DE2130376A1 - Verfahren und Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse - Google Patents

Description

PaHntenwälie

Drying. WiJiieim Beichel
Dipl-Ing. Wolfgang Reichel

6 Frankfurt a. M. 1
Parksiraße 13

6686

Associated Electrical Industries Limited London W. 1./England ·

Verfahren und Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse

Die Erfindung bezieht eich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse und insbesondere auf ein Doppelstrahl-Massenspektrometer zur gleichzeitigen Erzeugung von zwei Massenspektren. Die Erfindung bezieht sich ferner auf ein Doppelstrahl-Massenspektroraeter einer Ausführungsform, wie sie in der deutschen Patentanmeldung Nr. P 15 98 024.2 - 52 dargestellt ist.

Aus dieser Patentanmeldung ist u.a. die Verwendung von zwei Ionenquellen zu entnehmen, welche gleichzeitig und unabhängig zwei Ionenstrahlen erzeugen, die aus unterschiedlichen Stoffen bestehen können.

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Die zwei Ionenstrahlen werden durch ein geraeinsames Analysatorsystem geführt und durch zwei unabhängige Ionenkollektoren getrennt gesammelt, um zwei Massenspektren zu erzeugen. Mit der Verwendung eines gemeinsamen Analysators wird sichergestellt, daß Ionen mit gleichem Massen/Ladungsverhältnis in jedem der Strahlen gleichen Ablenkungen unterworfen sind. Hierdurch können die zwei Massenspektren mit einem sehr hohen Genauigkeitsgrad wechselseitig aufeinander bezogen werden.

Neben weiteren anderen Vorteilen weist ein Doppelstrahl-Massenspektrometer die sehr wichtige Fähigkeit auf, chemische Massen markieren zu können. Bei der chemischen Massenmarkierung wird einer der Ionenstrahlen aus einer Vergleichs8ubstanz hergestellt, wie etwa Perfluorokerosin, das ein Spektrum liefert, welches bei verschiedenen bekannten Massen/ladungaverhältnissen Maxima aufweist. Da das Vergleichsspektrum genau auf das Spektrum der unbekannten Substanz bezogen wird, dienen die' Vergleichsmaxiraa als genaue Marken, welche eine geeichte Skala bilden, aus der die Massen/Ladungsverhältnisse der Maxima der unbekannten Substanz interpoliert werden könnendWenn keine chemische Massemarkierung vorgenommen wird, ist das relativ schwierige und ungenaue Verfahren der analytischen Feldmessung erforderlich).

Es ist die stetig steigende "Tendenz zu beobachten, für die massenspektrometrischen Analysen Computerverfahren zu verwenden, wobei sich die Vorteile der Geschwindigkeit, Genauigkeit und der Vermeidung zeitraubender Berechnungen von Hand und Übersetzung der Ergebnisse einstellen. Die zwei Ausgänge eines Doppelstrahl-Massenspektrometers können für eine spätere Verwertung durch einen Computer oder zur Verwendung in Realzeit aufgezeichnet werden. Bedingt durch das gleichzeitige Vorliegen der zwei Ausgangseignale ist es bei den bisher bekannten Vorrichtungen erforderlich, diese getrennt zu behandeln.

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Wenn die analogen Aungangssignale in digitale Cignale, welche für den Computer kompatibel sind, umgewandelt werden, sind zwei Analog-Digitalwandler erforderlich. Hierdurch werden die Kosten und die Betriebsschwierigkeiten eines wichtigen Teiles des Systems verdoppelt.

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Massenspektrometer und ein Verfahren zum Betrieb desselben vorzuschlagen, mit dem die aufgeführten Nachteile vermieden werden.

Die Lösung dieser Aufgabe besteht darin, daß bei einem Doppelstrahl-Massenspektrometer zur gleichzeitigen Erzeugung von zwei Massenspektren spektrale Zeitverschiebungsvorrichtungen zur Erzeugung einer relativen Zeitverschiebung des Spektrums und Vorrichtung^Sur Vereinigung verschobener Spektren vorgeschlagen werden, so daß die relativ verschobenen Spektren vereinigt werden können, um ein einziges elektrisches Signal zu erzeugen, welches das vereinigte Spektrum darstellt.

Gemäß vorliegender Erfindung wird zur Lösung des aufgezeigten Problems ferner ein Verfahren zum Betrieb eines Doppelstrahl-Massenspektrometers vorgeschlagen. Das Massenspektrometer weist dabei eine Vorrichtung für die Ionenquelle auf, um zwei Ionenetrahlen zu erzeugen, ferner einen gemeinsamen Ionenstrahlanalysator, der ein die Ionen analysierendes Feld erzeugt und zwei lonenkollektoren, welche Signale erzeugen, die von dem Ionenaufprall abhängig sind. Das Verfahren nach der Erfindung weist dabei die folgenden Schritte auf: (a) Herstellung eines lonenstrahls aus einer zu analysierenden Substanz, (b) Herstellung eines weiteren Ionenstrahle aus einer Vergleichssubstanz, (c) Führung beider Strahlen durch den Analysator, während das Ionen analysierende Feld zerlegt wird, so daß die Strahlen auf die Kollektoren auftreffen,

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um Signale zu erzeugen, welche für das Vorliegen von Massen/Ladungsverhältnissen in den Ionenstrahlen kennzeichnend sind, welche von dem Augenblickswert des analysierenden Feldes und der Dauer der die Zerlegung erzeugenden zwei MassenBpektren abhängig sind, wobei jedes für die Zusammensetzung der Substanzen, aus denen die Ionenstrahlen gebildet wurden, entsprechend kennzeichnend ist, (jedes Spektrum weist ein oder mehrere Maxima auf, wobei jedes für eine bestimmte spezifische Masse kennzeichnend ist), (d) Erzeugung einer relativen Zeitverschiebung der zwei Spektren, so daß die Maxima eines Spektrums in den Räumen zwischen den Maxima des anderen Spektrums auftreten und (e) Vereinigung der relativ zeitverschobenen Spektren zur Erzeugung eines einzigen zusammengesetzten Spektrums.

Weitere Aufgaben und Lösungen nach der Erfindung gehen aus den in der Zeichnung näher dargestellten Ausführunge"beiepielen hervor. Hierbei zeigen:

Figur 1 eine schematische perspektivische Darstellung eines Doppelstrahl-Massenspektrometers nach dem Stande der Technik;

Figur 2 eine schematische perspektivische Darstellung einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung}

Figur 3 eine·schematische perspektivische Darstellung

_/ eines weiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung und

Figur 4 eine schematisohe Darstellung einer noch anderen Ausführungsform der Erfindung.

In Figur 1 sind in einer sehr schematischen. Darstellung die Grundprinzipien eines M.S. so-Doppeletrahl-Maeeenepektro- metere» wilohee */on der Firma Α·3·Χ« Saleatlfio. Apparatus Ltd. vertrieben wird, dargestellt,

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Das M.S. 30-Masaenspektrometer ist ein doppelfokussierendee Massenspektrometer und besitzt wie das Einfaoh-Strahldoppelfokussierende Massenspektrometer einen elektrostatisohen Analysator 10 und einen magnetischen Analysator Zwei Ionenquellen 14 und 16 erzeugen jeweils einen entsprechenden Ionenstrahl 18 und 20 (welche in der Zeichnung aehematisch dargestellt sind), welche zwecks Ablenkung und Masβentrennung in bekannter Weise durch die Analysatoren 10 und 12 geleitet werden. Einer der Ionenstrahlen enthält Ionen einer Vergleichssubstanz, welche Maxima genau bekannter Massenzahlen erzeugt. Nach Verlassen des magnetischen Analysators 12 gelangen die Ionenstrahlen 18 und 20 jeweils durch einen entsprechende! Kollektorschlitz 22 und 24 in einer Kollektorschlitzanordnung 26 und treffen danach auf entsprechende lonenkollektoren 28 und 30 auf. Die Ausgangssignale der Ionenkollektoren 28 und 30 werden in bekannter Weise durch Elektronenverstärker verstärkt und einem Kartendrucker 32 an sich bekannter Art zugeführt.

Wenn das Magnetfeld in dem magnetischen Analysator 12 zerlegt wird, besteht der Ausgang des Druckers 32 aus einer Karte, die zwei Spuren enthält, von der jede ein Massenspektrum der Substanz wiedergibt, aus der die Ionen in den entsprechenden Ionenquallen 14 und 16 erzeugt wurden· Aufgrund der Gleichheit der analysierenden Felder, denen die Ionenstrahlen 14 und 16 unterworfen sind, sind die elektrischen Signale, welche durch die Ionenkollektoren erzeugt werden, derart, daß zu irgendeinem Zeitpunkt während der Zerlegung beide Signale die gleiche Massenzahl in jedem Spektrum darstellen. Der Vorteil der spektralen wechselseitigen Beziehung wird durch die Notwendigkeit vermindert, zwei datenaufbereitende Kanäle vorzusehen, von denen jeder seinen eigenen Analog-Digitalwandler als eine Spektrometer-Gomputerschnittsteile (interface) aufweist, wenn eine On-line-Computeraufbereitung der Ergebnisse erforderlich ist, und zwar in einer Weise, wie sie oftmals bei Einztletrahlmasaenapektromoter angewendet wird«

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Aus den Figuren 2, 3 und 4 der folgenden Beschreibung wird ereichtlich, wie diese Nachteile vermieden werden können. In diesen Figuren sind jene Teile', welche denjenigen in Figur 1 entsprechen, mit gleichen Bezugsziffern versehen. (Wie zuvor ausgeführt wurde, ist die Figur 1 eine sehr schematische Darstellung und viele Merkmale und Einzelheiten des M.S. 3O-Massen8pektrometers sind einer klaren Sarstellung wegen und, da sie weder Teil der Erfindung, noch für ein Verständnis der Erfindung erforderlich sind, fortgelassen worden).

Wie aus Figur 2 hervorgeht, wird der Grundaufbau des M.S. 30-Massenspektrometers verwendet, jedoch mit einer abgewandelten Kollektorschlitzanordnung 226, wobei zwei Kollektorachlitze 222 und 224 relativ verschiedene Lagen in bezug auf die Ablenkungsebenen der Ionenstrahlen 18 und 20 aufweisen. Der Lageunterschied "D" zwischen den Schlitzen 222 und 224 hat die Wirkung, daß während einer Zerlegung die Ionen eines bestimmten Massen/Ladungsverhältnisses in einem der Ionenstrahlen ihren entsprechenden Ionenkollektor zu einer geringfügig unterschiedlichen Zeit erreichen, als die Ionen des gleichen Massen/Ladungsverhältnisses in dem anderen Ionenstrahl, welche den anderen Ionenkollektor erreichen. Eine geeignete Zeitdifferenz liegt zwischen 1,5 und 10 Milli-Sekunden für eine Zehn-Sekunden-Zerlegung, welche von den Auflösungen der zwei Strahlen abhängt.

Die Ausgangssignale der Ionenkollektoren 28 und 30 werden in einer geeigneten Signalvereinigungssohaltung 34 kombiniert, welche eine skalare. Addition der zwei Signale durchführt, um ein einziges zusammengesetztes Signal zu erzeugen, das dem Ausgangssignal eines Einzelstrahl-Maasenspektrometers ähnlich ist, wenn ein Stoff analy- eiert wird, der vielfache Maxima erzeugt· **~

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Dieses einzelne Signal wird dann in einer DS 30- datenaufbereitenden Einheit 36, das von dor AEI Scientific Apparatus Ltd. vertrieben wird, aufbereitet, um ein Ausgangesignal zu erzeugen, das für die zu analysierende Substanz kennzeichnend ist. Hierbei ist nur ein einziger datenaufbereitender Kanal 38 erforderlich und der Kanal 38 benötigt nur einen Analog-Digitalwandler 40.

Die Erfindung ermöglicht daher, ganz im Gegensatz zu dem, was man als erforderlich erwartet haben könnte, die Vor-

wendung einer Einzelstrahl-Datenaufbereitungsauerüstung für ein Doppelstrahl-Massenspektrometer. Die Erfindung ermöglicht auch die Ausfuhrung einer Massenmessung bei einer geringen Auflösung. Dies ist ein Merkmal, das für Mehrfachetrahleysteme einzigartig ist.

Die Erfindung basiert auf der Tatsache, daß dann, wenn Proben verwendet werden, die Maxima mit Massenzahlen aufweisen, welche nicht über 300 liegen, die tatsächliche Hasse, welche durch das Maximum dargestellt wird, welches durch Ionen eines Bruchteile einer Soll-Maseenzahl K erzeugt werden (wobei N eine ganze Zahl ist), selten außerhalb des Bereiches N minus 0,1 und N plus 0,35 liegt. Unter diesen Umständen ist es möglich, daß das Vergleichsspektrum so verschoben werden kann, daß seine Maxima in den freien Zonen*zwischen den tatsächlichen Massen K plus 0,35 und N plus 0,9 liegen, so daß die Vergleichsmaxima von den Prufmaxima abgehalten werden und daher ohne Störung identifieierbar sind.

Die KollektorschlitaverSchiebung jedooh ist nicht der einzige Weg, um die Aufgabe nach der Erfindung zu lösen.

In Figur 5 1st ein alternatives Ausführungebeispiel dar« gestellt, wobei erneut ein Standard M.S. 50-Maeeenipektroaettr verwendet wird.

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Das elektrische Ausgangssignal eines der Ionenkollektoren 30 wird mit Hilfe einer geeigneten Zeitverzögerungsvorrichtung 42 zeitlich verzögert und wird sodann mit dem nicht verzögerten Ausgangs signal des anderen Ionenkollektors 20 in der Signalverbindungsschaltung 34 kombiniert und das sich ergebende Signal wird,ähnlich wie im oben aufgeführten Beispiel, einer D.S. 30-Datenaufbereitungseinheit 36 zugeführt. Die Signalverzögerungsvorrichtung 42 kann in irgendeiner an sich bekannte Form ausgebildet sein, z.?. in Form einer elektrischen Verzögerungsleitung oder (insbesondere für längere Verzögerungen und/oder geringere Zerlegungen) einer Ultra-Schall-Verzögerungsleitung. Als Verzögerungsvorrichtung 42 kann auch eine an sich bekannte Ausführungsform eines Bandaufzeichnungsgerätes mit einem endlosen Band und relativ versetzten Aufzeichnunge- und Play-back-Köpfen verwendet werden. Für eine Zehs-Sekunden-Zerlegung eignet sich in vorteilhafter V/eise eine Verzögerung zwischen 1,5 und 10 Milli-Sekunden, was von den Auflösungen abhängt, mit denen die zwei Strahlen aufgefangen werden.

Figur 4 zeigt ein drittes alternatives Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zur Erzielung einer spektralen Verschiebung. Das M.S. 30^Massenspektrometer ist mit einem elektrostatischen 2-fach-Analysator 410 ausgerüstet, bei dem der normalerweise einheitliche innere elektrostatische Sektor in zwei Sektoren 412"und 414 aufgeteilt ist, die zusammen mit dem normalen einheitlichen äußeren Sektor 416 zwei Seite an Seite liegende elektrostatische Analysatoren bilden. Der elektrostatische Standard-Analysator 10 wird normalerweise von der Ionenbeschleunigungsspannung über eine potentiometrische Kette von nicht näher dargestellten Widerständen versorgt und für die in Figur 4 dargestellte Ausführungsform wird die Ionen-besohleunigende Spannung von einer Quelle 418 über eine die Ablenkungsspannung proportioniereride Vorrichtung 420 zugeführt, welche genau proportionierte Ablenkungsepannungen an die Sektoren 412, 414 und 416 liefert.

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BAD ORIGfNAL

Die genaue Proportionierung der Ablenkungsspannungen stellt sicher, daß, wie in dem AusfUhrungsbeispiel nach Figur 2, die Ionen eines bestimmten Massen/Ladungsverhältnisaes in einem Strahl den entsprechenden Ionenkollektor erreichen und in einer geringfügig unterschiedlichen Zeit während einer Zerlegung, verglichen mit den Ionen des gleichen Massen/Ladungsverhältnisaes in dem anderen Strahl den anderen Ionenkollektor erreichen. Die sich ergebenden Signale werden vereint und - wie zuvor beschrieben - aufbereitet.

Die Proportionierungs- oder Bemessungsvorrichtung 420 kann in Form einer relativ standardisierten potentiometrischen Kette ausgebildet sein, welche durch einen weiteren Abgriff abgewandelt i3t, der geringfügig von dem Abgriff zur Versorgung des normalen inneren Sektors versetzt ist. Anstelle der Aufteilung des inneren Sektors kann der äußere Sektor geteilt sein. Ebenso lassen sich der innere und der äußere Sektor aufteilen.

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Claims (1)

1. Patentansprüche

   Doppelstrahl-Massenspektrometer zur gleichzeitigen Erzeugung von zwei Massenspektren, dadurch gekennzeichnet, daß spektrale Zeitverschiebungsvorrichtungen (226, 42, 410) zur Erzeugung einer relativen Zeitverschiebung des Spektrums und Vorrichtungen (34) zur Vereinigung verschobener Spektren vorhanden sind, so daß die relativ verschobenen Spektren vereinigt werden können, um ein einziges'elektrisches Signal zu erzeugen, welches das vereinigte Spektrum darstellt.

   2. Spektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die spektrale Zeitverschiebungsvorrichtung eine Kollektorschlitzanordnung (226) besitzt, , welche zwei Kollektorschlitze (222, 224) aufweist, von denen sich jeweils einer in einem Strahlengang (18, 20) befindet,· wobei die Schlitze (222, 224) um einen Betrag (D) relativ verschoben sind, so daß die Ionen des gleichen Ma8sen/Ladungsverhältnissea in einem Strahl (18, 20) ihren entsprechenden Kollektorschlitz (222, 224) während einer Zerlegung zu unterschiedlichen Zeiten erreichen.

   3. Spektrometer nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet, daß die spektrale Zeitverschiebungsvorrichtung eine Verzögerungsvorrichtung (42) aufweist, die in einer Signallaufbahn eines Spektrums angeordnet ist, um dieses Spektrum zu verzögern, bevor es die Vereinigungsvorrichtung (34) erreicht.

   4. Spektrometer nach Anspruch 1,dadurch gekennze ichnet, daß die spektrale Verschiebungsvorrichtung Vorrichtungen (410) zur Erzeugung eines unterschiedlichen Iononablenkungsfeldas aufweist, um "eine unterschiedliche Ablenkung von Ionen eines gleichen Massen/Ladungo-

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   BADORfGINAL

   Verhältnisses in den verschiedenen Strahlen (18, 20) derart zu erzeugen, daß während einer Zerlegung die Ionen des gleichen Massen/Ladungsverhältnlsses in den verschiedenen Strahlen (18, 20) das Massensprektroraeter zu unterschiedlichen Zeiten durchlaufen. ·

   Spektrometer nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß eine3 der Kassenspektren ein Massenspektrum eines unbekannten Stoffes darstellt und daß das andere Massenspektrum aus einer Vergleichs substanz besteht, die mehrere Vergleichemaxima bei bekannten Massenzahlen aufweist.

   Massenspektrometer nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß Vorrichtungen (12) zur Erzeugung eine3 veränderbaren analytischen Feldes, Ionenquellen (14,16) zur Erzeugung zweier Ionenstrahlen (13,20), welche durch das analytische Feld geleitet werden, zwei Ionenkollektoren (28, 30), welche so angeordnet sind, um jeweils einen der Ionenstrahlen (18, 20) aufzufangen, Vorrichtungen zur Erzeugung eines Spektralsignals von jedem der Ionenkollektoren (28, 30) in Abhängigkeit von den !.Iassen/Ladungsverhältnissen der aufgefangenen Ionen und Vorrichtungen (226, 42, 410) zur Zeitverschiebung des Spektralsignals vorhanden sind, um zwischen·jenen Teilen der Spektralsignale, die den durch die entsprechenden Kollektoren (28, 30) aufgefangenen Ionen gleicher Maseen/Ladungsverhältnisse entsprechen, eine relative Zeitverschiebung zu bewirken, daß ferner Vorrichtungen (34) zur Vereinigung der relativ verschobenen Spektraleignale zur Erzeugung eines vereinigten Spektralsignals vorhanden sind, wobei üaxima einer Spektrallinie in den Räumen zwischen den Maxima des anderen Spektrums liegen, daß ein einziger Datenaufbereitungs-kanal (38) mit einem einzigen Analog-Digitalwandler (40) vorgesehen ist,

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   ura das veccinigte Spektraloignal aufzubereiten und in ein für einen Computer kompatibles Signal umzuwandeln und daß ein Digital-Computer vorgesehen ist, der in der Lage ist, das kompatible Signal zu empfangen, wobei dieser Computer derartig ausgebildet und programmiert ist, daß er auf die empfangenen Daten anspricht und die Massenzahlen der Maxima eines Spektrums von den Massenzahlen der Maxima des anderen Spektrums interpoliert.

   7. Verfahren zum Betreiben eines Doppolstrahl-Massenspektrometers nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, gekennzeichnet durch folgende Schritte:(a) Erzeugung eines der Ionenstrahlen aus einem zu analysierenden Stoff; (b) Erzeugung des anderen Ionenstrahl aus einer Vergleichssubstanz; (c) Führung beider Strahlen duroh den Analysator, während das Ionen-analyislerende Feld zerlegt wird, so daß die Strahlen auf die Kolloktoren auftreffen, um Signale zu erzeugen, die für das Vorhandensein' eines Massen/Ladungsverhältnissea in den Ionenstrahlen kennzeichnend sind, welches von dem unmittelbaren \7ert des analysierenden Peldes und der Dauer der Zerlegung, welche zwei Massenspektren erzeugt, abhängt, wobei jedes Spektrum für die Zusammensetzung der Substanzen, aus denen die Ionenstrahlen gebildet wurden, kennzeichnend ist, (jedes Spektrum weist ein oder mehrere Maxima auf, von denen jedes für eine bestimmte spezifische Masse kennzeichnend ist); (d) Erzeugung einer relativen Zeitverschiebung der zwei Spektren, so daß die Maxima eines Spektrums in den Räumen zwischen den Maxima des anderen Spektrums auftreten und (e) Vereinigung der relativ zeitverschobenen Spektren, unr ein einziges zusammengesetztes Spektrm zu erzeugen.

   8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Doppelstrahl-Massehapektrometer eine Ionenkollektorschlitzanordnung aufweist, welches ein Paar Ionenkollektorschlitze besitzt, die relativ voroohoben

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   sind, um eine Zeitverschiebung dee Spektrums zu bewirken.

   9. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch' gokennze i chne t, daß die Signale aus einem der Ionenkollektoren durch eine Signalverzögerungsvorrichtung geführt werden, um eine relative Zeitverschiebung des Spektrms zu bewirken.

   10. Verfahren nach Anspruch 7, wobei das Spektrometer einen elektrostatischen Analysator aufweint, dadurch gekennzeichnet, daß die Ionenetrahlen verschiedenen elektrischen Feldern innerhalb des elektrostatischen Analysators unterworfen werden.

   11. Verfahren zur Analyse eines ersten Stoffes, gekennzeichnet durch folgende Schritte:(a) Ionisierung der ersten Substanz und Erzeugung eines ersten Ionenstrahls aus dieser Substanz; (b) Ionisierung einer zweiten Substanz und Herstellung eines zweiten Ionenstrahls aus dieser Substanz; (c) Führung des ersten und zweiten lonenstrahls durch ein gemeinsames analytisches Feld,in dem die Ionen eines jeden Strahls entsprechend dem Massen/Ladungsverhältnis der Ionen abgelenkt werden;

   (d) Auffangen der Ionen eines einzigen Massen/Ladungs-Verhältnisses in Jedem der Strahlen zu jedem eitpunkt;

   (e) Veränderung des analytischen Feldes, um die Massen/ Ladungsverhältnisse der aufgefangenen Ionen zu verändern und um dadurch zwei Massenspektren zu erzeugen, wobei eine der beiden Substanzen analysiert wird und jedes Spektrum ein oder mehrere Maxima aufweist und jedes Maxima das Vorliegen eines Massen/l'adungsverhältnisBes in dem entsprechenden Ionenstrahl wiedergibt, das dem unmittelbaren analytischen Feld zum entsprechenden Zeitpunkt des Auffangens der Ionen proportional ist, wobei die Maxima im Spektrum der ersten Substanz eino erste"* I.iaximareihe bilden und die Maxima im Spektrum der zweiten Substanz

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