DE20304117U1 - Lichtstrahl-Nivelliergerät - Google Patents

Lichtstrahl-Nivelliergerät

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Claims (17)

1. Lichtstrahl-Nivelliergerät (10), das an einer Referenzfläche angeordnet werden kann, wobei das Lichtstrahl-Nivelliergerät aufweist:
ein Gehäuse (11);
eine erste Lichtquelle (42), die in dem Gehäuse (11) angeordnet ist, um einen ersten Lichtstrahl entlang eines ersten Pfades zu emittieren; und
eine erste Linsenanordnung (43; 44, 45), die in dem Gehäuse (11) in dem ersten Pfad angeordnet ist, um den ersten Lichtstrahl in einen ersten planaren Strahl umzu­ wandeln, wobei der erste planare Strahl eine erste Linie auf der Referenzfläche erzeugt; und
einer Aufhängungsbaugruppe (70; 90), die mit dem Gehäuse (11) gekoppelt ist, um das Lichtstrahl-Nivellier­ gerät an der Referenzfläche anzubringen.
2. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 1, bei dem die erste Lichtquelle (42) ein Laser ist.
3. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 2, bei dem der Laser eine Laserdiode (42) ist.
4. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, außerdem mit einer zweiten Lichtquelle, die in dem Gehäuse (11) angeordnet ist, um einen zweiten Licht­ strahl entlang eines zweiten Pfades zu emittieren, und einer zweiten Linsenanordnung (43; 44, 45), die in dem Gehäuse (11) in dem zweiten Pfad angeordnet ist, um den zweiten Lichtstrahl in einen zweiten planaren Strahl umzuwandeln, wobei der zweite planare Strahl eine zweite Linie auf der Referenzfläche erzeugt.
5. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 4, bei dem die zweite Lichtquelle ein Laser ist.
6. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 5, bei dem der Laser eine Laserdiode ist.
7. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 4, bei dem die erste und die zweite Linie im wesentlichen senkrecht zueinander verlaufen.
8. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 4, bei dem die erste und die zweite Linie im wesentlichen parallel ver­ laufen.
9. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, außerdem mit einer Detektorschaltung (20), die in dem Gehäuse (11) angeordnet ist, um eine Eigenschaft hinter oder unter der Referenzfläche zu erfassen.
10. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 9, bei dem die Detektorschaltung (20) zumindest eine Eigenschaft aus einer Gruppe erfasst, die Stifte, Leitungen und Rohre enthält.
11. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der Ansprüche 9 oder 10, bei dem die Detektorschaltung (20) die erste Lichtquelle bei Erfassen der Eigenschaft so steuert, dass die erste Lichtquelle leuchtet.
12. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 9 oder 10, bei dem die Detektorschaltung die erste Lichtquelle nicht steuert.
13. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die erste Linie im wesentlichen hori­ zontal verläuft und die Referenzflächen eine im wesentlichen vertikale Wand ist.
14. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die Aufhängungsbaugruppe eine Referenz­ flächenbaugruppe aufweist, die mit der Referenzfläche Kontakt hat.
15. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, außerdem mit einem Magneten, der an einem von der Referenzflächenbaugruppe und dem Gehäuse angebracht ist, und einer Metallplatte, die an dem anderen von der Referenz­ flächenbaugruppe und dem Gehäuse angebracht ist.
16. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 15, bei dem die Referenzflächenbaugruppe zumindest eines aus der Gruppe aufweist, die einen Stift und einen Dorn beinhaltet.
17. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, außerdem mit zumindest einer Röhrenlibelle an dem Gehäuse.
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