DE2359153A1 - Integrierte treiberschaltung zur anwendung in einem halbleiterspeicher - Google Patents
Integrierte treiberschaltung zur anwendung in einem halbleiterspeicherInfo
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- DE2359153A1 DE2359153A1 DE2359153A DE2359153A DE2359153A1 DE 2359153 A1 DE2359153 A1 DE 2359153A1 DE 2359153 A DE2359153 A DE 2359153A DE 2359153 A DE2359153 A DE 2359153A DE 2359153 A1 DE2359153 A1 DE 2359153A1
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- G11C16/08—Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
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Description
Böblingen, 22. Nove: heb-oh
Anmelderin: International Business Machines
Corporation^ Armonk, N,Y. 10504
Amtl. Aktenzeichen: Neuanmeldung'
Aktenzeichen der Anmelderin: FI 972 051
Integrierte Treiberschaltung zur Anwendung in einem
Halbleiterspeicher
Die Erfindung betrifft eine integrierte Treiberschaltung für hohe
Spannungen zum Ansteuern der Wortleitungen in Speichern mit
Transistorspeicherzellen. Beim Ansteuern dieser Zellen mit einer
hohen Spannung erfolgt in dem Transistor ein Lawinendurchbruch.
Die dabei entstehenden Ladungsträger laden die nicht auf festem Potential liegende Steuerelektrode der ausgewählten Zelle auf
und speichern damit ein Informationsbit in dieser Zelle.
■f -
Steuerschaltungen oder Treiberschaltungen gemäß der vorliegenden
Erfindung können außerdem in anderen Anwendungsgebieten ausgenutzt
und eingesetzt werden, wo eine sehr hohe Spannungsamplitude
erforderlich ist. Die vorliegende Erfindung betrifft außerdem die Kombination einer Speicherschaltung mit den Treiberschaltungen
und einer Anordnung solcher Zellen. -
Zum Stande der Technik sei auf folgendes.hingewiesen!
Erst kürzlich wurde eine Speicherzelle mit einer auf keinem festen Potential liegenden Steuerelektrode entwickelt, die über
einen Lawinendurchbruch aufgeladen wird.. Diese Speicherzelle wird
als "FAMOS"-Zelle bezeichnet, d.h. es handelt sich hierbei um
eine Speicherzelle mit nicht festgelegter Steuer-Vorspannung und
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Injektion eines Stromes nach Lawinendurchbruch in Metall-Oxyd-Silicium-Halbleiter-Ausführung.
Diese Speicherzelle ist in der US-Patentschrift Nr. 3 660 819 beschrieben und es findet sich auch
eine weitere Beschreibung dieser Zelle in einem Aufsatz von
D. Frohmann-Bentchkowsky mit dem Titel "Ein vollkommen decodierbarer
aus 2O48 Bit bestehender, elektrisch programmierter MOS-Speicher mit wahlfreiem Zugriff", 1971 in IEEE International
Solid-state Circuits Conference vom Februar 18, 1971.
Diese Zelle wird dadurch elektrisch programmiert, daß man eine hohe Spannung an die entsprechende Wortleitung anlegt, so daß am
PN-Übergang ein Durchbruch erfolgt mit der Folge, daß Ladungsträger nach der auf nicht festgliegender Vorspannung liegenden
Steuer- oder Gate-Elektrode wandern und damit diese aufladen..Auf
diese Weise kann die Zelle ein Informationsbit speichern, wobei der Binärwert durch die Anwesenheit oder Abwesenheit einer Aufladung
auf der Steuer- oder Gate-Elektrode angezeigt wird. Um einen Lawinendurchbruch am PIi-übergang hervorzurufen, ist es notwendig,
die Wortleitung mit einer relativ hohen Spannung anzusteuern, die im Vergleich mit den Spannungen, die üblicherweise
in integrierten Schaltungen verwendet werden, sehr hoch ist.
Eine Treiberschaltung für Wortleitungen, wie sie bisher für diesen
Zweck benutzt wird, hat in einem ganz bestimmten außergewöhnlich wichtigen Punkt große Nachteile. D.h., daß die Treiberschaltung,
wie sie in Figur 4 der Zeichnungen dargestellt und im anschließenden noch näher beschrieben wird, auch als Decodierer arbeitet
und aus einem in Source-Folge-Schaltung arbeitenden Feldeffekt- <■
transistor besteht, der mit der entsprechenden Wortleitung verbunden ist, die außerdem mit den Drain-Elektroden einer Anzahl
mit ihren Source-Elektröden zusammengeschalteten Feldeffekttransistoren
verbunden ist. Während des Schreib- oder Einspeicher-Vorgangs wird eine große negative Spannung an Gate- und Drain-Elektroden
aller mit allen Wortleitungen, und zwar den ausgewählten und den nicht ausgewählten verbundenen, in Source-Folge-Schaltung
geschalteten Transistoren angelegt. Daher müssen bei nichtausge-
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wählten Wortleitungen hohe negative Spannungen an die Gate-Elektroden
einer oder mehrerer an ihren Source-Elektroden zusammengeschalteten
Transistoren angelegt werden, um die nichtausgewählten Wortleitungen auf Erdpotential anzuheben. Daher fließt durch
einen oder mehrere der an der Source-Elektrode miteinander verbundenen Transistoren der Treiberschaltungen, die mit nichtausgewählten
Wortleitungen verbunden sind, ein sehr hoher Strom, der einen sehr hohen Leistungsverbrauch zur Folge hat. Das ist deswegen
besonders von Nachteil, da für den Schreibvorgang nur ein Austastfaktor von etwa 2% möglich ist/ damit das Halbleiterplättchen
zwischen aufeinanderfolgenden Schreibimpulsen abkühlen kann. Das verringert aber die Arbeitsgeschwindigkeit eines Speichers
sehr stark.
Es ist daher .Hauptaufgäbe der vorliegenden Erfindung, diese Nachteile
der bisher bekannten Treiberschaltungen für aus Metall-Oxyd-Siliciuia-Transistoren
bestehende Speieherzellen, die in der nachfolgenden Beschreibung mit der Kurzbezeichnung "FAMOS" bezeichnet
werden sollen, zu beseitigen. Die Treiberschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung verbraucht gegenüber der bisher
bekannten Treiberschaltung relativ sehr wenig Leistung und erlaubt
ein Tastverhältnis von 1 oder einem Äüstastfaktor von 100% während
des Schreibevorganges. Konsequenterweise kann daher eine Speicherschaltung,
die Treiberschaltungen gemäß der vorliegenden Erfindung verwendet, eine Serie von Schreiboperationen mit wesentlich
höherer Geschwindigkeit durchführen als es bisher unter Verwendung
von Speicherzellen mit FAMOS-Tränsistoren möglich war. Die vorliegende
Erfindung erreicht dieses Ziel dadurch, daß alle nichtausgewählten
Treiberschaltungen zugeordnete Gleichstromkreise hoher Leistung während eines Schreibvorganges eliminiert werden.
Ein weiterer außerordentlich wichtiger Vorteil der vorliegenden
Erfindung liegt darin, daß der Ausgangstransistor, der die Wortleitung
ansteuert, gegen einen Lawinendurchbruch in der Weise geschützt ist, daß eine Schaltungsanordnung vorgesehen ist, die
seine Steuer- oder Gate-Elektrode auf Erdpotential hält, wenn die
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-A-
Treiberschaltung während eines Schreibvorganges nicht ausgewählt ist.
Ein weiterer wichtiger Vorteil der vorliegenden Erfindung liegt darin, daß der der Decodierung dienende Kreuzungspunkttransistor,
der mit jedem FÄMOS-Transistor verbunden und diesem zugeordnet
ist, dadurch gegen einen Lawinendurchbruch geschützt ist, daß während des Schreibvorganges in den nichtausgewählten Treiberschaltungen
die Wortleitung auf Erdpotential gehalten ist.
Die Art und Weise, wie dies im einseinen in der erfindungsgemäßen
Ausgestaltung der neuen Treiberschaltung erreicht wird, ist in
den beigefügten Patentansprüchen im einzelnen angegeben.
Die Erfindung wird nunmehr anhand von Äusführungsbeispielen in
Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen näher erläutert. Dabei zeigt
Fig. 1 schematisch ein Schaltbild einer einzigen Speicherzelle mit. einem Decoaiertransistor und einem
Transistor mit nicht fest vorgespannter Steueroder Gate -Elektrode mit Lawinendurchbruch und
Trägerinjektion gemäß dem Stand der Technik? -
Fig. 2 eine Draufsicht eines Teils einer integrierten
Speicherschaltung mit Speicherzellen unter Verwendung von Transistoren mit nicht fest vorgespannter
Steuer- oder Gate-Elektrode, Lawinendurchbruch
und Trägerinjektion?
Fig. 3 eine Querschnittsansicht längs der Linie 3-—3 in
Figur 2;
Fig. 4 schematisch ein Schaltbild einer sum Stande der
Technik gehörenden Treiberschaltung zur Ansteuerung der Wortleitungen der in Figur 1 bis 3 dar-
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gestellten Speicherzellen;
Fig. 5 - schematisch ein Schaltbild einer bevorzugten ■
Ausführungsform der- Treiberschaltung gemäß der
vorliegenden Erfindung, die mit einer bestimmten Wortleitung einer Speicherze.llenanordnung verbunden
ist; ,
Fig„ 6 die verschiedenen Potentiale während eines
Schreibvorganges und
Fig. 7 die verschiedenen Potentiale während eines Lesevorganges.
Die' FAMQS-Speicherzelle . .
Aufbau und Arbeitsweise einer Speicherzelle mit nicht fest vorgespannter
Steuer- oder Gate-Elektrode und Läwinendurchbruch mit Trägerinjektion in den Bereich der Gate-Elektrode als Metall-Oxyd-Halbleiter
(FAMOS) sind bereits in der obengenannten US-Patentschrift
3 660 890 offenbart. Sie werden im Zusammenhang mit
Figuren 1-3 nochmals kurz beschrieben.
In Figur 1 ist schematisch ein Schaltbild einer Speicherzelle mit einem Decodier- oder Kreuzungspunkttransistor und einem FAMOS-Transistor
dargestellt. Die Source-Elektrode des Decodiertransistors
ist mit der Drain-Elektrode des FAMOS-Transistors verbunden,
obgleich in der tatsächlichen Praxis Source- und Drain-Elektroden in einem einzigen Diffusionsbereich ausgeführt sind» Die Drain-Elektrode
des Decodiertransistors ist mit der Bit/Abfühlleitung BS
verbunden und die Gate-Elektrode des Decodiertransistors ist an der entsprechenden Wortleitung WL angeschlossen. Die nicht fest .
vorgespannte Gate-Elektrode FG des FAMOS-Transistors ist nicht
angeschlossen und isoliert und die Source-Elektrode des FAMOS-Transistors ist mit Erdpotential verbunden» .
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In den Figuren 2 und 3 ist ein Teil einer integrierten Schaltungsanordnung
mit FAMOS-Speicherzellen gezeigt und enthält die Struktur
einer vollständigen Zelle. Das Substrat ST hat N- Leitfähigkeit und weist an seiner oberen Oberfläche drei P-leitende Bereiche ·
P1, P2 und P3 auf. Der Bereich PI ist die Drain-Elektrode des
Decodier- oder Kreuzungspunkttransistors, P3 ist die Source-Elektrode des FAMOS-Transistors und Bereich P2 dient sowohl als
Sorce-Elektrode des Decodiertransistors und als Drain-Elektrode des FAMOS-Transistors. Die entsprechende Bit/Abfühlleitung BS
ist mit dem Bereich P1 kontaktiert und leitend verbunden und die Erdleitung G ist elektrisch leitend mit dem Bereich P3 verbunden.
Das Bezugszeichen DG bezeichnet die Gate-Elektrode des Decodiertransistors
und das Bezugszeichen FG bezeichnet die nicht vorgespannte Gate-Elektrode des FAMOS-Transistors. Man sieht, daß die
Gate-Elektrode FG von der Silicium-Dioxyd-Schicht SO elektrisch isoliert ist.
Die Arbeitsweise der in den Figuren 1 bis 3 zum Stand der Technik dargestellten Speicherzelle soll nunmehr kurz beschrieben werden,
wobei Einzelheiten aus der obengenannten Patentschrift zu entnehmen sind. Für einen Schreibvorgang, d.h. zum Einspeichern einer
Ladung auf der Gate-Elektrode FG, muß eine große negative Spannung
von etwa 30 Volt sowohl an die Bit/Abfühlleitung BS, als auch an die mit der ausgewählten Zelle verbundene Wortleitung WL angelegt
werden. In der oberen Oberfläche des Substrats ST wird zwischen den Bereichen P1 und P2 dadurch ein Inversionskanal gebildet,
so daß der Decodiertransistor leitend wird und eine hohe Vorspannung in Sperrichtung an den übergang zwischen dem Bereich P2 und
dem Substrat ST angelegt wird. Diese Sperrvorspannung bewirkt
einen Zusammenbruch dieses Überganges und erzeugt Elektronen hoher Energie im Verarmungsbereich des Überganges. Diese Elektronen
diffundieren dann durch den Teil der Silicium-Dioxyd-Schicht SO unmittelbar unterhalb der Gate-Elektrode FG und laden diese auf.
Nach Abnehmen der negativen Spannung von der Bit/Abfühlleitung BS und-der ausgewählten' Wortleitung WL bleibt die Ladung auf der
Gate-Elektrode FG gespeichert und der Schreibvorgang ist abge-
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schlossen. -Während des Lesevorganges wird die Anwesenheit oder
Abwesenheit einer gespeicherten Ladung auf der Gate-Elektrode FG
festgestellt und zeigt damit an, ob eine logische S11" oder "0"
in der Zelle gespeichert istο . ." .
In Figur 4 ist eine Treiberschaltung gemäß dem Stande der Technik
dargestellt, die zur Ansteuerung einer Wortleitung WL 'mit einer
hohen negativen Spannung dient, um einen Lawinendurchbruch in
einer PÄMOS-Speicherselle hervorzurufen. Insbesondere besteht die
bekannte Treiberschaltung- aus einem Feldeffekttransistor Q1?
dessen Drain-Elektrode- mit.einer negativen SpannungsqueiIe ¥1 und
dessen Souree-Elektrode mit der ~ Ausgangslsiissiig OL verbunden ist,
die ihrerseits wieder, an der Wortleitung -.'TOi-. - angeschlossen ist«
Eine Anzahl. mit ihrer Source-Elektrode zusaramengeschalteter Feldeffekttransistoren-Q2>.-Q3->
Qi0 05 und -QS'-siiid mit ihren entspre- '
chenden Dra-in-Elektroden- -mit - der Äüsgangsleitung OL verbunden f
während alle Söurce-Slektroäen mit- einer \Spannungsqueile ¥2 ver.-.
bunden sind-, die in b.esug auf ■. die "Spannungsguelie"-Vi positiv ist.
Das Potential der Spannungsquelle ¥2 kann Erdpötential.sein...Eine
Anzahl von Eingangsklemmen sind mit den entsprechenden Gate-Elektroden 1g bis Sg. der Transistoren Qf bis Q6 verbunden„
Zur Auswahl einer bestimmten Zelle für einen LawinenduEOhbruch
mit Injektion von Ladungsträgern Λ-iährend eisies Schreibvorganges
muß die Ausgangsleitung auf ein hohes negatives Potential gesteuert
werden«. 'Dies wird dadurch erreichtr daß man eine negative
Spannung an die Gate-Elektrode 1g des Transistors Qt aalegt und
diesen dafltarch' leitend macht,, während man - gleichseitig "Signale
an öle Gate-Elektroden 2g bis 6g anlegt* am. Sie Transistoren Q2
bis Q6 abzuschalten. Die auf der Wortleitoag liegende Spannung
wird daher negativ und stel-lt die Auswahl dieser bestifflmten Wortleitung
dar.. Bei einer Mlehtauswahl dieser bestimmten Wortleitung
WL muß ihr"Potential- im wesentlichen aaf dem Potential der
Spannungsguelle V2"p. jsormalerweise.Erdpoteatial a gehalten werden.
Dies Mira dadurch erreichtn. äaß ein negatIves.\.Sigpal an eine
oder mehrere .der" G^te-SieKfeSoden 2g bis i$ "aagelegt wird, wa
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einen oder mehrere der Transistoren Q2 bis Q6 einzuschalten. Der
oder die leitenden mit ihrer Source-Elektrode miteinander verbundenen
Transistoren Q2 bis Q6 halten damit die Spannung der 'Ausgangsleitung OL ungefähr auf der Spannung der Quelle V2, d.h.
etwa auf Erdpotential.
Diese bekannte Treiberschaltung gemäß Figur 4 hat für den Fall einer Nichtauswahl einer Wortleitung während eines Schreibvorganges
einen wesentlichen Nachteil, d.h., eine hohe negative Spannung liegt an der Gate- und Drain-Elektrode des Transistors
Q1, der in Source-Folgeschaltung geschaltet ist und außerdem an
den Gates einer oder mehrerer der mit ihren Source-Elektroden zusammengeschalteten Transistoren Q2 bis Q6. Als Ergebnis fließt
ein hoher Strom durch den Transistor Q1 und durch die leitenden mit ihren Source-Elektroden zusammengeschalteten Transistoren Q2
bis Q6, wodurch ein hoher Leistungsverbrauch entsteht. Dies ist besonders nachteilig, da dabei für einen Schreibvorgang nur etwa
ein Austastfaktor von etwa 2% erreicht werden kann. Dieses schlechte Tastverhältnis ist aber notwendig, damit das Halbleiterplättchen
zwischen aufeinanderfolgenden Schreibimpulsen ausreichend
abkühlen kann. Daher wird die für eine Aufeinanderfolge von Schreibvorgängen benötigte Zeit wesentlich erhöht und damit
die Arbeitsgeschwindigkeit der gesamten Speicherschaltung drastisch verringert.
Im Zusammenhang mit Figur 5 soll nunmehr die neuartige Treiberschaltung
gemäß der vorliegenden Erfindung im einzelnen beschrieben werden. Ein bipolarer Transistor T1 weist eine Anzahl von
Emittern 1e auf. Eine der Emitterelektroden 1e ist mit einer S-Impuls-Eingangsleitung
verbunden. Die verbleibenden Emitterelektroden sind mit entsprechenden Adreßleitungseingängen AL1, AL2,
ALn verbunden. Die Basis 1b des Transistors T1 ist mit der Anode einer Diode D1, die vorzugsweise eine Schottky-Sperrschicht-Diode
ist, verbunden. Die Kathode dieser Diode ist am Kollektor 1c des Transistors T.1 und außerdem an einer Leitung L2 angeschlossen.
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— G _
Ein Widerstand R ist mit seinem unteren Ende mit der Basis Tb des Transistors T1 und mit seinem oberen Ende mit dem Signaleingang
"Leistungs-Gate"verbunden. Mit dieser Klemme ist außerdem eine Leitung L1 verbunden, die am Gate 2g eines P-Kanal-Feldeffekttransistors
T2 angeschlossen ist. Die Source-Elektrode 2s dieses Feldeffekttransistors T2 ist mit Erde verbunden und die Drain-Elektrode
2d ist mit dem Verbindungspunkt von Leitungen L3 und L6 verbunden. Das andere Ende der Leitung L3 ist mit dem Verbindungspunkt der Leitungen L2, L4 und L5 verbunden. Leitung L4 erstreckt
sich nach der Gate-Elektrode 3g eines P-Kanal-Feldeffekttransistors
T3, dessen Soprce-Elektrode 3s mit Erde und dessen Drain-Elektrode
3d über Leitung L7 mit dem Ausgang der Treiberschaltung verbunden ist/ der mit einer der Wortleitungen WL in der Speicherzellenanordnung
verbunden ist. .
Das andere Ende der Leitung L5 ist mit der Gate-Elektrode 4g
eines P-Kanal-Feldeffekttransistörs T4 verbunden, dessen Source-Elektrode
4s mit Masse und dessen Drain-Elektrode 4d mit der Source-Elektrode 5s eines P-Kanal-Feldeffekttransistors T5 verbunden
ist. Die Gate-Elektrode 5g dieses Feldeffekttransistors T5
ist mit einem Rückstellsignaleingang verbunden. Die Drain-Elektrode
5d des Transistors T5 ist an einer negativen Spannungsquelle V3 angeschlossen. Die Drain-Elektrode 4d des Transistors T4 und die
Source-Elektrode 5s "des Transistors T5 sind über eine Leitung L8 mit der Gate-Elektrode 6g eines P-Kanal-Feldeffekttransistors T6
als Ausgangstransistor verbunden. Die Source-Elektrode 6s des Feldeffekttransistors T6 ist über die Leitung L7 mit dem Ausgang
der Treiberschaltung verbunden und seine Drain-Elektrode fid ist
mit einem Signaleingang für Chip-Auswahl verbunden. Für eine
positive Rückkopplung nach Art einer Bootstrap-Schaltung ist
ein Kondensator C zwischen der Source-Elektrode 6s und der Gate-Elektrode
6g des Transistors T6 eingeschaltet.
Die Drain-Elektrode 2d des Transistors T2 und die Leitung L3 sind
über Leitung L6 mit der Basis 7b eines bipolaren Transistors T7 verbunden. Der Emitter E7 dieses Transistors ist nur während
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- ίο - .
eines Lesevorganges mit einer negativen Spannungsquelle V4 von
-5 Volt verbunden, während bei einem Schreibvorgang der Emitter 7e des Transistors T7 nicht angeschlossen ist, so daß seine Spannung
nicht festliegt. Es sind außerdem zwei Dioden D2 und D3, vorzugsweise Schottky-Sperrschicht-Dioden, und eine dritte Diode
D4 üblicher Bauart mit diffundiertem Übergang vorgesehen. Die Kathoden aller drei Dioden D2, D3 und D4 sind mit dem Kollektor
7c des Transistors T7 verbunden. Die Anoden der Dioden D3 und D4 sind über Leitung L9 mit dem Ausgang der Treiberschaltung verbunden, der seinerseits mit der entsprechenden Wortleitung der
Speicherzellenanordnung verbunden ist. Die Anode der Diode D2 ist mit der Basis 7b des Transistors T7 verbunden.
Arbeitsweise der Treiberschaltung
Schreibvorgang für eine ausgewählte Schaltung
Schreibvorgang für eine ausgewählte Schaltung
Die Arbeitsweise einer ausgewählten Schaltung wird nunmehr, unter Verwendung des Schaltbildes in Figur 5 und der Impulsdiagramme
der Figuren 6 und 7, im Zusammenhang mit einem Schreibvorgang beschrieben. Während des gesamten Schreibvorgangs bleibt der S-Impulssignaleingang
auf hohem Potential, d.h. auf. Erdpotential. Der Emitter 7e des Transistors T7 ist nicht an der Spannungsquelle
V4 angeschlossen und hat während des ganzen Arbeitszyklus keine feste Vorspannung. Die Spannung am Rückstelleingäng geht auf
-20 Volt, wodurch Transistor T5 eingeschaltet wird. Dadurch wird die Gate-Elektrode 6g des Transistors T6 auf etwa -15 Volt gebracht.
Die am Rückstelleingang liegende Spannung geht dann wieder auf Erdpotential über und schaltet den Transistor T5 ab. Trotzdem
bleibt aber die Gate-Elektrode 6g des Transistors T6 ohne zusätzliche Vorspannung auf -15 Volt. Zu diesem Zeitpunkt sind die auf
den Adreßleitungseingängen AL1 bis ALn auftretenden Signale gültig, d.h., daß für die auszuwählende Schaltung die Spannungen an allen
diesen Eingangsklemmen' auf Erdpotential sind. Die Spannung am Leistungs-Gate-Eingang steigt auf Erdpotential an, wodurch der
Transistor T2 gesperrt wird. Die Gate-Elektrode 3g des Transistors
T3 und die Gate-Elektrode 4g des Transistors T4 bleiben
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auf Erdpotential. Daher werden die Transistoren T3 und T4 gesperrt,
Die am Chip-Auswahl-Eingang liegende Spannung geht dann auf
-30 Volt. Da die Gate-Elektrode 6g des Transistors T6 ohne Vorspannung
auf -15 Volt liegt, wie bereits beschrieben, wird dadurch
Transistor T6 leitend und die Spannung der Source-Elektrode 6s geht entsprechend nach unten, wodurch ein positives Rückkopplungssignal
über Kondensator C nach Gate 6g übertragen wird, so daß der Transistor T6 sehr stark in seinen leitenden Zustand
gesteuert wird. Die Spannung an der Gate-Elektrode 6g fällt rasch
auf etwa -45 Volt ab und die Spannung an der Source-Elektrode 6s
und damit das Ausgangssignal am Ausgang der Treiberschaltung geht
rasch auf -30 Volt zur Ansteuerung der Wortleitung WL und bewirkt eine durch Lawinendurchbruch hervorgerufene Injektion von Ladungsträgern in der ausgewählten Speicherzelle und die Speicherung
einer Ladung in der nicht vorgespannten Gate-Elektrode. Die Spanr nung am Eingang Chip-Auswahl geht dann auf Erdpotential über und
der Transistor T6 kehrt seine Arbeitsweise um, d.h. die Soürce-"
Elektrode 6s arbeitet nunmehr als Drain-Elektrode und die Drain-Elektrode
6d arbeitet nunmehr als Source-Elektrode, so daß der. Ausgang der Treiberschaltung und die daran angeschlossene Wortieitung
wieder nach oben auf Erdpotential angehoben werden. Die an dem Eingang Leistungs-Gate liegende Spannung fällt dann auf
-5 Volt ab und der Schreibzyklus ist für die ausgewählte Treiberschaltung
beendet. - ,
Der Schreibvorgang für eine niehtausgewählte Schaltung wird nunmehr
im Zusammenhang mit den Figuren 5 bis 7 beschrieben. Wie bereits erwähnt, ist der Emitter 7e des Transistors T7 nicht mit der
Spannungsquelle V4 verbunden und bleibt während des ganzen Arbeitszyklus ohne feste Vorspannung. Die an dem Eingang S-Impuls
liegende Spannung steigt'auf Erdpotential an. Die Spannung am
Rückstelleingang geht auf -20 Volt; wodurch Transistor T5 eingeschaltet
und die Spannung an der Gate-Elektrode 6g des Transistors
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T6 auf -15 Volt absinkt. Die Spannung am Ktickstelleingang geht
dann auf Erdpotential hoch und die Spannung an der Gate-Elektrode 6g bleibt bei -15 Volt, nachdem der Transistor T5 gesperrt ist.
Zu diesem Zeitpunkt sind die an den Adreßleitungen AL1 bis ALn anliegenden Spannungen gültig, d.h. für eine nichtausgewählte
Schaltung sind eine oder mehrere dieser Adreßleitungen auf einer negativen Spannung von -5 Volt.
Die am Leistungs-Gate-Eingang liegende Spannung steigt dann auf Erdpotential an, wodurch der Transistor T2 gesperrt und Transistor
TI eingeschaltet wird. Die Spannung an der Basis 1b des Transistors
TT liegt auf -4,2 Volt. Die Gate-Elektroden 3g und 4g der Transistoren T3, T4 liegen bei -4,8 Volt, wodurch diese Transistoren
eingeschaltet werden. Da Transistor T3 leitend ist, bleiben seine Drain-Elektrode 3d und damit auch der Ausgang der Treiberschaltung
auf Erdpotential. Da der Transistor T4 leitend ist, fließt Strom durch diesen Transistor hindurch nach der Gate-Elektrode
6g des Transistors T6 und hält damit 6g auf Erdpotential. Das verhindert aber einen Lawinendurchbruch des Transistors T6,
wenn die Spannung am Eingang Kippauswahl auf -30 Volt geht. Wenn dies eintritt, bleibt die Wortleitung WL trotzdem auf Erdpotential,
da Transistor T3 leitend ist. Damit bleibt aber die FAMOS-Speicherzelle,
mit der die bestimmte Wortleitung WL verbunden ist, unberührt, da es keine durch Lawinenzusammenbruch hervorgerufene Injektion
von Ladungsträgern gibt und die Gate-Elektrode nicht aufgeladen, wird. Die am Eingang Chip-Auswahl liegende Spannung geht
auf Erdpotential und die am Eingang Leistungs-Gate liegende Spannung geht auf -5 Volt. Der Transistor T2 wird eingeschaltet. Die
Gate-Elektroden 3g, 4g entladen nach Erdpotential und die Transistoren
T3, T4 werden zur Beendigung des Arbeitszyklus gesperrt.
Der Lesevorgang für eine ausgewählte Schaltung wird nunmehr im Zusammenhang mit den Figuren 5 bis 7 beschrieben. Emitter 7e des
Transistors T7 ist mit einer Spannungsquelle V4 mit -5 Volt ver- '
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bunden. Die Eingänge Rückstellen, Chip-Auswahl undLeistungs-Gate
bleiben während: des ganzen Arbeitszyklus auf Erdpotential. Die
Transistoren T5 und T6 bleiben während des gesamten Arbeitszyklus
gesperrt. Durch den Transistor T4 fließt kein Strom, da dessen Drain-^Elektrode 4d auf Erdpotential gehalten ist. Die an allen
Adreßleitungseingängeri ALT bis ALn liegenden Signale-sind nunmehr
gültig auf Erdpotential. Die Spannung am Eingang S-Impuls steigt
auf Erdpotential an. Dadurch wird der Basis-Emitter-übergang des
Transistors Ti in Sperrichtung vorgespannt und Transistor T1 wird
gesperrt. Der Strom fließt nunmehr vom Eingang Leistungs-Gate nach unten durch den Widerstand R, die Diode D1, die Leitungen
L2, L3, L6 nach der Basis 7b des Transistors T7, wodurch dieser
eingeschaltet wird. Als Ergebnis fällt die Spannung am Kollektor 7c
des Transistors T7 auf -4,8 Volt, wodurch die Dioden D3 und D4 leitend werden und damit die Wortleitung WL auf -4,3 Volt bringen.
Die am Eingang S-Impuls liegende Spannung fällt auf -5VoIt ab,
so daß Transistor Tt einschaltet. Der Kollektor 1c des Transistors
•T1 bringt die Spannung der Gate-Elektrode 3g des Transistors T3
und der Basis 7b des Transistors T7 nach unten auf -4,8 Volt,
wodurch Transistor T7 gesperrt und Transistor T3 eingeschaltet
wird. Der Leitzustand des Transistors T3 bewirkt, daß die Leitung und der Ausgang der Treiberschaltung zusammen mit der Wortleitung '
WL Erdpotential annehmen, worauf der Arbeitszyklus beendet ist.
Die Arbeitsweise bei nichtausgewählter Treiberschaltung während eines Lesezyklus wird nunmehr im Zusammenhang mit den Figuren
5 bis 7 beschrieben. Der Emitter Te des Transistors T7 ist mit
einer Spannungsquelle V4 mit -5 Volt verbunden. Die Spannungen an
den Eingängen Rückstellen, Leistungs-Gate und Chip-Auswahl bleiben
während des gesamten Zyklus auf Erdpotential. Die Transistoren T5 und T6 bleiben gesperrt. Durch den Transistor T4 fließt kein Strom,
da die Drain-Elektrode 4d auf Erdpotential liegt. Wenn die Adreßleitungen
ALI bis ALn für nichtausgewählte Zelle gültige Signale
führen, dann liegen eine oder mehrere dieser Adreßleitungsein-
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gänge bei -5 Volt. Die Spannung am Eingang S—Impuls geht auf Erdpotential
hoch. Da eine oder mehrere der Adreßleitungen AL1 bis ALn auf -5 Volt liegen, bleibt T1 eingeschaltet. Der Kollektor 1c
des leitenden Transistors T1 und die Basis 7b des Transistors T7 bleiben auf -4,8 Volt, wodurch Transistor T7 gesperrt bleibt. Die
Gate-Elektrode 3g des Transistors T3 liegt ebenfalls auf -4,8 Volt,
so daß die Wortleitung WL auf Erdpotential verbleibt. Der S-Impuls-Eingang
fällt auf -5 Volt ab und beendet damit den Arbeitszyklus.
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Claims (4)
- P, A T E N T A N S P RUCH EΓ\) Integrierte Treiberschaltung mit einem Treibertransistor, * dadurch gekennzeichnet, daß der Treibertransistor (T6) mit einer ersten Elektrode (6s) am Ausgang (WL). angeschlossen und an einer zweiten Elektrode (6d) durch einen Signalimpuls vorgegebener Polarität ansteuerbar ist, während die dritte Elektrode (6g) eine Steuerelektrode ist, und daß mit der Steuerelektrode (6g) ein selektiv betätigbarer Steuerschalter (T1, T4, T5) verbunden ist, über den der Treibertransistor gesperrt und das Potential seiner Steuerelektrode auf einem ersten vorgegebenen Wert gehalten oder entsperrt werden kann und das Potential seiner Steuerelektrode in Abhängigkeit von dem Signalimpuls auf ein Potential der vorgegebenen Polarität übergehen kann.
- 2. Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Steuerschalter einen zweiten Transistor (TS) enthält, dessen erste Elektrode (5s) mit der Steuerelektrode (6g) des Treibertransistors, dessen zweite Elektrode (5d) mit einer festen Potentialquelle (V3) verbunden ist und der an einer Steuerelektrode (5g) über-einen Signalimpulseingang zwischen einem leitenden und einem gesperrten Zustand umsteuerbar ist.
- 3. Schaltung nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Treibertransistor (T6) und als Steuertransistor (T5) Feldeffekttransistoren verwendet sind, und daß bei beiden Transistoren die erste Elektrode die Source-Elektrode, die zweite Elektrode die Drain-Elektrode und die Steuerelektrode die Gate-Elektrode ist..4. Schaltung nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur Aufladung der Steuerelektrode (6g) des Treiber-FI 972 051409828/067 8transistors (T6) auf ein erstes Potential (-15 Volt) der Schalttransistor (T5) durch einen Rückstellimpuls ansteuerbar ist, bevor der Treibertransistor (T6) an seiner zweiten Elektrode (6d) über den Signalimpuls vorgegebener Polarität ansteuerbar ist.5. Schaltung nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der ersten Elektrode (6s) des Treibertransistors (T6) und dessen Steuerelektrode (6g) ein positiv wirkendes Rückkopplungselement eingeschaltet ist.6. Schaltung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Rückkopplungselement ein Kondensator (C) ist.7. Schaltung nach Anspruch 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß zur selektiven Betätigung der Treiberschaltung eine logische Torschaltung (T1) mit einer Anzahl von Eingängen (AL1 bis ALn) zur Aufnahme binärer Signale vorgesehen ist, und daß der Steuerschalter in Abhängigkeit von den an den Eingängen anliegenden binären Signalen selektiv zwischen zwei Betriebszuständen umschaltbar ist.8. Schaltung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die logische Torschaltung aus einem Transistor (T1) mit einer Anzahl von Elektroden (1,e) besteht, und daß jeder der Eingänge (AL1 bis ALn) mit einer dieser Elektroden (1e) verbunden ist.9. Schaltung nach Anspruch 8/ dadurch gekennzeichnet, daß der Transistor (T1) ein bipolarer Transistor ist, und daß die genannten Elektroden Emitter-Elektroden sind.10. Schaltung nach Anspruch 9, dadurch·gekennzeichnet, daß der selektiv betätigbare Steuerschalter einen dritten Transistor (T3) enthält, dessen erste Elektrode (3s) mit einer Quelle festen Potentials verbunden und dessen zweiteFI 972 051409828/0678Elektrode (3d) mit dem Ausgang (WL) verbunden ist., während seine Steuerelektrode (3g) mit dem selektiv ansteuerbaren Signaleingang (T1) verbunden ist, wodurch dieser Transistor (T3) zwischen seinem leitenden und gesperrten Zustand umsteuerbar ist.11. Schaltung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß der dritte Transistor (T3) ebenfalls ein Feldeffekttransistor ist, dessen erste Elektrode die Source-Elektrode (3s), dessen zweite Elektrode die Drain-Elektrode (3d) und dessen Steuerelektrode die Gate-Elektrode (3g) ist.12. Schaltung nach Anspruch 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß der selektiv betätigbare Steuerschalter aus zwei zwischen einem festen Potential und einer Potentialcjuelle in Reihe geschalteten Feldeffekttransistoren (T
- 4, T5) und einem dritten zwischen einem festen Potential.und dem Ausgang (WL) eingeschalteten Feldeffekttransistor (T3) besteht, daß die einseitig an festem Potential liegenden Transistoren (T3, T4) über die Eingangs tor schaltung ■ (T.1) an ihren Steuerelektroden (3g, 4g) vom leitenden in den gesperrten Zustand umsteuerbar sind, und daß in ihrem leitenden Zustand an der Steuerelektrode (6g) des Treibertransistors und am Ausgang (WL) bei Nichtauswahl ein definiertes Potential einstellbar ist.13. Schaltung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerelektrode (6g) des Treibertransistors (T6) bei gesperrten Schalttransistören (T3, T4) an keinem festen Potential angeschlossen ist und bei gesperrtem Treibertransistor (T6) mit Hilfe des zweiten Transistors (T5) dann durch einen Signalirapuls auf ein Zwischenpotential der vorgegebenen Polarität aufladbar ist, das der Vorbereitung der Durchschaltung des Treibertransistors (T6) dient.FI 972O=1 i09828/0678Leerseite
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US3986054A (en) * | 1973-10-11 | 1976-10-12 | International Business Machines Corporation | High voltage integrated driver circuit |
US4053798A (en) * | 1975-02-20 | 1977-10-11 | Matsushita Electronics Corporation | Negative resistance device |
JPS53135136A (en) * | 1977-04-28 | 1978-11-25 | Shigeru Suzuki | Snow melting panel |
CH631287A5 (fr) * | 1979-03-14 | 1982-07-30 | Centre Electron Horloger | Element de memoire non-volatile, electriquement reprogrammable. |
US4598390A (en) * | 1984-06-25 | 1986-07-01 | International Business Machines Corporation | Random access memory RAM employing complementary transistor switch (CTS) memory cells |
US4578779A (en) * | 1984-06-25 | 1986-03-25 | International Business Machines Corporation | Voltage mode operation scheme for bipolar arrays |
US4596002A (en) * | 1984-06-25 | 1986-06-17 | International Business Machines Corporation | Random access memory RAM employing complementary transistor switch (CTS) memory cells |
US5598367A (en) * | 1995-06-07 | 1997-01-28 | International Business Machines Corporation | Trench EPROM |
CN1192436C (zh) * | 2001-11-02 | 2005-03-09 | 力旺电子股份有限公司 | 可擦写可编程只读存储器的编程操作方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3660819A (en) * | 1970-06-15 | 1972-05-02 | Intel Corp | Floating gate transistor and method for charging and discharging same |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3364362A (en) * | 1963-10-07 | 1968-01-16 | Bunker Ramo | Memory selection system |
US3286189A (en) * | 1964-01-20 | 1966-11-15 | Ithaco | High gain field-effect transistor-loaded amplifier |
US3375502A (en) * | 1964-11-10 | 1968-03-26 | Litton Systems Inc | Dynamic memory using controlled semiconductors |
US3363115A (en) * | 1965-03-29 | 1968-01-09 | Gen Micro Electronics Inc | Integral counting circuit with storage capacitors in the conductive path of steering gate circuits |
US3373295A (en) * | 1965-04-27 | 1968-03-12 | Aerojet General Co | Memory element |
US3518635A (en) * | 1967-08-22 | 1970-06-30 | Bunker Ramo | Digital memory apparatus |
US3521141A (en) * | 1967-10-30 | 1970-07-21 | Ibm | Leakage controlled electric charge switching and storing circuitry |
US3629618A (en) * | 1970-08-27 | 1971-12-21 | North American Rockwell | Field effect transistor single-phase clock signal generator |
-
1972
- 1972-12-29 US US00319966A patent/US3843954A/en not_active Expired - Lifetime
-
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Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3660819A (en) * | 1970-06-15 | 1972-05-02 | Intel Corp | Floating gate transistor and method for charging and discharging same |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Electronics, 16. Febr. 1970, Seiten 109 bis 115 * |
IEEE International Solid-State Circuits Conference, 18.2.1971, Seiten 80/81 * |
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