DE2017838C3 - Kodesignalprüfschaltung - Google Patents

Description

Bei Lieferung von Signalen in kodierter Form wird wegen seiner leichten Prüfbarkeit häufig ein sogenannter m-von-/i-Kode verwendet. Bei Darstellung in diesem Kode liegt dann ein richtiges Signal vor, wenn von η Potentialquellen, die entweder Arbeitsoder Ruhepotential liefern können, m Potentialquellen gleichzeitig Arbeiispoiential liefern.

Zur Prüfung auf das Vorhandensein vo-i gerade m von n Arbeitspotential liefernden Potentialquellen sind schon eine Reihe von Prüfschaltungen angegeben worden, welche in vielen Fällen aus Verknüpfungsgliedern aufgebaut sind.

Es ist auch schon bekannt, derartige Kodesignalprüfschaltungen so aufzubauen, daß nur wenige verschiedenartige Verknüpfungen und damit wenige Typen von Verknüpfungsgliedern erforderlich sind.

Bei einer bekannten Schaltungsanordnung dieser Art, zu deren Aufbau sogar lediglich nur eine Art von Verknüpfungsgliedern, nämlich NOR-Glieder, verwendet werden (deutsche Patentschrift· 1212 147) werden die einzelnen Arbeits- bzw. Ruhepotential liefernden Potentialquellen nicht direkt miteinander \erknüpft. Es werden dort vielmehr die von den einzelnen Potentialquellen abgegebenen Potentiale jeweils mit dem Ergebnis verknüpft, das eine Verknüpfun. ergeben hat, an der das von dem in der Reihenfolge vorhergehenden Potentialquelle gelieferte Potential beteiligt war. Auf diese Weise kann ein Signal über das Vorhandensein oder Nichtvorhani'ensein von Arbeitspotential an gerade m Potentialquellen erst abgegeben werden, wenn sämtliche Verknüpfungsglieder, die zur Bildung von Zwischenergebnissen dienen, durchlaufen sind und schließlich die Verknüpfung des letzten Zwischenergebnisses und des von der in der Reihenfolge letzten Potentialquelle abgegebenen Potentials zur Bildung des Ausgangssignais führt. Die hierdurch relativ lange Laufzeit bis zur Bildung des endgültigen Ergebnisses ist in vielen Fällen unerwünscht.

Bei einer anderen bekannten Kodcprüfschaltung (deutsche Auslegeschrift 1227 059) wird das Prüfungsergebnis nach einer wesentlich kürzeren Laufzeit erhalten. Bei dieser Prüfschaltung werden nämlich die Potentiale einzelner Potentialquellen in bestimmten Kombinationen direkt miteinander verknüpft, was dazu führt, daß bis zum Ausgang der Schaltungsanordnung weniger Vcrknüpfungsglieder als bei der vorgenannten Prüfschaltung durchlaufen werden müssen und damit kürzere Prüfzeiten gewährleistet sind. Um diesen Vorteil zu erlangen, wird allerdings hier die Notwendigkeit der Verwendung einer größeren Anzahl von Verknüpfungsgliedern in Kauf genommen, unter denen außerdem auch noch drei verschiedene Verknüpfungsfunktionen ausführende Typen auftreten.

Es ist auch schon eine Kodesignalprüfschaltung bekannt (deutsche Offenlegungsschrift 1 937 259), die die zu überwachenden Potentialquellen in zwei Gruppen prüft, wozu sie durch direkte Verknüpfung der von den Potentialquellen gelieferten Potentiale mit mindestens einem der von den übrigen Potentialquellen gelieferten Potentiale für die Gruppen von Potentialqucllen gesondert unterscheidbare Kriterien für das Vorhandensein von Arbeitspotential an Null bis m Potentialquellen der Gruppe und bei Gruppen, die mehr als m Potentialquellen umfassen, Kriterien für das Vorhandensein von Arbeitspotential an mehr als wi Potentialquellen bildet und wozu sie solche Kriterien aus den beiden Gruppen miteinander verknüpft, die über eine sich zur Anzahl m ergänzende Anzahl von Arbeitspotential führenden Potentialquellen aussagen. Diese Kodesignalprüfschaltung soll selbstprüfend sein, also außer Fehlern der zu überwachenden

,„.auch Fehler ihres eigenen Betriebsablaul&ennen können. Aus diesem Grunde weist sie Ifeierung der erwähnten Verknüpfungen zwei siai'dig voneinander unabhängige Schaltungsfge auf, die jeweils mit einen. Ausgangssignalwert ^ möglichen Ausgangssignalpaaren beitragen, !(Jenen zwei dem Fall richtiger Kodezeichen bzw. Jj₁JOj arbeitender Prüfschaltung und zwei dem ι lärjg gestörter Kodezeichen bzw. einem fehleren Betrieb der Prüfschaltung entsprechen. Um Ja-Nein-Aussage beispielsweise für die Auslö- ü eines Alarmsignals im Fehlerfalle zu erhalten, !tedaher noch eine weitere Verknüpfung der von ffceiden Schaltungszweigcn gelieferten Ausgangs-JaIe entweder in Form einer Exklusiv-ODER- »5 tknüpfung oder einer Äquivalenzverknüpfung syorfe'nommen werden. Die erwähnten Schaltungs- «veige dieser Kodesignalprüfschaltung sind mit Hilfe *gn ^eJ Arten von Verknüpfungsgliedern, nämlich UND-Gliedern und ODER-Gliedern aufgebaut. Be- ^ί0 züglich der bis zur Abgabe eines eindeutigen Auscangssignals erforderlichen Laufzeit ist diese bekannte Kodesignalprüfschaltung sogar noch ungünstiger als die ebenfalls aus mehreren Typen von Verknüpfungsgliedern aufgebaute vorerwähnte ' ' (deutsche Auslegeschrift

²5

Kodeprüfschaltung

1227059).

Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine Kodesignalprüfschaltung zur Prüfung von in einem in der Fernsprechvermittlungstechnik häufig verwendeten 3<> 2-aus-fi-Kode kodierten Informationen anzugeben, <lie aus nur einer Art von Verknüpfungsgliedern aufgebaut ist und bei der Bildung des Ausgangssignals kleinere Laufzeiten als die bekannten Kodesignalprüfschaltungen erfordert, ohne daß diese Vorteile durch Inkaufnahme einer wesentlich größeren Anzahl von insgesamt erforderlichen Verknüpfungsgliedern erkauft werden müssen.

Die Erfindung betrifft daher eine Kodesignalprüfschaltung zur Prüfung von 6 Potentialquellen, von denen jeweils zwei gleichzeitig Arbeitspotential liefern sollen (2-aus-6-Kode), die die Potentialquellen in zwei gleich großen Gruppen prüft. Diese Kodesignalprüfschaltung ist erfindungsgemäß dadurch gekennzeichnet, daß in jeder Gruppe sämtliche Potentialquellen einerseits mit jeweils einem anderen Eingang eines drei Eingänge aufweisenden ersten Dreier-NAND-Gliedes und andererseits jeweils unter Zwischenschaltung eines Negators mit jeweils einem anderen Eingang eines zweiten Dreier-NAND-Gliedes verbunden sind, daß die Potentialquellen jeder Gruppe in drei verschiedenen Zweierkombinationen mit den Eingängen jeweils eines zwei Eingänge aufweisenden Zweier-NAND-Gliedes verbunden sind, daß die Ausgänge der Zweier-NAND-Glieder jeder Gruppe einerseits mit jeweils einem Eingang eines der betreffenden Gruppe individuell zugeordneten dritten Dreier-NAND-Gliedes und andererseits mit jeweils einem anderen Eingang eines beiden Gruppen gemeinsamen NAND-Gliedes verbunden sind, dessen übrige Eingänge mit den Ausgängen der zweiten Dreier-NAND-Glieder beider Gruppen verbunden sind, daß jeder Gruppe von Potentialquellen ein viertes Dreier-NAND-Glied zugeordnet ist, dessen Eingänge mit den Ausgängen derselben Gruppe zugeord- <>5 neter erster und dritter Dreier-NAND-Glieder und über einen Negator mit dem Ausgang des der jeweils anderen Gruppe zugeordneten zweiten Dreier-NAND-Gliedes verbunden sind, und daß die Ausgange der beiden vierten Dreier-NAND-Glieder uiid der Ausgang des beiden Gruppen von Potentialquellen gemeinsam zugeordneten NAND-Gliedes mit jeweils einem anderen Eingang eines Ausgangs-NAND-Gliedcs verbunden sind.

Aufbau und Funktionsweise der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung werden nun an Hand von zwei in Figuren dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert.

Fig. 1 zeigt ein erstes Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Kodesignalprüfschaltung;

F i g. 2 zeigt ein entsprechendes Ausführungsbeispiel, bei dem infolge direkter galvanischer Vcrbindung von Verknüpfungsgliederausgängen Verknüpfungsglieder eingespart werden können.

Mit der Kodesignalprüfschaltung gemäß Fig. 1 werden ft funktionell zusammenhängende, hier nicht dargestellte Potentialquellen daraufhin überwacht, ob jeweils zwei von ihnen gleichzeitig Arbeitspotential liefern. Die Schaltung prüft hierzu die Potentialquellen in zwei Gruppen zu jeweils drei Potentialquellen. Zur direkten Verknüpfung von drei Potentialquellen einer Gruppe sind die NAND-Glieder NIl bis NlS vorgesehen. Die drei Eingänge des NAND-Gliedes NU sind mit jeweils einem anderen Ausgang xl bis λ3 der drei ersten Potentialquellen verbunden. Über hier nicht dargestellte Negatoren, die aus fertigungstechnischen Gründen ebenfalls durch NAND-Glieder gebildet werden, bei denen lediglich ein Eingang ausgenutzt ist, sind die Ausgänge dieser drei Potentialquellen außerdem an einen der drei Eingänge des NAND-Gliedes NlS angeschlossen. Durch die NAND-Glieder /V12bis N14 werden die von den Potentialquellen gelieferten Ausgangsgrößen außerdem in Zweiergruppen miteinander verknüpft. So sind die Ausgänge xl und x2 der ersten und zweiten Potentialquelle mit den Eingängen des NAND-Gliedes /V12, die Ausgänge xl und jc3 der ersten und dritten Potentialquelle mit den Eingängen des NAND-Gliedes N13 und die Ausgänge x2 und Jt3 der zweiten und dritten Potentialquelle mit den Eingängen des NAND-Gliedes Λ/14 verbunden.

In entsprechender Weise sind bei der zweite^ Gruppe von Potentialquellen die Ausgänge x4 bis x6 der dritten bis sechsten Potentialquelle mit den Eingängen der NAND-Glieder N21 bis N2S verbunden. Durch die Verknüpfung der Potentialquellen einer Gruppe mit Hilfe der erwähnten NAND-Glieder werden Kriterien für das Vorhandensein von Arbeitspotential an null bis zwei Potentialquellen bzw an mehr als zwei, in diesem Falle an drei Potentialquellen gebildet. Führt beispielsweise bei dei die erste bis dritte Potentialquelle beinhaltenden Gruppe keine der Potentialquellen Arbeitspotential, so wird an den Ausgängen der NAND-Glieder NU bis N14 Arbeitspotential, an dem Ausgang des NAND-Gliedes NlS dagegen Ruhepotential geliefert. Bei Lieferung von Arbeitspotential durch eine Potentialquelle der ersten bis dritten Potentialquelle wird an den Ausgängen sämtlicher NAND-Glieder NIl bis NlS Arbeitspotential abgegeben. Bei Lieferung von Arbeitspotential von zwei der ersten bis dritten Potentialquelle wird von den NAND-Gliedern NU und NlS und von zweien der NAND-Glieder N12 bis NU Arbeitspotential abgegeben. Das dritte der NAND-Glieder N12 bis N14 mit zwei Eingängen, im Falle der Lieferung von Arbeitspotential durch die ersten beiden Poten-

tialquellen das NAND-Glied N12, gibt dagegen Ruhepotential ab. Wird von allen dreien der ersten drei Potentialquellen Arbeitspotential geliefert, dann geben die NAND-Glieder NIl bis N14 Ruhepotential, das NAND-Glied N15 dagegen Arbeitspotential ab. Entsprechendes gilt für die zweite Gruppe von Potentialquellen bzw. für die NAND-Glieder N21 bis N2S.

Außei den erwähnten NAND-Gliedern enthält die Schaltungsanordnung gemäß Fig. 1 weitere NAND-Glieder, mit deren Hilfe solche Kriterien aus den beiden Gruppen zur Bildung eines positiven Prüfungsergebnisses miteinander verknüpft werden, die über eine sich zur Anzahl 2 ergänzenden Anzahl von Arbeitspotential führenden Potentialquellen aussagen.

Zum Zwecke einer derartigen Verknüpfung sind die Ausgänge der NAND-Glieder N12 bis N14 einerseits mit jeweils einem der Eingänge des Dreier-NAND-Gliedes NlO und andererseits mit jeweils einem Eingang des acht Eingänge aufweisenden NAND-Gliedes N8 verbunden. Entsprechendes gilt für die Verbindung der Ausgänge der NAND-Glieder N22bis N24 mit den Eingängen des NAND-Gliedes N20 bzw. mit drei weiteren Eingängen des NAND-Gliedes N8. Die restlichen beiden Eingänge des NAND-Gliedes N8 sind mit dem Ausgang des NAND-Gliedes NlS der ersten Gruppe bzw. mit dem Ausgang des NAND-Gliedes N21 der /weiten Gruppe verbunden. Die Schaltungsanordnung enthält außerdem noch die beiden Dreier-NAND-Glieder NlOO, N200 und Na sowie die beiden lediglich als Negatoren ausgenutzten NAND-Glieder NnI und Nn2. Die Eingänge des NAND-Gliedes NlOO sind mit dem Ausgang des NAND-Gliedes NIl, dem Ausgang des NAND-Gliedes NlO sowie über den Negator NnI mit dem Ausgang des NAND-Gliedes N21 der zweiten Gruppe verbunden. In entsprechender Weise sind die Eingänge des NAND-Gliedes N200 mit dem Ausgang des NAND-Gliedes N25, dem Ausgang des NAND-Gliedes N20 sowie über den Negator Nn2 mit dem Ausgang des NAND-Gliedes NlS der ersten C'»ruppe verbunden. An die Eingänge des Ausgangs-NAND-Gliedes Na sind die Ausgänge des NAND-Gliedes NlOO, des NAND-Gliedes N200 und des NAND-Gliedes N8 angeschlossen.

Im folgenden wird die Funktionsweise der oben beschriebenen erfindungsgemäßen Kodesignalprüf schaltung näher erläutert.

Es wird zunächst angenommen, daß der erste Fall der Lieferung eines richtigen Kodezeichens vorliegt, bei dem zwei Potentialquellen der ersten Gruppe von Potentialquellen, beispielsweise die beiden ersten Potentialquellen, Arbeitspotential liefern. In diesem Falle wird, wie schon angedeutet, am Ausgang des NAND-Gliedes N12 Ruhepotential, an den übrigen Ausgängen der NAND-Glieder NIl bis N15 der ersten Gruppe dagegen Arbeitspotential abgegeben. Das Ruhepotential am Ausgang des NAND-Gliedes N12 hat zur Folge, daß am Ausgang des NAND-Gliedes NlO auf jeden Fall Arbeitspotential abgegeben wird. Dieses Arbeitspotential wird an einen Eingang des NAND-Gliedes NlOO weitergegeben. Der zweite Eingang dieses NAND-Gliedes NlOO erhält vom Ausgang des NAND-Gliedes NIl Arbeitspotential, und auch an den dritten Eingang wird Arbeitspotential geliefert, da unter Voraussetzung des Vorhandenseins eines richtigen Kodezeichens in der zweiten Gruppe von Potentialquellen sämtliche Ruhepotential liefern, was zur Folge hat, daß das NAND-Glied N21 Ruhepotential abgibt, das durch den Negator NnI, dessen Ausgang an den dritten Eingang des NAND-Gliedes NlOO angeschlossen ist, in Arbeitspotential umgewandelt wird. Das NAND-Glied NlOOgibt also dementsprechend Ruhepotential ab, welches an den einen Eingang des Ausgangs-NAND-GIicdes Na weitergegeben wird und damit am Ausgang dieses NAND-Gliedes Nn unabhängig von der Art von Potentialen an dessen übrigen Eingängen die Abgabe von Arbeitspotential und damit die Signalisierung des Vorliegcns eines richtigen Kodezeichens zur Folge hat. Entsprechende Verhältnisse liegen vor, wenn zwei • 5 der dritten bis sechsten Potentialquellen Arbeitspotential führen.

Es wird nun der Fall angenommen, daß in der ersten Gruppe von Potentialquellen eine, beispielsweise die erste Potentialquelle, und in der zweiten Gruppe von »ο Potentialquellen ebenfalls eine, beispielsweise die vierte Potentialquelle, Arbeitspotential führt. In diesem Falle wird an den Ausgängen sämtlicher mit Potentialquellen verbundener NAND-Glieder NIl bis N25 Arbeitspotential geliefert. Demzufolge liegt an jedem der Eingänge des NAND-Gliedes N8 Arbeitspotential. was die Abgabe von Ruhepotential an dessen Ausgang zur Folge hat. Hierdurch wird jedoch die Abgabe von Arbeitspotential und damit ebenfalls wieder die Signalisierung des Vorliegens eines richtigen Kodezeichnes am Ausgang A des NAND-Gliedes Na veranlaßt.

Bei allen anderen möglichen Kombinationen von Potentialquellen. die gleichzeitig Arbeitspotential liefern, wird die Abgabe eines positiven Prüfungsergcbnisscs verhindert. Wenn beispielsweise sämtliche drei Potentialquellen der ersten Gruppe Arbcitspotentia! liefern, wird am Ausgang des NAND-Gliedes NIl Ruhepotential und damit am Ausgang des NAND-Gliedes NlOO Arbeitspotential abgegeben. Das NAND-Glied N8 gibt ebenfalls Arbeitspotential ab, da an die mit den Ausgängen deren NAND-Glieder N12 bis N14 verbundenen Eingänge Ruhepotential geliefert wird Auch das NAND-Glied N200 gibt Atbcitspotential ab, da das vom Ausgang des NAND-Gliedes N15 abgegebene Arbeitspotential durch der Negator Nn2 als Ruhepotential an seinen Eingang ge langt. Es liegt also an allen drei Eingängen des Aus garsgs-N AN D-Gliedes Na Arbeitspotential, so daß at dessen Ausgang A Ruhepotential abgegeben wird was ein Zeichen dafür ist, daß ein falsches Kodezei chen vorliegt.

Als zweiter charakteristischer Fall des Vorliegen eines falschen Kodezeichens wird derjenige betrach tet, daß in der erstenGruppe die beiden ersten Poten tialquellen und in der zweiten Gruppe ebenfalls ein oder mehrere Potentialquellen Arbeitspotential füll ren, insgesamt also mindestens drei Arbeitspotenti; führende Potentialquellen vorhanden sind. In Abwe chung von dem vorstehend beschriebenen Fall, bi dem lediglich die beiden ersten Potentialquellen d< ersten Gruppe Arbeitspotential geführt hatten, lie) nunmehr nicht an allen drei Eingängen des NANI Gliedes NlOO Arbeitspotential, da das NAND-GHe N21 der zweiten Gruppe nunmehr, da ja nicht sämtl ehe Potentialquellen dieser Gruppe Ruhepotenti liefern, Arbeitspotential lielFert, und dieses Arbeitspi tential durch den Negator NnI in Ruhepotential g wandelt wird. Dieses Ruhepotential am Eingang d

NANÜ-Glicdcs /VlOO veranlaßt die Weitergabe von Arbciispotential an den mit dem Ausgang dieses Gatters verbundenen Eingang des Ausgangs-NAND-Glicdcs Na. an dessen übrige beiden Eingänge in Übereinstimmung mit dem vorstehend beschriebenen KaIl jeweils Arbeitspotential geliefert wird, so daß am Ausgang A Ruhepotential erscheint.

Entsprechende Überlegungen gelten für den Fall, daß in der ersten Gruppe von einer Potentialquelle und in der /.weiten Gruppe von zwei oder drei l'otenlialquclleu Arbeilspotential geliefert wird.

Für den Fall, daß keine der sechs Potentialquellen Arbeitspotential liefert, geben einerseits die beiden NAND-Glieder WlO und /V20 Ruhepotential ab. das in Fomi von Arbeitspotential an zwei Hingänge des Ausgangs-NAND-Gliedes Na weitergegeben wird, und andererseits liefert auch das NAND-Glied NH Arbeitspotential, da sowohl an seinen mit dem Ausgang des NAND-Gliedes NlS als auch an seinen mit dem Ausgang des NAND-Gliedes /V21 verbundenen Hingang Ruhepotential geliefert wird. Auch hier ist wieder die Abgabe von Ruhepotential am Ausgang A die Folge.

Aus der Beschreibung des Aufbaus und der Funktionsweise der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung läßt sich erkennen, daß der Zeitpunkt der Abgabe des Ausgangssignals im ungünstigsten Falle von fünf Gutterlaufzeiten abhängig ist. nämlich dann, wenn für die Abgabe des Ausgangssignals an A die von den NAND-Gliedern NlS und N21 gelieferten Ausgangssignale mit ausschlaggebend sind. Die Laufzeit wird dann beispielsweise bestimmt von den hier nicht dargestellten, an die Eingänge des NAND-Gliedes NlS angeschlossenen Negatorcn, dem NAND-Glied NlS selbst, dem Negator NnI. dem NAND-Glied /V200 und als fünftem dem Ausgangs-NAND-Glied Na.

In der Fig. 2 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Kodesignalprüfschaltung dargestellt, das sich von dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel dadurch unterscheidet, daß die Ausgänge bestimmter Verknüpfungsglieder direkt miteinander verbunden sind, wodurch cine ODER-Verknüpfung der von ihnen gelieferten Ausgangssignale zustande kommt und wodurch bei einigen der Verknüpfungsglied^ Eingänge eingespart werden können. Eine derartige direkte Verbindung von Verkniipl'ungsglicdcruusgängen ist dann möglich, wenn die betreffenden Verknüpfungsglieder selbst so aufgebaut sind, daß Rückwirkungen vermieden werden. Weitere Bedingung ist. daß die Verknüpfungsglieder schalUingstechnisch so ausgeführt sind, daß die direkte Veibindung ihrer Ausgänge einer ODER-Verknüpfung von Ruhepotential entspricht. Bei der Darstellung in Fig. 2 sind die Verknüpfungsglieder, soweit sie den Verknüpfungsgliedern des Ausführungsbeispieles gemäß Fig. 1 entsprechen, mit denselben Bezugszeichen versehen. Wie die Fig. 2 zeigt, sind die

•5 Ausgänge der NAND-Glieder JV12. ΛΊ3 und M4. die der ersten Gruppe von Potentialquellen zugeordnet sind, miteinander und mit miteinander verbundenen Ausgängen der den Potentialqucllen der zweiten Gruppe zugeordneten NAND-Glieder /V22, /V23und

^ao N24 verbunden. Dementsprechend ist für die NAND-Glieder NlO und Λ/20 jeweils nur ein einziger Eingang erforderlich im Gegensatz zu den entsprechenden glcichbezeichncten NAND-Gliedern der Fig. 1. die drei Eingänge aufweisen. In entsprechen-

*5 der Weise benötigt das, NAND-Glied N8 für die Aufnähme der Ausgangssignalc der NAND-Glieder Λ/12, /V13 und NU bzw. Nil. NIl und NU jeweils nur einen Eingang. Auch die Ausgänge des NAND-Gliedes /VlO, des Negators NnI und des NAND-Gliedes NX 1 bzw. des NAND-Gliedes /V20, des Negators NnI und des NAND-Gliedes /V25sind jeweils miteinander verbunden, womit die Eingänge der NAND-Glieder /VlOO bzw. N200 zusammengefaßt werden können, so daß diese beiden NAND-Glieder jeweils nur noch einen Eingang aufzuweisen haben. Außerdem sind die Ausgänge der beiden NAND-Glieder /VlOO und /V200 miteinander und mit dem Ausgang des NAND-Gliedes NS verbunden, was zur Zusammenfassung der Eingänge des Ausgangs-NAND-Gliedes Na führt, das hiermit ebenfalls nur noch einen Eingang aufweist.

Die Funktionsweise der Schaltungsanordnung gemäß Fig. 2 ist dieselbe wie diejenige der in Fig. 1 dargestellten.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

«09615/121

Claims (2)

1. Patentansprüche:

   I. Kodcsignalprüfschaltung zur Prüfung von 6 Potentialquellen, von denen jeweils zwei gleichzeitig Arbeitspotential liefern sollen (2-aus-o-Kode), die die Potentialquellen in zwei gleich großen Gruppen prüft, dadurch gekennzeichnet, daß in jeder Gruppe sämtliche Potentialquellen einerseits mit jeweils einem anderen Eingang eines drei Eingänge aufweisenden ersten Dreier-NAND-Gliedes (WU, N25) und andererseits jeweils unter Zwischenschaltung eines Negators mit jeweils einem anderen Eingang eines zweiten Dreier-NAND-Gliedes (.ViS, N21) verbunden sind, daß die Potentialquellen jeder Gruppe in drei verschiedenen Zweierkombinationen mit den Eingängen jeweils eines zwei Eingänge aufweisenden Zweier-NAND-Gliedes (N12 bis N14: /V22 bis /V24) verbunden sind, daß die Ausgänge der Zweier-NAND-Glieder (ΛΊ2 bis N14: N22 bis N24) jeder Gruppe einerseits mit jeweils einem Eingang eines der betreffenden Gruppe individuell zugeordneten dritten Dreier-NAND-Gliedes (/VlO, /V20) und andererseits mit jeweils einem anderen Eingang eines beiden Gruppen gemeinsamen NAND-Gliedes (NS) verbunden sind, dessen übrige Eingänge mit den Ausgaingen der zweiten Dreier-NAND-Glieder (NlS. /V21) beider Gruppen verbunden sind, daß jeder Gruppe von Potentialquellen ein viertes Dreier-NAND-Glied (ΛΊ00. /V200) zugeordnet ist,dessen Eingänge mit den Ausgängen derselben Gruppe zugeordneter erster und dritter Dreier-NAND-Glieder (NU, NlO; N2S, /V20) und über einen Negator (NnI, Nn2) mit dem Ausgang des der jeweils anderen Gruppe zugeordneten zweiten Dreier-NAND-Gliedes (NlS, Λ/21) verbunden sind, und daß die Ausgänge der beiden vierten Dreier-NAND-Glieder (/VlOO, /V200) und der Ausgang des beiden Gruppen von Potentialquellen gemeinsam zugeordneten NAND-Gliedes (/V8) mit jeweils einem anderen Eingang eines Ausgangs-NAND-Gliedes (Na) verbunden sind (Fig. 1).
2. 2. Kodesignalprüfschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgänge solcher NAND-Glieder, die Eingangsgrößen für dieselben und/oder für innerhalb der Schaltung entsprechende weiterer NAND-Glieder liefern, direkt miteinander verbunden sind, daß die von ihnen belieferten Eingänge dementsprechend zusammengefaßt sind, und daß diese NAND-Glieder(/V12bis N14; /V22bis /V24; /VU, /VlO, /VwI; /V25, /V20, Nn2) schaltungstechnisch so ausgeführt send, daß die direkte Verbindung ihrer Ausgänge einer Oder-Verknüpfung von Ruhepotential entspricht (Fig. 2).