CN114166743B - 一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，系统包括壳体、夹紧装置、传输装置二、凹面检测装置、定位装置以及控制器。夹紧装置包括固定挡板、移动挡板、定位组件、测距传感器一以及驱动组件。传输装置二包括电磁铁二、伸缩件二以及传输组件二，凹面检测装置包括检测座二、若干个触压开关二以及若干个探针二，定位装置包括测距传感器三。本发明通过夹紧装置对磁瓦进行初步的夹紧，通过传输装置二将磁瓦从夹紧装置上取走并进一步传输至凹面检测装置上进行检测，利用探针二形成的检测曲面一感应磁瓦凹面，当磁瓦凹面上具有凹陷或者凸起时，探针抵压触压开关二的时间是不同的，从而判断出该区域存在缺陷。

Description

一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法

本申请是申请号为CN201910932189.0，申请日为2019/09/29，且发明名称为一种磁瓦表面缺陷检查系统及其检查方法的分案申请。

技术领域

本发明涉及磁瓦检查技术领域的一种缺陷判定方法，尤其涉及一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法。

背景技术

磁瓦是铁氧物永磁材料的主要产品之一，其是电动机中的重要组成部件，应用于众多领域，在汽车、家电、电动工具等工业领域应用广泛，二期需求量巨大。通常情况下，磁瓦是指锶铁氧体，是一种用作永磁电机的励磁，有刷直流电机中放置于定子，无刷电机中放置于转子。

在磁瓦的生产制造过程中，由于原料成分、设备使用情况、加工工艺以及工人操作等因素的影响，在其表面不可避免地会出现一些加工缺陷，例如裂纹、崩烂、压痕、砂眼以及漏磨等。缺陷的存在会对磁瓦的磁性能、使用寿命等带来非常大的影响，有缺陷的磁瓦如果在风力发电、新能源汽车、航空航天等领域使用会产生巨大的安全隐患，甚至直接造成灾难性后果。目前磁瓦缺陷检测主要依靠工人以肉眼分辨检测，劳动强度大，人员易疲劳，效率低，误检率较高，无法实现自动化和智能化；同时，当磁瓦弧度较大时，磁瓦缺陷检测设备也因景深大、成像效果差、取相难度大等原因造成检查效果差的问题。

发明内容

为解决人工检测磁瓦凹面效率低、误检率较高，而现有的磁瓦凹面缺陷检测设备检查效果差的技术问题，本发明提供一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法。

本发明采用以下技术方案实现：一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，所述磁瓦表面缺陷检查系统包括：

壳体；

夹紧装置，其包括固定挡板、移动挡板、定位组件、测距传感器一以及驱动组件；固定挡板的底端固定在壳体上；移动挡板的底端活动安装在壳体上，并能够相对固定挡板移动，以产生供至少一个磁瓦放置的至少一个夹紧空间；定位组件安装在固定挡板和移动挡板之间，并用于将磁瓦定位在固定挡板和移动挡板之间；测距传感器一用于检测固定挡板和移动挡板之间的距离；所述驱动组件用于驱使移动挡板向固定挡板移动；

传输装置二，其包括电磁铁二、伸缩件二以及传输组件二；电磁铁二的顶端为凹面端，且所述凹面端能够与磁瓦的凸面相贴合；伸缩件二的伸缩端固定在电磁铁二的底端上；所述传输组件二安装在壳体上，并用于将伸缩件二在所述传输组件一的下方移动且移动方向与伸缩件一的移动方向平行；

凹面检测装置，其包括检测座二、若干个触压开关二以及分别与若干个触压开关二对应的若干个探针二；检测座二安装在壳体上，且侧壁上具有弯曲度与磁瓦的凹面的弯曲度相同的弧形凸面；检测座二与检测座一之间的距离大于磁瓦的弦长；若干个触压开关二均安装在检测座二上，并沿着所述弧形凸面的弯曲方向均匀分布；每个探针二的顶端固定在对应的触压开关二的触压端上，且探针二活动安装在检测座二上；所有探针二的底端穿过所述弧形凸面，并形成能够与磁瓦的凹面相贴合的检测曲面二；

定位装置，其包括测距传感器三；测距传感器三安装在壳体上，并用于检测伸缩件二与壳体靠近所述凹面检测装置的内壁的距离；

控制器，其采用的磁瓦凹面的缺陷判定方法为：判断测距传感器一检测的距离是否大于所述弦长，是则通过所述驱动组件驱使移动挡板相对固定挡板靠近直至测距传感器一检测的距离等于所述弦长，否则驱使移动挡板相对固定挡板远离直至测距传感器一检测的距离等于所述弦长；所述磁瓦凹面的缺陷判定方法还包括以下步骤：

步骤S6，通过所述传输组件一驱使伸缩件一移动，直至测距传感器二检测的距离等于一个预设距离三；在测距传感器二检测的距离等于所述预设距离三时，吸附在电磁铁一的磁瓦位于检测座二与检测座一之间的空间的上方；

步骤S7，通过所述传输组件二驱使伸缩件二移动，直至测距传感器三检测的距离等于一个预设距离四；其中，在测距传感器二检测的距离等于所述预设距离三且测距传感器三检测的距离等于所述预设距离四时，伸缩件一、伸缩件二的中心线重合；

步骤S8，先驱使伸缩件二伸出直至电磁铁二抵在磁瓦上，再关闭电磁铁一并启动电磁铁二，最后驱使伸缩件二收缩；

步骤S9，通过所述传输组件二驱使伸缩件二移动，直至测距传感器三检测的距离等于一个预设距离五；在测距传感器三检测的距离等于所述预设距离五时，伸缩件二的中心线穿过所述检测曲面二的中心；

步骤S10，先驱使伸缩件二伸出，使磁瓦抵在所述检测曲面二上，再驱使伸缩件二收缩；其中，在所有探针二均同时触发对应的触压开关一时，判定磁瓦的凹面不存在缺陷，在部分探针二提前触发对应的触压开关二或者延后触发对应的触压开关二时，判定磁瓦的凹面存在缺陷。

本发明通过夹紧装置对磁瓦进行初步的夹紧，通过传输装置二将磁瓦进一步传输至凹面检测装置上，此时探针二所形成的检测曲面二就会与磁瓦接触，当磁瓦的凹面存在凸出或者凹陷时，就会导致探针二触发触压开关二的时间不同，这样进一步对磁瓦的凹面进行了检查，进而实现对磁瓦凹凸面的缺陷检查。

作为上述方案的进一步改进，所述驱动组件包括驱动电机、驱动螺杆、限位杆以及弹簧；驱动螺杆螺接在移动挡板上，且中心线与移动挡板的移动方向平行；驱动电机安装在壳体上，且输出轴与驱动螺杆连接；限位杆的两端分别穿过固定挡板、移动挡板，且中心线与移动挡板的移动方向平行；弹簧套在限位杆上，且两端分别固定在固定挡板和移动挡板上。

作为上述方案的进一步改进，所述传输组件二包括传输电机二、传输螺杆二、定位杆二以及滑块二；传输螺杆二的一端转动安装在壳体上，另一端与传输电机二的输出轴连接；定位杆二的中心线与传输螺杆一、传输螺杆二的中心线平行，且两端安装在壳体上；滑块二与传输螺杆二螺接，定位杆二穿过滑块二；其中，伸缩件二安装在滑块二上。

作为上述方案的进一步改进，定位组件包括两个定位块；两个定位块分别安装在固定挡板和移动挡板的相对两内壁上，每个定位块上开设与磁瓦配合的缺口。

进一步地，定位组件还包括分别与两个定位块对应的两块定位板；两块定位板分别安装在固定挡板和移动挡板的相对两内壁上，且分别位于对应的定位板的下方，并用于支撑磁瓦。

作为上述方案的进一步改进，所述夹紧装置还包括红外传感器一和倾斜报警器；红外传感器一的发射器和接收器分别安装在固定挡板和移动挡板上，且所述发射器发射的光线经过位于定位组件上的磁瓦的下方空间以传输至所述接收器；在磁瓦发生倾斜时，磁瓦的凸面端遮住所述光线以使红外传感器一产生一个开关信号一；所述控制器在红外传感器一发出开关信号一时，驱使所述倾斜报警器发出倾斜报警信号。

作为上述方案的进一步改进，磁瓦表面缺陷检查系统还包括：

称重装置，其包括称重传感器二；称重传感器二安装在电磁铁二和伸缩件二之间，并用于检测吸附在电磁铁二上的磁瓦的重量。

进一步地，所述控制器还用于判断称重传感器二检测的重量是否等于一个预设重量；在称重传感器二检测的重量大于所述预设重量时，所述控制器判定磁瓦存在超重缺陷或探针二存在脱离情况；在称重传感器二检测的重量小于所述预设重量时，所述控制器判定磁瓦存在不足量缺陷。

作为上述方案的进一步改进，所有探针二均平行设置，且与伸缩件二的伸缩方向平行。

作为上述方案的进一步改进，固定挡板与壳体一体成型。

相较于现有的磁瓦缺陷检查手段，本发明具有以下有益效果：

1、夹紧装置中移动挡板能够相对固定挡板移动，这样在放置磁瓦后，可以通过驱动组件使移动挡板移动直至测距传感器一检测到移动挡板与固定挡板的距离正好等于磁瓦的弦长，使得磁瓦被夹在夹紧装置上，方便其他结构后续拿取磁瓦，而且在夹紧的过程中还可以自动纠正磁瓦的位置。当然，该夹紧装置也可以先使移动挡板移动直至距离等于磁瓦的弦长，再将磁瓦上到定位组件上，这样可以更快地放置磁瓦，而且由于移动挡板和固定挡板之间的距离是可以随着磁瓦的弦长进行调节的，这样可以实现对不同尺寸的磁瓦进行夹紧，使得整个系统的应用范围更大。凹面检测装置利用探针二所形成的检测曲面二对磁瓦的凹面进行检查，这样就可以判断出磁瓦的凹面是否存在缺陷。因此，本发明通过夹紧装置对磁瓦进行初步的夹紧，通过传输装置二将磁瓦从夹紧装置上取走并进一步传输至凹面检测装置上进行检测，利用探针二形成的检测曲面一感应磁瓦凹面，当磁瓦凹面上具有凹陷或者凸起时，探针抵压触压开关二的时间是不同的，从而判断出该区域存在缺陷。

附图说明

图1为本发明实施例1的磁瓦表面缺陷检查系统的结构示意图；

图2为本发明实施例1的磁瓦表面缺陷检查系统的控制器的部分控制流程图；

图3为本发明实施例2的磁瓦表面缺陷检查系统的结构示意图；

图4为本发明实施例3的磁瓦表面缺陷检查系统的结构示意图；

图5为本发明实施例4的磁瓦表面缺陷检查系统的结构示意图；

图6为本发明实施例5的磁瓦表面缺陷检查方法的流程图。

符号说明：

1 壳体 18 限位杆

2 固定挡板 19 弹簧

3 移动挡板 20 传输电机一

4 定位组件 21 传输螺杆一

5 测距传感器一 22 定位杆一

6 电磁铁一 23 滑块一

7 伸缩件一 24 传输电机二

8 检测座一 25 传输螺杆二

9 探针一 26 定位杆二

10 电磁铁二 27 滑块二

11 伸缩件二 28 定位块

12 检测座二 29 定位板

13 探针二 30 红外传感器一

14 测距传感器二 31 称重传感器一

15 测距传感器三 32 称重传感器二

16 驱动电机 33 光电传感器二

17 驱动螺杆 34 磁瓦

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

实施例1

请参阅图1以及图2，本实施例提供了一种磁瓦表面缺陷检查系统，其用于磁瓦生产流程中的缺陷检查环节。该磁瓦表面缺陷检查系统可直接设置在现有的磁瓦生产线上，也可以与其它设备进行联合，并作为其他设备的一部分，还可以单独进行设计，并作为一个单独的磁瓦检查设备进行使用。该磁瓦表面缺陷检查系统可以检查各种尺寸的磁瓦，而且在检查的过程中，将有缺陷的磁瓦及时检查出来，这样可以将这些存在缺陷的磁瓦回收并进行再利用，可以提高磁瓦生产过程中的良品率，提升检查的效率以及检查效果。其中，该磁瓦表面缺陷检查系统包括壳体1、夹紧装置、传输装置一、凸面检测装置、传输装置二、凹面检测装置、定位装置以及控制器。

壳体1可以放置在地面上，其底部可以设置一个防震结构，减少外部震动对壳体1的内部造成影响。壳体1可以采用非磁性材料制成，其能够直接安装在磁瓦34的生产线上，在一些实施例中，壳体1可以直接与磁瓦34生产线上的其他设备连接在一起，这样其他设备生产出来的未缺陷检查的磁瓦34可以直接输送至壳体1中进行检查。

夹紧装置包括固定挡板2、移动挡板3、定位组件4、测距传感器一5以及驱动组件。固定挡板2的底端固定在壳体1上，可以与壳体1直接一体成型。移动挡板3的底端活动安装在壳体1上，并能够相对固定挡板2移动，以产生供磁瓦34放置的夹紧空间。这里，磁瓦34的数量至少为一个，所形成的夹紧空间可与磁瓦34一一对应。定位组件4安装在固定挡板2和移动挡板3之间，并用于将磁瓦34定位在固定挡板2和移动挡板3之间。测距传感器一5用于检测固定挡板2和移动挡板3之间的距离。驱动组件用于驱使移动挡板3向固定挡板2移动。这样在放置磁瓦34后，可以通过驱动组件使移动挡板3移动直至测距传感器一5检测到移动挡板3与固定挡板2的距离正好等于磁瓦34的弦长，使得磁瓦34被夹在夹紧装置上，方便其他结构后续拿取磁瓦34，而且在夹紧的过程中还可以自动纠正磁瓦34的位置。当然，该夹紧装置也可以先使移动挡板3移动直至距离等于磁瓦34的弦长，再将磁瓦34上到定位组件4上，这样可以更快地放置磁瓦34，而且由于移动挡板3和固定挡板2之间的距离是可以随着磁瓦34的弦长进行调节的，这样可以实现对不同尺寸的磁瓦34进行夹紧，使得整个系统的应用范围更大。

在本实施例中，驱动组件包括驱动电机16、驱动螺杆17、限位杆18以及弹簧19。驱动螺杆17螺接在移动挡板3上，且中心线与移动挡板3的移动方向平行。驱动电机16安装在壳体1上，且输出轴与驱动螺杆17连接。限位杆18的两端分别穿过固定挡板2、移动挡板3，且中心线与移动挡板3的移动方向平行。弹簧19套在限位杆18上，且两端分别固定在固定挡板2和移动挡板3上。这里，当驱动电机16转动时，其输出轴带动驱动螺杆17转动，而此时驱动螺杆17与限位杆18的联合作用会驱使移动挡板3产生运动。弹簧19在移动挡板移动的过程中可以避免移动挡板3移动过多，尤其是在磁瓦34放置在夹紧空间中时，其能够很好地保护磁瓦34。

定位组件4包括两个定位块28和分别与两个定位块28对应的两块定位板29。两个定位块28分别安装在固定挡板2和移动挡板3的相对两内壁上，每个定位块28上开设与磁瓦34配合的缺口。两块定位板29分别安装在固定挡板2和移动挡板3的相对两内壁上，且分别位于对应的定位板29的下方，并用于支撑磁瓦34。定位块28上的缺口能够使磁瓦34正好定位在夹紧空间中，防止磁瓦34产生横向位移。而定位块28一方面可以对磁瓦34进行限位，另一方面可以支撑磁瓦34，尤其是在后续吸取磁瓦34的过程中会对磁瓦34造成下压力，而此时定位板29就可以很好地对磁瓦34进行支撑，避免磁瓦34在夹紧及吸取的过程中产生碎裂。

传输装置一包括电磁铁一6、伸缩件一7以及传输组件一。电磁铁一6的底端为凸面端，而且电磁铁一6的凸面端能够与磁瓦34的凹面相贴合。伸缩件一7的伸缩端固定在电磁铁一6的顶端上。传输组件一安装在壳体1上，并用于将伸缩件一7在夹紧装置的上方移动且移动方向与移动挡板3的移动方向平行。其中，伸缩件一7的长度可以根据实际需要进行设置，其实际所采用的器件可以为气缸、液压缸、电动推拉杆等。

在本实施例中，传输组件一包括传输电机一20、传输螺杆一21、定位杆一22以及滑块一23。传输螺杆一21的一端转动安装在壳体1上，另一端与传输电机一20的输出轴连接。定位杆一22的中心线与传输螺杆一21的中心线平行，且两端安装在壳体1上。滑块一23与传输螺杆一21螺接，定位杆一22穿过滑块一23。其中，伸缩件一7安装在滑块一23上。这里，当传输电机一20转动时，传输螺杆一21会转动，此时传输螺杆一21、定位杆一22会驱使滑块一23在横向产生位移，进而带动伸缩件一7进行移动。

凸面检测装置包括检测座一8、若干个触压开关一以及分别与若干个触压开关一对应的若干个探针一9。检测座一8安装在壳体1上，且顶端具有弯曲度与磁瓦34的凸面的弯曲度相同的弧形凹面。若干个触压开关一均安装在检测座一8中，并沿着弧形凹面的弯曲方向均匀分布。每个探针一9的底端抵在对应的触压开关一上，且活动安装在检测座一8上。所有探针一9的顶端穿过弧形凹面，并形成能够与磁瓦34的凸面相贴合的检测曲面一。在本实施例中，所有探针一9均平行设置，且与伸缩件一7的伸缩方向平行。电磁铁一6能够在伸缩件一7的作用下接触到磁瓦34，这样可以吸住磁瓦34，而后伸缩件一6可以在传输组件一的作用传输至凸面检测装置的上方，此时伸缩件一6继续伸出，以将磁瓦34抵在探针一9所形成的检测曲面一上。在磁瓦34的凸面不存在缺陷时，磁瓦34的凸面会和检测曲面一贴合，此时所有探针一9均会同时受压而同时触发触压开关一，而在磁瓦34的凸面存在缺陷时，磁瓦34的凸面的缺陷处对相应的探针一9所抵压的时间是不同的。在存在凸出区域时，部分探针一9会被提前触碰，进而使部分触压开关一提前受到触发，相反，则部分探针一9会被延后触碰，进而使对应的触压开关一延后受到触发，这样就可以根据这些触压开关一的动作状态，判断出磁瓦34的凸面是否存在缺陷。

传输装置二包括电磁铁二10、伸缩件二11以及传输组件二。电磁铁二10的顶端为凹面端，且凹面端能够与磁瓦34的凸面相贴合。伸缩件二11的伸缩端固定在电磁铁二10的底端上。传输组件二安装在壳体1上，并用于将伸缩件二11在传输组件一的下方移动且移动方向与伸缩件一7的移动方向平行。

在本实施例中，传输组件二包括传输电机二24、传输螺杆二25、定位杆二26以及滑块二27。传输螺杆二25的一端转动安装在壳体1上，另一端与传输电机二24的输出轴连接。定位杆二26的中心线与传输螺杆一21、传输螺杆二25的中心线平行，且两端安装在壳体1上。滑块二27与传输螺杆二25螺接，定位杆二26穿过滑块二27。其中，伸缩件二11安装在滑块二27上。同样，传输组件二的工作原理与传输组件一的相同，其通过传输电机二24的转动驱使传输螺杆二25转动，进而传输螺杆二25、定位杆二26驱使滑块二27移动。

凹面检测装置包括检测座二12、若干个触压开关二以及分别与若干个触压开关二对应的若干个探针二13。检测座二12安装在壳体1上，且侧壁上具有弯曲度与磁瓦34的凹面的弯曲度相同的弧形凸面。检测座二12与检测座一8之间的距离大于磁瓦34的弦长。若干个触压开关二均安装在检测座二12上，并沿着弧形凸面的弯曲方向均匀分布。每个探针二13的顶端固定在对应的触压开关二的触压端上，且探针二13活动安装在检测座二12上。所有探针二13的底端穿过弧形凸面，并形成能够与磁瓦34的凹面相贴合的检测曲面二。在本实施例中，所有探针二13均平行设置，且与伸缩件二11的伸缩方向平行。凹面检测装置的检测方法类似于凸面检测装置，其利用探针二13所形成的检测曲面二对磁瓦34的凹面进行检查，这样就可以判断出磁瓦34的凹面是否存在缺陷。如此，该磁瓦表面缺陷检查系统就实现了对磁瓦34的凹凸面的缺陷检查，并且是通过探针的方式进行检测的，可以避免通过视觉检查所造成的较大误差，提高缺陷的检查效果，同时该系统通过全自动的方式对磁瓦34进行缺陷检查，避免人工以肉眼进行分别检测，可以降低劳动强度，同时保护工人的眼睛，而且可以提高缺陷检查的效率和误检率，保证磁瓦34表面缺陷检查的精度。

定位装置包括测距传感器二14和测距传感器三15。测距传感器二14安装在壳体1上，并用于检测伸缩件一7与壳体1靠近夹紧装置的内壁的距离。测距传感器三15安装在壳体1上，并用于检测伸缩件二11与壳体1靠近凹面检测装置的内壁的距离。测距传感器二14和测距传感器三15能够实时检测磁瓦34在传输过程中与壳体1内壁的距离，一方面能够掌握磁瓦34的实时位置，另一方面还可以提高磁瓦34检查的精度。这里需要说明的是，测距传感器一5、测距传感器二14和测距传感器三15均可以采用超声波传感器，其发出的超声波在碰到检测物后会反射回来，进而通过超声波的传播时间来确定检测的距离。当然，在其他一些实施例中，测距传感器一5、测距传感器二14和测距传感器三15还可以采用光电传感器进行检测。

控制器用于判断测距传感器一5检测的距离是否大于弦长，是则通过驱动组件驱使移动挡板3相对固定挡板2靠近直至测距传感器一5检测的距离等于弦长，否则驱使移动挡板3相对固定挡板2远离直至测距传感器一5检测的距离等于弦长。这样磁瓦34在放置后，其位置是唯一的，可以防止电磁铁一6吸歪，方便后续电磁铁一6进行精确吸取。同时，控制器还能够根据测距传感器二14和测距传感器三15所检测的距离，对磁瓦34在检查过程中所在的位置进行定位，并在每次定位后，通过伸缩件一7和伸缩件二11是磁瓦34移动至检测曲面一和检测曲面二上进行检测，从而完成对磁瓦34的全自动缺陷检查，实现了全自动化和智能化。具体而言，该控制器执行以下步骤：

步骤S1，判断测距传感器二14检测的距离是否等于一个预设距离一；在测距传感器二14检测的距离等于预设距离一时，伸缩件一7的中心线穿过至位于定位组件4上的磁瓦34的中心；

在测距传感器二14检测的距离不等于预设距离一时，执行步骤S2，通过传输组件一驱使伸缩件一7移动，直至测距传感器二14检测的距离等于预设距离一；

在测距传感器二14检测的距离等于预设距离一时，执行步骤S3，先驱使伸缩件一7伸出，再启动电磁铁一6以吸附位于定位组件4上的磁瓦34，最后驱使伸缩件一7收缩；

步骤S4，通过传输组件一驱使伸缩件一7移动，直至测距传感器二14检测的距离等于一个预设距离二；在测距传感器二14检测的距离等于预设距离二时，伸缩件一7的中心线穿过至检测曲面一的中心；

步骤S5，先驱使伸缩件一7伸出，使磁瓦34抵在检测曲面一上，再驱使伸缩件一7收缩；其中，在所有探针一9均同时触发对应的触压开关一时，判定磁瓦34的凸面不存在缺陷，在部分探针一9提前触发对应的触压开关一或者延后触发对应的触压开关一时，判定磁瓦34的凸面存在缺陷；

步骤S6，通过传输组件一驱使伸缩件一7移动，直至测距传感器二14检测的距离等于一个预设距离三；在测距传感器二14检测的距离等于预设距离三时，吸附在电磁铁一6的磁瓦34位于检测座二12与检测座一8之间的空间的上方；

步骤S7，通过传输组件二驱使伸缩件二11移动，直至测距传感器三15检测的距离等于一个预设距离四；其中，在测距传感器二14检测的距离等于预设距离三且测距传感器三15检测的距离等于预设距离四时，伸缩件一7、伸缩件二11的中心线重合；

步骤S8，先驱使伸缩件二11伸出直至电磁铁二10抵在磁瓦34上，再关闭电磁铁一6并启动电磁铁二10，最后驱使伸缩件二11收缩；

步骤S9，通过传输组件二驱使伸缩件二11移动，直至测距传感器三15检测的距离等于一个预设距离五；在测距传感器三15检测的距离等于预设距离五时，伸缩件二11的中心线穿过检测曲面二的中心；

步骤S10，先驱使伸缩件二11伸出，使磁瓦34抵在检测曲面二上，再驱使伸缩件二11收缩；其中，在所有探针二13均同时触发对应的触压开关一时，判定磁瓦34的凹面不存在缺陷，在部分探针二13提前触发对应的触压开关二或者延后触发对应的触压开关二时，判定磁瓦34的凹面存在缺陷；

步骤S11，通过传输组件二驱使伸缩件二11移动，直至测距传感器三15检测的距离等于一个预设距离六；预设距离六小于预设距离五。

综上所述，相较于现有的磁瓦34缺陷检查系统，本实施例的磁瓦表面缺陷检查系统具有以下优点：

1、该磁瓦表面缺陷检查系统，其夹紧装置中移动挡板3能够相对固定挡板2移动，这样在放置磁瓦34后，可以通过驱动组件使移动挡板3移动直至测距传感器一5检测到移动挡板3与固定挡板2的距离正好等于磁瓦34的弦长，使得磁瓦34被夹在夹紧装置上，方便其他结构后续拿取磁瓦34，而且在夹紧的过程中还可以自动纠正磁瓦34的位置。当然，该夹紧装置也可以先使移动挡板3移动直至距离等于磁瓦34的弦长，再将磁瓦34上到定位组件4上，这样可以更快地放置磁瓦34，而且由于移动挡板3和固定挡板2之间的距离是可以随着磁瓦34的弦长进行调节的，这样可以实现对不同尺寸的磁瓦34进行夹紧，使得整个系统的应用范围更大。该磁瓦表面缺陷检查系统的传输装置一中电磁铁一6能够在伸缩件一7的作用下接触到磁瓦34，这样可以吸住磁瓦34，而后伸缩件一6可以在传输组件一的作用传输至凸面检测装置的上方，此时伸缩件一6继续伸出，以将磁瓦34抵在探针一9所形成的检测曲面一上。在磁瓦34的凸面不存在缺陷时，磁瓦34的凸面会和检测曲面一贴合，此时所有探针一9均会同时受压而同时触发触压开关一，而在磁瓦34的凸面存在缺陷时，磁瓦34的凸面的缺陷处对相应的探针一9所抵压的时间是不同的。在存在凸出区域时，部分探针一9会被提前触碰，进而使部分触压开关一提前受到触发，相反，则部分探针一9会被延后触碰，进而使对应的触压开关一延后受到触发，这样就可以根据这些触压开关一的动作状态，判断出磁瓦34的凸面是否存在缺陷。而后，传输装置二将检查完凸面的磁瓦34进一步传输至凹面检测装置上进行检查，凹面检测装置的检测方法类似于凸面检测装置，其利用探针二13所形成的检测曲面二对磁瓦34的凹面进行检查，这样就可以判断出磁瓦34的凹面是否存在缺陷。如此，该磁瓦表面缺陷检查系统就实现了对磁瓦34的凹凸面的缺陷检查，并且是通过探针的方式进行检测的，可以避免通过视觉检查所造成的较大误差，提高缺陷的检查效果，同时该系统通过全自动的方式对磁瓦34进行缺陷检查，避免人工以肉眼进行分别检测，可以降低劳动强度，同时保护工人的眼睛，而且可以提高缺陷检查的效率和误检率，保证磁瓦34表面缺陷检查的精度。

2、该磁瓦表面缺陷检查系统，其定位装置的测距传感器二14和测距传感器三15能够实时检测磁瓦34在传输过程中与壳体1内壁的距离，一方面能够掌握磁瓦34的实时位置，另一方面还可以提高磁瓦34检查的精度。该磁瓦表面缺陷检查系统的控制器能够根据测距传感器一5检测的距离，判断出移动挡板3与固定挡板2之间的间距是否达到磁瓦34的弦长，这样磁瓦34在放置后，其位置是唯一的，可以防止电磁铁一6吸歪，方便后续电磁铁一6进行精确吸取。控制器还能够根据测距传感器二14和测距传感器三15所检测的距离，对磁瓦34在检查过程中所在的位置进行定位，并在每次定位后，通过伸缩件一7和伸缩件二11是磁瓦34移动至检测曲面一和检测曲面二上进行检测，从而完成对磁瓦34的全自动缺陷检查，实现了全自动化和智能化。

实施例2

请参阅图3，本实施例提供了一种磁瓦表面缺陷检查系统，该系统在实施例1的基础上增加属于夹紧装置的红外传感器一30和倾斜报警器。红外传感器一30的发射器和接收器分别安装在固定挡板2和移动挡板3上，且发射器发射的光线经过位于定位组件4上的磁瓦34的下方空间以传输至接收器。在磁瓦34发生倾斜时，磁瓦34的凸面端遮住光线以使红外传感器一30产生一个开关信号一。控制器在红外传感器一30发出开关信号一时，驱使倾斜报警器发出倾斜报警信号。这样，在对磁瓦34进行缺陷检查时，当其放歪时，倾斜报警器会发出报警信号，此时可以对磁瓦34进行及时调整，保证检查的顺利进行。

实施例3

请参阅图4，本实施例提供了一种磁瓦表面缺陷检查系统，该系统在实施例1的基础上增加了称重装置。称重装置包括称重传感器一31和称重传感器二32。称重传感器一31安装在电磁铁一6和伸缩件一7之间，并用于检测吸附在电磁铁一6上的磁瓦34的重量。称重传感器二32安装在电磁铁二10和伸缩件二11之间，并用于检测吸附在电磁铁二10上的磁瓦34的重量。

其中，控制器还用于判断称重传感器一31或称重传感器二32检测的重量是否等于一个预设重量。在称重传感器一31或称重传感器二32检测的重量大于预设重量时，控制器判定磁瓦34存在超重缺陷或探针一9/探针二13存在脱离情况。在称重传感器一31或称重传感器二32检测的重量小于预设重量时，控制器判定磁瓦34存在不足量缺陷。在称重传感器一31且称重传感器二32检测的重量等于预设重量时，控制器判定磁瓦34不存在重量缺陷。

在本实施例中，控制器通过判断称重传感器一31和称重传感器二32检测的重量，可以直接与预设重量(即磁瓦34的准确重量)对比，当检测重量不达标时，可以判断出磁瓦34存在重量缺陷，当然，也有可能是探针脱离后吸在电磁铁上，这样可以及时发现探针脱离的情况，从而对系统进行维护，保证检查的准确性。当然，在其他一些实施例中，为了避免探针脱落直接吸在电磁铁上而影响称重的准确性，可以将探针采用不能够被磁性所吸附的材料。

实施例4

请参阅图5，本实施例提供了一种磁瓦表面缺陷检查系统，其在实施例1的基础上增加了属于定位装置的光电传感器二33。光电传感器二33的发射器和接收器分别安装在滑块一23和滑块二27上。在测距传感器二14检测的距离等于预设距离三且测距传感器三15检测的距离等于预设距离四时，发射器发射的光线传输至接收器，光电传感器二33产生一个开关信号二。控制器在光电传感器二33产生开关信号二时，执行步骤S8。光电传感器二33能够对传输装置一和传输装置二在交接磁瓦34时进行再次监控，只有当电磁铁一6和电磁铁二10两者对齐时，才会让控制器进行下一步，避免发生错位而损坏磁瓦34或者使磁瓦34脱落。

实施例5

请参阅图6，本实施例提供了一种磁瓦表面缺陷检查方法，其应用于实施例1-4中所提供的任意一种磁瓦表面缺陷检查系统中，该磁瓦表面缺陷检查方法包括以下步骤：

判断测距传感器一5检测的距离是否大于磁瓦34的弦长；

在测距传感器一5检测的距离大于磁瓦34的弦长时，通过驱动组件驱使移动挡板3相对固定挡板2靠近直至测距传感器一5检测的距离等于弦长；

在测距传感器一5检测的距离不大于磁瓦34的弦长时，驱使移动挡板3相对固定挡板2远离直至测距传感器一5检测的距离等于弦长；

判断测距传感器二14检测的距离是否等于一个预设距离一；在测距传感器二14检测的距离等于预设距离一时，伸缩件一7的中心线穿过至位于定位组件4上的磁瓦34的中心；

在测距传感器二14检测的距离不等于预设距离一时，通过传输组件一驱使伸缩件一7移动，直至测距传感器二14检测的距离等于预设距离一；

在测距传感器二14检测的距离等于预设距离一时，先驱使伸缩件一7伸出，再启动电磁铁一6以吸附位于定位组件4上的磁瓦34，最后驱使伸缩件一7收缩；

通过传输组件一驱使伸缩件一7移动，直至测距传感器二14检测的距离等于一个预设距离二；在测距传感器二14检测的距离等于预设距离二时，伸缩件一7的中心线穿过至检测曲面一的中心；

先驱使伸缩件一7伸出，使磁瓦34抵在检测曲面一上，再驱使伸缩件一7收缩；其中，在所有探针一9均同时触发对应的触压开关一时，判定磁瓦34的凸面不存在缺陷，在部分探针一9提前触发对应的触压开关一或者延后触发对应的触压开关一时，判定磁瓦34的凸面存在缺陷；

通过传输组件一驱使伸缩件一7移动，直至测距传感器二14检测的距离等于一个预设距离三；在测距传感器二14检测的距离等于预设距离三时，吸附在电磁铁一6的磁瓦34位于检测座二12与检测座一8之间的空间的上方；

通过传输组件二驱使伸缩件二11移动，直至测距传感器三15检测的距离等于一个预设距离四；其中，在测距传感器二14检测的距离等于预设距离三且测距传感器三15检测的距离等于预设距离四时，伸缩件一7、伸缩件二11的中心线重合；

先驱使伸缩件二11伸出直至电磁铁二10抵在磁瓦34上，再关闭电磁铁一6并启动电磁铁二10，最后驱使伸缩件二11收缩；

通过传输组件二驱使伸缩件二11移动，直至测距传感器三15检测的距离等于一个预设距离五；在测距传感器三15检测的距离等于预设距离五时，伸缩件二11的中心线穿过检测曲面二的中心；

先驱使伸缩件二11伸出，使磁瓦34抵在检测曲面二上，再驱使伸缩件二11收缩；其中，在所有探针二13均同时触发对应的触压开关一时，判定磁瓦34的凹面不存在缺陷，在部分探针二13提前触发对应的触压开关二或者延后触发对应的触压开关二时，判定磁瓦34的凹面存在缺陷；

通过传输组件二驱使伸缩件二11移动，直至测距传感器三15检测的距离等于一个预设距离六；其中，预设距离六小于预设距离五。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，其特征在于，所述磁瓦表面缺陷检查系统包括：

壳体(1)；

其特征在于，所述磁瓦表面缺陷检查系统还包括：

夹紧装置，其包括固定挡板(2)、移动挡板(3)、定位组件(4)、测距传感器一(5)以及驱动组件；固定挡板(2)的底端固定在壳体(1)上；移动挡板(3)的底端活动安装在壳体(1)上，并能够相对固定挡板(2)移动，以产生供至少一个磁瓦(34)放置的至少一个夹紧空间；定位组件(4)安装在固定挡板(2)和移动挡板(3)之间，并用于将磁瓦(34)定位在固定挡板(2)和移动挡板(3)之间；测距传感器一(5)用于检测固定挡板(2)和移动挡板(3)之间的距离；所述驱动组件用于驱使移动挡板(3)向固定挡板(2)移动；

传输装置二，其包括电磁铁二(10)、伸缩件二(11)以及传输组件二；电磁铁二(10)的顶端为凹面端，且所述凹面端能够与磁瓦(34)的凸面相贴合；伸缩件二(11)的伸缩端固定在电磁铁二(10)的底端上；所述传输组件二安装在壳体(1)上，并用于将伸缩件二(11)在所述传输组件一的下方移动且移动方向与伸缩件一(7)的移动方向平行；

凹面检测装置，其包括检测座二(12)、若干个触压开关二以及分别与若干个触压开关二对应的若干个探针二(13)；检测座二(12)安装在壳体(1)上，且侧壁上具有弯曲度与磁瓦(34)的凹面的弯曲度相同的弧形凸面；检测座二(12)与检测座一(8)之间的距离大于磁瓦(34)的弦长；若干个触压开关二均安装在检测座二(12)上，并沿着所述弧形凸面的弯曲方向均匀分布；每个探针二(13)的顶端固定在对应的触压开关二的触压端上，且探针二(13)活动安装在检测座二(12)上；所有探针二(13)的底端穿过所述弧形凸面，并形成能够与磁瓦(34)的凹面相贴合的检测曲面二；

定位装置，其包括测距传感器三(15)；测距传感器三(15)安装在壳体(1)上，并用于检测伸缩件二(11)与壳体(1)靠近所述凹面检测装置的内壁的距离；

控制器，其采用的磁瓦凹面的缺陷判定方法为：判断测距传感器一(5)检测的距离是否大于所述弦长，是则通过所述驱动组件驱使移动挡板(3)相对固定挡板(2)靠近直至测距传感器一(5)检测的距离等于所述弦长，否则在小于弦长时，驱使移动挡板(3)相对固定挡板(2)远离直至测距传感器一(5)检测的距离等于所述弦长，而在等于弦长时，不需要移动挡板(3)移动；所述磁瓦凹面的缺陷判定方法还包括以下步骤：

步骤S6，通过所述传输组件一驱使伸缩件一(7)移动，直至测距传感器二(14)检测的距离等于一个预设距离三；在测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离三时，吸附在电磁铁一(6)的磁瓦(34)位于检测座二(12)与检测座一(8)之间的空间的上方；

步骤S7，通过所述传输组件二驱使伸缩件二(11)移动，直至测距传感器三(15)检测的距离等于一个预设距离四；其中，在测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离三且测距传感器三(15)检测的距离等于所述预设距离四时，伸缩件一(7)、伸缩件二(11)的中心线重合；

步骤S8，先驱使伸缩件二(11)伸出直至电磁铁二(10)抵在磁瓦(34)上，再关闭电磁铁一(6)并启动电磁铁二(10)，最后驱使伸缩件二(11)收缩；

步骤S9，通过所述传输组件二驱使伸缩件二(11)移动，直至测距传感器三(15)检测的距离等于一个预设距离五；在测距传感器三(15)检测的距离等于所述预设距离五时，伸缩件二(11)的中心线穿过所述检测曲面二的中心；

步骤S10，先驱使伸缩件二(11)伸出，使磁瓦(34)抵在所述检测曲面二上，再驱使伸缩件二(11)收缩；其中，在所有探针二(13)均同时触发对应的触压开关一时，判定磁瓦(34)的凹面不存在缺陷，在部分探针二(13)提前触发对应的触压开关二或者延后触发对应的触压开关二时，判定磁瓦(34)的凹面存在缺陷。

2.如权利要求1所述的磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，其特征在于，所述驱动组件包括驱动电机(16)、驱动螺杆(17)、限位杆(18)以及弹簧(19)；驱动螺杆(17)螺接在移动挡板(3)上，且中心线与移动挡板(3)的移动方向平行；驱动电机(16)安装在壳体(1)上，且输出轴与驱动螺杆(17)连接；限位杆(18)的两端分别穿过固定挡板(2)、移动挡板(3)，且中心线与移动挡板(3)的移动方向平行；弹簧(19)套在限位杆(18)上，且两端分别固定在固定挡板(2)和移动挡板(3)上。

3.如权利要求1所述的磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，其特征在于，所述传输组件二包括传输电机二(24)、传输螺杆二(25)、定位杆二(26)以及滑块二(27)；传输螺杆二(25)的一端转动安装在壳体(1)上，另一端与传输电机二(24)的输出轴连接；定位杆二(26)的中心线与传输螺杆一(21)、传输螺杆二(25)的中心线平行，且两端安装在壳体(1)上；滑块二(27)与传输螺杆二(25)螺接，定位杆二(26)穿过滑块二(27)；其中，伸缩件二(11)安装在滑块二(27)上。

4.如权利要求1所述的磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，其特征在于，定位组件(4)包括两个定位块(28)；两个定位块(28)分别安装在固定挡板(2)和移动挡板(3)的相对两内壁上，每个定位块(28)上开设与磁瓦(34)配合的缺口。

5.如权利要求4所述的磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，其特征在于，定位组件(4)还包括分别与两个定位块(28)对应的两块定位板(29)，两块定位板(29)分别安装在固定挡板(2)和移动挡板(3)的相对两内壁上，且分别位于对应的定位板(29)的下方，并用于支撑磁瓦(34)。

6.如权利要求1所述的磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，其特征在于，所述夹紧装置还包括红外传感器一(30)和倾斜报警器；红外传感器一(30)的发射器和接收器分别安装在固定挡板(2)和移动挡板(3)上，且所述发射器发射的光线经过位于定位组件(4)上的磁瓦(34)的下方空间以传输至所述接收器；在磁瓦(34)发生倾斜时，磁瓦(34)的凸面端遮住所述光线以使红外传感器一(30)产生一个开关信号一；所述控制器在红外传感器一(30)发出开关信号一时，驱使所述倾斜报警器发出倾斜报警信号。

7.如权利要求1所述的磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，其特征在于，所述磁瓦表面缺陷检查系统还包括：

称重装置，其包括称重传感器二(32)；称重传感器二(32)安装在电磁铁二(10)和伸缩件二(11)之间，并用于检测吸附在电磁铁二(10)上的磁瓦(34)的重量。

8.如权利要求7所述的磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，其特征在于，所述控制器还用于判断称重传感器二(32)检测的重量是否等于一个预设重量；在称重传感器二(32)检测的重量大于所述预设重量时，所述控制器判定磁瓦(34)存在超重缺陷或探针二(13)存在脱离情况；在称重传感器二(32)检测的重量小于所述预设重量时，所述控制器判定磁瓦(34)存在不足量缺陷。

9.如权利要求1所述的磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，其特征在于，所有探针二(13)均平行设置，且与伸缩件二(11)的伸缩方向平行。

10.如权利要求1所述的磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，其特征在于，固定挡板(2)与壳体(1)一体成型。

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