DE2415290A1 - Maske zur bearbeitung einer halbleiteranordnung - Google Patents
Maske zur bearbeitung einer halbleiteranordnungInfo
- Publication number
- DE2415290A1 DE2415290A1 DE2415290A DE2415290A DE2415290A1 DE 2415290 A1 DE2415290 A1 DE 2415290A1 DE 2415290 A DE2415290 A DE 2415290A DE 2415290 A DE2415290 A DE 2415290A DE 2415290 A1 DE2415290 A1 DE 2415290A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- mask
- semiconductor
- mesa
- elevations
- semiconductor arrangement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 36
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 13
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 239000004922 lacquer Substances 0.000 description 4
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/482—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of lead-in layers inseparably applied to the semiconductor body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S438/00—Semiconductor device manufacturing: process
- Y10S438/942—Masking
- Y10S438/944—Shadow
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24479—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
Licentia Patent-Verwaltungs-GmbH
6 Frankfurt/Main, Theodor-Stern-Kai 1
Heilbronn, den 25. 3. 19 74 PT-Ma/sr - HM 74/6
Maske zur Bearbeitung einer Halbleiteranordnung
Die Erfindung betrifft eine Maske zur Bearbeitung einer Halbleiteranordnung, insbesondere eine Aufdampfmaske für
eine Halbleiterscheibe«
Zur Herstellung der Metallkontakte oder von Abdeckungen auf einer Halbleiterscheibe benötigt man Masken mit einer
bestimmten Struktur. Auf einer Halbleiterscheibe befinden sich in der Regel eine Vielzahl gleichartiger Bauelemente,
die alle gleichzeitig hergestellt werden und später voneinander getrennt werden. Als Aufdampfmasken verwendet man
Lackmasken. Eine Lackschicht wird zunächst auf die Halbleiteroberfläche
aufgebracht, mit einer Photomaske belichtet und entwickelt. Dadurch entsteht auf der Halbleiteroberfläche
eine strukturierte Lackmaske, in deren öffnungen
509 841/0462
beispielsweise Metallkontakte durch Aufdampfen niedergeschlagen werden können. Die Lackmasken haben einige Nachteile.
So bleiben Lackreste an der Oberfläche haften, beim Aufschleudern des Lacks besteht besonders bei dünnen Scheiben
eine erhöhte Bruchgefahr, der Lackmaskenprozess ist teuer und erfordert ein aufwendiges Justierverfahren.
Andererseits sind Metallmasken bekannt, die gegenüber den Lackmasken bei einigen Verfahrensabläufen Vorteile haben
aber auf die gleiche aufwendige Weise auf die Strukturen auf der Halbleiteroberfläche einjustiert werden müssen. Für
die Justierprozesse wurden aufwendige Justiermaschinen entwickelt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Maske anzugeben, durch die der aufwendige und teure Justierschritt
erheblich vereinfacht wird. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Maske auf der der Halbleiteranordnung
zuzuwendenden Oberflächenseite mit Erhebungen versehen ist, die zur Selbstjustierung der Maske für den
Eingriff in entsprechenden Vertiefungen in der zu bearbeitenden Oberfläche der Halbleiteranordnung vorgesehen
sind.
509841 /0462
Hierbei handelt es sich in der Regel um Metallmasken. Die
neuartigen Masken rasten beim Auflegen auf die Halbleiteroberfläche in die dort vorhandenen Vertiefungen ein, so
daß die Öffnungen in der Maske mit den zugeordneten Stellen auf der Halbleiteroberfläche fluchten. Eine Dejustierung
der Maske ist durch die Verzahnung zwischen den Erhebnungen der Maske und den Vertiefungen in der Halbleiteranordnung
ausgeschlossen.
Die Erfindung wird im weiteren noch anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert.
In der igur 1 ist ein Teil einer Halbleiterscheibe 1 dargestellt, die an der Oberfläche mit Vertiefungen 2 versehen
ist. Dadurch ist die Halbleiteroberfläche in Mesaberge'3
aufgeteilt, die in bekannter Weise Dioden oder Transistoren enthalten. Beispielsweise zur Herstellung eines aufzudampfenden
Metallkontaktes wird auf die Halbleiteroberfläche eine Metallmaske 4 aufgelegt,, die mit Erhebungen 5 versehen ist.
Die Erhebungen 5 rasten in die Vertiefungen. 2 ein, so daß die Aufdampföffnungen 6 in der Maske über den vorbestimmten
Stellen auf den Mesabergen liegen. Durch diese Maskenöffnungen können nun die Metallkontakte aufgedampft werden.
5098A 1 /0462
Eine Maskenvariante ist in der Figur 2 dargestellt. Die Erhebungen auf der Maske 4 haben selbst die Form von Mesabergen
7. Diese Erhebungen greifen in sich nach unten verjüngende Einschnitte auf der Oberfläche der Kalbleiteranordnung
ein. Eine derartige Halbleiteranordnung bekommt man beispielsweise dadurch, daß eine sehr dünne Halbleiterschicht
auf einer Trägerplatte 8, beispielsweise aus Glas, befestigt wird. Diese Scheibe wird durch bis zur Trägerplatte reichende
Schnitte, beispielsweise durch Sägen, zerteilt. So entstehen voneinander isolierte, mesaförmige Halbleiterbereiche 9,
die für die Aufnahme von Halbleiterbauelementen, insbesondere von Dioden oder Transistoren, vorgesehen sind.
Bei der Anordnung nach der Figur 1 sind die Erhebungen auf der Maske beispielsweise 10—60 ,um dick, während die Vertiefungen
in der Halbleiteranordnung 20-100 ,um dick sind. Die Erhebungen können halbkugelförmig, mesaförmig oder von
anderer Struktur sein.
In der Figur 3 ist eine Halbleiteranordnung mit Diodenstruktur
dargestellt. Der Halbleiterkörper besteht zu seinem größten Teil aus dem n+-leitenden Grundkörper 10, der an
der Oberfläche mit einer dünne, epitaktisch abgeschiedenen, η-leitenden Schicht 11 versehen ist. In diese Schicht wurde
509841/0462
eine p-leitende Zone 12 eindiffundiert« Danach wurden in den
Halbleiterkörper Mesagräben 2 eingeätzt, die über den pnübergang 13 hinausreichen. Die Grabenwände wurden mit einer
Glaspassivierungsschicht 14 bedeckt. Auf die Rückseite des Halbleiterkörpers wurde der diese Halbleiteroberflächenseite
vollständig bedeckende Anschlußkontakt 15 aus einer dünnen Metallschicht aufgebracht. Schließlich wird auf die mit den
Gräben 2 versehene OberflächenSeite der Halbleiterscheibe die Maske 4 so aufgelegt, daß deren Erhebungen 5 in die Vertiefungen
2 einrasten. Danach wird durch, die Maskenöffnung der Metallanschlußkontakt 16 für die p-leitende Zone 12 aufgedampft.
In der Figur 4 ist noch eine Maske dargestellt, deren Erhebungen 5 höher als die Mesaberge sind. Die Maske 4 liegt dann
nicht auf der Halbleiteroberfläche .auf, sondern weist einen Abstand a zu dieser Oberfläche auf. Durch die Maskenöffnurapn
können nun relativ hohe Metallkontaktberge 17 abgeschieden werden, die beispielsweise 100 /um dick sind. Hierbei handelt
es sich beispielsweise um die bekannten Silber-Kontaktberge an Mesa-Dioden.
Der wesentliche Gedanke der vorliegenden Erfindung besteht
509841/0462
darin, die für die Herstellung von Halbleiteranordnungen notwendigen Masken mit Justierprofilen zu versehen, die
sich in vorhandene, durch die Struktur der Bauelemente vorgegebene oder in gesondert geschaffene Vertiefungen
einfügen lassen. Hieraus ergibt sich ein Selbstjustiereffekt und die komplizierte Justierung mit Hilfe von Justiervorrichtungen
unter gleichzeitiger Beobachung des Justier— Vorgangs entfällt.
Mit Hilfe der erfindungsgemäßen Maske können aber beispielsweise auch bestimmte Bereiche der Halbleiteroberfläche mit
Isolierstoffschichten abgedeckt werden. Der Isolierstoff wird dann durch die Maskenöffnungen aufgedampft oder aufgedruckt.
509841/0462
Claims (5)
- PatentansprücheA) JMcIaske zur Bearbeitung einer Halbleiteranordnung, insbesondere Aufdampfmasken für eine Halbleiterscheibe, dadurch gekennzeichnet, daß die Maske auf der der Halbleiteranordnung zuzuwendenden Oberflächenseite mit Erhebungen versehen ist, die zur Selbstjustierung der Maske für den Eingriff in entsprechenden Vertiefungen in der zu bearbeitenden Oberfläche der Halbleiteranordnung vorgesehen sind.
- 2) Maske nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sie aus Metall besteht.
- 3) Maske nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch ihre Verwendung zum Herstellen von Anschlußkontakten durch Aufdampfen von Metall auf die Mesaberge von Mesa-Dioden oder Mesa-Transistoren.
- 4) Maske nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch ihre Verwendung zum Herstellen von aufgedampften oder aufgedruckten509841 /0462Abdeckungen für bestimmte Bereiche auf der zu bearbeitenden Oberfläche der Halbleiteranordnung.
- 5) Maske nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch ihre Verwendung zum Aufdampfen von dicken Metall-Kontaktbergen auf der Oberflächen von Messanordnungen, wobei die Erhebungen auf der Maske höher als die Mesaberge sind.509841 /0462Leers eite
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2415290A DE2415290A1 (de) | 1974-03-29 | 1974-03-29 | Maske zur bearbeitung einer halbleiteranordnung |
US05/560,082 US3951701A (en) | 1974-03-29 | 1975-03-19 | Mask for use in production of semiconductor arrangements |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2415290A DE2415290A1 (de) | 1974-03-29 | 1974-03-29 | Maske zur bearbeitung einer halbleiteranordnung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2415290A1 true DE2415290A1 (de) | 1975-10-09 |
Family
ID=5911605
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2415290A Ceased DE2415290A1 (de) | 1974-03-29 | 1974-03-29 | Maske zur bearbeitung einer halbleiteranordnung |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3951701A (de) |
DE (1) | DE2415290A1 (de) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4256532A (en) * | 1977-07-05 | 1981-03-17 | International Business Machines Corporation | Method for making a silicon mask |
US4364661A (en) * | 1980-05-13 | 1982-12-21 | Savin Corporation | Process and apparatus for transferring developed electrostatic images to a carrier sheet, improved carrier sheet for use in the process and method of making the same |
US4530861A (en) * | 1983-12-19 | 1985-07-23 | General Electric Company | Method and apparatus for masking a surface of a blade member |
JPS60137467A (ja) * | 1983-12-26 | 1985-07-22 | Nissan Motor Co Ltd | 装飾用樹脂成形部品 |
US4537498A (en) * | 1984-05-03 | 1985-08-27 | At&T Technologies, Inc. | Focal plane adjusted photomask and methods of projecting images onto photosensitized workpiece surfaces |
US4529299A (en) * | 1984-05-03 | 1985-07-16 | At&T Technologies, Inc. | Interposer element for photomasks in projection printer |
SE9502258D0 (sv) * | 1995-06-21 | 1995-06-21 | Pharmacia Biotech Ab | Method for the manufacture of a membrane-containing microstructure |
US6188124B1 (en) | 1999-07-14 | 2001-02-13 | International Business Machines Corporation | Semiconductor arrangement preventing damage during contact processing |
JPWO2007055030A1 (ja) * | 2005-11-14 | 2009-04-30 | 日立プラズマディスプレイ株式会社 | Cvd装置を用いる成膜方法およびマスキングのためのマスク |
US9551058B2 (en) | 2013-12-06 | 2017-01-24 | General Electric Company | Coating methods and a coated substrate |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3133336A (en) * | 1959-12-30 | 1964-05-19 | Ibm | Semiconductor device fabrication |
BE621451A (de) * | 1961-08-16 | |||
US3697318A (en) * | 1967-05-23 | 1972-10-10 | Ibm | Monolithic integrated structure including fabrication thereof |
US3783044A (en) * | 1971-04-09 | 1974-01-01 | Motorola Inc | Photoresist keys and depth indicator |
US3824014A (en) * | 1973-07-26 | 1974-07-16 | Us Navy | Relief mask for high resolution photolithography |
-
1974
- 1974-03-29 DE DE2415290A patent/DE2415290A1/de not_active Ceased
-
1975
- 1975-03-19 US US05/560,082 patent/US3951701A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3951701A (en) | 1976-04-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1614283C3 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Halbleiteranordnung | |
DE3134110C2 (de) | ||
DE1282196B (de) | Halbleiterbauelement mit einer Schutzvorrichtung fuer seine pn-UEbergaenge | |
DE2324780C3 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements | |
DE1514818B2 (de) | ||
DE2040180B2 (de) | Verfahren zur verhinderung von mechanischen bruechen einer duennen, die oberflaeche eines halbleiterkoerpers ueberdeckende isolierschichten ueberziehenden elektrisch leitenden schicht | |
DE2153103B2 (de) | Verfahren zur Herstellung integrierter Schattungsanordnungen sowie nach dem Verfahren hergestellte integrierte Schaltungsanordnung | |
DE2755433A1 (de) | Strahlungsemittierende halbleiterdiode | |
DE2357376C3 (de) | Mesa-Thyristor und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE2415290A1 (de) | Maske zur bearbeitung einer halbleiteranordnung | |
DE2149766A1 (de) | Halbleiteranordnung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE2133979C3 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung | |
DE1805826C3 (de) | Verfahren zum Hersteilen von planaren Halbleiterbauelementen | |
DE2133976A1 (de) | Halbleiteranordnung, insbesondere mono hthische integrierte Schaltung, und Ver fahren zu deren Herstellung | |
DE2059072B2 (de) | Halbleiterbauelement | |
DE2147447C3 (de) | Halbleiterbauelement | |
EP0095658A2 (de) | Planares Halbleiterbauelement und Verfahren zur Herstellung | |
EP0164645A2 (de) | Silizium-Halbleiterbauelement mit ätztechnisch hergestellter Randkontur und Verfahren zur Herstellung dieses Bauelementes | |
DE2755168A1 (de) | Verfahren zur herstellung von halbleiterbauelementen | |
EP0220469A1 (de) | Leistungsthyristor | |
DE1514656A1 (de) | Verfahren zum Herstellen von Halbleiterkoerpern | |
DE2855972A1 (de) | Halbleiteranordnung | |
EP0071915A2 (de) | Epitaxialer Transistor | |
DE1769271B2 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Festkörperschaltung | |
DE1292759B (de) | Verfahren zum Herstellen einer Zuleitung zu einer diffundierten Halbleiterzone |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OF | Willingness to grant licences before publication of examined application | ||
OD | Request for examination | ||
8131 | Rejection |