DE2105475A1 - Integrierte Halbleiterschaltung - Google Patents
Integrierte HalbleiterschaltungInfo
- Publication number
- DE2105475A1 DE2105475A1 DE19712105475 DE2105475A DE2105475A1 DE 2105475 A1 DE2105475 A1 DE 2105475A1 DE 19712105475 DE19712105475 DE 19712105475 DE 2105475 A DE2105475 A DE 2105475A DE 2105475 A1 DE2105475 A1 DE 2105475A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- area
- circuit
- region
- junction
- push
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 19
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 25
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 10
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 3
- 230000001808 coupling effect Effects 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009415 formwork Methods 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000004898 kneading Methods 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000037361 pathway Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/189—High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers
- H03F3/19—High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/195—High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers with semiconductor devices only in integrated circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/0203—Particular design considerations for integrated circuits
- H01L27/0207—Geometrical layout of the components, e.g. computer aided design; custom LSI, semi-custom LSI, standard cell technique
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Bipolar Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Element Separation (AREA)
Description
GÜNTHER M. DAVID
Pafsntas-jscsor
Anmelder: FJ.V. PHILIPS' GLOEILAMPEKFABRIEKaI
/•■Me: PHB-32.038
Anmeldung vom: 4. Febr. 1971
PHB.32.058
Ya/EVH
"Integrierte Halbleiterschaltung"
Die Erfindung bezieht sich auf eine integrierte Halbleiterschaltung mit einem Halbleiterkörper, von dem ein Teil einen
ersten Leitfähigkeitstyp aufweist, wobei an diesen Teil mindesten«
ein erstes, ein zweites und ein drittes Gebiet grenzen, welohe
Gebiete gegeneinander isoliert sind, je bia zu einer Oberfläche
des Halbleiterkörpers reichen, je mit dem Teil vom ersten Leitfähigkeitstyp einen pn-Uebergang bilden und je ein Schaltungselement enthalten·
In einer allgemein bekannten Ausführungsform eines integrierten Halbleiterschaltung ist eine Anzahl von Inseln in einer
epitaktischen Schicht vom ersten Leitfähifrkeitstyp, meistens vom
108433/1817
-^- PHB.32.038
n-LeitfShigkeitatyp, vorhanden, die auf einen Substrat aus einem
Material voa_entgegenßesetzten LeilfHhigkeitstyp (p-Leitfähigkeitstyp) mit einem hohen spezifischen Widerstand angebracht ist. Die
Inaein verden in dex epitaktischen Schicht durch Gebiete mit niedrigem spezifischem Widerstand aus einem Material von dem gleichen
Lei-tfMhigkeitatyp wie das Substrat definiert, welche Gebiete sich
durch die epitaktische Schicht hindurch von der Oberfläche bis zu dem Substrat erstrecken. Biese Gebiete werden durch Diffusion
erhalten und verden gewöhnlich als Isolierzonen bezeichnet. Halbleiterschaltungselemente befinden sich in den Inseln und werden
durch Diffusion von Verunreinigungen in die Oberflächenteile der
Inseln durch Oeffnungen in einer schutzenden isolierenden Maekierungaschioht auf der Oberfläche der epitakti3chen Schicht gebildet»
Die Verbindungen zwischen den unterschiedlichen Schaltungselementen in den Inseln werden duroh Teile einer Metallschicht,
die einen Kontakt mit OberflSchenteilen der unterschiedlichen
Schaltungselemente bilden und sich weiter über die schutzende Isolierschicht erstrecken, hergestellt. Die elektrische Trennung
zwischen den einzelnen Schaltungselementen in verschiedenen Inseln wird daduroh erhalten, dass die pn-üebergänge zwischen den (nleitenden) Inseln und den (p-leitenden) Isolierzonen des Substrats
in der Sperrichtung vorgespannt werden.
Wenn ein Schaltungselement ein Bipolartransistor, z.B. ein npn-Transistor mit diffundierten Emitter- und Basisgebieten
ist, wird das Kollektorgebiet des Translators duroh das ursprüngliche Material einer η-leitenden Insel in einer η-leitenden spitaktiachen Sohicht gebildet. Sin Kondensator oder eine Diode kann
in einer integrierten Schaltung durch einen pn-TJebergang zwischen
109*33/1817
PHB.32.038
eines Insel aus einem Material vom ersten Leitfähigkeit«typ (z.B.
n-Leitfähigkeitstyp) und einem Gebiet vom entgegengesetzten LeitfShigkeitstyp (p-LeitfShigkeitstyp) in dieser Insel gebildet werden.
Bei den Entwicklungen von Schaltungsanordnungen in Form
integrierter Halbleiterachaltungen der obenerwähnten Art hat sich
gezeigt, dass unerwünschte Rückkopplungseffekte erzeugende Störsignale von einen Transistor in einer Insel zu einem Transistor in
einer anderen Insel über eine aus den Kapazitäten zwischen dem
Kollektorgebied jedes Transistors und dem Substrat bestehende
Bahn und Über die Leitung via das Substrat übergehen können.
Es hat sich herausgestellt, dass eine derartige störende Verbindungsbahn, die falsche Signale veranlasst, insbesondere in einer
integrierten Schaltung auftritt, die einen Verstarker mit einem Hochleistungs- und Hochfrequenztransistor enthält. Es h*t sioh
weiter herausgestellt, dass unerwünschte Rtiokkopplungseffekte
erzeugende Störsignale auf gleiche Weise zwischen den Schaltungeelementen (somit nicht notwendigerweise Transistoren) passieren
können, die in verschiedenen Inseln liegen und Gebiete aufweisen, die mit dem Substrat einen pn-Uebergang bilden.
Die vorliegende Erfindung bezweckt, eine Möglichkeit zur nahezu vollständigen Unterdrückung des RUokkopplungseffektes
derartiger Störsignale in integrierten Schaltungen zu schaffen;
weiter hat sie zum Zweck, bestimmte Typen von Schaltungsanordnungen zu schaffen.
Eine integrierte Schaltung nach der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, dass das Schaltungselement des ersten
Gebietes und das Schaltungselement des zweiten Gebietes in Gegentakt geschaltet sind, wobei die Impedanz des Kreises, der
109&33/1817
PHB.32058.
duroh den pn-Uebergang zwischen dem ersten Gebiet und dem Teil,
den Widerstand in dem Teil zwischen dem ersten und dem dritten Gebiet und den pn-Uebergang zwischen dem Teil und dem dritten
Gebiet gebildet wird, nahezu gleich der Impedanz des Kreises ist, der durch den pn-Uebergang zwischen dem zweiten Gebiet
und dem Teil, den Widerstand im Teil zwischen dem zweiten und dem dritten Gebiet und den pn-Uebergang zwischen dem Teil und
dem dritten Gebiet gebildet wird. Die integrierte Schaltung kann z.B. drei Inseln enthalten, die durch IsolierwSnde begrenzt
werden und je ein Schaltungselement enthalten, wobei zwei dieser Sohaltungselemente in Gegentakt geschaltet sind und z.B. eine
Ausgangsstufe eines Verstärkers bilden. Das dritte Gebiet ist derart in der integrierten Uchaltung angebracht, dass dieses
Gebiet am Knotenpunkt eines elektrischen Potentialmusters liegt, das im Substrat infolge Störsignale gebildet werden kann, die von
jedem Schaltungselement des in Gegentakt geschalteten Paares zu dem Schaltungselement im dritten Gebiet laufen«
Die an den erwähnten Gebieten der in Gegentakt geschalteten Elemente auftretenden Spannungen werden gegenphasig
sein, so dass von diesen Gebieten zu dem an Knotenpunkt liegenden Gebiet laufende Storsignale an diesem Knotenpunkt beseitigt werden,
wodurch dar Röckkopplungseffekt der Störsignale auf das Schaltungselement im dritten Gebiet vermieden wird.
Bei einer praktischen Ausfuhrungeform der Erfindung
kann eine waiters Insel mit einem darin gebildeten Schaltungeelement, von dem ein Gebiet einen pn-Uebergang mit dem Substrat
bildet, derart in der integrierten Schaltung angebracht werden, dass das erwähnte Gebiet diesel Sahaltungeelementee an einem
Knotenpunkt des erwähnten elektrischen Potentialmustere liegt,
108*33/1817
- y- PHB.3203a.
so dass der RUckkopplungaeffekt der e¥w8bnten Störaignale auch
bei diaaem weiteren Schaltungselement in der erwähnten Insel
vermieden wird.
Umgekehrt kann, z.B. falle das Schaltungselement des dritten Gebietes zu der Auegangsstufe eines VerstBrkera gehört, der RUckkopplungseffekt von Störsignalen, die von diesem
Schaltungselement zu den beiden Schaltungselementen in den beiden anderen Gebieten laufen, dadurch vermieden werden, dass die
beiden erwähnten Schaltungselemente in Gegentakt miteinander verbunden werden und ihre Verbindung derart in der integrierten
Schaltung angebracht wird, dass die erwähnten Gebiete dieser beiden Schaltungselemente an Punkten gleichen Potentiale des
Potentialmusters liegen, das infolge der von dem Schaltungeelement des dritten Gebietes herrührenden StSrsignale auftreten kann.
Bei einer praktischen Aueführungaform der Erfindung
können die Gebiete mindestens eines weiteren Paares in Gegentakt geschalteter Elemente in reepektiven Gebieten, die einen pn-Uebergang mit dem Substrat der integrierten Schaltung bilden» auf
gleiche Weise angebracht werden, ao dass auch bei diesen Schalungselementen der Rückkopplungseffekt der Störsignale beseitigt wird·
In gewissen Fällen ist es leicht und günstig, die Schaltung bei einem Transistorverstärker mit einer Gegentaktausgangastufe zu verwenden. Auch kann in gewissen Fällen der
Eingang oder die Zwischenstufe eines VeratJfkers ale eine Gegentakts tufe ausgebildet werden. Es ist bekannt, dass in jedem
dieser FSlIe Spannungen gleicher Grosse, aber auch entgegengesetzter Phasen an den Kollektoren der Gegentakttraneiatoren
beim Betrieb dea Verstärkers auftreten werden. Auoh können zvei Schaltungselemente von einen anderen Typ, z.B.Kondensatoren,
109*33/1817
PKB.32038.
einer Schaltung in Gegenteki; angeordnet werden, wobei gegenphasige
Spannungen gleicher Grosse un sinsr der Elektroden beim Betrieb
der Schaltung auftreten werden.
Die vorliegende Erfindung kann also im allgemeinen bei integrierten Schaltungen mit einem Paar in Gegentakt geschalteter
Elemente Anwendung finden, wenn ein durch Störeignale herbeigeführter Rückkopplun^seffekt vermieden werden muss. Inabesondere
lSsst sich die Erfindung in integrierten Schaltungen eines Hochfrequenz-
und HochleistungstrEnsiatorverstärkere verwenden, der
insbesondere mit einer Gegentakt-Auagangsstufe versehen ist.
Bei der praktischen Anwendung der Erfindung, bei der Störsignale von den in Gegentakt geschalteten Elementen zu dem
dritten Gebiet laufen, hängt das Potentialraueter von der Anordnung
der beiden Gebiete, in denen zwei Transistoren oder andere Schaltungselemente
das Fear in 3«gentakt geschalteter Elemente biläan,
und auch von der Fo*ia des vollständigen .1 ίΐβϊ« ^"rriiffuaioaamuetera
der integrierter. Schaltung ab. Bei eines -ymiuetrischen
Anordnung lässt sich erzielen, dass Knotenpunkt« an der Mittellinie
der integrierten Schaltung auftreten. Es ist möglich, dass keine
Symmetrie erhalten werden kann, in welchem Falle die Knotenpunkte nicht auf dar Hittellinie der integrierten Schaltung liegen; die
Lagen der Knotenpunkte können dann aber durch Lösung der Laplace-Gleichungen
(V 0 =« 0) gefunden werden, wobei φ das elektrische
Potential darstellt. Dies kann unter Verwendung eines elektrolytiachen
Troganalogona oder mittels Kippachwingungsverfahren fflit
einer digitalen Rechenanlage durchgeführt werden.
Bei der praktischen Anwendung des Erfindung, bei der
Störeignale von dem dritten Gebiet zu den ii,· Oe^r.takt ^e«schali ;-ten
Element· laufen, treffen selbstverständlich «lie gleioh«n
103*31/1817
- jr - PHB.52038.
Erwägungen zuj in diesem Falle müssen aber Punkte gleichen Potentials (keine Knotenpunkte) des Potentialmusters bestimmt werden.
Bei einer praktischen Ausführungsform eines Hochfrequenz-
und Hochleiatungs-Mehrstufentranaiatorverstörkers in Form einer
integrierten Schaltung nach der Erfindung kann eine Gegentakt-Ausgangsstufe mit zwei Transistoren in respektiven Inseln der Schaltung verwendet werden, wobei ein oder mehrere Transistoren einer
oder mehrerer vorangehenden Stufen, vorzugsweise wenigstens die Eingangsstufe, in einer anderen Insel oder in anderen Inseln gebildet werden, die, wie oben erwähnt, an dem (den) Knotenpunkt(en)
das Potentialmusters in dem Substrat der integrierten Schaltung liegt (liegen). Auch kann die Eingangsstufe und/oder mindestens
eine Zwischenstufe des Verstärkers durch ein in Gegeηtakt geschaltetes Transistorenpaar gebildet werden, deeeen Transistoren
in gesonderten Inseln liegen, die an Punkten gleichen Potentials des Potentialmusters im Substrat liegen, dadurch, dass die Ausgangsstufe des Verstärkers in einer anderen Insel gebildet ist.
Die Erfindung lässt sich außerdem zur Beseitigung
dea Rüokkopplungseffektes von Störsignalen zwischen Transistoren oder anderen Schaltungselementen verschiedenartiger in derselben integrierten Schaltung vorhandener Anordnungen verwenden.
Einige Ausführungsformeη der Erfindung sind in den
Zeichnungen dargestellt und werden im folgenden näher beschrieben. Es ze igent
Fig. 1 einen Querschnitt durch eine integrierte Schaltung mit zwei darin gebileten Transistoren;
Fig. 2 schematiech die Rückkopplungabahn zwischen den
Kollektorgebieten der beiden Transistoren in der integrierten
Schaltung nach Fig. 1,
109*33/1817
PHB.32038.
Fig. 3 schematisoh die Anordnung der Inseln in einer
integrierten Schaltung nach der Erfindung,
Fig. 4 schematisch die Rückkopplungsbahn zwischen den
Kollektorgebieten <1er Tranaistoren in der Schaltung nach Fig. 3»
Fig. 5 schematiaoh die Anordnung von Inseln in einer
anderen integrierten Schaltung nach der Erfindung, und
Fig. 6 schematisch die Rückkopplungsbahnen zwischen den Kollektorgebieten der Transistoren in der Schaltung nach Fig. 5«
Die integrierte Halbleiterschaltung nach Fig. 1 enthält
zwei Gebiete 1 und 2, die einen pn-üebergang mit dem Teil
4 des Halbleiterkörper bilden. Die Gebiete 1,2 sind als Inseln
in einer η-leitenden epitaktischen Schicht 3 angebracht, die auf
einem den Teil 4 bildenden Substrat 4 aus p-leitendem Material
mit einem hohen spezifischen Widerstand liegt· Die Inseln 1 und werden in der epitaktischen 'Schicht 3 durch Gebiete 5» 6 und 7
aus p-leitendem Material mit einem niedrigen spezifischen Widerstand
begrenzt, die eich von der Oberfläche der epitaktischen Schicht 3 bis zu dem Substrat erstrecken. Die Gebiete 5» 6 und
werden durch Diffusion erhalten und werden gewöhnlich als Isolierzonen
bezeichnet. In jeder der Inseln 1 und 2 wird ein Bipolartransistor durch Diffusion einer Verunreinigung in die Oberflächenteile
der Inseln 1 und 2 durch Oeffnungen in einer schützenden
isolierenden (nicht dargestellten) Maekierung?schioht auf der
Oberfläche der epitaktischen Schicht 3 angebracht. In jeder der Inseln 1 und 2 bildet das η-leitende Material den Kollektor
eines Transistorss während die Basis dieses Transistors durch
ein Gebiet 8 (oder9) aus p-leitendem Material innerhalb der
Insel und der Emitter des Transistors durch ein n-leitendee
Gebiet 10 (oder 11) aua η-leitendem Material höherer Leitfähigkeit
1Ü9ft3S/!817
- f- PHB. 32030.
innerhalb des Basiegabietea 8 oder 9 gebildet wird. Ein η -Gebiet
12 oder 13 aus η-leitendem Material höherer Leitfähigkeit bildet die Verbindung mit dem Kollektorgebiet von 1 oder 2.
Die Verbindungen ndt den beiden Transistoren und die
Verbindungen zwiBchen diesen Transistoren kennen durch Teile
einer Metallschicht m, die mit den Oberflöchenteilen der Transistoren
einen Kontakt bilden, erhalten werden.
Sie elektrische Isolierung zwischen den beiden Transistoren
in den beiden Inseln wird daduroh erhalten, dass die pn-Uebergänge zwischen den η-leitenden Inseln 1 und 2 und dem
p-leitenden Substrat 4 in der Sperrichtung polarisiert und die
Isolierwände 5t 6 und 7 vorgesehen werden. Eine starke Quelle
möglicher Rückkopplung ergibt sich aber längs einer Bahn durch das Substrat infolge der Kapazitäten zwischen den Kollektorgebieten
und dem Substrat der beiden Transistoren. Diese RUckkopplungsbahn
ist schematisch in Fig. 2 dargestellt, in der die beiden Transistoren mit 14 und 15 bezeichnet sind, während ihre Kapazitäten
zwischen den Kollektorgebieten und dem Substrat bei 16 und angedeutet sind; die Leitfähigkeit des Substratkörpers 4 wird durch
das Widerstandsnetzwerk 1(3 dargestellt*
Wenn einer der beiden Transistoren durch zwei in einzelnen Inseln liegende Transistoren ersetzt wird, bildet sich eine
Rtickkopplungsbahn zwischen den Kollektoren jedes der beiden
Transistoren und dem Kollektor des anderen Transistors. Dies ist schematiach in Fig. 3 angegeben, die ein Substrat 19 rait Inseln
20, 21 und 22 zeigt, wobei Tranaistoren 23, 24 bzw. 25 in diesen
Inseln gebildet sind. Die Kapazitäten zwischen den Kollektorgebieten
der Transistoren und dem Substrat sind durch Kondensatoren 26, 27 bzw. 28 dargestellt, während die durch die Leitung
109*33/1117
PHB.32038.
des Cubstratkö'rpers 19 οβ^-ϊ·1^βΐβΓ<
Widerstar.dsbahnen durch
das Widerstandsnetzwerk 29 dargestellt werden. Fig. 4 zeigt schematisch die Symmetrie des Wideratandsnetzwerkes 29, die
erhalten wird, wenn die Insel 20 symmetrisch zu den Inseln
21 und 22 auf der Kittellinie der integrierten Schaltung
angebracht wird. Durch dia Ge^ontaktachaltung der beiden Transistoren
24 und 25 sind die Kollektorspannungen dieser Transistoren
gegenphasig, so daas etwaige Rückkopplungsspannungen am
Kollektor des Tranaistors 23 von den Kollektoren der Transistoren 24 und 25 an Über die Rückkopplungabahnen die gleiche Grosse, aber
entgegengesetzter Phasen aufweisen werden, wodurch sie sich am Kollektor des Transistors 23 ausgleichen.
Bei dieser symmetrischen Anordnung wird angenommen, dass die Knotenpunkte des elektrischen Potentials infolge der Hlickkopplungsapannungen
auf der Mittellinie der integrierten Schaltung liegen. Dio Laplaca-Gleiohung kann "wt ob«· -'■' ^arhriebene
Weise zur Bestimmung von Nullpotentialpunkten zum Anbringen dee Transistors verwandet werden, zu dessen Behuf die Effekte der
Rückkopplungsspannungen unterdrückt werden müssen, und zwar in denjenigen Fällen» in denen keine symmetrische Anordnung erhalten
werden kann·
In Fig. 5 und 6 wird eine Anwendung der Erfindung zur
Beseitigung dei Wirkung der Riiokkopplungsspannungen von einer
Transistorstufe zu zwei oder mehr weiteren Transistoren oder Transistorstufen in den respektiven Inse?n einer integrierten
Schaltung dargestellt. Nach Fig. 5 "wird die erwÄhnte Transistor»
stufe durch einen Gegentaktstufe mit zwei Transistoren jSQ und 3*1
in respektiven Ineeln 32 und 33 gebildet, wahrend ,Jede der zve_
oder mehreren weiteren Inseln 34 und 35 eine Traneistor3tufe enthSlt,
- >f - PIiB.32038.
welche Stufen aua je einem Transistor 36 bzw. 37 bestehen. Die
Tranaiatoren 36 und 37 können z.B. gleichfalle in Gegentakt geschaltet
sein. Ein Gebiet 38 stellt ein hypothetisches Isolieruneediffuaionarauater
im Substrat 39 der integrierten Schaltung dar.
Widerstände φ stellen di· Leitung des Substratkörpera 39 und di«
Kondensatoren 4I - 44 stellen die betreffenden Kapazitäten zwischen
den Kollektorgebieten der Transistoren 30» 31» 56 und 37 und dem
Subetrat dar. Durch Anbringung jeder der Inseln 34 und 35 an einem
Knotenpunkt des Potentialmusters, das im Substrat 39 infolgt Störsignale , die vom Kollektor jedes der in Gegentakt geschalteten
Transistoren 30 und 31 herrühren, auftreten kann, wird eine symmetrische
HUckkopplungsscha]tungeanordnung nach Fig. 6 erhalten.
Der Rückkopplungaeffekt der Störsignale wird daduroh in jeder der
Inseln 34 und 35 beseitigt.
Obschon sich die obenstehende Beschreibung nur auf den
Fall bezieht, in dem das in Gegentakt geschaltete Paar auf das
dritte Gebiet rückgekoppelt wird, iat es einleuchtend, dass sich die Erfindung auch im ,umgekehrten Fall verwenden löset, ausgenommen,
wenn im letzteren Falle die Symmetrieanforderungen sich auf Punkte gleichen Potentiale des Potentialmusters und nicht auf Knetenpunkte
beziehen.
10S&3S/1817
Claims (6)
- AlPHB.32.038PATENT AITS PRÜECHE ιIntegrierte Halbleiterschaltung mit einem Halbleiterkörper, von dem ein Teil einen ersten Leitftihigkeitstyp aufweist, wobei an diesen Teil mindestens ein ersten, ein zweites und ein drittes Gebiet grenzen, welche Gebiete gegeneinander isoliert sind, je bis zu einer Oberfläche dee Halbleiterkörper reichen, je mit dem Teil vom ersten Leitfähigkeitstyp einen pn-Uebergang bilden und je ein Schaltungselement enthalten, dadurch gekennzeichnet, dass das Schaltungselement des ersten Gebietes und das Schaltungselement des zweiten Gebietes in Gegentakt geschaltet sind, wobei die Impedanz des Kreises, der durch den pn-Uebergang zwischen dem ersten Gebiet und dem Teil, den Widerstand im Teil zwisohen dem ersten und dem dritten Gebiet und den pn-Uebergang zwischen dem Teil und dem dritten Gebiet gebildet wird, praktisch gleioh der Impedanz des Kreises ist, der durch den pn-Uebergang zwischen dem zweiten Gebiet und dem Teil, den Widerstand im Teil zwischen dem zweiten und dem dritten Gebiet und den pn-Uebergang zwischen dem Teil und dem dritten Gebiet gebildet wird.
- 2. Integrierte Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, dadurchgekennzeichnet, dass an den erwähnten Teil ein viertes Gebiet grenzt, das gegen das erste, das zweite und das dritte Gebiet isoliert ist, bis zu der erwShnten Oberflfifohe dee Halbleiterkörper« reicht, mit dem Teil einen pn-Uebergang bildet und ein Schaltungselement enthalt« wobei oie Impedanz des Kreises, der durch den pn-Uebergang zwischen dem vierten Gebiet und dem Teil, den Wideretand im Teil zwischen dem vierten Gebiet und dem ersten Gebiet und den pn-Uebargang zwischen dem Teil und dem ereten Gebiet gebildet wird, praktisch gleich d«z In pe dm ζ das Kreises ist, der durch den pn-Ueb®rgang zwischen dem vierten Gebiet und dem Teil,1Q9&33/1S17- yf - PH3.32038.den Widerstand im Teil zwischen dem vierten Gebiet und dem zweiten Gebiet und den pn-Uebergang zwischen dem Teil und dem zweiten Gebiet gebildet wird»
- 3. Integrierte Halbleiterschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Schaltungselemente dta dritten Gebietes und des vierten Gebietes in Gegentakt geschaltet sind.
- 4. Integrierte Halbleiterschaltung naoh einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die integrierte Schaltung einen Transistorverstärker enthält, dessen Ausgangsstufe durch die in Gegentakt geschalteten und aus Transistoren bestehenden Schaltungselemente des ersten und des zweiten Gebietes gebildet wird, wobei das dritte Gebiet einen Transietor einer der vorangehenden Stufen des Verstärkers enthält.
- .5. Integrierte Halbleiterschaltung nach Anspruch 4» dadurch gekennzeichnet, dass das Schaltungselement des dritten Gebietes zu der Eingangsstufe des Verstärkers gehört.
- 6. Integrierte Halbleiterschaltung nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche dadurch gekennzeichnet, dass das dritte und das vierte Gebiet symmetrisch zu dem ersten und dem zweiten Gebiet angeordnet sind.109*33/1117
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB580870 | 1970-02-06 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2105475A1 true DE2105475A1 (de) | 1971-08-12 |
DE2105475B2 DE2105475B2 (de) | 1981-04-16 |
DE2105475C3 DE2105475C3 (de) | 1982-01-21 |
Family
ID=9803001
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2105475A Expired DE2105475C3 (de) | 1970-02-06 | 1971-02-05 | Integrierte Halbleiterschaltung |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3697784A (de) |
JP (1) | JPS4945196B1 (de) |
CA (1) | CA939827A (de) |
DE (1) | DE2105475C3 (de) |
ES (1) | ES387993A1 (de) |
FR (1) | FR2080964B3 (de) |
GB (1) | GB1232946A (de) |
NL (1) | NL7101395A (de) |
SE (1) | SE358051B (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL7313452A (nl) * | 1973-10-01 | 1975-04-03 | Philips Nv | Absoluut nauwkeurige geintegreerde impedantie. |
JPS5997827U (ja) * | 1982-12-18 | 1984-07-03 | トヨタ自動車株式会社 | ダイスアダプタ |
US5438297A (en) * | 1992-12-30 | 1995-08-01 | Intel Corporation | Electrical trace having a closed loop configuration |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1293903B (de) * | 1962-09-07 | 1969-04-30 | Texas Instruments Inc | Integrierte Halbleiterschaltungsanordnung mit thermisch gekoppelten Schaltungselementen |
DE1905025A1 (de) * | 1968-02-02 | 1969-08-07 | Motorola Inc | Temperaturkompensierte Vergleichsschaltung |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3421026A (en) * | 1964-06-29 | 1969-01-07 | Gen Electric | Memory flip-flop |
NL6705024A (de) * | 1967-04-08 | 1968-10-09 | ||
US3560866A (en) * | 1968-08-20 | 1971-02-02 | Sprague Electric Co | If amplifier with compensated transistor unit |
-
1970
- 1970-02-06 GB GB580870A patent/GB1232946A/en not_active Expired
-
1971
- 1971-02-03 NL NL7101395A patent/NL7101395A/xx unknown
- 1971-02-04 US US112623A patent/US3697784A/en not_active Expired - Lifetime
- 1971-02-05 SE SE01478/71A patent/SE358051B/xx unknown
- 1971-02-05 DE DE2105475A patent/DE2105475C3/de not_active Expired
- 1971-02-05 CA CA104,552A patent/CA939827A/en not_active Expired
- 1971-02-05 ES ES387993A patent/ES387993A1/es not_active Expired
- 1971-02-06 JP JP46004650A patent/JPS4945196B1/ja active Pending
- 1971-02-08 FR FR7104083A patent/FR2080964B3/fr not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1293903B (de) * | 1962-09-07 | 1969-04-30 | Texas Instruments Inc | Integrierte Halbleiterschaltungsanordnung mit thermisch gekoppelten Schaltungselementen |
DE1905025A1 (de) * | 1968-02-02 | 1969-08-07 | Motorola Inc | Temperaturkompensierte Vergleichsschaltung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2105475C3 (de) | 1982-01-21 |
ES387993A1 (es) | 1973-06-01 |
FR2080964B3 (de) | 1973-10-19 |
SE358051B (de) | 1973-07-16 |
JPS4945196B1 (de) | 1974-12-03 |
CA939827A (en) | 1974-01-08 |
FR2080964A7 (de) | 1971-11-26 |
US3697784A (en) | 1972-10-10 |
GB1232946A (de) | 1971-05-26 |
NL7101395A (de) | 1971-08-10 |
DE2105475B2 (de) | 1981-04-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2021824C3 (de) | Monolithische Halbleiterschaltung | |
DE2262297C2 (de) | Monolithisch integrierbare, logisch verknüpfbare Halbleiterschaltungsanordnung mit I&uarr;2&uarr;L-Aufbau | |
DE2925246C2 (de) | ||
DE1260029B (de) | Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen auf einem Halbleitereinkristallgrundplaettchen | |
DE2459562B2 (de) | Integrierte Schaltungen | |
DE2217456A1 (de) | Transistorschaltung mit Antisattigungs schaltung | |
DE2500057C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Frequenzstabilisierung einer integrierten Schaltung | |
DE2217537A1 (de) | Transistor-Transistor-Logikschaltung | |
DE1564218A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Transistoren | |
DE1943302A1 (de) | Integrierte Schaltungsanordnung | |
DE2828325A1 (de) | Emittergekoppelte logikstufe | |
DE2615553C3 (de) | Schwellenschaltung mit Hysterese | |
DE2054863A1 (de) | Spannungsverstärker | |
DE2105475A1 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung | |
DE2753882C2 (de) | Digitale integrierte Schaltung | |
DE1574651A1 (de) | Monolithische Schaltung mit Pinch-Widerstand | |
DE68912415T2 (de) | Integrierte Stromspiegelschaltung mit vertikalen Transistoren. | |
DE2635800C2 (de) | Monolithisch integrierte Schottky-I&uarr;2&uarr;L-Gatterschaltung | |
DE2946192C2 (de) | Frequenzteiler | |
DE1947265A1 (de) | Signalwandlerschaltung | |
DE2042086C3 (de) | ||
DE4126289A1 (de) | Integrierte halbleiterschaltungseinrichtung | |
DE1762759B1 (de) | Monolithisch integrierte Schaltung zur Umsetzung einer Information aus einem Code in einen anderen | |
DE2447867A1 (de) | Halbleiteranordnung | |
DE2524579A1 (de) | Logik-glied |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |