DE2513832A1 - Probenkammer fuer elektronenoptische untersuchungen - Google Patents
Probenkammer fuer elektronenoptische untersuchungenInfo
- Publication number
- DE2513832A1 DE2513832A1 DE19752513832 DE2513832A DE2513832A1 DE 2513832 A1 DE2513832 A1 DE 2513832A1 DE 19752513832 DE19752513832 DE 19752513832 DE 2513832 A DE2513832 A DE 2513832A DE 2513832 A1 DE2513832 A1 DE 2513832A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- chamber according
- housing
- sample
- chamber
- sample chamber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/20—Means for supporting or positioning the objects or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/2001—Maintaining constant desired temperature
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/2002—Controlling environment of sample
- H01J2237/2003—Environmental cells
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
DR. STEPHAN G. BESZEDES PATENTANWALT
806 DACHAU bei MÜNCHEN
POSTFACH 1168
Konto-Nr. 136871
Bankkonto Nr. 90 837 bei der Kreis- und Stadt·
•ptrkMM Dachau-Inderadorf (BLZ 700 SIS 40)
P 801
Be3Chrei b u η g
zur Patentanmeldung
NOVEX FOREIGN TRADE CO., LTD. S1OR DEVELOPMENT
AND COMMERCIALISATION OF INVENTIONS
Budapest, Ungarn
betreffend
Probenkammer für elektronenoptische Untersuchungen
Die Erfindung betrifft eine Probenkammer» insbesondere für
Untersuchungen an biologischen Proben in vitro.
Mit dem Elektronenmikroskop, das auch bei außerordentlich hoher (die Vergrößerungsgrenze des Lichtmikroskopes um etwa
das 1 500-fache überschreitender) Vergrößerung noch eine aus-
509840/0838
gezeichnete Auflösung ergibts können biologische Proben gegenwärtig
nur nach langwieriger Präparation und dann auch nur in
leblosem, zerstörtem Zustand untersucht werden· Die Tiefenschärfe der Abbildung ist "beim Elektronenmikroskop sehr hoch,
wobei im Gegensatz zu Lichtsikr-oskopen, hohen Auflösungsvermögens
nicht nur diejenigen Teile des Objslrbes scharf erscheinen,
auf die das Elektronenmikroskop eiagestellt ist,
soaderü auch die vor oder kiatsx- der Einstellung befindlichen
feile,
Seit der Einführung des Elektronenmikroskopes ist die
elektronenmikroskopische Untersuchung lebender Proben ein
ungelöstes Problem, wobei gerade &v,£ diesem Wege die Biologie
und die Medizin zu grundlegende?! Erkenntnissen (zvtm. Beispiel
duroii genauere Erforschung c@r Virsn, Filmaufnahmen von
a Bewegung beziehungsweise Diagnose) gelangen könnten.
Wegen des im Elektronenmikroskop herrschendes, außeroriient
ix.
lieh, geringen (etwa in der Größenordnung iron 10"* Sorr liegenden)
Druckes ist es bei den in unmittelbarer Verbindung mit asm evakuierten Haum stehenden Prozeß misöglieh9 auch nur
annäharnd physiologisch© BedingüSgtE aufrseiitsuerlialten. Aus
diesem Grunde wurden zur elektsoneriHiicrüskopischen Untersuchung
biologischer1 Proben bisher abgeschlossene Probealcammern
verwendet, bei denen das z-u untersuchende Objekt" von zwei
dünnen, die elektronenmikroskopisohcä Betraöhuimg wenig störenden
Fenstern eingeschlossen ist« Ea fenster mit Stärken von
weniger als 300 bis 400 S der Saugviirkimg des im Elektronenmikroskop
herrschenden Hochvakuums nicht oäer nur loirse Seit
widerstehen und mit der bei den allgemein verwendeten Elektronenmikroskopen üblichen Besohlsunigerspannung von 50 "bis
100 kV nur höchstens i 000 f. starke Schichten durohleuchtet
werden- können (was imt©£- Bsrüeksioiitisims 500- % starker
feiAster fü^ die zu. loitas-gtiaiieade Krao® hbst^mis, 'sine Stärke
B0S840/0838
_ 3 —
von 400 A* ergibt), wurden Versuche zur Erhöhung der Beschleunigerspannung
angestellt. Bei mit der zur Durchleuchtung dickerer Proben notwendigen Beschleunigerspannung von etwa
1 000 "bis 3 000 kV arbeitenden Elektronenmikroskopen kann in
einem geschlossenen System die Untersuchung der Probe unter physiologischen Bedingungen prinzipiell zwar gelöst werden,
jedoch sind derartige Elektronenmikroskope außerordentlich kompliziert aufgebaut und mit außerordentlich hohem Aufwand
verbunden, ihre Inbetriebhaltung ist schwierig und während der Untersuchung erleiden die Proben durch die hohe Beschleunigerspannung
Schäden, Weiterhin ist es nachteilig, daß, falls ein Fenster zerreißt, zur Reparatur der sich aus den Verschmutzungen
ergebenden Betriebsstörung viel Zeit, besonders geschultes Personal und komplizierte Vorrichtungen erforderlich
sind [θ. L. Allison: Septieme Congres International de Microscopie
Electronique, Grenoble (1970), 169; Α· Fukami, T. Etoh, N. Ishihara, M. Katoh und K. Fujiwara: Septieme Congres International
de Microscopie Electronique, Grenoble (1970), 171»
H. G. Heide: J. Gell. Biol. 1j5 (1962), 147; I. G. Stoyanowa
und G. A. Michalowski: Biofisika, SU, 4 (1959), 483;
G. Dupouy, P. Perrier, L» Durrieu: Compt· Rend. 251 (1960),
2 836; K. F. Hale, H. Brown und 0. L. Allison: Septieme
Congres International de Microscopie Electronique, Grenoble (1970), 297].
Auch mit fensterlosen, das heißt offenen Systemen wurden Versuche durchgeführt, die jedoch keine befriedigenden Ergebnisse
brachten. Das Problem des kontinuierlichen Einbringens von Proben konnte nicht gelöst werden, vom eventuellen
Einbringen biologischer Reagenzien gar nicht zu reden. Nachteilig ist es weiterhin, daß der einmal in den Weg des Elektronenstrahles
eingebrachte verhältnismäßig große Probetropfen bei der Berührung mit dem evakuierten Raum in Ermangelung
eines Puffersystemes sofort zerplatzt und verdampft und da-
- 4 S098A0/0838
durch die Probe innerhalb außerordentlich kurzer Zeit (einige Sekunden) nicht untersuchbar wird [d. F. Parson und R, 0.
Moretz: Septieme Congres International de Microscopie
Electronique, Grenoble (1970)f 497; P. E. Ward und R. F,
Mitchell: Proc. 25th Anniversary Meeting of EMAG, Institute of Physics, London (1971)].
Me elektronenmikroskopische Untersuchung eingefrorener Gewebeproben war bisher nicht in befriedigender Weise lösbar.
Zum Schneiden von für die elekoronenmikroskopische Untersuchung
geeigneten eingefrorenen Gewebeproben sind zwar geeignete Geräte bekannt (zum Beispiel das Ultramikrotom-
-Schneidgerät der Firmen LKB !Stockholm, Schweden] und
Reichert IWien, Österreich ), die erhaltenen Dünnschnitte
verlieren jedoch gleich nach ihrem Einbringen in das Elektronenmikroskop durch das EGohvateuxim ihren Wassergehalt
und sind danach für die Untersuchung unbrauchbar» Deswegen werden die zu untersuchenden Gewebe aufgewärmt und präpariert
und dann in trockenem Zustand in das Elektronenmikroskop eingebracht· Beim langwierigen und komplizierten Präpariervorgang
wird das Gewebe gedoch wenigstens zum Teil zerstört,
seine Untersuchung bietet also keine genauen Informationen [w, Bernard und H. E, Leducj Je Gell, BIoI3 J4 (1967)» 757]·
Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung einer Probenkammer,
welche eine einfache Möglichkeit zur Untersuchung "biologischer
Objekte unter annähernd physiologischen Bedingungen bietet und die unmittelbare, das heißt keine Vorbehandlung, Präparation
oder sonstigen Arbeitsgänge erfordernde Untersuchung
gefrorener Gewebeproben ermöglicht.
Gegenstand der Erfindung ist eine Probenkammer für
elektronenoptische Untersuchungen mit zumindest einer Eintrittsstelle für den Elektronenstrahl und ainejn Probenhalter,
welche dadurch gekennzeichnet ist, daß die Eintrittsstelle
einer nickt abgedecktes liateittsöffsmag ia ©isozn β®==
= 5 = E0I84Ö/0S3S
häuse besteht und daß an das Gehäuse ein druckausgleichendes
Puffersystem angeschlossen ist.
Da in der erfindungsgemäßen Probenkammer die zu untersuchende
Probe über die den Elektronenstrahl durchlassende (n) Eintrittsöffnung(en) mit dem evakuierten Raum in
unmittelbarer Verbindung steht, muß die Saugwirkung des Hochvakuums kompensiert werden. Zu diesem Zweck hat die erfindungsgemäße
Probenkammer das druckausgleichende Puffersystem. Durch Einschaltung dieses Puffersystemes werden einerseits
annähernd physiologische Bedingungen gewährleistet, andererseits wird das schnelle Zerplatzen der Probe beziehungsweise ihre durch Flüssigkeitsverlust eintretende Schädigung verhindert .
annähernd physiologische Bedingungen gewährleistet, andererseits wird das schnelle Zerplatzen der Probe beziehungsweise ihre durch Flüssigkeitsverlust eintretende Schädigung verhindert .
Nach einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Probenkammer
ist im Gehäuse zusätzlich zur Eintrittsöffnung eine
Austrittsöffnung angebracht, wobei diese auf einer Achse
liegen oder auf eine Achse zentrierbar sind, die mit derjenigen des Elektronenstrahles zusammenfällt.
Austrittsöffnung angebracht, wobei diese auf einer Achse
liegen oder auf eine Achse zentrierbar sind, die mit derjenigen des Elektronenstrahles zusammenfällt.
Nach einer anderen Ausführungsform der erfindungsgemäßen
Probenkammer sind im Gehäuse zusätzlich zur Eintrittsöffnung
mehrere an beliebigen Stellen angeordnete Austrittsöffnungen angebracht.
Zweckmäßigerweise befindet sich über der Eintritts- oder der Austrittsöffnung beziehungsweise den Austrittsöffnungen
ein Verschluß.
Nach einer Ausführungsform der erfindungsgemäßeη Probenkammer
ist das Gehäuse aus einem Stück ausgebildet.
5098Λ0/0838
Nach einer anderen Ausführungsform der erfindungsgemäßen
Probenkammer besteht das Gehäuse aus zwei gegeneinander beweglichen
Teilen, und zwar einem mit einer Eintrittsöffnung
versehenen Oberteil und einem mit einer Austrittsöffnung versehenen Unterteil.
Nach einer vorteilhaften Ausführungsform der erfindungsgemäßen
-Probenkammer steht das druckausgleichende Puffersystem über ein. Rohr mit dem Gehäuse in Verbindung und ist
als Flüssigkeitsbehälter ausgebildet.
Nach einer anderen vorteilhaften Ausführungsform der erfindungsgemäßen
Probenkammer steht das druckausgleichende Puffersystem über- ein Eohr mit dem Gehäuse in Verbindung
und ist als mit einem Druckregler, insbesondere einem Nadelventil, versehener Gasbehälter ausgeführt.
Nach einer weiteren Auaführmigsform der erfindungsgemäßen
Probenkammer ist das druckausgleichends Puffersystem als mit einem Druckregler, insbesondere einem Nadelventil, versehener,
in einen Gasraum ragender Rohrstutzen ausgebildet.
Im druckausgleichenden P\i£fersystem kann sich außer einem
Fluid noch ein Reagens, insbesondere ein Kontrastmittel, befinden, falls ein solches au verwenden ist.
Das Gehäuse kann gans oder teilweise von einer gekühlten
Schutzhülle umgeben sein.
Ferner weist die erf indtuagsgemäße Probenkammer vorzugsweise
einen Rohrkanal zum Einführen der Probe auf.
Auch ist es bevorzugt, daß die erfindmigsgemäße Probenkammer
einen mit einem Wischer versehenen Abstreicher hat. Dabei ist nach einer besonders vorteilhaften Ausführungsform
— 7 — 5098A0/0838
der Abstreicher als Rohr zum Einführen von Reagenzien, insbesondere
biologisch aktiven Stoffen und/oder Kontraststoffen, ausgebildet.
Ferner weist die erfindungsgemäße Probenkammer vorzugsweise
einen die Temperatur der zu untersuchenden Probe regelnden Temperaturregler auf. Zweckmäßigerweise hat dabei
die erfindungsgemäße Probenkammer auch einen, vorzugsweise beim Verschluß am Gehäuse angeordneten, Meßfühler. Nach einer
vorteilhaften Ausführungsform ist der Temperaturregler auf ein Kühlmittel, vorzugsweise flüssigen Stickstoff, einwirkend
ausgebildet.
Nach einer weiteren bevorzugten Ausführungsform weist das Gehäuse einen zum Verdampfen von Reagenzien, insbesondere
Kontraststoffen, geeigneten Einlaß auf.
Vorzugsweise steht der Probenhalter mit einem Kühlbehälter in Verbindung.
Ferner ist es bevorzugt, daß der Probenhalter mit einem Thermostatelement in Verbindung steht.
Es kann auch vorteilhafterweise ein Rohrkanal zur Einleitung von Reagenzien vorgesehen sein.
Die Erfindung ist nachstehend an Hand von Ausführungsbeispielen
beschrieben. Es zeigen:
Figur 1 den Aufbau und das Funktionsprinzip der erfindungsgemäßen Probenkammer in schematischer
Darstellung und
Figuren 2 bis 4 weitere Ausführungsbeispiele erfindungsgemäßer
Probenkammern in Figur 1 ähnlichen Darstellungen,
509840/0838
Die in Figur 1 dargestellte Probenkammer umfaßt ein Gehäuse 1, das Mit einer Eintritts öffnung 2 und einer Austaitbsöffnung
3 versehen ist., wobei diese Öffnungen auf einer Achse
liegen oder auf eine Achse zentrierbar sind. Ferner umfaßt die Probenkammer einen im Gehäuse 1 angebrachten Probenhalter
und ein aich an das Gehäuse 1 anschließendes druckausgleichendes
Puffersystem 8.
Die in Figur 1 dargestellte Probenkammer ist außer zur Untersuchung von biologisohen Objekten und eingefrorenen Gewebeproben
zur elektronenmikroskopischen Untersuchung aller Proben, bei denen die Kompensierung der Wirkung des evakuierten
Raumes unbedingt erforderlich oder vorteilhaft ist, geeignet. Da eine besondere Ausführungsform der erfindungsgemäßen
Probenkammer auch die kontinuierliche Proben- und/oder Reagenzienzuführung ermöglicht 9 ist die Probenkammer auch zum
Studium physiologisch-chemischer, chemischer und biochemischer !Reaktionen geeignet. Im Hinblick darauf, daß das wichtigste
Anwendungsgebiet der erfindungsgemäßen Probenkammer die Untersuchung
biologischer Proben ists n±rä im folgenden die Probenkammer
in erster Linie in Bezug auf biologische Anwendungsgebiete
beschrieben-; chne indessen ils Erfindung auf dieses
Anwendungsgebiet sia
Bas in Figur 1 dargeet©111;5 mit uqiü G-ehän©© 1 der Proben·=
kammer übe? ein Rohr 7 la YsrMndnng stsh'sM® Puffsrsystem
kann ein Behalte? ssin^ im welefess sish Flüssigkeit "befindet*
Aus de® Behälter- gelangt duroli etas ReM? 7 %?'©2,:'Iaapfte Flüssig-keit
beziehungsweise Flüssigkeit In das Gehäuse 1 und kompensiert
dort das Verdampfen der Probe mnd die Wirkung des mit
der Probe über die Sin- und die Austrittaöffnung 2 beziehungsweise
3 in Verbindung stehenden evakuierten Raumes ι in der Um
gebung der Probe liegt also der für die physiologisches, Bedingungen notwendige Druck Y©r und es sind gleiehseitig die
509840
/0
für die Lebensbedingungen der zu untersuchenden Probe notwendigen Parameter (zum Beispiel feuchte Atmosphäre) vorhanden.
Der Behälter des Puffersystemes 8 wird mit einer Flüssigkeit, welche die zu untersuchende Probe nicht
schädigt beziehungsweise die zu untersuchende biologische Reaktion nicht stört, gefüllt· Zweckmäßigerweise wird als
Flüssigkeit Wasser verwendet. Gegebenenfalls kann der Behälter auch mit einem Reagens, welches beim Zusammentreffen
mit der Probe eine Reaktion auslöst, gefüllt werden. Als solche Reagenzien kommen zum Beispiel Kontraststoffe in
Frage·
Das druckausgleichende Puffersystem 8 kann auch ein mit einem geeigneten Druckregler, zum Beispiel einem Nadelventil,
versehener Gasbehälter oder ein mit einem Gasraum in Verbindung stehender Rohrstutzen sein. Dies ist vor allem
bei eingefrorenen Proben vorteilhaft, bei denen nur eine Druckkompensation notwendig ist, die Aufrechterhaltung einer
feuchten Atmosphäre hingegen nicht erforderlich ist. Das eingeleitete Gas ist zweckmäßig Luft. Mit dem Gas zusammen
kann der Probe ähnlich wie oben beschrieben auch ein Reagens zugeführt werden.
Die beiden im Gehäuse 1 ausgebildeten öffnungen 2, 3
haben zweckmäßig den gleichen oder um höchstens eine Größenordnung voneinander abweichende Durohmesser· Durch diese
öffnungen gelangt der Elektronenstrahl auf die Probe beziehungsweise,
nachdem er diese durchwandert hat, wieder hinaus. Der Durchmesser der öffnungen kann 30 bis 100 ^i betragen,
erforderlichenfalls können jedoch auch größere oder kleinere Durchmesser vorliegen. Wenn das Gehäuse 1 aus einem
Stück ausgebildet ist, dann müssen die Eintritts- und AustrittsöfÄungen
2 beziehungsweise 3 unbedingt auf einer Achse liegen. Das Gehäuse 1 kann jedoch auch aus zwei gegeneinander
beweglichen Teilen ausgebildet sein; in diesem Falle werden
- 10 -
5098A0/0838
- ίο -
vor der Messung die im oberen Teil befindliche Eintrittsöffnung 2 und die im unteren Teil befindliche Austrittβöffnung
3 durch Zentrieren auf eine Achse gebracht.
Der Probenhalter 4 ist ein den Durchgang des Elektronenstrahles
gestaltendes Element, sum Beispiel eine Siebplatte, ein Rost oder eine mit einer Öffnung versehene Platte. Im
letzteren Falle wird in die öffnung ein aus dem zu untersuchenden Material gebildeter Film ausgespannt.
Eine vor allem zur Untersuchung von flüssigen biologischen Proben in vitro geeignete Ausführungsform der erfindungsgemäßen
Probenkammer nach dem Prinzip von Figur 1 ist in Figur 2 dargestellt, wobei funktionsgleiche Seile mit gleichen
Bezugaziffern versehen sind.
Die in Figur 2 dargestellte Probenkammer umfaßt ein Gehäuse 1 mit einer Eintrittsöffnung 2 und einer Austrittsöffnung 3>
die auf einer Achse liegen oder auf eine Achse zentriert werden können, sowie einen im Gehäuse 1 angebrachten
Probenhalter 4, einen Rohrkanal 5 zum Einführen einer zu untersuchenden Probe, gegebenenfalls einen mit einem
Wischer versehenen Abstreicher 6 und ferner ein mit dem Gehäuse 1 über ein Rohr 7 in Verbindung stehendes druckausgleichendes
Puffersystem 8. Der Probenhalter 4 kann vorteilhaft mit einem Verschluß 11 fixiert werden»
Im Laufe der Untersuchung wird die zu untersuchende Probe durch den Rohrkanal 5 auf den Probenhalter 4 geleitet und
gegebenenfalls mit dem Abstreicher 6 auf dem Probenhalter zu einer Schicht ausgestrichen. Gleichzeitig wird aus dem
Puffersystem θ Flüssigkeitsdampf, Flüssigkeit oder Gas eingelassen·
Das Puffersystem 8 dient einerseits zum Kompensieren der Druckminderung und andererseits bei Verwendung von
Flüssigkeit zur Aufrechterhaltung einer physiologisch richtigen feuchten Atmosphäre.
509840/0838 - 11 -
Bei einer "bevorzugten Aus führung s form der erfindungsgemäßen
Probenkammer i8t der Abstreicher 6 als Reagenseinführungsrohr
ausgebildet, so daß gleichzeitig mit dem Ausstreichen der Probe durch das Rohr Reagenzien (wie chemische
oder biologische Reagenzien beziehungsweise Kontraststoffe) auf die Probe aufgebracht werden.. Auf diese Weise ist die Untersuchung
chemischer, physikalisch-chemischer und biologischer Reaktionen möglich. Da in der erfindungsgemäßen Probenkammer
die biologischen Reaktionen unter physiologischen Bedingungen untersucht werden können, ist auch die Untersuchung des Wirkungsmechanismus
biologisch aktiver Stoffe ermöglicht.
An die Probenkammer kann in vorteilhafter Weise ein
Temperaturregler 13 angeschlossen werden, mit dessen Hilfe während der Untersuchung die Temperatur des Systemes geregelt
werden kann· Die Temperatur der Probe wird mit einem Meßfühler 12 gemessen. Der Temperaturregler 13 kann bei Verwendung
geeigneter Kühlmittel, zum Beispiel von flüssigem Stickstoff, auch zum plötzlichen Einfrieren der auf dem
Probenhalter 4 befindlichen Probe (zum Beispiel einer FlüBsigkeitsschicht) verwendet werden. Auf diese Weise können
einzelne Elemente der biologischen Probe, zum Beispiel zu untersuchende Zellen, ohne Schädigung in einer bestimmten
Lage fixiert werden. Der Temperaturregler 13 ist zweckmäßig an der der Einführung der zu untersuchenden Probe gegenüberliegenden
Seite angebracht.
Die Probenkammer kann, falls es erwünscht ist, teilweise oder ganz von einer mit flüssigem Stickstoff oder einem anderen
geeigneten Tiefkühlmittel gekühlten Schutzhülle 9 umgeben sein, welche durch Einfrieren verhindert, daß die zu
untersuchende Probe in das Elektronenmikroskop oder dessen Nähe gelangt· Außer diesem Schutz gegen Verunreinigung dient
die Schutzhülle 9 noch dazu, in der Umgebung der Probenkammer den Druck möglichst gering zu halten, da sonst, wie bei
Elektronenmikroskopen üblicher Ausführung, zur Aufrechter-
- 12 -
509840/0838
haltung des Hochvakuums eine zusätzliche Pumpe eingebaut werden müßte.
Bine vor allem zur Untersuchung gefrorener Gewebeproben
geeignete Ausführungsform einer Probenkammer auf dem Prinzip
von Figur 1 ist in Figur 3 dargestellt, wobei funktionsgleiohe Teile mit gleichen Bezugsziffern versehen sind.
Die in Figur 3 dargestellte Probenkammer umfaßt ein Gehäuse 1 mit einer Eintrittsöffnung 2 und einer Austrittsöffnung 3, die auf einer Achse liegen oder auf eine Achse
zentriert werden können, sowie einen im Gehäuse 1 angebrachten Probenhalter 4 und ein druckausgleichendes Puffersystem 8,
das zweckmäßigerweise über eine Rohrleitung 7 mit dem Gehäuse in Verbindung steht. An den Probenhalter 4 schließt sich bei
der Untersuchung gefrorener Gewebe ein Kühlbehälter 14.an. In manchen Fällen, zum Beispiel bei der Untersuchung weniger
flüchtiger Stoffe, kann auf den Kühlbehälter 14 verzichtet werden.
Der Probenhalter 4 kann auch ein an sich bekanntes Element sein, zum Beispiel ein bekannter Probenhalteetab.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform kann auf die
Probe durch ein Rohr 10 hindurch ein Reagens, zweckmäßigerweise ein Kontrastmittel, aufgedampft werden.
Die Probenkammer gemäß Figur 3 kann, falls es erwünscht ist, zum Teil oder ganz von einer mit flüssigem Stickstoff
oder einem anderen Tiefkühlmittel gekühlten Schutzhülle 9 umgeben sein. Die Schutzhülle hat die gleiche Aufgabe wie
im Falle der Probenkammer gemäß Figur 2, Auch in diesem Falle müßte sonst zur Aufrechterhaltung des Hochvakuums
wie bei den Elektronenmikroskopen üblicher Ausführung eine zusätzliche Pumpe angeschlossen werden.
- 13 -
5098A0/0838
Eine zur elektronenoptisehen Untersuchung der Oberflächenstruktur der Probe in geeigneter Weise angepaßte
Ausführungsform einer Probenkammer ist in Figur 4 dargestellt, Die Aueführungsform gemäß Figur 4 weicht von derjenigen gemäß
Figur 1 insofern ab, als die Anordnung der Öffnungen anders ist· In einem Gehäuse 1 der Probenkammer gemäß Figur 4 ist
mindestens eine in den Weg des Elektronenstrahles fallende Eintrittsöffnung 2 ausgebildet. Der durch die Eintrittsöffnung
2 eintretende Elektronenstrahl wird von der auf einem Probenhalter 4 befindlichen Probe reflektiert und tritt
durch die Eintrittsöffnung 2 aus, wo er ausgewertet werden
kann· Wenn der reflektierte Strahl an einem anderen Punkt
ausgewertet werden soll, dann können zu diesem Zweck im Gehäuse 1 je nach Wunsch an beliebigen Punkten Austritts-Öffnungen
3 in beliebiger Anzahl, an denen dann der reflektierte Elektronenstrahl ausgewertet werden kann, angebracht
sein.
Auch in diesem Falle ist das Gehäuse 1 über ein Rohr 7 an ein druckregelndes Puffersystem 8 angeschlossen, das
in der vorangehend beschriebenen Weise ausgebildet ist. Die im Gehäuse 1 ausgebildete^) Öffnung(en) 2, 3 kann beziehungsweise
können gegebenenfalls mit einem Verschluß 15 abgeschlossen werden. Ein Verschluß ist jedoch nicht in jedem
Falle nötig. Das Gehäuse 1 kann, falls es erwünscht ist, teilweise oder ganz von der schon beschriebenen Schutzhülle
9 umgeben sein· In das Gehäuse 1 können, falls es erwünscht ist, durch einen Rohrkanal 17 Reagenzien eingebracht
werden. Bei einer bevorzugten Ausführungsform
schließt sich an den Probenhalter 4 ein-Thermostatelement
an, mit dem die Temperatur der Probe auf dem gewünschten Wert gehalten werden kann.
Bei den üblichen elektronenmikroskopischen Einrichtungen befindet sich die Probe im Hochvakuum· Durch Einschalten des
- 14 -
509840/0838
Puff er sy at ernes 8 ist es möglich,, in der erf indungsgemäßen
Probenkammer die Umgebung unä damit die Oberfläche der Probe
unter speziellen Bedingungen zu untersuchen« In die Kammer können bei gegebener Temperatur und gegebenem Druck chemische
Heagenzien auf die Oberfläche der Probe aufgebracht werden,
wodurch der Wirkungsmechanismug, das heißt die durch die
Reaktion eintretenden Strukturveränderungen der Probenoberflache
(zum Eeispiel "bei biologischen Objekten und Metallen) im Prozeß studiert werden Irinnen© 31® eriindungsgemäße
Probenkammer igt unter ancsrem für die Anwendung in der
ScannirLg-Blektrcnenraikroskc-'pie, der Emissions- und
Eeflesions-Elektronemsikrosköpie und beim mit geringer Energie
arbeitenden Elektrodendiffraktionsverfahren (LIED) geeignet»
Patentansprüche
509840/0838
Claims (1)
- - 15 -PatentansprücheProbenkammer für elektronenoptische Untersuchungen mit zumindest einer Eintrittsstelle für den Elektronenstrahl und einem Probenhalter, dadurch gekennzeichnet, daß die Eintrittsstelle aus einer nicht abgedeckten Eintrittscfflnung (2) in einem Gehäuse (1) besteht und daß an das Gehäuse (1) ein druckausgleiohendes Puffersystem (8) angeschlossen ist.2·) Kammer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß im Gehäuse (1) zusätzlich zur EintrittsÖffnung (2) eine AustrittsÖffnung (3) angebracht ist, wobei diese auf einer Achse liegen oder auf eine Achse zentrierbar sind, die mit derjenigen des Elektronenstrahles zusammenfällt.3.) Kammer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß im Gehäuse (1) zusätzlich zur EintrittsÖffnung (2) mehrere an beliebigen Stellen angeordnete Austrittsöffnungen (3) angebracht sind.4·) Kammer nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß sich über der Eintritts- oder der Austritteöffnung beziehungsweise den Austrittsöffnungen (2, 3) ein Verschluß (15) befindet.5·) Kammer nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse (1) aus einem Stück ausgebildet ist.- 16 -509840/08386.) Kammer nach Anspruch 1 "bis 4» dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse (1) aus zwei gegeneinander beweglichen Teilen, und zwar einem mit einer Eintritte-Öffnung (2) versehenen Oberteil und einem mit einer
AustrittsÖffnung (3) versehenen Unterteil besteht.7·) Kammer nach Anspruch 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß das druckausgleichende Biffersystem (8) über ein Rohr (7) mit dem Gehäuse (1) in Verbindung steht und als Flüssigkeitsbehälter ausgebildet ist.8.) Kammer nach Anspruch 1 bis 65 dadurch gekennzeichnet, daß das druckauegleichende Puffsrsystem (8) über ein Rohr (7) mit dem Gehäuse (1) in Verbindung steht und als mit einem Druckregler, insbesondere einem Nadelventil, versehener Gasbehälter ausgeführt ist.9.) Kammer nach Anspruch 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß das äruckausgleichende Puffersystem (8) als miteinem Druckregler^ insbesondere einem Nadelventil,
versehener, in einen Sasraum ragender Rohrstutzen
ausgebildet ist*10.) Kammer nach Anspruch 1 Ms 93 äaduröli gekennzeichnet, daß sich im ainickausglsiohenasn Puffersystem (8)
außer einem Pluid noch ein Reagans, insbesondere
ein Kontrastmittel^- befindet.11.) Kammer nach Anspruch 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse (1) ganz oder teilweise von einer gekühlten Schutzhülle (9) umgeben ist.12.) Kammer nach Anspruch 1 bis 11, gekennzeichnet durch
einen Rohrkanal (5) zum Einführen der Probe.- 17 50 9840/082813.) Kammer nach Anspruch 1 bis 12, gekennzeichnet durch einen mit einem Wischer versehenen Abstreicher (6)·14.) Kammer nach Anspruch 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß der Abstreicher (6) als Rohr zum Einführen von Reagenzien, insbesondere biologisch aktiven Stoffen und/oder Kontraststoffen, ausgebildet ist.15.) Kammer nach Anspruch 1 bis 14, gekennzeichnet durch einen die Temperatur der zu untersuchenden Probe regelnden Temperaturregler (13).16·) Kammer nach Anspruch 1 bis 15, gekennzeichnet durch einen, vorzugsweise beim Verschluß (11) am Gehäuse (1) angeordneten, Meßfühler (12).17·) Kammer nach Anspruch 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß der Temperaturregler (13) auf ein Kühlmittel, vorzugsweise flüssigen Stickstoff, einwirkend ausgebildet ist.18,) Kammer nach Anspruch 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse (1) einen zum Verdampfen von Reagenzien, insbesondere Kontraststoffen, geeigneten Einlaß (Uohr 10) aufweist.19·) Kammer nach Anspruch 1 bis 11 oder 18, dadurch gekennzeichnet, daß der Probenhalter (4) mit einem Kühlbehälter (14) in Verbindung steht.20.) Kammer nach Anspruch 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Probenhalter (4) mit einem Thermostatelement (16) in Verbindung steht.21.) Kammer nach Anspruch 1 bis 11 oder 20, gekennzeichnet durch einen Rohrkanal (17) zur Einleitung ron Reagenzien.509840/0838
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
HUMA002555 HU168264B (de) | 1974-03-28 | 1974-03-28 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2513832A1 true DE2513832A1 (de) | 1975-10-02 |
DE2513832C2 DE2513832C2 (de) | 1981-10-08 |
Family
ID=10998701
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19752513832 Expired DE2513832C2 (de) | 1974-03-28 | 1975-03-27 | Anordnung zur elektronenoptischen Untersuchung von Proben |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS50141968A (de) |
DE (1) | DE2513832C2 (de) |
FR (1) | FR2266299B3 (de) |
GB (1) | GB1504984A (de) |
HU (1) | HU168264B (de) |
NL (1) | NL7503645A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10256718A1 (de) * | 2002-12-04 | 2004-06-24 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur Probenuntersuchung mittels eines atmosphärischen oder druckvariablen Rasterelektronenstrahlmikroskops |
DE112014003586B4 (de) * | 2013-09-30 | 2017-04-06 | Hitachi High-Technologies Corporation | Probenhalter und mit geladenen Teilchen arbeitende Vorrichtung |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2794471B2 (ja) * | 1989-11-24 | 1998-09-03 | 日本電子テクニクス株式会社 | 電子顕微鏡 |
IL150056A0 (en) * | 2002-06-05 | 2002-12-01 | Yeda Res & Dev | Low-pressure chamber for scanning electron microscopy in a wet environment |
CN1862250A (zh) * | 2005-05-09 | 2006-11-15 | 李炳寰 | 在真空或低压环境中操作液体且可供观测的方法及装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE911409C (de) * | 1942-04-29 | 1954-05-13 | Siemens Ag | Korpuskularstrahlapparat, insbesondere Elektronenmikroskop |
-
1974
- 1974-03-28 HU HUMA002555 patent/HU168264B/hu unknown
-
1975
- 1975-03-17 GB GB1101575A patent/GB1504984A/en not_active Expired
- 1975-03-26 FR FR7509487A patent/FR2266299B3/fr not_active Expired
- 1975-03-26 NL NL7503645A patent/NL7503645A/xx not_active Application Discontinuation
- 1975-03-27 DE DE19752513832 patent/DE2513832C2/de not_active Expired
- 1975-03-28 JP JP3771775A patent/JPS50141968A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE911409C (de) * | 1942-04-29 | 1954-05-13 | Siemens Ag | Korpuskularstrahlapparat, insbesondere Elektronenmikroskop |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
J. of Physics E.: Scientific Instru- ments, Bd. 5, 1972, S. 160-162 und 793-797 * |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10256718A1 (de) * | 2002-12-04 | 2004-06-24 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur Probenuntersuchung mittels eines atmosphärischen oder druckvariablen Rasterelektronenstrahlmikroskops |
DE10256718B4 (de) * | 2002-12-04 | 2004-10-28 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung zur Probenuntersuchung mittels eines atmosphärischen oder druckvariablen Rasterelektronenmikroskops |
DE112014003586B4 (de) * | 2013-09-30 | 2017-04-06 | Hitachi High-Technologies Corporation | Probenhalter und mit geladenen Teilchen arbeitende Vorrichtung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2513832C2 (de) | 1981-10-08 |
GB1504984A (en) | 1978-03-22 |
HU168264B (de) | 1976-03-28 |
NL7503645A (nl) | 1975-09-30 |
FR2266299B3 (de) | 1977-07-01 |
JPS50141968A (de) | 1975-11-15 |
FR2266299A1 (de) | 1975-10-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE112012001306B4 (de) | Probenhaltevorrichtung, Elektronenmikroskop und Probenhalterung | |
DE112011105007B4 (de) | Probenhalter für ein Elektronenmikroskop und Probenuntersuchungsverfahren | |
DE69634032T2 (de) | Unter etwas erhöhtem druck arbeitendes feldemissionsrasterelektronenmikroskop | |
EP3175279B1 (de) | Lichtmikroskop mit einem probentisch für die kryo-mikroskopie | |
DE112011104347T5 (de) | Vorrichtung mit einem geladenen Teilchenstrahl | |
DE102009016512B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Durchführung einer quantitativen ortsaufgelösten Lokal- und Verteilungsanalyse chemischer Elemente und in-situ Charakterisierung der ablatierten Oberflächenregionen | |
DE112013003552B4 (de) | Ladungsteilchenstrahlvorrichtung und Probenbeobachtungsverfahren | |
DE112014001109B4 (de) | Mit einem Strahl geladener Teilchen arbeitende Vorrichtung und Filterelement | |
WO2002005309A1 (de) | Detektor für variierende druckbereiche und elektronenmikroskop mit einem entsprechenden detektor | |
DE112013005107T5 (de) | Mit einem Strahl geladener Teilchen arbeitende Vorrichtung, Probentischeinheit und Probenbeobachtungsverfahren | |
DE112012003809T5 (de) | Untersuchungs- und Betrachtungsvorrichtung und Probenuntersuchungs- und Betrachtungsverfahren | |
DE112013003556T5 (de) | Betrachtungsvorrichtung und optisches Achseneinstellverfahren | |
DE2363775A1 (de) | Verfahren und geraet zur untersuchung mikroskopischer objekte durch pyrolyse | |
DE2211423C3 (de) | Verfahren und vorrichtung zur beobachtung biologischer proben mit einem abtastelektronenmikroskop | |
DE2513832A1 (de) | Probenkammer fuer elektronenoptische untersuchungen | |
DE10234755A1 (de) | Trägervorrichtung für ein biologisches, mittels Laser-Mikrodissektion schneidbares Präparat | |
DE102020112220A1 (de) | Teilchenstrahlgerät zum Abtragen mindestens eines Materials von einer Materialeinheit und Anordnen des Materials an einem Objekt | |
DE102004012257A1 (de) | Beleuchtungswechselvorrichtung und -verfahren | |
DE3022095A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur anbringung von zu untersuchenden teilen in der vakuumkammer eines elektronenmikroskops | |
DE2850748A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur mikroanalyse mittels einer roentgenstrahlung | |
DE112009002620B4 (de) | Inkubatorvorrichtung und Verfahren | |
DE1614123B1 (de) | Korpuskularstrahlgeraet,insbesondere Elektronenmikroskop | |
DE10344643B4 (de) | Verfahren zur Präparation einer Probe für elektronenmikroskopische Untersuchungen, sowie dabei verwendete Probenträger | |
DE19547949C2 (de) | Flugzeitmassenspektrometer | |
EP3334537B1 (de) | Verfahren zum beschichten von proben |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
D2 | Grant after examination | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |