DE2112683C3 - Schaltanordnung mit einem Halbleiterbauelement aus Gunn Effekt-Material - Google Patents
Schaltanordnung mit einem Halbleiterbauelement aus Gunn Effekt-MaterialInfo
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N80/00—Bulk negative-resistance effect devices
- H10N80/10—Gunn-effect devices
- H10N80/107—Gunn diodes
Landscapes
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Description
geschieht, also etwa eine Million mal schneller als im
Magnetspeicher und etwa lOOOmal schneller als in Transistorschaltungen.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der
Zeichnung (F i g. 2) dargestellt. Fin Halbleiterbauelement 1 aus Gunn-Effekt-Material mit einem ohmsehen
Anodenkontakt 2, einem ohmschen Kathodenkontakt 3 und einer Querschnittsverbreiterung 4 ist
über den Lastwiderstand S an eine Batterie 6 mit der Spannung Vu angeschaltet. Die Kennlinie zeigt, wie
über desi Lastwiderstand (gerade Schnittlinie) mit Schaltimpulsen 7 (8) geschaltet wird.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Schaltanordnung mit einem überkritisch zu groß ist.
dotierten Halbleiterbauelement aus Gunn-Effekt- 5 Da der Gunn-Oszillator ta^^^
Material mit zwei ohmschen Kontakten, denen schwingt, müssen ^^J™*^^
eine Verspätung über einen Lastwiderstand ^den, die Schwingung ai^zufiltern^as die g
zugrführtisTdadurch gekennzeichnet, Schaltungsanordnung "^f^^SLlt die
daß die Dotierungskonzentration η des Halbleiter- Der Erfindung hegt die Au ^* ^j™™^**
baufcmentsCl) größer als ein kritischer Wert ist .· Gunn-Oszillat.on zu "M??™*™'™ Tj^ f"
gemäß der Formel zwischen den Arbeitspunkten A und B ohne Oszilla-
gemaU der l· ormel ^ ^ fischen zwei stabilen Punkten zu erreichen,
tr* Diese Aufgabe wird bei der eingangs genannten
n> a-\-u\-D Schaltanordnung erfindungsgemäß dadurch gelöst,
v ' μ ' 15 daß die Dotierungskonzentration η des Halbleiter-
(v = Elektronengeschwindigkeit, e = üielektrizi- bauelements größer ab ein kritischer Wert .st gemäß
tätskonstantev q = Elektronenladung, — μ — ne- der Formel
gativedifferentielle Beweglichkeit, D — Diffusions- ^
konstante) und daß die Dotierungsschwankungen e v
unter einem kritischen Wert liegen, so daß an der *>
q.\ -μ\· D
Anode eine stationäre Akkumulationszone und
somit eine extrem inhomogene Feldverteilung γ»;»ι»ι·»ι-;»;ι··;ι
auftritt (r - Elektronengeschwindigkeit, f Dielektrizitat*-
2. Halbleiterbauelement für eine Schaltanord- konstante, q - E!ek»ronenJfdun^ffll7:^nsko n nS^
nung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, »5 differentielle Beweglichkeit. O - 1^»»°^η«^
daß an einer der vier Seitenflächen (9) der Kathode und daß die Dotierung*«*««indungen unter^e, τη
eine Dieleltrikumbeschichtung angebracht ist. kritischen Wert hegen, so daß an der Anonde eine
3. Halbleiterbauelement für eine Schaltanord- stationäre Akkumulationszone und oma eine extrem
nung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, inhomogene Feldverte.lung auftritt fur OaAs
daß es an der Kathode erhöht dotiert ist. 3«>
beträgt dieses Dotierungskonzentration etwa 8
4. Halbleiterbauelement für eine Schaltanord- Das Halbleiterbauelement schwingt dann nicht mehr
nung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, als Gunn-Oszillator, sondern kann als stabiles Scha daß
sein Querschnitt an der Kathode verbreitert ist. element verwendet werden. Die obige Form t
abgeleitet aus der Bedingung, daß sich die Akkumu-35
lationszone schneller umlädt als sie in die Anode hineinwandert. Aus Solid States Elektronics (Bd. 14, 1971, Nr. 1,
S 1 bis 16) ist eine Schaltanordnung der eingangs
genannten Art bekannt, bei der das Halbleiterbau-4o
element jedoch eine homogene Feldverteilung besitzt
und die nur monostabil ist (ebenso aus USA.-Patentschnft
3 538 400).
Die Erfindung betrifft eine Schaltanordnung mit Ferner ist es bei Gunn-Halbleiterbauelementen
einem überkritisch dotierten Halbleiterbauelement aus bekannit, zur Verhinderung der Domänenbildung den
Gunn-Effekt-Material mit zwei ohmschen Kontakten, 45 Querschnitt des Bauelements an der Kathode zu
denen eine Vorspannung über einen Lastwiderstand verbreitern (französischeOffenlegungsschrift 2033 299).
zugeführt ist. Diese Anordnung, die zwei stabile Das Bauelement der Schaltanordnung nach der
Zustände aufweist, kann für logische Schaltoperationen vorliegenden Erfindung hat dagegen im Arbeiispunkt B
und als Speicher verwendet werden. eine stationäre Akkumulationszone, also eine extrem
Es ist bekannt, daß mit Gunn-Oszillatoren logische 50 inhomogene Feldverteilung und ist dort auf unbe-Schaltoperationen
analog wie mit Tunnel-Dioden grenzte Zeit stabil (»bistabil«)·
durchgeführt werden können. Beide Halbleiterbau- Die Schaltanordnung nach der Anmeldung beruht
elemente zeigen einen fallenden Bereich in der Strom- auf einer vom Erfinder entwickelten neuen Theorie,
Spannungs-Kennlinie oberhalb einer Schwellspannung. nach der eine Gunn-Domäne am Anodenkontakt
Wird an ein solches Bauelement über einen Wider- 55 stehenbleibt, wenn die Dotierung laut Formel hoch
stand eine Spannung angelegt, dann ergeben sich laut genug ist und die Dotierungsschwankungen besonders
F i g. 1 zwei Arbeitspunkte (A, B), zwischen denen mit an der Kathode klein genug sind, so daß das Feld
Hilfe von Schal timpulse η geschaltet werden kann. nicht den Schwellwert erreicht, bevor die Anoden-Beide
Bauelemente weisen wesentliche Nachteile auf, domäne stationär geworden ist. weshalb sie sich in der Praxis noch nicht durchsetzen 60 Es kann manchmal schwierig sein, die Dotierungskonnten:
die Tunnel-Diode weist zwischen den beiden Schwankungen an der Kathode niedrig zu halten,
stabilen Arbeitspunkten einen Bereich negativen Hier helfen einige an sich bekannte Maßnahmen,
differentiellen Widerstandes auf, der bei allen Fre- z.B. ein seitlich angebrachter dielektrischer Belag,
quenzen zwischen 0 und etwa 100 GH?, auftritt. Der um die Erzeugung einer Gunn-Domäne zu verhindern,
Schaltkreis, in dem die Tunneldiode eingebaut ist, 65 ebenso hat eine Querschnittsverbreiterung oder Domuß
in diesem Frequenzbereich stabilisierend wirken, tierungserhöhung an der Kathode denselben Effekt.
d. h., die Impedanz des Außenkreises darf bei keiner Der mit der Erfindung erzielte Vorteil besteht darin,
Frequenz die Impedanz der Tunnel-Diode kompen- daß das Schalten von A[B) nach B(A) in Picosekunden
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2112683A DE2112683C3 (de) | 1971-03-16 | 1971-03-16 | Schaltanordnung mit einem Halbleiterbauelement aus Gunn Effekt-Material |
GB276472A GB1359586A (en) | 1971-03-16 | 1972-01-20 | Circuit arrangements employing a gunn-effect semi-conductor component |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2112683A DE2112683C3 (de) | 1971-03-16 | 1971-03-16 | Schaltanordnung mit einem Halbleiterbauelement aus Gunn Effekt-Material |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2112683A1 DE2112683A1 (de) | 1972-09-28 |
DE2112683B2 DE2112683B2 (de) | 1974-02-14 |
DE2112683C3 true DE2112683C3 (de) | 1974-09-12 |
Family
ID=5801743
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2112683A Expired DE2112683C3 (de) | 1971-03-16 | 1971-03-16 | Schaltanordnung mit einem Halbleiterbauelement aus Gunn Effekt-Material |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2112683C3 (de) |
GB (1) | GB1359586A (de) |
-
1971
- 1971-03-16 DE DE2112683A patent/DE2112683C3/de not_active Expired
-
1972
- 1972-01-20 GB GB276472A patent/GB1359586A/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2112683B2 (de) | 1974-02-14 |
GB1359586A (en) | 1974-07-10 |
DE2112683A1 (de) | 1972-09-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
EHJ | Ceased/non-payment of the annual fee |