracing software.
  • the dashed curve shows the signal which, with the known from the prior art scanner (prior art), ie a scanner without
  • the signal is apparently composed of two signal components: a central high signal pulse, which is superimposed by a broader, by about two orders of magnitude weaker signal component.
  • the central high signal pulse corresponds to the expected course in the sampling of a
  • Simulation of the scanning of the light beam was carried out in the example shown in a cross section near the waist or the focus of the light beam.
  • the effects of erroneous signal components by the reflected beam may be even greater when scanning other cross sections of the light beam farther from the beam waist. This can be particularly problematic if several cross-sectional planes of the beam 10 are to be scanned along its axis 11 to determine the beam parameter product, the beam propagation factor, or the divergence angle of the beam.
  • the solid curve in Figure 7 lacks the broader weaker share.
  • the solid curve is the simulated signal of the scanning of the same light beam by means of a scanning body 20 according to the invention
  • Outgoing surface 23 reflected beam 13 is tilted due to the inclined by at least 5 ° normal direction 29 of the exit surface 23 relative to the normal direction 28 of the entrance surface 22.
  • the reflected beam 13 can not hit the probe area 30, as in Figures 6 and 9a. The light beam is thus detected by the scanning body 20 according to the invention
  • a minimum angle for the inclination of the normal direction 29 of the exit surface 23 relative to the normal direction 28 of the entry surface 22 can be derived, for example, from the finite divergence of the light beam to be scanned.
  • Laser beams commonly used in laser material processing may have a typical maximum half opening angle of 125 mrad. This value results from a commonly used focusing focal length of
  • Machining optics of 200 mm with a typical optic diameter of 50 mm. After refraction at the light beam entrance surface 22 is the
  • Half opening angle within the sample body 20 about 4.8 ° at typical
  • the angle between the normal direction 29 of the exit surface 23 and the normal direction 28 of the entry surface 22 should therefore be at least 5 °.
  • the angle of inclination a between the normal direction 29 of the exit surface 23 and the normal direction 28 of the entrance surface 22 must not be too large, otherwise the reflected beam 13, if it propagates further to the outer surface of the Abtast stressess, would be totally reflected there and could Do not leave the scanning body 20. This would lead to a significantly increased signal background.
  • the inclination of the reflected beam 13 must therefore be below the
  • Inclination angle a between the normal direction 29 of the exit surface 23 and the normal direction 28 of the entrance surface 22 is not greater than 20 °.
  • the inventive angle range of 5 ° to 20 ° results.
  • the light beam entrance surface 22 and the light beam exit surface 23 are smooth surfaces.
  • the light beam entrance surface 22 and the light beam exit surface 23 may be bounded or bounded by edges geometrically.
  • the surface portion 27 formed by the recess 21 may be geometrically limited by edges.
  • the light beam entrance surface 22 and the light beam exit surface 23 have no edges within the surfaces themselves.
  • the light beam entry surface 22 and / or the light beam exit surface 23 may have a curvature, which may also be zero.
  • the surfaces 22 and / or 23 may, for example, have a planar, spherical, cylindrical, toric, or otherwise curved shape. If one or both surfaces of the light beam entrance surface 22 and the light beam exit surface 23 have a non-zero curvature, the
  • Angle range according to the invention of 5 ° to 20 ° for the inclination angle a of the normal direction 28 of the light beam entrance surface 22 to the normal direction 29 of the light beam exit surface 23 in particular to the normal directions in the puncture points of the measuring field axis 24 on the Light beam entrance surface 22 and on the light beam exit surface 23rd
  • embodiments of the scanning body 20 are provided in which the inclination angle between the normal direction 28 of the light beam entrance surface 22 and the normal direction 29 of the light beam exit surface 23 in an angle range of 5 ° to 20 °, for all Surface elements on the
  • the inclination of the local surface normal on the surface portion 27 formed by the recess 21 to the light beam axis 11 is at most 30 ° for all surface elements of
  • Area section 27 This is advantageous in order to avoid a total reflection of the light beam 10 to be scanned at the area section 27.
  • Light beam entrance surface 22 and on the light beam exit surface 23 to the light beam axis 1 1 is at most 30 °, for all surface elements of the light beam entrance surface 22 and the light beam exit surface 23rd
  • Embodiments are therefore also provided in which the angle of inclination a between the normal direction 29 of the exit surface 23 and the normal direction 28 of the entry surface 22 is in the range between 10 ° and 20 °.
  • the cross-sectional dimension D' is greater than or at least equal to half of the cross-sectional dimension D in a cross-sectional plane 26 in the region of the Abtast stressess 20 outside the recess 21.
  • Cross-sectional dimensions D and D ' are the dimensions in the direction of
  • the scanning body 20 should continue to have a certain length L, so that the light beam portions 13 reflected within the Abtast stressess by a
  • FIG. 8 shows simulated scanning signals for three different scanning bodies with different lengths. All curves show a central high signal pulse, which corresponds to the expected course in the scanning of a light beam with approximately gaussian beam profile. Some of the curves also show a uniform signal background, the height of which decreases as the length L of the scanning body increases. In the solid curve, which simulates a scan with a AbtastAvem whose length L is equal to four times the cross-sectional dimension D, the signal background is just no longer recognizable.
  • the signal-to-noise ratio in this scanning body is more than about 40,000: 1, that is to say over four orders of magnitude, with which any signal background which is still present is practically no longer detectable.
  • embodiments of the invention are provided in which the scanning body 20 in the direction of the longitudinal axis 19 has a length L which is at least four times the cross-sectional dimension D of the Abtast stressess 20.
  • the distance of the probe area 30 to the rear end of the Abtast stressess 20, in the vicinity of the sample light exit surface 25 is arranged at least three times
  • Cross-sectional dimension D of the sample body 20 is.
  • the invention due to its features over the prior art has significant advantages:
  • the device allows the scanning and measurement of light rays and
  • the device allows the scanning and measurement of light beams and laser beams with high spatial resolution in all directions.
  • the device allows a sampling and measurement with very high dynamics and very high signal-to-noise ratio.
  • a problem in the reconstruction of the two-dimensional intensity distribution from the signal pulse traces of the individual scanning tracks can be that the signal profiles must be assigned to the correct coordinates along the directions of movement.
  • Encoder coupled whose signal must be synchronized with the detector signal.
  • a small timing error in the synchronization or a jitter can have a significant effect and affect the accuracy.
  • the line-shaped probe region 35 is
  • the line-shaped probe region 35 removes a strip-shaped sample from the entire cross-section of the light beam during a scanning movement. The sample taken or the amount of
  • the deflected light is invariant to the position along the axis of the line-shaped probe region 35. Therefore, the signal pulse generated by the line-shaped probe region has each scan motion and each offset in parallel
  • this signal pulse can be used as a reference signal and the individual signal waveforms can be aligned based on this reference signal.
  • the line-shaped probe area 35 may have a small angle to the longitudinal axis 19, so that the axis of the line-shaped probe area 35 extends through the axis of rotation 61. To this way, the line-shaped probe region 35 is aligned perpendicular to the local tangent to the scanning trace generated by the direction of movement 51.
  • a further advantageous embodiment results if two additional line-shaped probe regions 35, 35 'are arranged in the scanning body 20, for example one line-shaped probe region on each side of the probe region 30, so that the probe region 30 approximately midway between the line-shaped probe areas 35, 35 'lies.
  • Such an embodiment is exemplary in FIG.
  • Figure 26 shows calculated scanning signals generated with such a scanning body 20 in the scanning of a light beam.
  • up to three signal pulses are thus generated in succession.
  • the first and the last signal pulse that is to say the signals generated by the linear probe regions 35, 35 ', serve as reference signals.
  • the trace and height of the reference signals are approximately the same for all strobe tracks, except for the statistical noise associated with ray tracing simulation.
  • not only a jitter of the scanning motion can be compensated, but also a variation of the scanning speed can be detected and compensated.
  • the device For carrying out the scanning movements in the directions of movement 51 and 52 and optionally additionally in the direction of movement 53, the device is equipped with a device for providing relative movements.
  • the scanning body 20 may for example be coupled to a movement device which consists of Cartesian linear guides with corresponding drives. Such devices are familiar to the expert and need not be explained in detail.
  • FIG. 2 shows an exemplary embodiment of the invention in which the scanning body 20 is rotatably mounted on a rotation axis 61 in order to provide the direction of movement 51.
  • the axis of rotation 61 intersects the longitudinal axis 19 of the scanning body 20 or the longitudinal axis 19 extended over the sample light exit surface
  • the axis of rotation 61 is arranged perpendicular to the longitudinal axis 19. in the
  • a deflection mirror 43 may be arranged, which deflects the sample light 15 to the detector 40 and which is coupled to the rotational movement of the Abtast stressess.
  • Detector 40 may be disposed on the rotation axis 61 and thus the sample light 15 received without being coupled to the rotation about the rotation axis 61.
  • the axis of rotation 61 can be displaced in parallel by means of a further movement device, which may be a linear guide with drive.
  • a further movement device which may be a linear guide with drive.
  • the direction of movement 51 in this case is therefore a rotational movement or circumference movement.
  • the Abtastspuren are therefore in this embodiment parallel offset circular path segments.
  • the curvature of the scanning tracks can be taken into account in the reconstruction of the beam profile, or it is negligible at a sufficiently large distance of the rotation axis 61 to the probe area 30th
  • the Fresnel reflection at the light beam entry surface 22 reflects back a small portion of the beam in the direction of the incoming light beam 10. For very high power light beams, this back-reflected portion could cause undesirable effects on the light beam emitting device or in the environment. It may therefore be advantageous to have a sufficient
  • the light beam entry surface 22 may have a curvature, in particular a convex curvature. Through a curved surface of the reflected portion is distributed in space, when in the sampling of the
  • Scanning body is guided by the light beam, and there is no directional
  • this is achieved by using a cylindrical rod as a scanning body 20, wherein the light beam entrance surface 22 is formed as a portion of the cylindrical peripheral surface of the Abtast stressess 20.
  • the light beam entry surface 22 has a cylindrically convex curvature.
  • the device with the scanning body 20 may, for example, be aligned such that the light beam entry surface 22 is approximately perpendicular to the beam axis 11.
  • the device can also be aligned with the light beam 10 so that the normal direction 28 of the light beam entrance surface 22 is inclined at an angle to the beam axis 1 1, so that the light beam entrance surface 22 obliquely to
  • Light beam 10 is. Since the Fresnel reflection is dependent on the direction of polarization, the relative intensities of the light beam in the two polarization directions can thereby change when the light beam transmitted into the scanning body, which is undesirable for the beam measurement.
  • Polarization Shares should be less than 1% or less than 0.1%. It can therefore be provided arrangements or alignments of the device in which the inclination of the normal direction 28 of the light beam entrance surface 22 to
  • Beam axis 11 is at most 17 °. Arrangements are also provided in which the inclination of the normal direction 28 of the light beam entrance surface 22 to the beam axis 11 is at most 6 °.
  • the scanning body 20 may include a sample light deflection region 36.
  • the sample light deflection region deflects at least part of the beam portion 15 deflected by the probe region 30 in the direction of the detector 40.
  • the sample light deflection region 36 may, for example, be designed such that the
  • Sample light deflection region 36 has a light-deflecting structuring in the material of the Abtast Sciences 20.
  • the light-deflecting structuring of the sample light deflection region 36 can be carried out in a manner similar to the light-deflecting structuring of the probe region 30.
  • the sample light deflection region 36 can also be a bevelled surface of the sample body 20.
  • Figures 21 and 22 show such embodiments by way of example.
  • deflected light portion 15 may be provided. Possible elements are devices for collecting light, deflecting mirrors, light-diffusing surfaces, or diaphragms.
  • a device for light collection 44 By means of a device for light collection 44, the deflected light 15 emerging from the sample light exit surface 25 can be focused on the detector 40. Thus, the light fraction detected by the detector 40 can be increased and thus the signal level can be increased.
  • the light collection device 44 may also be used to direct the probe region 30 directly to the detector 40
  • the light collection device 44 may, for example, a lens, a concave mirror, a
  • the lens may be any type of lens, ie, a single lens spherical or aspherical lens, a lens system, or a gradient index lens.
  • a deflection mirror 43 can be helpful for Decoupling the movement of the scanning body 20 from the detector 40.
  • Light scattering surface may be beneficial for reducing or eliminating directional dependencies in detection sensitivity.
  • Figures 18 to 20 and 22 show examples of the aforementioned embodiments.
  • a device for light collection can also be combined with the sample light exit surface 25, for example by means of a convexly shaped sample light exit surface 25.
  • the invention can be used, for example, to determine one or more of the following parameters of a light beam 10: beam diameter, beam profile, intensity distribution, relative power density. If at the
  • Focus position focus diameter
  • the invention can be used to scan very high power and / or power density laser beams.
  • the laser beam may have a power of up to 1000 W and also significantly higher, for example, 100 kW and above.
  • the laser beam can have a power density of up to 5 MW / cm 2 or several orders of magnitude higher.

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Abstract

Die Erfindung betrifft eine Mess-Sonde zur Abtastung von Lichtstrahlen (10) oder Laserstrahlen. Die Mess-Sonde ist geeignet zur direkten Abtastung von Laserstrahlen mit sehr hoher Leistung und zur Bestimmung von geometrischen Parametern eines Lichtstrahls (10) mit hoher Ortsauflösung und mit hohem Signal-Stör-Abstand, da die Mess-Sonde unempfindlich ist gegenüber Mehrfachreflexionen innerhalb der Mess-Sonde. Dazu wird eine Vorrichtung vorgeschlagen, die einen Abtastkörper (20) mit einer Lichtstrahl-Eintrittsfläche (22), mit einer Lichtstrahl-Austrittsfläche (23), mit einer Probenlicht-Austrittsfläche (25), und mit einem Sonden-Bereich (30) enthält. Die Vorrichtung beinhaltet weiterhin einen Detektor (40) und eine Einrichtung zur Bereitstellung von Relativbewegungen zwischen dem Abtastkörper (20) und dem Lichtstrahl (10). Der Abtastkörper (20) ist stabförmig und besteht aus einem lichtleitenden, transparenten Material. Der Abtastkörper weist eine Aussparung (21) zur Ausbildung eines Flächenabschnitts (27) am Abtastkörper (20) auf, der die Lichtstrahl-Eintrittsfläche (22) oder die Lichtstrahl-Austrittsfläche (23) beinhaltet. Eine Normalen-Richtung (28) der Lichtstrahl-Eintrittsfläche (22) ist in einem Winkel a im Bereich von 5° bis 20° zu einer Normalen-Richtung (29) der Lichtstrahl-Austrittsfläche (23) geneigt. Der Sonden-Bereich (30) ist in einer Querschnittsebene (26') des Abtastkörpers (20) angeordnet, die sich im Bereich der Aussparung (21) befindet. Eine Querschnittsabmessung (D') des Abtastkörpers (20) in der Querschnittsebene (26') beträgt mindestens 50% einer Querschnittsabmessung (D) des Abtastkörpers (20) in einer Querschnittsebene (26) außerhalb der Aussparung (21). Der Sonden-Bereich (30) weist eine lichtablenkende Strukturierung auf. Der Detektor (40) ist angeordnet zur Erfassung von wenigstens einem Teil eines vom Sonden-Bereich (30) aus dem Lichtstrahl (10) abgelenkten Strahl-Anteils (15).

Description

Mess-Sonde für Strahlabtastung
BESCHREIBUNG
GEBIET DER ERFINDUNG
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Abtastung von Lichtstrahlen oder
Laserstrahlen. Die Erfindung ist geeignet zur Bestimmung von geometrischen Parametern wie beispielsweise der Intensitätsverteilung, dem Strahlprofil oder dem Strahldurchmesser im Querschnitt eines Lichtstrahls oder Laserstrahls. Die Erfindung ermöglicht die direkte Abtastung von Laserstrahlen mit höchster Brillanz und
Leistung im Kilowatt- und Multi-Kilowatt-Bereich ohne vorherige Abschwächung des Laserstrahls. Die Vorrichtung kann verwendet werden zur Abtastung mehrerer Strahlquerschnitte in verschiedenen Ebenen und kann damit auch zur Bestimmung eines Strahlparameter-Produkts, eines Strahlpropagationsfaktors oder einer Fokus- Position eines Laserstrahls eingesetzt werden. Die Erfindung ermöglicht Messungen mit großem Signal-Störabstand und hoher Genauigkeit aufgrund einer verringerten Empfindlichkeit gegenüber störenden Lichtreflexionen innerhalb der Mess-Sonde.
HINTERGRUND DER ERFINDUNG
Zur Beschreibung eines Lichtstrahls oder eines Laserstrahls werden einerseits integrale Größen wie die Energie oder die Leistung herangezogen. Zusätzlich werden geometrische Parameter benötigt, um die Ausbreitung und Fokussierbarkeit eines Lichtstrahls zu beschreiben. Solche geometrischen Parameter sind
beispielsweise ein Strahldurchmesser, ein Strahlprofil, die Fokus-Position oder das Strahlparameter-Produkt. Das Strahlparameterprodukt beschreibt das Produkt aus dem Radius der Strahl-Taille, also dem kleinsten Radius des Strahls, der zum Beispiel in einer Fokus-Ebene des Strahls vorliegen kann, und dem Öffnungswinkel des Strahls, und ist daher eine Kennzahl für die Fokussierbarkeit eines Lichtstrahls oder Laserstrahls. Andere Kennzahlen oder Bezeichnungen für den gleichen Sachverhalt sind die Strahlqualität, die Strahlqualitätskennzahl, der Strahlpropagationsfaktor, der Modenfaktor oder die Beugungsmaßzahl.
Strahlparameter müssen in vielen Produktionsprozessen, bei denen mit Lichtstrahlen gearbeitet wird, zur Qualitätskontrolle in regelmäßigen Abständen gemessen werden. Zur Bestimmung von Strahlparametern, beispielsweise nach der Norm ISO 11146, muss die Intensitätsverteilung des Strahls bzw. die relative Leistungsdichte ortsaufgelöst in mehreren Querschnittsebenen eines Strahls bestimmt werden.
Zur Abtastung der Intensitätsverteilung in einer Querschnittsebene des Lichtstrahls sind aus dem Stand der Technik zahlreiche Verfahren bekannt. Eine prinzipielle Möglichkeit zur Messung besteht darin, den Strahl auf einen ortsauflösenden Sensor zu richten, zum Beispiel auf eine CCD-Kamera, und auf diese Weise die
Intensitätsverteilung im Querschnitt des Strahls zu bestimmen. Eine derartige direkte Messung mit einem ortsauflösenden Sensor ist für Strahlen höherer Leistung ungeeignet, da bei höherer Leistung ein direkt im Strahl eingesetzter Sensor zerstört werden würde. Der Strahl muss dann zunächst abgeschwächt werden. Bei einer
Strahlabschwächung wiederum muss ein sehr hoher Aufwand getrieben werden, um sicherzustellen, dass die Strahleigenschaften durch die Abschwächungsvorrichtung nicht verändert werden, zum Beispiel infolge induzierter thermo-optischer Effekte.
Eine direkte Vermessung eines Strahls im Fokus-Bereich ist daher wünschenswert, um genau die Eigenschaften zu vermessen und zu prüfen, die beispielsweise bei der Lasermaterialbearbeitung den Prozess beeinflussen.
Eine übliche Methode zur direkten Vermessung eines Strahls ist eine Abtastung der Intensitätsverteilung in einer Raster-Bewegung, z.B. zeilenweise, mittels einer Einrichtung, die aus einem kleinen Segment des Strahls eine Probe entnimmt und diese Probenstrahlung auf einen Detektor führt.
Eine Einrichtung dieser Art offenbart beispielsweise die DE 199 09 595 A1. Dort wird der Strahl mit einem Pinhole bzw. mit einer kleinen Lochblende abgetastet mit der Besonderheit, dass hinter dem Pinhole ein Streukörper angeordnet ist, wodurch das gewonnene Messsignal weniger abhängig ist von der Einfallsrichtung der zu vermessenden Strahlung. Eine weitere Vorrichtung dieser Art zeigt die WO
2009/000500 A1. Auch hier wird aus dem Strahl mittels einer Apertur oder einem hohlnadelartigen Abtastkopf, der den Strahlquerschnitt scannend abtastet, ein Teilstrahl ausgekoppelt. Der Teilstrahl wird zur Erzeugung von wellenfrontspezifi- schen Messdaten mittels einer Linse auf einen positionsauflösenden Detektor gerichtet. Der Abtastkopf einer Messeinrichtung muss nicht immer mit einer
Bewegungseinrichtung gekoppelt sein. Wenn ein Strahl vermessen werden soll, der von einer Scanner-Optik erzeugt wird, so lässt sich die Strahlablenkeinrichtung der Scanner-Optik nutzen, um den Strahl in einer Raster-Bewegung über den Abtastkopf zu führen. Solche Vorrichtungen und Verfahren offenbaren beispielsweise die DE 10 2005 038 587 A1 und die DE 10 2011 006 553 A1.
Die Entnahme von Proben aus einem Lichtstrahl bzw. Laserstrahl mit hoher Leistung ist dennoch mit großen Schwierigkeiten verbunden, wenn die Strahlgeometrie von Strahlen mit höchster Leistung und Brillanz im Bereich des Strahl-Fokus vermessen werden soll. Bei den bekannten Vorrichtungen zur Abtastung eines Strahls ist es erforderlich, den Strahl auf irgendeine Art und Weise ortsspezifisch zu begrenzen, um einen Teilstrahl aus einem kleinen Segment des Strahlquerschnitts zu gewinnen. Diese Begrenzungen können Lochblenden, Aperturen, Hohlnadeln, Umlenkspiegel bzw. deren Rand oder Halterung, oder sonstige Einrichtungen sein. Dabei fällt zwangsweise zeitweilig Strahlung auf diese Begrenzungen, welche bei sehr hohen Leistungsdichten, wie sie im Fokus eines hochbrillanten Strahls auftreten können, zerstört werden können, selbst wenn der Strahl nur für einen sehr kurzen Zeitraum während des Abtast-Vorgangs auf die Begrenzung fällt. Die bekannten Vorrichtungen sind daher nicht geeignet für die Vermessung von Strahlquerschnitten im Bereich der Taille bzw. im Fokus-Bereich von Laserstrahlung mit sehr hoher Leistung. In der WO 98/50196 A1 wird eine Vorrichtung offenbart zum Detektieren und
Berechnen von Fokus-Position, Profil und Leistungsverteilung eines fokussierten Laserstrahls. Dazu wird der Strahl mit einem Licht-beeinflussenden Körper abgetastet. In der gezeigten Ausführungsform ist der Licht-beeinflussende Körper eine quer zum Strahl angeordnete optische Faser, welche Strahlungsanteile aus dem Laserstrahl auf einen Licht-Sensor umlenkt. Dabei erfasst die Faser zwangsweise in einer Richtung immer den ganzen Strahlquerschnitt, so dass das Messsignal ein in einer Dimension integriertes Signal ist und somit in dieser Richtung keine ortsaufgelösten Signale erzeugt werden können. Der Licht-beeinflussende Körper ist in weiteren offenbarten Ausführungsformen reflektierend, z.B. silberhaltig, oder absorbierend ausgestaltet. Somit ist auch die aus der WO 98/50196 A1 bekannte Vorrichtung einerseits nicht für Laserstrahlung höchster Leistung und Brillanz geeignet, und andererseits ist die beschriebene Vorrichtung nicht zur Erzielung hoher örtlicher Auflösung geeignet, da die Offenbarung keinen Aufschluss gibt über eine exakt definierte Wechselwirkungs-Geometrie an oder in den Licht-beeinflussenden Körpern.
Ein weiteres Problem bei der Abtastung eines Strahls mit transparenten Sonden besteht darin, dass im Abtastkörper störendes Streulicht auftreten kann, beispielsweise durch Mehrfachreflexionen des abzutastenden Strahls, was die
Messgenauigkeit einschränkt.
So offenbart beispielsweise das Patent US 6 476 908 B1 Lichtsonden unterschiedlicher Bauart zur Messung von Intensitätsverteilungen in einem Lichtstrahl. Einige dort gezeigte Ausführungsformen von Lichtsonden bestehen aus einem Substrat wie einer Platte oder einem Block, in welchem ein lichtstreuendes Element angeordnet ist, beispielsweise eine Luftblase. Zur Vermeidung von Fresnel-Reflexionen wird an der Vorderseite des Substrats eine Antireflexions-Beschichtung vorgeschlagen. Eine Antireflexions-Beschichtung senkt allerdings die Zerstörschwelle herab. Auch die als Material für das Substrat offenbarten Materialien, wie transparente Kunststoffe oder Gläser, sind für Hochleistungs-Laserstrahlen nicht geeignet. Übliche optische Gläser können von fokussierten Laserstrahlen aufgeschmolzen werden. An der Rückseite des Substrats können ebenfalls Fresnel-Reflexionen stattfinden. Durch Mehrfach- Reflexionen innerhalb des Substrats, wie in Fig. 7D der US 6 476 908 B1 dargestellt, kann zusätzliches Streulicht erzeugt werden, welches sich dem Mess-Signal überlagert und die Mess-Genauigkeit reduziert.
Aus der DE 10 2015 016 240 B3 sind ebenfalls Vorrichtungen zur Abtastung von Lichtstrahlen mit stabförmigen oder scheibenförmigen transparenten Mess-Sonden bekannt. Bei den dort offenbarten Mess-Sonden kann es ebenfalls durch Reflexion an der Lichtstrahl-Austrittsfläche zu Störungen im Detektor-Signal kommen. Zur
Minderung solcher Störungen wird vorgeschlagen, dass die Lichtstrahl-Austrittsfläche gegenüber dem Lichtstrahl geneigt sein kann. Es wird dabei nicht erläutert, in welcher Weise eine geneigte Lichtstrahl-Austrittsfläche ausgebildet sein kann und zu welchen Problemen der dann schräg reflektierte Strahl-Anteil führen kann, wie beispielsweise zu erhöhten Detektor- Untergrundsignalen durch Propagation der reflektierten Strahl-Anteile in Richtung zum Detektor. Als alternativer Lösungsansatz zur Reduktion des Problems der Selbst-Überlagerung des Lichtstrahls mit reflektierten Strahl-Anteilen wird in der zitierten Patentschrift vorgeschlagen, den Sonden- Bereich möglichst dicht an der Lichtstrahl-Austrittsfläche anzuordnen. Dann müsste der zu vermessende Lichtstrahl jedoch einen längeren Weg durch den Abtastkörper propagieren, bevor der Strahl vom Sonden-Bereich abgetastet wird. Dies kann aufgrund von Brechung und thermooptischen Effekten wiederum zu einer
unerwünschten Veränderung der Strahl-Eigenschaften führen und damit zu ungenauen Ergebnissen der Abtastung.
Die aus dem Stand der Technik bekannten Vorrichtungen und Verfahren weisen demnach erhebliche Nachteile hinsichtlich der Verwendbarkeit bei sehr hoher Laserleistung oder Leistungsdichte, hinsichtlich der erzielbaren Ortsauflösung, und/oder hinsichtlich der Messgenauigkeit oder dem Signal-Störlicht-Abstand auf.
KURZE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
Der Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, eine Mess-Sonde zur Abtastung von Lichtstrahlen zu schaffen, die für die Bestimmung von geometrischen Parametern von Laserstrahlen hoher Leistung oder Leistungsdichte geeignet ist, und die unempfindlich ist gegenüber Streulicht und fehlerbehafteten Signalen und so die Bestimmung von geometrischen Parametern in hoher Ortsauflösung und mit hohem Signal-Stör-Abstand ermöglicht.
Zur Lösung der Aufgabe wird eine Vorrichtung zur Abtastung eines Lichtstrahls vorgeschlagen, die einen Abtastkörper mit einer Lichtstrahl-Eintrittsfläche, mit einer Lichtstrahl-Austrittsfläche, mit einer Probenlicht-Austrittsfläche, und mit einem
Sonden-Bereich enthält. Die Vorrichtung beinhaltet weiterhin einen Detektor und eine Einrichtung zur Bereitstellung von Relativbewegungen zwischen dem Abtastkörper und dem Lichtstrahl. Dabei ist der Abtastkörper in Richtung einer Längsachse stabförmig ausgedehnt und besteht aus einem lichtleitenden, für den Lichtstrahl transparenten Material. Der Abtastkörper weist eine Aussparung zur Ausbildung eines Flächenabschnitts am Abtastkörper auf. Der Flächenabschnitt beinhaltet die Lichtstrahl-Eintrittsfläche oder die Lichtstrahl-Austrittsfläche. Eine Normalen-Richtung der Lichtstrahl-Eintrittsfläche ist in einem Winkel im Bereich von 5° bis 20° zu einer Normalen-Richtung der Lichtstrahl-Austrittsfläche geneigt. Der Abtastkörper beinhaltet den Sonden-Bereich. Dabei ist der Sonden-Bereich in einer Querschnittsebene des Abtastkörpers angeordnet, die sich im Bereich der Aussparung befindet. Eine Querschnittsabmessung des Abtastkörpers in der Querschnittsebene, in der der Sonden-Bereich angeordnet ist, beträgt mindestens 50% einer Querschnittsabmes- sung des Abtastkörpers in einer Querschnittsebene außerhalb der Aussparung. Der Sonden-Bereich weist eine lichtablenkende Strukturierung auf. Der Detektor ist angeordnet zur Erfassung von wenigstens einem Teil eines vom Sonden-Bereich aus dem Lichtstrahl abgelenkten Strahl-Anteils.
Die im Bereich der Aussparung befindliche Querschnittsebene, in welcher der Sonden-Bereich angeordnet ist, ist senkrecht zur Längsachse des Abtastkörpers angeordnet, und grenzt an den Flächenabschnitt, der durch die Aussparung ausgebildet ist. Die Querschnittsebene außerhalb der Aussparung ist ebenfalls senkrecht zur Längsachse des Abtastkörpers angeordnet.
Gemäß einem Aspekt der Erfindung sind die Abmessungen des durch die
Aussparung ausgebildeten Flächenabschnitts größer als die Abmessungen des Sonden-Bereichs. Damit werden bei der Abtastung des Lichtstrahls Störungen verringert, die durch die Ränder des Flächenabschnitts verursacht werden können.
Die Abmessungen des durch die Aussparung ausgebildeten Flächenabschnitts können auch mindestens zehnmal größer sein als die Abmessungen des Sonden- Bereichs.
Es ist eine Ausführungsform der Erfindung vorgesehen, bei der der Abtastkörper in Richtung der Längsachse eine Länge aufweist, die mindestens das Vierfache der Querschnitts-Abmessung des Abtastkörpers beträgt.
Ein Abstand des Sonden-Bereichs zu einem hinteren Ende des Abtastkörpers mit der Probenlicht-Austrittsfläche kann mindestens das Dreifache einer Querschnitts- Abmessung des Abtastkörpers betragen. Es ist auch eine Ausführungsform vorgesehen, bei der ein Abstand des Sonden- Bereichs in Richtung der Längsachse zu einem vorderen Ende des Abtastkörpers mindestens die Hälfte der Querschnitts-Abmessung des Abtastkörpers beträgt.
Es ist eine Ausführungsform vorgesehen, bei der ein Abstand des Sonden-Bereichs zur Lichtstrahl-Eintrittsfläche höchstens ein Zehntel der Querschnitts-Abmessung des Abtastkörpers beträgt.
In einer möglichen Ausführungsform ist die lichtablenkende Strukturierung des Sonden-Bereichs durch eine Mehrzahl von Struktur-Einzelheiten gebildet.
Die lichtablenkende Strukturierung des Sonden-Bereichs kann hergestellt sein mittels eines fokussierten Kurzpuls-Lasers.
Eine Abmessung des Sonden-Bereichs kann kleiner sein als die Hälfte einer
Abmessung des kleinsten Strahlquerschnitts des abzutastenden Lichtstrahls.
Es sind weiterhin Ausführungsformen vorgesehen, bei denen zwischen der
Probenlicht-Austrittsfläche des Abtastkörpers und dem Detektor eine Einrichtung zur Lichtsammlung angeordnet ist. Dabei kann die Einrichtung zur Lichtsammlung wenigstens eines der folgenden Elemente beinhalten: eine Linse, eine
Gradientenindexlinse, einen Hohlspiegel, einen Lichtleiter, oder einen Hohlleiter.
In einer möglichen Ausführungsform weist der Abtastkörper beabstandet zum
Sonden-Bereich zusätzlich einen ersten linienförmigen Sonden-Bereich mit einer lichtablenkenden Strukturierung auf.
In einer weiteren möglichen Ausführungsform weist der Abtastkörper beabstandet zum Sonden-Bereich zusätzlich einen zweiten linienförmigen Sonden-Bereich mit einer lichtablenkenden Strukturierung auf. Dabei kann der Sonden-Bereich zwischen dem ersten linienförmigen Sonden-Bereich und dem zweiten linienförmigen Sonden- Bereich angeordnet sein.
Die Einrichtung zur Bereitstellung von Relativbewegungen kann eine Scanner- Einrichtung sein, mittels der der Lichtstrahl über den Abtastkörper bewegbar ist.
In einer weiteren möglichen Ausführungsform der Erfindung ist der Abtastkörper mittels der Einrichtung zur Bereitstellung von Relativbewegungen bewegbar in einer ersten Bewegungsrichtung quer zur Längsachse und in einer zweiten
Bewegungsrichtung, die von der ersten Bewegungsrichtung unabhängig ist und mit der ersten Bewegungsrichtung eine Abtastfläche aufspannt.
Die erste Bewegungsrichtung zur Abtastung des Lichtstrahls kann erzeugbar sein durch Rotation des Abtastkörpers um eine Drehachse.
Die zweite Bewegungsrichtung zur Abtastung des Lichtstrahls kann erzeugbar sein durch Parallelverschiebung der Drehachse.
Es ist auch eine Ausführungsform vorgesehen, bei der eine erste
Bewegungsrichtung zur Abtastung des Lichtstrahls erzeugbar ist durch eine
Schwingungsbewegung des Abtastkörpers.
Der Abtastkörper kann in einer dritten Bewegungsrichtung senkrecht zur ersten und zur zweiten Bewegungsrichtung bewegbar sein.
In einer möglichen Ausführungsform beinhaltet die Vorrichtung weiterhin eine Einrichtung zur Aufzeichnung eines zeitlich veränderlichen Signals vom Detektor, sowie eine Auswertungs-Einrichtung zur Bestimmung mindestens eines Parameters aus der folgenden Gruppe von Parametern des Lichtstrahls: Strahldurchmesser, Strahlprofil, Intensitätsverteilung im Querschnitt des Lichtstrahls, Strahldurchmesser in mehreren Positionen entlang der Achse des Lichtstrahls, Divergenz-Winkel, Strahlparameter-Produkt, Propagationsfaktor, axiale Fokus-Position,
Fokusdurchmesser.
Die Vorrichtung kann zur Bestimmung von räumlichen Abmessungen eines
Laserstrahls verwendet werden.
KURZE BESCHREIBUNG DER FIGUREN Die Erfindung wird anhand der folgenden Figuren näher dargestellt, ohne auf die gezeigten Ausführungsformen und Beispiele beschränkt zu sein. Es sind auch Ausführungsformen vorgesehen, bei denen Merkmale kombiniert sein können, die in verschiedenen Figuren dargestellt sind. Es zeigt: Figur 1 : Eine schematische Darstellung der erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Abtastung eines Lichtstrahls.
Figur 2: Eine schematische Darstellung einer möglichen Ausführungsform der
Erfindung mit einem Umlenkspiegel für das Probenlicht und mit einer Drehachse zur Erzeugung einer Abtast-Bewegung.
Figur 3: Eine schematische Darstellung eines aus dem Stand der Technik
bekannten Abtasters, bei dem Streulicht auftreten kann durch reflektierte Lichtstrahlung, die den Sonden-Bereich trifft.
Figur 4: Eine schematische Darstellung eines weiteren aus dem Stand der
Technik bekannten Abtasters mit einer keilförmigen Gestalt, bei dem
Streulicht auftreten kann durch reflektierte Lichtstrahlung, die im Abtaster durch Totalreflexion geführt wird und vom Detektor empfangen werden kann.
Figur 5: Eine schematische Darstellung einer grundlegenden Ausführungsform des Abtastkörpers der erfindungsgemäßen Vorrichtung mit einer
Aussparung. In der Abbildung sind die geometrischen Beziehungen zwischen Lichtstrahl-Eintrittsfläche, Lichtstrahl-Austrittsfläche und Sonden-Bereich in drei verschiedenen Ansichten dargestellt.
Figur 6: Eine schematische Darstellung einer Ausführung des Abtastkörpers der erfindungsgemäßen Vorrichtung, in welcher die durch die Aussparung des Abtastkörpers beeinflusste Strahlpropagation gezeigt ist. Durch die Geometrie des Abtastkörpers wird erreicht, dass reflektiertes Licht vom Sonden-Bereich weggelenkt wird, und dass das reflektierte Licht den Abtastkörper wieder verlassen kann, ohne auf den Detektor zu treffen. Figur 7: Ein Plot eines berechneten Abtastvorgangs eines Lichtstrahls mit einem annähernd gaußförmigen Profil, der durch einen bekannten Abtaster wie in Fig. 3 dargestellt abgetastet wird, im Vergleich zu einer Abtastung mit einem Abtastkörper mit Aussparung gemäß der vorliegenden Erfindung, wie beispielsweise in Figur 5 oder 6 gezeigt. Figur 8: Mehrere Plots von berechneten Abtastvorgängen eines Lichtstrahls durch verschiedene Abtastkörper mit unterschiedlicher Länge.
Figur 9a: Eine schematische Darstellung der Lichtstrahl-Ausbreitung im
erfindungsgemäßen Abtastkörper, wenn der Lichtstrahl den Sonden- Bereich trifft.
Figur 9b: Eine schematische Darstellung der Lichtstrahl-Ausbreitung im
erfindungsgemäßen Abtastkörper für einen Fall, bei dem der Lichtstrahl noch im Messfeld liegt, aber nicht den Sonden-Bereich trifft.
Figur 9c: Eine schematische Darstellung der Lichtstrahl-Ausbreitung im
erfindungsgemäßen Abtastkörper für einen Fall, bei dem der Lichtstrahl außerhalb des Messfeldes liegt, und ein reflektierter Anteil den Sonden- Bereich treffen kann.
Figur 10: Eine Darstellung einer ersten möglichen Ausführung des Abtastkörpers in drei verschiedenen Ansichten. Figur 11 : Eine Darstellung einer zweiten möglichen Ausführung des Abtastkörpers.
Figur 12: Eine Darstellung einer dritten möglichen Ausführung des Abtastkörpers.
Figur 13: Eine Darstellung einer vierten möglichen Ausführung des Abtastkörpers.
Figur 14: Eine Darstellung einer fünften möglichen Ausführung des Abtastkörpers.
Figur 15: Eine Darstellung einer sechsten möglichen Ausführung des
Abtastkörpers.
Figur 16: Eine Darstellung einer siebten möglichen Ausführung des Abtastkörpers.
Figur 17: Eine Darstellung einer achten möglichen Ausführung des Abtastkörpers.
Figur 18: Eine Darstellung eines Ausführungsbeispiels der Erfindung mit einer
Linse, welche die Probenlicht-Austrittsfläche auf den Detektor abbildet. Figur 19: Eine Darstellung eines weiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung mit einer Linse, die den Sonden-Bereich auf eine vor dem Detektor angeordnete Blende abbildet. Figur 20: Eine Darstellung eines weiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung mit einem Hohlspiegel als Einrichtung zur Lichtsammlung.
Figur 21 : Eine Darstellung eines weiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung mit einer zusätzlichen abgeschrägten Fläche am Abtastkörper zur Umlenkung des Probenlichts auf den Detektor.
Figur 22: Eine Darstellung eines weiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung mit einem Probenlicht-Umlenkbereich im Abtastkörper und mit einer Linse zur Abbildung des Probenlichts auf dem Detektor.
Figur 23: Eine schematische Darstellung eines Teilbereichs des Abtastkörpers in zwei verschiedenen Ansichten mit einer vergrößerten Darstellung des Sonden-Bereichs.
Figur 24: Ein Plot von berechneten Abtast-Vorgängen eines Lichtstrahls entlang dreier Abtastspuren.
Figur 25: Eine schematische Darstellung in zwei Ansichten eines Teilbereichs des
Abtastkörpers mit dem Sonden-Bereich und mit zwei zusätzlichen linienförmigen Sonden-Bereichen, die zum Sonden-Bereich seitlich versetzt sind und zur Erzeugung von Referenz-Signalen vorgesehen sind.
Figur 26: Ein Plot von berechneten Abtast-Vorgängen eines Lichtstrahls entlang dreier Abtastspuren mittels eines Abtastkörpers, der zusätzlich zum Sonden-Bereich noch zwei linienförmige weitere Sonden-Bereiche aufweist.
AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER FIGUREN
Figur 1 zeigt eine schematische Darstellung der Erfindung. Ein Laserstrahl oder Lichtstrahl 10 mit einer Achse 11 trifft auf die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 des Abtastkörpers 20, der aus einem transparenten optischen Material besteht und eine stabförmige Grundform in Richtung einer Längsachse 19 aufweist. Der stabförmige Abtastkörper 20 hat in Richtung der Längsachse 19 eine Länge L und quer dazu eine Querschnittsabmessung D. Der Abtastkörper 20 weist im vorderen Bereich, in dem sich auch die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 befindet, eine Aussparung 21 auf. Die Aussparung 21 bildet am Abtastkörper 20 einen Flächenabschnitt 27 aus. Innerhalb des Flächenabschnitts 27 befindet sich bei der gezeigten Ausführungsform die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23. Die Normalen-Richtung 29 der Lichtstrahl- Austrittsfläche 23 ist gegenüber der Normalen-Richtung 28 der Lichtstrahl- Eintrittsfläche 22 um einen Winkel a geneigt. Der Lichtstrahl 10 propagiert durch den Abtastkörper 20 und tritt über die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 wieder aus dem Abtastkörper 20 aus. Der Abtastkörper 20 beinhaltet einen Sonden-Bereich 30 mit einer lichtablenkenden Strukturierung. An der lichtablenkenden Strukturierung des Sonden-Bereichs 30 wird ein Teil des Lichtstrahls 0 in andere Richtungen abgelenkt, wenn der Lichtstrahl 10 auf den Sonden-Bereich 30 trifft. Auf diese Weise wird aus dem Lichtstrahl 10 eine Probe entnommen. Ein Teil des abgelenkten Lichts 17 kann in Richtungen abgelenkt werden, bei der es den Abtastkörper 20 verlässt, ohne auf den Detektor 40 zu treffen. Ein anderer Teil des abgelenkten Lichts 15 wird in Richtungen abgelenkt, bei der das abgelenkte Licht 15 innerhalb des
Abtastkörpers 20 zur Probenlicht-Austrittsfläche 25 geführt wird, an der das abgelenkte Licht 15 den Abtastkörper 20 verlässt. Zumindest ein Teil des
abgelenkten Lichts 15 wird vom Detektor 40 erfasst. Zur Vermeidung von
unerwünschtem Fremdlicht auf dem Detektor 40 können die Probenlicht- Austrittsfläche 25 und der Detektor 40 gemeinsam von einer Abdeckung 48 umschlossen sein. Der Abtastkörper 20 und der Lichtstrahl 10 sind in mehreren Raumrichtungen 51 , 52, 53 relativ zueinander bewegbar.
In Figur 2 ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung in einer teilperspektivischen Ansicht schematisch dargestellt. Der Abtastkörper 20 hat hier beispielsweise eine zylindrische Grundform. Zur Erzeugung einer Relativbewegung 51 zwischen Lichtstrahl 10 und Abtastkörper 20 ist der Abtastkörper 20 auf einer Drehachse 61 drehbar gelagert, welche vorzugsweise parallel zur Achse 11 des Lichtstrahls 10 ausrichtbar ist bzw. angeordnet ist. Zur Erzeugung einer weiteren Relativbewegung 52 zwischen Lichtstrahl 10 und Abtastkörper 20 sind der Abtastkörper 20 und die Drehachse 61 so an eine Bewegungseinrichtung gekoppelt, dass der Abstand 62 zwischen Achse 11 des Lichtstrahls 10 und Drehachse 61 verstellbar ist. Auf der Drehachse 61 ist ein Umlenkspiegel 43 angeordnet, welcher das über die Probenlicht-Austrittsfläche 25 propagierende abgelenkte Licht 15 in Richtung zum Detektor 40 umlenkt. Der Umlenkspiegel 43 ist vorzugsweise mit dem Abtastkörper 20 starr gekoppelt, rotiert also ebenfalls um die Drehachse 61. Der ebenfalls auf der Drehachse 61 angeordnete Detektor 40 muss jedoch nicht mit dem Abtastkörper 20 und dem Umlenkspiegel 43 starr gekoppelt sein, ist aber vorzugsweise mit der Bewegungseinrichtung gekoppelt, die die Relativbewegung 52 erzeugt, damit die Position des Detektors 40 auf der Drehachse 61 bleibt. Eine Einrichtung 70 zur Signalaufzeichnung registriert das Signal, das vom Detektor 40 proportional zum empfangenen Probenlicht 15 erzeugt wird. Die Einrichtung 70 zur
Signalaufzeichnung kann weiterhin auch eine Einrichtung zur Signal-Auswertung beinhalten.
Figur 3 zeigt einen aus dem Stand der Technik bekannten Abtaster 20 mit einer Sonde 30. Ein abzutastender Lichtstrahl 10 tritt über eine Eintrittsfläche 22 in den Abtaster ein und trifft auf die Sonde 30. Dabei wird Streulicht 15 erzeugt, welches von einem Detektor empfangen werden kann. Bei Abtastern der bekannten Art wird ein Teil des abzutastenden Lichtstrahls 10 an der Austrittsfläche 23 des Abtasters reflektiert. Der reflektierte Lichtstrahl 13 läuft zurück durch den Abtaster 20 zur Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22, wo er abermals teilweise reflektiert werden kann und größtenteils den Abtaster verlässt. Ein Lichtstrahl-Anteil 18 propagiert weiter in umgekehrter Richtung zum Lichtstrahl 10. Der reflektierte Lichtstrahl 13 kann auf dem Rückweg durch den Abtaster auf die Sonde 30 treffen und damit zum Streulicht 15 beitragen. Da der Strahl aber inzwischen propagiert ist und einen anderen Durchmesser aufweist, wird durch den Streulichtanteil vom reflektierten Strahl 13 das Abtast-Signal verfälscht. Figur 4 zeigt einen anderen aus dem Stand der Technik bekannten Abtaster 20 mit einer Sonde 30. Dieser Abtaster hat eine keilförmige Gestalt und die Sonde ist im vorderen Bereich angeordnet, wo der Abtaster spitz zuläuft. Der abzutastende Lichtstrahl 10 ist hier vereinfacht als einzelne Linie dargestellt. Bei dieser Art von Abtastern wird der Lichtstrahl beim Verlassen des Abtasters unter einem Winkel reflektiert, so dass der reflektierte Lichtstrahl 13 an der Sonde 30 vorbei propagieren kann. Bei jeder weiteren Reflexion des reflektierten Lichtstrahls 13 im Inneren des keilförmigen Abtasters 20 wird jedoch der Winkel der Strahlung geändert, so dass bereits nach einer sehr geringen Zahl von Reflexionen der Totalreflexionswinkel überschritten wird und der Strahl-Anteil den Abtaster 20 nicht mehr verlassen kann. Dieser Strahl-Anteil kann vom Detektor empfangen werden und so zu einem unerwünschten Untergrund-Signal führen.
In Figur 5 ist der vordere Bereich des Abtastkörpers 20 mit der Aussparung 21 und dem Sonden-Bereich 30 gemäß einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung in drei verschiedenen Ansichten im Detail dargestellt. Der Abtastkörper 20 hat beispielsweise eine zylindrische Grundform, die sich entlang der Längs-Achse 19 erstreckt. Der Querschnitt der zylindrischen Grundform, d.h. der Querschnitt in einer Querschnittsebene 26 des Abtastkörpers 20 außerhalb des Bereichs der Aussparung 21 , ist in diesem Fall kreisförmig und hat eine Querschnitts-Abmessung bzw. einen Durchmesser D. Die Aussparung 21 kann beispielsweise ein schräg verlaufender Anschnitt im vorderen Bereich des Abtastkörpers sein, so dass sich der Querschnitt des Abtastkörpers 20 zum vorderen Ende des zylindrischen Stabes hin verjüngt. Das vordere Ende des Abtastkörpers 20 ist das Ende des Abtastkörpers, welches dem hinteren Ende mit der Probenlicht-Austrittsfläche 25 gegenüberliegt. In der Querschnittsebene 26', in der der Sonden-Bereich 30 angeordnet ist, ist der Querschnitt ein angeschnittener Kreis und die Querschnitts-Abmessung D' entsprechend verringert. Die Aussparung 21 kann auf der Oberseite des
Abtastkörpers 20 mit der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 angeordnet sein, oder wie im Ausführungsbeispiel der Figur 5 auf der Unterseite des Abtastkörpers 20 mit der
Lichtstrahl-Austrittsfläche 23. In diesem Fall beinhaltet der durch die Aussparung 21 gebildete Flächenabschnitt 27 die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23. Der Sonden-Bereich 30 ist an der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 oder innerhalb des Abtastkörpers 20 nahe der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 mit einem Abstand d zur Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 angeordnet. Die Querschnittsebene 26' mit dem Sonden-Bereich 30 hat einen
Abstand s zum vorderen Ende des Abtastkörpers 20. Die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 verlaufen schräg zueinander. Die Normalen- Richtung 28 der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und die Normalen-Richtung 29 der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 sind in einem Winkel a zueinander angeordnet. Der Winkel a kann in einem Bereich von 5° bis 20° liegen. Die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und/oder die Lichtstrahl-Austrittsfläche müssen nicht eben sein, sondern können auch eine Krümmung aufweisen. Im gezeigten Beispiel ist die Lichtstrahl- Eintrittsfläche 22 ein Teilbereich der zylindrischen Außenfläche des Abtastkörpers 20. Die Normalen-Richtung zur Fläche ist dann zu verstehen als die lokale
Normalen-Richtung in dem Punkt der Fläche, in dem die Messfeld-Achse 24 die jeweilige Fläche durchstößt. Die Messfeld-Achse 24 ist eine gedachte Linie senkrecht zur Längsachse 19, die durch den Sonden-Bereich 30 verläuft und die Längsachse 19 schneidet und die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 mit der Lichtstrahl- Austrittsfläche 23 verbindet. Um die Messfeld-Achse 24 herum erstreckt sich das Messfeld 12. Die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 erstrecken sich jeweils mindestens über das Messfeld 12.
In Figur 6 ist die Propagation verschiedener Lichtstrahl-Anteile in einem
erfindungsgemäßen Abtastkörper 20 ausführlicher dargestellt. Ein abzutastender Lichtstrahl 10 tritt über die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 in den Abtastkörper 20 ein und trifft auf den Sonden-Bereich 30. Dabei wird eine Probe aus dem Lichtstrahl 10 entnommen, indem ein Teil des Lichtstrahls vom Sonden-Bereich 30 abgelenkt wird. Der abgelenkte Strahl-Anteil 15 kann im Abtastkörper 20 zur Probenlicht- Austrittsfläche 25 propagieren und anschließend vom Detektor empfangen werden. Der ursprüngliche Lichtstrahl 10 propagiert im Abtastkörper zur Lichtstrahl- Austrittsfläche 23 und verlässt den Abtastkörper 20. Ein Teil des Lichtstrahls 10 wird an der Austrittsfläche 23 des Abtastkörpers 20 reflektiert und läuft innerhalb des Abtastkörpers zurück. Aufgrund des Winkels zwischen der Eintrittsfläche 22 und der Austrittsfläche 23 ist der reflektierte Lichtstrahl 13 verkippt und trifft daher den
Sonden-Bereich 30 nicht, so dass kein fehlerhafter Streulicht-Anteil erzeugt wird. Der reflektierte Lichtstrahl 13 kann in einem Zickzack-Verlauf im Abtastkörper 20 propagieren und wird bei jeder Reflexion an den Abtastkörper-Außenflächen abgeschwächt, da der größte Lichtstrahl-Anteil 18 bei jedem Auftreffen transmittiert und aus dem Abtastkörper 20 herausgebrochen wird. Nach wenigen Reflexionen ist der reflektierte Strahl 13 so weit abgeschwächt, dass er praktisch nicht mehr messbar ist. Bei ausreichend großer Länge des Abtastkörpers 20 wird daher durch den verkippt reflektierten Lichtstrahl 13 kein Streulicht auf dem Detektor erzeugt.
Die Auswirkung eines fehlerbehafteten Signals bei der Abtastung eines Lichtstrahls mit einem bekannten Abtaster zeigt Figur 7. In Figur 7 ist das Signal dargestellt, welches bei einer Bewegung des Abtasters durch den Lichtstrahl hindurch vom Detektor empfangen wird. Das Signal stellt also eine einzelne Abtastspur durch den Lichtstrahl dar. Die gestrichelte Kurve zeigt das Signal, welches mit einem aus dem Stand der Technik bekannten Abtaster ohne Aussparung erzeugt wird. Die logarithmische Skalierung lässt erkennen, dass das Signal aus zwei Signal-Anteilen zusammengesetzt ist: ein zentraler hoher Signal-Puls, der von einem breiteren, um etwa zwei Größenordnungen schwächeren Signal-Anteil überlagert wird. Im
Vergleich dazu stellt die durchgezogene Kurve das Signal des gleichen Lichtstrahls dar, der mit einem erfindungsgemäßen Abtastkörper mit Aussparung abgetastet wird. Hier besteht das Signal nur aus dem zentralen hohen Signal-Puls ohne Untergrund- Anteil. Der Lichtstrahl wird somit durch den erfindungsgemäßen Abtastkörper mit Aussparung ohne fehlerhafte Signal-Anteile, also wesentlich genauer abgetastet. In Figur 8 sind die Signale bei der Abtastung eines Lichtstrahls mit verschiedenen Abtastkörpern dargestellt. Alle Abtastkörper sind erfindungsgemäß mit einer
Aussparung ausgestattet, weisen aber unterschiedliche Längen L auf. Dabei ist zu erkennen, dass einige Signal-Kurven einen gleichmäßigen Streulicht-Untergrund haben. Der Streulicht-Untergrund ist umso höher, je kürzer die Länge des
Abtastkörpers ist. Wenn die Länge L des Abtastkörpers mindestens viermal so groß ist wie die Querschnitts-Abmessung D des Abtastkörpers, dann ist das
Untergrundsignal so gering, dass es praktisch nicht mehr messbar ist. Der Signal- Stör-Abstand beträgt dann mehr als vier Größenordnungen.
Die Figuren 9a, 9b und 9c zeigen die Propagation verschiedener Lichtstrahl-Anteile im Abtastkörper 20, ähnlich wie die Figur 6. Der abzutastende Lichtstrahl 10 ist hier vereinfacht als einzelner Strahl ohne seitliche Ausdehnung dargestellt. Die Figuren 9a, 9b und 9c unterscheiden sich in der dargestellten relativen Position von
Lichtstrahl 10 und Abtastkörper 20 zueinander.
In Figur 9a trifft der Lichtstrahl 10 genau auf den Sonden-Bereich 30. Dabei wird aus dem Lichtstrahl 10 eine Probe entnommen und das Probenlicht 15 erzeugt. Der an der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 reflektierte Lichtstrahl 13 ist gegenüber der Achse 11 des ursprünglichen Lichtstrahls 10 verkippt und kann daher den Sonden-Bereich 30 nicht treffen.
In Figur 9b fällt der Lichtstrahl 10 außerhalb des Sonden-Bereichs 30 auf den Abtastkörper, aber innerhalb des Messfeldes 12. Der an der Lichtstrahl- Austrittsfläche 23 reflektierte Lichtstrahl 13 ist gegenüber der Achse 11 des ursprünglichen Lichtstrahls 10 ausreichend weit verkippt und trifft daher den Sonden- Bereich 30 nicht.
In Figur 9c fällt der Lichtstrahl 10 soweit außerhalb des Sonden-Bereichs 30 auf den Abtastkörper, dass der reflektierte Lichtstrahl 13 den Sonden-Bereich 30 trifft und somit fehlerhaftes Streulicht 15 erzeugt wird, welches vom Detektor empfangen werden kann. Da der Lichtstrahl 10 aber bereits außerhalb des Messfeldes 12 liegt, wirkt sich das fehlerhafte Streulicht-Signal nicht auf die Rekonstruktion des
Strahlprofils aus.
Die Figuren 10 bis 17 zeigen beispielhaft verschiedene mögliche Ausführungsformen des Abtastkörpers 20. Zum leichteren Verständnis ist der Abtastkörper 20 in jeder der Figuren in drei verschiedenen Ansichten dargestellt: eine Frontalansicht in einer x-z-Ebene, die die Querschnittsform des Abtastkörpers zeigt (links), eine
Seitenansicht in einer y-z-Ebene entlang der Längs-Achse des Abtastkörpers
(rechts), und eine räumlich-perspektivische Schräg-Ansicht (unten).
Der Abtastkörper 20 in Figur 10 hat eine zylindrische Grundform. Die Aussparung 21 ist an der Unterseite des Abtastkörpers 20 unterhalb des Sonden-Bereichs 30 angeordnet, so dass der von der Aussparung 21 gebildete Flächenabschnitt 27 die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 beinhaltet. Die Normalen-Richtung 29 der Lichtstrahl- Austrittsfläche 23 ist in einer y-z-Ebene gegenüber der Normalen-Richtung 28 der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 um einen Winkel a geneigt.
Der in Figur 11 dargestellte Abtastkörper 20 hat ebenfalls eine zylindrische
Grundform. Die Aussparung 21 ist hier an der Oberseite des Abtastkörpers 20 angeordnet, so dass der von der Aussparung 21 gebildete Flächenabschnitt 27 die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 beinhaltet. Die Normalen-Richtung 28 der Lichtstrahl- Eintrittsfläche 22 ist in einer y-z-Ebene gegenüber der Normalen-Richtung 29 der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 um einen Winkel a geneigt.
Figur 12 zeigt eine weitere mögliche Ausführungsform des Abtastkörpers 20 mit einer zylindrischen Grundform. Hier ist ebenfalls eine Aussparung 21 an der Oberseite des Abtastkörpers 20 angeordnet, und eine zweite Aussparung 21' ist an der Unterseite des Abtastkörpers 20 angeordnet, so dass zwei schräge Flächenabschnitte 27 und 27' am Abtastkörper 20 ausgebildet sind. Der eine Flächenabschnitt 27 beinhaltet die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22, und der andere Flächenabschnitt 27" beinhaltet die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23. Wiederum ist die Normalen-Richtung 28 der Lichtstrahl- Eintrittsfläche 22 in einer y-z-Ebene gegenüber der Normalen-Richtung 29 der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 um einen Winkel a geneigt. Bei der in Figur 13 dargestellten Ausführungsform hat der Abtastkörper 20 eine Aussparung 21 an der Unterseite, ähnlich wie die Ausführungsform in Figur 10. Im Unterschied dazu ist die Normalen-Richtung 29 der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 nicht in einer y-z-Ebene, sondern in einer x-z-Ebene gegenüber der Normalen- Richtung 28 der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 um einen Winkel a geneigt. Die
Aussparung 21 kann sich daher wie im gezeigten Beispiel auch über die gesamte Länge des Abtastkörpers 20 erstrecken.
Die Ausführungsform in Figur 14 ist vergleichbar mit der Ausführungsform von Figur 10, wobei der Abtastkörper 20 hier keine zylindrische Grundform, sondern eine quaderförmige Grundform aufweist. Der Querschnitt des Abtastkörpers 20 ist also rechteckig oder quadratisch.
Der stabförmige Abtastkörper 20 kann auch andere Querschnittsformen aufweisen. So zeigt Figur 15 beispielhaft einen Abtastkörper 20 mit einer hexagonalen
Grundform, d.h. einen Stab mit sechseckigem Querschnitt.
In Figur 16 ist ein Abtastkörper 20 mit einer zylindrischen Grundform und mit einer Aussparung 21 an der Unterseite gezeigt, wobei der Flächenabschnitt 27 so geneigt ist, dass sich der Querschnitt des Abtastkörpers 20 nicht zum Ende des Stabes hin verjüngt, sondern in Richtung zur Mitte des Abtastkörpers hin.
Schließlich zeigt die Figur 17 noch einen weiteren Abtastkörper 20 mit einer zylindrischen Grundform und mit einer Aussparung 21 an der Unterseite. Der durch die Aussparung 21 gebildete Flächenabschnitt 27 ist in diesem Beispiel gleichmäßig gekrümmt.
In Figur 18 ist ein weiterer möglicher Aspekt der Erfindung dargestellt. Zwischen der Probenlicht-Austrittsfläche 25 und dem Detektor 40 ist in diesem Beispiel eine Einrichtung zur Lichtsammlung 44 angeordnet. Die Einrichtung zur Lichtsammlung 44 kann eine Linse sein, die im gezeigten Ausführungsbeispiel die Probenlicht- Austrittsfläche 25 auf den Detektor 40 abbildet. Der gezeigte Aspekt der Erfindung kann genutzt werden zur Optimierung der Probenlicht-Detektion, wenn der Detektor 40 nicht unmittelbar gegenüber der Probenlicht-Austrittsfläche 25 angeordnet werden soll oder wenn der Detektor 40 bei der Abtastung von Lichtstrahlen 10 nicht mit dem Abtastkörper zusammen mitbewegt werden soll. Durch die Abbildung der
Probenlicht-Austrittsfläche 25 auf den Detektor 40 können sowohl Probenlicht-Anteile 15 detektiert werden, die vom Sonden-Bereich 30 direkt in Richtung auf die
Probenlicht-Austrittsfläche abgelenkt sind, als auch Probenlicht-Anteile 16 detektiert werden, die innerhalb des Abtastkörpers 20 durch Totalreflexion geführt werden.
Auch bei dem in Figur 19 gezeigten Ausführungsbeispiel der Erfindung ist zwischen der Probenlicht-Austrittsfläche 25 und dem Detektor 40 eine Einrichtung zur
Lichtsammlung 44 angeordnet. Weiterhin ist vor dem Detektor 40 zusätzlich eine Blende 46 angeordnet. Die Einrichtung zur Lichtsammlung 44 bildet den Sonden- Bereich 30 auf die Blende 46 ab. Einerseits kann durch die Sammelwirkung der Linse der Lichtanteil erhöht werden, der vom Detektor 40 erfasst wird, andererseits bewirkt die Abbildung des Sonden-Bereichs 30 auf die Blende 46 vor dem Detektor 40 eine Selektion des empfangenen Lichtanteils. Mittels dieser Probenlicht-Selektion kann unerwünschtes Streulicht ausgeblendet werden. Allerdings kann es auch Strahl-Anteile 16 geben, die zwar durch Totalreflexion innerhalb des Abtastkörpers 20 zur Probenlicht-Austrittsfläche 25 geführt werden und ein Teil des prinzipiell erwünschten Probenlichts darstellen, aber aufgrund der Selektion durch die
Abbildung von der Blende 46 abgeschattet werden und den Detektor 40 nicht erreichen können.
Die Einrichtung zur Lichtsammlung 44 kann auch gleichzeitig als Umlenkspiegel 43 ausgebildet sein, wie in Figur 20 schematisch dargestellt. Dabei wird das Probenlicht 15 mittels dem als Hohlspiegel ausgebildeten Umlenkspiegel 43 gesammelt und in Richtung auf den Detektor 40 umgelenkt und abgebildet. Eine Anordnung mit einer Umlenkung des Probenlichts ist günstig, wenn die Relativbewegung 51 durch Rotation des Abtastkörpers 20 um eine Drehachse 61 erzeugt wird. Umlenkspiegel 43 und Detektor 40 können auf der Drehachse 61 angeordnet sein. Dabei ist es nicht erforderlich, dass der Detektor 40 mit der Rotationsbewegung gekoppelt ist.
Figur 21 zeigt ein Ausführungsbeispiel, der dem der Umlenkspiegel 43 als Teil des Abtastkörpers 20 ausgebildet ist. Dabei ist ein Probenlicht-Umlenkbereich 36 am Abtastkörper 20 ausgebildet im Form einer schrägen Fläche, an der das Probenlicht 15 durch Totalreflexion zur Probenlicht-Austrittsfläche 25 und zum Detektor 40 umgelenkt wird.
Bei dem in Figur 22 gezeigten Ausführungsbeispiel ist ein Probenlicht-Umlenkbereich 36 innerhalb des Abtastkörpers 20 ausgebildet. Der Probenlicht-Umlenkbereich 36 kann beispielsweise ein Bereich mit einer lichtablenkenden oder lichtstreuenden Strukturierung sein. Zusätzlich kann, wie ebenfalls in Figur 22 dargestellt, eine Einrichtung zur Lichtsammlung 44, wie zum Beispiel eine Linse, zwischen der Probenlicht-Austrittsfläche 25 und dem Detektor 40 angeordnet sein. Figur 23 zeigt, dass der Sonden-Bereich 30 ausgebildet sein kann durch eine
Vielzahl von Struktur-Einzelheiten 31. Dadurch kann dem Sonden-Bereich 30 gezielt eine gewünschte Dichteverteilung und/oder Form oder Kontur gegeben werden. Im gezeigten Beispiel ist der durch die Struktur-Einzelheiten gebildete Sonden-Bereich 30 kugelförmig mit einem Durchmesser als Abmessung 33. In Figur 24 ist eine Auftragung des Signals vom Detektor 40 über der x-Position des Sonden-Bereichs 30 bzw. des Abtastkörpers 20 relativ zur Achse 11 des Lichtstrahls 10 dargestellt. Es ist also das Signal aufgetragen, welches beispielsweise bei der Abtastung in der Bewegungsrichtung 51 erhalten wird, und zwar für drei
verschiedene y-Positionen, d.h. für drei Positionen entlang der Bewegungsrichtung 52. Dabei wurde die Abtastung eines Lichtstrahls mit im Wesentlichen gaußförmigem Strahlprofil simuliert. Die drei aufgetragenen Kurven zeigen also beispielhaft das Signal aus drei parallel zueinander versetzten Abtastspuren. Bei ausreichend dicht gelegten Abtastspuren kann somit das zweidimensionale Strahlprofil in der abgetasteten Ebene rekonstruiert werden. Figur 25 zeigt als weiteres Ausführungsbeispiel einen Abtastkörper 20, der zusätzlich zum Sonden-Bereich 30 noch zwei weitere linienförmige Sonden-Bereiche 35, 35' aufweist, die zum Sonden-Bereich 30 seitlich versetzt sind. Die Länge der linienförmigen Sonden-Bereiche 35, 35' entspricht ungefähr der Abmessung des Messfeldes 12. Die linienförmigen Sonden-Bereiche 35, 35' sind in diesem Beispiel außerhalb des Messfeldes 12 angeordnet, können aber auch innerhalb des
Messfeldes 12 angeordnet sein. Bei der Abtastung eines Lichtstrahls 10 entlang der Bewegungsrichtung 51 werden somit nacheinander bis zu drei Signal-Pulse erzeugt. Der erste und der letzte Signal-Puls, also die von den linienförmigen Sonden- Bereichen 35, 35' erzeugten Signale, können als Referenz-Signal zur
Synchronisation der Abtastspuren verwendet werden.
In Figur 26 ist ein Plot von simulierten Abtast-Vorgängen eines Lichtstrahls dargestellt wie in der Figur 24. Die in der Figur 26 gezeigten Signale werden erzeugt bei der Abtastung eines Lichtstrahls mittels einem Abtastkörper mit zwei zusätzlichen linienförmigen Sonden-Bereichen, wie in Figur 25 dargestellt. Die von den linienförmigen Sonden-Bereichen erzeugten Signalpulse sind bei jeder Abtastung annähernd gleich, auch wenn die y-Position verschoben ist, da sich die
linienförmigen Sonden-Bereiche in der y-Richtung erstrecken. Deshalb können die Signal-Kurven anhand der von den linienförmigen Sonden-Bereichen 35, 35' erzeugten Signale, also anhand des ersten und des letzten Signal-Pulses, exakt zueinander in Bezug gesetzt werden, beispielsweise durch„Übereinanderlegen" der Kurven. Dadurch kann ein Jitter bei der Abtast-Bewegung korrigiert werden. Auf diese Weise kann auch eine langsame gleichförmige Bewegung des Lichtstrahls 10 kompensiert werden.
AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
Es soll eine Lösung für das Problem angegeben werden, dass aus dem Stand der Technik bekannte Vorrichtungen zur Strahl-Analyse bei Anwendung an Lichtstrahlen oder Laserstrahlen mit sehr hoher Leistung ungenau sind oder zerstört werden können, und durch Streulicht beispielsweise durch Mehrfach-Reflexionen
fehlerbehaftete Signale resultieren können. Demgegenüber soll eine Vorrichtung zur Abtastung von Lichtstrahlen geschaffen werden, die für die Bestimmung von geometrischen Parametern von Laserstrahlen hoher Leistung oder Leistungsdichte geeignet ist, die unempfindlich ist gegenüber Streulicht und die Messungen mit hohem Signal-Stör-Abstand ermöglicht.
Zur Lösung der Aufgabenstellung wird eine Vorrichtung zur Abtastung eines
Lichtstrahls 10 vorgeschlagen, die einen Abtastkörper 20, einen Sonden-Bereich 30, einen Detektor 40, und eine Einrichtung zur Bereitstellung von Relativbewegungen umfasst. Der Abtastkörper 20 besteht aus einem für den Lichtstrahl 10 optisch transparenten Material. Der Abtastkörper 20 weist eine Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22, eine Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 und eine Probenlicht-Austrittsfläche 25 auf. Der Abtastkörper 20 hat eine stabförmige Grundform, d.h. er erstreckt sich in Richtung einer Längsachse 19 über eine Länge L. Senkrecht zur Längsachse 19 hat der Abtastkörper 20 eine Querschnittsebene 26 mit einer Querschnittsabmessung D. Die Querschnittsform des Abtastkörpers senkrecht zur Längsachse 19 kann
unterschiedlich sein, beispielsweise rund, elliptisch, quadratisch, rechteckig, fünfeckig, sechseckig, oder auf anderen Vielecken basieren. Der Abtastkörper 20 hat eine Aussparung 21 , welche einen Flächenabschnitt 27 am Abtastkörper 20 ausbildet. Der Flächenabschnitt 27 beinhaltet die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 oder die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23. Die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22, die Lichtstrahl- Austrittsfläche 23 und der Sonden-Bereich 30 befinden sich in einem Bereich, der näher an einem ersten Ende des Abtastkörpers 20 liegt, dem vorderen Ende, als an einem zweiten Ende, dem hinteren Ende. Die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 sind einander gegenüberliegend an Außenflächen des Abtastkörpers 20 angeordnet.
Der Abtastkörper 20 beinhaltet den Sonden-Bereich 30 mit einer lichtablenkenden Strukturierung. Der Sonden-Bereich 30 ist näher an der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 als an der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 angeordnet. In einer Ausführungsform der Erfindung ist der Abstand d des Sonden-Bereichs 30 zur Eintrittsfläche 22 kleiner oder höchstens gleich einem Zehntel der Querschnittsabmessung D. Der Abstand s des Sonden-Bereichs 30 zum ersten (vorderen) Ende des Abtastkörpers 20 kann mindestens die Hälfte der Querschnittsabmessung D betragen. Eine gedachte Linie, die die Längsachse 19 senkrecht schneidet, verläuft durch den Sonden-Bereich 30 und bildet die Messfeld-Achse 24. Die Messfeld-Achse 24 durchstößt die Lichtstrahl- Eintrittsfläche 22 und die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23. Um die Messfeld-Achse 24 herum erstreckt sich das Messfeld 12. Im Bereich des Messfeldes 12 ist eine störungsfreie Abtastung des Lichtstrahls 10 möglich. Die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 erstrecken sich zumindest über das Messfeld 12. Das Messfeld 12 kann derart definiert sein, dass bei der Auswertung nur diejenigen Detektor-Signale berücksichtigt werden, die einer Position des Lichtstrahls 10 innerhalb des Messfeldes 12 entsprechen. Erfindungsgemäß ist die Normalen-Richtung 28 der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 in einem Winkel a im Bereich von 5° bis 20° zur Normalen-Richtung 29 der Lichtstrahl- Austrittsfläche 23 geneigt. Die besondere Wirkung und Bedeutung dieses Winkel- Bereichs wird später erläutert. Die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und die Lichtstrahl- Austrittsfläche 23 sind somit schräg zueinander angeordnet. Dies wird erreicht, indem sich entweder die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 oder die Lichtstrahl- Austrittsfläche 23 in dem Flächenabschnitt 27 befindet, der durch die Aussparung 21 am Abtastkörper 20 ausgebildet ist. Um diese Geometrie auszubilden, können der Abtastkörper 20 wie auch die Aussparung 21 unterschiedliche Formen aufweisen, die jeweils miteinander kombiniert werden können. Die Figuren 10 bis 17 zeigen eine Reihe von Ausführungsbeispielen für einen erfindungsgemäßen Abtastkörper 20. Die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und/oder die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 können auch gekrümmt sein. In solchen Fällen sind die Normalen-Richtungen der jeweiligen Flächen zu verstehen als die lokalen Normalen-Richtungen in dem Punkt der Eintritts- oder Austrittsfläche, in dem die Messfeld-Achse 24 die jeweilige Fläche durchstößt.
Die Querschnittsebene 26', in welcher der Sonden-Bereich 30 angeordnet ist, liegt im Bereich der Aussparung 21. Das ist so zu verstehen, dass die Querschnittsebene 26' an den Flächenabschnitt 27, der durch die Aussparung 21 ausgebildet ist, angrenzt. Mit anderen Worten, die Aussparung 21 begrenzt die Querschnittsebene 26', so dass die Querschnittsebene 26' den durch die Aussparung 21 gebildeten Flächenabschnitt 27 berührt.
In der Querschnittsebene 26' des Abtastkörpers 20, in der der Sonden-Bereich 30 angeordnet ist, hat der Abtastkörper 20 eine Querschnittsabmessung D', die aufgrund der Aussparung 21 kleiner sein kann als die Querschnittsabmessung D in einem Bereich des Abtastkörpers 20 außerhalb der Aussparung. Die
Querschnittsabmessung D' ist höchstens um 50% gegenüber der
Querschnittsabmessung D in einer Querschnittebene 26 des Abtastkörpers 20 außerhalb der Aussparung 21 reduziert. Über die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 kann der Lichtstrahl 10 in den Abtastkörper 20 eintreten, durch den Abtastkörper 20 propagieren und an der Lichtstrahl- Austrittsfläche 23 wieder austreten. Die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 sind im Wesentlichen glatt und poliert, um
unerwünschtes Streulicht zu vermeiden. Je nach relativer momentaner Position von Abtastkörper 20 und Lichtstrahl 10 zueinander kann der Lichtstrahl dabei auf den Sonden-Bereich 30 treffen. In dem Fall wird durch die lichtablenkende Strukturierung des Sonden-Bereichs 30 ein Teil des Lichtstrahls abgelenkt oder gestreut und dadurch eine Probe aus dem Lichtstrahl 10 entnommen. Ein Teil des abgelenkten Lichts 15 kann im Abtastkörper 20 zur Probenlicht-Austrittsfläche 25 propagieren und dort den Abtastkörper verlassen. Die Probenlicht-Austrittsfläche 25 ist angeordnet in einem Bereich, der näher am zweiten (hinteren) Ende des Abtastkörpers 20 liegt, als am ersten (vorderen) Ende. Die Probenlicht-Austrittsfläche 25 kann beispielsweise die hintere Endfläche des stabförmigen Abtastkörpers sein. Die Probenlicht- Austrittsfläche 25 kann aber auch am Umfang des Abtastkörpers 20 nahe dem hinteren Ende angeordnet sein; die Probenlicht-Austrittsfläche 25 ist in diesem Fall ein Teilbereich der Umfangsfläche des Abtastkörpers 20. Der Sonden-Bereich 30 kann innerhalb des Abtastkörpers 20 angeordnet sein oder direkt an der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22. Der Sonden-Bereich 30 kann als Volumen oder flächig ausgebildet sein. Bei der Abtastung des Lichtstrahls 10 gibt es eine wirksame Fläche des Sonden-Bereichs 30, die durch die zweidimensionale
Projektion des Sonden-Bereichs 30 in Richtung der Achse 11 des Lichtstrahls 10 definiert ist. Die wirksame Fläche ist also die zweidimensionale Projektion des
Sonden-Bereichs 30 auf eine Fläche senkrecht zur Achse 1 1 des Lichtstrahls 10. Diese wirksame Fläche bestimmt, wie groß die Probe ist, die aus dem Querschnitt des Lichtstrahls 10 entnommen wird. Diese zweidimensionale Projektion des Sonden-Bereichs kann in den Bewegungsrichtungen 51 und 52 ungefähr gleich große Abmessungen 33 aufweisen. Die zweidimensionale Projektion des Sonden- Bereichs 30 kann beispielsweise ein Quadrat, ein Kreis, oder ein Vieleck sein. Der Sonden-Bereich 30 selbst kann demnach zum Beispiel ein Quader, eine rechteckige Scheibe, eine Kugel, ein Ellipsoid, eine Kreisscheibe, oder eine elliptische Scheibe sein. Das optisch transparente Material des Abtastkörpers 20 hat eine geringe Absorption und eine hohe thermo-mechanische Stabilität. Vorzugsweise beträgt die Gesamt- Absorption des Lichtstrahls 10 beim Durchstrahlen des Abtastkörpers 20 weniger als 0,1 % bzw. weniger als 1000 ppm (ppm = parts per million). Geeignete Materialien sind beispielsweise Quarzglas, insbesondere synthetisch hergestelltes Quarzglas, Saphir, sowie andere Kristallgläser und optische Gläser mit hohem
Transmissionsgrad. Bei Verwendung von Quarzglas ist eine besonders geringe Absorption erzielbar; viele Quarzgläser weisen eine Absorption von unter 100 ppm/cm und teilweise unter 10 ppm/cm auf.
Das Material im Sonden-Bereich 30 des Abtastkörpers 20 kann das gleiche Material sein wie das optisch transparente Material des Abtastkörpers 20. Außerhalb des Sonden-Bereichs 30 propagiert der Lichtstrahl 10 ungestört durch das transparente Material. Innerhalb des Sonden-Bereichs 30 wird der Lichtstrahl 10 durch die lichtablenkende Strukturierung zu einem Bruchteil in andere Richtungen abgelenkt. Die lichtablenkende Wirkung der Strukturierung kann auf Brechung, Reflexion oder Streuung beruhen. Dazu kann innerhalb des Sonden-Bereichs 30 beispielsweise die Dichte oder die Brechzahl des Materials lokale Änderungen aufweisen. Die lichtablenkende Strukturierung kann auch gebildet sein durch eine raue Grenzfläche oder Oberfläche. Die lichtablenkende Strukturierung kann weiterhin gebildet sein durch Hohlräume, Risse oder sonstige Fehlstellen im Material. Das Material im Sonden-Bereich 30 kann auch ganz oder teilweise ein anderes Material sein als das Material des Abtastkörpers 20. Das Material im Sonden-Bereich 30 kann auch eine Dotierung aufweisen. Die lichtablenkende Strukturierung des Sonden-Bereichs 30 kann auch gebildet sein durch Fluoreszenz-Konverter im Material des Sonden- Bereichs 30, so dass das abgelenkte Licht 15 eine andere Wellenlänge aufweist als der Lichtstrahl 10. Die lichtablenkende Strukturierung im Sonden-Bereich 30 muss nicht gleichförmig, isotrop oder räumlich konstant sein. Die lichtablenkende
Strukturierung im Sonden-Bereich 30 kann auch durch eine einzelne oder eine Mehrzahl von Struktur-Einzelheiten 31 gebildet sein. Eine Struktur-Einzelheit 31 kann beispielsweise ein mikroskopischer Riss oder Hohlraum im Material sein, oder eine mikroskopische Veränderung des Materials hinsichtlich Dichte, Brechzahl oder Dotierung.
Der Sonden-Bereich 30 kann beispielsweise aus nur einer einzelnen Struktur- Einzelheit 31 bestehen. Der Sonden-Bereich 30 kann aber ebenso aus einer
Mehrzahl von Struktur-Einzelheiten 31 bestehen, wie beispielsweise in Figur 23 dargestellt. Dabei können sich die Struktur-Einzelheiten räumlich teilweise
überlappen, sie können aber auch zueinander beabstandet sein. Aus der Anzahl von Struktur-Einzelheiten 31 pro Volumeneinheit ergibt sich eine räumliche Dichte der Strukturierung. Die lichtablenkende Wirkung der Strukturierung ist umso größer, d.h. der abgelenkte Licht-Anteil ist größer, je höher die Dichte der Strukturierung ist. Die Verteilungs-Funktion der räumlichen Dichte der Struktur-Einzelheiten kann durch die gezielte Verteilung der Struktur-Einzelheiten 31 innerhalb des Sonden-Bereichs 30 verschiedenen Erfordernissen angepasst werden. Die Verteilungs-Funktion der räumlichen Dichte der Struktur-Einzelheiten kann beispielsweise radialsymmetrisch zum Zentrum des Sonden-Bereichs 30 sein.
Eine Möglichkeit zur Herstellung des Sonden-Bereichs 30 ist die sogenannte Glas- Innengravur. Dabei wird ein ultrakurzer gepulster Laserstrahl innerhalb des optisch transparenten Materials auf einen sehr kleinen, beispielsweise beugungsbegrenzten Fleck fokussiert. Durch die dabei auftretenden extremen Pulsleistungsdichten kann im fokussierten Bereich eine Fehlstelle erzeugt werden. Dabei kann durch
Ausnutzung nichtlinearer Effekte der Bereich der Veränderung des Materials eng begrenzt werden. Es ist damit möglich, Fehlstellen mit Abmessungen im Bereich von etwa 1 pm bis einige 10 pm zu erzeugen. Die erzeugten Fehlstellen können
Hohlräume, Risse, Trübungen, oder auch lokale, annähernd punktuelle Änderungen der Dichte und/oder der Brechzahl des Materials sein.
Eine weitere Möglichkeit zur Herstellung des Sonden-Bereichs 30, insbesondere wenn der Sonden-Bereich 30 an der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 angeordnet ist, besteht im selektiven Ätzen. Mit dem sogenannten selektiven Laser-Ätzen können besonders kleine und genaue Strukturen erzeugt werden. Beim selektiven Laser- Ätzen wird in einem ersten Schritt durch eine lokale Laserpuls-Behandlung die Ätzbarkeit des Materials stark erhöht, und in einem zweiten Schritt werden die behandelten Materialstellen durch chemisches Ätzen entfernt.
Der Lichtstrahl 10 und der Abtastkörper 20 sind relativ zueinander bewegbar. Dazu kann die Position des Lichtstrahls 10, beispielsweise mittels einer Scanner- Einrichtung, gesteuert werden, oder der Abtastkörper 20 ist mittels einer
Bewegungseinrichtung gegenüber dem Lichtstrahl 10 bewegbar. Es sind zumindest zwei verschiedene, unabhängige Bewegungsrichtungen 51 , 52 vorgesehen, die eine Abtastfläche aufspannen. Die durch die Bewegungsrichtungen aufgespannte Abtastfläche kann senkrecht zur Achse 11 des Lichtstrahls 10 ausrichtbar sein. Mittels einer Raster-Bewegung in den Bewegungsrichtungen 51 und 52 wird der Sonden-Bereich 30 des Abtastkörpers 20 durch einen Querschnitt des Lichtstrahls 10 geführt und auf diese Weise die Intensitätsverteilung des Lichtstrahls 10 abgetastet. Beispielsweise kann mit einer ersten Bewegungsrichtung 51 quer zur Längsachse 19 eine Abtastspur durch den Querschnitt des Lichtstrahls 10 erzeugt werden. Mit einer zweiten Bewegungsrichtung 52 in Richtung der Längsachse 19 kann der Abtastkörper 20 um einen kleinen Abstand versetzt werden. Anschließend kann mit einer weiteren Bewegung in der Bewegungsrichtung 51 eine weitere, parallel versetzte Abtastspur durch den Querschnitt des Lichtstrahls 10 erzeugt werden. Auf diese Weise kann der Querschnitt des Lichtstrahls in einer Reihe von parallelen Abtastspuren vollständig abgetastet werden und das zweidimensionale Strahlprofil des Lichtstrahls 10 rekonstruiert werden. Es kann weiterhin eine dritte Bewegungsrichtung 53 vorgesehen sein, die senkrecht zu den Bewegungsrichtungen 51 , 52 ausgerichtet ist und parallel zur Achse 1 1 des Lichtstrahls 10 ausrichtbar ist. Mit einer Bewegung des Abtastkörpers 20 in dieser Bewegungsrichtung 53 können nacheinander mehrere Querschnitte des Lichtstrahls 10 entlang der Achse 11 abgetastet werden.
Um den Lichtstrahl 10 ohne störendes Streulicht abtasten zu können, ist es vorgesehen, dass das Messfeld 12 größer ist als der Querschnitt des abzutastenden Lichtstrahls. Das Messfeld kann mindestens doppelt so groß sein wie der
Durchmesser des Lichtstrahls. Dadurch wird sichergestellt, dass in dem Augenblick, in dem der Sonden-Bereich 30 den Querschnitt des Lichtstrahls 10 bei einer
Abtastbewegung erfasst, der Lichtstrahl 10 vollständig innerhalb des Messfeldes 12 liegt und in seiner ganzen radialen Ausdehnung den Abtastkörper 20 zwischen Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 durchsetzt, und sich keine Bereiche des Lichtstrahls außerhalb des Messfeldes 12 befinden, wo unerwünschte abgelenkte Licht-Anteile erzeugt werden könnten und fehlerhafte Signal-Beiträge entstehen könnten. Die erfindungsgemäße Vorrichtung ist daher zur Abtastung von räumlich eng begrenzten Strahlungsfeldern, wie beispielsweise Laserstrahlen, geeignet.
Sobald der Sonden-Bereich 30 den Lichtstrahls 10 zumindest teilweise erfasst, wird aufgrund der lichtablenkenden Strukturierung des Sonden-Bereichs 30 ein Bruchteil des Lichtstrahls 10 abgelenkt. Die abgelenkten Strahl-Anteile 15, 16, 17 können sich in verschiedene Richtungen ausbreiten. Ein Teil des Lichts 17 kann in Richtungen abgelenkt werden, bei der es den Abtastkörper 20 verlässt, ohne auf den Detektor 40 zu treffen. Ein anderer Teil des abgelenkten Lichts 15 propagiert durch den
Abtastkörper 20, tritt an der Probenlicht-Austrittsfläche 25 aus und wird vom Detektor 40 erfasst. Der Detektor 40 ist ein lichtempfindlicher Detektor, beispielsweise eine Fotodiode, der das auftreffende Licht in ein elektrisches Signal umwandelt. Das Signal vom Detektor 40 wird während der Abtast-Bewegungen aufgezeichnet; aus den aufgezeichneten Signalen kann dann die Intensitätsverteilung im Querschnitt des Lichtstrahls 10 bzw. dessen Strahlprofil rekonstruiert werden. Zur Vermeidung von unerwünschtem Fremdlicht auf dem Detektor 40 können die Probenlicht- Austrittsfläche 25 und der Detektor 40 gemeinsam von einer Abdeckung 48 umschlossen sein.
Durch die endliche Ausdehnung des Sonden-Bereichs 30 entspricht der zeitliche Verlauf des am Detektor 40 auftreffenden abgelenkten Lichts 15 und des daraus vom Detektor 40 erzeugten Signalpulses nicht exakt dem Strahlprofil auf der abgetasteten Spur des Querschnitts des Lichtstrahls 10, sondern der Detektor-Signalpuls ist verbreitert. Das Detektor-Signal ist mathematisch betrachtet eine Faltung aus der Abtastfunktion des Sonden-Bereichs 30 mit dem Strahlprofil, sofern die Änderung des Strahlprofils entlang der Strahlachse ausreichend gering ist. Der Sonden-Bereich 30 sollte daher ausreichend klein sein. Beispielsweise beträgt die Vergrößerung der Signal-Pulsbreite nur etwa 12%, wenn die Breite einer ungefähr gaußförmigen Abtastfunktion, die durch die Abmessungen des Sonden-Bereichs definiert ist, die Hälfte des Durchmessers eines ungefähr gaußförmigen Strahlquerschnitts ist. Es ist daher in einer Ausführungsform der Erfindung vorgesehen, dass die Abmessung 33 des Sonden-Bereichs 30 in Richtung der ersten Bewegungsrichtung 51 kleiner ist als die Hälfte der Abmessung des kleinsten Strahlquerschnitts des abzutastenden Lichtstrahls 10. Wenn die Breite der Abtastfunktion sehr klein ist gegenüber der Breite des Strahlprofils, beispielsweise 1/10 oder kleiner, dann beträgt die
Verbreiterung des Signalpulses nur noch etwa 0,5% oder weniger und kann vernachlässigt werden.
Die Aussparung 21 und der Sonden-Bereich 30 sind nicht identisch, auch wenn es in einzelnen möglichen Ausführungsformen der Erfindung vorgesehen sein kann, dass der Sonden-Bereich 30 an der Aussparung 21 , oder in unmittelbarer Nähe der Aussparung 21 , oder auf dem durch die Aussparung 21 gebildeten Flächenabschnitt 27 angeordnet sein kann. Die Abmessungen des Flächenabschnitts 27, der durch die Aussparung 21 ausgebildet ist, sind größer als die Abmessungen 33 des Sonden- Bereichs 30. Ein kleiner Sonden-Bereich ist vorteilhaft, um eine hohe Ortsauflösung bei der Abtastung des Lichtstrahls 10 zu erreichen. Ein im Vergleich zum Sonden- Bereich größerer Flächenabschnitt 27 ist vorteilhaft zur möglichst störungsarmen Abtastung des Lichtstrahls.
Der durch die Aussparung 21 gebildete Flächenabschnitt 27 beinhaltet die
Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 oder die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23. Die Lichtstrahl- Eintrittsfläche 22 und die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 erstrecken sich jeweils mindestens über das Messfeld 12. Das Messfeld 12 ist beispielsweise mindestens doppelt so groß wie der Durchmesser des abzutastenden Lichtstrahls 10. Es versteht sich von selbst, dass der Durchmesser des Lichtstrahls 10 in einem beliebigen Querschnitt des Lichtstrahls 10 größer oder gleich dem kleinsten Strahlquerschnitt des abzutastenden Lichtstrahls 10 ist. Die Abmessungen 33 des Sonden-Bereichs 30 sind kleiner als die Hälfte der Abmessung des kleinsten Strahlquerschnitts des Lichtstrahls 10. Folglich sind die Abmessungen des durch die Aussparung 21 ausgebildeten Flächenabschnitts 27 beispielsweise mindestens 4 mal größer als die Abmessungen 33 des Sonden-Bereichs 30. Das ist vorteilhaft, um sicherzustellen, dass die Ränder des Flächenabschnitts 27 weit genug vom Sonden-Bereich 30 entfernt sind, damit bei der Abtastung eventuell auftretende Störungen, die durch die Ränder des Flächenabschnitts hervorgerufen werden können, wie beispielsweise zusätzliches unerwünschtes Streulicht, vom Probenlicht 15 getrennt werden können.
Es ist auch vorgesehen, dass die Abmessungen des durch die Aussparung 21 ausgebildeten Flächenabschnitts 27 mindestens 10 mal größer sein können als die Abmessungen 33 des Sonden-Bereichs 30, um eine noch bessere Trennung des Probenlichts 15 von eventuellem Streulicht zu ermöglichen.
Die Abmessungen 33 des Sonden-Bereichs 30 können in einem Bereich zwischen 1 μιη und 100 μιτι liegen. Eine Abmessung 33 von mindestens 1 μιη ist vorteilhaft, um ein ausreichend hohes Signal bei der Abtastung zu erzeugen. Eine Abmessung 33 von höchstens 100 ist vorteilhaft, um eine hohe Ortsauflösung bei der Abtastung des Lichtstrahls 10 zu erreichen. Die Abmessungen des durch die Aussparung 21 gebildeten Flächenabschnitts 27 können in einem Bereich zwischen 0,5 mm und 100 mm liegen. Eine Abmessung von mindestens 0,5 mm ist vorteilhaft, um ein ausreichend großes Messfeld 12 zur Verfügung zu haben. Eine Abmessung von höchstens 100 mm ist vorteilhaft, um die Trägheitskräfte bei der Bewegung des Abtastkörpers 20 gering zu halten. Die Abmessungen des Flächenabschnitts 27 können insbesondere auch in einem Bereich von 1 mm bis 20 mm liegen. Unter dem Begriff Abmessung ist hierbei insbesondere ein Durchmesser oder eine Seitenlänge zu verstehen.
Um die Abtastung von Lichtstrahlen und Laserstrahlen mit sehr hohen Leistungen und Leistungsdichten zu ermöglichen, kann auf die Verwendung von Reflexions- mindernden Beschichtungen auf der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und der Lichtstrahl- Austrittsfläche 23 verzichtet werden, denn Reflexions-mindernde Beschichtungen wie beispielsweise dielektrische Vielfachschichten würden die Zerstörschwelle des Abtastkörpers 20 deutlich herabsenken. Deshalb tritt an der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und an der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 Fresnel-Reflexion auf, d.h. ein kleiner Anteil des Lichtstrahls 10 wird reflektiert. Bei aus dem Stand der Technik bekannten Abtastern, wie zum Beispiel in der Figur 3 dargestellt, führt dies dazu, dass der an der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 reflektierte Lichtstrahl 13 zurück durch den Abtaster propagiert und den Sonden-Bereich 30 ein zweites Mal trifft, sich also mit dem ursprünglichen Lichtstrahl überlagert, und einen Signal-Beitrag erzeugt. Dieser Signal-Anteil liefert ein fehlerhaftes Signal, da aufgrund der Propagation des
Lichtstrahls das Strahlprofil bereits verändert ist, wenn der Sonden-Bereich 30 zum zweiten Mal getroffen wird. Dieser fehlerhafte Signal-Beitrag ist bei der gestrichelten Kurve in Figur 7 zu erkennen. In Figur 7 ist ein Plot einer einzelnen Abtastspur dargestellt, die durch Modellierung des Abtasters und Simulation der Strahlpropagation mittels Raytracing-Software berechnet wurde. Die gestrichelte Kurve zeigt das Signal, welches mit dem aus dem Stand der Technik bekannten Abtaster (prior art), also einem Abtaster ohne
Aussparung, erzeugt wird. Das Signal ist offensichtlich aus zwei Signal-Anteilen zusammengesetzt: ein zentraler hoher Signalpuls, der von einem breiteren, um etwa zwei Größenordnungen schwächeren Signal-Anteil überlagert wird. Der zentrale hohe Signalpuls entspricht dem erwarteten Verlauf bei der Abtastung eines
Lichtstrahls mit ungefähr gaußförmigem Strahlprofil. Der breitere, schwächere Anteil resultiert aus der Fresnel-Reflexion an der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23. Die
Simulation der Abtastung des Lichtstrahls erfolgte in dem gezeigten Beispiel in einem Querschnitt nahe der Taille bzw. des Fokus des Lichtstrahls. Die Auswirkungen fehlerbehafteter Signal-Anteile durch den reflektierten Strahl können noch wesentlich größer sein, wenn andere Querschnitte des Lichtstrahls abgetastet werden, die von der Strahltaille weiter entfernt sind. Das kann besonders problematisch sein, wenn mehrere Querschnittsebenen des Strahls 10 entlang seiner Achse 11 abgetastet werden sollen, um das Strahlparameter-Produkt, den Strahlpropagationsfaktor, oder den Divergenz-Winkel des Strahls zu bestimmen. Bei der durchgezogenen Kurve in Figur 7 hingegen fehlt der breitere schwächere Anteil. Die durchgezogene Kurve ist das simulierte Signal der Abtastung des gleichen Lichtstrahls mittels einem erfindungsgemäßen Abtastkörper 20 mit
Aussparung 21. Der Unterschied kommt dadurch zustande, dass der an der
Austrittsfläche 23 reflektierte Strahl 13 verkippt ist aufgrund der um mindestens 5° geneigten Normalen-Richtung 29 der Austrittsfläche 23 gegenüber der Normalen- Richtung 28 der Eintrittsfläche 22. Der reflektierte Strahl 13 kann dadurch den Sonden-Bereich 30 nicht treffen, wie in den Figuren 6 und 9a gezeigt ist. Der Lichtstrahl wird somit durch den erfindungsgemäßen Abtastkörper 20 mit
Aussparung 21 ohne fehlerhafte Signal-Anteile, also wesentlich genauer abgetastet. Ein Mindestwinkel für die Neigung der Normalen-Richtung 29 der Austrittsfläche 23 gegenüber der Normalen-Richtung 28 der Eintrittsfläche 22 kann beispielsweise aus der endlichen Divergenz des abzutastenden Lichtstrahls abgeleitet werden. Bei der Lasermaterialbearbeitung üblicherweise verwendete Laserstrahlen können einen typischen maximalen Öffnungshalbwinkel von 125 mrad aufweisen. Dieser Wert ergibt sich aus einer häufig verwendeten Fokussier-Brennweite der
Bearbeitungsoptik von 200 mm bei einem typischen Optik-Durchmesser von 50 mm. Nach der Brechung an der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 beträgt der
Öffnungshalbwinkel innerhalb des Abtastkörpers 20 etwa 4,8° bei typischen
Brechzahlen von 1 ,5. Um einen solchen Lichtstrahl ohne störende Selbst- Überlagerungen mit dem reflektierten Strahl 13 abtasten zu können, sollte daher der Winkel zwischen der Normalen-Richtung 29 der Austrittsfläche 23 und der Normalen- Richtung 28 der Eintrittsfläche 22 mindestens 5° betragen. Andererseits darf der Neigungswinkel a zwischen der Normalen-Richtung 29 der Austrittsfläche 23 und der Normalen-Richtung 28 der Eintrittsfläche 22 nicht zu groß sein, sonst würde der reflektierte Strahl 13, wenn er weiter zur Außenfläche des Abtastkörpers propagiert, dort totalreflektiert werden und könnte den Abtastkörper 20 nicht mehr verlassen. Dies würde zu einem deutlich erhöhten Signal-Untergrund führen. Die Neigung des reflektierten Strahls 13 muss daher unterhalb des
Totalreflexions-Grenzwinkels bleiben, der bei optischen Materialien mit einer
Brechzahl um 1 ,5 bei knapp 42° liegt. Deshalb ist vorgesehen, dass der
Neigungswinkel a zwischen der Normalen-Richtung 29 der Austrittsfläche 23 und der Normalen-Richtung 28 der Eintrittsfläche 22 nicht größer als 20° ist. Somit ergibt sich der erfindungsgemäße Winkel-Bereich von 5° bis 20°.
Die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 sind glatte Flächen. Die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 können durch Kanten geometrisch begrenzt oder berandet sein. Insbesondere der durch die Aussparung 21 gebildete Flächenabschnitt 27 kann durch Kanten geometrisch begrenzt sein. Bei einem weiteren Aspekt der Erfindung weisen die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 innerhalb der Flächen selbst keine Kanten auf. Die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und/oder die Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 können eine Krümmung aufweisen, die auch Null sein kann. Die Flächen 22 und/oder 23 können beispielsweise eine ebene, sphärische, zylindrische, torische, oder anderweitig gekrümmte Form aufweisen. Wenn eine oder beide Flächen der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 eine von Null verschiedene Krümmung aufweisen, bezieht sich der
erfindungsgemäße Winkel-Bereich von 5° bis 20° für den Neigungswinkel a der Normalen-Richtung 28 der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 zur Normalen-Richtung 29 der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 insbesondere auf die Normalen-Richtungen in den Durchstoßpunkten der Messfeld-Achse 24 auf der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und auf der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23.
Weiterhin sind auch Ausführungsformen des Abtastkörpers 20 vorgesehen, bei denen der Neigungswinkel zwischen der Normalen-Richtung 28 der Lichtstrahl- Eintrittsfläche 22 und der Normalen-Richtung 29 der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 in einem Winkel-Bereich von 5° bis 20° liegt, für alle Flächenelemente auf der
Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und auf der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23. In einem weiteren möglichen Aspekt der Erfindung beträgt die Neigung der lokalen Flächen-Normalen auf dem durch die Aussparung 21 gebildeten Flächenabschnitt 27 zur Lichtstrahl-Achse 11 höchstens 30° für alle Flächenelemente des
Flächenabschnitts 27. Dies ist vorteilhaft, um eine Totalreflexion des abzutastenden Lichtstrahls 10 am Flächenabschnitt 27 zu vermeiden.
Es sind weiterhin Ausführungsformen der erfindungsgemäßen Vorrichtung
vorgesehen, bei denen die Neigung der lokalen Flächen-Normalen auf der
Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 und auf der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23 zur Lichtstrahl- Achse 1 1 höchstens 30° beträgt, für alle Flächenelemente der Lichtstrahl- Eintrittsfläche 22 und der Lichtstrahl-Austrittsfläche 23.
Für die Abtastung von Strahlen mit höherer Divergenz kann auch ein größerer Mindestwinkel sinnvoll sein. Es sind daher auch Ausführungsformen vorgesehen, bei denen der Neigungswinkel a zwischen der Normalen-Richtung 29 der Austrittsfläche 23 und der Normalen-Richtung 28 der Eintrittsfläche 22 im Bereich zwischen 10° und 20° liegt.
Ein einzelnes Auftreffen des reflektierten Strahls 13 auf der Abtastkörper- Außenfläche reicht jedoch nicht aus, um den im Abtastkörper 20 verlaufenden Strahl 13 ausreichend zu dämpfen, da zwar ein großer Teil des Strahls an der Außenfläche aus dem Abtastkörper 20 heraus gebrochen wird, ein kleiner Teil aber auch wieder nach innen reflektiert wird, so dass der Strahl im Zickzack-Kurs durch den
Abtastkörper 20 verläuft. Wenn bei den nachfolgenden Reflexionen aufgrund der Geometrie des Abtastkörpers der Totalreflexions-Grenzwinkel überschritten wird, dann wird der Rest-Anteil des reflektierten Strahls 13 innerhalb des Abtastkörpers 20 ohne weitere Abschwächung zur Probenlicht-Austrittsfläche 25 geführt und kann auf dem Detektor ein störendes Untergrund-Signal erzeugen. Dieses Problem tritt typischerweise auf bei aus dem Stand der Technik bekannten keilförmigen
Abtastern, wie zum Beispiel in der Figur 4 dargestellt. Bei solchen Abtastern ist der Querschnitt des Abtasters dort, wo der Sonden-Bereich 30 angeordnet ist, sehr klein und nimmt in Richtung der Probenlicht-Austrittsfläche 25 hin stetig zu, so dass der Querschnitt des Abtasters am hinteren Ende um ein Vielfaches größer ist. Um den Effekt des Überschreitens des Totalreflexionswinkels zu vermeiden, muss die Zunahme des Querschnitts begrenzt werden. Daher sind Ausführungsformen der Erfindung vorgesehen, bei denen in der
Querschnittsebene 26' des Abtastkörpers 20, in der der Sonden-Bereich 30 angeordnet ist, die Querschnittsabmessung D' größer oder mindestens gleich der Hälfte der Querschnittsabmessung D in einer Querschnittsebene 26 im Bereich des Abtastkörpers 20 außerhalb der Aussparung 21 ist. Die dafür relevanten
Querschnittsabmessungen D und D' sind die Abmessungen in Richtung der
Messfeld-Achse 24.
Der Abtastkörper 20 sollte weiterhin eine gewisse Länge L aufweisen, damit die innerhalb des Abtastkörpers reflektierten Lichtstrahl-Anteile 13 durch eine
ausreichend große Anzahl von Reflexionen auf eine praktisch nicht mehr störende Größe reduziert werden. Eine sinnvolle Grenze kann darin gesehen werden, dass das durch die reflektierten Lichtanteile erzeugte Untergrundsignal kleiner als der Dynamik-Bereich des Detektors oder der elektronischen Signal-Aufbereitung sein sollte. Eine Digitalisierung eines elektrischen Signals mit 16 Bit ist Stand der Technik. Der Dynamik-Bereich von Halbleiter-Fotodetektoren ist nach unten durch
Dunkelstrom begrenzt und ist typischerweise eher etwas kleiner als 16 Bit. Ein Untergrund-Signal in Höhe von 1/65000, also einem Bit bei einer Wortlänge von 16 Bit, wäre also praktisch nicht mehr nachweisbar. Figur 8 zeigt simulierte Abtast- Signale für drei verschiedene Abtastkörper mit unterschiedlichen Längen. Alle Kurven zeigen einen zentralen hohen Signalpuls, der dem erwarteten Verlauf bei der Abtastung eines Lichtstrahls mit ungefähr gaußförmigem Strahlprofil entspricht. Die Kurven zeigen teilweise außerdem einen gleichmäßigen Signal-Untergrund, dessen Höhe bei zunehmender Länge L des Abtastkörpers sinkt. Bei der durchgezogenen Kurve, die eine Abtastung mit einem Abtastkörper simuliert, dessen Länge L gleich der vierfachen Querschnittsabmessung D beträgt, ist der Signal-Untergrund gerade nicht mehr erkennbar. Der Signal-Stör-Abstand beträgt bei diesem Abtastkörper mehr als ca. 40000:1 , also über vier Größenordnungen, womit ein eventuell noch vorhandener Signal-Untergrund praktisch nicht mehr nachweisbar ist.
Daher sind auch Ausführungsformen der Erfindung vorgesehen, bei denen der Abtastkörper 20 in Richtung der Längsachse 19 eine Länge L aufweist, die mindestens das vierfache der Querschnitts-Abmessung D des Abtastkörpers 20 beträgt. Es sind weiterhin Ausführungsformen vorgesehen, bei denen der Abstand des Sonden-Bereichs 30 zum hinteren Ende des Abtastkörpers 20, in dessen Nähe die Probenlicht-Austrittsfläche 25 angeordnet ist, mindestens das dreifache der
Querschnitts-Abmessung D des Abtastkörpers 20 beträgt. So kann erreicht werden, dass der Strahlweg für unerwünschte reflektierte Strahl-Anteile zur Probenlicht- Austrittsfläche 25 innerhalb des Abtastkörpers 20 lang genug ist, um durch mehrfache Reflexionen ausreichend abgeschwächt zu werden.
Die Erfindung weist aufgrund ihrer Merkmale gegenüber dem Stand der Technik wesentliche Vorteile auf: - Die Vorrichtung erlaubt die Abtastung und Vermessung von Lichtstrahlen und
Laserstrahlen mit sehr hoher Leistung und/oder Leistungsdichte. Gegenüber üblichen Vorrichtungen mit Abtastung durch eine Lochblende oder ein Pinhole kann die Leistung oder Leistungsdichte des Strahls um viele
Größenordnungen höher liegen. Auch die direkte Abtastung eines Strahls im Bereich eines Strahlfokus wird ermöglicht.
- Die Vorrichtung erlaubt die Abtastung und Vermessung von Lichtstrahlen und Laserstrahlen mit hoher Ortsauflösung in allen Raumrichtungen.
- Fehlerhafte Abtast-Signale, die durch Selbst-Überlagerung vom
abzutastenden Lichtstrahl mit reflektierten Strahl-Anteilen entstehen, und Untergrund-Signale, die bei bekannten Abtastern mit einem transparenten
Abtastkörper auftreten, sind bei der vorliegenden Erfindung reduziert oder beseitigt.
- Die Vorrichtung ermöglicht eine Abtastung und Vermessung mit sehr hoher Dynamik und sehr hohem Signal-Stör-Abstand.
- Dadurch wird insbesondere auch eine höhere Genauigkeit bei der
Bestimmung von Parametern wie dem Strahlparameter-Produkt oder dem Strahlpropagationsfaktor erreicht, weil der hohe Signal-Stör-Abstand eine genaue Strahlvermessung vieler Strahl-Querschnittsebenen über einen größeren Bereich entlang der Achse eines Laserstrahls erlaubt. Die Erfindung kann in verschiedenster Weise fortgebildet werden, ohne den Bereich und die Aufgabe der vorliegenden Erfindung zu verlassen. Einige vorteilhafte Ausführungsmöglichkeiten und Fortbildungen sind in den Figuren und den
zugehörigen Figurenbeschreibungen dargestellt und erläutert.
Ein Problem bei der Rekonstruktion der zweidimensionalen Intensitätsverteilung aus den Signalpuls-Verläufen der einzelnen Abtastspuren kann darin bestehen, dass die Signal-Verläufe den korrekten Koordinaten entlang der Bewegungsrichtungen zugeordnet werden müssen. Dazu kann die Abtastbewegung mit einem
Positionsgeber gekoppelt sein, dessen Signal mit dem Detektor-Signal synchronisiert werden muss. Insbesondere bei hohen Abtastgeschwindigkeiten kann sich ein kleiner Zeitfehler bei der Synchronisation oder ein Jitter deutlich auswirken und die Genauigkeit beeinträchtigen.
Es ist daher in weiteren Ausführungsformen der Erfindung vorgesehen, die
Synchronisation der einzelnen Abtastspuren aus dem Abtastsignal selbst zu gewinnen. Dazu kann im Abtastkörper 20 beabstandet zum Sonden-Bereich 30 ein zusätzlicher linienförmiger Sonden-Bereich 35 mit einer lichtablenkenden
Strukturierung angeordnet sein. Der linienförmige Sonden-Bereich 35 ist
vorzugsweise quer zur ersten Bewegungsrichtung 51 angeordnet, beispielsweise parallel zur Längsachse 19 des Abtastkörpers. Der linienförmige Sonden-Bereich 35 entnimmt bei einer Abtast-Bewegung eine streifenförmige Probe aus dem gesamten Querschnitt des Lichtstrahls. Die entnommene Probe bzw. die Menge des
abgelenkten Lichts ist invariant zur Position entlang der Achse des linienförmigen Sonden-Bereichs 35. Daher hat der durch den linienförmigen Sonden-Bereich erzeugte Signalpuls bei jeder Abtast-Bewegung und jeder parallel versetzten
Abtastspur annähernd denselben Verlauf und annähernd dieselbe Signalhöhe. Somit kann dieser Signalpuls als Referenzsignal verwendet werden und die einzelnen Signal-Verläufe können anhand dieses Referenzsignals ausgerichtet werden.
Gleichzeitig ist durch Vergleich der einzelnen Referenz-Signale eine Kontrolle möglich, ob der Lichtstrahl 10 zeitlich stationär ist.
Wenn die erste Bewegungsrichtung 51 erzeugt wird durch eine Rotation des
Abtastkörpers 20 um eine Drehachse 61 , dann kann der linienförmige Sonden- Bereich 35 einen kleinen Winkel zur Längsachse 19 aufweisen, so dass die Achse des linienförmigen Sonden-Bereichs 35 durch die Drehachse 61 verläuft. Auf diese Weise ist der linienförmige Sonden-Bereich 35 senkrecht zur lokalen Tangente an die durch die Bewegungsrichtung 51 erzeugte Abtastspur ausgerichtet.
Eine weitere vorteilhafte Ausführungsform ergibt sich, wenn im Abtastkörper 20 zwei zusätzliche linienförmige Sonden-Bereiche 35, 35' angeordnet sind, beispielsweise jeweils ein linienförmiger Sonden-Bereich auf jeder Seite des Sonden-Bereichs 30, so das der Sonden-Bereich 30 ungefähr mittig zwischen den linienförmigen Sonden- Bereichen 35, 35' liegt. Eine solche Ausführung ist in Figur 25 beispielhaft
dargestellt. Figur 26 zeigt berechnete Abtast-Signale, die mit einem derartigen Abtastkörper 20 bei der Abtastung eines Lichtstrahls erzeugt werden. Dabei werden somit nacheinander bis zu drei Signal-Pulse erzeugt. Der erste und der letzte Signal- Puls, also die von den linienförmigen Sonden-Bereichen 35, 35' erzeugten Signale, dienen als Referenz-Signale. Der Verlauf und die Höhe der Referenz-Signale sind bei allen Abtastspuren ungefähr gleich, abgesehen von dem bei der Raytracing- Simulation auftretenden Statistik-Rauschen. Bei dieser Abtastkörper-Ausführung kann nicht nur ein Jitter der Abtast-Bewegung kompensiert werden, auch eine Schwankung der Abtast-Geschwindigkeit kann erkannt und kompensiert werden.
Zur Ausführung der Abtast-Bewegungen in den Bewegungsrichtungen 51 und 52 sowie gegebenenfalls zusätzlich in der Bewegungsrichtung 53 ist die Vorrichtung mit einer Einrichtung zur Bereitstellung von Relativbewegungen ausgestattet. Der Abtastkörper 20 kann beispielsweise mit einer Bewegungseinrichtung gekoppelt sein, die aus kartesisch angeordneten Linearführungen mit entsprechenden Antrieben besteht. Solche Einrichtungen sind dem Fachmann geläufig und müssen nicht im Detail erläutert werden.
Figur 2 zeigt ein Ausführungsbeispiel der Erfindung, bei der zur Bereitstellung der Bewegungsrichtung 51 der Abtastkörper 20 auf einer Drehachse 61 drehbar gelagert ist. Die Drehachse 61 schneidet die Längsachse 19 des Abtastkörpers 20 oder die über die Probenlicht-Austrittsfläche verlängerte Längsachse 19. Im gezeigten
Beispiel ist die Drehachse 61 senkrecht zur Längsachse 19 angeordnet. Im
Schnittpunkt zwischen der Drehachse 61 und der verlängerten Längsachse 19 kann ein Umlenkspiegel 43 angeordnet sein, der das Probenlicht 15 zum Detektor 40 umlenkt und der mit der Drehbewegung des Abtastkörpers gekoppelt ist. Der
Detektor 40 kann auf der Drehachse 61 angeordnet sein und so das Probenlicht 15 empfangen, ohne an die Rotation um die Drehachse 61 gekoppelt zu sein. Zur Erzeugung der Bewegung in der zweiten Bewegungsrichtung 52 ist mittels einer weiteren Bewegungseinrichtung, die eine Linearführung mit Antrieb sein kann, die Drehachse 61 parallel verschiebbar. Dadurch ist der Abstand 62 zwischen der Achse 11 des Lichtstrahls 10 und der Drehachse 61 verstellbar. Die Bewegungsrichtung 51 ist in diesem Fall also eine Rotationsbewegung bzw. Kreisumfangsbewegung. Die Abtastspuren sind demnach bei diesem Ausführungsbeispiel parallel versetzte Kreisbahnsegmente. Die Krümmung der Abtastspuren kann bei der Rekonstruktion des Strahlprofils berücksichtig werden, oder sie ist vernachlässigbar bei ausreichend großem Abstand der Drehachse 61 zum Sonden-Bereich 30.
Durch die Fresnel-Reflexion an der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 wird ein kleiner Strahl-Anteil in Richtung des ankommenden Lichtstrahls 10 rückreflektiert. Bei Lichtstrahlen mit sehr hoher Leistung könnte dieser rückreflektierte Anteil unerwünschte Effekte an der Lichtstrahl-emittierenden Einrichtung oder in der Umgebung verursachen. Es kann daher vorteilhaft sein, eine ausreichende
Aufweitung des an der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 rückreflektierten Strahlanteils vorzusehen. Dazu kann die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 eine Krümmung, insbesondere eine konvexe Krümmung aufweisen. Durch eine gekrümmte Fläche wird der rückreflektierte Anteil im Raum verteilt, wenn bei der Abtastung der
Abtastkörper durch den Lichtstrahl geführt wird, und es gibt keine gerichtete
Reflexion. Bei den in den Figuren 2, 5, 10, 13, 16, 17, 23 und 25 gezeigten
Ausführungsbeispielen wird dies erreicht durch Verwendung eines zylindrischen Stabes als Abtastkörper 20, bei dem die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 als Teilbereich der zylindrischen Umfangsfläche des Abtastkörpers 20 ausgebildet ist. Dadurch hat die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 eine zylindrisch konvexe Krümmung.
Die Vorrichtung mit dem Abtastkörper 20 kann beispielsweise so ausgerichtet sein, dass die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 ungefähr senkrecht zur Strahlachse 11 steht. Die Vorrichtung kann aber auch so zum Lichtstrahl 10 ausgerichtet sein, dass die Normalen-Richtung 28 der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 um einen Winkel zur Strahlachse 1 1 geneigt ist, so dass die Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 schräg zum
Lichtstrahl 10 steht. Da die Fresnel-Reflexion von der Polarisationsrichtung abhängig ist, können sich dadurch beim in den Abtastkörper transmittierten Lichtstrahl die relativen Intensitäten des Lichtstrahls in den beiden Polarisationsrichtungen ändern, was für die Strahlvermessung unerwünscht ist. Die relative Änderung der
Polarisations-Anteile sollte kleiner als 1 % oder auch kleiner als 0,1 % sein. Es können daher Anordnungen bzw. Ausrichtungen der Vorrichtung vorgesehen sein, bei denen die Neigung der Normalen-Richtung 28 der Lichtstrahl-Eintrittsfläche 22 zur
Strahlachse 11 höchstens 17° beträgt. Es sind weiterhin auch Anordnungen vorgesehen, bei denen die Neigung der Normalen-Richtung 28 der Lichtstrahl- Eintrittsfläche 22 zur Strahlachse 11 höchstens 6° beträgt.
Der Abtastkörper 20 kann einen Probenlicht-Umlenkbereich 36 umfassen. Der Probenlicht-Umlenkbereich 36 lenkt zumindest einen Teil des vom Sonden-Bereich 30 abgelenkten Strahlanteils 15 in Richtung zum Detektor 40 um. Der Probenlicht- Umlenkbereich 36 kann beispielsweise derart ausgestaltet sein, dass der
Probenlicht-Umlenkbereich 36 eine lichtablenkende Strukturierung im Material des Abtastkörper 20 aufweist. Die lichtablenkende Strukturierung des Probenlicht- Umlenkbereichs 36 kann in ähnlicher Weise ausgeführt sein wie die lichtablenkende Strukturierung des Sonden-Bereichs 30. Der Probenlicht-Umlenkbereich 36 kann auch eine abgeschrägte Fläche des Abtastkörpers 20 sein. Die Figuren 21 und 22 zeigen beispielhaft derartige Ausführungsformen.
Zwischen der Probenlicht-Austrittsfläche 25 und dem Detektor 40 können weitere Elemente zur Optimierung der Strahlführung des vom Sonden-Bereich 30
abgelenkten Lichtanteils 15 vorgesehen sein. Mögliche Elemente sind Einrichtungen zur Lichtsammlung, Umlenkspiegel, lichtstreuende Flächen, oder Blenden. Mittels einer Einrichtung zur Lichtsammlung 44 kann das aus der Probenlicht-Austrittsfläche 25 austretende abgelenkte Licht 15 auf den Detektor 40 fokussiert werden. Damit kann der vom Detektor 40 erfasste Lichtanteil erhöht werden und somit der Signal- Pegel vergrößert werden. Die Einrichtung zur Lichtsammlung 44 kann auch verwendet werden, um den Sonden-Bereich 30 direkt auf den Detektor 40
abzubilden. Damit kann erreicht werden, dass der Detektor 40 selektiv nur Licht erfasst, welches vom Sonden-Bereich 30 abgelenkt wurde. Auf diese Weise kann die Fremdlicht-Unterdrückung noch weiter verbessert werden. Die Einrichtung zur Lichtsammlung 44 kann beispielsweise eine Linse, einen Hohlspiegel, einen
Lichtleiter oder einen Hohlleiter umfassen. Die Linse kann eine beliebige Art von Linse sein, d.h. eine sphärische oder asphärische Einzellinse, ein Linsensystem, oder eine Gradientenindexlinse. Ein Umlenkspiegel 43 kann hilfreich sein zur Entkopplung der Bewegung des Abtastkörpers 20 vom Detektor 40. Eine
lichtstreuende Fläche kann günstig sein zur Verminderung oder Elimination von Richtungs-Abhängigkeiten in der Detektions-Empfindlichkeit. Die Figuren 18 bis 20 und 22 zeigen Beispiele für die genannten Ausführungsmöglichkeiten. Eine Einrichtung zur Lichtsammlung kann auch mit der Probenlicht-Austrittsfläche 25 kombiniert sein, beispielsweise mittels einer konvex ausgeformten Probenlicht- Austrittsfläche 25.
Die Erfindung kann verwendet werden beispielsweise zur Bestimmung eines oder mehrerer der folgenden Parameter eines Lichtstrahls 10: Strahldurchmesser, Strahlprofil, Intensitätsverteilung, relative Leistungsdichte. Wenn bei der
Bewegungseinrichtung der Vorrichtung außer den Bewegungsrichtungen 51 und 52 zusätzlich eine Verstell- oder Antriebsmöglichkeit in der dritten Bewegungsrichtung 53 parallel zur Richtung der Achse 11 des Lichtstrahls 10 vorgesehen ist, dann ist weiterhin auch die Bestimmung eines oder mehrerer folgender Parameter möglich: Divergenz-Winkel, Strahlparameter-Produkt, Propagationsfaktor, axiale
Fokusposition, Fokusdurchmesser.
Die Erfindung kann verwendet werden zur Abtastung von Laserstrahlen mit sehr hoher Leistung und/oder Leistungsdichte. Der Laserstrahl kann eine Leistung von bis zu 1000 W und auch wesentlich darüber aufweisen, beispielsweise auch 100 kW und darüber. Der Laserstrahl kann im Fokus eine Leistungsdichte von bis zu 5 MW/cm2 oder auch mehrere Größenordnungen höher aufweisen.
BEZUGSZEICHENLISTE
10 Lichtstrahl
11 Lichtstrahl-Achse
12 Messfeld
13 an Lichtstrahl-Austrittsfläche reflektierter Lichtstrahl
15 abgelenkter Strahl-Anteil in Richtung zum Detektor (Probenlicht)
16 abgelenkter Strahl-Anteil
17 abgelenkter Strahl-Anteil
18 Lichtstrahl-Anteil
19 Längsachse
20 Abtastkörper
21 Aussparung
21 ' Aussparung
22 Lichtstrahl-Eintrittsfläche
23 Lichtstrahl-Austrittsfläche
24 Messfeld-Achse
25 Probenlicht-Aust ttsfläche
26 Querschnittsebene des Abtastkörpers
26' Querschnittsebene des Abtastkörpers im Bereich der Aussparung
27 Flächenabschnitt
27' Flächenabschnitt
28 Normalen-Richtung der Lichtstrahl-Eintrittsfläche
29 Normalen-Richtung der Lichtstrahl-Austrittsfläche
30 Sonden-Bereich
31 Struktur-Einzelheit
33 Abmessung des Sonden-Bereichs
35 linienförmiger Sonden-Bereich
35' linienförmiger Sonden-Bereich
36 Probenlicht-Umlenkbereich
40 Detektor
43 Umlenkspiegel
44 Einrichtung zur Lichtsammlung Blende
Abdeckung
erste Bewegungsrichtung quer zur Längsachse zweite Bewegungsrichtung
dritte Bewegungsrichtung
Drehachse
Abstand zwischen Lichtstrahl-Achse und Drehachse
Einrichtung zur Signalaufzeichnung

Claims

ANSPRÜCHE
1. Vorrichtung zur Abtastung eines Lichtstrahls (10), enthaltend einen
Abtastkörper (20) mit einer Lichtstrahl-Eintrittsfläche (22), mit einer Lichtstrahl- Austrittsfläche (23), mit einer Probenlicht-Austrittsfläche (25), und mit einem Sonden- Bereich (30), weiterhin enthaltend einen Detektor (40) und eine Einrichtung zur Bereitstellung von Relativbewegungen zwischen dem Abtastkörper (20) und dem Lichtstrahl (10),
- wobei der Abtastkörper (20) in Richtung einer Längsachse (19) stabförmig ausgedehnt ist und aus einem lichtleitenden, für den Lichtstrahl (10) transparenten Material besteht,
- wobei der Abtastkörper (20) eine Aussparung (21 ) zur Ausbildung eines Flächenabschnitts (27) am Abtastkörper (20) aufweist, und der Flächenabschnitt (27) die Lichtstrahl-Eintrittsfläche (22) oder die Lichtstrahl-Austrittsfläche (23) beinhaltet,
- wobei eine Normalen-Richtung (28) der Lichtstrahl-Eintrittsfläche (22) in einem Winkel (a) im Bereich von 5° bis 20° zu einer Normalen-Richtung (29) der Lichtstrahl-Austrittsfläche (23) geneigt ist,
- wobei der Abtastkörper (20) den Sonden-Bereich (30) beinhaltet,
- wobei der Sonden-Bereich (30) in einer Querschnittsebene (26') des
Abtastkörpers (20) angeordnet ist, die sich im Bereich der Aussparung (21 ) befindet, senkrecht zu der Längsachse (19) ist und an den Flächenabschnitt (27) angrenzt,
- wobei eine Querschnittsabmessung (D') des Abtastkörpers (20) in der Querschnittsebene (26'), in der der Sonden-Bereich (30) angeordnet ist, mindestens 50% einer Querschnittsabmessung (D) des Abtastkörpers (20) in einer senkrecht zur Längsachse (19) befindlichen Querschnittsebene (26) außerhalb der Aussparung (21 ) beträgt,
- wobei der Sonden-Bereich (30) eine lichtablenkende Strukturierung
aufweist, und
- wobei der Detektor (40) angeordnet ist zur Erfassung von wenigstens
einem Teil eines vom Sonden-Bereich (30) aus dem Lichtstrahl (10) abgelenkten Strahl-Anteils (15).
2. Vorrichtung nach Anspruch 1 , wobei die Abmessungen des durch die Aussparung (21 ) ausgebildeten Flächenabschnitts (27) größer sind als die
Abmessungen (33) des Sonden-Bereichs (30).
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, wobei die Abmessungen des durch die
Aussparung (21 ) ausgebildeten Flächenabschnitts (27) mindestens zehnmal größer sind als die Abmessungen (33) des Sonden-Bereichs (30).
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei der Abtastkörper (20) in Richtung der Längsachse (19) eine Länge (L) aufweist, die mindestens das
Vierfache der Querschnitts-Abmessung (D) des Abtastkörpers (20) beträgt.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei ein Abstand des Sonden-Bereichs (30) zu einem hinteren Ende des Abtastkörpers (20) mit der Probenlicht-Austrittsfläche (25) mindestens das Dreifache einer Querschnitts- Abmessung (D) des Abtastkörpers (20) beträgt.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei ein ein Abstand (s) des Sonden-Bereichs (30) in Richtung der Längsachse (19) zu einem vorderen Ende des Abtastkörpers mindestens die Hälfte der Querschnitts-Abmessung (D) des
Abtastkörpers (20) beträgt.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei ein Abstand des Sonden-Bereichs (30) zur Lichtstrahl-Eintrittsfläche (22) höchstens ein Zehntel der Querschnitts-Abmessung (D) des Abtastkörpers (20) beträgt.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei die lichtablenkende Strukturierung des Sonden-Bereichs (30) durch eine Mehrzahl von Struktur- Einzelheiten (31 ) gebildet ist.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, wobei die lichtablenkende Strukturierung des Sonden-Bereichs (30) hergestellt ist mittels eines fokussierten Kurzpuls-Lasers.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, wobei eine Abmessung (33) des Sonden-Bereichs (30) kleiner ist als die Hälfte einer Abmessung des kleinsten Strahlquerschnitts des abzutastenden Lichtstrahls (10).
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, wobei zwischen der
Probenlicht-Austrittsfläche (25) des Abtastkörpers (20) und dem Detektor (40) eine Einrichtung (44) zur Lichtsammlung angeordnet ist, und wobei die Einrichtung (44) zur Lichtsammlung wenigstens eines der folgenden Elemente umfasst: eine Linse, eine Gradientenindexlinse, einen Hohlspiegel, einen Lichtleiter, oder einen Hohlleiter.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11 , wobei der Abtastkörper (20) beabstandet zum Sonden-Bereich (30) zusätzlich einen ersten linienförmigen
Sonden-Bereich (35) mit einer lichtablenkenden Strukturierung aufweist.
13. Vorrichtung nach Anspruch 12, wobei der Abtastkörper (20) beabstandet zum Sonden-Bereich (30) zusätzlich einen zweiten linienförmigen Sonden-Bereich (35') mit einer lichtablenkenden Strukturierung aufweist, wobei der Sonden-Bereich (30) zwischen dem ersten linienförmigen Sonden-Bereich (35) und dem zweiten linienförmigen Sonden-Bereich (35') angeordnet ist.
14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 13, wobei die Einrichtung zur Bereitstellung von Relativbewegungen eine Scanner-Einrichtung ist, mittels der der Lichtstrahl (10) über den Abtastkörper (20) bewegbar ist.
15. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 13, wobei der Abtastkörper (20) mittels der Einrichtung zur Bereitstellung von Relativbewegungen bewegbar ist in einer ersten Bewegungsrichtung (51 ) quer zur Längsachse (19) und in einer zweiten Bewegungsrichtung (52), die von der ersten Bewegungsrichtung (51 ) unabhängig ist und mit der ersten Bewegungsrichtung (51 ) eine Abtastfläche aufspannt.
16. Vorrichtung nach Anspruch 15, wobei die erste Bewegungsrichtung (51 ) zur Abtastung des Lichtstrahls (10) erzeugbar ist durch Rotation des Abtastkörpers (20) um eine Drehachse (61 ).
17. Vorrichtung nach Anspruch 16, wobei die zweite Bewegungsrichtung (52) zur Abtastung des Lichtstrahls (10) erzeugbar ist durch Parallelverschiebung der Drehachse (61 ).
18. Vorrichtung nach Anspruch 15, wobei eine erste Bewegungsrichtung (51 ) zur
Abtastung des Lichtstrahls (10) erzeugbar ist durch eine Schwingungsbewegung des Abtastkörpers (20).
19. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 15 bis 18, wobei der Abtastkörper (20) in einer dritten Bewegungsrichtung (53) senkrecht zur ersten und zur zweiten
Bewegungsrichtung (51 , 52) bewegbar ist.
20. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 19, weiterhin umfassend
- eine Einrichtung (70) zur Aufzeichnung eines zeitlich veränderlichen
Signals vom Detektor (40), sowie
- eine Auswertungs-Einrichtung zur Bestimmung mindestens eines
Parameters aus der folgenden Gruppe von Parametern des Lichtstrahls (10): Strahldurchmesser, Strahlprofil, Intensitätsverteilung im Querschnitt des Lichtstrahls, Strahldurchmesser in mehreren Positionen entlang der Achse des Lichtstrahls, Divergenz-Winkel, Strahlparameter-Produkt,
Propagationsfaktor, axiale Fokus-Position, Fokusdurchmesser.
21. Verwendung einer Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 20 zur Bestimmung von räumlichen Abmessungen eines Laserstrahls.
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