DE2017838B2 - Kodesignalprüfschaltung - Google Patents

Description

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Kodeworte auch Fehler ihres eigenen Betriebsablau- NAND-Gliedes verbunden sind, und daß die Ausfes erkennen können. Aus diesem Grunde weist sie gänge der beiden vierten Dreier-NAND-Glieder und zur Realisierung der erwähnten Verknüpfungen zwei der Ausgang des beiden Gruppen von Potentialquelvoliständig voneinander unabhängige Schaltungs- len gemeinsam zugeordneten NAND-Gliedes mit jezweige auf, die jeweils mit einem Ausgangssignalwert 5 weils einem anderen Eingang eines Ausgangszu vier möglichen Ausgangssignalpaaren beitragen, NAND-Gliedes verbunden sind, von denen zwei dem Fall richtiger Kodezeichen bzw. Aufbau und Funktionsweise der erfindungsgemä-

fehlerfrei arbeitender Prüfschaltung und zwei dem ßen Schaltungsanordnung werden nun an Hand von Empfang gestörter Kodezeichen bzw. einem fehler- zwei in Figuren dargestellten Ausführungsbeispielen haften Betrieb der Prüfschaltung entsprechen. Um ¹⁰ näher erläutert.

eine Ja-Nein-Aussage beispielsweise für die Auslö- Fi g. 1 zeigt ein erstes Ausführungsbeispiel der er-

sung eines Alarmsignals im Fehlerfalle zu erhalten, findungsgemäßen Kodesignalprüfschaltung; müßte daher noch eine weitere Verknüpfung der von Fi g. 2 zeigt ein entsprechendes Ausfühningsbei-

äen beiden Schaitungszweigen gelieferten Ausgangs- spiel, bei dem infolge direkter galvanischer Verbinsignale entweder in Form einer Exkliisiv-ODER- »5 dung von Verknüpfungsgliederausgängen Verknüp-Verknüpfung oder einer Äquivalenzverknüpfung fungsglieder eingespart werden können, vorgenommen werden. Die erwähnten Schaltungs- Mit der Kodesignalprüfschaltung gemäß Fig. 1

zweige dieser Kodesignalprüfschaltung sind mit Hilfe werden 6 funktionell zusammenhängende, hier nicht von zwei Arten von Verknüpfungsgliedern, nämlich dargestellte Potentialquellen daraufhin überwacht, ob UND-Gliedern und ODER-Gliedern aufgebaut. Be- ^ao jeweils zwei von ihnen gleichzeitig Arbeitspotential züglich der bis zur Abgabe eines eindeutigen Aus- liefern. Die Schaltung prüft hierzu die Potentialquelgangssignals erforderlichen Laufzeit ist diese bc- len in zwei Gruppen zu jeweils drei Potentialquellen, kannte Kodesignalprüfschaltung sogar noch ungünsti- Zur direkten Verknüpfung von drei Potentialquel-

ger als die ebenfalls aus mehreren Typen von len einer Gruppe sind «* * NAND-Glieder A/11 bis Verknüpfungsgliedern aufgebaute vorerwähnte ^a5 A/15 vorgesehen. Die drei Eingänge des NAND-Glie-Kodeprüfschaltung (deutsche Auslegeschrift des A/11 sind mit jeweils einem anderen Ausgang xl 1 227059). bis x3 der drei ersten Potentialquellen verbunden.

Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine Kodesi- Über hier nicht dargestellte Negatoren, die aus fertignalprüfschaltung zur Prüfung von in einem in der gungstechnischen Gründen ebenfalls durch NAND-Fernsprechvermittlungstechnik häufig verwendeten 3» Glieder gebildet werden, bei denen lediglich ein Ein-2-aus-6-Kode kodierten Informationen anzugeben, gang ausgenutzt ist, sind die Ausgänge dieser drei die aus nur einer Art von Verknüpfungsgliedern auf- Potentialquellen außerdem an einen der drei Eingebaut ist und bei der Bildung des Ausgangssignals gänge des NAND-Gliedes A/15 angeschlossen. Durch kleinere Laufzeiten als die bekannten Kodesignal- die NAND-Glieder A/12 bis A/14 werden die von den prüf schaltungen erfordert, ohne daß diese Vorteile 35 Potentialquellen gelieferten Ausgangsgrößen außerdurch Inkaufnahme einer wesentlich größeren Anzahl dem in Zweiergruppen miteinander verknüpft. So sind von insgesamt erforderlichen Verknüpfungsgliedern die Ausgänge x\ und x2 der ersten und zweiten Poerkauft werden müssen. lentialquelle mit den Eingängen des NAND-Gliedes

Die Erfindung betrifft daher eine Kodesignalprüf- A/12, die Ausgänge xl und x3 der ersten und dritten schaltung zur Prüfung von 6 Potentialquellen, von de- 40 Potentialqueile mit den Eingängen des NAND-Glienen jeweils zwei gleichzeitig Arbeitspotential liefern des A/13 und die Ausgänge x2 und x3 der zweiten sollen (2-aus-6-Kode), die die Potentialquellen in und dritten Potentialquelle mit den Eingängen des zwei gleich großen Gruppen prüft. Diese Kodesignal- NAND-Gliedes A/14 verbunden, prüfschaltung ist erfindungsgemäß dadurch gekenn- In entsprechender Weise sind bei der zweite/i

zeichnet, daß in jeder Gruppe sämtliche Potential- 45 Gruppe von Potentialquellen die Ausgänge x4 bis x6 quellen einerseits mit jeweils einem anderen Eingang der dritten bis sechsten Potentialquelle mit den Eineines drei Eingänge aufweisenden ersten Dreier- gangen der NAND-Glieder A/21 bis A/25 verbunden. NAND-Gliedes und andererseits jeweils unter Zwi- Durch die Verknüpfung der Potentialquellen einer

schenschaltung eines Negators mit jeweüs einem an- Gruppe mit Hilfe der erwähnten NAND-Glieder werderen Eingang eines zweiten Dreier-NAND-Gliedes 5° den Kriterien für das Vorhandensein von Arbeitspoverbunden sind, daß die Potentialquellen jeder tential an null bis zwei Potentialquellen bzw. an mehr Gruppe in drei verschiedenen Zweierkombinationen als zwei, in diesem Falle an drei Potentialquellen gemit den Eingängen jeweils eines zwei Eingänge auf- bildet. Führt beispielsweise bei der die erste bis dritte weisenden Zweier-NAND-Gliedes verbunden sind, Potentialquelle beinhaltenden Gruppe keine der Podaß die Ausgänge der Zweier-NAND-Glieder jeder 55 tentialquellen Arbeitspotential, so wird an den AusGruppe einerseits mit jeweils einem Eingangeines der gangen der NAND-Glieder A/11 bis A/14 Arbeitspobetreffenden Gruppe individuell zugeordneten dritten tential, an dem Ausgang des NAND-Gliedes A/15 Dreier-NAND-Gliedes und andererseits mit jeweils dagegen Ruhepotential geliefert. Bei Lieferung von einem anderen Eingang eines beiden Gruppen ge- Arbeitspotential durch eine Potentialquelle der ersten meinsamen NAND-Gliedes verbunden sind, dessen 60 bis dritten Potentialquelle wird an den Ausgängen übrige Eingänge mit den Ausgängen der zweiten sämtlicher NAND-Glieder A/11 bis A/15 Arbeitspo-Dreier-NAND-Glieder beider Gruppen verbunden tential abgegeben. Bei Lieferung von Arbeitspotential sind, daß jeder Gruppe von Potentialquellen ein vier- von zwei der ersten bis dritten Potentialquelle wird tes Dreier-NAND-Glied zugeordnet ist, dessen Ein- von den NAND-Gliedern A/11 und A/15 und von gänge mit den Ausgängen derselben Gruppe zugeord- 65 zweien der NAND-Glieder A/12 bis A/14 Arbeitsponeter erster und dritter Dreier-NAND-Glieder und tential abgegeben. Das dritte der NAND-Glieder A/12 über einen Negator mit dem Ausgang des der jeweils bis A/14 mit zwei Eingängen, im Falle der Lieferung anderen Gruppe zugeordneten zweiten Dreier- von Arbeitspotential durch die ersten beiden Poten-

tialquellen das NAND-Glied N12, gibt dagegen Ruhepotential ab. Wird von allen dreien der ersten drei Potentialquellen Arbeitspotential geliefert, dann geben die NAND-Glieder NIl bis N14 Ruhepotential, das NAND-Glied N15 dagegen Arbeitspotential ab.

Entsprechendes gilt für die zweite Gruppe von Potentialquellen bzw. für die NAND-Glieder N21 bis N25.

Außer den erwähnten NAND-Gliedern enthält die Schaltungsanordnung gemäß Fig. 1 weitere NAND-Glieder, mit deren Hilfe solche Kriterien aus den beiden Gruppen zur Bildung eines positiven Prüfungsergebnisses miteinander verknüpft werden, die über eine sich zur Anzahl 2 ergänzenden Anzahl von Arbeitspotential führenden Potentialquellen aussagen.

Zum Zwecke einer derartigen Verknüpfung sind die Ausgänge der NAND-Glieder N12 bis N14 einerseits mit jeweils einem der Eingänge des Dreier-NAND-Gliedes NlO und andererseits mit jeweils einem Eingang des acht Eingänge aufweisenden NAND-Gliedes NS verbunden. Entsprechendes gilt für die Verbindung der Ausgänge der NAND-Glieder N22 bis N24 mit den Eingängen des NAND-Gliedes NlQ bzw. mit drei weiteren Eingängen des NAND-Gliedes NS Die restlichen beiden Eingänge des NAND-Gliedes NS sind mit dem Ausgang des NAND-Gliedes NlSder ersten Gruppe bzw. mit dem Ausgang des NAND-Gliedes NH der zweiten Gruppe verbunden. Die Schaltungsanordnung enthält außerdem noch die beiden Dreier-NAND-Glieder NlOO, N200 und Na sowie die beiden lediglich als Negatoren ausgenutzten NAND-Glieder NnI und Nn2. Die Eingänge des NAND-Gliedes NlOO sind mit dem Ausgang des NAND-Gliedes NIl, dem Ausgang des NAND-Gliedes NlO sowie über den Negator NnI mit den Ausgang des NAND-Gliedes N21 der zweiten Gruppe verbunden. In entsprechender Weise sind die Eingänge des NAND-Gliedes N200 mit dem Ausgang des NAND-Gliedes N25, dem Ausgang des NAND-Gliedes N20 sowie über den Negator N«2 mit dem Ausgang des NAND-Gliedes N15 der ersten Gruppe verbunden. An die Eingänge des Ausgangs-NAND-Gliedes Na sind die Ausgänge des NAND-Gliedes NlOO, des NAND-Gliedes N200 und des NAND-Gliedes NS angeschlossen.

Im folgenden wird die Funktionsweise der oben beschriebenen erfindungsgemäßen Kodesignalprüfschaltung näher erläutert.

Es wird zunächst angenommen, daß der erste Fall der Lieferung eines richtigen Kodezeichens vorliegt, bei dem zwei Potentialquellen der ersten Gruppe von Potentialquellen, beispielsweise die beiden ersten Potentialquellen, Arbeitspotential liefern. In diesem Falle wird, wie schon angedeutet, am Ausgang des NAND-Gliedes N12 Ruhepotential, an den übrigen Ausgängen der NAND-Glieder NIl bis N15 der ersten Gruppe dagegen Arbeitspotential abgegeben. Das Ruhepotential am Ausgang des NAND-Gliedes N12 hat zur Folge, daß am Ausgang des NAND-Gliedes NlO auf jeden FaQ Arbeitspotential abgegeben wird. Dieses Arbeitspotential wird an einen Eingang des NAND-Gliedes NItO weitergegeben. Der zweite Eingang dieses NAND-Gliedes Ν1Θ0 erhält vom Ausgang des NAND-Gliedes NIl Arbeitspotential, und auch an den dritten Eingang wird Arbeitspotential geliefert, da unter Voraussetzung des Vorhandenseins eines richtigen Kodezeichens in der zweiten Gruppe von Potentialquellen sämtliche Ruhepotential liefern, was zur Folge hat, daß das NAND-Glied N21 Ruhepotential abgibt, das durch den Negator NnI, dessen Ausgang an den dritten Eingang des NAND-Gliedes NlOO angeschlossen ist, in Arbeitspotential umgewandelt wird. Das NAND-Glied NlOO gibt also dementsprechend Ruhepotential ab, welches an den einen Eingang des Ausgangs-NAND-Gliedes Na weitergegeben wird und damit am Ausgang dieses NAND-

*o Gliedes Na unabhängig von der Art von Potentialen an dessen übrigen Eingängen die Abgabe von Arbeitspotential und damit die Signalisierung des Vorliegens eines richtigen Kodezeichens zur Folge hat. Entsprechende Verhältnisse liegen vor, wenn zwei

is der dritten bis sechsten Potentialquellen Arbeitspotential führen.

Es wird nun der Fall angenommen, daß in der ersten Gruppe von Potentialquellen eine, beispielsweise die erste Potentialquelle, und in der zweiten Gruppe von

ao Potentialquellen ebenfalls eine, beispielsweise die vierte Potentialquelle, Arbeitspotential führt. In diesem Falle wird an den Ausgängen sämtlicher mit Potentialquellen verbundener NAND-Glieder NIl bis N25 Arbeitspotential geliefert. Demzufolge liegt an

»5 jedem der Eingänge des NAND-Gliedes NS Arbeitspotential, was die Abgabe von Ruhepotential an dessen Ausgang zur Folg? hat. Hierdurch wird jedoch die Abgabe von Arbeitspotential und damit ebenfalls wieder die Signalisierung des Vorliegens eines richti gen Kodezeichnes am Ausgang A des NAND-Gliedes Na veranlaßt.

Bei allen anderen möglichen Kombinationen von Potentialquellen. die gleichzeitig Arbeitspotential liefern, wird die Abgabe eines positiven Prüfungsergeb- nisses verhindert. Wenn beispielsweise sämtliche drei Potentialquellen der ersten Gruppe Arbeitspotential liefern, wird am Ausgang des NAND-Gliedes NIl Ruhepotential und damit am Ausgang des NAND-Gliedes NlOO Arbeitspotential abgegeben. Das

NAND-Glied NS gibt ebenfalls Arbeitspotential ab, da an die mit den Ausgängen deren NAND-Glieder N12 bis N14 verbundenen Eingänge Ruhepotential geliefert wird. Auch das NAND-Glied N200 gibt Arbeitspotential ab, da das vom Ausgang des NAND- Gliedes N15 abgegebene Arbeitspotential durch den Negator Nn2 als Ruhepotential an seinen Eingang gelangt. Es liegt also an allen drei Eingängen des Ausgangs-NAND-Gliedes Nc Arbeitspotential, so daß an dessen Ausgang A Ruhepotential abgegeben wird, was ein Zeichen dafür ist, daß ein falsches Kodezeichen vorliegt.

Als zweiter charakteristischer Fall des Vorliegens eines falschen Kodezeichens wird derjenige betrachtet, daß in der ersten Gruppe die beiden ersten Poten- tialquellen und in der zweiten Gruppe ebenfalls eine oder mehrere Potentialquellen Arbeitspotential führen, insgesamt also mindestens drei Arbeitspotential führende Potentialquellen vorhanden sind. In Abweichung von dem vorstehend beschriebenen Fall, be dem lediglich die beiden ersten Potentialquellen dei ersten Gruppe Arbeitspotential geführt hatten, lieg nunmehr nicht an allen drei Eingängen des NAND Gliedes NlOO Arbeitspotential, da das NAND-Gliec N21 der zweiten Gruppe nunmehr, da ja nicht sämtli ehe Potentialquellen dieser Gruppe Ruhepotentia liefern, Arbeitspotential liefert, und dieses Arbeitspo tential durch den Negator NnI in Ruhepotential ge wandelt wird. Dieses Ruhepotential am Eingang de

NAND-Gliedes MOO veranlaßt die Weitergabe von Arbeitspotential an den mit dem Ausgang dieses Gatters verbundenen Eingang des Ausgangs-NAND-Gliedes Na, an dessen übrige beiden Eingänge in Übereinstimmung mit dem vorstehend beschriebenen KaIl jeweils Arbeitspotential geliefert wird, so daß am Ausgang A Ruhepotential erscheint.

Entsprechende Überlegungen gelten für den Fall, daß in der ersten Gruppe von einer Potentialquelle und in der zweiten Gruppe von zwei oder drei Poteritialquellen Arbeitspotential geliefert wird.

Für den Fall, daß keine der sechs Potentialquellcn Arbeitspotential liefert, geben einerseits die beiden NAND-Glieder /VlO und Λ/20 Riihepotential ab, das in Form von Arbeitspotential an zwei Eingänge des Ausgangs-NAND-Gliedes Na weitergegeben wird, und andererseits liefert auch das NAND-Glied NH Arbeitspotential, da sowohl an seinen mit dem Ausgang des NAND-Gliedes Λ/15 als auch an seinen mit dem Ausgang des NAND-Gliedes /V21 verbundenen Eingang RuhepoU ntial geliefert wird. Audi hier ist wieder die Abgabe von Ruhepotential am Ausgang A die Folge.

Aus der Beschreibung des Aufbaus und der Funktionsweise der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung läßt sich erkennen, daß der Zeitpunkt der Abgabe des Ausgangssignals im ungünstigsten Falle von fünf Gatterlaufzeiten abhängig ist, nämlich dann, wenn für die Abgabe des Ausgangssignals an A die von den NAND-Gliedern NlS und NIl gelieferten Ausgangssignale mii ausschlaggebend sind. Die Laufzeit wird dann beispielsweise bestimmt von den hier nicht dargestellten, an die Eingänge des NAND-Gliedes Λ/15 angeschlossenen Negatoren, dem NAND-Glied /V15 selbst, dem Negator NnI, dem NAND-Glied Λ/200 und als fünftem dem Ausgangs-NAND-Glied Na.

In der F i g. 2 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Kodesignalprüfschaltung dargestellt, das sich von dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel dadurch unterscheidet, daß die Ausgänge bestimmter Verknüpfungsglieder direkt miteinander verbunden sind, wodurch eine ODER-Verknüpfung der von ihnen gelieferten Ausgangssignale zustande kommt und wodurch bei einigen der Verknüpfungsglieder Eingänge eingespart werden können. Eine derartige direkte Verbindung von Verkniiplungsgliederausgängen ist dann möglich, wenn

die betreffenden Verknüpfungsglieder selbst so aufgebaut sind, daß Rückwirkungen vermieden werden. Weitere Bedingung ist, daß die Verknüpfungsglieder schaltungstcchnisch so ausgeführt sind, daß die direkte Verbindung ihrer Ausgänge einer ODER-Verknüp-

¹Q lung von Ruhepotential entspricht. Bei der Darstellung in Fig. 2 sind die Verknüpfungsglieder, soweit sie den Verknüpfungsgliedern des Ausführungsbeispieles gemäß Fig. 1 entsprechen, mit denselben Bezugszeichen versehen. Wie die Fig. 2 zeigt, sind die

Ausgänge der NAND-Glieder NU, Λ/13 und M4. die der ersten Gruppe von Potentialquellen zugeordnet sind, miteinander und mii miteinander verbundenen Ausgängen der den Potentialquellen der zweiten Gruppe zugeordneten NAND-Glieder JV22, /V23 und

/V24 verbunden. Dementsprechend ist für die NAND-Glieder NlO und N20 jeweils nur ein einziger Eingang erforderlich im Gegensatz zu den entsprechenden glcichbezeichneten NAND-Gliedern der Fig. 1. die drei Eingänge aufweisen. In entsprechen-

der Weise benötigt das NAND-Glied NH für die Aufnahme der Ausgangssignale der NAND-Glieder N12, /V13 und M4 bzw. Λ/21, N22 und /V23 jeweils nur einen Eingang. Auch die Ausgänge des NAND-Gliedes /VlO, des Negators NnI und des NAND-Gliedes

/Vl 1 bzw. des NAND-Gliedes /V20, des Negators NnI und des NAND-Gliedes /V25 sind jeweils miteinander verbunden, womit die Eingänge der NAND-Glieder Λ/100 bzw. /V200 zusammengefaßt werden können, so daß diese beiden NAND-Glieder jeweils nur noch

einen Eingang aufzuweisen haben. Außerdem sind die Ausgänge der beiden NAND-Glieder /VlOO und /V200 miteinander und mit dem Ausgang des NAND-Gliedes λ'8 verbunden, was zur Zusammenfassung der Eingänge des Ausgangs-NAND-Gliedes

Na führt, das hiermit ebenfalls nur noch einen Eingang aufweist.

Die Funktionsweise der Schaltungsanordnung ge maß Fig. 2 ist dieselbe wie diejenige der in Fig. : dargestellten.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (8)

Patentansprüche:

1. Kodesignalprüfschaltung zur Prüfung von 6 Potentialquellen, von denen jeweils zwei gleichzeitig Arbeitspotential liefern sollen (2-aus-6-Kode), die die Potentialquellen in zwei gleich großen Gruppen prüft, dadurch gekennzeichnet, daß in jeder Gruppe sämtliche Potentialquelien einerseits mit jeweils einem anderen Eingang eines drei Eingänge aufweisenden ersten Dreier-NAND-Gliedes (NIl, N25) und andererseits jeweils unter Zwischenschaltung eines Negators mit jeweils einem anderen Eingang eines zweiten Dreier-NAND-Gliedes (.V15. N21) verbunden sind, daß die Potenttalquellen jeder Gruppe in drei verschiedenen Zweierkombinationen mit den Eingängen jeweils eines zwei Eingänge aufweisenden Zweier-NAND-Gliedes (A/12 bis N14; N22 bis N24) verbunden sind, daß die Ausgänge der Zweier-NAND-Glieder (N12 bis A/14; Λ/22 bis /V24) jeder Gruppe einerseits mit jeweils einem Eingang eines der betreffenden Gruppe individuell zugeordneten dritten Dreier-NAND-Gliedes (Λ/10, N20) und andererseits mit jeweils einem anderen Eingang eines beiden Gruppen gemeinsamen NAND-Gliedes (MJ) verbunden sind, dessen übrige Eingänge mit den Ausgängen der zweiten Dreier-NAND-Glieder (N15, N21) beider Gruppen verbunden sind, daß jeder Gruppe von Potentialquellen ein viertes Dreier-NAND-Glied (NlOO, N200) zugeordnet ist, dessen Eingänge mit den Ausgängen derselben Gruppe zugeordneter erster und dritter Dreier-NAND-Glieder (Ml, NlO; Λ/25, Λ/20) und über einen Negator (NnI, Nn2) mit dem Ausgang des der jeweils anderen Gruppe zugeordneten zweiten Dreier-NAND-Gliedes (A/15, A/21) verbunden sind, und daß die Ausgänge der beiden vierten Dreier-NAND-Glieder (A/100. A/200) und der Ausgang des beiden Gruppen von Potentialquellen gemeinsam zugeordneten NAND-Gliedes (NS) mit jeweils einem anderen Eingang eines Ausgangs-NAND-Gliedes (Na) verbunden sind (Fig. 1).

2. Kodesignalprüfschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgänge solcher NAND-Glieder, die Eingangsgrößen für dieselben und/oder für innerhalb der Schaltung entsprechende weiterer NAND-Glieder liefern, direkt miteinander verbunden sind, daß die von ihnen belieferten Eingänge dementsprechend zusammengefaßt sind, und daß diese NAND-Glieder (NUbis A/14; A/22 bis N24; A/11, NlO, NnI; N25, N20, Nn2) schaltungstechnisch so ausgeführt sind, daß die direkte Verbindung ihrer Ausgänge einer Oder-Verknüpfung von Ruhepotential entspricht (Fig. 2).

Bei Lieferung von Signalen in kodierter Form wird wegen seiner leichten Prüfbarkeit häufig ein sogenannter m-von-«- Kode verwendet. Bei Darstellung in diesem Kode liegt dann ein richtiges Signal vor, wenn von η Potentialquellen, die entweder Arbeits- oder RuhepptentialJiefern können, m Potentialquellen eleichzeitig Arbeitspotential liefern.

Zur Prüfung auf das Vorhandensein von gerade m von « AxbeiSpoteritial liefernden Potenüalqueüen < sindschoneine Reihe von Prüfschaltungen angegeben worden welche in vielen Fällen aus Verknüpfung*- oliedern aufgebaut sind. .

⁸ Sist auch schon bekannt, derarüge Kodesignalprüfschaltungen so aufzubauen, daß nur wenige ver-X· schiedenartiie Verknüpfungen und damit wenige Tynen von Verknüpfungsgliedern erforderlich sind.

Bei einer bekannten Schaltungsanordnung dieser Art, zu deren Aufbau sogar ledjgliclrnur eine Art von Verknüpfungsgliedern, nämlich NOR-Glieder, ver-X₃ weÄwerden (deutsche Patentschrift 1 212 147) weiden die einzelnen Arbeits- bzw Ruhepotential liefernden Potentialquellen nicht direkt miteinander verknüpft. Es werden dort vielmehr ehe von den einzelnen Potentialquellen abgegebenen Potentiale jeweils mit dem Ergebnis verknüpft, das eine Verknüpfung ergeben hat, an der das von dem in der Reihenfolge vorhergehenden Potentialquelle gelieferte Potential beteiligt war. Auf diese Weise kann ein Signal über das Vorhandensein oder Nichtvorhana₅ densein von Arbeitspotential an gerede m Potenüalquellen erst abgegeben werden, wenn sämtliche Verknüpfungsglieder, die zur Bildung von Zwischenergebnissen dienen, durchlaufen sind und schließlich die Verknüpfung des letzten Zwischenergebnisses und des von der in der Reihenfolge letzten Potentialquelle abgegebenen Potentials zur Bildung des Ausgangssignals führt. Die hierdurch relativ lange Laufzeit bis zur Bildung des endgültigen Ergebnisses ist in vielen Fällen unerwünscht.

™ Bei einer anderen bekannten Kodeprufscnaltung (deutsche Auslegeschrift !227059) wird das Prüfungsergebnis nach einer wesentlich kürzeren Laufzeit erhalten. Bei dieser Prüfschaltung werden namhch die Potentiale einzelner Potentialquellen in bestimmten Kombinationen direkt miteinander verknüpft, was dazu führt, daß bis zum Ausgang der Schaltungsanordnung weniger Verknüpfungsglieder als bei der vorgenannten Prüfschaltung durchlaufen werden müssen und damit kürzere Prüfzeiten gewährleistet sind. Um diesen Vorteil zu erlangen, wird allerdings hier die Notwendigkeit der Verwendung einer größeren Anzahl von Verknüpfungsgliedern m Kauf genommen, unter denen außerdem auch noch drei verschiedene Verknüpfungsfunktionen ausfuhrende Typen auftreten.

Es ist auch schon eine Kodesignalprüfschaltung bekannt (deutsche Offenlegungsschrift 1 937 259), die die zu überwachenden Potentialquellen in zwei Gruppen prüft, wozu sie durch direkte Verknüpfung der von den Potentialquellen gelieferten Potentiale mit mindestens einem der von den übrigen Potentialquellen gelieferten Potentiale für die Gruppen von Potentialquellen gesondert unterscheidbare Kriterien für das Vorhandensein von Arbeitspotential an Null bis m Potentialquellen der Gruppe und bei Gruppen, die mehr als m Potentialquellen umfassen, Kriterien für das Vorhandensein von Arbeitspotential an mehr als m Potentialquellen bildet und wozu sie solche Kriterien aus den beiden Gruppen miteinander verknüpft die über eine sich zur Anzahl m ergänzende Anzahl von Arbeitspotential führenden Potentialquellen aussagen. Diese Kodesignalprüfschaltung soll selbstprüfend sein, also außer Fehlern der zu überwachender