DE2715809A1 - Blendenanordnung fuer elektrostatischen zylindrischen spiegel - Google Patents
Blendenanordnung fuer elektrostatischen zylindrischen spiegelInfo
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Description
SIEMENS AKTIENGEGELLSCMiT Unser Zeichen
Berlin und München 3 77P 70350ΡΠ
Blendenanordnung für elektrostatischen zylindrischen Spiegel.
Die Erfindung bezieht sich auf eine Blendenanordnung für elektrostatischen zylindrischen Spiegel, wie sie im Oberbegriff
des Patentanspruches 1 angegeben ist.
Elektrostatische zylindrische Spiegel werden für die Elektronen-Spektrometrie
verwendet. Ein solcher Spiegel besteht aus zwei koaxialen Zylindern, zwischen denen ein Potentialunterschied
aufrechterhalten wird, so daß Elektronen, die von einem Ort der Achse des zylindrischen Spiegels schräg zur
Radialrichtung der Zylinderanordnung ausgehen, im Raum zwischen den beiden koaxialen Zylindern in einem Bogen abgelenkt
werden, so daß diese Elektronen an einem anderen Ort der Achse der Zylinderanordnung auftreffen. An diesem in einem elektronenoptisch
bestimmten Abstand von dem Ausgangsort der Elektronen liegenden Ort befindet sich eine Blende, durch die
wenigstens ein Anteil der im Raum zwischen den beiden Zylindern abgelenkten Elektronen hindurchtritt. Dieser hindurchgetretene
Anteil wird in einem Kollektor aufgefangen. Die Intensität der aufgefangenen Elektronen bildet das Meßsignal.
Weitere Einzelheiten in bezug auf elektrostatische zylindrische Spiegel lassen sich dem Stand der Technik entnehmen,
und zwar insbesondere Zashkvara u.a. in "Sowjet Physics-Tecnn. Physics", Bd.11 (1966), Seiten 96-99 und Risley J.S.
Bts 1 BIa / 6.4.1977
809SA1 /0482
[ΝΑΟ
- ?r- 77 P 7035 BRD
in "Rev. of Scientific Instruments", Bd.34 (1972), Seite 95-103.
Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, für eine Spektrometer-Anordnung
für Elektronen-Energie-Verlust-Spektrometrie eine Blendenanordnung anzugeben, die für die spektrometrischen
Untersuchungen hohe Genauigkeit bietet, damit quantitativ einwandfreie Meßergebnisse erzielt werden können.
Diese Aufgabe wird mit einer wie im Oberbegriff des Patentanspruches
1 angegebenen Blendenanordnung erfindungsgemäß gelöst, wie dies im kennzeichnenden Teil des Patentanspruches 1 angegeben
ist. Weitere Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung gehen aus den Unteransprüchen hervor.
Die erfindungsgemäße Blendenanordnung soll für eine Spektrometer-Anordnung
geeignet sein, wie sie in Fig.1 dargestellt ist. Diese Fig.1 gibt in lediglich schematischer Darstellung
mit 1 bezeichnet ein Elektronenmikroskop an, in dem sich am Präparateort das zu untersuchende Präparat befindet. Der durch
das Präparat hervorgerufene Energieverlust soll in einem Spektrometer ermittelt werden, das in Fig.1 insgesamt mit 2
bezeichnet ist. Das lediglich schematisch dargestellte Spektrometer 2 hat zwei koaxial zueinander angeordnete Zylinder 3
und 4, in deren Zwischenraum 5 die für elektrostatische zylindrische Spiegel bekannte Strahlumlenkung 6 erfolgt. Mit 7 ist
die gemeinsame Achse der Zylinder 3 und 4, d.h. des zylindrischen Spiegels, angedeutet. Kit 8 ist eine bekanntermaßen auf
der Zylinderachse 7 angeordnete Blende bezeichnet, durch die der Elektronenstrahl 6 hindurch in den Kollektor 9 gelangt.
Mit 10 ist die erfindungsgemäß vorgesehene weitere Blende bezeichnet,
die in Fig.1 ebenfalls nur schematisch angedeutet ist. Diese weitere Blende 10 befindet sich an dem Ort, an dem
sich üblicherweise bei elektrostatischen zylindrischen Spiegeln
für Elektronen-Spektrometrie das Präparat befindet, von dem der Elektronenstrahl 6 dann ausgeht. Bei der
809841 /0482
77 P 70 3 5
in Fig.1 gezeigten Anordnung tritt dagegen ein spektrometrisch
zu untersuchender Elektronenstrahl 11 in die Blende 10 ein, der dann weiter als Elektronenstrahl 6 durch die Blende 8 in
den Kollektor 9 gelangt. Wie an sich bekannt, liegen die Zylinder 3 und 4 auf entsprechend unterschiedlichen elektrischen
Potentialen.
Für die beschriebene Spektrometrie ist es wichtig, daß die
Eintrittsblende 10 und die Austrittsblende 8 sehr genauen, bekannten Abstand (in Axialrichtung 7) voneinander haben. Die
Blenden 10 und 8 haben im Regelfall einen nur sehr kleinen Durchmesser von z.B. zwischen 0,1 und 0,5 mm, insbesondere von
0,2 mm. Im Regelfall sind der Durchmesser der Eintrittsblende 10 und der Austriirtsblende 8 gleich groß. Kleinerer Blendendurchmesser
führt zu höherem energetischen Auflösungsvermögen der Energie-Yerlust-Spektrometrie, wobei jedoch geringe Intensität
im Kollektor 9 in Kauf zu nehmen ist. Mit größeren Blendendurchmessern
erreicht man größeres Kollektorsignal bzw. höhere Empfindlichkeit der Spektrometer-Anordnung, jedoch ist das
Auflösungsvermögen entsprechend geringer. Das Auflösungsvermögen ist dabei auf die Energie- bzw. Geschwindigkeitsverteilung
der Elektronen, die jeweils in den Kollektor 9 gelangen, bezogen.
Gegenüber der Allgemeindarstellung der Fig.1 zeigt die Fig.2
deutlicher, wie der erfindungsgemäß mit zwei Blenden 8, 10 versehene, als Schieber ausgebildete Blendenträger 21 aufgebaut
und in dem elektrostatischen zylindrischen Spiegel verschiebbar angeordnet ist.
Vorzugsweise ist der Blendenträger 21 ein Stab aus insbesondere Elvedur. Der Stabdurchmesser beträgt z.B. 30 mm bei
einem Innendurchmesser von z.B.50 mm für den inneren Zylinder
4. In diesem Zusammenhang sei darauf hingewiesen, daß die Darstellung der Fig.2 der Übersichtlichkeit halber nicht streng
maßstäblich ist. Dort wo die Blenden 8 und 10 anzubringen
sind, hat der stabförmige Blendenträger 21 Rücksprünge, an cU-mim eier Stnb his auf --.ine F!1?.-'- -.!^p'efr'ir:!. ■;. s ~. d.i.ο din Achse
77 P 7 0 3 5 8RD
7 der Anordnung enthält. Fig.3 zeigt hierzu zur besseren Verdeutlichung
ein Querschnittsbild in vergrößertem Maßstab, aus dem zu ersehen ist, wie die eine Hälfte des Querschnittes des
Stabes des Blendenträgers 21 abgetragen ist. Damit der Elektronenstrahl
11 durch die Blende hindurchtreten kann, hat der Stab außerdem — dies gilt sowohl für den Ort der Blende 10 als
auch für dejenigen der Blende 8 — zusätzlich einen trichterförmigen Durchbruch 31. Der engste Querschnitt dieses Durchbruches
31 hat genau am Ort der Achse 7 der ganzen Anordnung die eigentliche Blendenöffnung 22. Diese Öffnung 22 befindet
sich in einer Dünnschichtblende 23, die z.B. aus Gold besteht.
Der Stab des Blendenträgers 21 wird vorzugsweise von zwei Gleitringen aus insbesondere Tetrafluoräthylen
gehalten. Der Stab des Blendenträgers 21 ist damit im Innern des gut justierten Zylinders 4 sowohl axial exakt justiert als
auch in axialer Richtung — angedeutet durch den Doppelpfeil 27 - verschiebbar gehalten. Der 31endenträger 21.wird über die
stabförmige Fortsetzung 23 von außen mittels Feingewinde (nicht
dargestellt) in Axialrichtung genau justiert und drehsicher gehaltert.
Die Blenden 23 können außerhalb der Anordnung auf dem Blendenträger 21 äußerst genau justiert angebracht werden, so daß der
Abstand der Blendenöffnungen 22 genau exakt LQ beträgt. Auf
die exakte Einhaltung dieses Abstandes kommt es vor allen Dingen an, denn Abweichungen von diesem Maß, die bei z.B. voneinander
getrennt eingesetzten und justierten Blenden 8 und 10 unbemerkt auftreten können, würden zu unerkannten Falschergebnissen
der spektrometrischen Auswertung der Verlustenergie führen.
Aus Fig.2 ist schematisch zu ersehen, wie ein zweites Blendenpaar
mit den Blenden S1 und 10' auf ein und demselben Blendenträger 21 angebracht sein kann. Die Dünnschichtblenden 23'
der Blenden 8' und 10' haben z,3, größeren Durchmesser ihrer
--!-. Hoffnungen, jedoch wieder len Ab; :■ ΐ a r.d L^. L^ beträgt
71 P 7 0 3 5 BRD 7
bekanntermaßen das 6,12-fache des für die mit 6 angedeutete
Umlenkung des Elektronenstrahles elektrooptisch wirksamen Radius des Innenzylinders 4. Durch Verschiebung der Blenden
81 und 10' an die Orte, an denen sich in der Darstellung der
Fig.2 die Blenden 8 und 10 befinden, kann in einfacher Weise die dargestellte Anordnung mit beispielsweise größeren Blendenöffnungen
der Blenden 23' betrieben werden. Dadurch wird zwar — wie oben schon erwähnt — d?s Auflösungsvermögen etwas vergert.
Andererseits ist aber die Empfindlichkeit der ganzen Anordnung vergrößert, so daß im Kollektor 9 noch Signale festgestellt
werden können, die bei Verwendung der Blenden 8 und 10 nicht mehr festzustellen sind.
Vorzugsweise werden z.B. wenigstens drei Blendenpaare 8,10;8·,10·
auf einem Blendenträger 21 in wie beschriebener und dargestellter Weise angebracht, z.B. mit Blendenöffnungen von je 0,1 mm,
0,2 mm und 0,5 mm Durchmesser.
Mit dieser erfindungsgemäßen Anordnung läßt sich außerdem sehr einfach eine axiale Ausrichtung der Blenden in bezug auf die
Eintrittslage des Elektronenstrahles 11 am Ort der Achse 7 der
Anordnung justieren.
Wie aus den Figuren ersichtlich, hat der Zylinder 4 für das Hindurchtreten des Elektronenstrahles Öffnungen 29, die in
axialer Richtung beispielsweise 2 cm lang sind und dabei eine Breite von ca. 1 cm haben.
Mit einer wie erfindungsgemäßen Anordnung wird insbesondere
erreicht, daß sich die Blenden in sehr einfacher Weise reinigen oder gar ersetzen lassen. Ohnehin erschwerte Justierung
des Abstandes der Blenden voneinander ist in der erfindungsgemäßen Anordnung nicht mehr erforderlich. Der Blendenabstand
ist stets exakt eingehalten. Dabei besteht außerdem aber auch die sehr vereinfachte Möglichkeit, durch bloßes
Verschieben eines Blendenträgers mit mehreren Blendenpaaren unterschiedlicher Bemessung eine veränderte Einstellung der
Auflösung bzw. der Empfindlichkeit zu erreichen.
f Patentansprüche 809641 /0482
Figuren
Claims (9)
- JnACHQEREICHtJ- & ■ 77 P 7035 BRDPatentansprüche/i.} Blendenanordnung für elektrostatischen zylindrischen Spiegel für Elektronen-Energie-Verlust-Spektrometrie, bei der auf der Achse des zylindrischen Spiegels eine Blende angeordnet und ein Ort vorhanden ist, von dem die spektrometrisch zu untersuchenden Elektronen ausgehen und der von der Blende einen elektronenoptisch bestimmten Abstand hat, gekennzeichnet dadurch, daß sich an diesem Ort eine weitere Blende (10) befindet und daß die beiden Blenden in einem auswechselbaren Blendenträger (21) in zueinander fixer Position angeordnet sind, wobei der Blendenträger in Axialrichtung mit den Blenden auf der Achse des Spiegels verschiebbar und justierbar ist.
- 2. Blendenanordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß am Blendenträger (21) mehrere Blendenpaare (8, 10) angeordnet sind, wobei die Blenden der einzelnen Paare jeweils den vorgegebenen Abstand Lq voneinander haben und die einzelnen Blendenpaare durch Verschieben des Blendenträgers (21) in ihre Position zu bringen sind.
- 3. Blendenanordnung nach Anspruch 2, gekennzeichnet dadurch, daß die Blenden der einzelnen Paare untereinander jeweils gleiche Blendengröße haben und die Blendengrößen der Blenden der einzelnen Paare voneinander verschieden groß sind.
- 4. Blendenanordnung nach Anspruch 1, 2 oder 3, gekennzeichnet dadurch, daß der Blendenträger (21) am Ort der Blenden Durchbrüche aufweist, in die Dünnschichtblenden justiert eingesetzt sind.
- 5. Blendenanordnung nach Anspruch 4, gekennzeichnet dadurch, daß die Dünnschichtblenden auswechselbar eingesetzt sind.ORIGINAL INSPECT
- 6. Blendenanordnung nach Anspruch 4 oder 5, gekennzeichnet dadurch, daß die Dünnschichtblenden aus Gold bestehen.
- 7. Blendenanordnung nach Anspruch 6, gekennzeichnet dadurch, daß der Blendenträger (21) einen Rücksprung bis zur Achse (7) der Anordnung und eine trichterförmige Querbohrung (31) hat, und daß die Dünnschichtblende (23) mit ihrer Blendenöffnung (22) am Ort des engsten Querschnittes der trichterförmigen Bohrung (31) und der Achse (7) angebracht ist (Fig.3).
- 8. Blendenanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, g e kennzeichnet dadurch, daß der Blendenträger (21) in Gleitringen (25, 26) gelagert ist und im Innern des zylin- · drischen Spiegels (4) drehsicher und axial verschiebbar geführt ist.
- 9. Verwendung einer Blendenanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 8 zusammen mit einem Elektronenmikroskop.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19772715809 DE2715809C3 (de) | 1977-04-07 | 1977-04-07 | Blendenanordnung für einen elektrostatischen zylindrischen Spiegel und Verwendung hiervon |
JP4016578A JPS53125757A (en) | 1977-04-07 | 1978-04-05 | Device for shooting electrostatic cylindrical mirror |
GB1343178A GB1582521A (en) | 1977-04-07 | 1978-04-06 | Electron spectrometer diaphragms |
NL7803687A NL7803687A (nl) | 1977-04-07 | 1978-04-06 | Diafragmainrichting voor een elektrostatische cilinder- vormige spiegel. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19772715809 DE2715809C3 (de) | 1977-04-07 | 1977-04-07 | Blendenanordnung für einen elektrostatischen zylindrischen Spiegel und Verwendung hiervon |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2715809A1 true DE2715809A1 (de) | 1978-10-12 |
DE2715809B2 DE2715809B2 (de) | 1980-03-27 |
DE2715809C3 DE2715809C3 (de) | 1980-11-27 |
Family
ID=6005960
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19772715809 Expired DE2715809C3 (de) | 1977-04-07 | 1977-04-07 | Blendenanordnung für einen elektrostatischen zylindrischen Spiegel und Verwendung hiervon |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS53125757A (de) |
DE (1) | DE2715809C3 (de) |
GB (1) | GB1582521A (de) |
NL (1) | NL7803687A (de) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3138927A1 (de) * | 1981-09-30 | 1983-04-14 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Abbildendes spektrometer fuer die elektronenstrahl-messtechnik und elektronenstrahl-messgeraet |
-
1977
- 1977-04-07 DE DE19772715809 patent/DE2715809C3/de not_active Expired
-
1978
- 1978-04-05 JP JP4016578A patent/JPS53125757A/ja active Pending
- 1978-04-06 NL NL7803687A patent/NL7803687A/xx not_active Application Discontinuation
- 1978-04-06 GB GB1343178A patent/GB1582521A/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1582521A (en) | 1981-01-07 |
DE2715809B2 (de) | 1980-03-27 |
NL7803687A (nl) | 1978-10-10 |
JPS53125757A (en) | 1978-11-02 |
DE2715809C3 (de) | 1980-11-27 |
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