DE2514671A1 - Raster zur projektion eines lichtmusters auf eine referenzebene und verfahren zur herstellung eines solchen rasters - Google Patents

Raster zur projektion eines lichtmusters auf eine referenzebene und verfahren zur herstellung eines solchen rasters

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DE2514671A1 DE19752514671 DE2514671A DE2514671A1 DE 2514671 A1 DE2514671 A1 DE 2514671A1 DE 19752514671 DE19752514671 DE 19752514671 DE 2514671 A DE2514671 A DE 2514671A DE 2514671 A1 DE2514671 A1 DE 2514671A1
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plane
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Patrice Benoit
Ernst Mathieu
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Compagnie Electro Mecanique SA
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    • G02B27/60—Systems using moiré fringes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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