DE2740353C2 - ECL-kompatibler Registerbaustein mit bipolaren Speicherzellen - Google Patents
ECL-kompatibler Registerbaustein mit bipolaren SpeicherzellenInfo
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Description
Hierzu dient der Stromschalter S mit den Transistoren T4 bis 77, der durch ein Bit der codierten Adresse und
den invertierten Wert dieses Bits gesteuert wird. Der Stromschalter S wird durch einen Konstantstrom
gespeist, der mit Hilfe des Transistors T8 mit an einem festen Potential KS/ liegender Basis erzeugt wird. Der
Emitter des Transistors 78 ist über einen Widerstand Λ 4 an den emitterseitigen Pol V ee einer Versorgungsspannungsquelle
angeschlossen. Obgleich die Wahl des zur Steuerung des Schalters S verwendeten Adressenbits
im Prinzip beliebig ist, wurde hier das höchstwertige Adressenbit 52 bzw. ST benutzt
Zum Einstellen der für das Schreiben oder Lesen erforderlichen Potentiale suf den Datenleitungen dia
bis t/lZ)dienen die weiteren Doppelemittertransistoren
T9 und 710. Hierzu müsen an die Basiselektroden entsprechende Potentiale angelegt werden, die in der
Schreib-Lese-Stufe nach Fig.2 erzeugt werden.
Die Transistoren Π und T9bzw. 7*2 und TlO bilden
Stromschalter mit emittergekoppelten Transistoren, wobei die betreffenden Emitter jeweils über die
Datenleitungen dia bzw. dia miteinander verbundin
sind. Diese beiden Stromschalter werden aber nur dann gespeist, wenn die Transistoren T 4 und T5 stromführend
sind, d. h. wenn die obere Speicherzelle des Speicherzellenpaares vorgewählt ist. Setzt man nun
voraus, daß das betreffende Speicherzellenpaar auch über die Auswahlleitung ADRn gewählt ist, wodurch
das Potential der ganzen Speicherzelle angehoben wird und daß an der Basis des Transistors T9 über die
Leitung wrdas tiefere binäre Steuerpotential angelegt
ist, dann fließt der Kollektor-Strom des Transistors T 4 auch durch den Transistor 7Ί und steuert diesen leitend,
sofern er nicht schon vorher leitend war. Da an der Basis des Transistors TiO über die Leitung Wgleichzeitig das
höhere binäre Steuerpotential anliegt, wird der durch den Transistor T5 fließende Strom vom Transistor TlO
übernommen. Zum Lesen des Inhalts der ausgewählten Speicherzelle werden die Leitungen wr und W auf
gleiche mittlere Steuerpotentiale festgelegt. Ist beispielsweise der Transistor 7"1 der Speicherzentrale
leitend, dann bleibt der Transistor T9 gesperrt. Der Transistor 7*10 wird leitend gesteuert. Entsprechend
den Schaltzuständen der Transistoren T9 und TlO entstehen an ihren Kollektorwiderständen R 5 und RS
unterschiedliche Spannungsabfälle. Durch die an den Kollektoren dieser Transistoren auftretenden Potentialdifferenzen
wird der Differenzverstärker mit den Transistoren TU und T12unddem Arbeitswiderstand
R 7 gesteuert. Der Ausgang Q bildet den Leseausgang für alle Speicherzellenpaare, die über gemeinsame
Datenleitunften verbunden sind.
Analoge Verhältnisse gelten für die unteren Speicherzellen eines Speicherzellenpaares, wenn an Stelle der
Transistoren T4 und TS des Schalters 5 die Transistoren T6 und Tl leitend sind. Da die Potentiale
aller Schaltungspunkte dieser Speicherzelle um den Spannungsabfali an einer Basisemitterdiode tiefer
liegen als die entsprechenden Schaltungspunku· der
oberen Speicherzelle, sind zum Ausgleich dieses Potentialunterschiedes in die zu den Datenleitungen
dib und dib der unteren Speicherzelle führenden
Emitterzuleitungen der Transistoren T9 und TlO Dioden DI und D 2 eingefügt.
In Fig.2 ist die vollständige Schaltungsanordnung
einer Schreib-Lese-Stjfe zusammen mit dem Vorwahlschalter
S dargestellt. Da der linke Teil der Schaltungsanordnung F i g. 2 jedoch schon in F i g. I enthalten war
und im Zusammenhang mit dieser beschrieben wurde, wird an dieser Stelle nicht mehr darauf eingegangen.
Der restliche Teil der Schaltungsanordnung dient dazu, die richtigen Steuersignale für die Transistoren T9 und
TlO in Abhängigkeit von den Eingangssignalen an dem Eingang WE für die Schreib-Lese-Steuerung und am
Dateneingang D bereitzustellen. Der an dem Dateneingang D liegende logische Signalwert wird in die
adressierte Speicherzelle dann übernommen, wenn gleichzeitig am Steuereingang WE der tiefere binäre
Signalwert anliegt. Wegen der zusätzlichen Potentialverschiebung durch den Transistor T13 und die Diode
D3 liegt das Basispotential des Transistors T14 in diesem Fall tiefer als das Referenzpotential VB 3. Der
Transistor T14 wird daher gesperrt und der Transistor
T15 übernimmt den durch die StromqueiJenschaltung
mit dem Transistor T16 und dem Widerstand RS konstant gehaltenen Strom. Damit wird aber auch der
Stromschalter mit den Transistoren T17 und T18 entsprechend dem am Dateneingang U anliegenden
logischen Wert steuerbar. Die mit den Basiselektroden der Transistoren T9 und TlO verbundenen Leitungen
HT und Tvf führen damit unterschiedliche Steuerpotentiale.
Liegt dagegen am Steuereingang WE der höhere binäre Signalwert an, dann wird der Transistor T14
stromführend und der Transistor T15 gesperrt. Die aus den paarweise gleichen Widerständen R9 bis R 14
bestehende Brückenanordnung wird damit ins Gleichgewicht gebracht. Zwischen den an den Endpunkten
einer Brückendiagonale angeschlossenen Leitungen wr und wr, die zu den Basiselektroden der Transistoren T9
und TlO führen, besteht dann keine Potentialdifferenz. Damit ist die Voraussetzung für das Lesen der
adressierten Speicherzelle gegeben. Das Lesesignal liegt am Leseausgang Q an.
Die Fig. 2 zeigt in schematischer Darstellung tnnen
Registerbaustein mit den Doppelspeicherzellen ZIlO, ZUl usw. bis Z223, den Schreib-Lese-Stufen S/L 11 bis
S/L/2 und den Adreßdecodern Dec 1 und Dec2. Über
die Auswahlleitungen ADR0 bis ADR3 wird eine
Spalte von Doppelspeicherzellen in Abhängigkeit von der Kombination der an den Eingängen d<;s Adreßdecoders
Deci anliegenden, niederwertigen Adreßbits 50
und 51 ausgewählt. Die Wahl einer bestimmten Speicherzelle innerhalb der ausgewählten Doppelspeicherzellen
erfolgt durch die Ausgangssignale des Adreßdecoders Dec2 in Abhängigkeit von dem
höchstwertigen Adr ;ßbit 52. Je nach den an den
Steuereingängen WEl und WE2 anliegenden Steuers; gnalen werden die an den Eingängen DIl bis D22
anlegenden Datenbits in das Register eingeschrieben oder die Inhalte der ausgewählten Speicherzellen über
die Leseausgänge QH bis Q 22 ausgegeben. Nach der
Darstellung in F i g. 3 sind die Steuereingänge WE1 und
WE2 jeweils für zwei Zeilen von Doppelspeicherzellen wirksam. Dementsprechend können zwei Gruppen zu je
zwei Bits unabhängig voneinander eingegeben werden. Es ist aber auch möglieh, die Sehreib-Lese-Steuerung für
alle vier Schreib-Lese-Stufen getrennt oder gemeinsam vorzusehen. Weiterhin kann die Kapazität des Registers
gegenüber dem in F i g. 3 dargestellten Ausführungsbeispiel hinsichtlich der Breite und/oder der Anzahl der
aufzunehmenden Datenworte verändert werden.
Claims (4)
1. ECL-kompatibler Registerbaustein mit bipolaren
Speicherzellen aus zwei kreuzgekoppelten Doppelemittertransistoren und zwei Lastwiderständen,
wobei ein Emitter der Doppelemittertransistoren mit je einer Bitleitung eines für mehrere
zeilenweise angeordnete Speicherzellen gemeinsamen Bitleitungspaares verbunden ist und die
anderen Emitter gemeinsam aus einer Quelle konstanten Stroms gespeist werden, dadurch
gekennzeichnet, daß in dem Konstantstromkreis zwei Speicherzellen in Serie geschaltet sind,
daß ein durch ein Adreßbit gesteuerter Schalter (S) zur Auswahl einer Speicherzelle aus einem Speicherzellenpaar
bzw. einer Zeile von Speicherzellen aus einer Doppelzeile vorgesehen ist und daß der
Schalter (S) als emittergekoppelter Differenzverstärker ausgebildet ist und bewirkt, daß jeweils nur
das der ausgewählten Speicherzelle zugeordnete Bitieiiungspaar mit Strom versorgt, d. h. ansteuerbar
gemacht wird.
2. Registerbaustein nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Schalter (S) zur Speicherzellenauswahl
innerhalb von Doppelspeicherzellen durch das höchstwertige Adreßbit gesteuert wird.
3. Registerbaustein nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß für jede der gleichzeitig
adressierten Doppelspeicherzellen eine eigene Schreib-Lese-Steuereinrichtung vorgesehen ist
4. Registe'baustein nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß für alle j-'eichzeitig adressierten
Doppelspeicherzellen eine gemeinsame Schreib-Lese-Steuereinrichtung vorgesehen ist.
Die Erfindung bezieht sich auf einen ECL-kompatiblen
Registerbaustein mit bipolaren Speicherzellen nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Das Produkt aus Signallaufzeit und Verlustleistung is',
im allgemeinen bei vorgegebener Halbleiterschaltungstechnik weitgehend konstant. Innerhalb gewisser
Grenzen ist dabei zumeist eine Verringerung der Signallaufzeit durch Inkaufnahme einer Erhöhung der
Verlustleistung und umgekehrt möglich. Bei der Integration von Schaltungen mit kleinen Signallaufzeiten,
insbesondere solcher der ECL-Technik, die auf der Verwendung von Differenzverstärkern bzw. Stromschaltern
mit emittergekoppelten Transistoren beruhen, ergeben sich daher häufig Schwierigkeiten durch
unzulässig hohe Verlustleistungen.
Bei Verknüpfungsgliedern in ECL-Technik ist es bekannt, zur Einsparung von Strom und damit von
Verlustleistung die sogenannte Serienkopplung anzuwenden,
wenn das logische Konzept das zuläßt. Hierbei werden bis zu drei Stromschalter in Serie zu einer
gemeinsamen Konstantstromquelle geschaltet (vgl. US-PS 35 19 81Q). Das geschieht in der Weise, daß mit
dem Kollektor eines Transistors eines »unteren« Stromschalters die Emitter der Transistoren eines
»oberen« Stromschalters verbunden werden. Es hängt dann von dem Schaltzustand des »unteren« Stromschalters
ab, ob der »obere« Stromschalter überhaupt mit Strom versorgt wird, d. h. wirksam steuerbar ist.
Eine in Verbindung mit ECL-Schaltungen verwend-
bare Speicherzelle ist durch die Literaturstelle »IEEE spectrum«, Mai 1971, Seiten 42—48, insbesondere
Fig.3 (C) bekannt Die Speicherzelle besteht aus zwei
kreuzgekoppelten Doppelemittertransistoren mit zwei ohmschen Lastwiderständen, die einseitig mit einer
(Wort-)Auswahlleitung verbunden sind. Die einen Emitter der Transistoren sind mit je einer Bitleitung
verbunden, die beiden anderen Emitter sind gemeinsam an einer Quelle konstanten Stroms angeschlosren.
Betrachtet man bei Speicherschaltungen an Stelle der Signallaufzeit die Zugriffszeit, im besonderen den
Zeitbedarf für das Einschreiben einer neuen Information, dann gilt im übrigen der eingangs geschilderten
Sachverhalt, wonach die Verringerung der Zugriffszeit durch eine erhöhte Verlustleistung bezahlt werden muß.
Möglichst kleine Zugriffszeiten werden vor allem bei Registerbausteinen angestrebt
Es ist die Aufgabe der Erfindung, die bekannten Speicherzellen beim Aufbau von schnellen Registerschaltungen
so einzusetzen, daß ohne Verlust an Geschwindigkeit eine wesentliche Verringerung der
Verlustleistung erreicht wird. Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe durch die im kennzeichnenden Teil
des Patentanspruchs 1 angegebenen Maßnahmen gelöst.
Im folgenden wird die Erfindung an Hand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels näher
erläutert. Es zeigt
Fig. 1 die Anordnung der Speicherzellen mit Auswahleinrichtung und Leseeinrichtung,
F i g. 2 eine ergänzende Schaltungsanordnung zur Schreib-Lese-Steuerung und
Fig.3 eine schematische Darstellung eines 8x4-Bit-Registers.
Die Fig. 1 zeigt zwei Doppelspeicherzellen oder Speicherzellenpaare, die aus der Serienschaltung von je
zwei an sich bekannten Speicherzellen entstanden sind. Die Speicherzellen selbst sind gleich. Jede besteht aus
den zwei Doppelemittertransistoren Ti und T2, wobei
jeweils die Basis des einen Traniistors mit dem Kollektor des anderen Transistors verbunden ist. Die
Widerstände R 1 und R 2 bilden die Lastwiderstände. Die einen Emitter der beiden Transistoren 7Ί und T2
sind zusammengefaßt und über die zweite Speicherzelle des Zellenpaares hinweg mit einer Konstantstromquelle
verbunden, die hier durch einen relativ hochohmigen Widerstand R 3 angenähert wird, die zweiten Emitter
der Transistoren der Speicherzellen sind an Datenleitungen (Bitleitungen) dia und dia bzw. d\b und d\b
angeschlossen, die immer für π Speicherzellen gemeinsam
vorgesehen sind.
Die Speicherzellenpaare werden über Auswahlleitungcn
ADRO bis ADRn, die von einem in Fig. 1 nicht dargestellten Adreßdecoder gespeist werden, ausgewählt.
Um die Belastung der Ausgänge der Adreßdecoders klein zu halten, ist in jedem Konstantstrompfad ein
Transistor T3 in Emitterfolgerschaltung eingefügt. Tatsächlich werden innerhalb eines Registerbausteins in
aller Regel durch jede Auswahlleitung mehrere Speicherzellenpaare gleichzeitig angeschlossen, und
zwar ebenso viele Paare, wie das im Register gespeicherte Wort Bits umfaßt.
Da die Inhalte aller Speicherzellen voneinander unabhängig sind und über die Auswahlleitungen ADR 0
bis ADRn nur Speicherzellenpaare ausgewählt werden können, muß noch innerhalb eines jeden Speicherzellenpaares
diejenige Speicherzelle bestimmt werden, in die eingeschrieben oder aus der ausgelesen werden soll.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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US05/937,531 US4168540A (en) | 1977-09-07 | 1978-08-28 | Register building block with series connected cells to save dissipation loss |
FR7825493A FR2402920A1 (fr) | 1977-09-07 | 1978-09-05 | Module de registre comportant des cellules de memoire bipolaires |
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Family Applications (1)
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Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4535467A (en) * | 1982-11-30 | 1985-08-13 | International Business Machines Corporation | Switch logic for shift register latch pair |
DE3343573A1 (de) * | 1983-12-01 | 1985-06-13 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Integrierbare halbleiterschaltung fuer einen frequenzteiler |
KR880006696A (ko) * | 1986-11-12 | 1988-07-23 | 낼슨 스톤 | 라이트풀 동작을 제공하는 ecl 리드/라이트 제어회로 |
JPS6474823A (en) * | 1987-09-17 | 1989-03-20 | Fujitsu Ltd | Emitter follower circuit |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3405399A (en) * | 1964-06-16 | 1968-10-08 | Sperry Rand Corp | Matrix selection circuit |
US3519810A (en) * | 1967-02-14 | 1970-07-07 | Motorola Inc | Logic element (full adder) using transistor tree-like configuration |
US3609702A (en) * | 1967-10-05 | 1971-09-28 | Ibm | Associative memory |
NL162772C (nl) * | 1969-10-31 | 1980-06-16 | Philips Nv | Driedemensionale geheugeninrichting met magnetische ge- heugenelementen. |
US3609711A (en) * | 1969-12-30 | 1971-09-28 | Ibm | Memory planes connected in series to a power supply,with opto-electronic access |
SU444249A1 (ru) * | 1973-04-12 | 1974-09-25 | Московский Ордена Трудового Красного Знамени Инженерно-Физический Институт | -Разр дный сдвигающий регистр |
-
1977
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-
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Also Published As
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FR2402920A1 (fr) | 1979-04-06 |
US4168540A (en) | 1979-09-18 |
JPS5450242A (en) | 1979-04-20 |
FR2402920B1 (de) | 1984-11-09 |
GB2005504B (en) | 1982-01-27 |
DE2740353A1 (de) | 1979-03-15 |
GB2005504A (en) | 1979-04-19 |
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