DE2720863A1 - Logisches schaltnetzwerk - Google Patents

Logisches schaltnetzwerk

Info

Publication number
DE2720863A1
DE2720863A1 DE19772720863 DE2720863A DE2720863A1 DE 2720863 A1 DE2720863 A1 DE 2720863A1 DE 19772720863 DE19772720863 DE 19772720863 DE 2720863 A DE2720863 A DE 2720863A DE 2720863 A1 DE2720863 A1 DE 2720863A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
clock
storage element
shift
shift register
register storage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19772720863
Other languages
English (en)
Inventor
Edward Baxter Eichelberger
Thomas Walter Williams
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of DE2720863A1 publication Critical patent/DE2720863A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG

Description

Anmelderin Amtliches Aktenzeichen;
-3 -
Böblingen, den 6. Mai 1977
International Business Machines Corporation, Armonk, N.Y. 10504
Neuanmeldung
Aktenzeichen der Anmelderin:
FI 976 OO2
Vertreter:
Patentassessor
Dipl.-Ing. Heinz Gaugel 7030 Böblingen
Titel:
LOGISCHES SCHALTNETZWERK
7Ü9881/Üb43
FI 976 002
"^" 2 7 2 U y b 3
Die Erfindung betrifft ein logisches Schaltnetzwerk nach Patent ... (Patentanmeldung P 23 49 377.8-53), geeignet zur Anwendung in digitalen Datenverarbeitungsanlagen, und insbesondere eine Organisation der Logik, die die Prüfbarkeit der verwendeten Schaltungen mit minimalem Aufwand ermöglicht.
Bisher hatte der Konstrukteur von Datenverarbeitungsanlagen eine vollkommene Freiheit beim Entwurf von Schaltnetzwerken zur Verwirklichung von logischen Funktionseinheiten für das Rechenwerk, die Kanäle und für Steuereinheiten von Datenverarbeitungsanlagen. Daraus ergab sich eine beachtliche Vielfalt von Konstruktionen. Jede dieser Konstruktionen hat ihre eigene spezielle Abhängigkeit vom Schaltverhalten der einzelnen im System verwendeten Schaltungen.
Diese Unabhängigkeit und Flexibilität führte oft zu unerwarteten System-Taktproblemen, Schwierigkeiten bei der Prüfung der Schaltungen und machte eine aufwendige Schulung des Wartungspersonals für solche Datenverarbeitungsanlagen erforderlich. Es ergab sich jedoch der Vorteil, daß der Konstrukteur alle Techniken ausnutzen konnte, um die bestmögliche Leistung in Verbindung mit der kleinstmöglichen Zahl von Schaltungen zu erzielen. Die Grenze zwischen der durch den Konstrukteur entworfenen logischen Funktionseinheit und der vom Komponentenhersteller gelieferten Bauelemente war einigermaßen gut festgelegt, und die beim Impulsbetrieb wichtigen Schalteigenschaften, wie Anstiegszeit, Abfallzeit, Verzögerungszeit der einzelnen Tei!schaltungen usw. konnten ziemlich leicht geprüft jwerden.
i
Bei fortschreitender Integration in immer größerem Ausmaß geht diese wohldefinierte und zuverlässig prüfbare Grenze jedoch immer mehr verloren. Es ist unmöglich oder unpraktisch
709881/064
FI 976 OO2
geworden, jede Schaltung im Hinblick auf alle bekannten Schaltparameter zu überprüfen. Daraus ergab sich die Notwendigkeit, die Schaltnetzwerke in Funktionseinheiten aufzuteilen, deren Eigenschaften im Hinblick auf diese genannten Parameter unempfindlich sind.
Eine Methode zur Erzielung entsprechend aufgeteilter Strukturen besteht darin, sie in der in der DT-OS 2 349 377 beschriebenen Weise zu organisieren. Ein entsprechendes System ist in Fig. 1 dargestellt. Das dort gezeigte logische System arbeitet in synchroner Weise, gesteuert von zwei nicht überlappenden Taktimpulszügen C1 und C2. Bei Auftreten des Taktimpulses Ci werden Datensignale aus einem Verknüpfungsnetzwerk 1 in die Speicherglieder einer Schieberegister-Speichergliedgruppe 3 gegeben und zu Verknüpfungsnetzwerk 9 und 4 geleitet. Sobald dies geschehen ist, tritt der Taktimpuls C2 auf, so daß die vom Verknüpfungsnetzwerk 4 gelieferten Datensignale in die Schieberegister-Speichergliedgruppe 6 und von dort zu dem Verknüpfungsnetzwerk 9 und 1 gegeben werden. Hach Übertragung dieser Eingangssignal beginnt der Zyklus mit Auftreten des Taktimpulses C1 von neuem.
Die Schieberegister-Speichergliedgruppe 3 bzw. 6 enthält eines oder mehrere Schieberegister-Speicherglieder, von denen eines schematisch in Fig. 2 dargestellt ist. Diese Speicherglieder sind durch Verbindung des Ausganges V eines Speichergliedes mit dem Eingang U des nächsten Speichergliedes zu einem über Schiebetakte A und B gesteuerten Schieberegister zusammengeschaltet. Jedes Schieberegister-Speicherglied umfaßt zwei getaktete Verriegelungsschalter L1 und L2, wie es in Fig. 3 dargestellt ist. Der erste Verriegelungsschalter wird durch
709881/0643
FI 976 OO2
zwei Taktimpulse, nämlich C und Λ gesteuert. Bei Auftreten des Taktimpulses C wird das Eingangssignal E im Verriegelungsschalter LI gespeichert. Sobald der Schiebetakt A auftritt, wird das Eingangssignal U im Verriegelungsschalter Li gespeichert. Der zweite Verriegelungsschalter L2 wird vom Schiebe— takt B gesteuert, so daß der Inhalt des Verriegelungsschalters LI im Verriegelungsschalter L2 gespeichert wird. Die Ausgangssignale L und V entsprechen den in den Verriegelungsschaltern L1 und L2 gespeicherten Werten.
Logische Systeme des in Fig. 1 gezeigten Aufhaus haben gegenüber anderen logischen Systemen mehrere Vorteile. Einer dieser Vorteile besteht in der vollen, zeitunabhängigen Prüfbarkeit der Struktur, indera die Takteingänge C1, C2, Λ und B angesteuert und indem Schieberegister eingesetzt werden, um die Prufduster zuzuführen und zu prüfen.
Da diese Art einer voll prüfbaren logischen Struktur zwei synchrone, nicht überlappende Taktimpulszüge C1 und C2 verlangt, muß ein Netzwerk vorhanden sein, das diese Taktimpulszüge erzeugt. Ein derartiger Taktimpulsgenerator, der selbst voll prüfbar ist und der ohne Änderung der in Fig. 1 gezeigten Struktur als Teil dieser Struktur aufgebaut werden kann ist bereits in einer US-Patentanmeldung S.U. 701 376 (FI 976 Ο16) vorgeschlagen worden. Hier wird gezeigt, v/as anschließend noch genauer erläutert wird, wie der Schiebetakt B getastet
v/erden kann, wobei der Konstrukteur den Verriegelungsschalter L2 ausnutzen kann. Das in der bereits genannten DT-OS 2 349 377 offenbarte Schaltnetzwerk, von dem in der vorlie- j genden Erfindung ausgegangen wird, weist in der Anwendung der Logik im Bereich des Netzwerkes für den Schiebetakt B Nach- | teile auf. Die dort verwendeten Schieberegister-Speicherglie- '
709881/0643
FI 976 002
-*-- 272ÜÖ63
der weisen ebenfalls die in Fig. 3 gezeigten beiden Verriegelungsschalter L1 und L2 auf. Da die Daten im Verriegelungsschalter L1 immer über den Dateneingang D oder den Tasteingang I gehalten werden, läßt sich das Vorhandensein des Takttastens auf normale Weise überprüfen. Dazu wird in alle Schieberegister-Speicherglieder ein Tastimpulsmuster eingegeben. Es sei daran erinnert, daß die Verriegelungsschalter L1 und L2 jedes Schieberegister-Speichergliedes den gleichen Wert enthalten. Das eingegebene Tastimpulsmuster verhindert, daß die Taktimpulse zum Verriegelungsschalter L1 gelangen. Außerdem liefert das Tastimpulsmuster dem Schieberegister-Speicherglied (entweder am Dateneingang oder am Tasteingang) einen Wert, der unterschiedlich von dem im Schieberegister-Speicherglied ist, so daß, wenn der Taktimpuls durchgeschaltet wird, dann der Wert im Verriegelungsschalter L1 geändert wird. Wird der Taktimpuls nicht durchgeschaltet, so ändert sich der Wert im Schieberegister-Speicherglied nicht. Ob sich der Schaltzustand des Schieberegister-Speichergliedes geändert hat oder nicht, kann festgestellt werden, wenn die Austastung vervollständigt ist. Diese Prüfung kann mit einem kombinatorischen, aber nicht mit einem sequentiellen Prüfgenerator durchgeführt werden.
Im Falle der Tastung des Verschiebetaktes B müßte ein sequentieller Prüfgenerator verwendet werden, um diesen Verschiebetakt zu prüfen. Es sei beispielsweise angenommen, ein Verschieb betakt B werde über ein Tor G getastet. Um dieses Tor zu prüfen, ob es im Auszustand hängenbleibt (der Schiebetakt B geht , jimmer durch), so muß in die Schieberegister-Speicherglieder \ ein Tastmuster eingegeben werden, das dieses Tor so steuert, j daß es im Einzustand sein sollte (der Schiebetakt B sollte
nicht hindurch gelangen). Das Schieberegister-Speicherglied, j jdas den getasteten Schiebetakt B empfängt, weist den gleichen
0988 1/0643
FI 976 002
_|._ 272Ü863
Wert auf, der in beide Verriegelungsschalter L1 und L2 eingegeben ist. Anschließend wird ein entgegengesetzter Wert an den Eingang des Schieberegister-Speichergliedes gelegt, das den getasteten Schiebetakt B empfängt.
Diese Werte v/erden gleichzeitig mit dem Setzen der Schieberegister-Speicherglieder in diese eingegeben, um das Tor des Schiebetaktes B zu kontrollieren. Nachdem nun sämtliche Schieberegister-Speicherglieder gesetzt sind, sollte das Tor eingeschaltet sein. Ein Schiebetakt C wird ein- und dann ausgeschaltet, so daß der Verriegelungsschalter L1 des Schieberegister-Speichergliedes, das den getasteten Schiebetakt B empfängt, nunmehr einen unterschiedlichen Wert gegenüber dem Verriegelungsschalter L2 der Schieberegister-Speicherglieder enthält. Nach dieser sequentiellen Operation kann auf Fehler dadurch geprüft werden, daß nunmehr der Schiebetakt B zunächst : ein- und dann ausgeschaltet wird, wobei der Schaltzustand j des Verriegelungsschalters L2 sich nur dann ändert, wenn das j Tor ausgeschaltet bleibt (angenommen, es liegt der meist zu- l treffende Fall eines Einzelfehlers vor). Anschließend werden , die Schieberegister-Speicherglieder abgetastet, so daß der ι Wert des Verriegelungsschalters L2 des in Frage kommenden Schieberegister-Speichergliedes geprüft werden kann. Dieses Vorgehen eignet sich nicht für eine einfache kombinatorische Prüflogik, mit der die gesamte restliche Logik geprüft werden kann. Beim genannten Stand der Technik besteht die Lösung aus dem Erfordernis, daß wenn ein Schiebetakt B getastet wurde, daß dann der sich ergebende getastete Takt zu einem Primärausgang gegeben werden muß, wo er mit einer einfachen, kombinatorischen Logik geprüft und beobachtet werden kann.
709881/0643
FI 976 002
3 272U863
Es wird Bezug auf das US-Patent rlr. 3 783 254 genommen.
Nachfolgend werden die für modulare, pegelempfindliche Logiksystexae Konstruktionsregeln angegeben, die für die Prüfung von auf Chips und bei der Härtung austauschbaren Einheiten beruhen.
1. Die gesamte interne Speicherung basiert auf getakteten Verriegelungsschaltern (d. h., Ve rriege lungs scha Item, die von Taktsignalen gesteuert v/erden, so, daß v/enn die Taktsignale fehlen, der Verriegelungsschalter über andere Eingangssignale nicht umgeschaltet werden kann).
2. Die Verriegelungsschalter v/erden über zwei oder mehrere nicht überlappende Systemtakte gesteuert so, daß von einem Takt Ci gesteuerte Verriegelungsschalter nicht andere von diesem Takt gesteuerte Verriegelungsschalter speisen können.
3. Alle System-Verriegelungsschalter bilden Teil eines Schieberegister-Speichergliedes. Alle Schieberegister-Speicherglieder sind zu einem oder mehreren Schieberegistern zusammengeschaltet, von denen jedes einen Eingang, einen Ausgang und Zuführungen für Schiebetakte Λ und B aufweist, die an Anschlüssen der Gesamteinrichtung zugänglich sind.
4. Die Systemsignale können von irgendeinem der Ausgänge der Schieberegister-Speicherglieder abgenommen werden, aber die Ausgänge des ersten und zweiten Verriegelungsschalters eines Speichergliedes dürfen nicht beide als Eingänge für dieselbe kombinatorische logische Funktion dienen.
709881 /0643
FI 976 002
5. Ls muß möglich sein, sämtliche Taktsignale von den Eingangsanschlüssen der Gesamtanordnung her zu steuern. Es muß also ein primärer Eingangszustand herstellbar sein, der an den Ilakroeingängen der Schieberegister-Speicherglieder sämtliche Taktsignale sperrt und es muß möglich sein, jedes von diesen Taktsignalen durch Änderung eines primären Einganges (PI) ein- und auszuschalten. Außerdem muß es möglich sein, beide Schiebetakte (A und B) gleichzeitig einzuschalten.
6. Taktsignale dürfen nicht Dateneingangssignale für die Verriegelungsschalter bilden, sondern sie dürfen nur Takteingängen zugeführt werden.
7. Ist das den Verriegnlungsschalter L2 steuernde Taktsignalnetzwerk nicht ein einfaches Verzweigungsnetzwerk, das von einem einzigen Primäreingang gespeist wird, so muß das gesteuerte (oder abgeleitete) Taktsignal B einem Primärausgang (PO) zugeführt werden. Das sich ergebende logische Verknüpfungsnetzwerk, das diesen Primärausgang speist, nuß logisch nicht redundant sein.
tiird ein nach den vorstehenden Regeln aufgebautes sequentielles Netzwerk aufgebaut, so ist ein Tasten des Schiebetaktes Ii häufig wünschenswert und vorteilhaft. Uird ein Schiebetakt B getastet, so muß dieser einem Primärausgang entsprechend
Regel 7, zugeführt v/erden, da sonst der Tasteingang zu der \ UND-Schaltung in Fig. 4 hinsichtlich eines Fehlers "hängenbleiben bei einer Eins" nicht geprüft wird. Wird der Schiebetakt B beispielsweise auf zehn verschiedenen Pfaden getastet, so müssen zehn Primärausgänge vorgesehen werden, um der Regel 7 zu genügen. Es kann auch ein Decoder-Netzwerk mit vier
70988 1 /0643
FI 976 OO2
2770863
Primäreingängen und einem einzelnen Primärausgang auf Chip-Ebene vorgesehen werden. Nimmt man zwölf logische Blöcke für das Decoder-Netzwerk, eine UND-Schaltung für jede der getasteten Schiebetaktleitungen und eine einzige ODER-Schaltung an, so erfordert diese Methode 23 logische Blöcke oder etwa 2,3 Blöcke je getastetem Schiebetakt B.
Durch die Erfindung erhält man ein wirksames Mittel, durch das getastete Schiebetakte B einem Primärausgang zugeführt werden und mit einem minimalen zusätzlichen Schaltungsaufwand eine komplette Prüfung auf Schaltlagefehler durchgeführt v/erden. Ist der Schiebetakt B getastet, dann wird der Ausgang des Verriegelungsschalters L1 eines Schieberegister-Speichergliedes zusammen mit dem Schiebetakt einer UND-Schaltung zugeführt und sämtliche dabei erhaltenen Ausgangssignale über eine ODER-Schaltung einem Primärausgang zugeführt.
Fig. 5 zeigt das erforderliche Netzwerk, wenn zwei verschiedene getastete Schiebetakte B erfindungsgemäß auf einem Primärausgang geführt werden. Dabei sind je Schiebetakt ein Primärausgang und 1,5 NAND-Schaltungen (UND- und Inverterschaltungen) erforderlich. Sind auf einem Chip zehn getastete Schiebetaktsignale B vorhanden, so erfordert die erfindungsgemäße Methode einen Primärausgang und 1,1 NAND-Schaltungen pro getastetem Schiebetakt-Netzwerk B.
Werden zwei oder mehrere Chips dieser Art auf einem Modul oder einer Karte angeordnet, so lassen sich diese Schiebetakt-Prüfpunkte direkt zusammenführen und an einen einzigen Primärausgang legen.
709881/0643
FI 976 002
272Ü863
Die erfindungsgemäße Technik erlaubt das Tasten des Schiebetaktsignales B, wobei sich als Aufwand lediglich ergibt:
(a) wenig mehr als eine Schaltung pro getastetem Schiebetakt,
(b) ein Chipanschluß pro Chip und (c) ein Anschlußstift pro i Karte oder Modul. !
7098 81/0643
-v/3-
Le e rs e i te

Claims (4)

  1. FI 976 002
    PATE H TA M SPRUCH E
    Logisches Schaltnetzwerk bestehend aus mehreren Verknüpf ungsnetzwerken, deren jedes aufgrund vorliegender Eingangssignale einen Satz von Zwischensignalen an entsprechenden Ausgängen abgibt, mehreren Taktsignalanschlüssen, die zum Empfang unterschiedlicher Taktsignale mit Taktsignalquellen verbunden sind, mehreren Schieberegister-Speichergliedgruppen, deren jeue aufgrund eines Taktimpulses eines ihr zugeordneten Taktsignals die Werte der von einem zugeordneten Verknüpfungsnetzwerk abgegebenen Zwischensignale zur Speicherung aufninmt und an ihren Ausgängen einen Satz von entsprechenden Ausgangssignalen abgibt. Verbindungen zwischen den Ausgängen jeder Speichergliedgruppe und Eingängen derjenigen Verknüpfungsnetzwerke, deren zugeordnete Speichergliedgruppen nicht vom gleichen Taktsignal gesteuert werden, einem Satz von Eingabesignal-Anschlüssen, die mit Hingängen mindestens eines Verknüpfungsnetzwerkes verbunden sind und ferner einem ausgangsseitigen Verknüpfungsnetzwerk, das mindestens mit den Ausgängen der Speichergliedgruppen verbunden ist, nach Patent ... (Patentanmeldung P 23 49 377.8-53), dadurch gekennzeichnet, daß jede Schieberegister-Speichergliedgruppe mindestens ein Schieberegister-Speicherglied mit einem ersten, über einen ersten Schiebetakt und einem nachgeschalteten zweiten, über einen zweiten Schiebetakt gesteuerten Verriegelungsschalter enthält und daß ein zusätzlicher Schaltungsteil vorgesehen ist, so daß das Schieberegister-Speicherglied sowohl eine logische Funktion als auch eine Prüffunktion ausführt.
    709881/0643
    ORIGINAL INSPECTED
    FI 976 OO2
  2. 2. Logisches Schaltnetzwerk nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Schiebetakt für den zweiten Verriegelungsschalter durch ein zusätzliches Tastsignal getastet v/ird und daß ein zusätzlicher Ausgang für den getasteten Schiebetakt vorgesehen ist.
  3. 3. Logisches Schaltnetzwerk nach den Ansprüchen 1odcr°2, dadurch gekennzeichnet, daß die zusätzlichen Schaltungsteile von mehreren dieser Schaltnetzv/erke einen gemeinsamen Ausgang aufweisen.
  4. 4. Logisches Schal tnetzv/erk nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der zusätzliche Schaltungsteil im v/esentlichen aus MAuD-Schaltungen besteht.
    7U9881 /UbO
DE19772720863 1976-06-30 1977-05-10 Logisches schaltnetzwerk Withdrawn DE2720863A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/701,053 US4071902A (en) 1976-06-30 1976-06-30 Reduced overhead for clock testing in a level system scan design (LSSD) system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2720863A1 true DE2720863A1 (de) 1978-01-05

Family

ID=24815880

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19772720863 Withdrawn DE2720863A1 (de) 1976-06-30 1977-05-10 Logisches schaltnetzwerk

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4071902A (de)
JP (1) JPS533752A (de)
DE (1) DE2720863A1 (de)
FR (1) FR2357005A1 (de)
GB (1) GB1581864A (de)
IT (1) IT1115341B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0017091A1 (de) * 1979-04-09 1980-10-15 International Business Machines Corporation Zwei-Modus-Schieberegister- /Zählschaltung

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4244048A (en) * 1978-12-29 1981-01-06 International Business Machines Corporation Chip and wafer configuration and testing method for large-scale-integrated circuits
DE3029883A1 (de) * 1980-08-07 1982-03-11 Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart Schieberegister fuer pruef- und test-zwecke
US4441075A (en) * 1981-07-02 1984-04-03 International Business Machines Corporation Circuit arrangement which permits the testing of each individual chip and interchip connection in a high density packaging structure having a plurality of interconnected chips, without any physical disconnection
US4503386A (en) * 1982-04-20 1985-03-05 International Business Machines Corporation Chip partitioning aid (CPA)-A structure for test pattern generation for large logic networks
US4488259A (en) * 1982-10-29 1984-12-11 Ibm Corporation On chip monitor
US4503537A (en) * 1982-11-08 1985-03-05 International Business Machines Corporation Parallel path self-testing system
JPS59119917A (ja) * 1982-12-27 1984-07-11 Toshiba Corp 論理回路
US4554664A (en) * 1983-10-06 1985-11-19 Sperry Corporation Static memory cell with dynamic scan test latch
US4580066A (en) * 1984-03-22 1986-04-01 Sperry Corporation Fast scan/set testable latch using two levels of series gating with two current sources
JPS6188538A (ja) * 1984-10-05 1986-05-06 Fujitsu Ltd 半導体装置
GB2171231B (en) * 1985-02-14 1989-11-01 Intel Corp Software programmable logic array
JPH0296963A (ja) * 1988-10-03 1990-04-09 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
US4972414A (en) * 1989-11-13 1990-11-20 International Business Machines Corporation Method and apparatus for detecting oscillator stuck faults in a level sensitive scan design (LSSD) system
US5684808A (en) * 1995-09-19 1997-11-04 Unisys Corporation System and method for satisfying mutually exclusive gating requirements in automatic test pattern generation systems
US5640402A (en) * 1995-12-08 1997-06-17 International Business Machines Corporation Fast flush load of LSSD SRL chains
US6327685B1 (en) 1999-05-12 2001-12-04 International Business Machines Corporation Logic built-in self test
US6442720B1 (en) 1999-06-04 2002-08-27 International Business Machines Corporation Technique to decrease the exposure time of infrared imaging of semiconductor chips for failure analysis
US7350124B2 (en) * 2005-10-18 2008-03-25 International Business Machines Corporation Method and apparatus for accelerating through-the pins LBIST simulation
US7908532B2 (en) * 2008-02-16 2011-03-15 International Business Machines Corporation Automated system and processing for expedient diagnosis of broken shift registers latch chains
US9108766B2 (en) 2013-07-19 2015-08-18 S.C. Johnson & Son, Inc. Storage container systems

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3851187A (en) * 1971-03-05 1974-11-26 H Pao High speed shift register with t-t-l compatibility
US3784907A (en) * 1972-10-16 1974-01-08 Ibm Method of propagation delay testing a functional logic system
US3783254A (en) * 1972-10-16 1974-01-01 Ibm Level sensitive logic system
US3761695A (en) * 1972-10-16 1973-09-25 Ibm Method of level sensitive testing a functional logic system
FR2330014A1 (fr) * 1973-05-11 1977-05-27 Ibm France Procede de test de bloc de circuits logiques integres et blocs en faisant application
US3983538A (en) * 1974-05-01 1976-09-28 International Business Machines Corporation Universal LSI array logic modules with integral storage array and variable autonomous sequencing

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0017091A1 (de) * 1979-04-09 1980-10-15 International Business Machines Corporation Zwei-Modus-Schieberegister- /Zählschaltung

Also Published As

Publication number Publication date
US4071902A (en) 1978-01-31
JPS533752A (en) 1978-01-13
FR2357005A1 (fr) 1978-01-27
IT1115341B (it) 1986-02-03
FR2357005B1 (de) 1979-03-09
GB1581864A (en) 1980-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2720863A1 (de) Logisches schaltnetzwerk
DE2349377C2 (de) Schaltwerk zur Durchführung von Datenverarbeitungsoperationen
DE2723707C2 (de) Schaltung zur Erzeugung nicht-überlappender Taktimpuls-Züge
EP0046499B1 (de) Schieberegister für Prüf- und Test-Zwecke
DE3490015C2 (de)
EP0010173B1 (de) Halbleiterplättchen mit verbesserter Prüfbarkeit der monolithisch hochintegrierten Schaltungen
DE2728676A1 (de) Stufenempfindliches, als monolithisch hochintegrierte schaltung ausgefuehrtes system aus logischen schaltungen mit darin eingebetteter matrixanordnung
EP0073946A2 (de) Verfahren und Anordnung zur Funktionsprüfung einer programmierbaren Logikanordnung
DE3840969C2 (de)
DE2349324A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum pruefen funktioneller logischer schaltungen
DE2346617A1 (de) Verfahren zur pruefung der laufzeitverzoegerung einer funktionalen logischen einheit
DE2023741A1 (de) Testeinrichtung für komplexe, eine Vielzahl von Anschlußstiften aufweisende Funktionslogikschaltungen
EP0628832B1 (de) Integrierte Schaltung mit Registerstufen
DE3743586C2 (de)
DE3838940C2 (de)
DE60125442T2 (de) Dreifachredundante selbstschrubbende integrierte Schaltung
DE2235802C2 (de) Verfahren und Einrichtung zur Prüfung nichtlinearer Schaltkreise
DE3639577A1 (de) Logikbaustein zur erzeugung von ungleich verteilten zufallsmustern fuer integrierte schaltungen
DE3819706A1 (de) Vorrichtung zum erzeugen einer linear auftretenden maximallaengencodefolge
EP1179738B1 (de) Anordnung zum Testen eines integrierten Schaltkreises
DE19651713C2 (de) Bauelement-Testgerät zum Testen elektronischer Bauelemente
DE1814496A1 (de) Schaltanordnung mit Haupt- und Tochterschalter
EP0037965B1 (de) Einrichtung zum Prüfen einer digitalen Schaltung mittels in diese Schaltung eingebauter Prüfschaltungen
DE60320057T2 (de) System und Verfahren zur Schaltungsprüfung
DE60223043T2 (de) Elektronischer schaltkreis und testverfahren

Legal Events

Date Code Title Description
AF Is addition to no.

Ref country code: DE

Ref document number: 2349377

Format of ref document f/p: P

8141 Disposal/no request for examination