DE2650743A1 - Herstellung von schadensfreien oberflaechen von alpha-aluminiumoxid - Google Patents
Herstellung von schadensfreien oberflaechen von alpha-aluminiumoxidInfo
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Description
Diese Erfindung betrifft das Polieren einer Oberfläche von alpha-Aluminiumoxid, das meist als Saphir bezeichnet wird.
Nach dem Stand der Technik verwendet man zum Polieren einer alpha-Aluminiumoxidoberfläche mechanische Verfahren, bei denen
das alpha-Aluminiumoxid durch Schneiden mit einem diamantbesetzten
Sägeblatt geschnitten und danach mit Diamanten geringerer Größe oder mit Garborundpulver poliert wird. Es weisen
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jedoch die diamantpolierten Oberflächen Bearbeitungsschäden . .
von einer Tiefe auf, die wenigstens der Größe des beim Polieren verwendeten Diamantpartikel entspricht. Die Schaden können
sogar bis unter die alpha-Aluminiumoxidoberflache reichen.
Wenn alpha-Aluminiumoxid als Isoliersubstrat für elektronische
Zwecke, wie für Halbleitervorrichtungen und Mikrοschaltungen ·
verwendet wird, hängt die Qualität des Endprodukts wesentlich von den Eigenschaften des Halbleiterfilms ab, der seinerseits
unmittelbar von der Ebenheit und der schadensfreien Qualität des Substrats abhängt.
Die mechanisch polierten alpha-Aluminiumoxidoberfläehen können
dann einer Endbehandlung zum "Heilen" der Oberflächenschäden in einem Glühverfahren bei Temperaturen über 1200 C in Wasserstoff,
.unterworfen werden. Es können aber auch die '.mechanischen
Schaden chemisch entfernt werden. .Das chemische Polieren ist
.in British Journal of Applied-Physics, Band 18-, Seiten 1357 1382
(1967) in einem Artikel unter der Bezeichnung "Single-Crystal Films of Silicon on Insulators", von J.D. Filby und S.
Nielsen beschrieben. -Die chemischen Verfahren bestehen darin, daß man mit geschmolzenen Materialien wie Bleifluorid, Kaliumpersulfat
in Boroxid, Borax, wasserfreiem HGl, Schwefelfluoriden
und Siliciumdämpfen ätzt. Diese Verfahren benötigen jedoch
hohe Temperaturen wie 1000°C für Borax und 14000G für wasserfreien
HCl. Darüberhinaus ist ein weiterer Nachteil, daß ein Rückstand, gebildet wird, der schwierig zu entfernen ist, wie
dies bei Verwendung von Borax beschrieben ist.
Ä ^ ORIGINAL INSPEGTED
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Ein Beispiel des chemischen Ätzens ist in der U.S.-Patentschrift 3 753 775 beschrieben, bei dem man Boraxdämpfe bei
Temperaturen zwischen 1000 und 12000G verwendet. Ein bedeutender
Nachteil dieses Verfahren ist, daß man für die Vorrichtungen Materialien benötigt, die nicht mit Borax bei hohen
Temperaturen reagieren. Das für dieses Verfahren vorgesehene Material ist Platin, dessen Verwendung einen bedeutenden wirtschaftlichen
Nachteil bringt.
Diese Erfindung betrifft ein chemisches Polierverfahren zur
Herstellung einer ungeschädigten Oberfläche auf alpha-Aluminiumoxid,
ohne daß man vorausgehend mechanisch polieren muß und das bei niedereren Temperaturen wirksam ist, als diese nach dem
Stand der Technik erforderlich sind.
Das chemische Polierverfahren für alpha-Aluminiumoxid beinhaltet
die Verwendung einer Siliciumdioxid-Kolloidpolierflüssigkeit, die sowohl ein Reaktionspartner als auch ein Medium für
die Entfernung des Reaktionsprodukts ist.
Es wurde festgestellt, daß eine chemische Reaktion zwischen Siliciumdioxid
und alpha-Aluminiumoxid abläuft, die ein chemisches Polierverfahren für alpha-Aluminiumoxid bei relativ niederen
Temperaturen ermöglicht.
Die zum Polieren vorgesehene alpha-Aluminiumoxidoberflache hat
vorzugsweise die Form einer dünnen Platte, die aus einer Saphirperle mit Hilfe eines diamantbesetzten Sägeblattes geschnitten
ist. Um zu verhindern, daß Diamantpartikel in den chemi-
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sehen Polierablauf überführt werden, werden alle "rohen"
alpha-Aluminiumoxidplatten etwa 10 Minuten in Sauerstoff auf
etwa 100O0G erhitzt, um irgendwelche vorhandene Diamantreste
zu oxidieren.
Die Polierflüssigkeit ist eine kolloide Siliciumdioxidflüssigkeit,
vorzugsweise ein hydratisiertes Siliciumdioxidkolloid
in einem Lösungsmittel, wie Wasser. Flüssigkeiten mit 10 bis 5O# Feststoffgehalt werden bevorzugt. Die Polierflüssigkeit
dieser Erfindung hat zwei Primärzwecke. Der erste besteht darin, den SiOp-Reaktionspartner auf die Oberfläche des
alpha-Aluminiumoxids zu bringen und der zweite, das Reaktionsprodukt von der auf diese Weise polieiten alpha-Aluminiumoxidfläche
abzutransportieren. Obgleich die Reaktion noch nicht vollständig geklärt ist, wird angenommen, daß sie wie folgt ab
läuft :
O5 + ySiO2 + H2O » Al2x Si
Bevorzugte Siliciumdioxidpolierflüssigkeiten sind die SYTON-Kolloidsuspensionen
von hydratisiertem Siliciumdioxid in Wasser, hergestellt von der Monsanto Company. Weil Al2O-, eine
amphotere Natur aufweist, ist es nicht überraschend, daß die Reaktion am schnellsten bei einem pH-Wert von etwa 7 abläuft.
Da aber SYTON einen pH~Wert von etwa 10,5 hat, wird Säure vor
zugsweise der kolloiden Siliciumdioxidflüssigkeit vor ihrer Verwendung zugegeben. Obgleich Säuren, wie Schwefelsäure, ver
wendet werden können, wird Salzsäure bevorzugt. Der ρττ-Wert
der verwendeten Poiierflüssigkeit ist vorzugsweise 7 bis 8.
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Obgleich Siliciumdioxid, das einen Härtewert von etwa 7 auf der Moß1 sehen Skala hat, dafür bekannt ist, daß es ein wirksames
mechanisches Poliermittel für Materialien mit Moß1sehen
Härtwerten von 2 bis 7 ist, wurde nach dieser Erfindung festgestellt,
daß ein Siliciumdioxidkolloid eine überlegene Polierfläche auf alpha-Aluminiumoxid durch chemische Wirkung bilden
kann. Da weiterhin die Härte des alpha-Aluminiumoxids wesentlich
die von Siliciumdioxid überschreitet, kann keine Fragmentbildung auftreten.
Die voraus beschriebene Reaktion ist bis zu einem Ausmaß von etwa 14,6 K Gal/Mol bei 400°K endotherm und es hängt daher die
Geschwindigkeit von der Wärmezuführung ab. Weil alle herausragenden
Teile der Oberfläche der alpha-Aluminiumoxidplatte eher
örtliche Reibungswärme empfangen und der stärkeren Flüssigkeit sentfernung als die nicht hervorragenden Teile unterliegen,
reagieren die geschädigten Flächen schneller und werden schneller als die nicht geschädigten Flächen entfernt.
In Verbindung mit dem Problem von Schäden steht das Auftreten von Verunreinigungen auf der Oberfläche. Da Vorsprünge und Vertiefungen
entfernt werden, wird die Neigung der Oberfläche, Verunreinigungen zurückzuhalten, ebenso verringert und daraus
ergibt sich eine leichtere Reinigung. Es werden daher die drei Faktoren, die am stärksten das Verhalten des Endprodukts
beeinträchtigen, nämlich die Schaden, die Konturen und die Verunreinigungen,
wesentlich durch das Verfahren dieser Erfindung beseitigt.
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Nach Entfernung der alpha-Aluminiumoxidplatte von der Oxidierungsbehandlung
zur Entfernung der Diamantpartikel, wie oben beschrieben, wird die gekühlte Platte mit der kolloiden SiIiciumdioxidflüssigkeit
und einem Poliertuch oder einem anderen Material unter Druck poliert, um ausreichend Reibungswärme zu
schaffen, die gewünschte Reaktionsgeschwindigkeit und damit eine gewünschte Geschwindigkeit der Oberflächenentfernung beizubehalten.
Der verwendete Druck kann je nach der Stärke der Platte variieren. Bei einer Platte von 5 cni Durchmesser und
350 /Ui Stärke werden Drücke von 20 bis 30 kg ausreichend sein.
Drücke sollten vorzugsweise so eingestellt werden, daß die Temperatur an der Oberfläche der verwendeten Polierdrehplatte
etwa 800C beträgt, obgleich Temperaturen von 60 bis 1000C verwendet
werden können.
Nach dem Polieren mit der kolloiden Siliciumdioxidflüssigkeit können die Flüssigkeitsrückstände durch Eintauchen in Fluorwasserstoffsäure
unter nachfolgendem Spülen mit entionisiertem Wasser entfernt werden.
Das Endprodukt kann dann Anwendung als Isolierungssubstrat für Hochleistungs-, Silicium-auf-Halbleitervorrichtungen, Transistoren
und Mikroschaltkreise im besonderen verwendet werden·
Der Halbleiter, bei dem die Endplatte Verwendung findet, kann ein dünner, zum Beispiel weniger als 1 /um starker (100)-orientierter
Film sein, der heteroepitaxial auf der alpha-Aluminiumoxidoberflache
abgelagert ist.
Das nachfolgende Beispiel dient der Erläuterung der Arbeits-
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weise dieser Erfindung, ohne den Erfindungsbereich einzuschränken.
Vier kreisrunde gesägte Rohstücke aus alpha-Aluminiumoxid mit
einem Durchmesser von 5 cm und einer Stärke von 350/um wurden
10 Minuten in einen Halbleiteroxidationsofen gegeben. Nach Entfernen
aus dem Ofen und Kühlen wurden die Rohstücke gegen einen
kreisrunden Polierblock mit einem Durchmesser von 12,7 cm und einer Stärke von 1,9 cm gedrückt. Die Blockoberfläche (Unterseite)
weist einen feuchten Stoff auf, beispielsweise "Buehler Microcloth". Die Oberseite des Blocks hat im Zentrum eine 1,9 x
1,9 cm kreisrunde Öffnung, die mit einem 0,32 cm starken Nylonlager ausgekleidet ist. Der Polierblock, mit der Plattenseite
abwärts, wird dann gegenüber der Drehplatte einer Poliermaschine angebracht und gegen diese mit einem Stift gedrückt, der an
einem Druckarm befestigt ist. Die Polierplatte ist mit einem glatten Polierstoff, beispielsweise Pellon 3480 H Papier mittels
Klebstoff bezogen. Dieser Polierstoff, Gewebe oder Papier eignet sich zur Aufnahme der Polierflüssigkeit und zum Benetzen
der alpha-Aluminiumoxidoberflächen, während sich die Drehplatte
mit etwa 300 UpM dreht. Die Polierflüssigkeit besteht aus 25#
"SYTON HT 40" mit Wasser mit einem pH~Wert zwischen 7 und 8
und einer Partikelgröße von 250 bis 300 Ä. Die Polierflüssigkeit
wird im Zentrum der Drehplatte mit einer Geschwindigkeit
von 50 ml/Min, abgegeben. Der Druck auf den Polierblock wird
so eingestellt, daß die Temperatur an der Oberfläche der Drehplatte nahe etwa 800C verbleibt. Das Polieren, d.h. die Ma-
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terialentfernung verläuft dann je nach dem Grad der Schädigung
der alpha-Aluminiumoxidoberflache mit einer Geschwindigkeit
von 4-0 bis 20/Utn/Std. Das Ende des Polierens wird in der
Weise geprüft, daß man die Endoberfläche bei 100-facher Vergrößerung unter einem metallographischen Mikroskop, wie
Reichert oder Leitz, prüft. Unter Phasenkontrasterhellung können so geringe Änderungen der Ebene wie 30 A* mit einer Nomarski-Vorrichtung
festgestellt werden. Ein formloses nicht charakteristisches Aussehen der Oberfläche zeigt das Fehlen von Schaden
an.
Zusammenfassend betrifft die vorliegende Erfindung ein chemisches Polierverfahren für alpha-Aluminiurnoxid unter Verwendung
einer Siliciumdioxidkolloid-Polierflüssigkeit, die sowohl ein Reaktionspartner als auch ein Medium zur Entfernung des Reaktionsprodukts
ist.
Obgleich die Erfindung im Hinblick auf eine bevorzugte Ausführungsform
beschrieben wurde, ist darauf hinzuweisen, daß von dem Fachmann Änderungen oder Modifikationen vorgenommen werden
können, ohne von dem Erfindungsgedanken abzuweichen.
-Patentansprüche-709819/1058
Claims (5)
1.) Verfahren zur Herstellung einer schadlosen Oberfläche auf
alpha-Aluminiumoxid, dadur.ch. gekennzeichnet, daß man eine alpha-Aluminiumoxidoberflache mit einer wäßrigen Suspension eines Siliciumdioxidkolloids poliert.
alpha-Aluminiumoxid, dadur.ch. gekennzeichnet, daß man eine alpha-Aluminiumoxidoberflache mit einer wäßrigen Suspension eines Siliciumdioxidkolloids poliert.
2. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennz e ichnet , daß man eine Flüssigkeit verwendet, die
kolloides Siliciumdioxid in Wasser umfaßt.
kolloides Siliciumdioxid in Wasser umfaßt.
J. Verfahren gemäß Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet
, daß man eine Flüssigkeit verwendet, die
einen p^-Wert von etwa 7 bis 8 hat.
einen p^-Wert von etwa 7 bis 8 hat.
4. Verfahren gemäß Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet
, daß man eine Flüssigkeit verwendet, die weiterhin Salzsäure enthält.
5. Verfahren gemäß Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet
, daß das kolloide Siliciumdioxid eine Partikelgröße von 250 bis 3OO Ä aufweist.
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ORIGINAL INSPECTED
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/629,949 US4011099A (en) | 1975-11-07 | 1975-11-07 | Preparation of damage-free surface on alpha-alumina |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2650743A1 true DE2650743A1 (de) | 1977-05-12 |
Family
ID=24525134
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19762650743 Withdrawn DE2650743A1 (de) | 1975-11-07 | 1976-11-05 | Herstellung von schadensfreien oberflaechen von alpha-aluminiumoxid |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4011099A (de) |
JP (1) | JPS5259093A (de) |
BE (1) | BE848061A (de) |
CA (1) | CA1061691A (de) |
DE (1) | DE2650743A1 (de) |
FR (1) | FR2330754A1 (de) |
GB (1) | GB1527280A (de) |
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1975
- 1975-11-07 US US05/629,949 patent/US4011099A/en not_active Expired - Lifetime
-
1976
- 1976-11-05 FR FR7633526A patent/FR2330754A1/fr active Granted
- 1976-11-05 JP JP51132528A patent/JPS5259093A/ja active Pending
- 1976-11-05 DE DE19762650743 patent/DE2650743A1/de not_active Withdrawn
- 1976-11-05 CA CA265,408A patent/CA1061691A/en not_active Expired
- 1976-11-05 BE BE172139A patent/BE848061A/xx not_active IP Right Cessation
- 1976-11-05 GB GB46109/76A patent/GB1527280A/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2330754A1 (fr) | 1977-06-03 |
US4011099A (en) | 1977-03-08 |
JPS5259093A (en) | 1977-05-16 |
FR2330754B1 (de) | 1981-07-10 |
CA1061691A (en) | 1979-09-04 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8141 | Disposal/no request for examination |