DE2338264B2 - Verfahren zur herstellung von leuchtenden galliumphosphid-dioden - Google Patents

Verfahren zur herstellung von leuchtenden galliumphosphid-dioden

Info

Publication number
DE2338264B2
DE2338264B2 DE19732338264 DE2338264A DE2338264B2 DE 2338264 B2 DE2338264 B2 DE 2338264B2 DE 19732338264 DE19732338264 DE 19732338264 DE 2338264 A DE2338264 A DE 2338264A DE 2338264 B2 DE2338264 B2 DE 2338264B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
layer
diodes
nitrogen
zinc
doped
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19732338264
Other languages
English (en)
Other versions
DE2338264A1 (de
DE2338264C3 (de
Inventor
Claus Dr.phil. 8035 Gauting; Winstel Günter Dipl.-Phys. Dr.rer.nat. 8012 Ottobrunn Weyrich
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority claimed from DE19732338264 external-priority patent/DE2338264C3/de
Priority to DE19732338264 priority Critical patent/DE2338264C3/de
Priority to DE19732346198 priority patent/DE2346198A1/de
Priority to IT25124/74A priority patent/IT1017128B/it
Priority to FR7425003A priority patent/FR2239073B1/fr
Priority to NL7409821A priority patent/NL7409821A/xx
Priority to US05/490,997 priority patent/US3948693A/en
Priority to AT613574A priority patent/AT334431B/de
Priority to BE146998A priority patent/BE818149A/xx
Priority to JP8593674A priority patent/JPS5745069B2/ja
Priority to GB3309374A priority patent/GB1442506A/en
Priority to CA205,700A priority patent/CA1027223A/en
Priority to LU70616A priority patent/LU70616A1/xx
Publication of DE2338264A1 publication Critical patent/DE2338264A1/de
Publication of DE2338264B2 publication Critical patent/DE2338264B2/de
Publication of DE2338264C3 publication Critical patent/DE2338264C3/de
Application granted granted Critical
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0062Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02538Group 13/15 materials
    • H01L21/0254Nitrides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02538Group 13/15 materials
    • H01L21/02543Phosphides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/0257Doping during depositing
    • H01L21/02573Conductivity type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/0257Doping during depositing
    • H01L21/02573Conductivity type
    • H01L21/02581Transition metal or rare earth elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/02623Liquid deposition
    • H01L21/02625Liquid deposition using melted materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/02623Liquid deposition
    • H01L21/02628Liquid deposition using solutions
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10S117/906Special atmosphere other than vacuum or inert

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Description

sowie die mit Tellur dotierte und vorher mit Galliumphosphid bei Arbeitstemperatur gesättigte Galliumschmelze 3, die mit dem Substrat 2 in Kontakt ist, werden mit Hilfe des Ofens 7 auf eine Arbeitstemperatur von beispielsweise 11000C aufgeheizt. Nach Erreichen der Arbeitstemperatur und nach Abwarten einer Homogenisierungszeit werden dem Schutzgasstrom durch die öffnungen 13 und 14 die Doberungss ><?ffe Sauerstoff und Ammoniak in gasförmigem Zustand dosiert hinzugegeben. Die Dosierung der Gase erfolgt mit Hilfe der Dosierventile 15 bzw. 16. Anschließend erfolgt das Aufwachsen der ersten Epitaxieschicht bei konstanter Sauerstoff- sowie Ammoniakgas-Konzentration im Schutzgas durch Abkühlen der mit Galliumphosphid gesättigten Galliumschmelze. Die Zugabe von Tellur in die Galliumschmelze sowie die Sauerstoff- und die Ammoniak-Konzentration in der Gasphase werden derart eingestellt, daß die Konzentrationen für die einzelnen Dotierungsstoffe der ersten Epitaxieschicht vorzugsweise folgende Werte annehmen, und zwar für Tellur eine Dotierung von (1—5)· 1017Cm-3, für Sauerstoff eine solche von 1 · 1017Cm-3 und für Stickstoff eine Dotierung von etwa 1 · 1019 cm-3. Bei dem anschließenden Aufwachsprozeß für die zweite Epitaxieschicht wird die Zugabe von Sauerstoff und Ammoniak zur Schutzgasatmosphäre abgeschaltet. Gleichzeitig wird eine Verdampferschale 8 mit Hilfe einer Halterung 9 in das Reaktionsrohr 1 eingeführt, so daß Zink, das sich in der Verdampferschale befindet, bei etwa 8000C verdampft. Die Temperatur, bei der das Zink verdampfen soll, wird durch eine vorgegebene Position der Verdampferschale 8 relativ zum Ofen 7 eingestellt. Dieses Zink diffundiert in die Galliumschmelze 3 und bei hinreichend großem Angebot an Zink erreicht man eine Umdotierung der Schmelze, so daß nun bei weiterem Abkühlen eine zweite Epitaxieschicht mit P-Leitfähigkeit aufwachsen kann. Während des Abkühlvorgangs oder durch eine Temperung bei hoher Temperatur diffundiert das Zink aus der zweiten Schicht in die erste ein. Hierdurch kommt es in der ersten, ursprünglich N-leitenden Schicht zur Bildung von isoelektronischen Zink-Sauerstoff-Paaren, die für eine Lichtemission im roten Spektralbereich erforderlich sind.
An Stelle des Temperprozesses kann die Eindringtiefe des Zinks auch durch eine entsprechend vorgegebene Abkühlungsrate während des Aufwachsprozesses der zweiten Epitaxieschicht festgelegt werden. Die Verdampfungsmenge an Zink in der Verdampferschale 8 wird so bemessen, daß sich eine Zink-Kcnzentration von ca. 2 ■ 10l8cm-3 in der zweiten Epitaxieschicht ergibt. Ferner ist die Temperung so bemessen, daß die Eindringtiefe des Zinks etwa 1— 3 μηι von der Aufwachsgrenze der zweiten Schicht in die erste N-leitende Schicht hineinreicht.
Gemäß einer weiteren Ausgestaltung des Verfahrens läßt sich die simultane Dotierungskonzentration für die Stoffe Tellur, Sauerstoff und Stickstoff bis zu folgenden Maximalwerten erhöhen: Für Tellur etwa 1 bis 2 · 1018 cm-3, für Sauerstoff etwa 1 · 1017 cm-3 und für Stickstoff eine Konzentration von etwa 2 - IO19cm-3. Ab diesen Maximalwerten können Wachstumsstörungen im einkristallinen Aufbau des Galliumphosphid-Wirtsgitters auftreten, die zu verringerten Lichtausbeuten für die lumineszente Strahlung führen.
Gemäß einer Weiterbildung des Verfahrens läßt sich die verhältnismäßig hohe Dotierungskonzentration an Stickstoff anstelle der Zufuhr über die Gasphase in Form von Ammoniakgai auch über die flüssige Phase erreichen. Hierzu wird der Galliumschmelze eine vorgegebene Menge an Galliumnitrid zugegeben und diese Schmelze dann in einer abgeschlossenen Quarzampulle, die das Abdampfen des Stickstoffes verhindert, bei Arbeitstemperatur homogenisiert Die so erhaltene, mit Galliumnitrid homogenisierte Schmelze wird in dem obigen bevorzugten Ausführungsbeispiel anstelle der Galliumschmelze 5 benutzt. In diesem Fall wird während des Abscheidens der ersten Schicht auf eine Ammoniakzufuhr zum Schutzgas verzichtet.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (4)

  1. einem PN-Übergang, die sowohl rotes als auch grünes D . . c .-.„i,» Licht emittieren kann, dadurch hergestellt wird, daß
    Patentansprüche: schwefel- und stickstoffdotierte Kristallplättchen aus
    ρ- - c< L· · γ · ·, Tallin- werden und auf diesen Plättchen mittels iscnmelzepita-
    Epitaxieverfahren, wobei auf einem mit lellur *Bura"".""" „.„«j,»,;,,,,,, d c„u- u. l
    datierten Substrat aus Galliumphosphid aus einer xie eme zink- und sauers offdonerte P-Schicht abge-Schmelze, die Gallium, Galliumphosphid und Tellur schieden w.rd. Beim Betneb emer solchen Djode enthälUeineerste.mitTellurundSauerstoffdotierte entsteht eme rot leuchtende Lumineszenzstrahlung Schicht epitaktisch abgeschieden wird, wobei der io durch Rekombination von Elektronen und Lochern an Sauerstoff während des Abscheiden aus einer isoelektronischen Zink-Sauerstoff-Zentren sowie eme Schutzgas-Atmosphäre zugeführt wird, und wobei grün leuchtende Strahlung durch Rekombination an auf der ersten Schicht eine zweite Schicht, die mit isoelektron.schen Sückstoff-Atomen. Durch subjektive Zink und Tellur dotiert ist, epitaktisch abgeschieden Farbmischung ergibt sich dann physiologisch der wird, wobei das Zink der Schutzgas-Atmosphäre 15 Eindruck einer gelb leuchtenden Lumineszenzdiode. oder der Schmelze zugesetzt wird und wobei das Das Herstellen der KnstaHplattchen aus Galhumphos-Zink in die erste Schicht so eindiffundiert, daß durch phid ist jedoch sehr schlecht reproduzierbar und b.eiet diese eine PN-Grenzschicht verläuft dadurch daher für die Herstellung von gelb leuchtenden g e k e η η ζ e i c h η e t. daß .die erste Schicht wäh- Lumineszenzdioden kernen technisch sinnvollen Weg.
    rend des Aufwachsens zusätzlich mit Stickstoff io Aus »Journ. of Physics C. Solid-State Physics« 4 dotiert wird (1971). 16. S. L344 bis L347 ist ein Verfahren bekannt.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1. dadurch gekenn- nach dem gelb leuchtende Galliumphosph.d-Dioden zeichnet, daß während des Abscheidens der ersten dadurch erzeugt werden können, daß eine an s.ch grün Schicht der Schutzgas-Atmosphäre Ammoniakgas leuchtende Galliumphosphid-Diode extrem hoch mit zugegeben wird. 25 Stickstoff dotiert wird. Die Stickstoff-Dotierung erfolgt
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn- dabei aus der Gasphase in der Weise, daß beim zeichnet, daß der Stickstoff in Form von Galliumni- Aufwachsen epitaktischer Galliumphosphid-Schichten trid der Schmelze zugegeben wird. der umgebenden Gasatmospiiäre Ammoniak zugesetzt
  4. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3. wird. Dabei diffundiert Stickstoff in den Halbleiterkördadurch gekennzeichnet, daß während des Abschei- 30 per hinein. Gegenüber der Intensität einer grün dens der ersten Schicht der Sauerstoff als gasförmi- leuchtenden Galliumphosphid-Diode ist die Emission ger Sauerstoff der Schutzgas-Atmosphäre zugege- einer solchen hoch mit Stickstoff dotierten Galliumben wird. phosphid-Diode allerdings sehr stark vermindert.
    Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren 35 anzugeben, mit dem gelb leuchtende Galliumphosphid-
    Dioden in reproduzierbarer Weise hergestellt werden
    können.
    Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren nach der
    von leuchtenden Galliumphosphid-Dioden nach dem eingangs beschriebenen Art erfindungsgemäß nach der Flüssigphasen-Epitaxieverfahren, wobei auf einem mit 40 im kennzeichnenden Teil des Patentanspruches 1 Tellur dotierten Substrat aus Galliumphosphid aus einer angegebenen Weise gelöst.
    Schmelze, die Gallium, Galliumphosphid und Tellur Mit dem erfindungsgemäßen Epitaxieverfahren lasenthält, eine erste, mit Tellur und Sauerstoff dotierte sen sich gelb leuchtende Lumineszenzdioden auf Schicht epitaktisch abgeschieden wird, wobei der großflächigen Czochralski-Substraten in einem einzigen Sauerstoff während des Abscheidens aus einer Schutz- 45 Epitaxiesun itt. d. h. ohne Zwischenbelüftung, herstellen. gas-Atmosphäre zugeführt wird, und wobei auf der Hierdurch erzielt man einkristalline Halbleiterschichten ersten Schicht eine zweite Schicht, die mit Zink und mit höherer Reinheit, und ferner in Verbindung mit der Tellur dotiert ist, epitaktisch abgeschieden wird, wobei Tatsache, daß sowohl die P- und die N-Schicht aus das Zink der Schutzgas-Atmosphäre oder der Schmelze epitaktischem Material aufgebaut sind, erreicht man zugesetzt wird, und wobei das Zink in die erste Schicht 50 höhere Konversionswirkungsgrade bei der Umwand- «o eindiffundiert, daß durch diese eine PN-Grenzschicht lung der elektrischen Gleichstromenergie in luminesverläuft. Ein derartiges Verfahren ist aus der deutschen zente Strahlungsenergie.
    Offenlegungsschrift 20 18072bekannt. Dienach diesem Gemäß einer besonderen Ausgestaltung des erfin-
    Verfahren hergestellten Leuchtdioden emittieren aus- dungsgemäßen Verfahrens wird anhand der Figur schließlich rotes Licht. Isoelektronische Stickstoffzen- 55 beschrieben, wie Lumineszenzdioden aus Galliumphos-Iren, von denen grün leuchtende Strahlung emittiert phid nach dem erfindungsgemäßen Verfahren herge- «verden könnte, werden bei diesem Verfahren nicht stellt werden. Es wird dabei eine Epitaxieapparatur erzeugt, da in dem verwendeten Trägergas an benutzt, die bereits in der deutschen Offenlegungsschrift stickstoffhaltigen Verbindungen nur N2 vorhanden ist. 22 47 710 beschrieben wurde. Das zu beschichtende das wegen seiner hohen Dissoziationsenergie keine 60 Substrat befindet sich danach in dem Reaktionsrohr 1 Dotierung des Halbleitermaterials mit Stickstoff-Ato- der genannten Apparatur. Der Innenraum des Reakmen bewirkt. tionsrohres 1 wird von einem Schutzgas, wie z. B. Argon,
    Es ist ferner bekannt, gelb leuchtende Lumineszenz- ausgefüllt, das durch die öffnungen 11 und 12 ein- bzw. dioden dadurch herzustellen, daß man die Strahlung von ausströmt. Das Substrat 2 sowie die mit Tellur dotierte örtlich dicht benachbarten rot bzw. grün leuchtenden 65 Galliumschmelze 3 befinden sich in einem Tiegel 4, der Lumineszenzdioden mit vorgegebenen Intensitäten mit einem Deckel 5 abgedeckt ist. Der Tiegel ist auf mischt. So ist aus »Solid-State Electronics«, Bd. 14 einer abnehmbare Halterung 6 in dem Reaktionsrohr 1 (1971), S. 655 bis 660 bekannt, daß eine Diode mit nur in einer vorgegebenen Position gelagert. Das Substrat 2
DE19732338264 1973-07-27 1973-07-27 Verfahren zur Herstellung von leuchtenden Galliumphosphid-Dioden Expired DE2338264C3 (de)

Priority Applications (12)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19732338264 DE2338264C3 (de) 1973-07-27 Verfahren zur Herstellung von leuchtenden Galliumphosphid-Dioden
DE19732346198 DE2346198A1 (de) 1973-07-27 1973-09-13 Verfahren zur herstellung gelb leuchtender galliumphosphid-dioden
IT25124/74A IT1017128B (it) 1973-07-27 1974-07-12 Procedimento per la produzione di diodi di fosfuro di gallio a lumi nescenza gialla
FR7425003A FR2239073B1 (de) 1973-07-27 1974-07-18
NL7409821A NL7409821A (nl) 1973-07-27 1974-07-19 Werkwijze ter vervaardiging van geel licht gevende galliumfosfidedioden, alsmede voort- brengsels, verkregen volgens deze werkwijze.
US05/490,997 US3948693A (en) 1973-07-27 1974-07-23 Process for the production of yellow glowing gallium phosphide diodes
AT613574A AT334431B (de) 1973-07-27 1974-07-25 Verfahren zur herstellung gelb leuchtender galliumphosphid-dioden
BE146998A BE818149A (fr) 1973-07-27 1974-07-26 Procede de fabrication de diodes a luminescence jaune au phosphure de gallium et diodes obtenues par application de ce procede
JP8593674A JPS5745069B2 (de) 1973-07-27 1974-07-26
GB3309374A GB1442506A (en) 1973-07-27 1974-07-26 Production of yellow output radiation gallium phosphide lumin escence diodes
CA205,700A CA1027223A (en) 1973-07-27 1974-07-26 Process for the production of yellow glowing gallium phosphide diodes
LU70616A LU70616A1 (de) 1973-07-27 1974-07-26

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19732338264 DE2338264C3 (de) 1973-07-27 Verfahren zur Herstellung von leuchtenden Galliumphosphid-Dioden
DE19732346198 DE2346198A1 (de) 1973-07-27 1973-09-13 Verfahren zur herstellung gelb leuchtender galliumphosphid-dioden

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2338264A1 DE2338264A1 (de) 1975-02-20
DE2338264B2 true DE2338264B2 (de) 1976-10-21
DE2338264C3 DE2338264C3 (de) 1977-06-02

Family

ID=

Also Published As

Publication number Publication date
NL7409821A (nl) 1975-01-29
BE818149A (fr) 1974-11-18
DE2338264A1 (de) 1975-02-20
LU70616A1 (de) 1974-12-10
ATA613574A (de) 1976-05-15
AT334431B (de) 1976-01-10
GB1442506A (en) 1976-07-14
FR2239073A1 (de) 1975-02-21
US3948693A (en) 1976-04-06
DE2346198A1 (de) 1975-05-07
FR2239073B1 (de) 1980-01-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69227170T2 (de) Verfahren zur Herstellung von Verbundhalbleitern des P-Typs
DE3049127A1 (de) Verfahren zur herstellung von mischkristall-fotodiodenplaettchen, die zur herstellung von led&#39;s geeignet sind
DE2039381C3 (de) Verfahren zur Herstellung einer epitaktisch auf einem n-leitenden Substrat aus Galliumphosphid gewachsenen p-leitenden Galliumphosphidschicht
DE3810245A1 (de) Lichtemittierendes element und verfahren zu seiner herstellung
DE2620832A1 (de) Solarzelle
DE2231926A1 (de) Verfahren zur herstellung von halbleitermaterial und zur herstellung von halbleitereinrichtungen
DE2927454C2 (de)
DE19806536A1 (de) Grünes Licht emittierendes Galliumphosphid-Bauteil
DE2346198A1 (de) Verfahren zur herstellung gelb leuchtender galliumphosphid-dioden
DE2843983C2 (de) Verfahren zum Herstellen einer Grünlicht emittierenden GaP-Lumineszenzdiode
DE2338264C3 (de) Verfahren zur Herstellung von leuchtenden Galliumphosphid-Dioden
DE1539606A1 (de) Elektrolumineszentes Material
DE69207069T2 (de) Lichtemittierende Halbleitervorrichtung
DE19533923A1 (de) Leuchtdiode
DE2416394A1 (de) Verfahren zur herstellung einer gruenlicht emittierenden galliumphosphid-vorrich- tung
DE2235427C3 (de) Verfahren zur Herstellung eines zur Lumineszenz befähigten Zweischichtkörpers
DE2032099C (de) Verfahren zur Herstellung eines mit Ge dotierten Einkristalls für eine Elektrolumineszenzvorrichtung und derartige Vorrichtung
DE3128395A1 (de) Lumineszenzdiode
DE2026048A1 (de) Injektions-Lichtemissionsdiode und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE2200585C3 (de) Verfahren zur Herstellung eines elektrolumineszenten Halbleiterbauelements
DE2010745C3 (de) Verfahren zum Herstellen eines Galliumarsenideinkristalls mit pn-übergang
DE2443532A1 (de) Verfahren zur herstellung eines ternaeren halbleiters und anwendung desselben
DE2235427B2 (de) Verfahren zur herstellung eines zur lumineszenz befaehigten zweischichtkoerpers
DE1932130C (de) Grün elektrolumineszente Halbleiter diode und Verfahren zu deren Herstellung
DE10253160A1 (de) Elektromagnetische Strahlung emittierendes Halbleiterbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
E77 Valid patent as to the heymanns-index 1977
8339 Ceased/non-payment of the annual fee