DE2202487A1 - Einrichtung zum Messen der Geschwindigkeit der Werkstoffabnahme einer Schleifmaschine - Google Patents

Einrichtung zum Messen der Geschwindigkeit der Werkstoffabnahme einer Schleifmaschine

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DE2202487A1 DE19722202487 DE2202487A DE2202487A1 DE 2202487 A1 DE2202487 A1 DE 2202487A1 DE 19722202487 DE19722202487 DE 19722202487 DE 2202487 A DE2202487 A DE 2202487A DE 2202487 A1 DE2202487 A1 DE 2202487A1
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Finike Italiana Marposs SpA
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
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Description

PATENTANWALT An die 8 MÜNCHEN
TAL 18
Bunde spat ent beliör den RUF: 08ΐι/ί?47 9β
8 Münο he η 2
Aktenzeichen
Anmelder: Apparecohi Elettronioi Mar pose, Via Emilio Zago, 8 Bologna/Italien
Einrichtung zum Messen der Geschwindigkeit der Werkstoffabnähme einer Schleifmaschine
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zum Messen der Geschwindigkeit der Verkstoffabnahme einer Schleifmaschine, bestehend aus einem Meßorgan zum fortwährenden Messen der Größe des zu bearbeitenden WerkstUokes.
Bei der Bearbeitung von Werkstücken duroh eine Schleifmaschine ist es besonders wichtig, die Geschwindigkeit der Werkstoffebnahme passend einzustellen, weil diese Einstellung sowohl die Formgebung als auch die Oberflächengüte des Werkstückeβ bestimmt. Darüberhinaus verringern sioh beim Erhöhen der Abnahmegeschwindigkeit die Bearbeitungszeiten.
Eine solche Kontrolle ist besonders gegen Ende eines Schleifvorganges wichtig, wenn der Vorschub der Schleifscheibe angehalten wird, jedoch letztere noch mit dem Werkstück in Verbindung bleibt, um den Sohleifvorgang zur Beseitigung aller Unregelmäßigkeiten am Werkstück wieder fortsetzen zu können.
BAYER. HYPOTHEKEN- UND WrcHsM-BANIC MONCHtHT, THEATINERSTR. 11, KONTO NR. J437J70 POSTSCHECK-KONTOι MÜNCHEN 164M · TELEQR.-ADRESSEi PATENTDIENST MÜNCHEN
Dieses Arbeitsverfahren wird besonders in modernen Hochleistungs-Schleifmaeohinen am Ende der verschiedenen Groboder SOhruppsohleifvorgänge vorgenommen, weil festgestellt wurde, daß nur auf diese Weise Werkstüoke mit einer erwünschten Formgebung erreicht werden.
Das Hauptproblem ist in diesem Fall die Kontrolle über die Dauer dieser Arbeitsvorgänge. Venn z.B. der Vorgang zu kurz ist, weisen die VerkstUoke nicht die gewünschte Formgebung auf und Ihre Oberflächen-Unregelmäßigkeiten sind zu groß,
t . ■
Ist der Vorgang aber zu lang, dann ergibt sioh ein uner-
wUnsohter Leistungsabfall der Masohine.
Bisher wurde dieses Problem duroh statistische Kriterien gelöst, d.h. man legte eine Durchschnittszeit für diesen Vorgang fest und programmierte die Masohine so, daß sie mit der Bearbeitung fortfuhr oder anhielt, wenn diese vorbestimmte Festzeit zum Anhalten der Schleifscheibe um war. Es ist offensiohtlioh, daß dieses System das Problem nloht völlig löst, weil einerseits gewisse VerkstUoke nicht immer die gewünschten Konditionen erreichen lassen und es andererseits naoh dem Auswechseln eines Werkstüokes notwendig ist, jedesmal die Bearbeitungedauer naohzubereohnen.
Das technische Problein wird gemäß der Erfindung daduroh gelöst, daß zu jedem Zeitpunkt die Abnahmegesohwindigkeit des Werkstoffes bzw. des Spanes einer Schleifmaschine bestimmt wird, um einen Arbeitsvorgang kontrollieren zu können.
Zur Lösung dieser Aufgabe sieht die Erfindung eine Einrichtung vor, die ein erstes Speioherorgan zum Speiohern einer ersten Größe des zu bearbeitenden VerkstUokes, ein
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zweites Speicherorgan zum Speichern einer zweiten Größe des Werkstückes nach einem vorbestimmten Zeitintervall von der Messung der ersten Größe und ein Organ zum Ermitteln der Differenz /wischen den beiden Speicherwerten umfaßt, wobei diese Differenz die Menge des während dieses vorbestimmten Zeitintervalle abgenommenen Werkstoffes darstellt.
Ein AusfUhrungsbeispiel der Erfindung ist der folgenden Beschreibung und den beigefugten Zeichnungen zu entnehmen. Es stellen dar:
Fig. i ein schematisiertes Diagramm der'Hauptarbeitsweise der Kontrolleinrichtung gemäß der Erfindung,
Fig. 2 einen Teil der Kontrolleinrichtung, Fig. 3 einen zweiten Teil der Einrichtung,
Fig. h ein schematisiertes Diagramm über die Zusammenstellung der Figuren 2 und 3 und
Fig. 5 ein Diagramm eines Arbeitsvorganges der Einrichtung gemäß den Figuren 2 und 3·
In Fig. 1, in der die Abszisse die Zeiten T und die Ordinate die Größe des abzunehmenden Werkstoffes S darstellt, ergibt sich flir den Werkstoff eine fallende Durchschnittswerte angebende Kurve 11.
Dn das Werkstück nicht an jedem Punkt die gleiche Größe aufweist, ist die Kurve 11 von einer Kurve 12 überlagert, die im wesentlichen die Formgebung des Stüokes darstellt. Arbeitet die Maschine mit stillstehender Schleifscheibe, dann vergrößern sich diese Abweichungen, weil die Werkstoff* abnähme an den am meisten vorstehenden Punkte^ größer als an den anderen Punkten ist.
Die Messung der Abnahraegeschwindigkeit wird grundsätzlich durch die Messung der Stückgrößen zu zwei durch ein vorbe-
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stimmtee Zeitintervall getrennten Zeitpunkten ausgeführt. Die Differenz dieser beiden Werte geteilt durch das Zeitintervall ergibt die Abnahmegesohwindigkeit des Werkstoffes.
Wenn lediglioh nach der vorerwähnten Weise vorgegangen wird, kann es vorkommen, daß die eine der beiden gemessenen Abmessungen als Maximal- und die andere als Minimalwert auf der Kurve 12 erscheinen, weshalb der Unterschied zwischen den beiden gemessenen Abmessungen F zu der effektiven Menge des Abnahmewerkstoffes reoht verschieden ist.
Dieses weitere Problem wurde durch Messung der Maximalabmessungen während eines Zeitintervalle» gelöst, das ausreicht, damit das Meßorgan die ganze Oberfläche des Werkstliokes, anstatt nur die Abmessungen zu bestimmten Zeitpunkten abtasten kann. Hierdurch entspricht die Differenz zwisohen den gemessenen Abmessungen genau der Menge des entfernten Materials.
Dieses Arbeitsverfahren wird mit Hilfe des in den Figuren 2 und 3 gezeigten Stromkreises ausgeführt. Das von dem Meßorgan ausgehende Signal wird von einem Bandfilter 16 gefiltert, um die Unregelmäßigkeiten des Werkstückes teilweise zu entfernen. Das Ausgangssignal des Filters 16 wird dem Eingang eines Stromkreises 20 zugeführt, der den maximalen Wert während eines bestimmten Zeitintervalles speiohert.
Der Stromkreis 20 besteht aus einem mit den Spannungen +V und -V gespeisten Verstärker 21. Das vom Filter 16 ankommende Signal tritt in den positiven Eingang des Verstärkers 21 Über einen Widerstand 22 ein und lädt am Ausgang einen Kondensator 26 über eine Diode 2k auf. Der Kondensa-
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tor 26 steht mit dem Eingang eines mit den Spannungen +V und -V gespeisten und durch einen Widerstand 27 polarisierten FET 28 in Verbindung. Der FET 28 ist so angeschlossen, daß er als ein Kathodenverstärker arbeitet und sein Ausgang ist mit dem negativen Eingang eines Verstärkers 21 über einen negativen RUckkoppelungswiderstand 29 verbunden, der eine einheitliche Zunahme des Verstärkere gewährleistet. Vergrößert sich das Signal am Eingang des Verstärkers 21, lädt sich der Kondensator 26 praktisch bis zu einem Wert auf, der dem Eingangswert gleich ist, da die Zunahme des Verstärkers einheitlich ist. Schwächt sich das Eingangssignal ab, so ist der Spannungswert am negativen Eingang des Verstärkers 21 größer als der am positiven Eingang, weil der Kondensator 26 eine Ladung entsprechend dem vorhergegangenen Signal bewirkt. Der Ausgang des Verstärkers 21 wird negativ und sperrt die Diode 2k, verhindert ein Entladen des Kondensators 26 und somit ein Einstellen auf den neuen Wert des Signals.
Daraus ist ersichtlich, daß der Kondensator 26 immer den maximalen Wert des Signals speichert. Der positive Eingang des Verstärkers 21 wird von einem Stromkreis 30 an einem Eingang 3i gesteuert, dem ein Signal 32 (Fig.5) zugeführt wird, das von βiner herkömmlichen Kontrolleinheit, die nicht gezeichnet ist, ankommt. Das Signal wird über eine Diode 3** und eine Zener-Diode 35 der Basis eines Transistors 36 zugeführt, dessen Kollektor mit dem positiven Eingang des Verstärkers 21 verbunden ist. Der Transistor 36 wird mit einer Spannung -V über einen Widerstand 37 gespeist und wird normalerweise von einer Spannung +V auf Sättigung gehalten, die über einen Widerstandes und die Zener-Diode 35 an die Basis angelegt ist. Der Emitter des Transistors 36 ist über eine Diode 39 geerdet.
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Ist der Transistor 36 gesättigt, so ist sein Kollektor und daher der positive Eingang des Verstärkers 21 im wesentlichen mit der Erde kurzgeschlossen, weshalb der Verstärker 2i gesperrt ist. Wird das Signal 32 am Eingang 31 für einen Zeitraum t1 (Fig. 5) negativ, ist der Transistor 36 gesperrt. Das Signal vom Filter i6 kann nun in den Verstärker 21 eintreten. Der vom Stromkreis 20 gespeicherte maximale Wert ist daher der Maximalwert des Signals während des Zeitraumes t.. Dieses Maximum wird von einer Größe Sl1 die zu einem Zeitpunkt Tl auftritt, angegeben.
Das Signal am Ausgang des Filters 16 wird noch einem zweiten Stromkreis 40 zugeführt, der mit dem Stromkreis 20 im wesentlichen identisch ist. Er besteht aus einem mit den Spannungen +V und -V gespeisten Verstärker 41, an dessen positiven Eingang das Signal von dem Filter 16 über einen Widerstand 42 eingespeist wird. Der Ausgang lädt einen Kondensator 46 über eine Diode 44 auf. Die Spannung im Kondensator 46 ist mit dem Eingang eines FET 48 verbunden, der mit den Spannungen +V und -V gespeist und mittels eines Wideretandes 47 polarisiert ist. Der FET 48 ist so angeschlossen, daß er als Kathodenübertrager arbeitet und sein Ausgang ist mit dem negativen Eingang des Verstärkers 41 über einen negativen Rüokkoppelungswiderstand 49 verbunden, der eine einheitliche Zunahme de* Verstärkers gewährleistet.
Vergrößert sioh das Signal am Eingang des Verstärkers 41, so lädt sioh der Kondensator 46 praktisoh bis zu einem Wert auf, der dem am Eingang gleich ist, da die Verstärkung des Verstärkers 41 einheitlich ist. Sohwäoht sich das Eingangssignal ab, dann ist die Spannung am negativen Eingang des Verstärkers 41 größer als die am positiven Eingang, weil der Kondensator 46 die Ladung entsprechend des vorhergegangenen Signale bewahrt. Der Ausgang des Ver-
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stärkere 4i wird negativ und sperrt die Diode 44 und hindert den Kondensator 46 daran, sioh zu entladen. Es ist also offensichtlich, daß der Kondensator 46 immer den maximalen Wert des Eingangssignals speichert.
Der positive Eingang des Verstärkers 41 wird von einem Stromkreis 50 gesteuert, dessem Eingang 51 ein Signal 52 (Fig. 5) von der Kontrolleinheit 33 zugeführt wird. Das Signal 52 wird über eine Diode 54 und eine Zener Diode 55 der Basis eines Transistors 56 zugeführt, dessen Kollektor mit dem positiven Eingang des Verstärkers 41 verbunden ist. Der Transistor 56 wird mit einer Spannung -V über den Widerstand 57 gespeist und wird normalerweise mit einer Spannung +V auf Sättigung gehalten, die an seiner Basis über einen Widerstand 53 und der Zener-Diode 55 angelegt ist. Der Emitter des Transistors 56 ist über eine Diode 59 geerdet.
Wenn der Transistor 56 gesättigt ist, ist sein Kollektor und daher der positive Eingang des Verstärkers 41 im wesentliohen mit der Erde kurzgesohlossen, weshalb der Verstärker 41 gesperrt ist. Wird das Signal 52 am Eingang über einen Zeitraum t2 negativ, ist der Transistor 56 gesperrt. Das Signal aus dem Filter 16 kann jetzt in den Verstärker 4i eintreten. Der vom Stromkreis 40 gespeicherte maximale Wert ist daher der maximale Wert des Signals während eines Zeitintervalls to. Dieser Maximalwert wird durch eine Dimension S2 angegeben, die zum Zeitpunkt To gemessen wird.
Die zwei Kondensatoren 26 und 46 werden von einem Stromkreis 66 mit einem Eingangssignal 68 gesteuert, das über eine Diode 71 und eine Zener-Diode 72 der Basis eines Transistors 73 zugeführt wird, die mit den Spannungen +V und -V gespeist und mittels der Widerstände 76, 77 und polarisiert wird. Das Signal 68 sperrt gewöhnlich den
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Transistor 73, dessen Kollektor auf diese Weise auf einem positiven Spannungsniveau gehalten wird. Infolgedessen sind die beiden Dioden 81 und 82 gesperrt und die Kondensatoren 26 und 46 können sich nicht entladen. Wird das Signal 68 zum Zeitpunkt t, positiv, so wird der Transistor 73 gesättigt, wobei praktisoh sein Kollektor mit der Spannung -V kurzgeeohlossen wird. Die beiden Dioden 81 und werden leitend, entladen die Kondensatoren 26 und 46 und löschen so die vorher gespeicherten Maximalwerte.
Das Ausgangesignal von dem FET 48, d.h. das dem während des Zeitpunktes t2 gespeicherten Maximalwert entsprechende Signal wird mit Hilfe eines mit den Spannungen +V und -V' gespeisten und an seinem positiven Eingang mittels eines Widerstandes 93 polarisierten Verstärkers 91 umgeformt. Der Verstärker 91 hat an seinem Eingang einen Widerstand 94 und wird über einen Widerstand 96, der gleioh dem Widerstand 94 ist, negativ rückgekoppelt, um eine einheitliche Verstärkung zu erhalten.
Der Ausgang des Verstärkers und der Ausgang des FET 28 stehen über die Widerstände 102 und 103 mit einem Knoten 101 in Verbindung, an dem so die algebraische Summe der beiden Signale entsteht, welohe, da das Signal am Ausgang des FET 48 umgekehrt worden ist, die Differenz zwisohen den beiden maximalen in den Kondensatoren 26 und 46 gespeicherten Wert«darstellt.
Der Knoten 101 bildet den Eingang zu einem mit den Spannungen +V und -V gespeisten Verstärker I06, der eine von einem negativen RUokkoppelungs-Potentioraeter 107 regelbare Verstärkung zum Einstellen der Empfindliohkeit des Systems aufweist·
Eine Spannung wird dem positiven Eingang des Verstärkers 106 zugeführt, der Über ein mit den Spannungen +V und -V
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gespeistes Potentiometer 108 einstellbar ist. Wenn diese Spannung entsprechend eingestellt ist, wird ein Ausgleioh zwischen den verschiedenen Stromkreisen erzielt, so daß vom Verstärker 106 keine Leistung abgegeben wird, wenn von dem Filter 16 kein Signal ausgeht. Die Leistung des Verstärkers 106 wird über .einen Widerstand 112 dem positiven Eingang eines Verstärkers 114 zugeführt, der mit den Spannungen +V und -V gespeist und mit Hilfe eines Widerstandes 115 polarisiert wird.
Die Leistung des Verstärkers 114 wird über zwei Wege aus einem Widerstand 116 in Reihenschaltung mit einer Diode 117 und einem Widerstand 118 in Reihenschaltung mit einer Diode 119 einem Kondensator 121 zugeführt, der so bis auf den letzten Wert der Differenz zwischen den beiden Maximalwerten aufgeladen wird, die von den Stromkreisen 20 und gemessen werden, wenn die beiden Dioden 117 und 118 leitend sind.
Die am Kondensator 121 vorhandene Spannung ist mit dem Eingang eines mit den Spannungen +V und -V gespeisten und mit Hilfe eines Widerstandes 126 polarisierten FET 124 verbunden. Der Ausgang des FET 124 steht über einen negativen RUckkoppelungswiderstand 128 mit dem negativen Eingang des Verstärkers 114 in Verbindung, um sicherzustellen, daß die ganze Kette eine einheitliche Verstärkung aufweist.
Der Stromfluß durch die Dioden 117 und 119 zum gemeinsamen Eingang 113, von dem ein Signal 134 (Fig. 5) ausgeht, wird von zwei Stromkreisen 131 und 132 gesteuert, Der Stromkreis 131 besteht aus einem Transistor 136, der mit den Spannungen +V und -V gespeist, mittels der Widerstände 137 und 138 polarisiert wird und dessen Kollektor mit der Anode der Diode 117 verbunden ist. Das Signal 134 kommt Über eine Diode 141 und eine Zener Diode 142 an der
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Basis des Transistors 136 an. Der Stromkreis 132 besteht aus einem mit der Spannung +V gespeisten und mittels der Widerstände 146, 147, 154 und 157 polarisierten Transistor 144. Das Signal 134 erreicht die Basis des Transistors 144 über eine Diode 151 und eine Zener Diode 152. Der Kollektor des Transistors 144 ist über den Widerstand 154 mit der Basis eines mit der Spannung +V gespeisten Transistors 156 verbunden. Der Kollektor des Transistors 156 ist mit der Kathode der Diode 119 verbunden.
Das Signal 134 ist gewöhnlich positiv, weshalb die Transistoren 136 und 144 normalerweise gesättigt sind. Der Kollektor des Transistors 136 weist demzufolge ein Spannungeniveau nahe -V auf, um die Diode 117 zu sperren. Ähnlioh befindet sich der Kollektor des Transistors 144 auf einem solchen Spannungsniveau, daß der Transistor 156 gesättigt wird, dessen Kollektor dementsprechend auf ein Spannungsniveau nahe +V gebraoht wird. Auf diese Weise ist die Diode 119 gesperrt. Da beide Dioden 117 und 119 gesperrt sind, kann das Signal am Ausgang des Verstärkers 114 nicht zum Kondensator 121 gelangen, woduroh dessen Ladung unverändert bleibt.
Fällt das Signal 134 zu einem Zeitpunkt t^ auf null, so sind die Transistoren 136 und 144 sowie auoh der Transistor 156 gesperrt. Die Anode der Diode 117 wird auf eine positive Spannung gebracht, weshalb sie leitet. Ähnlich wird die Kathode der Diode 119 negativ, weshalb die Diode 119 leitet. Da beide Dioden 117 und 119 leiten, wird der Kondensator 121 bis auf die Spannung, die am Ausgang des Verstärkers 114 vorhanden ist, aufgeladen.
Das Signal des FET 124 wird einem Knoten I60 zugeführt, an dem auf diese Weise ein Signal vorhanden ist, das kontinuierlich auf den neuesten Stand gebraoht wird und das der
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Menge des Werkstoffes entspricht, die durchschnittlich in einer Zeit (T2 - Ti) = to + tl/2 + t2/2 abgenommen wird. Das Signal am Knoten l60, das gewöhnlich ein Signal mit negativem Kennzeichen ist, wird gemäß einer bevorzugten AusfUhrungsform der beschriebenen Vorrichtung Über einen Widerstand I6i dem positiven Eingang eines Verstärkers 162 zugeführt, der mit den Spannungen +V und -V gespeist wird, mit dessen negativem Eingang der Ausgang eines mit der Spannung -V gespeisten und von Hand auf einen gewünschten Wert einstellbaren Potentiometers ±6k verbunden ist.
Der Verstärker 162 weist an seinem Ausgang einen Widerstand 167 auf und wird durch einen Widerstand I66 positiv rückgekoppelt, so daß, während der absolute Wert der Spannung an seinem positiven Eingang größer als der am negativen Eingang ist, der Ausgang stark negativ ist, wohingegen, wenn der absolute Wert der Spannung am positiven Eingang kleiner als der am negativen Eingang ist, der Ausgang stark positiv wird. Am Ausgang des Verstärkers 162 befinden sich der Widerstand i67, eine Zener Diode 168 und eine Diode 169, die die Leistungsaufnahme an der Basis eines mit der Spannung +V gespeisten und mittels zweier Widerstände 172 und 173 polarisierten Transistors 171 bilden.
Ist der Ausgang des Verstärkers 162 negativ, wird er durch die Diode 169 gesperrt und mit der Erde praktisch mittels einer Diode 176 kurzgeschlossen. Der Transistor 171 wird gesperrt und sein Kollektor weist eine Spannung nahe +V auf. Wenn der Ausgang des Verstärkers 162 positiv ist, wird der Transistor 171 gesättigt. Sein Kollektor wird so auf eine Spannung gebracht, die im wesentlichen der Erdspannung entspricht·
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Dae Auegangseignal dee Kollektors des Transistors 171 wird einer Einheit 178 zur Steuerung des Bearbeitungsvorganges zugeführt, der herkömmlicher Art und deshalb nicht im Einzelnen beschrieben ist. Der Bearbeitungsvorgang kann auch von Hand von außen geregelt werden, indem ein geeignetes Signal einem Eingang 160 in bekannter Weise zugeführt wird. Dieses Signal kann den Transistor 171 über die Diode 169 und so den Bearbeitungsvorgang regulieren.
Die Einrichtung arbeitet wie folgt:
Das Signal aus dem Meßorgan wird dem Filter 16 zugeführt, der, zumindest teilweise, die von den Unregelmäßigkeiten des Werkstückes stammenden Meßsohwingungen beseitigt.
Zu Beginn jedes Arbeitsvorganges werden die beiden Kondensatoren 26 und 46 auf vorerwähnte Weise mittels des Stromkreises 66 entladen. So können die Kondensatoren 26 und 46 das neue zu speichernde Signal aufnehmen.
Der Ausstoß des Filters 16 wird einem Stromkreis 20 zugeführt, der den Maximalwert der Messung am Eingang des Kondensators 26 speichert. Der Stromkreis 20 wird von einem Stromkreis 30 gesteuert, der ihn für eine Zeitspanne t. wirksam hält, während der das Meßorgan die ganze Oberfläohe des Stüokes abtasten kann.
Das Ausgangssignal des Filters 16 wird ebenfalls dem Stromkreis 40 zugeführt, der über eine Zeitspanne t2 mittels des Kontrollstromkreises 50 in Betrieb gehalten wird. Pie Zeltspanne t„ steht in einem vorbestimmten Zeitintervall to von der Zeitspanne t.. der Maximalwert des Signals während der Zeit t« wird im Kondensator 46 gespeichert.
Das Signal wird vom Verstärker 91 umgekehrt und am Knoten 101 dem im Kondensator 26 gespeicherten Signal algebralsoh
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zuaddiert. Auf diese Weise wird die Differenz zwischen den beiden Maximalwerten erhalten, die im wesentlichen dem Werkstoff entspricht, der in der Zeit T2 - Tl « to + t./2 + tg/2 abgenommen wird.
Während der Zeit t^ wird das Signal einem Speioher aus einem unter der Kontrolle der Stromkreise 131, 132 stehenden Kondensator zugeführt. Dieses Signal gelangt zu einem Knoten l6O und kann so einem Verstärker 162 zugeführt, und mit einem vorbestimmten Signal des einstellbaren Poten-. tiometers 164 verglichen werden, das ein der minimalen Abnahmemenge während der Zeit to + tj/2 + tg/2 entsprechendes Signal abgibt.
Schließlich bestimmt das Ausgangssignal des Verstärkers 162 den Zustand des Transistors 171, der seinerseits die den Bearbeitungsvorgang steuernde Einheit 178 kontrolliert· Der Bearbeitungevorgang wird fortgesetzt, wenn die Abnahme größer als der vorher festgesetzte Wert ist und er wird gestoppt, wenn sie unter diesen Wert abfällt.
Es ist selbstverständlich, daß im Rahmen der Erfindung die verschiedenen Einheiten und Stromkreise duroh Erweiterungen oder duroh den Austausoh von Teilen abgeändert werden können.
Beispielsweise kann das am Knoten l6O vorhandene Signal mit dem Eingang einer Anzahl von Verstärkern verbunden werden, die so eingestellt sind, daß sie verschiedene Maschinen steuern können. Das am Knoten l6O vorhandene Signal kann ebenso einem Instrument zugeführt werden, das den Wert des Signals anzeigt, um ein· Masohine manuell zu steuern.
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Claims (1)

  1. Patentansprüche
    l.J Einrichtung zum Messen der Geschwindigkeit der Werkstoff abnähme einer Schleifmaschine, bestehend aus einem
    Meßorgan zum stetigen Messen der Größe des zu bearbeitenden Werkstückes, gekennzeichnet durch ein erstes Speicherorgan zum Speichern einer ersten Größe des zu bearbeitenden Werkstüokes, ein zweites Speioherorgan zum Speichern einer zweiten Größe des Werkstückes in einem vorbestimmten Zeitintervall zur Messung der ersten Größe und durch Organe zur Ermittlung der Differenz zwischen den beiden
    gespeicherten Werten, wobei diese Differenz die Menge
    des während dieses vorbestimmten Zeitintervalls abgenommenen Werkstoffes darstellt.
    2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das erste und zweite Speicherorgan zur Speicherung
    des Maximalwertes der Werkstückgröße während zweier Zeitperioden ausgebildet ist, wobei die Zeitperioden groß
    genug sind, daß das Meßorgan die ganze Oberfläche des
    Werkstücke· abtasten kann, und wobei die Differenz unabhängig vom Meßpunkt ist und genau der Menge des abgenommenen Werkstoffes entspricht.
    3. Einrichtung nach Anspruoh 2, daduroh gekennzeichnet, daß jedes der Speioherorgane aus einem Kondensator besteht, dessen Aufladung duroh einen mit einer Diode in
    Reihe gesohalteten Verstärker gesteuert wird, und Organe vorgesehen sind, um den Kondensator zum Speiohern eines
    neuen Maximalwertes zyklisoh zu entladen.
    k. Einrichtung naoh Anspruoh 3, daduroh gekennzeichnet, daß jeder der Verstärker von einem Steuerstromkreis gesteuert ist, der den Eintritt des zu speichernden Signales
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    während der entsprechenden Zeitperiode zuläßt und den Eingang des Verstärkers wahrend der restlichen Zeitperiode jedes Barbeitungsvorganges sperrt.
    5. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn» zeichnet, daß Organe zum Vergleichen des Differenzsignals mit einem vorbestimmten einstellbaren Signal und weitere durch dieses Vergleiohsresultat gesteuerte Organe zum Steuern des maschinellen Bearbeitungsvorganges vorgesehen sind.
    6. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet duroh Organe zum Angeben dieses Differenzsignals.
    7. Einrichtung nach Anspruch 5, gekennzeichnet duroh Speicherorgane für das Differenzsignal und zyklisch betriebene Organe zum fortlaufenden Erneuern des Differenzsignals in den Speicherorganen.
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DE2202487A 1971-01-20 1972-01-19 Einrichtung zr Messung der Geschwindigkeit der Werkstoffabnahme von einem Werkstück durch eine Werkzeugmaschine, insbesondere Schleifmaschine Expired DE2202487C3 (de)

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DE2202487B2 DE2202487B2 (de) 1981-08-13
DE2202487C3 DE2202487C3 (de) 1982-03-11

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DE (1) DE2202487C3 (de)
FR (1) FR2122957A5 (de)
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