DE2441352A1 - Verfahren zum polieren von zinkselenid - Google Patents

Verfahren zum polieren von zinkselenid

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Description

Verfahren zum Polieren von Zinkselenid
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Polieren von ebenen Zinkselenid-Oberflächen bis zu einem hohen Grad von Oberflächenperfektion.
Halbleitervorrichtungen, wie z.B. integrierte monolithische Schaltungen, Dioden, passive Bauelemente und dergleichen, werden durch verschiedene additive Verfahren, wie z.B. Diffusion oder epitaxiales Aufwachsen von Schichten auf der planaren Oberfläche von Halbleitermaterialien, hergestellt. Zinkselenid ist ein bei der Herstellung solcher Vorrichtungen allgemein bekanntes Material. Die Perfektion einer Zinkselenidoberfläche in bezug auf die Feinstruktur der Oberfläche bis in die Größenordnung von Angström-Einheiten der Grad der Gleichförmigkeit der ebenen Oberfläche und das Fehlen von mechanischen Fehlern und eine große Ebenheit sind fundamentale Erfordernisse für die Herstellung von Halbleitervorrichtungen.
Es ist dabei von Vorteil und erwünscht, daß die Zinkselenidplättchen eine hochgradig polierte Oberfläche aufweisen, bevor die einzelnen Verfahrensschritte durchgeführt werden, deren Wirksamkeit durch die Anwesenheit unerwünschter Oberflächenbedingungen und Verunreinigungen verringert werden könnte. Solche Verfahrensschritte können beispielsweise in der Bildung epitaxial er Schichten auf dem Plättchen, in gesteuerter Diffusion von Störelementen in das Plättchen oder in einer Wärmebehandlung oder auch in der Einkapselung der Vorrichtung liegen.
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Die Ebenheit der Oberfläche des Plättchens ist für photolithographische Maskierverfahren besonders wichtig, da ständig daran gearbeitet wird, die tatsächlichen Größenabmessungen der Vorrichtungen zu verringern. Jede Zunahme des Abstandes zwischen Maske und der Plättchenoberfläche, die sich aus wesentlichen Abweichungen von einem ideal ebenen Plättchen ergeben, beeinflußt die Bildauflösung der Feinstruktur auf der Oberfläche des Plättchens ungünstig. Daraus ergibt sich eine geringe Ausbeute an der Peripherie des Plättchens, wo normalerweise die Unebenheiten ausgeprägter sind, wenn man bei der Herstellung der einzelnen Halbleitervorrichtungen in Richtung der äußeren Kante oder des äußeren Umfangs des Plättchens vordringt. Die Oberflächeneigenschaften des gesamten Plättchens sind außerdem extrem wichtige Kenndaten, da sie für schlechte Vorrichtungen über das ganze Plättchen verantwortlich sein können. Mechanische oder physikalische Defekte und Unregelmäßigkeiten in einer planaren Plättchenoberfläche ergeben auch an der Grenze der Brauchbarkeit liegende oder unbrauchbare Vorrichtungen über die ganze Oberfläche, was sich außerdem noch als Verschwendung von Zeit und als übermäßige Kosten bei geringer Ausbeute darstellt.
Die Oberflächeneigenschaften von Zinkselenid werden insbesondere dann sehr kritisch, wenn die optischen Eigenschaften von Zinkselenid Verwendung finden sollen.
Im Stand der Technik hat man das chemische Ätzen und das mechanische Polieren zum Erzielen fehlerfreier Zinkselenidoberflächen vorgeschlagen.
Theoretisch könnte man, falls man perfektes Zinkselenid hätte, chemisches Ätzen mit Erfolg zur Erzielung fehlerfreier Zinkselenidoberflächen einsetzen. Zinkselenid hat jedoch immer kristalline Defekte und in Bereichen, in denen solche kristallinen Defekte existieren, schreitet ein Ätzvorgang rascher fort als in solchen Bereichen, die frei von solchen kristallinen Defekten sind. Demgemäß hat man bei chemischen Ätzverfahren von Zinkselenidoberflächen einen unter dem Namen "Orangenschaleneffekt" bekannten Effekt festgestellt, der es unmöglich macht, fehlerfreie Zinkselenidoberflächen zu erzielen.
Dem Fachmann leuchtet es ebenfalls ohne weiteres ein, daß man auch bei polykristallinen Materialien wegen der unterschiedlichen kristallographischen Orientierung differentielle Ätzgeschwindigkeiten in beträchtlichem Ausmaß findet.
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Die üblichen mechanischen Polierverfahren, die aus einer Reihe von Abschleif- und Polierschritten bestehen, verwenden Schleif- und Poliermaterialien mit abgestuften Feinheitsgraden. Auf diese Weise lassen sich wohl die meisten Oberflächenkratzer entfernen, jedoch können durch vorangegangene gröbere, mechanische Polierverfahrensschritte in der Kristallstruktur gerade unter der Oberfläche hervorgerufene Beschädigungen nicht entfernt werden.
Demgemäß war es bisher unmöglich, fehlerfreie Zinkselenidoberflachen zu erzielen, gleichgültig ob man dabei chemische Ätzverfahren oder mechanische Polierverfahren anwandte.
Die US-Patentschrift 3 738 882 beschreibt, daß Gallium-Arsenid unter Verwendung von Natrium-Hypochlorit und Natrium-Carbonat poliert werden kann. In dieser Patentschrift findet sich jedoch keinerlei Hinweis, daß Zinkselenid chemischmechanisch poliert werden kann, noch findet man dort einen Hinweis, daß andere Alkalimetalle oder alkaline Erdmetalle, wie z.B. Natrium-Hypobromit, für das chemisch-mechanische Polieren von Cadmium-Tel lurid gemäß der vorliegenden Erfindung brauchbar sind.
Ferner ist es bekannt, daß Callium-Phosphid mit einer Oxybrom id lösung poliert werden kann.
Aufgabe der Erfindung ist es also, ein Verfahren zum Polieren von Zinkselenidoberflächen bis zu einem hohen Grad der Oberflächenperfektion anzugeben. Insbesondere sollen durch das neue Verfahren für alle kristallographische Orientierungen des Zinkselenids fehlerfreie, ebene Zinkselenidoberflächen höchster Qualität erzielbar sein. Vor allem soll durch das neue Verfahren das Polieren sowohl von einkristallinen als von polykristallinen Zinkselenidoberflächen unabhängig vom Leitungstyp zur Erzeugung einer hochglanzpolierten, fehlerfreien, planaren Oberfläche möglich sein. Dies wird gemäß der Erfindung dadurch erreicht, daß man die Zinkselenidoberfläche einem chemisch-mechanischen Polierverfahren aussetzt unter Verwendung von stabilem, wasserlöslichem Alkali- oder Alkalierdmetall-Hypohalogenid benutzt, wodurch die Nachteile der aus dem Stand der Technik bekannten Verfahren vermieden und die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabenstellung gelöst wird.
Die vorliegende Erfindung bezieht sich also ganz eindeutig auf ein chemisch-
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mechanisches Polierverfahren, das sich ganz wesentlich sowohl von rein mechanischen Polierverfahren als von chemischen Ätzverfahren unterscheidet. Beispielsweise reagiert in dem chemisch-mechanischen Polierverfahren von Zinkselenid das Al kali meta 11- oder das Alkalierdmetall-Hypohalogenid als chemische Polierlösung mit der Zinkselenid-Plättchenoberfläche, worauf das Reaktionsprodukt durch eine Polieroberfläche (mechanisches Polieren) zum Freilegen frischen Zinkselenids entfernt wird, das wiederum der beschriebenen Reaktion und Entfernung von Reaktionsprodukten ausgesetzt wird.
Die Zinkselenidoberfläche, die als Ausgangsmaterial für das chemisch-mechanische Polierverfahren gemäß der Erfindung eingesetzt wird, liegt in Form eines dünnen Plättchens vor. Solche Plättchen werden gewöhnlich von einem Zylinder aus Zinkselenid abgesägt, auf einer Läppmaschine unter Verwendung eines feinen Schleifmittels, wie Tonerdepulver, geläppt. Zu diesem Zeitpunkt ist die Oberfläche des Zinkselenidplättchens ziemlich gleichförmig, jedoch mechanisch beschädigt. Das Polierverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung wird im allgemeinen nach einem solchen Vorpolieren eingeleitet. Obgleich das Vorpolieren nicht notwendig ist, ist es doch bei kommerzieller Fertigung besser, vorzupolieren, so daß das chemisch-mechanische Polierverfahren gemäß der Erfindung nur für die endgültigen und kritischen Polierstufen eingesetzt werden muß.
Das chemisch-mechanische Polierverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung kann unter Verwendung handelsüblicher Apparaturen durchgeführt werden. Eine solche Poliervorrichtung ist beispielsweise in der US-Patentschrift 3 436 259 beschrieben und diese kann mit Erfolg für die vorliegende Erfindung eingesetzt werden.
Ganz allgemein gesprochen enthält eine Poliervorrichtung einen Vorratsbehälter mit einem Flüssigkeitseinlauf, einem Flüssigkeitsablauf und einer Platte, auf der in geeigneter Weise eine weiche, jedoch feste Oberfläche zum Polieren der Zinkselenidplättchen angebracht ist. Eine kleinere Platte, auf der die zu polierenden Zinkselenidplättchen angebracht sind, wird in die unmittelbare Nachbarschaft der ersten Platte gebracht. Allgemein wird die kleinere Platte mit den Zinkselenidplättchen gegen die große Polieroberfläche nach oben angedrückt. Es können zwar beide Platten angetrieben sein, doch gewöhnlich wird die Polierscheibe auf der oberen Platte angetrieben, während die Zinkselenidplättchen in Berührung mit der Polieroberfläche darunter hindurchgeführt werden. Typische Polierober-
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flächen, die gemäß der vorliegenden Erfindung einsetzbar sind, sind die handelsüblichen Politexmaterialien. Gleichzeitig mit der Relativbewegung zwischen Zinkselenidplättchen in Berührung mit der Polieroberfläche wird die chemische Polierlösung gemäß der vorliegenden Erfindung auf die Plättchen geleitet, das heißt, normalerweise durch die poröse Polieroberfläche auf die Zinkselenidplättchen aufgetropft, wodurch die Zinkselenidpiättchen durch ihre Berührung mit der rotierenden Polieroberfläche und der chemischen Polierlösung gemäß der Erfindung chemisch-mechanisch poliert werden.
Selbstverständlich stellt die in der US-Patentschrift 3 436 259 offenbarte Vorrichtung nur eine Möglichkeit dar, eine Relativbewegung zwischen Zinkselenidplättchen und ein Polieren der Oberfläche bei gleichzeitigem Einwirken der chemischen Polierlösung gemäß der Erfindung auf die Zinkselenidplättchen zu erzielen, und selbstverständlich lassen sich auch äquivalente Apparaturen einsetzen, die die beiden erforderlichen Funktionen erfüllen.
Bei der chemisch-mechanischen Polierlösung gemäß der Erfindung ist der Hauptbestandteil ein stabiles, wasserlösliches Alkalimetall- oder Alkalierdmetall-Hypohalogenid, wobei der Ausdruck "stabil" bedeuten soll, daß sich das Hypohalogenid während des chemisch-mechanischen Poliervorgangs nicht zersetzt.
Alkalimetall-Hypohalogenide sind bevorzugt einzusetzen und von diesen Materialien werden Natrium und Kalium unter Berücksichtigung der Kosten und der Verfügbarkeit besonders bevorzugt. Lithium, Rubidium und Caesium werden in der Praxis wohl wenig angewandt werden.
Alkaiierdmetall-Hypohalogenide sind nicht so wichtig, und von diesen Materialien wird Calcium vorgezogen. Brom und Chlor sind bevorzugte Halogenide. Fluor und Jod werden jedoch wenig praktische Bedeutung erhalten, da sie dazu neigen, sich in der Form des Hypohalogenids zu zersetzen. Die am meisten bevorzugten Alkalimetall-Hypohalogenide sind Natrium-Hypochlorit und Natrium-Hypobromit, wobei Natrium-Hypochlorit gegenüber Natrium-Hypobromit so wesentlich bessere Ergebnisse liefert, daß man schon von einem artspezifischen Unterschied sprechen kann. Es sind keine eindeutigen Gründe erkennbar, warum Alkalimetall-Hypochlorite in ihrer Art den anderen Alkalimetall- oder Alkalierdmetall-Hypohalogeniden beim Polieren von Zinkselenid so überlegen sind. Logischerweise würde man erwarten, daß bei allen diesen Hypohalogeniden im wesentlichen äquivalente
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Ergebnisse erzielbar seien. Man erhält jedoch wesentlich bessere Ergebnisse mit Alkalimetall-Hypochloriten, insbesondere mit Natrium-Hypochlorit, verglichen mit den anderen Hypohalogeniden.
Bei den Hypohalogeniden kann der Sauerstoffanteil als das aktiv wirkende, chemische Polieragens angesehen werden, während das Alkalimetall oder das Alkalierdmetall als Träger für den Sauerstoffanteil und der Halogenidanteil als Modifiziermittel betrachtet werden kann.
Solange unlösliche Fällprodukte nicht gebildet werden, können Alkalimetalloder Alkalierdmetall-Hypohalogenide in Kombination mit einem wasserlöslichen Alkalimetall-Carbonat oder Bicarbonat benutzt werden.
Die Verwendung eines Alkalimetall-Bicarbonats wird bei Verwendung von Natrium-Hypochlorit besonders bevorzugt, da das im Handel befindliche Natrium-Hypochlorit normalerweise Natrium-Hydroxid, Natrium-Chlorid und dergleichen enthält. Während Natrium-Chlorid in der chemischen Polierlösung gemäß der Erfindung als inertes Material wirkt, müssen starke Basen, wie z.B. Natrium-Hydroxid, vermieden werden, da sie die Oberflächenqualität von Zinkselenid nachteilig beeinflussen. Natrium-Bicarbonat dient dazu, starke Basen, wie z.B. Natrium-Hydroxid, zu beseitigen, so daß damit sichergestellt wird, daß man vollkommene Zinkselenidoberflächen erzielt. Das Natrium-Bicarbonat wird lediglich in so großen Mengen eingesetzt, daß man damit eventuell vorhandene starke Basen neutralisieren kann.
Die Anwesenheit eines Alkalimetail-Carbonats, das ein zusätzliches Merkmal der Erfindung darstellt, dient zur Verbesserung des chemisch-mechanischen Polierverfahrens. Das bevorzugte Carbonat ist Natrium-Carbonat. Wird Alkalimetall-Carbonat benutzt, dann ist es mit einem äquimolaren oder größeren Anteil, basierend auf dem verwendeten Hypoha logen id, anwesend. Das Alkalimetall-Carbonat sollte jedoch mit solchen Hypohalogeniden nicht verwendet werden, bei denen Fällprodukte entstehen könnten, beispielsweise in Verbindung mit Lithium-Hypochlorit.
Unter Berücksichtigung dieser Angaben soll die chemische Polierlösung gemäß der Erfindung vorzugsweise mit einem pH-Wert oberhalb von 8, insbesondere aber mit einem pH-Wert im Bereich zwischen 9 und 11 verwendet werden.
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Anschließend soll der Kürze halber das Alkalimetall-Hypohalogenid oder das Aikalierdmetall-Hypohalogenid als der aktive Bestandteil der chemischen Polierlösung gemäß der Erfindung bezeichnet werden.
Die chemische Polierlösung gemäß der Erfindung wird in Form einer wässrigen Lösung eingesetzt. Falls erwünscht, kann ein Teil des zum Auflösen der aktiven Bestandteile gemäß der Erfindung benutzten Wassers durch andere organische oder anorganische Lösungsmittel ersetzt werden, sofern sie nur in dem System inert sind. Im allgemeinen kann man jedoch durch Austausch von Wasser in der chemischen Polierlösung durch solche sekundären Lösungsmittel wenig erreichen, da sie das System nur komplizieren, ohne zusätzliche günstige Auswirkungen zu haben.
Außerdem können in der chemischen Polierlösung inerte Materialien, wie z.B. Nitrate und Sulfate, anwesend sein. Solche inerten Materialien haben weder günstige noch schädliche Einflüsse auf das chemisch-mechanische Polieren gemäß der Erfindung und werden im allgemeinen nicht eingesetzt.
Die Menge der aktiven Bestandteile der chemischen Polierlösung ist nicht besonders kritisch, doch gibt es einige Zusammensetzungen, mit denen sich besonders günstige Ergebnisse erzielen lassen. Im allgemeinen wird man die Hypohalogenide in einer molaren Konzentration von etwa 0,2 bis 0,8 einsetzen, wobei man bei molaren Konzentrationen von etwa 0,4 besonders gute Ergebnisse erzielt.
Selbstverständlich kann man auch größere Mengen von Hypohalogeniden einsetzen, erreicht aber mit diesen höheren Anteilen keine zusätzlichen Vorteile im Vergleich mit einer molaren Konzentration von etwa 0,8, und bei besonders hohen Anteilen an Hypohalogeniden neigen die chemischen Polierlösungen zur Instabilität und die Reproduzierbarkeit wird schlecht.
Verwendet man andererseits Anteile an Hypohalogeniden mit einer molaren Konzentration weit unterhalb von 0,2, so wird die chemische Polieraktivität sehr stark verringert, wobei kleinere Anteile an Hypohalogeniden entsprechend verringerte oder verschlechterte Ergebnisse liefern. Dies ist jedoch kein artmäßiger oder qualitativer Unterschied, sondern ergibt lediglich ein Abfallen des Wirkungsgrades.
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Wenn demgemäß nur kleine Mengen abgetragen werden müssen, beispielsweise einige Mikron, dann kann eine chemische Polierlösung mit einer molaren Konzentration von Hypohalogeniden von wesentlich weniger als 0,2 als wirksames Poliermittel eingesetzt werden.
Während des chemisch-mechanischen Polierverfahrens gemäß der Erfindung fließt die chemische Polierlösung über die Zinkselenidplättchen, während sie poliert werden, mit hohen Strömungsgeschwindigkeiten. Die exakte Strömungsgeschwindigkeit schwankt natürlich in Abhängigkeit von dem erforderlichen Polieren bei einer bestimmten Gruppe von Zinkselenidplättchen, dem Polierdruck, dem Anteil an aktiven Bestandteilen und anderen Faktoren.
Das einzige wichtige Kriterium, das eingehalten werden muß, liegt darin, daß immer ausreichend chemische Polierlösung vorhanden sein muß, so daß eine Reaktion mit frisch freigelegter Zinkselenidoberfläche dann sichergestellt ist, wenn das Reaktionsprodukt durch mechanisches Polieren entfernt ist. Eine genaue Strömungsgeschwindigkeit oder Tropfgeschwindigkeit kann leicht durch einige Versuche ermittelt werden, wobei man zunächst mit einer niedrigen Tropfgeschwindigkeit anfängt und dann die Tropfgeschwindigkeit so lange erhöht, bis man ein zufriedenstellendes chemisch-mechanisches Polieren erzielt.
Für die meisten kommerziellen Anwendungsgebiete liegt die Strömungs- oder Tropfgeschwindigkeit für die chemische Polierlösung zwischen vier ml/min, und 50 ml/min. je Mikron abzutragenden Zinkselenids.
Ein wichtiger Parameter, der bei dem chemisch-mechanischen Polierverfahren gemäß der Erfindung eingehalten werden muß, ist die Relativbewegung zwischen der zu polierenden Oberfläche des Zinkselenidplättchens und der polierenden Oberfläche bei einem bestimmten angelegten Anpreßdruck. Bei dem chemischmechanischen Polierverfahren gemäß der Erfindung ist es erforderlich, daß der
2 Anpreßdruck im Bereich zwischen 100 bis etwa 500 g/cm des zu polierenden Zinkselenidoberflächenbereichs liegt und es ist insbesondere günstig, wenn der
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Anpreßdruck im Bereich zwischen 200 g/cm und 300 g/cm freiliegender Zinkselenidoberfläche des Plättchens liegt. Wird dieser Druck nicht innerhalb dieses Bereiches aufrechterhalten, erhält man einen gelben Oberflächenfilm.
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Folgt man diesen allgemeinen Richtlinien für den Druck beim chemisch-mechanischen Polieren und für die Tropfgeschwindigkeit der chemischen Polierlösung, dann können Zinkselenidplättchen mit gutem Wirkungsgrad so poliert werden, daß sie eine fehlerfreie, im wesentlichen perfekte Oberfläche zeigen, wobei das Zinkselenid mit einer Geschwindigkeit von 0,025 mm je Stunde oder schneller abgetragen werden kann.
Das chemisch-mechanische Polierverfahren gemäß der Erfindung wird im allgemeinen bei Zimmertemperatur und in einem nach der Atmosphäre offenen System durchgeführt, obgleich es bei diesem Verfahren nichts gibt, was einen daran hindern könnte, höhere oder niedere Temperaturen und/oder Drücke zu verwenden, falls man das wünscht.
Die Größe der Relativbewegung zwischen den Zinkselenidplättchen und ihren Oberflächen und der Polieroberfläche ist nicht übermäßig wichtig. Die meisten handelsüblichen Poliervorrichtungen, die bei der Durchführung der vorliegenden Erfindung einsetzbar sind, arbeiten in dem Bereich zwischen 30 und etwa 100 Umdrehungen pro Minute mit einer Polierscheibe mit einem Durchmesser von etwa 30 cm, und man erhält über diesen gesamten Bereich gute Ergebnisse.
Der letzte Schritt bei dem Verfahren gemäß der Erfindung besteht vorzugsweise darin, die polierte Oberfläche des Zinkselenids von allen Resten der chemischen Polierlösung zu reinigen. Dies wird in einfachster Weise dadurch erreicht, daß man das Einströmen von chemischer Polierlösung durch ein Einströmen einer nichtpolierenden Lösung, wie z.B. Wasser, ersetzt, worauf die polierten Zinkselenidplättchen fehlerfreie Oberflächen aufweisen und aus der Poliervorrichtung entnommen werden können.
Nachdem nunmehr die Erfindung in allgemeinen Worten dargestellt wurde, soll im folgenden ein tatsächlich ausgeführtes Beispiel eines bestimmten Verfahrens, unter Verwendung des chemisch-mechanischen Polierverfahrens gemäß der Erfindung, beschrieben werden. Falls nichts anderes angegeben, sind alle Prozentsätze und Teile als Gewichtsprozente oder Gewichtsteile angegeben.
Beispiel 1
Acht polykristalline, kreisförmige Zinkselenidplättchen von 6,35 mm Dicke und
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einer Oberfläche von 12,9 cm (die zu polierende Seite) wurden nach dem erfindungsgemäßen Verfahren poliert.
Die Zinkselenidplättchen wurden zunächst mit Tonerdepulver gemäß bekannter Verfahren geläppt.
Die acht Plättchen wurden dann in einer Poliervorrichtung gemäß US-Patentschrift 3 436 259 auf einer kreisförmigen Polierscheibe mit einem Durchmesser von etwa 30 cm befestigt.
Die chemische Polierlösung gemäß der Erfindung bestand aus einer wässrigen Lösung von Natrium-Hypochlorit mit einer molaren Konzentration von 0,4 und Natrium-Carbonat mit einem äquimoiaren Anteil zum Natrium-Oxychlorit.
Die chemische Polierlösung wurde auf die Polierfläche aufgetropft, die in diesem Fall eine aus Politex bestehende Polierscheibe war, und zwar mit einer Tropfgeschwindigkeit von 10 ccm/min. und die Zinkselenidplättchen wurden unter Auf-
rechterhaltung eines Anpreßdrucks von 300 g/cm und einer Rotationsgeschwindigkeit von etwa 65 Umdrehungen pro Minute mit der Polieroberfläche in Berührung gebracht.
Nach einer Stunde chemisch-mechanischen Polierens waren 0,025 mm Zinkselenid abgetragen.
Nach dem chemisch-mechanischen Polieren wurde das Auftropfen der chemischen Polierlösung eingestellt und die Zinkselenidplättchen mit ent ionisiertem Wasser gewaschen und in einer Stickstoffatmosphäre getrocknet.
Die Prüfung der Zinkselenidplättchen und ihrer Oberflächen zeigten, daß sie durchscheinend waren und einen extrem hohen Grad von Oberflächenperfektion aufwiesen. Unter dem Mikroskop war keinerlei bevorzugte Ätzung längs der Korngrenzen erkennbar.
Das chemisch-mechanische Polieren wurde bei Umgebungstemperatur in einem zur Atmosphäre offenen System durchgeführt.
Andere Versuchsläufe wurden mit anderen chemischen Polierlosungen durchge-
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führt, beispielsweise mit CrO3; K_Cr2O_ und KM 0_, das angesäuert war entweder mit HNO_ oder HF, doch in aller selbst nach längerem Polieren narbig.
weder mit HNO_ oder HF, doch in allen Fällen blieb die Oberfläche des Zinkselenids
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Claims (11)

PATENTANSPRÜCHE
1. ) Verfahren zum Polieren einer Zinkselenidoberfiäche mit einem hohen Grad
von Oberflächenperfektion, gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte:
Die Zinkselenidoberfiäche wird kontinuierlich mit einer Überschußmenge einer wässrigen, chemischen Polierlösung benetzt gehalten, die ein Alkalimetal I-Hyphalogenid oder ein Alkalierdmetall-Hypohalogenid enthält;
die Zinkselenidoberfiäche wird ständig mit einer festen, doch weichen Oberfläche unter einem merklichen Anpreßdruck abgerieben, während gleichzeitig eine Relativbewegung zwischen der Zinkselenidoberfiäche und der festen Oberfläche aufrechterhalten wird, wodurch das Zinkselenid von den höhergelegenen Punkten der Zinkselenidoberfiäche entfernt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Hypoha logen id ein Alkalimetall-Hypohalogenid verwendet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Alkalimetall Natrium oder Kalium verwendet wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Halogenidanteil aus Brom oder Chlor besteht.
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Hypohalogenid ein Natrium-Hypochlorit verwendet wird.
6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der wässrigen, chemischen Polierlösung das Hypohalogenid mit einer molaren Konzentration zwischen 0,2 und etwa 0,8 verwendet wird.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß bei dem chemischmechanischen Poliervorgang auf das Zinkselenid ein Anpreßdruck von
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etwa 100 bis etwa 500 g/cm ausgeübt wird.
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8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß beim chemischmechanischen Polieren von Zinkselenid ein Anpreßdruck im Bereich zwischen 200 und 300 g/cm der Zinkselenidoberfläche ausgeübt wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Hypohalogenid in der wässrigen, chemischen Polierlösung in einer molaren Konzentration von etwa 0,4 verwendet wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß als Hypohalogenid Natrium-Hypochlorit verwendet wird.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß in der wässrigen, chemischen Polier lösung außerdem noch Natrium-Carbonat verwendet wird.
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3979239A (en) * 1974-12-30 1976-09-07 Monsanto Company Process for chemical-mechanical polishing of III-V semiconductor materials
US4435247A (en) 1983-03-10 1984-03-06 International Business Machines Corporation Method for polishing titanium carbide
JPH06101456B2 (ja) * 1986-06-10 1994-12-12 株式会社ジャパンエナジー CdTeウェーハの鏡面研磨液ならびに鏡面研磨方法
US5783497A (en) * 1994-08-02 1998-07-21 Sematech, Inc. Forced-flow wafer polisher
US5562530A (en) * 1994-08-02 1996-10-08 Sematech, Inc. Pulsed-force chemical mechanical polishing
US5527423A (en) * 1994-10-06 1996-06-18 Cabot Corporation Chemical mechanical polishing slurry for metal layers
US5968238A (en) * 1998-02-18 1999-10-19 Turtle Wax, Inc. Polishing composition including water soluble polishing agent
FR2778356B1 (fr) * 1998-05-06 2000-08-04 Optique De Precision Et Applic Procede de traitement de pieces optiques
US7351662B2 (en) * 2005-01-07 2008-04-01 Dupont Air Products Nanomaterials Llc Composition and associated method for catalyzing removal rates of dielectric films during chemical mechanical planarization
CN100469531C (zh) * 2007-09-14 2009-03-18 中国科学院上海光学精密机械研究所 氧化锌单晶衬底级基片的抛光方法
US9981435B2 (en) 2014-12-17 2018-05-29 Novartis Ag Reusable lens molds and methods of use thereof

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL192840A (de) * 1954-12-01
US3143447A (en) * 1960-12-22 1964-08-04 Marriner K Norr Chemical etches for lead telluride crystals
US3342652A (en) * 1964-04-02 1967-09-19 Ibm Chemical polishing of a semi-conductor substrate
US3429756A (en) * 1965-02-05 1969-02-25 Monsanto Co Method for the preparation of inorganic single crystal and polycrystalline electronic materials
US3629023A (en) * 1968-07-17 1971-12-21 Minnesota Mining & Mfg METHOD OF CHEMICALLY POLISHING CRYSTALS OF II(b){14 VI(a) SYSTEM
US3775201A (en) * 1971-10-26 1973-11-27 Ibm Method for polishing semiconductor gallium phosphide planar surfaces

Also Published As

Publication number Publication date
US3869323A (en) 1975-03-04
FR2256002A1 (de) 1975-07-25
FR2256002B1 (de) 1976-10-22
JPS5099467A (de) 1975-08-07
GB1443299A (en) 1976-07-21

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