DE2715809B2 - Blendenanordnung für einen elektrostatischen zylindrischen Spiegel und Verwendung hiervon - Google Patents
Blendenanordnung für einen elektrostatischen zylindrischen Spiegel und Verwendung hiervonInfo
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Description
Blendenpaare (8,10,8', 10') angeordnet sind, daß die
Blenden (8, 10; 8', 10') der einzelnen Paare jeweils den elektronenoptisch bestimmten Abstand (L0)
voneinander haben und daß die einzelnen Blendenpaare (8, 10; 8', 10') durch Verschieben des
Blendenträgers(21) in ihre Position zu bringen sind.
3. Biendenanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Blenden (8, 10, 8', 10') der
einzelnen Paare untereinander jeweils gleiche Blendengrö^e haben und die Blendengrößen der
Blenden der einzelnen Paare voneinander verschieden groß sind.
4. Biendenanordnung nach Anspruch I, 2 oder 3.
dadurch gekennzeichnet, daß d^r Blendentragcr(2l)
am Ort der Blenden (8, 10, 8', 10) Durchbrüche
aufweist, in die Dünnschichtblcnden (2.3, 23') justiert eingesetzt sind.
5. Biendenanordnung nach Anspruch 4. dadurch gekennzeichnet, daß die Dünnschichtblcndcn (23,
23') auswechselbar eingesetzt sind.
6. Biendenanordnung nach Anspruch 4 oder ^.
dadurch gekennzeichnet, daß die Dünnschichtblenden aus Gold bestehen.
7. Biendenanordnung nach Anspruch 6. dadurch gekennzeichnet, daß der Blcndenträger (21) einen
Rücksprung bis zur Achse (7) der Anordnung und eine trichterförmige Querbohrung (31) hat, und daß
die Dünnschichtblendc (23) mit ihrer Blendenöffnung (22) am Ort des engsten Querschnittes der
trichterförmigen Bohrung (31) auf der Achse (7) angebracht ist (E ig. 3).
8. Biendenanordnung nach einem der Ansprüche I bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Blendenträger
(21) in Gleitringen (25, 26) gelagert ist und im Innern des zylindrischen Spiegels (4) drehsicher und
axial verschiebbar geführt ist.
9. Verwendung einer Biendenanordnung nach einem der Ansprüche I bis H zusammen mit einem
Elektronenmikroskop.
Die Erfindung bezieht sich auf eine Blcmlenanordniing
für einen elektrostatischen zylindrischen Spiegel, wie sie im Oberbegriff des Patentanspruchs I angegeben
ist.
Elektrostatische zylindrische Spiegel werden für die
Elektronen-Spektrometrie verwendet Ein solcher Spiegel besteht aus zwei koaxialen Zylindern, zwischen
denen ein Potentialunterschied aufrechterhalten wird, so daß Elektronen, die von einem Ort der Achse des
zylindrischen Spiegels schräg zur Radialrichtung der Zylinderanordnung ausgehen, im Raum zwischen den
beiden koaxialen Zylindern in einem Bogen abgelenkt werden, so daß diese Elektronen an einem anderen Ort
der Achse der Zylinderanordnung auftreffen. An diesem in einem elektronenoptisch bestimmten Abstand von
dem Ausgangsort der Elektronen liegenden Ort befindet sich eine Blende, durch die wenigstens ein
Anteil der im Raum zwischen den beiden Zylindern
abgelenkten Elektronen hindurchtritt. Dieser hindurchgetretene Anteil wird in einem Kollektor aufgefangen.
Die Intensität der aufgefangenen Elektronen bildet das Meßsiignal.
Aus; der US-PS 36 99 331 ist eine Biendenanordnung für einen elektrostatischen zylindrischen Spiegel bekannt.,
der die im Oberbegriff des Patentanspruchs !
angegebenen Merkmale aufweist. Dieser elektrostatische Sipiegel hat zwei Abschnitte und an dem Ort. von
dem die spektrometrisch zu untersuchenden Elektronen in den zweiten Abschnitt des Spiegels hinein ausgehen,
ist eine Blende angeordnet, die gleiche Blendengröße
wie diejenige hat. u'ie vor dem Detektor auf der Achse
vorgesehen ist. In diesem bekannten zylindrischen Spiegel sind die Blenden senkrecht zur Achse im Innern
angeordnet und fs dürften sich bei diesem bekannten Spiegel vor allem dann erhebliche Schwierigkeiten
einstellen, wenn man nachträglich, z. B. mit Hilfe eines MeßiTiikroskopes. nachprüfen wollte, ob der für die
Meßgröße entscheidende Abstand der beiden Blenden voneinander noch exakt eingehalten ist. Weiter dürften
Schwierigkeiten bestehen, die Blenden und ihre feinen Bohrungen bei einer solchen wie in der Patentschrift
dargestellten Ausführung eines zylindrischen Spiegels auszuwechseln und/oder zu reinigt;;.
Sonstige Einzelheiten in bezug auf elektrostatische zylindrische Spiegel lassen sich dem Stand Jer Technik
entnehmen, und zwar insbesondere Zashkvara u. a. in
»Sowjet Physics-Techn. Physics». Bd. Il (1966), Seiten
96-99, und Risley, |. S.. in »Rev. of Scientific Instruments«, Bd. 43(1972). Seiten 95- 103.
Aufgabe der vorliegenden Erfir.J„,,g ist es. die
Blendiünanordnung der eingangs genannten Art so
auszubilden, daß ihre Blenden leicht zugänglich sind, um diese zu justieren, ihre Lage /u überprüfen, sie /u
reinigen und/oder gegen Blenden mil anderem Durchmesser auszutauschen.
Diese Aufgabe wird mit einer wie im Oberbegriff des Patentanspruchs I angegebenen Blendonanordnung
erfindungsgcmiil) gelöst, wie dies im kennzeichnenden
Teil des Patentanspruchs 1 angegeben ist. Weitere Ausgestaltungen und Weilerbilduiigi.'n der Erfindung
gehen aus den I Jnicransprüchen hervor
Ein Aüsführiingsbeispiel eier Erfindung wird anhand
der Eiguren naher erläutert. Es zeigt
E i g. I ein Elektronenmikroskop mit einem elektrostatischen
zylindrischen Spiegel und einer Biendenanordnung,
E i g. 2 und i Einzelheiten des elektrostatischen zylindrischen Spiegels und der llleiulen;inordnung von
E i g. I
Die Ei g. I gibt in lediglich schemalischer Darstellung
mit I bezeichnet ein Elektronenmikroskop an. in dem sich .im PtaMaraleoi t Jas zu untersuchende PriiDiir.it
befindet Der durch das Präparat hervorgerufene Energieverlust soll in einem Spektrometer ermittelt
werden, das in F i g. 1 insgesamt mit 2 bezeichnet ist Das lediglich schematisch dargestellte Spektrometer 2 hat
zwei koaxial zueinander angeordnete Zylinder 3 und 4, in deren Zwischenraum 5 die für elektrostatische
zylindrische Spiegel bekannte Strahlumlenkung 6 erfolgt Mit 7 ist die gemeinsame Achse der Zylinder 3
und 4, d. h. des i.ylindrischen Spiegels, angedeutet. Mit 8
ist eine bekanntermaßen auf der Zylinderachse 7 to angeordnete Blende bezeichnet, durch die der Elektro
nenstrahl 6 hindurch in den Kollektor 9 gelangt. Mit 10 ist eine gleichfalls bekanntermaßen vorgesehene weitere
Blende bezeichnet die in Fig. 1 ebenfalls nur schematisch angedeutet ist Diese weitere Blende 10 ts
befindet sich an dem Ort, an dem sich üblicherweise bei elektrostatischen zylindrischen Spiegeln für Elektronen-
Spektrometrie das Präparat befindet, von dem der Elektronenstrahl 6 dann ausgeht. Bei der in Fig. I
gezeigten tritt dagegen ein spoktromeirisch zu :o
uniersuchender Elektronenstrahl i i in die Blende iö ein.
der dann weiter als Elektronenstrahl 6 durch ciie Blende
8 in den Kollektor 9 gelangt. Wie an sich bekam.!, liegen die Zylinder 3 und 4 auf entsprechend unterschiedlichen
elektrischen Potentialen. :ϊ
Für die beschriebene Spektrometrie ist es wichtig, daß die Eintrittsblende 10 und die Austrittsblende 8 sehr
genauen, bekannten Abstand (in Axialrichtung 7) voneinander haben. Die Blenden 10 und 8 hüben im
Regelfall einen nur sehr kleinen Durchmesser von z. B. jo zwischen 0,1 und 0,5 mm, insbesondere von 0.2 mm. Im
Regelfall sind der Durchmesser der Eintrittsblende 10 und der Austrittsblende 8 gleich groß. Kleinerer
Blendendurchmesser führt zu höherem energetischen Auflösungsvermögen der Energie-Verlust-Spektrome- ti
trie, wobei jedoch geringe Intensität im Kollektor 9 in
Kauf nehmen ist. Mit größeren Blendendurchmessern erreicht man größeres Kollektorsignal bzw. höhere
Empfindlichkeit der Spektronietcr-Anordnung, jedoch
ist das Auflosungsvermögen entsprechend geringer. Das Auflösungsvermögen ist dabei auf die Energie- bzw.
Geschwindigkeitsverteilung der Elektronen, die jeweils
in den Kollektor9gelangen,bezogen.
Gegenüber der Allgemeindarstellung der F i g. I zeigt dit: Fig. 2 deutlicher, wie der mit zwei Blenden 8, 10 j,
versehene, als Schieber ausgebildete lllendenträger 21
aufgebaut und in dem elektrostatischen zylindrischen Spiegel verschiebbar angeordnet ist.
Vorzugsweise ist der Blendenträger 21 ein Stab aus
insbesondere Elvedur Der Stabdurchmesser beiragt -,o
z.B. 10 mm bei einem Innendurchmesser von ζ. Β 50 mm für den inneren Zylinder 4. In diesem
Zusammenhang sei darauf hingewiesen, daß die Darstellung der F i g. 2 der Übersichtlichkeit halber
nicht streng maßstäblich ist. Dort wo die Blenden 8 und γ,
10 anzubringen sind, hat der stabförmige Blendentrager 21 Rücksprünge, an denen der Stab bis auf eine Ebene
aiisgefräst ist. die die Achse 7 der Anordnung enthüll.
Cig. 3 zeigt hierzu zur besseren Verdeutlichung ein längs lll-lll verlaufendes Quersi hniltsbild in vergrößer- ho
lern Maßslab, aus dem zu ersehen ist, wie die eine Hälfte
des Querschnittes des Stabes des Blendenlrägers 21 abgetragen ist. Damit dor Elektronenstrahl 11 durch die
Blende hindurchtreten kann, hat der Stab außerdem — dies gilt sowohl füi den Ort der Blende 10 als auch für h-,
diejenigen der Blende 8 ■- zusätzlich einen trichterförmigen Durchbruch Jl. ! icr engste Querschnitt dieses
Diirchhruchcs Jl hai fu-η,ιΐι ;·m Ort dir -Miso 7 der
ganzen Anordnung die eigentliche Blendenöffnung 22. Diese öffnung 22 befindet sich in einer Dünnschicht·
blende 23, die z. B. aus Gold besteht
Der Stab des Blendenträgers 21 wird vorzugsweise von zwei Gleitringen 25, 26 aus insbesondere Tetrafluoräthylen gehalten. Der Stab des Blendenträgers 21
ist damit im Innern des gut justierten Zylinders 4 sowohl axial exakt justiert als auch in axialer Richtung —
angedeutet durch den Doppelpfeil 27 — verschiebbar gehalten. Der Blendenträger 21 wird über die
stabförmige Fortsetzung 28 von außen mittels Feingewinde (nicht dargestellt) in Axialrichtung genau justiert
und drehsicher gehaltert
Die Blenden 23 können außerhalb .jer Anordnung auf
dem Blendenträger 21 äußerst genau justiert angebracht werden, so daß der Abstand der Blendenöffnun
gen 22 genau exakt L0 beträgt. Auf die exakte
Einhaltung dieses Abstandes kommt es vor allen Dingen an, denn Abweichungen von diesem Maß, die bei ζ Β.
voneinander getrennt eingesetzte ; und justierten Blenden 8 und 10 unbemerkt auftreten Können, wurden
zu unerkannten Falschergebnissen der spekrrometrischen Auswertung der Verlustenergie führen.
Aus F i g. 2 ist schematisch zu ersehen, wie ein zweites
Blende, paar mit den Blenden 8' und 10' auf ein und demselben Blendentrager 21 angebracht sein kann. Die
Dünnschichtblenden 23' der Blenden 8' und 10' haben z. B. größeren Durchmesser ihrer Blendenöffnungen,
jedoch wieder den Abstand L0. L0 beträgt bekannterma-Ben
das 6,12fache des für die mit 6 angedeutete Umlenkung des Elektronenstrahls elektrooptisch wirksamen
Radius des Innenzylinders 4. Durch Verschiebung der Blenden 8' und 10' an die Orte, an denen sich in
der Darstellung der F i g. 2 die Blenden 8 und (O befinden, kann in einfacher Weise die dargestellte
Anordnung mit beispielsweise größeren Blendenöffnungen der Blenden 23' betrieben werden. Dadurch wird
zwar — wie oben schon erwähnt — das Auilösur.-jsvermögen
etwas verringert. Andererseits ist aber die Empfindlichkeit der ganzen Anordnung vergrößert, so
daß im Kollektor 9 noch Signale festgestellt werden können, die bei Verwendung der Blenden 8 und 10 nicht
mehr festzustellen sind.
Vorzugsweise werden /. B. wenigstens drei Blendcnpaare
8, 10; 8', 10' auf einem Blendenträger 21 in wie
beschriebener und dargestellter Weise angebracht, z. B. mit Blendenöffnungen von je 0.1 mm. 0.2 mm und
0,5 mm Durchmesser.
Mit dieser Blendenanordnung läßt sich außerdem sehr einfach eine axiale Ausrichtung der Blenden in
bezug auf die Eintrittslage des Elektronenstrahls Il am
Ort der Achse 7 der Anordnung justieren.
Wi ius den Figuren ersichtlich, hat der Zylinder 4 für
das Hindurchtreten des Elektronenstrahls öffnungen 29. die in axialer Richtung beispielsweise 2 cm lang sind
und dabei eine Breite von ca. I cm haben.
Mil einer der cfindungsgemäßcn Blendenanordnung wird insbesondere erreicht daß sich die Blenden in sehr
einfacher Weise reinigen oder gar ersetzen lassen. Die ohnehin erschwerte Justierung des Abstandes d<;r
Blenden voneinander ist in der erfindungsgemäßen Blendenanordnung nicht mehr erforderlich. Der Blendenabstand
ist stets exakt eingehalten. Dabei besteht außerdem aber auch die sehr vereinfachte Möglichkeit,
durch bloßes Verschieben eines Blendenträgers mil mehreren l'lendenpaaren unterschiedlicher Bemessung
eine veränderte Einstellung der Auflösung bzw. der
Empfindlichkeil zu erreichen.
I lic!/n .' UIaII /ocliniiniien
Claims (2)
1. Biendenanordnung für einen elektrostatischen zylindrischen Spiegel mit zwei koaxialen Zylinderelektroden
für Elektronen-Energie-Verlust-Spektrometrie, bei der auf der Achse des zylindrischen
Spiegels eine Blende angeordnet und ein Ort vorhanden ist, von dem die spektrometrisch zu
untersuchenden Elektronen ausgehen und der von der Blende einen elektronenoptisch bestimmten
Abstand hat und bei der sich an diesem Ort eine weitere Blende befindet, dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden Blenden (8,10) in einem auswechselbaren Blendenträger (21) in zueinander
fixer Position angeordnet sind und daß der Blendenträger (21) mit den Blenden (8, 10) in
Axialrichtung auf der Achse des Spiegels verschiebbar und justierbar ist.
2. Blencenanordnung nach Anspruch I, dadurch
Priority Applications (4)
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---|---|---|---|---|
DE3138927A1 (de) * | 1981-09-30 | 1983-04-14 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Abbildendes spektrometer fuer die elektronenstrahl-messtechnik und elektronenstrahl-messgeraet |
-
1977
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-
1978
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- 1978-04-06 GB GB1343178A patent/GB1582521A/en not_active Expired
- 1978-04-06 NL NL7803687A patent/NL7803687A/xx not_active Application Discontinuation
Also Published As
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---|---|
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