DE19960586B4 - Verfahren und Einrichtung zur Messung von Kenngrössen einer Probe durch Spektralanalyse - Google Patents

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Abstract

Verfahren zur Messung von Kenngrößen einer Probe durch Spektralanalyse, wobei aus dabei erhaltenen spektralen Daten mittels eines auf der Grundlage von Referenzproben erstellten Kalibrationsmodells die Kenngrößen berechnet werden, dadurch gekennzeichnet , daß aus denselben spektralen Daten (10) mittels mindestens eines auf der Grundlage von weiteren Referenzproben (1'') erstellten weiteren Kalibrationsmodells (14) eine weitere Berechnung der Kenngrößen (16) der Probe (1) erfolgt und daß zur Ermöglichung einer Beurteilung der Qualität der Messung Abweichungen zwischen den von den Kalibrationsmodellen (11, 14) jeweils berechneten Kenngrößen (12, 16) ermittelt und ausgegeben werden.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Messung von Kenngrößen einer Probe durch Spektralanalyse, wobei aus den dabei erhaltenen spektralen Daten mittels eines auf der Grundlage von Referenzproben erstellten Kalibrationsmodells die Kenngrößen berechnet werden.
  • Die Erfindung betrifft ferner eine Einrichtung zur Messung von Kenngrößen einer Probe mit einem Spektrometer zur Spektralanalyse der Probe und mit einem auf der Grundlage von Referenzproben erstellten Kalibrationsmodell, das aus von dem Spektrometer gelieferten spektralen Daten die Kenngrößen berechnet.
  • Ein Beispiel für die Spektralanalyse von Proben ist die NIR-Spektroskopie, bei der die Molekülstruktur im Probenmaterial mit Strahlungsquanten im nahen Infrarotbereich (NIR) angeregt wird. Dabei gelangen die Moleküle entsprechend ihrer Struktur in Schwingungszustände und zeigen typische Energieabsorptionen. In dem resultierenden Spektrum werden die Energieabsorptionen mittels eines Detektors bezogen auf diskrete Wellenlängen erfaßt. Aus den so erhaltenen spektralen Daten werden mittels eines Kalibrationsmodells zu bestimmende Kenngrößen der Probe berechnet. Diese Kenngrößen können grundsätzlich alle Parameter der Probe umfassen, die mit dem Informationsgehalt des Spektrums korrelieren. Zu den Kenngrößen gehören daher insbesondere der molekulare Aufbau der Probe und die sich daraus ergebenden physikalischen und chemischen Eigenschaften. Das Kalibrationsmodell wird mittels chemometrischer Verfahren, wie MLR (Multiple Linear Regression) oder PLS (Partial Least Squares), aufgrund der spektralen Daten und Kenngrößen von ausgewählten oder präparierten Referenzproben erstellt, wobei die Kenngrößen der Referenzproben bereits bekannt sind und/oder durch Referenzanalyse, beispielsweise im Labor ermittelt werden. Die Referenzproben müssen den jeweils zu analysierenden Proben so weit wie möglich entsprechen und dabei den Variationsbereich der zu bestimmenden Kenngrößen der Proben repräsentativ abdecken.
  • In der Praxis besteht die Schwierigkeit, sicherzustellen, daß die mit dem einmal erstellten Kalibrationsmodell durchgeführten Messungen bestimmter Kenngrößen von Proben für eine möglichst lange Zeit richtig bleiben. So können im Laufe der Zeit unbemerkt Veränderungen an der Meßeinrichtung oder in der Probenzusammensetzung auftreten. Außerdem können immer wieder Einflüsse auftreten, die bei der Erstellung des Kalibrationsmodells durch die Auswahl der Referenzproben oder durch die äußeren Umstände der Kalibration nicht erfaßt wurden. Dies kann zu erhöhten Meßfehlern führen. Das Kalibrationsmodell muß daher im Rahmen von Kontrollmessungen in gewissen Zeitabständen oder bei Veränderungen der äußeren Bedingungen mittels einer Kalibrationsstichprobe überprüft werden, wobei im Falle einer zu großen Meßabweichung eine Neukalibration oder eine Korrektur des bestehenden Kalibrationsmodells erforderlich ist.
  • Aus der US 5 576 544 A ist es bekannt, die Kalibration eines NIR-Instruments zur Messung einer Kenngröße einer Probe aus ihren spektralen Daten zweistufig vorzunehmen, wobei zunächst in einer ersten Kalibration für den gesamten Variationsbereich der zu bestimmenden Kenngröße ein erster kalibrierter Wert ermittelt wird, um festzustellen, ob sich die Kenngröße in einem oberen Wertebereich oder in einem unteren Wertebereich befindet. Anschließend wird für den jeweils festgestellten Wertebereich auf den ermittelten ersten kalibrierten Wert eine zweite Kalibration angewandt, um einen zweiten kalibrierten Wert zu ermitteln, welcher die zu bestimmende Kenngröße repräsentiert. Das Kalibrationsmodell, mittels dessen aus den spektralen Daten der Probe die Kenngröße berechnet werden soll, besteht dementsprechend aus einem ersten Teilmodell und zwei weiteren unabhängigen Teilmodellen, die dem ersten Teilmodell nachgeordnet sind. In dem ersten Teilmodell wird aus den spektralen Daten der Probe eine Zwischengröße berechnet, die je nachdem, ob sie in einem oberen oder unteren Wertebereich liegt, entweder in dem einen oder dem anderen der beiden weiteren Teilmodelle weiterverarbeitet wird, um damit die Kenngröße der Probe zu berechnen.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, mit möglichst geringem Aufwand mögliche Meßabweichungen noch vor einer Kontrollmessung automatisch zu erkennen und die betroffene Probe zu identifizieren.
  • Gemäß der Erfindung wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß bei dem Verfahren der eingangs angegebenen Art aus denselben spektralen Daten mittels mindestens eines auf der Grundlage von weiteren Referenzproben erstellten weiteren Kalibrationsmodells eine weitere Berechnung der Kenngrößen der Probe erfolgt und daß zur Ermöglichung einer Beurteilung der Qualität der Messung Abweichungen zwischen den von den Kalibrationsmodellen jeweils berechneten Kenngrößen ermittelt und ausgegeben werden.
  • Bezüglich der eingangs angegebenen Einrichtung wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß mindestens ein auf der Grundlage von weiteren Referenzproben erstelltes weiteres Kalibrationsmodell vorhanden ist, das eine weitere Berechnung der Kenngrößen aus denselben spektralen Daten durchführt, und daß den Kalibrationsmodellen eine Vergleichseinrichtung nachgeordnet ist, die Abweichungen zwischen den von den Kalibrationsmodellen jeweils berechneten Kenngrößen ermittelt und ausgibt.
  • Die zwei- oder mehrfache Berechnung der Kenngrößen in unabhängigen Kalibrationsmodellen und die Ermittlung der Abweichungen zwischen den berechneten Kenngrößen führen zu einer Verbesserung der Zuverlässigkeit der Messungen und ihrer Robustheit gegenüber unbemerkten Fehlereinflüssen. Da die ermittelten Abweichungen zusammen mit den berechneten Kenngrößen zur Verfügung stehen, kann der Anwender die Qualität der Messung bei jeder Probe beurteilen. Insbesondere kann durch eine Überwachung der ermittelten Abweichungen auf Überschreiten einer vorgegebenen Schwelle festgestellt werden, wenn der Meßfehler zu groß wird. Dies kann von der erfindungsgemäßen Meßeinrichtung automatisch im Routinebetrieb durchgeführt werden, so daß sie auch im ansonsten unüberwachten On-Line-Betrieb einsetzbar ist; regelmäßige Kontrollmessungen sind dann nicht nötig und erst bei einer automatisch erkannten und gemeldeten Schwellenüberschreitung wird eine Nachkalibration erforderlich.
  • Der durch das mindestens eine weitere Kalibrationsmodell bedingte zusätzliche Kalibrier- und Rechenaufwand ist nur gering und entspricht der Anzahl und Auswahl der zur Kalibration herangezogenen Kalibrationsproben. Der mögliche Einwand, mit einer Zusammenfassung der für die unabhängigen Kalibrationsmodelle herangezogenen Referenzproben zur Erstellung eines einzigen, umfassenderen Kalibrationsmodells könnte eine vergleichbare Verbesserung des Meßverhaltens erreicht werden, trifft nur in besonders günstigen Fällen zu, da die Verteilung der Referenzproben sorgfältig nach dem Gesichts punkt einer gleichmäßigen Überdeckung des Meßbereichs gewählt werden muß. Außerdem würde man die Möglichkeit verlieren, eine Veränderung gegenüber den Kalibrationsbedingungen einfach und automatisch zu erkennen, so wie dies durch die Erfindung ermöglicht ist.
  • Für die Auswahl der Referenzproben zur Erstellung des Kalibrationsmodells und die weiteren Referenzproben zur Erstellung des weiteren Kalibrationsmodells bestehen unterschiedliche Möglichkeiten. Sinnvoll ist es, daß die Referenzproben und die weiteren Referenzproben jeweils unterschiedlich große Variationsbereiche der bei den Proben zu bestimmenden Kenngrößen abdecken. So kann beispielsweise das eine Kalibrationsmodell unter Abdeckung eines relativ großen Variationsbereichs mit natürlich ausgewählten Referenzproben gebildet werden, während das weitere Kalibrationsmodell über einen relativ engen Variationsbereich mit eigens präparierten Proben erstellt wird; das eine Kalibrationsmodell berechnet dann die Kenngrößen in dem größeren Variationsbereich mit relativ geringer Auflösung, während das weitere Kalibrationsmodell die Kenngrößen in dem engeren Bereich mit hoher Auflösung berechnet. In dem engeren Überdeckungsbereich der beiden Kalibrationsmodelle wird eine hohe Robustheit der Messung erreicht, während in dem breiten Bereich ein noch nutzbares Meßergebnis erzielt wird.
  • Darüber hinaus können die Kalibrationsmodelle mit Referenzproben bzw. weiteren Referenzproben unter geringfügig unterschiedlichen Randbedingungen oder mit Referenzproben und weiteren Referenzproben aus unterschiedlichen Zeiten erstellt werden. Natürlich können den Kalibrationsmodellen neben unterschiedlichen Referenzproben auch teilweise identische Referenzproben zugrunde liegen. Die Art der Auswahl der weiteren Kalibrationsmodelle, deren Gültigkeitsbereich sich natürlich im normalen Meßbereich überschneiden muß, bietet die Möglichkeit, erfahrungsgemäß zu erwartende Abweichungen zu berücksichtigen oder Veränderungen der Proben, die mit einer weiteren Kalibration erfaßt wurden, unter Erhalt der früheren Erfahrungen einzukalibrieren. Auf diese Weise kann die Meßeinrichtung schrittweise an Veränderungen adaptiert werden oder auch eine neue Kalibration auf die Bewährung im Meßbetrieb hin getestet und schrittweise verbessert werden. Beim Erzeugen einer Kalibration ist ohnehin die Auswahl von bereits ermittelten spektralen Daten von Proben bekannter Zusammensetzung ein Schritt, der mehrfach variiert und optimiert wird, so daß die weiteren Kalibrationsmodelle ohne nennenswerten Zusatzaufwand erstellt werden können.
  • Mit einer den Kalibrationsmodellen nachgeordneten Auswahleinrichtung besteht die Möglichkeit, aufgrund von proben- und/oder meßsituationsspezifischen Kriterien, wie z.B. Temperatur oder Probenkonsistenz, unter den von den verschiedenen Kalibrationsmodellen berechneten Kenngrößen die jeweils vertrauenswürdigsten auszuwählen. So können auch vorhersehbare äußere Einflüsse einfach berücksichtigt werden, indem diejenigen berechneten Kenngrößen weiter verwendet werden, für die die Kalibrationsbedingungen am besten dem Einfluß entsprechen, ohne daß die Kalibration selbst geändert werden muß.
  • Zur weiteren Erläuterung der Erfindung wird im folgenden auf die Zeichnung Bezug genommen, die ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Meßeinrichtung als vereinfachtes Blockschaltbild zeigt.
  • Eine Probe 1 wird in einem Spektrometer 2 einer Spektralanalyse unterzogen. Dazu wird das polychromatische Licht 3 einer Strahlungsquelle 4, z.B. einer Halogenlampe, einem Monochromator 5 zugeführt. Bei dem gezeigtem Monochromator 5 handelt es sich um ein akusto-optisches Filter (AOTF = Acous-to-Optic Tunable Filter), dessen optische Eigenschaften durch gezielte Anregung mit Ultraschall-Wellen gesteuert werden, so daß aus dem polychromatischem Licht 3 monochromatische Strahlungsmoden 6 mit hoher Wellenlängengenauigkeit im nahen Infrarotbereich (NIR) erzeugt werden. Das monochromatische Licht 6 wird einer Meßzelle 7 zugeführt, in der es mit der Probe 1 in Wechselwirkung tritt. Dabei gelangen die Moleküle der Probe 1 entsprechend ihrer Struktur in Schwingungszustände und zeigen typische Energieabsorptionen. Das von der Probe 1 transmittierte oder reflektierte Licht 8 gelangt auf einen Detektor 9, der die Energieabsorptionen erfaßt und ausgangsseitig als spektrale Daten 10 bereitstellt.
  • In einem Kalibrationsmodell 11 werden aus den spektralen Daten 10 zu bestimmende Kenngrößen 12 der Probe 1, z.B. eine bestimmte Molekülkonzentration, berechnet. Zur Erstellung des Kalibrationsmodells 11 werden zunächst spektrale Daten 10' und bekannte oder durch Referenzanalyse ermittelte Kenngrößen 12' von ausgewählten oder eigens präparierten Referenzproben 1' ermittelt, wobei mittels eines chemometrischen Verfahrens Gewichtsfunktionen in Form einer Kalibrationsmatrix 13 berechnet werden, deren Anwendung auf die spektralen Daten 10' bzw. 10 die Kenngrößen 12' bzw. 12 bis auf einen gewissen Fehlerbetrag ergibt.
  • In der Praxis kommen immer wieder Einflüsse vor, die bei der Erstellung des Kalibrationsmodells 11 durch die Auswahl der Referenzproben 1' oder durch die äußeren Umstände der Kalibration nicht erfaßt wurden. Dies kann zu erhöhten Meßfehlern im Betrieb führen. Um derartige Meßfehler frühzeitig erkennen und die betroffene Probe 1 identifizieren zu können, ist ein von dem Kalibrationsmodell 11 unabhängiges weiteres Kalibrationsmodell 14 vorgesehen, das auf der Grundlage von Referenzproben 1'' unter geringfügig veränderten Randbedingungen erstellt wurde. Die beiden Kalibrationsmodelle 11 und 14 sind hier wegen ihrer Unabhängigkeit als separate Schaltungsblöcke dargestellt; in der Praxis können jedoch die zugehörigen Kalibrationsmatrizen 13, 14 zu einer einzigen Matrix zusammengefaßt werden, in der die Eingangs- und Ausgangsgrößen zwei- oder mehrmals vorkommen können. Die beim Betrieb der Meßeinrichtung von dem weiteren Kalibrationsmodell 14 aus den spektralen Daten 10 der Probe 1 berechneten Kenngrößen 16 werden in einer Vergleichseinrichtung 17 mit den von dem Kalibrationsmodell 11 berechneten Kenngrößen 12 verglichen. Wenn die Abweichung zwischen den berechneten Kenngrößen 12 und 16 eine vorgegebene Schwelle überschreitet, erzeugt die Vergleichseinrichtung 17 eine Warnung 18, die auf einen zu hohen Meßfehler hinweist.
  • Wie gestrichelt dargestellt ist, kann den Kalibrationsmodellen 11 und 14 eine Auswahleinrichtung 19 nachgeordnet sein, die aufgrund von vorgegebenen Kriterien 20, wie z.B. Temperatur oder Probenkonsistenz, entscheidet, welche der berechneten Kenngrößen 12, 16 am vertrauenswürdigsten sind, und diese als Ergebnis 21 der Messung ausgibt.

Claims (9)

  1. Verfahren zur Messung von Kenngrößen einer Probe durch Spektralanalyse, wobei aus dabei erhaltenen spektralen Daten mittels eines auf der Grundlage von Referenzproben erstellten Kalibrationsmodells die Kenngrößen berechnet werden, dadurch gekennzeichnet , daß aus denselben spektralen Daten (10) mittels mindestens eines auf der Grundlage von weiteren Referenzproben (1'') erstellten weiteren Kalibrationsmodells (14) eine weitere Berechnung der Kenngrößen (16) der Probe (1) erfolgt und daß zur Ermöglichung einer Beurteilung der Qualität der Messung Abweichungen zwischen den von den Kalibrationsmodellen (11, 14) jeweils berechneten Kenngrößen (12, 16) ermittelt und ausgegeben werden.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abweichungen auf Überschreiten einer vorgegebenen Schwelle überwacht werden.
  3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Referenzproben (1') und die weiteren Referenzproben (1''q) jeweils unterschiedlich große Variationsbereiche der Kenngrößen (12, 16) abdecken.
  4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet , daß die Kalibrationsmodelle (11, 14) mit Referenzproben (1') und weiteren Referenzproben (1'') unter geringfügig unterschiedlichen Randbedingungen erstellt werden.
  5. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Kalibrationsmodelle (11, 14) mit Referenzproben (1') und weiteren Referenzproben (1'') aus unterschiedlichen Zeitpunkten erstellt werden.
  6. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß aufgrund von proben- und/oder meßsituationsspezifischen Kriterien (20) eine Auswahl der von einem der Kalibrationsmodelle (11, 14) berechneten Kenngrößen (12, 16) erfolgt.
  7. Einrichtung zur Messung von Kenngrößen einer Probe mit einem Spektrometer zur Spektralanalyse der Probe und mit einem auf der Grundlage von Referenzproben erstellten Kalibrationsmodell, das aus von dem Spektrometer gelieferten spektralen Daten die Kenngrößen berechnet, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein auf der Grundlage von weiteren Referenzproben (1'') erstelltes weiteres Kalibrationsmodell (14) vorhanden ist, das eine weitere Berechnung der Kenngrößen (16) aus denselben spektralen Daten (10) durchführt, und daß den Kalibrationsmodellen (11, 14) eine Vergleichseinrichtung (17) nachgeordnet ist, die Abweichungen zwischen den von den Kalibrationsmodellen (11, 14) jeweils berechneten Kenngrößen (12, 16) ermittelt und ausgibt.
  8. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichseinrichtung (17) Mittel aufweist, die die Abweichungen aufs Überschreiten einer vorgegebenen Schwelle überprüfen.
  9. Einrichtung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet daß den Kalibrationsmodellen (11, 14) eine Auswahleinrichtung (19) nachgeordnet ist, die aufgrund von ihr zugeführten proben- und/oder meßsituationsspezifischen Kriterien (20) eine Auswahl der von einem der Kalibrationsmodelle (11, 14) berechneten Kenngrößen (12, 16) vornimmt.
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AUPS059002A0 (en) * 2002-02-15 2002-03-14 Airservices Australia Determination of solution concentration
DE10350075A1 (de) * 2003-10-27 2005-06-09 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Prozessführung bei der Zellstoffkochung
EP1985996A1 (de) * 2007-04-27 2008-10-29 Roche Diagnostics GmbH Analysesystem zur photometrischen Bestimmung eines Analyten in einer Körperflüssigkeit mit einem Analysegerät und einem Testträger zur Aufnahme in das Analysegerät
DE102018103509B3 (de) * 2017-10-11 2018-12-13 Carl Zeiss Spectroscopy Gmbh Mobiles Inhaltsstoffanalysesystem sowie Verfahren zur probenrichtigen Messung und Nutzerführung mit diesem

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4155009A (en) * 1977-04-07 1979-05-15 Unit Process Assemblies, Inc. Thickness measurement instrument with memory storage of multiple calibrations
US5576544A (en) * 1989-01-19 1996-11-19 Futrex, Inc. Method for providing general calibration for near infrared instruments for measurement of blood glucose

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6198532B1 (en) * 1991-02-22 2001-03-06 Applied Spectral Imaging Ltd. Spectral bio-imaging of the eye
US5872630A (en) * 1995-09-20 1999-02-16 Johs; Blaine D. Regression calibrated spectroscopic rotating compensator ellipsometer system with photo array detector
US6441388B1 (en) * 1998-10-13 2002-08-27 Rio Grande Medical Technologies, Inc. Methods and apparatus for spectroscopic calibration model transfer
US6280381B1 (en) * 1999-07-22 2001-08-28 Instrumentation Metrics, Inc. Intelligent system for noninvasive blood analyte prediction

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4155009A (en) * 1977-04-07 1979-05-15 Unit Process Assemblies, Inc. Thickness measurement instrument with memory storage of multiple calibrations
US5576544A (en) * 1989-01-19 1996-11-19 Futrex, Inc. Method for providing general calibration for near infrared instruments for measurement of blood glucose

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
MARK, H.: Principles and Practice of Spectroscopic Calibration, N.Y. 1991, Kap. 3 *

Also Published As

Publication number Publication date
DE19960586A1 (de) 2001-07-12
US20030028329A1 (en) 2003-02-06
US6671629B2 (en) 2003-12-30
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