DE2737490A1 - Verfahren und datenverarbeitungssystem zum verarbeiten von messdaten - Google Patents
Verfahren und datenverarbeitungssystem zum verarbeiten von messdatenInfo
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Description
Verfahren und Datenverarbeitungssysteiiii zusi Verarbeiten
von Meßdaten
Die Erfindung bezieht sich auf die Verarbeitung von Daten,
z.B. von durch Parameter-Meßumformer, wie Abmessungs-Meß-
lehren, erzeugten Daten.
Geaaß der Erfindung wird ein Datenverarbeitungssystem zum
Verarbeiten von Meßdaten vorgesehen, das einen Eingang zur Aufnahme der Meßdaten, eine zu aufeinanderfolgenden Zeitpunkten
arbeitende Abtasteinrichtung zum Abtasten des augenblicklichen Wertes der Meßdaten an den Eingang, wobei
die aufeinanderfolgenden Zeitpunkte willkürlich oder pseudo—
willkürlich über die Zeit verteilt sind, und eine Einrich-
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TEUEX O6-9*M0
TELESRMIME WOMAPAT
Tff"l TWfOPU
Iki
Tt
2737430
tung aufweist, die so geschaltet ist, daß sie die abgetasteten Datenwerte erhält und verarbeitet.
Erfindungsgemäßr.ist ferner ein Datenverarbeitungssystem
vorgesehen, das auf eine Abmessung eines kontinuierlichen Bandmaterials anspricht, und eine Meßlehre zum Erzeugen
kontinuierlicher analoger Daten, die den augenblicklichen Wert der Abmessung angeben, eine Steuereinrichtung zum
Erzeugen von Steuersignalen zu aufeinanderfolgenden Zeitpunkten, die willkürlich oder pseudo-willkürlich -über die
Zeit verteilt sind, eine auf jedes Steuersignal ansprechende Abtasteinrichtung zum Abtasten des Wertes der Analogendaten
zu dem jeweiligen Zeitpunkt, einen Analog-Digital-Wandler zum Umformen jedes abgetasteten Analogendatenwertes in die
digitale Form, einen Mikroprozessor, der so geschaltet ist, daß er die aufeinanderfolgenden Datenwerte in digitaler
Form erhält und so programmiert ist, daß er sie verarbeitet, um die Durchschnitts- und Normalabweichungswerte davon zu
berechnen, und ein Ausgabegerät zum Empfangen dieser berechneten Werte aufweist.
Erfindungsgemäß wird auch ein Datenverarbeitungsverfahren angegeben, bei dem der Wert der Meßdaten zu aufeinanderfolgenden
Zeitpunkten abgetastet und die abgetasteten Werte verarbeitet werden, wobei die aufeinanderfolgenden Zeitpunkte
willkürlich oder pseudo-willkürlich über die Zeit verteilt sind.
Erfindungsgemäße Datenverarbeitungssysteme und Verfahren zum Verarbeiten der Daten von Abmessungs-Meßlehren werden
jetzt anhand von Ausführungsbeispielen in Verbindung mit der Zeichnung erläutert. Im einzelnen zeigt:
Fig. 1 ein Blockschaltbild eines der Systeme, Fig. 2 das von dem System nach Fig. 1 ausgeführte Programm
und
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Pig. 3 und 4 Blockschaltbilder, die die Teile des Systems
nach Pig. 1 im einzelnen zeigen.
Das jetzt im einzelnen zu "beschreibende System zum Verarbeiten
von Daten, die von einer Meßlehre 10 erhalten werden, mißt die Stärke eines kontinuierlichen Metallbandes,
das von einer Metallbehandlungsanlage 8 ausgegeben wird. Das System spricht auf die Daten von der Meßlehre an
und berechnet die Durchschnitts- und Normalabweichung der Stärkenmessungen, wie dieses im einzelnen noch erläutert
wird.
Wie in Fig. 1 gezeigt ist, werden die Daten von der Meßlehre 10 in analoger Form an eine Abtast- und Halteschaltung
12 über eine Leitung 14 gegeben. Die Abtast- und Halteschaltung
12 tastet die analogen Keßlehren-Daten unter Steuerung
einer Steuereinheit 16 ab, wonach dann die abgetasteten analogen Daten in digitale Form mit Hilfe eines Analog-Digital-Wandlers
18 umgeformt und an einen Mikroprozessor 20 gegeben werden. Der Mikroprozessor 20 berechnet die Durchschnitts-
und Normalabweichung der Stärkenmessungen und gibt die Ergebnisse der Berechnungen an irgendeine geeignete oder
gewünschte Art einer Ausgabeeinheit oder Einheiten. Eine solche Einheit oder Einheiten sind durch den Block 22 dargestellt
und können z.B. einen Drucker, eine sichtbare Anzeigeeinheit, eine Art einer Datenaufzeichnungseinheit, d.h.
ein Magnetband oder ein Lochstreifen, oder eine Einheit zum Durchführen weiterer Berechnungen der Daten und/oder zur
Steuerung eines Prozesses in Abhängigkeit von den Daten haben. So kann z. B. der Ausgabeblock 22 eine Einrichtung zum
Steuern der Metallbehandlungsanlage über eine Leitung 24· in Abhängigkeit von den Berechnungen aufweisen, die von dem
Mikroprozessor 20 durchgeführt sind, um irgendwelche Fehler in der gemessenen Abmessung des Metallbandes zu korrigieren.
Zu diesem Zweck kann der Ausgabeblock 22 ein Bezugssignal, z.B. über eine Leitung 26, erhalten, das die gewünschten
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jjr.. 27J7490
Abmessungswerte angibt.
Fig. 2 zeigt das Programm des Mikroprozessors 20 und die Gesamtbetriebsfolge, die von dem System durchgeführt wird.
Anfangs folgt das System einer ersten Schleife A, bis ein
Signal von der Steuereinheit 16 die Verarbeitung der Meßlehren-Daten
einleitet..
Die Daten werden dann in den Analog-Digital-Wandler 18 über die Abtast- und Halteschaltung 12 gegeben und gelangen in
den Mikroprozessor 20, wo sie einer zweiten Programmschleife B folgen. In der Schleife B werden die aufeinanderfolgenden
Datenproben verarbeitet und der Wert x· einer jeden Probe oder Abtastung auige zeichnet. In Abhängigkeit von jeder
Datenprobe bringt der Mikroprozessor zwei Akkumulatoren auf den neuesten Stand, die jeweils
2. ^ x± , und
η -
akkumulieren, wobei η die Anzahl der bisher empfangenen Datenproben
ist. Auf diese Weise wird in Abhängigkeit von jeder Probe der Gesamtwert 1 ^x in dem ersten Akkumulator herausgezogen
und mit η multipliziert sowie das Ergebnis zu dem ankommenden Wert von x^ hinzuaddiert. Der Gesamtwert wird
dann durch den neuen Wert η dividiert und das Ergebnis zurück in den Akkumulator gegeben. Ein ähnlicher Prozeß wird für
1 -3^ χ ausgeführt.
Die Schleife B setzt sich fort, bis der Mikroprozessor erfaßt, daß eine bestimmte Anzahl von Datenproben nß verarbeitet
wurde. Die Anzahl n^ ist z. B. eine Partieanzahl, die von
Hand mit Hilfe einer Handsteuerung 28 über eine Leitung 30 eingestellt werden kann (Fig. 1). Wenn nß Proben verarbeitet
wurden, tritt das System in die Schleife C ein.
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In der Schleife C wird der Durchschnittswert x„ der nn Da-
tenproben berechnet und ausgegeben. Dieses erfordert tatsächlich in einfacher Weise nur das Auslesen der in dem
Akkumulator gespeicherten Daten, der 1.*>
x± akkumuliert.
n" ^ Der Ausgangswert x_ wird an die Ausgabeeinheit oder Ein-
B
heiten 22 gegeben.
heiten 22 gegeben.
Zusätzlich wird die Normalabweichung S berechnet, wobei
nB
2 2
nB nB
Diese Berechnung umfaßt das Auslesen der in dem Register gespeicherten Daten, das 1_£ χ. 2 akkumuliert, den Durchschnittswert
χ subtrahieVfc und dann die Quadratwurzel als
Ergebnis zieht. Der Wert S wird dann an die Ausgabeeinheit
nB
oder Einheiten 22 ausgegeben.
oder Einheiten 22 ausgegeben.
Das System ist auch so angeordnet, daß es die Durchschnittsund Normalabweichungswerte für eine bestimmte Anzahl von
Partien berechnet. Wie in der Schleife C gezeigt ist, wird
_ 2 dieses durch Akkumulieren der Werte von χ und S^ in
nB nB zwei Akkumulatoren ausgeführt, wenn aufeinanderfolgende
Partien von Datenproben gemessen sind. Wenn die Zahl von Partien N die vorbestimmteiAnzahl N erreicht, berechnet die
Schleife die Werte xN und Sn durch eine Durchschnitts-
P P _ ρ wertbildung der akkumulierten Werte von x_, und S_ und
^B _ B 2
gibt die Ergebnisse aus. Die die Werte von x_ und S
akkumulierenden Akkumulatoren werden dann gelöscht.
Das System ist auch so ausgebildet, daß es die Durchschnittsund Normalabweichung über eine sehr viel längere unbestimmte
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2737A90 S
Zeitdauer berechnen kann.
Wie in einer Schleife D gezeigt ist, wird dieses durch Akku-
_ 2
mulieren der Werte x^ und S „ in zwei Akkumulatoren
mulieren der Werte x^ und S „ in zwei Akkumulatoren
ausgeführt, wenn aufeinanderfolgende Partien von Datenproben
gemessen sind und durch eine Durchschnittswertbildung der akkumulierten Werte, um die Größen 5L, und S™ zu erzeugen,
die jeweils die Durchschnitts- und Normalabweichung von M solcher Partien sind. Dieser Prozeß wird fortgesetzt und
nach jeder Akkumulation prüft die Schleife, ob ein Druckbefehl, z.B. von Hand in den Mikroprozessor 20 eingegeben
wurde. Wenn ein Druckbefehl erfaßt ist, wird die akkumulierte Information ausgegeben und die Akkumulatoren gelöscht. Gleichzeitig
und auch jedesmal dann, wenn eine Prüfung nach einem Druckbefehl ein negatives Ergebnis erzeugt, werden die die
2
Größen χ und S speichernden Akkumulatoren gelöscht.
Größen χ und S speichernden Akkumulatoren gelöscht.
Der Mikroprozessor 20 kann irgendeine geeignete Form haben. Ein Beispiel einer geeigneten Form ist der von Bell and
Howell Limited unter der Typenbezeichnung PM16 vertriebene Mikroprozessor.
Fig. 3 zeigt eine Ausführungsform eines Analog-Digital-Wandlers
18.
Wie gezeigt werden die analogen Daten von der Abtast- und
Halteschaltung 12 an einen Eingang eines analogen Vergleichers 40 gegeben. Der zweite Eingang des letzteren wird
von einem Digital-Analog-Wandler 42 beaufschlagt, der auf
die binären Daten in einem Schieberegister 44 anspricht. Das Schieberegister erhält serielle Daten von dem Mikroprozessor
20 über eine Leitung 46. Der Vergleicher 40 vergleicht die zwei erhaltenen analogen Eingangssignale und
bewirkt über eine Steuerleitung 48, daß der Mikroprozessor 20 den Wert der binären Daten auf der Leitung 46 vergrößert
oder vermindert, bis Gleichheit erreicht wird.
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Die binären Daten auf der Leitung 4-6 geben dann richtig die
abgetasteten analogen Daten an.
Andere Formen einer Analog-Digital-Umformung können benutzt werden.
Um die Möglichkeit auszuschließen, daß Werte der Datenproben durch, irgendeine zyklische Änderung in der Stärke der
Metallbänder, z.B. infolge eines Fehlers in der Metallbehandlungsanlage, beeinträchtigt werden oder nicht aufgezeichnet
werden, ist die Steueranordnung 16 so angeordnet, daß sie ihre Steuersignale willkürlich oder pseudo-willkürlich
erzeugt, wobei eine mögliche Ausführungsform der Steuereinheit 16 in Fig. 4 gezeigt ist.
Wie in Fig. 4 gezeigt ist, weist die Steuereinheit 16 einen programmierbaren, nur auslesbaren Speicher (pROM) 50 auf,
in dem eine Reihe von willkürlich oder pseudo-willkürlich
gewählten Zahlen gespeichert ist, von denen jede an einen digitalen Vergleicher 52 über eine Leitung 54 gegeben wird.
Der zweite Eingang des Vergleichers 52 wird über eine Leitung
56 von einem Zähler 55 beaufschlagt. Der Zähler kann entweder von einer Taktschaltung 58 oder durch eine Einheit
60 angesteuert werden, die Taktimpulse synchron mit der Bewegung des zu messenden Metallbandes erzeugt. Die
Einheit 60 kann z. B. durch einen Tachogenerator gespeist werden, der auf die Geschwindigkeit des Bandes anspricht.
Ein Schalter 62 wählt entweder die Impulse von der Taktschaltung 58 oder der Einheit 60.
Beim Betrieb erzeugt der Vergleicher 52 einen Steuerimpuls
als Ausgangssignal für die Abtast- und Halteschaltung 12
und den Mikroprozessor 20 (Fig. 1) auf einer Leitung 63,
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- ζ - I I "i "ι U 9 U
wenn der Zählerstand des Zählers 55 gleich der Zahl wird» die von dem Speicher 50 an den Vergleicher gegeben wird.
Wenn ein Steuerimpuls auf der Leitung 63 erscheint, wird
auch eine Leitung 64 gespeist, die den Speicher 50 dazu
veranlaßt, die nächste willkürliche Zahl an den Vergleicher 52 zu geben.
Andere Formen der Erzeugung eines willkürlichen Intervalls
können ebenfalls benutzt werden.
Das beschriebene System ist nicht auf die Verarbeitung von Daten beschränkt, die sich auf Bandmessungen beziehen, sondern
kann für die Bearbeitung von Daten benutzt werden, die irgendwelche andere. Messungen angeben und nicht auf die
Messung von Abmessungen beschränkt sind.
Wenn die Daten in digitaler Form bereits vorgelegt werden, ist natürlich kein Analog-Digital-Wandler 18 erforderlich.
Das beschriebene System kann durch geeignete Programmierung des Mikroprozessors 20 angeordnet und durchgeführt werden,
um auf Meßdaten anzusprechen, die nicht eine tatsächliche Abmessung eines Gegenstandes angeben, sondern lediglich,
ob die Abmessung oberhalb oder unterhalb eines bestimmten Grenzwertes liegt.
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Claims (1)
- PATENTArJWALTC A. GRÜNECKERim.·»H. KINKELDEYW. STOCKMAIRK. SCHUMANN27 37 A 90 Γη"G. BEZOLOoft η»»« DfLow8 MÜNCHEN 22MAXIMILIANSTRASSE 4318. August 1977 F 11 866-52/SchmPatentansprücheVerfahren zum Verarbeiten von Meßdaten, wobei diese einem Eingang zugeführt und am Eingang zu aufeinanderfolgenden Zeitpunkten abgetastet werden und die Abtastwerte verarbeitet werden, dadurch gekennzeich net, daß die aufeinanderfolgenden Zeitpunkte willkürlich oder pseudo-willkürlich über die Zeit verteilt werden.2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtastwerte verarbeitet werden, um deren Durchschnitts- und Normalabweichungen abzuleiten.3· Datenverarbeitungssystem zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 oder 2, mit einem Eingang (14) zum Empfang der Meßdaten, einer Abtasteinrichtung zum Abtasten des Wertes der Meßdaten an dem Eingang (14) zu aufeinanderfolgenden Zeitpunkten und einer Verarbeitungseinrichtung (20) zum Ver-809808/1001tqmn aaa··» tclkx oa-assao tclmrammb monapat tcickoi»icrcrORIGINAL INSPECTED- ? - 2 7 3 V 4 9 Uarbeiten der Abtastwerte der Daten, gekennzeichnet durch eine Einrichtung (16) zum Steuern der Abtasteinrichtung (12) derart, daß die aufeinanderfolgenden Abtastzeitpunkte willkürlich oder pseudo-willkürlich über die Zeit verteilt sind.4. System nach Anspruch 3» dadurch gekennzeic h n e t , daß die Verarbeitungseinrichtung (20) die Abtastwerte der Meßdaten verarbeitet, um deren Durchschnitts- und Normalabwexchungen abzuleiten.5- System nach Anspruch 4 oder 5» zum Verarbeiten von Daten, die die Messung einer Abmessung eines Materialbandes, z.B. Metallbandes angeben, gekennzeichnet durch eine Meßlehre (10) zum Erzeugen kontinuierlicher analoger Daten, die den augenblicklichen Wert der Abmessung angeben, und zum Zuführen der analogen Daten an den Eingang (14) und durch einen Analog-Digital-Wandler (18),der zwischen die Abtasteinrichtung (12) und die Verarbeitungseinrichtung (20) geschaltet ist, um jeden abgetasteten analogen Wert in digitale Form umzuformen.6. System nach einem der Ansprüche 3 bis 5 und in Kombination mit einem Gerät zum Ausführen von Wirkungen auf ein Material, wobei ein Parameter von diesem durch die Meßdaten dargestellt ist, gekennzeichnet durch eine Steuereinrichtung zum Ausüben einer Steuerfunktion auf das Gerät in Abhängigkeit der Verarbeiteten Datenwerte in einem solchen Sinne, daß der Parameter auf einem gewünschten Wert gehalten wird.809808/1001
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