DE2338264B2 - Verfahren zur herstellung von leuchtenden galliumphosphid-dioden - Google Patents
Verfahren zur herstellung von leuchtenden galliumphosphid-diodenInfo
- Publication number
- DE2338264B2 DE2338264B2 DE19732338264 DE2338264A DE2338264B2 DE 2338264 B2 DE2338264 B2 DE 2338264B2 DE 19732338264 DE19732338264 DE 19732338264 DE 2338264 A DE2338264 A DE 2338264A DE 2338264 B2 DE2338264 B2 DE 2338264B2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- layer
- diodes
- nitrogen
- zinc
- doped
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 title claims description 13
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 13
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 16
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 15
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 13
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 claims description 13
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 11
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 7
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000000155 melt Substances 0.000 claims description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 5
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 4
- 239000012071 phase Substances 0.000 claims description 3
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 claims 6
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 claims 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 2
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 claims 2
- 230000006798 recombination Effects 0.000 claims 2
- 238000005215 recombination Methods 0.000 claims 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 claims 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims 1
- CDMADVZSLOHIFP-UHFFFAOYSA-N disodium;3,7-dioxido-2,4,6,8,9-pentaoxa-1,3,5,7-tetraborabicyclo[3.3.1]nonane;decahydrate Chemical compound O.O.O.O.O.O.O.O.O.O.[Na+].[Na+].O1B([O-])OB2OB([O-])OB1O2 CDMADVZSLOHIFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 claims 1
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 claims 1
- 238000004943 liquid phase epitaxy Methods 0.000 claims 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims 1
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 claims 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 238000005496 tempering Methods 0.000 description 3
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 2
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 239000003708 ampul Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 208000037824 growth disorder Diseases 0.000 description 1
- 238000000265 homogenisation Methods 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 150000003751 zinc Chemical class 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0062—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/02521—Materials
- H01L21/02538—Group 13/15 materials
- H01L21/0254—Nitrides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/02521—Materials
- H01L21/02538—Group 13/15 materials
- H01L21/02543—Phosphides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/0257—Doping during depositing
- H01L21/02573—Conductivity type
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/0257—Doping during depositing
- H01L21/02573—Conductivity type
- H01L21/02581—Transition metal or rare earth elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02612—Formation types
- H01L21/02617—Deposition types
- H01L21/02623—Liquid deposition
- H01L21/02625—Liquid deposition using melted materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02612—Formation types
- H01L21/02617—Deposition types
- H01L21/02623—Liquid deposition
- H01L21/02628—Liquid deposition using solutions
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S117/00—Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
- Y10S117/906—Special atmosphere other than vacuum or inert
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Led Devices (AREA)
Description
sowie die mit Tellur dotierte und vorher mit Galliumphosphid bei Arbeitstemperatur gesättigte
Galliumschmelze 3, die mit dem Substrat 2 in Kontakt ist, werden mit Hilfe des Ofens 7 auf eine Arbeitstemperatur
von beispielsweise 11000C aufgeheizt. Nach
Erreichen der Arbeitstemperatur und nach Abwarten einer Homogenisierungszeit werden dem Schutzgasstrom
durch die öffnungen 13 und 14 die Doberungss ><?ffe Sauerstoff und Ammoniak in gasförmigem
Zustand dosiert hinzugegeben. Die Dosierung der Gase erfolgt mit Hilfe der Dosierventile 15 bzw. 16.
Anschließend erfolgt das Aufwachsen der ersten Epitaxieschicht bei konstanter Sauerstoff- sowie Ammoniakgas-Konzentration
im Schutzgas durch Abkühlen der mit Galliumphosphid gesättigten Galliumschmelze.
Die Zugabe von Tellur in die Galliumschmelze sowie die Sauerstoff- und die Ammoniak-Konzentration
in der Gasphase werden derart eingestellt, daß die Konzentrationen für die einzelnen Dotierungsstoffe der
ersten Epitaxieschicht vorzugsweise folgende Werte annehmen, und zwar für Tellur eine Dotierung von
(1—5)· 1017Cm-3, für Sauerstoff eine solche von
1 · 1017Cm-3 und für Stickstoff eine Dotierung von etwa
1 · 1019 cm-3. Bei dem anschließenden Aufwachsprozeß
für die zweite Epitaxieschicht wird die Zugabe von Sauerstoff und Ammoniak zur Schutzgasatmosphäre
abgeschaltet. Gleichzeitig wird eine Verdampferschale 8 mit Hilfe einer Halterung 9 in das Reaktionsrohr 1
eingeführt, so daß Zink, das sich in der Verdampferschale befindet, bei etwa 8000C verdampft. Die Temperatur,
bei der das Zink verdampfen soll, wird durch eine vorgegebene Position der Verdampferschale 8 relativ
zum Ofen 7 eingestellt. Dieses Zink diffundiert in die Galliumschmelze 3 und bei hinreichend großem
Angebot an Zink erreicht man eine Umdotierung der Schmelze, so daß nun bei weiterem Abkühlen eine
zweite Epitaxieschicht mit P-Leitfähigkeit aufwachsen kann. Während des Abkühlvorgangs oder durch eine
Temperung bei hoher Temperatur diffundiert das Zink aus der zweiten Schicht in die erste ein. Hierdurch
kommt es in der ersten, ursprünglich N-leitenden Schicht zur Bildung von isoelektronischen Zink-Sauerstoff-Paaren,
die für eine Lichtemission im roten Spektralbereich erforderlich sind.
An Stelle des Temperprozesses kann die Eindringtiefe des Zinks auch durch eine entsprechend vorgegebene
Abkühlungsrate während des Aufwachsprozesses der zweiten Epitaxieschicht festgelegt werden. Die Verdampfungsmenge
an Zink in der Verdampferschale 8 wird so bemessen, daß sich eine Zink-Kcnzentration
von ca. 2 ■ 10l8cm-3 in der zweiten Epitaxieschicht
ergibt. Ferner ist die Temperung so bemessen, daß die Eindringtiefe des Zinks etwa 1— 3 μηι von der
Aufwachsgrenze der zweiten Schicht in die erste N-leitende Schicht hineinreicht.
Gemäß einer weiteren Ausgestaltung des Verfahrens läßt sich die simultane Dotierungskonzentration für die
Stoffe Tellur, Sauerstoff und Stickstoff bis zu folgenden Maximalwerten erhöhen: Für Tellur etwa 1 bis
2 · 1018 cm-3, für Sauerstoff etwa 1 · 1017 cm-3 und für
Stickstoff eine Konzentration von etwa 2 - IO19cm-3.
Ab diesen Maximalwerten können Wachstumsstörungen im einkristallinen Aufbau des Galliumphosphid-Wirtsgitters
auftreten, die zu verringerten Lichtausbeuten für die lumineszente Strahlung führen.
Gemäß einer Weiterbildung des Verfahrens läßt sich die verhältnismäßig hohe Dotierungskonzentration an
Stickstoff anstelle der Zufuhr über die Gasphase in Form von Ammoniakgai auch über die flüssige Phase
erreichen. Hierzu wird der Galliumschmelze eine vorgegebene Menge an Galliumnitrid zugegeben und
diese Schmelze dann in einer abgeschlossenen Quarzampulle, die das Abdampfen des Stickstoffes verhindert,
bei Arbeitstemperatur homogenisiert Die so erhaltene, mit Galliumnitrid homogenisierte Schmelze wird in dem
obigen bevorzugten Ausführungsbeispiel anstelle der Galliumschmelze 5 benutzt. In diesem Fall wird
während des Abscheidens der ersten Schicht auf eine Ammoniakzufuhr zum Schutzgas verzichtet.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
- einem PN-Übergang, die sowohl rotes als auch grünes D . . c .-.„i,» Licht emittieren kann, dadurch hergestellt wird, daßPatentansprüche: schwefel- und stickstoffdotierte Kristallplättchen ausρ- - c< L· · γ · ·, Tallin- werden und auf diesen Plättchen mittels iscnmelzepita-Epitaxieverfahren, wobei auf einem mit lellur *Bura"".""" „.„«j,»,;,,,,,, d c„u- u. ldatierten Substrat aus Galliumphosphid aus einer xie eme zink- und sauers offdonerte P-Schicht abge-Schmelze, die Gallium, Galliumphosphid und Tellur schieden w.rd. Beim Betneb emer solchen Djode enthälUeineerste.mitTellurundSauerstoffdotierte entsteht eme rot leuchtende Lumineszenzstrahlung Schicht epitaktisch abgeschieden wird, wobei der io durch Rekombination von Elektronen und Lochern an Sauerstoff während des Abscheiden aus einer isoelektronischen Zink-Sauerstoff-Zentren sowie eme Schutzgas-Atmosphäre zugeführt wird, und wobei grün leuchtende Strahlung durch Rekombination an auf der ersten Schicht eine zweite Schicht, die mit isoelektron.schen Sückstoff-Atomen. Durch subjektive Zink und Tellur dotiert ist, epitaktisch abgeschieden Farbmischung ergibt sich dann physiologisch der wird, wobei das Zink der Schutzgas-Atmosphäre 15 Eindruck einer gelb leuchtenden Lumineszenzdiode. oder der Schmelze zugesetzt wird und wobei das Das Herstellen der KnstaHplattchen aus Galhumphos-Zink in die erste Schicht so eindiffundiert, daß durch phid ist jedoch sehr schlecht reproduzierbar und b.eiet diese eine PN-Grenzschicht verläuft dadurch daher für die Herstellung von gelb leuchtenden g e k e η η ζ e i c h η e t. daß .die erste Schicht wäh- Lumineszenzdioden kernen technisch sinnvollen Weg.
rend des Aufwachsens zusätzlich mit Stickstoff io Aus »Journ. of Physics C. Solid-State Physics« 4 dotiert wird (1971). 16. S. L344 bis L347 ist ein Verfahren bekannt. - 2. Verfahren nach Anspruch 1. dadurch gekenn- nach dem gelb leuchtende Galliumphosph.d-Dioden zeichnet, daß während des Abscheidens der ersten dadurch erzeugt werden können, daß eine an s.ch grün Schicht der Schutzgas-Atmosphäre Ammoniakgas leuchtende Galliumphosphid-Diode extrem hoch mit zugegeben wird. 25 Stickstoff dotiert wird. Die Stickstoff-Dotierung erfolgt
- 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn- dabei aus der Gasphase in der Weise, daß beim zeichnet, daß der Stickstoff in Form von Galliumni- Aufwachsen epitaktischer Galliumphosphid-Schichten trid der Schmelze zugegeben wird. der umgebenden Gasatmospiiäre Ammoniak zugesetzt
- 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3. wird. Dabei diffundiert Stickstoff in den Halbleiterkördadurch gekennzeichnet, daß während des Abschei- 30 per hinein. Gegenüber der Intensität einer grün dens der ersten Schicht der Sauerstoff als gasförmi- leuchtenden Galliumphosphid-Diode ist die Emission ger Sauerstoff der Schutzgas-Atmosphäre zugege- einer solchen hoch mit Stickstoff dotierten Galliumben wird. phosphid-Diode allerdings sehr stark vermindert.Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren 35 anzugeben, mit dem gelb leuchtende Galliumphosphid-Dioden in reproduzierbarer Weise hergestellt werdenkönnen.Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren nach dervon leuchtenden Galliumphosphid-Dioden nach dem eingangs beschriebenen Art erfindungsgemäß nach der Flüssigphasen-Epitaxieverfahren, wobei auf einem mit 40 im kennzeichnenden Teil des Patentanspruches 1 Tellur dotierten Substrat aus Galliumphosphid aus einer angegebenen Weise gelöst.Schmelze, die Gallium, Galliumphosphid und Tellur Mit dem erfindungsgemäßen Epitaxieverfahren lasenthält, eine erste, mit Tellur und Sauerstoff dotierte sen sich gelb leuchtende Lumineszenzdioden auf Schicht epitaktisch abgeschieden wird, wobei der großflächigen Czochralski-Substraten in einem einzigen Sauerstoff während des Abscheidens aus einer Schutz- 45 Epitaxiesun itt. d. h. ohne Zwischenbelüftung, herstellen. gas-Atmosphäre zugeführt wird, und wobei auf der Hierdurch erzielt man einkristalline Halbleiterschichten ersten Schicht eine zweite Schicht, die mit Zink und mit höherer Reinheit, und ferner in Verbindung mit der Tellur dotiert ist, epitaktisch abgeschieden wird, wobei Tatsache, daß sowohl die P- und die N-Schicht aus das Zink der Schutzgas-Atmosphäre oder der Schmelze epitaktischem Material aufgebaut sind, erreicht man zugesetzt wird, und wobei das Zink in die erste Schicht 50 höhere Konversionswirkungsgrade bei der Umwand- «o eindiffundiert, daß durch diese eine PN-Grenzschicht lung der elektrischen Gleichstromenergie in luminesverläuft. Ein derartiges Verfahren ist aus der deutschen zente Strahlungsenergie.Offenlegungsschrift 20 18072bekannt. Dienach diesem Gemäß einer besonderen Ausgestaltung des erfin-Verfahren hergestellten Leuchtdioden emittieren aus- dungsgemäßen Verfahrens wird anhand der Figur schließlich rotes Licht. Isoelektronische Stickstoffzen- 55 beschrieben, wie Lumineszenzdioden aus Galliumphos-Iren, von denen grün leuchtende Strahlung emittiert phid nach dem erfindungsgemäßen Verfahren herge- «verden könnte, werden bei diesem Verfahren nicht stellt werden. Es wird dabei eine Epitaxieapparatur erzeugt, da in dem verwendeten Trägergas an benutzt, die bereits in der deutschen Offenlegungsschrift stickstoffhaltigen Verbindungen nur N2 vorhanden ist. 22 47 710 beschrieben wurde. Das zu beschichtende das wegen seiner hohen Dissoziationsenergie keine 60 Substrat befindet sich danach in dem Reaktionsrohr 1 Dotierung des Halbleitermaterials mit Stickstoff-Ato- der genannten Apparatur. Der Innenraum des Reakmen bewirkt. tionsrohres 1 wird von einem Schutzgas, wie z. B. Argon,Es ist ferner bekannt, gelb leuchtende Lumineszenz- ausgefüllt, das durch die öffnungen 11 und 12 ein- bzw. dioden dadurch herzustellen, daß man die Strahlung von ausströmt. Das Substrat 2 sowie die mit Tellur dotierte örtlich dicht benachbarten rot bzw. grün leuchtenden 65 Galliumschmelze 3 befinden sich in einem Tiegel 4, der Lumineszenzdioden mit vorgegebenen Intensitäten mit einem Deckel 5 abgedeckt ist. Der Tiegel ist auf mischt. So ist aus »Solid-State Electronics«, Bd. 14 einer abnehmbare Halterung 6 in dem Reaktionsrohr 1 (1971), S. 655 bis 660 bekannt, daß eine Diode mit nur in einer vorgegebenen Position gelagert. Das Substrat 2
Priority Applications (12)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732338264 DE2338264C3 (de) | 1973-07-27 | Verfahren zur Herstellung von leuchtenden Galliumphosphid-Dioden | |
DE19732346198 DE2346198A1 (de) | 1973-07-27 | 1973-09-13 | Verfahren zur herstellung gelb leuchtender galliumphosphid-dioden |
IT25124/74A IT1017128B (it) | 1973-07-27 | 1974-07-12 | Procedimento per la produzione di diodi di fosfuro di gallio a lumi nescenza gialla |
FR7425003A FR2239073B1 (de) | 1973-07-27 | 1974-07-18 | |
NL7409821A NL7409821A (nl) | 1973-07-27 | 1974-07-19 | Werkwijze ter vervaardiging van geel licht gevende galliumfosfidedioden, alsmede voort- brengsels, verkregen volgens deze werkwijze. |
US05/490,997 US3948693A (en) | 1973-07-27 | 1974-07-23 | Process for the production of yellow glowing gallium phosphide diodes |
AT613574A AT334431B (de) | 1973-07-27 | 1974-07-25 | Verfahren zur herstellung gelb leuchtender galliumphosphid-dioden |
BE146998A BE818149A (fr) | 1973-07-27 | 1974-07-26 | Procede de fabrication de diodes a luminescence jaune au phosphure de gallium et diodes obtenues par application de ce procede |
JP8593674A JPS5745069B2 (de) | 1973-07-27 | 1974-07-26 | |
GB3309374A GB1442506A (en) | 1973-07-27 | 1974-07-26 | Production of yellow output radiation gallium phosphide lumin escence diodes |
CA205,700A CA1027223A (en) | 1973-07-27 | 1974-07-26 | Process for the production of yellow glowing gallium phosphide diodes |
LU70616A LU70616A1 (de) | 1973-07-27 | 1974-07-26 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732338264 DE2338264C3 (de) | 1973-07-27 | Verfahren zur Herstellung von leuchtenden Galliumphosphid-Dioden | |
DE19732346198 DE2346198A1 (de) | 1973-07-27 | 1973-09-13 | Verfahren zur herstellung gelb leuchtender galliumphosphid-dioden |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2338264A1 DE2338264A1 (de) | 1975-02-20 |
DE2338264B2 true DE2338264B2 (de) | 1976-10-21 |
DE2338264C3 DE2338264C3 (de) | 1977-06-02 |
Family
ID=
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL7409821A (nl) | 1975-01-29 |
BE818149A (fr) | 1974-11-18 |
DE2338264A1 (de) | 1975-02-20 |
LU70616A1 (de) | 1974-12-10 |
ATA613574A (de) | 1976-05-15 |
AT334431B (de) | 1976-01-10 |
GB1442506A (en) | 1976-07-14 |
FR2239073A1 (de) | 1975-02-21 |
US3948693A (en) | 1976-04-06 |
DE2346198A1 (de) | 1975-05-07 |
FR2239073B1 (de) | 1980-01-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69227170T2 (de) | Verfahren zur Herstellung von Verbundhalbleitern des P-Typs | |
DE3049127A1 (de) | Verfahren zur herstellung von mischkristall-fotodiodenplaettchen, die zur herstellung von led's geeignet sind | |
DE2039381C3 (de) | Verfahren zur Herstellung einer epitaktisch auf einem n-leitenden Substrat aus Galliumphosphid gewachsenen p-leitenden Galliumphosphidschicht | |
DE3810245A1 (de) | Lichtemittierendes element und verfahren zu seiner herstellung | |
DE2620832A1 (de) | Solarzelle | |
DE2231926A1 (de) | Verfahren zur herstellung von halbleitermaterial und zur herstellung von halbleitereinrichtungen | |
DE2927454C2 (de) | ||
DE19806536A1 (de) | Grünes Licht emittierendes Galliumphosphid-Bauteil | |
DE2346198A1 (de) | Verfahren zur herstellung gelb leuchtender galliumphosphid-dioden | |
DE2843983C2 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Grünlicht emittierenden GaP-Lumineszenzdiode | |
DE2338264C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von leuchtenden Galliumphosphid-Dioden | |
DE1539606A1 (de) | Elektrolumineszentes Material | |
DE69207069T2 (de) | Lichtemittierende Halbleitervorrichtung | |
DE19533923A1 (de) | Leuchtdiode | |
DE2416394A1 (de) | Verfahren zur herstellung einer gruenlicht emittierenden galliumphosphid-vorrich- tung | |
DE2235427C3 (de) | Verfahren zur Herstellung eines zur Lumineszenz befähigten Zweischichtkörpers | |
DE2032099C (de) | Verfahren zur Herstellung eines mit Ge dotierten Einkristalls für eine Elektrolumineszenzvorrichtung und derartige Vorrichtung | |
DE3128395A1 (de) | Lumineszenzdiode | |
DE2026048A1 (de) | Injektions-Lichtemissionsdiode und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE2200585C3 (de) | Verfahren zur Herstellung eines elektrolumineszenten Halbleiterbauelements | |
DE2010745C3 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Galliumarsenideinkristalls mit pn-übergang | |
DE2443532A1 (de) | Verfahren zur herstellung eines ternaeren halbleiters und anwendung desselben | |
DE2235427B2 (de) | Verfahren zur herstellung eines zur lumineszenz befaehigten zweischichtkoerpers | |
DE1932130C (de) | Grün elektrolumineszente Halbleiter diode und Verfahren zu deren Herstellung | |
DE10253160A1 (de) | Elektromagnetische Strahlung emittierendes Halbleiterbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |