DE2720863A1 - Logisches schaltnetzwerk - Google Patents
Logisches schaltnetzwerkInfo
- Publication number
- DE2720863A1 DE2720863A1 DE19772720863 DE2720863A DE2720863A1 DE 2720863 A1 DE2720863 A1 DE 2720863A1 DE 19772720863 DE19772720863 DE 19772720863 DE 2720863 A DE2720863 A DE 2720863A DE 2720863 A1 DE2720863 A1 DE 2720863A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- clock
- storage element
- shift
- shift register
- register storage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
Description
Anmelderin Amtliches Aktenzeichen;
-3 -
Böblingen, den 6. Mai 1977
International Business Machines Corporation, Armonk, N.Y. 10504
Neuanmeldung
Aktenzeichen der Anmelderin:
FI 976 OO2
Vertreter:
Patentassessor
Dipl.-Ing. Heinz Gaugel 7030 Böblingen
Titel:
LOGISCHES SCHALTNETZWERK
7Ü9881/Üb43
FI 976 002
"^" 2 7 2 U y b 3
Die Erfindung betrifft ein logisches Schaltnetzwerk nach Patent ... (Patentanmeldung P 23 49 377.8-53), geeignet
zur Anwendung in digitalen Datenverarbeitungsanlagen, und insbesondere eine Organisation der Logik, die die Prüfbarkeit
der verwendeten Schaltungen mit minimalem Aufwand ermöglicht.
Bisher hatte der Konstrukteur von Datenverarbeitungsanlagen eine vollkommene Freiheit beim Entwurf von Schaltnetzwerken
zur Verwirklichung von logischen Funktionseinheiten für das Rechenwerk, die Kanäle und für Steuereinheiten von Datenverarbeitungsanlagen.
Daraus ergab sich eine beachtliche Vielfalt von Konstruktionen. Jede dieser Konstruktionen hat ihre eigene
spezielle Abhängigkeit vom Schaltverhalten der einzelnen im System verwendeten Schaltungen.
Diese Unabhängigkeit und Flexibilität führte oft zu unerwarteten System-Taktproblemen, Schwierigkeiten bei der Prüfung
der Schaltungen und machte eine aufwendige Schulung des Wartungspersonals für solche Datenverarbeitungsanlagen erforderlich.
Es ergab sich jedoch der Vorteil, daß der Konstrukteur alle Techniken ausnutzen konnte, um die bestmögliche Leistung
in Verbindung mit der kleinstmöglichen Zahl von Schaltungen zu erzielen. Die Grenze zwischen der durch den Konstrukteur
entworfenen logischen Funktionseinheit und der vom Komponentenhersteller gelieferten Bauelemente war einigermaßen gut festgelegt,
und die beim Impulsbetrieb wichtigen Schalteigenschaften, wie Anstiegszeit, Abfallzeit, Verzögerungszeit der
einzelnen Tei!schaltungen usw. konnten ziemlich leicht geprüft
jwerden.
i
i
Bei fortschreitender Integration in immer größerem Ausmaß geht diese wohldefinierte und zuverlässig prüfbare Grenze
jedoch immer mehr verloren. Es ist unmöglich oder unpraktisch
709881/064
FI 976 OO2
geworden, jede Schaltung im Hinblick auf alle bekannten Schaltparameter
zu überprüfen. Daraus ergab sich die Notwendigkeit, die Schaltnetzwerke in Funktionseinheiten aufzuteilen, deren
Eigenschaften im Hinblick auf diese genannten Parameter unempfindlich
sind.
Eine Methode zur Erzielung entsprechend aufgeteilter Strukturen besteht darin, sie in der in der DT-OS 2 349 377 beschriebenen
Weise zu organisieren. Ein entsprechendes System ist in Fig. 1 dargestellt. Das dort gezeigte logische System
arbeitet in synchroner Weise, gesteuert von zwei nicht überlappenden Taktimpulszügen C1 und C2. Bei Auftreten des Taktimpulses
Ci werden Datensignale aus einem Verknüpfungsnetzwerk 1 in die Speicherglieder einer Schieberegister-Speichergliedgruppe
3 gegeben und zu Verknüpfungsnetzwerk 9 und 4 geleitet. Sobald dies geschehen ist, tritt der Taktimpuls
C2 auf, so daß die vom Verknüpfungsnetzwerk 4 gelieferten Datensignale in die Schieberegister-Speichergliedgruppe 6
und von dort zu dem Verknüpfungsnetzwerk 9 und 1 gegeben werden. Hach Übertragung dieser Eingangssignal beginnt der
Zyklus mit Auftreten des Taktimpulses C1 von neuem.
Die Schieberegister-Speichergliedgruppe 3 bzw. 6 enthält eines
oder mehrere Schieberegister-Speicherglieder, von denen eines schematisch in Fig. 2 dargestellt ist. Diese Speicherglieder
sind durch Verbindung des Ausganges V eines Speichergliedes mit dem Eingang U des nächsten Speichergliedes zu einem über
Schiebetakte A und B gesteuerten Schieberegister zusammengeschaltet.
Jedes Schieberegister-Speicherglied umfaßt zwei getaktete Verriegelungsschalter L1 und L2, wie es in Fig. 3
dargestellt ist. Der erste Verriegelungsschalter wird durch
709881/0643
FI 976 OO2
zwei Taktimpulse, nämlich C und Λ gesteuert. Bei Auftreten des Taktimpulses C wird das Eingangssignal E im Verriegelungsschalter LI gespeichert. Sobald der Schiebetakt A auftritt,
wird das Eingangssignal U im Verriegelungsschalter Li gespeichert.
Der zweite Verriegelungsschalter L2 wird vom Schiebe— takt B gesteuert, so daß der Inhalt des Verriegelungsschalters
LI im Verriegelungsschalter L2 gespeichert wird. Die Ausgangssignale
L und V entsprechen den in den Verriegelungsschaltern
L1 und L2 gespeicherten Werten.
Logische Systeme des in Fig. 1 gezeigten Aufhaus haben gegenüber
anderen logischen Systemen mehrere Vorteile. Einer dieser Vorteile besteht in der vollen, zeitunabhängigen Prüfbarkeit
der Struktur, indera die Takteingänge C1, C2, Λ und B angesteuert
und indem Schieberegister eingesetzt werden, um die Prufduster zuzuführen und zu prüfen.
Da diese Art einer voll prüfbaren logischen Struktur zwei synchrone, nicht überlappende Taktimpulszüge C1 und C2 verlangt,
muß ein Netzwerk vorhanden sein, das diese Taktimpulszüge erzeugt. Ein derartiger Taktimpulsgenerator, der selbst
voll prüfbar ist und der ohne Änderung der in Fig. 1 gezeigten Struktur als Teil dieser Struktur aufgebaut werden kann ist
bereits in einer US-Patentanmeldung S.U. 701 376 (FI 976 Ο16)
vorgeschlagen worden. Hier wird gezeigt, v/as anschließend noch genauer erläutert wird, wie der Schiebetakt B getastet
v/erden kann, wobei der Konstrukteur den Verriegelungsschalter
L2 ausnutzen kann. Das in der bereits genannten DT-OS 2 349 377 offenbarte Schaltnetzwerk, von dem in der vorlie- j
genden Erfindung ausgegangen wird, weist in der Anwendung der Logik im Bereich des Netzwerkes für den Schiebetakt B Nach- |
teile auf. Die dort verwendeten Schieberegister-Speicherglie- '
709881/0643
FI 976 002
-*-- 272ÜÖ63
der weisen ebenfalls die in Fig. 3 gezeigten beiden Verriegelungsschalter
L1 und L2 auf. Da die Daten im Verriegelungsschalter L1 immer über den Dateneingang D oder den Tasteingang
I gehalten werden, läßt sich das Vorhandensein des Takttastens
auf normale Weise überprüfen. Dazu wird in alle Schieberegister-Speicherglieder ein Tastimpulsmuster eingegeben. Es sei
daran erinnert, daß die Verriegelungsschalter L1 und L2 jedes Schieberegister-Speichergliedes den gleichen Wert enthalten.
Das eingegebene Tastimpulsmuster verhindert, daß die Taktimpulse zum Verriegelungsschalter L1 gelangen. Außerdem liefert
das Tastimpulsmuster dem Schieberegister-Speicherglied (entweder am Dateneingang oder am Tasteingang) einen Wert, der
unterschiedlich von dem im Schieberegister-Speicherglied ist, so daß, wenn der Taktimpuls durchgeschaltet wird, dann der
Wert im Verriegelungsschalter L1 geändert wird. Wird der Taktimpuls nicht durchgeschaltet, so ändert sich der Wert im
Schieberegister-Speicherglied nicht. Ob sich der Schaltzustand des Schieberegister-Speichergliedes geändert hat oder nicht,
kann festgestellt werden, wenn die Austastung vervollständigt ist. Diese Prüfung kann mit einem kombinatorischen, aber nicht
mit einem sequentiellen Prüfgenerator durchgeführt werden.
Im Falle der Tastung des Verschiebetaktes B müßte ein sequentieller
Prüfgenerator verwendet werden, um diesen Verschiebetakt zu prüfen. Es sei beispielsweise angenommen, ein Verschieb
betakt B werde über ein Tor G getastet. Um dieses Tor zu prüfen,
ob es im Auszustand hängenbleibt (der Schiebetakt B geht , jimmer durch), so muß in die Schieberegister-Speicherglieder \
ein Tastmuster eingegeben werden, das dieses Tor so steuert, j daß es im Einzustand sein sollte (der Schiebetakt B sollte
nicht hindurch gelangen). Das Schieberegister-Speicherglied, j jdas den getasteten Schiebetakt B empfängt, weist den gleichen
0988 1/0643
FI 976 002
_|._ 272Ü863
Wert auf, der in beide Verriegelungsschalter L1 und L2 eingegeben
ist. Anschließend wird ein entgegengesetzter Wert an den Eingang des Schieberegister-Speichergliedes gelegt, das
den getasteten Schiebetakt B empfängt.
Diese Werte v/erden gleichzeitig mit dem Setzen der Schieberegister-Speicherglieder
in diese eingegeben, um das Tor des Schiebetaktes B zu kontrollieren. Nachdem nun sämtliche Schieberegister-Speicherglieder
gesetzt sind, sollte das Tor eingeschaltet sein. Ein Schiebetakt C wird ein- und dann ausgeschaltet,
so daß der Verriegelungsschalter L1 des Schieberegister-Speichergliedes, das den getasteten Schiebetakt B
empfängt, nunmehr einen unterschiedlichen Wert gegenüber dem Verriegelungsschalter L2 der Schieberegister-Speicherglieder
enthält. Nach dieser sequentiellen Operation kann auf Fehler dadurch geprüft werden, daß nunmehr der Schiebetakt B zunächst :
ein- und dann ausgeschaltet wird, wobei der Schaltzustand j des Verriegelungsschalters L2 sich nur dann ändert, wenn das j
Tor ausgeschaltet bleibt (angenommen, es liegt der meist zu- l
treffende Fall eines Einzelfehlers vor). Anschließend werden , die Schieberegister-Speicherglieder abgetastet, so daß der ι
Wert des Verriegelungsschalters L2 des in Frage kommenden Schieberegister-Speichergliedes geprüft werden kann. Dieses
Vorgehen eignet sich nicht für eine einfache kombinatorische Prüflogik, mit der die gesamte restliche Logik geprüft werden
kann. Beim genannten Stand der Technik besteht die Lösung aus dem Erfordernis, daß wenn ein Schiebetakt B getastet wurde,
daß dann der sich ergebende getastete Takt zu einem Primärausgang gegeben werden muß, wo er mit einer einfachen, kombinatorischen
Logik geprüft und beobachtet werden kann.
709881/0643
FI 976 002
3 272U863
Es wird Bezug auf das US-Patent rlr. 3 783 254 genommen.
Nachfolgend werden die für modulare, pegelempfindliche Logiksystexae
Konstruktionsregeln angegeben, die für die Prüfung von auf Chips und bei der Härtung austauschbaren Einheiten
beruhen.
1. Die gesamte interne Speicherung basiert auf getakteten
Verriegelungsschaltern (d. h., Ve rriege lungs scha Item, die von Taktsignalen gesteuert v/erden, so, daß v/enn die
Taktsignale fehlen, der Verriegelungsschalter über andere Eingangssignale nicht umgeschaltet werden kann).
2. Die Verriegelungsschalter v/erden über zwei oder mehrere nicht überlappende Systemtakte gesteuert so, daß von einem
Takt Ci gesteuerte Verriegelungsschalter nicht andere von diesem Takt gesteuerte Verriegelungsschalter speisen
können.
3. Alle System-Verriegelungsschalter bilden Teil eines Schieberegister-Speichergliedes.
Alle Schieberegister-Speicherglieder sind zu einem oder mehreren Schieberegistern
zusammengeschaltet, von denen jedes einen Eingang, einen Ausgang und Zuführungen für Schiebetakte Λ und B aufweist,
die an Anschlüssen der Gesamteinrichtung zugänglich sind.
4. Die Systemsignale können von irgendeinem der Ausgänge der Schieberegister-Speicherglieder abgenommen werden, aber
die Ausgänge des ersten und zweiten Verriegelungsschalters eines Speichergliedes dürfen nicht beide als Eingänge für
dieselbe kombinatorische logische Funktion dienen.
709881 /0643
FI 976 002
5. Ls muß möglich sein, sämtliche Taktsignale von den Eingangsanschlüssen
der Gesamtanordnung her zu steuern. Es muß also ein primärer Eingangszustand herstellbar sein, der
an den Ilakroeingängen der Schieberegister-Speicherglieder sämtliche Taktsignale sperrt und es muß möglich sein, jedes
von diesen Taktsignalen durch Änderung eines primären Einganges (PI) ein- und auszuschalten. Außerdem muß es
möglich sein, beide Schiebetakte (A und B) gleichzeitig einzuschalten.
6. Taktsignale dürfen nicht Dateneingangssignale für die Verriegelungsschalter bilden, sondern sie dürfen nur
Takteingängen zugeführt werden.
7. Ist das den Verriegnlungsschalter L2 steuernde Taktsignalnetzwerk
nicht ein einfaches Verzweigungsnetzwerk, das von
einem einzigen Primäreingang gespeist wird, so muß das gesteuerte (oder abgeleitete) Taktsignal B einem Primärausgang
(PO) zugeführt werden. Das sich ergebende logische Verknüpfungsnetzwerk, das diesen Primärausgang speist,
nuß logisch nicht redundant sein.
tiird ein nach den vorstehenden Regeln aufgebautes sequentielles
Netzwerk aufgebaut, so ist ein Tasten des Schiebetaktes Ii häufig wünschenswert und vorteilhaft. Uird ein Schiebetakt
B getastet, so muß dieser einem Primärausgang entsprechend
Regel 7, zugeführt v/erden, da sonst der Tasteingang zu der \
UND-Schaltung in Fig. 4 hinsichtlich eines Fehlers "hängenbleiben bei einer Eins" nicht geprüft wird. Wird der Schiebetakt
B beispielsweise auf zehn verschiedenen Pfaden getastet, so müssen zehn Primärausgänge vorgesehen werden, um der
Regel 7 zu genügen. Es kann auch ein Decoder-Netzwerk mit vier
70988 1 /0643
FI 976 OO2
2770863
Primäreingängen und einem einzelnen Primärausgang auf Chip-Ebene
vorgesehen werden. Nimmt man zwölf logische Blöcke für das Decoder-Netzwerk, eine UND-Schaltung für jede der getasteten
Schiebetaktleitungen und eine einzige ODER-Schaltung an, so erfordert diese Methode 23 logische Blöcke oder etwa
2,3 Blöcke je getastetem Schiebetakt B.
Durch die Erfindung erhält man ein wirksames Mittel, durch das getastete Schiebetakte B einem Primärausgang zugeführt
werden und mit einem minimalen zusätzlichen Schaltungsaufwand eine komplette Prüfung auf Schaltlagefehler durchgeführt v/erden.
Ist der Schiebetakt B getastet, dann wird der Ausgang des Verriegelungsschalters L1 eines Schieberegister-Speichergliedes
zusammen mit dem Schiebetakt einer UND-Schaltung zugeführt
und sämtliche dabei erhaltenen Ausgangssignale über eine ODER-Schaltung einem Primärausgang zugeführt.
Fig. 5 zeigt das erforderliche Netzwerk, wenn zwei verschiedene getastete Schiebetakte B erfindungsgemäß auf einem Primärausgang
geführt werden. Dabei sind je Schiebetakt ein Primärausgang und 1,5 NAND-Schaltungen (UND- und Inverterschaltungen)
erforderlich. Sind auf einem Chip zehn getastete Schiebetaktsignale B vorhanden, so erfordert die erfindungsgemäße
Methode einen Primärausgang und 1,1 NAND-Schaltungen pro getastetem Schiebetakt-Netzwerk B.
Werden zwei oder mehrere Chips dieser Art auf einem Modul oder einer Karte angeordnet, so lassen sich diese Schiebetakt-Prüfpunkte
direkt zusammenführen und an einen einzigen Primärausgang legen.
709881/0643
FI 976 002
272Ü863
Die erfindungsgemäße Technik erlaubt das Tasten des Schiebetaktsignales
B, wobei sich als Aufwand lediglich ergibt:
(a) wenig mehr als eine Schaltung pro getastetem Schiebetakt,
(b) ein Chipanschluß pro Chip und (c) ein Anschlußstift pro i Karte oder Modul. !
7098 81/0643
-v/3-
Le e rs e i te
Claims (4)
- FI 976 002PATE H TA M SPRUCH ELogisches Schaltnetzwerk bestehend aus mehreren Verknüpf ungsnetzwerken, deren jedes aufgrund vorliegender Eingangssignale einen Satz von Zwischensignalen an entsprechenden Ausgängen abgibt, mehreren Taktsignalanschlüssen, die zum Empfang unterschiedlicher Taktsignale mit Taktsignalquellen verbunden sind, mehreren Schieberegister-Speichergliedgruppen, deren jeue aufgrund eines Taktimpulses eines ihr zugeordneten Taktsignals die Werte der von einem zugeordneten Verknüpfungsnetzwerk abgegebenen Zwischensignale zur Speicherung aufninmt und an ihren Ausgängen einen Satz von entsprechenden Ausgangssignalen abgibt. Verbindungen zwischen den Ausgängen jeder Speichergliedgruppe und Eingängen derjenigen Verknüpfungsnetzwerke, deren zugeordnete Speichergliedgruppen nicht vom gleichen Taktsignal gesteuert werden, einem Satz von Eingabesignal-Anschlüssen, die mit Hingängen mindestens eines Verknüpfungsnetzwerkes verbunden sind und ferner einem ausgangsseitigen Verknüpfungsnetzwerk, das mindestens mit den Ausgängen der Speichergliedgruppen verbunden ist, nach Patent ... (Patentanmeldung P 23 49 377.8-53), dadurch gekennzeichnet, daß jede Schieberegister-Speichergliedgruppe mindestens ein Schieberegister-Speicherglied mit einem ersten, über einen ersten Schiebetakt und einem nachgeschalteten zweiten, über einen zweiten Schiebetakt gesteuerten Verriegelungsschalter enthält und daß ein zusätzlicher Schaltungsteil vorgesehen ist, so daß das Schieberegister-Speicherglied sowohl eine logische Funktion als auch eine Prüffunktion ausführt.709881/0643ORIGINAL INSPECTEDFI 976 OO2
- 2. Logisches Schaltnetzwerk nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Schiebetakt für den zweiten Verriegelungsschalter durch ein zusätzliches Tastsignal getastet v/ird und daß ein zusätzlicher Ausgang für den getasteten Schiebetakt vorgesehen ist.
- 3. Logisches Schaltnetzwerk nach den Ansprüchen 1odcr°2, dadurch gekennzeichnet, daß die zusätzlichen Schaltungsteile von mehreren dieser Schaltnetzv/erke einen gemeinsamen Ausgang aufweisen.
- 4. Logisches Schal tnetzv/erk nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der zusätzliche Schaltungsteil im v/esentlichen aus MAuD-Schaltungen besteht.7U9881 /UbO
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/701,053 US4071902A (en) | 1976-06-30 | 1976-06-30 | Reduced overhead for clock testing in a level system scan design (LSSD) system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2720863A1 true DE2720863A1 (de) | 1978-01-05 |
Family
ID=24815880
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19772720863 Withdrawn DE2720863A1 (de) | 1976-06-30 | 1977-05-10 | Logisches schaltnetzwerk |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4071902A (de) |
JP (1) | JPS533752A (de) |
DE (1) | DE2720863A1 (de) |
FR (1) | FR2357005A1 (de) |
GB (1) | GB1581864A (de) |
IT (1) | IT1115341B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0017091A1 (de) * | 1979-04-09 | 1980-10-15 | International Business Machines Corporation | Zwei-Modus-Schieberegister- /Zählschaltung |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4244048A (en) * | 1978-12-29 | 1981-01-06 | International Business Machines Corporation | Chip and wafer configuration and testing method for large-scale-integrated circuits |
DE3029883A1 (de) * | 1980-08-07 | 1982-03-11 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Schieberegister fuer pruef- und test-zwecke |
US4441075A (en) * | 1981-07-02 | 1984-04-03 | International Business Machines Corporation | Circuit arrangement which permits the testing of each individual chip and interchip connection in a high density packaging structure having a plurality of interconnected chips, without any physical disconnection |
US4503386A (en) * | 1982-04-20 | 1985-03-05 | International Business Machines Corporation | Chip partitioning aid (CPA)-A structure for test pattern generation for large logic networks |
US4488259A (en) * | 1982-10-29 | 1984-12-11 | Ibm Corporation | On chip monitor |
US4503537A (en) * | 1982-11-08 | 1985-03-05 | International Business Machines Corporation | Parallel path self-testing system |
JPS59119917A (ja) * | 1982-12-27 | 1984-07-11 | Toshiba Corp | 論理回路 |
US4554664A (en) * | 1983-10-06 | 1985-11-19 | Sperry Corporation | Static memory cell with dynamic scan test latch |
US4580066A (en) * | 1984-03-22 | 1986-04-01 | Sperry Corporation | Fast scan/set testable latch using two levels of series gating with two current sources |
JPS6188538A (ja) * | 1984-10-05 | 1986-05-06 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
GB2171231B (en) * | 1985-02-14 | 1989-11-01 | Intel Corp | Software programmable logic array |
JPH0296963A (ja) * | 1988-10-03 | 1990-04-09 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
US4972414A (en) * | 1989-11-13 | 1990-11-20 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for detecting oscillator stuck faults in a level sensitive scan design (LSSD) system |
US5684808A (en) * | 1995-09-19 | 1997-11-04 | Unisys Corporation | System and method for satisfying mutually exclusive gating requirements in automatic test pattern generation systems |
US5640402A (en) * | 1995-12-08 | 1997-06-17 | International Business Machines Corporation | Fast flush load of LSSD SRL chains |
US6327685B1 (en) | 1999-05-12 | 2001-12-04 | International Business Machines Corporation | Logic built-in self test |
US6442720B1 (en) | 1999-06-04 | 2002-08-27 | International Business Machines Corporation | Technique to decrease the exposure time of infrared imaging of semiconductor chips for failure analysis |
US7350124B2 (en) * | 2005-10-18 | 2008-03-25 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for accelerating through-the pins LBIST simulation |
US7908532B2 (en) * | 2008-02-16 | 2011-03-15 | International Business Machines Corporation | Automated system and processing for expedient diagnosis of broken shift registers latch chains |
US9108766B2 (en) | 2013-07-19 | 2015-08-18 | S.C. Johnson & Son, Inc. | Storage container systems |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3851187A (en) * | 1971-03-05 | 1974-11-26 | H Pao | High speed shift register with t-t-l compatibility |
US3784907A (en) * | 1972-10-16 | 1974-01-08 | Ibm | Method of propagation delay testing a functional logic system |
US3783254A (en) * | 1972-10-16 | 1974-01-01 | Ibm | Level sensitive logic system |
US3761695A (en) * | 1972-10-16 | 1973-09-25 | Ibm | Method of level sensitive testing a functional logic system |
FR2330014A1 (fr) * | 1973-05-11 | 1977-05-27 | Ibm France | Procede de test de bloc de circuits logiques integres et blocs en faisant application |
US3983538A (en) * | 1974-05-01 | 1976-09-28 | International Business Machines Corporation | Universal LSI array logic modules with integral storage array and variable autonomous sequencing |
-
1976
- 1976-06-30 US US05/701,053 patent/US4071902A/en not_active Expired - Lifetime
-
1977
- 1977-05-10 DE DE19772720863 patent/DE2720863A1/de not_active Withdrawn
- 1977-05-18 FR FR7716057A patent/FR2357005A1/fr active Granted
- 1977-06-03 JP JP6496677A patent/JPS533752A/ja active Pending
- 1977-06-07 IT IT24416/77A patent/IT1115341B/it active
- 1977-06-20 GB GB25725/77A patent/GB1581864A/en not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0017091A1 (de) * | 1979-04-09 | 1980-10-15 | International Business Machines Corporation | Zwei-Modus-Schieberegister- /Zählschaltung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4071902A (en) | 1978-01-31 |
JPS533752A (en) | 1978-01-13 |
FR2357005A1 (fr) | 1978-01-27 |
IT1115341B (it) | 1986-02-03 |
FR2357005B1 (de) | 1979-03-09 |
GB1581864A (en) | 1980-12-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2720863A1 (de) | Logisches schaltnetzwerk | |
DE2349377C2 (de) | Schaltwerk zur Durchführung von Datenverarbeitungsoperationen | |
DE2723707C2 (de) | Schaltung zur Erzeugung nicht-überlappender Taktimpuls-Züge | |
EP0046499B1 (de) | Schieberegister für Prüf- und Test-Zwecke | |
DE3490015C2 (de) | ||
EP0010173B1 (de) | Halbleiterplättchen mit verbesserter Prüfbarkeit der monolithisch hochintegrierten Schaltungen | |
DE2728676A1 (de) | Stufenempfindliches, als monolithisch hochintegrierte schaltung ausgefuehrtes system aus logischen schaltungen mit darin eingebetteter matrixanordnung | |
EP0073946A2 (de) | Verfahren und Anordnung zur Funktionsprüfung einer programmierbaren Logikanordnung | |
DE3840969C2 (de) | ||
DE2349324A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum pruefen funktioneller logischer schaltungen | |
DE2346617A1 (de) | Verfahren zur pruefung der laufzeitverzoegerung einer funktionalen logischen einheit | |
DE2023741A1 (de) | Testeinrichtung für komplexe, eine Vielzahl von Anschlußstiften aufweisende Funktionslogikschaltungen | |
EP0628832B1 (de) | Integrierte Schaltung mit Registerstufen | |
DE3743586C2 (de) | ||
DE3838940C2 (de) | ||
DE60125442T2 (de) | Dreifachredundante selbstschrubbende integrierte Schaltung | |
DE2235802C2 (de) | Verfahren und Einrichtung zur Prüfung nichtlinearer Schaltkreise | |
DE3639577A1 (de) | Logikbaustein zur erzeugung von ungleich verteilten zufallsmustern fuer integrierte schaltungen | |
DE3819706A1 (de) | Vorrichtung zum erzeugen einer linear auftretenden maximallaengencodefolge | |
EP1179738B1 (de) | Anordnung zum Testen eines integrierten Schaltkreises | |
DE19651713C2 (de) | Bauelement-Testgerät zum Testen elektronischer Bauelemente | |
DE1814496A1 (de) | Schaltanordnung mit Haupt- und Tochterschalter | |
EP0037965B1 (de) | Einrichtung zum Prüfen einer digitalen Schaltung mittels in diese Schaltung eingebauter Prüfschaltungen | |
DE60320057T2 (de) | System und Verfahren zur Schaltungsprüfung | |
DE60223043T2 (de) | Elektronischer schaltkreis und testverfahren |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
AF | Is addition to no. |
Ref country code: DE Ref document number: 2349377 Format of ref document f/p: P |
|
8141 | Disposal/no request for examination |