DE2037977C3 - Kodesignalprüfschaltung - Google Patents

Description

ordneten NAND-Gliedes mit jeweils einem ande- Erfindung näher erläutert.

ren Eingang eines Ausgangs-NAND-Gliedes ver- Die F i g. 1 zeigt ein Ausführungsbeispiel der gebunden sind, dadurch gekennzeichnet, *o maß der Erfindung vorgesehenen Eingangsschaltung daß sie zusätzlich zur Überwachung von fünf- für eine Kodesignalprüfschaltung. zehn Potentialquellen (xl bis χ 15) darauf aus- Die Fij. 2 zeigt eine Kodesignalprüfschaltung zur

genutzt wird, ob von lediglich einer Arbeitspo- Überwachung einer größeren Anzahl von Potentialtential geliefert wird, wozu sie die Potentiale der quellen.

Potentialquellen über eine Eingangsschaltung 45 Gemäß der Erfindung kann die obengenannte (El, E2) empfängt, die sechs NOR-Glieder (No 1 Kodesignalprüfschaltung zur Überwachung von 15 bis No6; Fig. 1) enthält, die jeweils gleich viele Potentialquellen darauf ausgenutzt werden, ob von und insgesamt dreißig Eingänge aufweisen, die in lediglich einer Potentialquelle Arbeitspotential gefünfzehn Gruppen von zwei jeweils zu einem an- liefert wird. Hierzu werden die Potentiale der Potenderen der Verknüpfungsglieder (NoI bis No6; 50 tialquellen über eine Eingangsschaltung empfangen, Fig. 1) gehörenden Eingänge an jeweils eine an- wie sie in der Fig. 1 dargestellt ist. Diese Eingangsdere der Potentialquellen (xl bis χ 15) ange- schaltung enthält sechs NOR-Glieder NoI bis No6, schlossen sind, und deren Ausgangsgrößen je- Die NOR-Glieder weisen jeweils gleich viele und weils ihr sowohl direkt als auch über einen In- insgesamt 30 Eingänge auf. Diese Eingänge sind ir verter (/1 bis/6; Fig. 1) zugeführt werden. 55 15 Gruppen zu jeweils 2,wei, jeweils zu einem ande·

2. Kodesignalprüfschaltung nach Anspruch 1, ren der NOR-Glieder gehörenden Eingängen zusam dadurch gekennzeichnet, daß sie zur Uberprü- mengefaßt und an jeweils eine andere der Potential· fung von k ■ 15 Potentialquellen fc-mal vornan- quellen angeschlossen. So sind ein Eingang des erster den ist, und daß ihre Ausgänge gemäß der EX- und einer des ?wciten NOR-Gliedes /VoI und No'j KLUSIV-ODER-Bedingung verknüpft sind. 60 an die Potentialquelle xl, ein Eingang des erstei

und einer des dritten NOR-Gliedes NoI und JVo: an die zweite Potentialquellc xl, ein Eingang de zweiten und einer des dritten NOR-Gliedes No2 um ΛΌ3 an die dritte Potcntialquelle x7> usw., ein Ein

Die vorliegende Anmeldung befaßt sich mit einer 65 gang des fünften NOR-Gliedes und einer des sechste; vodesignalprüfschaltung der im Oberbegriff des NOR-Gliedes No5 und No6 an die 15. Potential lauptanspruchs angegebenen Art. quelle .rlS angeschlossen.

Eine solche Kodesignalprüfschaltung ist Ge- Die Ausgangsgrößen dci NOR-Glieder NoI bi

³ 4

So 6 werden einerseits direkt, andererseits über je- von den NAND-Gliedern WlLl und W15 und von weils einen Inverter 11 bis /6, die NOR-Glieder mit zweien der NAND-Glieder W12 bis W14 Arbeitsponur einem Eingang sind, an oae eigentliche p_rä. _tential abgegeben. Das dritte der NAND-Glieder fungsschaltung weitergegeben, was im Zusammen- W12 bis W14, im Falle der Lieferung von Arbeitshang nut der F ι g. 2 noch näher erläutert wird. 5 potential durch die ersten beiden Ausgänge all und

Die beschriebene Eingangsschaltung wirkt so, üaß _{al2 das} NAND-Glied W12, gibt dagegen Ruhe-

bei Lieferung von Arbeitspotential von einer der potential ab. Wird an allen drei Ausgängen all bis

Potc-JalqueUcn xl bis χ 15 an zwei der Ausgänge α 13 Arbeitspotential abgegeben, dann liefern die

all bisclö Arbeitspotential und an zwei der Aus- NAND-Glieder WIl bis N14 Ruhepotential, das

gänge all bis a 16 Ruhepotential auftritt. Liefert io NAND-Glied N15 dagegen Arbeitspotential,

also beispielsweise die Potentialquelle x4 Arbeitspo- Entsprechendes gilt für die zweite Gruppe der

tential, so geben die Glieder NoI und No4 Ruhe- Ausgänge α 14 bis α 16 der Eingangsschaltung El.

potential ab, was einer Lieferung von Arbeitspoten- Außer den erwähnten NAND-Gliedern enthält der

jial an den Ausgängen al1_und α 14 bzw. Ruhe- der eigentlichen Kodesignalprüfung dienende Teil der

potential an den Ausgängen all und α Ϊ3 entspricht. 15 Schaltungsanordnung gemäß Fig. 2 weitere NAND-

Anstelle der in F i g. 1 dargestellten NOR-Glieder Glieder, mit deren Hilfe sollche Kriterien aus den

Sol bis No6 können auch NAND-Glieder vorge- beiden Gruppen zur Bildung eines positiven Prii-

sehen sein, wenn Ruhepotential und Arbeitspotential fungsergebnisses miteinander verknüpft werden, die

ihre Rolle vertauschen. Es ist dann auch die Bedeu- über eine sich zur Anzahl 2 ergänzende Anzahl von

tung der direkt mit den Ausgängen der Verknüp- 20 Arbeitspotential führenden Ausgängen all bis a 16

fungsglieder verbundenen Ausgänge gegenüber der- der Eingangsschaltung E1 aussagen,

jenigen der Ausgänge der Inverter /1 bis /6 ver- Zum Zwecke einer derartigen Verknüpfung sind

tauscht. die Ausgänge der NAND-Glieder N12 bis N14

In der F i g. 2 sind zwei vollständige Kodesignal- einerseits mit jeweils einem der Eingänge des Dreierprüfschaltungen dargestellt. Es wird zunächst die in 35 NAND-Gliedes /VlO und £indererseits mit jeweils der linken Hälfte dargestellte mit / bezeichnete be- einem Eingang des 8 Eingänge aufweisenden NAND-trachtet. Sie enthält die hier nur schematisch da;»e- Gliedes NS verbunden. Entsprechendes gilt für die stellte Eingangsschaltung El, deren Eingänge in der Verbindung der Ausgänge der NAND-Glieder N22 oben beschriebenen Weise an die Potentialquellen bis N 24 mit den Eingängen des NAND-Gliedes N 20 xl bis χ 15 angeschlossen sind. Die eigentliche Prüf- 30 bzw. mit 3 weiteren Eingängen des NAND-Gliedes schaltung enthält eingangsseitig die zu einer ersten N 8. Die restlichen beiden Eingänge des NAND-Glie-Gruppe zusammengefaßten NAND-Glieder WIl bis des W 8 sind mit dem Ausgang des NAND-Gliedes N15 und die zu einer zweiten Gruppe zusammenge- W15 der ersten Gruppe bzw. mit dem Ausgang des faßten NAND-Glieder N21 bis N2S. Die drei Ein- NAND-Gliedes N21 der zweiten Gruppe von Eingänge des NAND-Gliedes NIl sind mit jeweils 35 gangs-NAND-Gliedern WIl bis N25 verbunden. Die einem anderen Ausgang all bis a 13 der Eingangs- Schaltungsanordnung enthält außerdem noch die beischaltung El verbunden. Die Ausgänge αΠ bis ÖI3 den Dreier-NAND-Glieder /VlOO, N200 und WoI der Eingangsschaltung El sind an jeweils einen an- sowie die beiden lediglich als, Negatoren ausgenutzten deren der drei Eingänge des NAND-Gliedes W15 NAND-Glieder WnIi und Wn 12. Die Eingänge des angeschlossen. Durch die NAND-Glieder W12 bis 40 NAND-Gliedes WlOO sind mit dem Ausgang des W14 werden die an den Ausgängen all bis a 13 auf- NAND-Gliedes WIl, dem Ausgang des NAND-Glietretenden Ausgangsgrößen außerdem in Zweiergrup- des W10 sowie über den Negator Wn 1 mit dem pen miteinander verknüpft. So sind die Ausgänge Ausgang des NAND-Gliedes W21 der zweiten all und α 12 mit den Eingängen des NAND-Gliedes Gruppe verbunden. In entsprechender Weise sind die W12, die Ausgänge all und a 13 mit den Eingängen 45 Eingänge des NAND-Gliedes W200 mit dem Ausdes NAND-Gliedes W13 und die Ausgänge a 12 und gang des NAND-Gliedes W 25, dem Ausgang des α 13 mit den Eingängen des NAND-Gliedes W14 NAND-Gliedes W 20 sowie über den Negator Wn 2 verbunden. mit dem Ausgang des NAND-Gliedes W15 der ersten

In entsprechender Weise sind die zur zweiten Gruppe verbunden. An die Eingänge des Ausgänge-Gruppe gehörigen Ausgänge α 14 bis α16 bzw. «14" 50 NAND-Gliedes Wal sind die Aasgänge des NAND-bis öTß mit den Eingängen der NAND-Glieder W21 Gliedes WlOO, des NAND-Gliedes W200 und des bis W 25 verbunden. NAND-Gliedes W 8 angeschlossen.

Durch die Verknüpfung der zu Gruppen zusam- Im folgenden wird die Funktionsweise der oben mengefaßten Ausgänge der Eingangsschaltung El beschriebenen erfindungsgemäßen Kodesignalprüfwerden je Gruppe Kriterien für das Vorhandensein 55 schaltung näher erläutert. Es wird der Fall angenomvon Arbeitspotential an 0 bis 2 Ausgängen bzw. an men, daß die Lieferung eines richtigen Kodezeichens mehr als 2, in diesem Falle an 3 Ausgängen gebildet. vorliegt, daß also lediglich eine der Potentialquellen Fuhrt beispielsweise keiner der ersten 3 Ausgänge vl bis .vl5 Arbeitspotential liefert, und zwar eine all bis a 13 der Eingangsschaltung El Arbeits- solche Potentialquelle, die in der im Zusammenhang potential, so wird an den Ausgängen der NAND- 60 mit der F i g 1 erläuterten Weise an zwei Ausgängen Glieder WIl bis W14 Arbeitspotential, an dem Aus- der Eingangsschaltung FA Arbeitspotcntial hervorgang des NAND-Gliedes W15 dagegen Ruhepotcn- ruft, die zu der ersten Gruppe von Ausgängen getial geliefert. Bei Lieferung von Arbeitspotential an hören.

einen der Ausgänge nil bis «13 der ersten Gruppe Es werde also z.B. von der Potentialquelle ν 1 wird an den Avisgängen sämtlicher NAND-Glieder 65 Arbeitspotential geliefert, womit das Auftreten von

WIl bis W15 Λ-bcitspotential abgegeben. Bei Liefe- Arbeitspotemial an den Ausgängen «11 und «12 der

rung von Arbeitspotential an 2 Ausgängen der die Eingangsschaltung El verbunden ist. in diesem Falle

Auseänce «11 bis al3 umfassenden Gruppe wir.:! wird am Ausgang des NAND-Gliedes W12 Ruhe-

potential, an den übrigen Ausgängen der NAND- ab, da an die mit den Ausgängen der NAND-Glieder Glieder NIl bis NlS der ersten Gruppe von Aus- N12 bis N14 verbundenen Eingänge Ruhepotential gangen dagegen Arbeitspotential abgegeben. Das geliefert wird. Auch das NAND-Glied N200 gibt Ar-Ruhepotential am Ausgang des NAND-Gliedes N12 beitspotential ab, da das vom Ausgang des NAND-hat zur Folge, daß am Ausgang des NAND-Gliedes 5 Gliedes NiS abgegebene Arbeitspotential durch den NlO auf jeden Fall Arbeitspotential abgegeben wird. Negator Mi 12 als Ruhepotential an seinen Eingang Dieses Arbeitspotential wird an einen Eingang des gelangt. Es liegt also an allen drei Eingängen des NAND-Gliedes NlOO weitergegeben. Der zweite Ausgang-NAND-Gliedes NaI Arbeitspotential, so Eingang dieses NAND-Gliedes N100 erhält vom daß an dessen Ausgang A Ruhepotential abgegeben Ausgang des NAND-Gliedes ΛΊ1 Arbeitspotential io wird, was ein Zeichen dafür ist, daß ein falsches und auch an den dritten Eingang wird Arbeitspoten- Kodezeichen vorliegt.

tial geliefert, da unter Voraussetzung des Vorhanden- Als zweiter im Hinblick auf den der eigentlichen seins eines richtigen Kodezeichens in der zweiten Prüfung dienenden Teil der Schaltungsanordnung Gruppe von Ausgängen a 14 bis a 16 sämtliche Ruhe- charakteristischer Fall, der bei Vorliegen eines falpotential liefern, was zur Folge hat, daß das NAND- 15 sehen Kodezeichens auftritt, wird derjenige betrach-Glied N 21 Ruhepotential abgibt, das durch den Ne- tet, daß in der ersten Gruppe von Ausgängen der gator Nn 11, dessen Ausgang an den dritten Eingang Eingangsschaltung E1 die beiden ersten und in der des NAND-Gliedes JVlOO angeschlossen ist, in Ar- zweiten Gruppe einer oder mehrere Arbeitspotential beitspotential umgewandelt wird. Das NAND-Glied führen, insgesamt also mindestens 3 Arbeitspotential NlOO gibt also dementsprechend Ruhepotential ab, so führende Ausgänge vorhanden sind. In Abweichung welches an den einen Eingang des Ausgangs-NAND- von dem vorstehend beschriebenen Fall, bei dem Gliedes NaI weitergegeben wird und damit am Aus- lediglich die beiden ersten Ausgänge all und a 12 gang dieses NAND-Gliedes unabhängig von der Art der ersten Gruppe Arbeitspotential geführt hatten, von Potentialen an dessen übrigen Eingängen die liegt nunmehr nicht an allen drei Eingängen des Abgabe von Arbeitspotential und damit die Signali- as NAND-Gliedes NlOO Arbeitspotential, da das sierung des Vorliegens eines richtigen Kodezeichens NAND-Glied N 21 der zweiten Gruppe nunmehr, da zur Folge hat. ja nicht sämtliche Ausgänge dieser Gruppe Ruhe-Entsprechende Verhältnisse liegen vor, wenn zwei potential liefern, Arbeitspotential liefert und dieses der Ausgänge a 14 bis α 16 Arbeitspotential führen, Arbeitspotential durch den Negator Nn 11 in Ruhewas dann der Fall ist, wenn beispielsweise die Po- 30 potential gewandelt wird. Dieses Ruhepotential am tentialquelle α 10 Arbeitspotential führt. Eingang des NAND-Gliedes NlOO veranlaßt die Es wird nun der Fall angenommen, daß in der Weitergabe von Arbeitspotential an den mit dem ersten Gruppe von Ausgängen der Eingangsschal- Ausgang dieses Gatters verbundenen Eingang des tung El einer, beispielsweise der erste all, und in Ausgangs-NAND-Gliedes Na, an dessen übrige beider zweiten Gruppe von Ausgängen ebenfalls einer, 35 den Eingänge in Übereinstimmung mit dem vorbeispielsweise der vierte Ausgang α 14 Arbeitspoten- stehend beschriebenen Fall jeweils Arbeitspotential tial führt. Dies ist dann der Fall, wenn von der Po- geliefert wird, so daß am Ausgang A Ruhepotential tentialquelle χ 4 Arbeitspotential geliefert wird, da auftritt.

diese ja, wie anhand der Fig. 1 beschrieben wurde, Entsprechende Verhältnisse liegen bei dem Fall mit einem Eingang des NOR-Glieder) No 1 und einem 40 vor, daß in der ersten Gruppe von einem Ausgang Eingang des NOR-Gliedes No 4 verbunden ist. Es und in der zweiten Gruppe von zwei oder drei Auswird bei diesem Beispiel an den Ausgängen samt- gangen Arbeitspotential geliefert wird,
licher NAND-Glieder NIl bis N25 Arbeitspotential Für den Fall, daß an keinem der 6 Ausgänge all geliefert. Demzufolge liegt an jedem der Eingänge bis α 16 Arbeitspotential geliefert wird, geben einerdes NAND-Gliedes N 8 Arbeitspotential, was die 45 seits die beiden NAND-Glieder NlO und N 20 Ruhe-Abgabe von Ruhepotential an dessen Ausgang zur potential ab, das in Form von Arbeitspotential ar Folge hat Hierdurch wird jedoch die Abgabe von zwei Eingänge des Ausgangs-NAND-Gliedes NaI Arbeitspotential und damit ebenfalls wieder die Si- weitergegeben wird, und andererseits liefert auch da; gnalisierung des Vorliegens eines richtigen Kode- NAND-Glied NS Arbeitspotential, da sowohl ar zeichens am Ausgang A des NAND-Gliedes NaI ver- so seinen mit dem Ausgang des NAND-Gliedes NlS al; anlaßt. auch an seinen mit den Ausgang des NAND-Glied© Bei allen anderen möglichen Kombinationen von N 21 verbundenen Eingang Ruhepotential gelief er Ausgängen der Eingangsschaltung £1, die gleich- wird. Auch hier ist wieder die Abgabe von Ruhe zeitig Arbeitspotential liefern, d. h. bei Lieferung von potential am Ausgang A die Folge.
Arbeitspotential durch mehr als eine Potentialquelle 55 Aus der Beschreibung des Aufbaus und der Funk χ 1 bis χ 15, wird die Abgabe eines positiven Prü- tionsweise der erfindungsgemäßen Schaltungsanord fungsergebnisses verhindert. Wenn beispielsweise nung läßt sich erkennen, daß der Zeitpunkt der Ab über sämtliche drei Ausgänge all bis a 13 der Ein- gäbe des Ausgangssignals im ungünstigsten Falle voi gangsschaltung El, die zu der ersten Gruppe von 6 Gatterlaufzeiten abhängig ist Sie wird dann bei Ausgängen gehören, Arbeitspotential geliefert wird, 60 spielsweise bestimmt durch eines der NAND-Gliede was dann der Fall ist, wenn außer der Potentialquelle NoI bis No 6 und einen der Inverter /1 bis /6 de xl eine der mit den Eingängen des NOR-Gliedes Eingangsschaltung El, durch das NAND-Glied N12 No3 der Eingangsschaltung El verbundenen Poten- das NAND-Glied NlO, das NAND-Glied NlOO un< tialquellen χ2, x3, x6, x9 und χ 13 Arbeitspoten- das Ausgangs-NAND-Glied NaI.
tial liefern, wird am Ausgang des NAND-Gliedes 65 Wenn eine sehr große Anzahl von Potentialquellei NIl Ruhepotential und damit am Ausgang des zu überwachen ist, wurde eine Erweiterung de NAND-Gliedes NlOO Arbeitspotential abgegeben. Schaltungsanordnung gemäß TeilI der Fig. 2 nad Das NAND-Glied N 8 gibt ebenfalls Arbeitspotential dem ihm anhaftenden Bildungsgesetz Verknüpfungs

glieder erfordern, die eine schlecht realisierbare große Anzahl von Eingängen aufzuweisen haben. Es werden daher die zu überwachenden Potentialquellen gruppenweise mehreren gleichartigen Prüfschaltungen zugeführt und die Ergebnisse der einzelnen Piiifschaltungen werden nochmals miteinander verknüpft. Die Schaltungsanordnung gemäß Fig. 2 enthält daher außer der Teilschaltung I eine gleichartig aufgebaute Teilschaltung II und ist somit zur Überwachung von insgesamt 30 Potentialquellen χ I bis χ 30 geeignet.

Die an den Ausgängen A und B abgegebenen Teilergebnisse werden mittels weiterer Verknüpfungsglieder, nämlich der NAND-Glieder NzI, Nz2 und NA miteinander verknüpft. Die Eingänge des NAND-Gliedes NzI sind mit dem Ausgang A des Teils I der Schaltungsanordnung sowie mit den Ausgängen der Negatoren Nnl2 und Mi22, die zur Teilschaltung II gehören, verbunden. In entsprechender Weise sind die Eingänge des NAND-Gliedes Nz 2 mit dem Ausgang B der Teilschaltung II und den Ausgängen der Negatoren Nn 11 und Nn 12, die zum Schaltungsteil I gehören, verbunden. Die Ausgänge der beiden NAND-Glieder NzI und Nz2 führen zu den Eingängen des Ausgangs-NAND-Gliedes NA, an dessen Ausgang Z das Endergebnis abgegeben wird.

Liegt ein richtiges Kodezeichen vor, führt also nur eine der Potentialquellen χ I bis jr30 Arbeilspotential, dann gibt eine der Teilschaltungen, wenn die Arbeitspotential führende Potentialquelle sich untci den ersten 15 befindet die Teilschaltung I. Arbeitspotential ab, this an einen Eingang des NAND-Gliedes NzI gelangt. Auch den beiden übrigen Eingängen des NAND-Gliedes Nzi wird dann Arbeitspotential zugeführt, da sämtliche Ausgänge ΈΎΙ bis αΤ6 dei Eingangsschaltung El der Teilschaltung Il in diesen Falle Arbeitspotential führen, die an diese Eingänge

xo angeschlossenen NAND-Glieder demzufolge Ruhepotential abgeben, das dann durch die Negatorer Nn2\ und Nn22, deren Ausgänge an zwei Eingänge des NAND-Gliedes NzI angeschlossen sind, in Arbeitspotential gewandelt werden. Das NAND-Gliec

is NzI gibt daher Ruhepotential ab, was das Auftreter von Arbeitspotential am Ausgang Z und damit die Signalisierung des Vorliegens eines richtigen Kode zeichens zur Folge hat.

Sobald mehr als eine der Potentialquellen χ I bii

so λ 30 Arbeitspotential führen, ist bei keinem dei NAND-Glieder NzI und Nz2 die Bedingung mehl erfüllt, daß an sämtliche ihrer drei Eingänge Arbeits potential gelangt, so daß beiden Eingängen des Aus gangs-NAND-Gliedes NA Arbeitspotential zugeführ wird und dieses demzufolge Ruhepotential abgib und damit das Vorliegen eines falsch kodierten Kode zeichens anzeigt.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (1)

genstand der älteren Anmeldung (DT-AS) Patentansprüche: P 2017 838.5-93 der gleichen Anmelderin. Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht

1. Kodesignalprüfschaltung zur Prüfung von darin, eine derartige Kodesignalpriifschaltung auch sechs Potentialquellen, von denen jeweils zwei 5 zur Prüfung von 15 bzw. k- 15 Potentialquellen dargleichzeitig Arbeitspotential liefern sollen (2-aus- auf nutzbar zu machen, ob lediglich von einer Po-6-Kode), die die Potentialquellen in zwei gleich tentialquelle Arbeitspotential geliefert wird, und zwar großen Gruppen prüft, bei der in jeder Gruppe unter Beibehaltung des Aufbaus der obengenannten sämtliche Potentialquellen einerseits mit jeweils Kodesignalprüfschaltung, wobei angestrebt wird, mit einem anderen Eingang eines drei Eingänge auf- io wenig zusätzlicher Laufzeit und mit einer geringen weisenden ersten Dreier-NAND-Gliedes und an- Anzahl von Verknüpfungsglieder-Typen auszukomdererseits jeweils unter Zwischenschaltung eines men.

Negators mit jeweils einem anderen Eingang eines Diese Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 an-

zweiten Dreier-NAND-Gliedes verbunden sind, gegebenen Merkmale gelöst.

bei der die Potentialquellen jeder Gruppe in drei 15 Eine Weiterbildung der Erfindung ist im Unterverschiedenen Zweier-Kombinationen mit den ansprach gekennzeichnet.

Eingängen jeweils eines zwei Eingänge aufwei- Die erfindungsgemäß vorgesehene Eingangsschalsenden Zweier-NAND-Gliedes verbunden sind, tung erfordert ledigüch einen weiteren Verknüpbei der die Ausgänge der Zweier-NAND-Glieder fungsgliedertyp, nämlich NOR-Glieder, und die insjeder Gruppe einerseits mit jeweils einem Ein- ao gesamt erforderliche Laufzeit wird lediglich um diä gang eines der betreffenden Gruppe individuell durch ein Verknüpfungsglied bedingte Laufzeit verzugeordneten dritten Dreier-NAND-Gliedes und größert.

andererseits mit jeweils einem anderen Eingang Es ist zwar bereits bekannt (vgl. DT-OS 15 24 263),

eines beiden Gruppen gemeinsamen NAND-Glie- die in einem Zähler gespeicherte Information zur des verbunden sind, dessen übrige Eingänge mit as Überprüfung in Form einer Paritätsprüfung in einen den Ausgängen der zweiten Dreier-NAND-Glie- leichter prüfbaren Kode umzuwandeln. Jedoch dient der beider Gruppen verbunden sind, bei der jeder diese Maßnahme der Überwachung des Fortschaltens Gruppe von Potentialquellen ein viertes Dreier- des Zählers. Die Maßnahme, eine bestimmte vorhan-NAND-Glied zugeordnet ist, dessen Eingänge mit dene Kodeprüfschaltung zusätzlich zur Prüfung eines den Ausgängen derselben Gruppe zugeordneter 30 anderen Kodes auszunutzen, um damit einerseits die erster und dritter Dreier-NAND-Glieder und Möglichkeit zu erhalten, zwei verschiedene Kodes über einen Negator mit dem Ausgang des der je- prüfen zu können, andererseits hierzu mit einem weweils anderen Gruppe zugeordneten zweiten sentlich geringeren Gesamtaufwand auszukommen, Dreier-NAND-Gliedes verbunden sind, und bei als wenn für jeden Kode eine spezielle Prüfschaltung der die Ausgänge der beiden vierten Dreier- 35 konzipiert würde, ist diesem Stand der Technik nicht NAND-Glieder und der Ausgang des beiden zu entnehmen.

Gruppen von Potentialquellen gemeinsam züge- In zwei Figuren werden Ausführungsbeispiele der