DE2055296B2 - Vorrichtung zur Standardisierung und/ oder Kalibrierung auflichtphotometrischer Messungen - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur variablen Standardisierung und/oder Kalibrierung der relativen Lage reflektierender, remittierender oder emittierender Proben zum Fokus eines Mikroskopobjektivs bei auflichtmikrophotometrischen Messungen, bei denen ein Standard verwendet wird.

Auflichtphoiometrische Messungen werden beispielsweise zur Bestimmung des Schwärzungsgrades einer Photo- oder Kernspuremulsion, zur Bestimmung der Reflexionsintensität mineralogischer Proben oder zur Bestimmung der Emissionsstärke fluoreszierender Proben durchgeführt. Bei solchen Messungen ist eine photometrische Standardisierung bzw. Eichung des benutzten Mikroskop-Photometers, insbesondere der Lichtquelle und der Elektronik eines Lichtnachweisgerätes erforderlich.

Nur durch eine in der Frequenz den Eigenschaften des Mikroskop-Photomctcrs angepaßte Nacheichung ist erreichbar, daß die Ergebnisse von Meßreihen in einem reproduzierbaren Verhältnis zueinander stehen. Eichungen müssen mit einem höchstmöglichen Maß an Empfindlichkeit durchführbar sein. Eine wichtige Voraussetzung hierfür ist, daß Remissions-. Reflexions- oder Emissionsstärken des photomeirischen Standards und der zu messenden Probenserie jeweils im selben Bereich liegen. Dieses ist mit einem einzigen, starr angeordneten phoiometrischen Standard (s. z. B. Firmendruckschrift C. Reichert, Wien: SD Mikrophotometer D 6/64 oder Leitz-Mitieiiungen aus Wissenschaft und Technik IV, 1968, S. 176-180) bei den möglichen Remissions-, Reflexions- oder Emissions-Unterschieden verschiedener Probenserien, oder auch Einzelproben, nicht erreichbar.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zur variablen Kalibrierung bzw. Kontrolle von auflichtphotometrischen Messungen zu bieten, die einen Standard vorsieht.

Die Lösung dieser Aufgabe ist dadurch gekennzeichnet, daß eine lichtdichte Kappe vorgesehen ist, die die Frontlinse des Objektivs nach außen abschirmt, im Inneren einen fest angeordneten Reflexions-, Remissions- oder EmissioB'.standard aufnimmt und durch eine Verstelleinrichtung relativ zum Fokus bewegbar ist.

Der somit variable auflichtphotometrische Reflexions; Remissions- oder Emissionsstandard kann als Vergleichs- oder Bezugsobjekt bei auflichtphotometrischen Messungen remittierender, reflektierender- oder emittierender Körper dienen, da er nicht nur eine starre Reflexions-, Remissions- oder Emissionsintensität liefert, sondern, auf Grund der möglichen Variabilität seines Abstandes zum Fokus des Objektives, beliebige, aber kontrollierbare und reproduzierbare Reflexions-. Remissions· oder Emissionsintensitäten.

Die Erfindung wird im folgenden mittels eines Ausführungsbeispieles anhand der F i g. 1 und 2 näher erläutert.

Fig. 1 stellt einen Schnitt durch die erfindungsgemaße Vorrichtung dar.

F i g. 2 zeigt eine Ansicht der erfindungsgemäßen Vorrichtung mit horizontaler und vertikaler Kalibrierung.

Eine Möglichkeit der Auswertung von Autoradiogrammen, bestehend z. B. aus einem ^l4C-markiericn Zellausstrich oder Gewebsschnitt und einer darüber befindlichen Kernspuremulsion, in der die ^MC-Zerlälle in Gestalt entwickelter Silberkörner registriert sind, bildet die Auflichtphotometrie. Bei Mikroskopen, die nach dem auflichtphotometrischen Verfahren arbeiten, werden die Objektive, von denen mehrere an einem Revolverkopf angeordnet und nacheinander zur Beobachtung eines Objektes in den Strahlengang gebracht werden können, gleichzeitig als Kcndensator für die Beleuchtung, z. B. /7^-Dampflampenlicht und als Abbilder verwendet. Die von einem Objekt reflektierte, remittierte oder emittierte Strahlung wird durch einen Pholomultiplier in einen meßbaren Strom verwandelt. Für eine quantitative Auswertung von Autoradiograminen, vor allen Dingen bei Reihenuntersuchungen, ist es notwendig, daß der vom Photomultiplier jeweils erhaltene Wert gegenüber einem Standardwert über längere Zeit als geeichter Meßwert angesehen werden kann. Der günstigste Fall für z. B. Reihenuntersuchungen liegt dann vor, wenn ein Reflexions-, Remissionsoder Emissionsstandard entsprechend der Zeitkonstanz von Lichtquelle und Elektronik des Photomultipliers nach jeder Messung oder nach jeweils mehreren Messungen durch einfaches Einblenden bzw. Eindrehen in den mikroskopischen Sirahlengang als Vergleichs-. ;Jer Bezugsobjekt herangezogen werden kann.

Dios ist mit der als ein Beispiel angeführten '.TiindungsgL'mäßcu Vorrichtung nach I ι g. I möglich,

da bei dieser ein Reflexions-, Remissions- oder Emissionsstandard 1 an einem besonders ausgebildeten Objektiv 2 eines Revolverkopfes 3 eines Mikroskopes (nicht dargestellt) angeordnet ist. Das Objektiv 2 mit Frontlinse 4 ist ein für auflichtphotometrische Messungen geeignetes. Die Frontlinse 4 des Objektives 2 ragt in eine Kappe 5. die zumindest den lichtempfindlichen Teil des Objektives 2, also die Frontlinse 4. lichtilicht umgibt. Die Kappe 5 besteht aus einem Zylinder mit Abschluß 6. an dessen seitlicher Innenfläche 7, zumindest am oberen Teil dieser Innenfläche 7, ein Gewinde 8 angebracht ist. Dieses Gewinde 8 ist gegenüber einem Gegengewinde 9. welches um einen Teil der Außenfläche 10 des Objektives 2 angeordnet ist, drehbar. Die Kappe 5 ist also gegenüber dem Objektiv 2 z. B. von Hand hoch- und niederschraubbar. In ihren Endpositionen ist sie durch eine geeignete Ausarbeitung des Gewindes 8 und Gegengewindes 9 blockierbar.

Durch die Seitenwandung 11 des zylindrischen Teils der Kappe 5 sind zwei Schrauben 12 und 13 durch Öffnungen 14 und 15 mit Gewinden 16 und 17 geführt. Die Spitzen 18 und 19 dieser Schrauben 12 und 13 können in jeder beliebigen Zwischenstellung der Kappe 5 gegenüber dem Objektiv 2 mittels einfachem \nziehen der Schrauben 12,13 gegen das Gegengewinde 9 am Objektiv 2 angepreßt werden und somit die Kappe 5 in jeder beliebigen Zwischenstellung fixieren. f iegenüber der Frontlinse 4 des Objektives 2 ist auf der Innenfläche 20 des Abschlusses 6 der Kappe 5 der Reflexions-. Remissions- oder Emissionsstandard 1 •ingeordnei. Es kann sich dabei z. B. um eine homogen nit Metall beschichtete Glasplatte, um einen Kristall oder um ein fluoreszierendes Glas handeln. Der Aufbau .les Reflexions-, Remissions- oder Emissionsstandards 1 ningt im wesentlichen vom Verwendungszweck des ibjektives 2 ab. d. h. von der Art der mittels der iiiflichiphotomelrischen Messungen zu untersuchenden

örper und auch von der Empfindlichkeit des zu den ■ lessungen verwendeten Photomultipliers. Wichtig ist. -laß das Reflexions-, Remissions- oder Emissionsvermögen des Standards 1 zumindest über längere Zeiträume konstant bleibt, was aber durch die licht- und sogar 'L'uchtigkeitsdichte Anbringung der Kappe 5 gegenüber ■lern Objektiv 2 gewährleistet ist. Die feuchtigkeitsdich- ;c Anbringung ist in einfachster Weise mittels Schmierung der beiden Gewinde 8 und 9 gegeneinander mit z. B. einem Silikonfett erreichbar.

Der Reflexions-, Remissions- oder Emissionsstand-'.ird 1 liegt bei hochgeschraubter Kappe 5. die Kappe 5 •'olindet sich in einer Endposilion, etwa in der I okusebene (nicht dargestell) des Objektives 3. In seiner /weiten Endposition, d. h. maximal herabgeschraubten Kappe 5. befindet sich jedoch der Reflexions-. Remissions oder Emissionsstanciard 1 weit außerhalb ϊ des Fokus des Objektives 2. Der Abstand 25 von Frontlinse 4 des Objektives 2 ist somit stetig variierbar und in jeder Zwischenstellung miitels der Schrauben 12 und 13 fixierbar. Die genauen Positionen dieser Fixierungen sind aufgrund von Kalibrierungen exakt

ίο bestimmbar.

In F i g. 2 sind diese Kalibrierungen am Objektiv 2 und an der Kappe 5 dargestellt. Es handelt sich dabei um eine Vertikalkalibrierung 21 an der Außenfläche 10 des Objektives 2 und eine Horizontalkalibrierung 23 auf der in Richtung Außenfläche 10 des Objektives 2 zugespitzt verlaufenden Außenfläche 24 der Kappe 5. Während die Vertikalkalibrierung 21 längs einer Geraden aufgetragen ist, ist die Horizontalkalibrierung 23 über einen Teil oder den ganzen Umfang der Kappe 5 angeordnet.

.Ό Beide Kalibrierungen 2t und 23 sind in der Art einer Mikrometerschraubenvorrichtung angefertigt. Jede Zwischenstellung der Kappe 5 gegenüber dem Objektiv 2 ist mittels den Schrauben 12,13 (13 ist nicht dargestellt in Fig. 2) fixierbar und der Absland 25 Reflexions-.

Remissions- oder Emissionsstandard 1 zur Frontlinse 4 über die Skalierungen der Vertikal- und Horizontalkalibrierungen 21 und 23 ablesbar. Jede Zwischersstellung und somit jeder Zwischenabstand von Frontlinse 4 zu Reflexions-. Remissions- oder Emissionsstandard 1 ist

jo somit reproduzierbar.

Wie bereits erwähnt, gelangt das Auflicht zur auflichtphotometrischen Messung durch das Objektiv 2 auf den Reflexions-, Remissions- oder Emissionsstandard 1 und wird von diesem in das gleiche Objektiv 2

j^r) reflektiert, remittiert oder emittiert. Die Menge des in das Objektiv 2 zurück gelangendes Lichtes hängt jedoch wesentlich von der Entfernung 2 zum Reflexions·. Remisions- oder Emissionsstandard 1 ab und ist somit mittels der Drehvorrichtung (Kappe 5 über Gewinde 8 und 9 gegenüber Objektiv 2) variabel. Diese Variabilität der zurückgelangenden Lichtmenge ist über die Kalibrierungen 21, 23 kontrollierbar, wobei allerdings die Variation der Lichtmenge nicht unbedingt proportional zur Variation des Abstandes 25 von Frontlinse 4 und Reflexions-, Remissions- oder Emissionsstandard I /u erfolgen hat. Es genügt, vor allen Messungen eine Eichkurve von reflektierter, remittierter oder emittierter Lichtmenge gegenüber dem variablen Abstand 25 bei konstanter Lichteinstrahlung aufzunehmen.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (5)

Patentansprüche:

1. Vorrichtung zur variablen Standardisierung und/oder Kalibrierung der relativen Lage reflektierender, remittierender oder emiitierender Proben zum Fokus eines Mikroskopobjektivs bei auflichtmikrophotometrischen Messungen, bei denen ein Standard verwendet wird, dadurch gekennzeichnet, daß eine lichtdichte Kappe (5) vorgesehen ist, die die Frontlinse (4) des Objektivs (2) nach außen abschirmt, im Inneren einen fest angeordneten Reflexions-, Remissions- oder Emissionssiand3rd (1) aufnimmt und durch eine Verstelleinrichtung (25) relativ zum Fokus bewegbar ist.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Reflexions-, Remissions- oder Emissionsstandard (1) auf der Innenfläche (20) des Abschlusses (6) der Kappe (5) angeo^rdnet ist.

3. Vorrichtung nach Anspruch 1 und 2. dadurch gekennzeichnet, daß die Verstelleinrichtung ans einem an einem Teil der seitlichen Innenwandung (7) der als Zylinder mit Abschluß (6) ausgebildeten Kappe (5) angebrachten Gewinde (8) besteht, das in einem an einer Außenfläche (10) des Objektivs (2) angeordneten Gegengewinde (9) drehbar ist.

4. Vorrichtung nach Anspruch I oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß an der Außenfläche (10) des Objektivs (2) eine Vertikalibrierung(21)und an der Außenfläche (24) der Kappe (5) eine Horizontalkalibrierung (23) angebracht ist, die ein Ablesen des Abstandes (25) des Reflexions-, Remissions- oder Emissionsstandard (1) gegenüber der Frontlinse (4) des Objektives (2) ermöglicht.

5. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß für eine Fixierung eines cingcstelken Abslandes (25) durch die Außenfläche (24) des die Kappe (5) bildenden Zylinders führende Schrauben (12, 13) vorsehbar sind, deren Spitzen (18, 19) die Kappe (5) für Drehungen gegenüber dem Gegengewinde (9) blockieren.